JPH0184609U - - Google Patents

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JPH0184609U
JPH0184609U JP1987180831U JP18083187U JPH0184609U JP H0184609 U JPH0184609 U JP H0184609U JP 1987180831 U JP1987180831 U JP 1987180831U JP 18083187 U JP18083187 U JP 18083187U JP H0184609 U JPH0184609 U JP H0184609U
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JP
Japan
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channel
ionization chamber
chamber detector
output
detector
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JP1987180831U
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例のブロツク図、第
２図Ａ，Ｂ，Ｃは各検出器の出力の温度特性を示
すグラフである。 １……被検体、２……Ｘ線管、３……多チヤン
ネル電離箱型検出器、４……参照検出器、５……
データ収集装置、６……メモリ、７……補正回路
、８……画像再構成演算装置、９……表示装置、
１０……ＣＰＵ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) Ｘ線発生装置と、被検体が置かれる空間を
    隔てて該Ｘ線発生装置に対向配置される、円弧方
    向に多数のチヤンネルを有する円弧状の多チヤン
    ネル電離箱型検出器と、これらＸ線発生装置と多
    チヤンネル電離箱型検出器とを上記の被検体が置
    かれる空間を中心に一体に回転させる回転機構と
    、参照電離箱型検出器と、これら参照電離箱型検
    出器と上記の多チヤンネル電離箱型検出器の各チ
    ヤンネルとにつきあらかじめ測定された出力の温
    度特性を記憶している記憶回路と、撮像時に得ら
    れる上記参照電離箱型検出器の出力と記憶された
    この検出器に関する温度特性とにより温度を求め
    、この温度と記憶された多チヤンネル電離箱型検
    出器の各チヤンネルに関する出力の温度特性とか
    ら各チヤンネルの出力の補正係数を求めて、この
    補正係数で各チヤンネルの出力を補正する補正回
    路とからなるＸ線ＣＴ装置。 (2) 参照電離箱型検出器は多チヤンネル電離箱
    型検出器の１つのチヤンネルにより構成されてい
    ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第１
    項記載のＸ線ＣＴ装置。 (3) 撮像時に温度を求めるために用いられる参
    照電離箱型検出器の出力は撮像の期間中に得られ
    た出力の平均値であることを特徴とする実用新案
    登録請求の範囲第１項または第２項記載のＸ線Ｃ
    Ｔ装置。
JP1987180831U 1987-11-27 1987-11-27 Pending JPH0184609U (ja)

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JP (1) JPH0184609U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04166137A (ja) * 1990-10-31 1992-06-12 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置
JPH0744129U (ja) * 1990-09-29 1995-10-31 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト Ｘ線診断装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744129U (ja) * 1990-09-29 1995-10-31 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト Ｘ線診断装置
JPH04166137A (ja) * 1990-10-31 1992-06-12 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置

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