JPH02108910A - 3次元座標測定機のオフラインティーチング装置 - Google Patents
3次元座標測定機のオフラインティーチング装置Info
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- JPH02108910A JPH02108910A JP63262208A JP26220888A JPH02108910A JP H02108910 A JPH02108910 A JP H02108910A JP 63262208 A JP63262208 A JP 63262208A JP 26220888 A JP26220888 A JP 26220888A JP H02108910 A JPH02108910 A JP H02108910A
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 10
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、部品設計時に使用したCADデータを利用し
て、効率的なティーチングを行なえる3次元測定機のオ
フラインティーチング装置に関すス、 〔従来の技術〕 従来のこの種装置は、平面図入力機能で作成した3次元
CAD図面(例えば3面図)から3次元立体を構築する
3次元化機能があり、3次元化機能で3次元立体を構築
後、3次元立体に基づいてオフラインティーチングデー
タを作成する構成である。
て、効率的なティーチングを行なえる3次元測定機のオ
フラインティーチング装置に関すス、 〔従来の技術〕 従来のこの種装置は、平面図入力機能で作成した3次元
CAD図面(例えば3面図)から3次元立体を構築する
3次元化機能があり、3次元化機能で3次元立体を構築
後、3次元立体に基づいてオフラインティーチングデー
タを作成する構成である。
上記の如き従来の技術に於いては、3次元化機能で3次
元CAD図面から3次元立体の構築が必要である。3次
元化機能で3次元CAD図面から3次元立体を構築する
のにいくつかの技法がある。
元CAD図面から3次元立体の構築が必要である。3次
元化機能で3次元CAD図面から3次元立体を構築する
のにいくつかの技法がある。
その技法の一つに3面図合成機能がある。3面図合成と
は、3面図(平面図、正面図、側面図)から合成して3
次元立体を構築する技法である。そして、3面図合成を
用いて3次元立体を構築するためにオペレーターには、
以下の操作が要求される。
は、3面図(平面図、正面図、側面図)から合成して3
次元立体を構築する技法である。そして、3面図合成を
用いて3次元立体を構築するためにオペレーターには、
以下の操作が要求される。
■3面図を入力する ■ワイヤフレームモデルを修正す
る ■ワイヤフレームモデルからソリットモデル(立体
)に変換する ■ソリッドモデルの面を指示し、2次元
CAD図面の穴、突部膨軟を指示し、指示した面に貼り
付ける。3面図合成機能は上述の■〜■の操作により3
次元立体を構築するのて3面図合成機能を用いてのオフ
ラインティーチング装置は、ティーチングデータ作成に
多くの時間が必要であるという問題点がある。特に、テ
ィーチングを2次元的に行なえる部品(測定対象物)の
場合であっても、従来のオフラインティーチング装置は
3次元化機能によって、厚みデータを入力することによ
り3次元立体を構築する操作を必要としていた。
る ■ワイヤフレームモデルからソリットモデル(立体
)に変換する ■ソリッドモデルの面を指示し、2次元
CAD図面の穴、突部膨軟を指示し、指示した面に貼り
付ける。3面図合成機能は上述の■〜■の操作により3
次元立体を構築するのて3面図合成機能を用いてのオフ
ラインティーチング装置は、ティーチングデータ作成に
多くの時間が必要であるという問題点がある。特に、テ
ィーチングを2次元的に行なえる部品(測定対象物)の
場合であっても、従来のオフラインティーチング装置は
3次元化機能によって、厚みデータを入力することによ
り3次元立体を構築する操作を必要としていた。
本発明は、この様な従来の問題点に鑑みてなされたもの
で、ティーチングを2次元的に行なえる測定対象物の場
合においては、効率的にティーチングデータの得られる
オフラインティーチング装置を得ることを目的とする。
で、ティーチングを2次元的に行なえる測定対象物の場
合においては、効率的にティーチングデータの得られる
オフラインティーチング装置を得ることを目的とする。
本発明ではティーチングを2次元的に行なえる測定対象
物の場合において、従来の如き、わざわざ3次元立体に
構築する必要はなく、ティーチングデータ作成に多くの
時間が必要となることは無い。
物の場合において、従来の如き、わざわざ3次元立体に
構築する必要はなく、ティーチングデータ作成に多くの
時間が必要となることは無い。
上記問題点の解決の為に本発明では、3次元立体構築を
省き、2次元CAD図面に基づいて、2次元データのま
までティーチングデータを作成する2次元形状専用の構
成とした。
省き、2次元CAD図面に基づいて、2次元データのま
までティーチングデータを作成する2次元形状専用の構
成とした。
すなわち、本発明は複数の測定対象物に係る2次元図面
データを記憶する記憶手段(1)と前記2次元図面デー
タを選択的に読み出し、2次元図形として表示手段(3
,2,5)と、測定項目と測定要素とを指示する指示手
段(2,3,4,5)と、前記2次元図面データと前記
指示された測定項目と測定要素とから3次元的な測定パ
スを演算し、3次元座標測定機のティーチングデータを
作成する演算手段(2)と、を有することを特徴とする
。
データを記憶する記憶手段(1)と前記2次元図面デー
タを選択的に読み出し、2次元図形として表示手段(3
,2,5)と、測定項目と測定要素とを指示する指示手
段(2,3,4,5)と、前記2次元図面データと前記
指示された測定項目と測定要素とから3次元的な測定パ
スを演算し、3次元座標測定機のティーチングデータを
作成する演算手段(2)と、を有することを特徴とする
。
第1図は本発明の一実施例のブロック図であり、第2図
は第1図のコンピュータ13の動作を説明するためのフ
ローチャート、である。
は第1図のコンピュータ13の動作を説明するためのフ
ローチャート、である。
CAD図面データメモリ1は、設計時にCADを用いて
設計された2次元図面データを、図面毎に付された識別
記号と共に記憶している。キーボード3は、CAD図面
データメモリlに記憶された図面の識別記号をコンピュ
ータ2に入力する入力装置として機能する。コンピュー
タ2は、キーボード1から図面の識別信号を入力すると
(第2図のステップ20)、キーボード3から入力され
た図面の識別記号によって、対応する図面データをCA
D図面データメモリ1から読み出しく第2図のステップ
21)、デイスプレィ5に表示させる(第2図のステッ
プ22)、別の入力装置とし機能するマウス4は、オペ
レータがデイスプレィ5の画面内の所望の位置をヒツト
するためのもので、オペレータは画面内の指標をマウス
4を用いて移動させ、画面の隅に表示される各種測定項
目と画面内の図面の測定要素とをヒツトする。コンピュ
ータ2は、このようにしてヒツトされた測定要素(通常
は複数箇所)に関する測定点座標を演算し、記憶する(
第2図のステップ23)コンピュータ2はキーボード3
により指定された図面データと、点、円、直線、四角形
などの測定項目(例えば、測定項目として円が指定され
た場合には、測定要素として選択された円の中心座標と
直径とが測定される)からマウス4にて指定された測定
項目と、さらにマウス4により指定された測定要素に関
する測定点座標とから、干渉のない効率的な3次元的測
定パスを演算しく深さ方向には一定量上下させればよい
)、デイスプレィ5に2次元図面を傾けた図と3次元的
な測定パス(例えば穴の出入りと2次元的移動経路を示
すパス)を表示しく第2図のステップ24)、3次元座
標測定機6のティチングデータを作成する(第2図のス
テップ25)、このティチングデータは、3次元座標測
定41!6の測定プローブが、図面データに基づいて作
成された部品の上記測定要素(例えば、平板に設けられ
た丸穴)を自動的に測定する軌跡を決定する。
設計された2次元図面データを、図面毎に付された識別
記号と共に記憶している。キーボード3は、CAD図面
データメモリlに記憶された図面の識別記号をコンピュ
ータ2に入力する入力装置として機能する。コンピュー
タ2は、キーボード1から図面の識別信号を入力すると
(第2図のステップ20)、キーボード3から入力され
た図面の識別記号によって、対応する図面データをCA
D図面データメモリ1から読み出しく第2図のステップ
21)、デイスプレィ5に表示させる(第2図のステッ
プ22)、別の入力装置とし機能するマウス4は、オペ
レータがデイスプレィ5の画面内の所望の位置をヒツト
するためのもので、オペレータは画面内の指標をマウス
4を用いて移動させ、画面の隅に表示される各種測定項
目と画面内の図面の測定要素とをヒツトする。コンピュ
ータ2は、このようにしてヒツトされた測定要素(通常
は複数箇所)に関する測定点座標を演算し、記憶する(
第2図のステップ23)コンピュータ2はキーボード3
により指定された図面データと、点、円、直線、四角形
などの測定項目(例えば、測定項目として円が指定され
た場合には、測定要素として選択された円の中心座標と
直径とが測定される)からマウス4にて指定された測定
項目と、さらにマウス4により指定された測定要素に関
する測定点座標とから、干渉のない効率的な3次元的測
定パスを演算しく深さ方向には一定量上下させればよい
)、デイスプレィ5に2次元図面を傾けた図と3次元的
な測定パス(例えば穴の出入りと2次元的移動経路を示
すパス)を表示しく第2図のステップ24)、3次元座
標測定機6のティチングデータを作成する(第2図のス
テップ25)、このティチングデータは、3次元座標測
定41!6の測定プローブが、図面データに基づいて作
成された部品の上記測定要素(例えば、平板に設けられ
た丸穴)を自動的に測定する軌跡を決定する。
従って、キーボード3から測定開始の指令を行なうと、
コンピュータ2は3次元座標測定m6に測定プローブが
移動する軌跡のデータであるティーチングデータを送出
し、その結果、3次元座標測定機6のプローブは、定盤
上の所定位置にセットされた部品(測定対象物)におけ
る測定要素の測定項目に関する測定を行なう。
コンピュータ2は3次元座標測定m6に測定プローブが
移動する軌跡のデータであるティーチングデータを送出
し、その結果、3次元座標測定機6のプローブは、定盤
上の所定位置にセットされた部品(測定対象物)におけ
る測定要素の測定項目に関する測定を行なう。
このように、本発明の実施例によれば、3次元座標測定
機6のプローブを測定対象物に沿って移動することによ
りティーチングを行なう必要がなく、デイスプレィ5の
画面を見ながらの簡単な操作によってティーチングデー
タを得ることができるばかりでなく、従来のように、テ
ィーチングを2次元的に扱える測定対象物であっても3
次元立体を構築するような複雑な操作を必用としないの
で、極めて構成が簡単かつ操作性の良いオフラインティ
ーチング装置を得ることができる。
機6のプローブを測定対象物に沿って移動することによ
りティーチングを行なう必要がなく、デイスプレィ5の
画面を見ながらの簡単な操作によってティーチングデー
タを得ることができるばかりでなく、従来のように、テ
ィーチングを2次元的に扱える測定対象物であっても3
次元立体を構築するような複雑な操作を必用としないの
で、極めて構成が簡単かつ操作性の良いオフラインティ
ーチング装置を得ることができる。
以上のように本発明によれば3次元立体構築の必要がな
いことからオフラインテイーチングデータ作成に於いて
、オペレータに要求される操作回数と作成時間の減少し
たオフラインティーチング装置を得ることができる。
いことからオフラインテイーチングデータ作成に於いて
、オペレータに要求される操作回数と作成時間の減少し
たオフラインティーチング装置を得ることができる。
第1図は、本発明の実施例のブロック図、第2図は第1
図のコンピュータのフローチャートを示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・・・・CAD2次元図面データメモリ、2・・
・・・・コンピュータ、 3・・・・・・キーボード、 4・・・・・・マウス、 5・・・・・・デイスプレィ。
図のコンピュータのフローチャートを示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・・・・CAD2次元図面データメモリ、2・・
・・・・コンピュータ、 3・・・・・・キーボード、 4・・・・・・マウス、 5・・・・・・デイスプレィ。
Claims (1)
- 複数の測定対象物に係る2次元図面データを記憶する記
憶手段と前記で2次元図面データを選択的に読み出し、
2次元図形として表示する表示手段と測定項目と測定要
素とを指示する指示手段と、前記2次元図面データと前
記指示された測定項目と測定要素とから3次元的な測定
パスを演算し、3次元座標測定機のティーチングデータ
を作成する演算手段と、を有することを特徴するする3
次元座標測定機のオフラインティーチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63262208A JPH02108910A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 3次元座標測定機のオフラインティーチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63262208A JPH02108910A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 3次元座標測定機のオフラインティーチング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02108910A true JPH02108910A (ja) | 1990-04-20 |
Family
ID=17372578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63262208A Pending JPH02108910A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 3次元座標測定機のオフラインティーチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02108910A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8352212B2 (en) | 2009-11-18 | 2013-01-08 | Hexagon Metrology, Inc. | Manipulable aid for dimensional metrology |
JP2018512588A (ja) * | 2015-03-26 | 2018-05-17 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 測定対象の寸法特性を決定するための方法及び装置 |
-
1988
- 1988-10-18 JP JP63262208A patent/JPH02108910A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8352212B2 (en) | 2009-11-18 | 2013-01-08 | Hexagon Metrology, Inc. | Manipulable aid for dimensional metrology |
JP2018512588A (ja) * | 2015-03-26 | 2018-05-17 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 測定対象の寸法特性を決定するための方法及び装置 |
US10539417B2 (en) | 2015-03-26 | 2020-01-21 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Method and device for determining dimensional properties of a measurement object |
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