JPH0210386B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプリント板の導通試験機に係り、特に
試験すべきプリント板のスルーホールピツチの多
様化に対応したコンタクトアダプタの構造の改良
に関する。

プリント基板、または電子部品を搭載したプリ
ント板の単体試験の一つである回路パターン導通
試験は、所定の回路の導通を順次、チエツクしエ
ラーメツセージを出力し得る自動プログラム制御
手段を有する自動試験装置と、該試験装置にケー
ブルで接続され試験機本体の載物台に載置したプ
リント板のスルーホール（端子ランドを含む）に
対向し試験機本体の上下動機構に係合配設された
コンタクトアダプタとからなるプリント板導通試
験機で行われる。

この従来のコンタクトアダプタは、基板に被試
験プリント板のスルーホールの格子ピツチ（従来
は2.54mmが多い）と同一ピツチで格子ピツチ穴を
穿設し、該格子ピツチ穴にスプリングアクシヨン
を有する先端の尖つた尖頭コンタクトプローブを
基板下面に突出して植立し、該プローブがプリン
ト板のスルーホールと対向し基板と共に上下に摺
動し尖頭コンタクトプローブの先端がスルーホー
ルに圧接触針して導通するように試験機本体の上
下動機構に係合配設されている。

そして、各尖頭コンタクトプローブはその上側
基部にケーブルのリード線を接続し、そのケーブ
ルを自動試験装置から導出されたケーブルと中継
コネクタで接続している。

ところが、電子回路モジユールの高密度化に伴
いセラミツクプリント基板など各種寸法の微小格
子ピツチ（例えば、50mil）のスルーホールもし
くは端子ランドを有する基板が実用化されてきた
ため、それぞれの格子ピツチのプリント板に適合
する多種類のコンタクトアダプタが必要となり、
スルーホールピツチに合わせたコンタクトアダプ
タを選択し、前記上下動機構に取り付けて試験を
行つている。

しかしながら、このようなコンタクトアダプタ
の構造によれば、被試験プリント板に合わせてコ
ンタクトアダプタを取り替える場合、ケーブルを
付属している関係上、取り替え作業がしにくく、
多数のコネクタの挿抜とその接続ミスのチエツク
を行うのに多大の工数、労力を要し、また各コン
タクトアダプタはケーブルが付設されて大重量で
複雑高価な構成となると共に、試験すべきプリン
ト板の品種変更に伴うコンタクトアダプタの取り
替えに相当な工数のロスがあつたり、予備アダプ
タの整備保管に余分のスペースを要したりすると
いうような問題があつた。

上記問題に鑑み、本発明は最も多いプリント板
のスルーホールの格子ピツチを標準格子ピツチと
し、該ピツチの標準尖頭コンタクトプローブを備
えるコンタクトアダプタを上アダプタとしてベー
スに用い該上アダプタに着脱簡単な下アダプタを
取り付けた構成にし、アダプタの取り替え作業の
簡易化を図り多品種化するプリント板に簡単に対
応することのできるコンタクトアダプタの提供を
目的としたものである。

上記目的を達成するため、本発明のプリント板
導通試験機のコンタクトアダプタの構造において
は、所定数の標準尖頭コンタクトプローブを標準
格子ピツチで基板に格子状に配列植立し、該コン
タクトプローブの基部と試験装置とをケーブルで
中継コネクタを介して接続し、かつ上下に摺動す
るように上下動機構に係合配設される上アダプタ
と、該上アダプタに重ねて取り替え可能なねじ締
め結合する下アダプタとからなり、該下アダプタ
は前記上アダプタの取付面に当接する上基板と、
下基板と、該上、下基板間に挟まれる補強リブ枠
とを重畳結合して構成し、前記上基板には前記上
アダプタの標準尖頭コンタクトプローブに対向し
圧接触針する平頭コンタクトプローブを植立し、
前記下基板には被試験プリント板の任意の格子ピ
ツチのスルーホールに対向し圧接触針する尖頭コ
ンタクトプローブを植立し、前記補強リブ枠は外
枠と該外枠の内側に直交する複数の縦リブと横リ
ブとで一体構成し該縦リブ及び横リブに切欠きを
設け、該切欠きを通して前記上基板の平頭コンタ
クトプローブと下基板の尖頭コンタクトプローブ
とを配線で接続し構成する。

以下本発明の好適な実施例について図面を参照
して詳細に説明する。第１図は本発明の一実施例
によるコンタクトアダプタの側断面模式図、第２
図は該アダプタの構成要素たる格子状補強リブ枠
の斜視模式図を示す。

図において、１は上アダプタ、２は上基板３と
補強リブ枠４と下基板５からなる下アダプタ、６
は標準尖頭コンタクトプローブ、７は平頭コンタ
クトプローブ、８は尖頭コンタクトプローブ、９
は自動試験装置へのケーブル、１０は上アダプタ
１と下アダプタ２との配線、ａは試験機本体の載
物台、ｂは同じく上下動機構、ｃは同じく自動試
験装置、ｄはコネクタ、ｅは被試験プリント板を
示したものである。

本発明によるコンタクトアダプタの構造は第１
図に示すように、被試験プリント板ｅを載置した
試験機本体の載物台ａに離間対向し上下動機構ｂ
（案内棒のみを図示）に係合把持されたガラスエ
ポキシ樹脂などからなる絶縁性基板の格子ピツチ
穴１１（最も多い格子ピツチ、即ち2.54mmを標準
ピツチに選定し、このピツチで穿設する）にスプ
リングアクシヨンを有する標準尖頭コンタクトプ
ローブ６を尖頭部を基板下面に突出して植立し、
かつ標準尖頭コンタクトプローブ６の後端基部か
ら導出したリード線のケーブル９を中継コネクタ
ｄを介して自動試験装置ｃに接続してなる、従来
の標準コンタクトアダプタと同じ構成の上アダプ
タ１に、被試験プリント板ｅのスルーホールe′の
格子ピツチの種類毎に専用化し上アダプタ１の取
付面（下面）に重ねてねじ締め結合する下アダプ
タ２を付設した点が従来の構成と異なる。

そして、下アダプタ２はガラスエポキシ樹脂な
どからなる絶縁性の上基板３と、アルミニウム合
金などからなる格子補強リブ枠４と、ガラスエポ
キシ樹脂などからなる絶縁性の下基板５とを重畳
し複数の止めねじ２１で締め付け一体的に結合し
た構成で、この下アダプタ２は上アダプタ１の取
付面（下面）の所定位置に複数の取付ねじ２２で
吊り上げるように止着されている。

上基板３は、上側にくぼみ３１を備え、上アダ
プタ１の格子ピツチ穴１１と対向して穿設した貫
通穴３２に、先端をフラツトな頭部に形成した平
頭コンタクトプローブ７を頭部をくぼみ３１内に
突出して圧入植立し、平頭コンタクトプローブ７
の平頭部を標準尖頭コンタクトプローブ６の尖頭
部にそれぞれ圧接し保持している。平頭コンタク
トプローブ７は平らな頭部を有しているので標準
尖頭コンタクトプローブ６の尖頭部に対し確実な
接触導通が得られる。

下基板５は、試験機本体の載物台ａに位置合わ
せして載置した被試験プリント板ｅのスルーホー
ルe′の格子ピツチ（標準ピツチ2.54mmとは異なる
任意のピツチ）に対応する取付穴５１を穿設し、
該取付穴５１にはスプリングアクシヨンを有する
先端の尖つた尖頭コンタクトプローブ８を尖頭部
を下面から突出させ植立する。

つぎに、上基板３と下基板５との間に挟み共締
めする補強リブ枠４は第２図に示すように、外枠
４１と、外枠４１の内側に格子状に直交する複数
の縦リブ４２と横リブ４３とで一体構成し、縦リ
ブ４２と横リブ４３の交叉部分の上下面は上、下
基板３，５に密着し、交叉部分を除く縦リブ４２
と横リブ４３の上下面に切欠き４５を設ける。

上基板３の平頭コンタクトプローブ７と下基板
５の尖頭コンタクトプローブ８との電気的接続は
配線１０を切欠き４５に通して行う。

縦リブ４２と横リブ４３とで構成された方陣形
の格子桝４４は尖頭コンタクトプローブ８とそれ
ぞれに対応し、その空間を通して配線接続が自在
にできるようにしたものである。

上、下基板３，５を結合する補強リブ枠４は、
上、下基板３，５を機械的に補強しその反り、歪
みを防止するとともに、格子ピツチの異なる上基
板３の平頭コンタクトプローブ７と下基板５の尖
頭コンタクトプローブ８との上記の配線接続を可
能にしている。

以上説明したように、従来のコンタクトプロー
ブがケーブルを長く導出付属している関係で取り
替え作業がしにくく、またコネクタの挿抜及び接
続チエツクに多大の工数が掛かつたのに比べ、本
発明によるコンタクトアダプタによれば、試験機
本体の上下動機構に係合配設する標準格子ピツチ
の標準尖頭コンタクトプローブを備える上アダプ
タの取付面（下面）に、任意格子ピツチの尖頭コ
ンタクトプローブを備える下アダプタをねじ締め
することにより、異なる品種のプリント板の試験
に際し、被試験プリント板に対応した下アダプタ
をねじ止めするだけで、ケーブルの接続替えをす
ることなく短時間で簡単に取り替えることができ
る。

このように、ベースとなる上アダプタをそのま
まにして、ケーブルのない比較的簡単な構成の専
用アダプタ（下アダプタ）を準備するだけですべ
ての種類のプリント板の試験ができるとともに、
下アダプタを重ね結合することで互いに基板同士
が補強され、信頼度の高い触針が得られてプリン
ト板の導通試験の信頼性と作業能率の向上に格段
の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のコンタクトアダプタの側断面
模式図、第２図は該アダプタの構成要素たる格子
状補強リブ枠の斜視図を示す。 図において、１は上アダプタ、２は下アダプ
タ、３は上基板、４は補強リブ枠、５は下基板、
６は標準尖頭コンタクトプローブ、７は平頭コン
タクトプローブ、８は尖頭コンタクトプローブ、
９は試験装置へのケーブル、１０は上アダプタと
下アダプタとの配線を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 所定数の標準尖頭コンタクトプローブ６を標
   準格子ピツチで基板に格子状に配列植立し、該コ
   ンタクトプローブ６の基部と試験装置Ｃとをケー
   ブル９で中継コネクタｄを介して接続し、かつ上
   下に摺動するように上下動機構ｂに係合配設され
   る上アダプタ１と、該上アダプタ１に重ねて取り
   替え可能にねじ締め結合する下アダプタ２とから
   なり、 該下アダプタ２は前記上アダプタ１の取付面に
   当接する上基板３と、下基板５と、該上、下基板
   ３，５間に挟まれる補強リブ枠４とを重畳結合し
   て構成し、 前記上基板３には前記上アダプタ１の標準尖頭
   コンタクトプローブ６に対向し圧接触針する平頭
   コンタクトプローブ７を植立し、前記下基板５に
   は被試験プリント板ｅの任意の格子ピツチのスル
   ーホールe′に対向し圧接触針する尖頭コンタクト
   プローブ８を植立し、前記補強リブ枠４は外枠４
   １と該外枠４１の内側に直交する複数の縦リブ４
   ２と横リブ４３とで一体構成し該縦リブ及び横リ
   ブに切欠き４５を設け、該切欠き４５を通して前
   記上基板３の平頭コンタクトプローブ７と下基板
   ５の尖頭コンタクトプローブ８とを配線１０で接
   続してなることを特徴とするプリント板導通試験
   機のコンタクトアダプタの構造。