JPH02112769A - S/n測定器 - Google Patents
S/n測定器Info
- Publication number
- JPH02112769A JPH02112769A JP26420488A JP26420488A JPH02112769A JP H02112769 A JPH02112769 A JP H02112769A JP 26420488 A JP26420488 A JP 26420488A JP 26420488 A JP26420488 A JP 26420488A JP H02112769 A JPH02112769 A JP H02112769A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- band
- pass filter
- filter
- linear phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はS/N測定器に関し、特に、入力信号を信号成
分と雑音成分に分離する回路構成に関するものである。
分と雑音成分に分離する回路構成に関するものである。
従来のS/N測定器は、第2図に示すように、互いに逆
特性となる帯域通過フィルタ1.帯域除去フィルタ2の
2つのフィルタおよび除算器3により構成されている。
特性となる帯域通過フィルタ1.帯域除去フィルタ2の
2つのフィルタおよび除算器3により構成されている。
このような構成のS/N測定器は、入力端子Tl上の雑
音を含む入力信号X(nlを、帯域通過フィルタ1の出
力ラインL1および帯域除去フィルタ2の出力ラインL
2に信号成分y (n)および雑音成分y ’ (n)
として分離出力し、除算器3により信号成分y (n)
と雑音成分y’(nlの比を求めることにより、S/N
比信号z (n)を出力端子T2に得る。
音を含む入力信号X(nlを、帯域通過フィルタ1の出
力ラインL1および帯域除去フィルタ2の出力ラインL
2に信号成分y (n)および雑音成分y ’ (n)
として分離出力し、除算器3により信号成分y (n)
と雑音成分y’(nlの比を求めることにより、S/N
比信号z (n)を出力端子T2に得る。
上述した従来のS/N測定器の回路では、第2図に示す
ように、独立した2つのフィルタ1. 2を設ける必要
があり、全体の回路規模が大きくなるという欠点があっ
た。
ように、独立した2つのフィルタ1. 2を設ける必要
があり、全体の回路規模が大きくなるという欠点があっ
た。
(課題を解決するための手段〕
このような欠点を除去するために本発明は、雑音を含ん
だ入力信号をフィルタにより信号と雑音に分離してS/
N比の測定を行なうS/N測定器において、乗算器、加
算器、遅延器から成るNタップ直線位相FIR型帯域通
過フィルタと減算器とを設けるようにしたものである。
だ入力信号をフィルタにより信号と雑音に分離してS/
N比の測定を行なうS/N測定器において、乗算器、加
算器、遅延器から成るNタップ直線位相FIR型帯域通
過フィルタと減算器とを設けるようにしたものである。
本発明によるS/N測定器のNタップ直線位相FIR型
帯域通過フィルタは、帯域通過フィルタを実現して入力
信号の信号成分を取り出し、減算器により帯域通過フィ
ルタの出力信号と(N−1)72段の遅延器出力信号と
の差をとることにより帯域除去フィルタを実現して入力
信号の雑音成分を取り出す。
帯域通過フィルタは、帯域通過フィルタを実現して入力
信号の信号成分を取り出し、減算器により帯域通過フィ
ルタの出力信号と(N−1)72段の遅延器出力信号と
の差をとることにより帯域除去フィルタを実現して入力
信号の雑音成分を取り出す。
第1図は、本発明によるS/N測定器の一実施例を示す
系統図である。同図において、4はNタップ直線位相F
IR型帯域通過フィルタ、5は乗算器、6は加算器、7
は遅延器、8は減算器であり、第1図において第2図と
同一部分又は相当部分には同一符号が付しである。
系統図である。同図において、4はNタップ直線位相F
IR型帯域通過フィルタ、5は乗算器、6は加算器、7
は遅延器、8は減算器であり、第1図において第2図と
同一部分又は相当部分には同一符号が付しである。
出力信号y(n)は、係数ho〜hN−1の乗算器5゜
加算器6.伝達関数Z−1の遅延器で構成されるNタッ
プ直線位相FIR型帯域通過フィルタ4の出力信号であ
り、次式で表わされる。
加算器6.伝達関数Z−1の遅延器で構成されるNタッ
プ直線位相FIR型帯域通過フィルタ4の出力信号であ
り、次式で表わされる。
y(n)=box(n)+h+x(n−1)+ ・・・
・・+h N−I X (n−(N−1)) =Σh
) x (n−j)・ ・ ・ ・(1) その伝達関数は、 H(Z) = Y (Z) / X (Z) =Σhj
Z−’ ・−−・(2)となり、帯域通過フィルタ特性
を得ることができる。
・・+h N−I X (n−(N−1)) =Σh
) x (n−j)・ ・ ・ ・(1) その伝達関数は、 H(Z) = Y (Z) / X (Z) =Σhj
Z−’ ・−−・(2)となり、帯域通過フィルタ特性
を得ることができる。
また、減算器8によりNタップ直線位相FIR型帯域通
過フィルタ4の出力信号)+ (n)と(N−1)/2
(第1図ではi= (N−1)/2)段の遅延器5の出
力信号x (n−i) = x (n−(N−1)/2
)との差をとったものを)l ’ (n)とすると、y
’ ((1)= x(n−(N−1)/2) )’
(n) ・・・・[3)と表わされ、その伝達関数は、 H’ (Z)= Y ’ (Zl/X(Z)= Z−”
−’)”−H(Z)・・・・(4) となり、帯域通過フィルタの逆特性の帯域除去フィルタ
特性を得ることができる。
過フィルタ4の出力信号)+ (n)と(N−1)/2
(第1図ではi= (N−1)/2)段の遅延器5の出
力信号x (n−i) = x (n−(N−1)/2
)との差をとったものを)l ’ (n)とすると、y
’ ((1)= x(n−(N−1)/2) )’
(n) ・・・・[3)と表わされ、その伝達関数は、 H’ (Z)= Y ’ (Zl/X(Z)= Z−”
−’)”−H(Z)・・・・(4) となり、帯域通過フィルタの逆特性の帯域除去フィルタ
特性を得ることができる。
以上より、入力端子TIに雑音を含んだ人力信号X (
n)を加えると、帯域通過フィルタの出力信号3r (
n+にはその信号成分、帯域除去フィルタの出力信号y
’ (n)には雑音成分をそれぞれ取り出すことができ
、除算器3により信号成分y(n)と雑音成分y’ t
n+の比を求めることにより、S/N比を測定すること
ができる。
n)を加えると、帯域通過フィルタの出力信号3r (
n+にはその信号成分、帯域除去フィルタの出力信号y
’ (n)には雑音成分をそれぞれ取り出すことができ
、除算器3により信号成分y(n)と雑音成分y’ t
n+の比を求めることにより、S/N比を測定すること
ができる。
次に、−例として、8kHzサンプリング、N=33タ
ップの直線位相FIR型帯域通過フィルタの係数hj(
j=0〜32)を求めてシミュレーションを行なった結
果について述べる。
ップの直線位相FIR型帯域通過フィルタの係数hj(
j=0〜32)を求めてシミュレーションを行なった結
果について述べる。
まず、帯域通過フィルタの周波数特性を第3図に、さら
に(4)式より求めた帯域除去フィルタの周波数特性を
第4図にそれぞれ示す。第3図および第4図において、
縦軸は損失、横軸は周波数である。これより、帯域通過
フィルタと減算器の構成だけで、帯域通過フィルタ特性
の逆特性となる帯域除去フィルタ特性が実現できている
ことがわかる。
に(4)式より求めた帯域除去フィルタの周波数特性を
第4図にそれぞれ示す。第3図および第4図において、
縦軸は損失、横軸は周波数である。これより、帯域通過
フィルタと減算器の構成だけで、帯域通過フィルタ特性
の逆特性となる帯域除去フィルタ特性が実現できている
ことがわかる。
次に、入力信号x (n)として第5図に示す1kHz
正弦波(OdBmO)と雑音(−30dBmO)の混合
波形(デジタル信号の最大値を3.17dBmoとする
)の信号を人力した時の時間応答として、(11式より
求めた帯域通過フィルタ出力信号y(n)を第6図に、
また(3)式より求めた帯域除去フィルタ出力信号)l
’ (n)を第7図にそれぞれ示す。第5図〜第7図
において、縦軸はレベル、横軸は時間であり、8kHz
で200サンプルした場合を示す。
正弦波(OdBmO)と雑音(−30dBmO)の混合
波形(デジタル信号の最大値を3.17dBmoとする
)の信号を人力した時の時間応答として、(11式より
求めた帯域通過フィルタ出力信号y(n)を第6図に、
また(3)式より求めた帯域除去フィルタ出力信号)l
’ (n)を第7図にそれぞれ示す。第5図〜第7図
において、縦軸はレベル、横軸は時間であり、8kHz
で200サンプルした場合を示す。
これより、雑音を含んだ入力信号をフィルタ出力信号y
(n)、 )” (n)として分離出力でき、従って
、信号成分、雑音成分として分離して取り出すことがで
きる。
(n)、 )” (n)として分離出力でき、従って
、信号成分、雑音成分として分離して取り出すことがで
きる。
以上説明したように本発明によるS/N測定器は、Nタ
ップ直線位相FIR型帯域通過フィルタと減算器とを設
けたことにより、帯域通過フィルタと帯域除去フィルタ
の両方を実現でき、帯域除去フィルタ回路が不要となり
、全体の回路規模を小さくできる効果がある。
ップ直線位相FIR型帯域通過フィルタと減算器とを設
けたことにより、帯域通過フィルタと帯域除去フィルタ
の両方を実現でき、帯域除去フィルタ回路が不要となり
、全体の回路規模を小さくできる効果がある。
第1図は本発明によるS/N測定器の一実施例を示す系
統図、第2図は従来のS/N測定器を示す系統図、第3
図は帯域通過フィルタの特性を示す周波数特性図、第4
図は帯域除去フィルタの特性を示す周波数特性図、第5
図は雑音を含んだ入力信号の波形の例を示す波形図、第
6図は第5図の入力信号を入力したときの帯域通過フィ
ルタ出力信号の波形を示す波形図、第7図は第5図の人
力信号を入力したときの帯域除去フィルタ出力信号の波
形を示す波形図である。 3・・・除算器、4・・・Nタップ直線位相FIR型帯
域通過フィルタ、5・・・乗算器、6・・・加算器、7
・・・遅延器、8・・・減算器、Tl・・・入力端子、
T2・・・出力端子、Ll、L2・・・出力ライン。 特許出願人 日本電気株式会社 宮城日本電気株式会社
統図、第2図は従来のS/N測定器を示す系統図、第3
図は帯域通過フィルタの特性を示す周波数特性図、第4
図は帯域除去フィルタの特性を示す周波数特性図、第5
図は雑音を含んだ入力信号の波形の例を示す波形図、第
6図は第5図の入力信号を入力したときの帯域通過フィ
ルタ出力信号の波形を示す波形図、第7図は第5図の人
力信号を入力したときの帯域除去フィルタ出力信号の波
形を示す波形図である。 3・・・除算器、4・・・Nタップ直線位相FIR型帯
域通過フィルタ、5・・・乗算器、6・・・加算器、7
・・・遅延器、8・・・減算器、Tl・・・入力端子、
T2・・・出力端子、Ll、L2・・・出力ライン。 特許出願人 日本電気株式会社 宮城日本電気株式会社
Claims (1)
- 雑音を含んだ入力信号をフィルタにより信号と雑音に分
離してS/N比の測定を行なうS/N測定器において、
乗算器、加算器、遅延器から成るNタップ直線位相FI
R型帯域通過フィルタと減算器とを備え、前記Nタップ
直線位相FIR型帯域通過フィルタは、帯域通過フィル
タを実現して入力信号の信号成分を取り出し、前記減算
器により前記帯域通過フィルタの出力信号と(N−1)
/2段の遅延器出力信号との差をとることにより帯域除
去フィルタを実現して入力信号の雑音成分を取り出すこ
とを特徴とするS/N測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26420488A JPH02112769A (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | S/n測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26420488A JPH02112769A (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | S/n測定器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02112769A true JPH02112769A (ja) | 1990-04-25 |
Family
ID=17399934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26420488A Pending JPH02112769A (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | S/n測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02112769A (ja) |
-
1988
- 1988-10-21 JP JP26420488A patent/JPH02112769A/ja active Pending
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