JPH0156376B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0156376B2 JPH0156376B2 JP10434878A JP10434878A JPH0156376B2 JP H0156376 B2 JPH0156376 B2 JP H0156376B2 JP 10434878 A JP10434878 A JP 10434878A JP 10434878 A JP10434878 A JP 10434878A JP H0156376 B2 JPH0156376 B2 JP H0156376B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- floor
- amount
- dark box
- reflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229920001821 foam rubber Polymers 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、床面の汚れ度を反射光量によつて
測定する床面汚れ度測定器に関するものである。
測定する床面汚れ度測定器に関するものである。
建物のホールや通路等の床は、これを時折り清
掃して清浄に保つことが必要であるが、従来、そ
のための床の汚れ度の判定は、作業者の目視感覚
に頼つて行われているのが実情である。
掃して清浄に保つことが必要であるが、従来、そ
のための床の汚れ度の判定は、作業者の目視感覚
に頼つて行われているのが実情である。
そこで、本発明は床の汚れ度を測定数値によつ
て的確に判定することができる床汚れ度測定器を
提供しようとするものであつて、特に床面から鏡
面角反射光量を検出するための光源および散乱反
射光量を検出するための光源をそれぞれ複数とし
たことにより、床の汚れ度を一定面の平均値とし
て検出し、一部の汚れに因る誤測定を無くして測
定の信頼性を向上させると共に、上記光源をそれ
ぞれ上下に配設したことにより、床の汚れ度に関
連した反射光量の変化を大きくし、測定精度を向
上させた床汚れ度測定器を得ることを目的とする
ものである。
て的確に判定することができる床汚れ度測定器を
提供しようとするものであつて、特に床面から鏡
面角反射光量を検出するための光源および散乱反
射光量を検出するための光源をそれぞれ複数とし
たことにより、床の汚れ度を一定面の平均値とし
て検出し、一部の汚れに因る誤測定を無くして測
定の信頼性を向上させると共に、上記光源をそれ
ぞれ上下に配設したことにより、床の汚れ度に関
連した反射光量の変化を大きくし、測定精度を向
上させた床汚れ度測定器を得ることを目的とする
ものである。
次にこの発明の一実施例を図面について説明す
る。
る。
第1図において、1は暗箱であつて、この暗箱
1内の上面には複数の光源2が配設されており、
かつ暗箱1内の下部周辺には複数の光源3が配設
されている。これら上部の光源2および下部の光
源3は下方を照射するものである。また、4は光
量検出素子であつて、この光量検出素子4は、暗
箱1内の上面中央部に配設されており、上部の光
源2および下部の光源3から直接光が光量検出素
子4に入射しないように、上部の光源2の周囲は
凹部となつており、下部の光源3の上方には遮光
板5が取付けられている。暗箱1の下面は光学的
に開放されている。この光学的に開放とは、真に
開放するかまたは透光板で閉じている状態をいう
ものである。暗箱1の下面には下面ふた6が着脱
自在に装着されており、下面ふた6の内面は較正
用の標準白色面7となつている。なお、標準白色
面7は、清浄に仕上げられた状態の任意の色調・
絵模様等の面としてもよい。暗箱1の下端周縁に
は黒色発泡ゴム等のパツキン8が装着されてお
り、このパツキン8は、暗箱1を床面に置いたと
きに、床面に凹凸があつても外光の入射を遮断す
るためのものである。
1内の上面には複数の光源2が配設されており、
かつ暗箱1内の下部周辺には複数の光源3が配設
されている。これら上部の光源2および下部の光
源3は下方を照射するものである。また、4は光
量検出素子であつて、この光量検出素子4は、暗
箱1内の上面中央部に配設されており、上部の光
源2および下部の光源3から直接光が光量検出素
子4に入射しないように、上部の光源2の周囲は
凹部となつており、下部の光源3の上方には遮光
板5が取付けられている。暗箱1の下面は光学的
に開放されている。この光学的に開放とは、真に
開放するかまたは透光板で閉じている状態をいう
ものである。暗箱1の下面には下面ふた6が着脱
自在に装着されており、下面ふた6の内面は較正
用の標準白色面7となつている。なお、標準白色
面7は、清浄に仕上げられた状態の任意の色調・
絵模様等の面としてもよい。暗箱1の下端周縁に
は黒色発泡ゴム等のパツキン8が装着されてお
り、このパツキン8は、暗箱1を床面に置いたと
きに、床面に凹凸があつても外光の入射を遮断す
るためのものである。
暗箱1の上面ふた9の内部には、電源10、指
示メータ11、計測回路12、定電圧回路13、
較正回路14,14′が組込まれており、また、
上面ふた9の上部には電源スイツチ15、鏡面角
反射光量測定スイツチ16、散乱反射光量測定ス
イツチ17、鏡面角反射光量較正器ダイヤル1
8、散乱反射光量較正器ダイヤル19が操作しや
すいように取付けられている。第2図には上記各
構成要素による床汚れ度測定器の回路構成が示さ
れている。なお、暗箱1と上面ふた9は着脱自在
となつている。22は床面を示している。
示メータ11、計測回路12、定電圧回路13、
較正回路14,14′が組込まれており、また、
上面ふた9の上部には電源スイツチ15、鏡面角
反射光量測定スイツチ16、散乱反射光量測定ス
イツチ17、鏡面角反射光量較正器ダイヤル1
8、散乱反射光量較正器ダイヤル19が操作しや
すいように取付けられている。第2図には上記各
構成要素による床汚れ度測定器の回路構成が示さ
れている。なお、暗箱1と上面ふた9は着脱自在
となつている。22は床面を示している。
叙上の如く構成された床汚れ度測定器において
上部の複数の光源2から床面22(標準白色面
7)に照射された光は、その入射角と等しい反射
角で反射し、鏡面角反射光20として光量検出素
子4に入射する。また、下部の複数の光源3から
床面22(標準白色面7)に照射された光を、入
射角と反射角が等しくない散乱反射光21として
光量検出素子4に入射する。そして、鏡面角反射
光量は床面22の光沢を、散乱反射光量は床面2
2の明度をそれぞれ表わすが、鏡面角反射光20
を得るための光源2は上部に、散乱反射光21を
得るための光源3は下部に配設され、しかもそれ
らが複数となつているので、床面22の汚れ度を
一定面(暗箱1の開口面)の平均値として検出す
ることができ、極くわずかな一部の汚れに因る誤
測定を防止することができると共に、光源2が上
方に、光源3が下方に位置することによつて、床
面22の汚れ度に関連した反射光量の変化が大き
く、測定精度が高くなる。また、散乱反射光21
を得るための光源3は床面22に近い位置にある
ので、特に反射光量が小さくなる散乱反射光量を
大きくとることができ、そのために光源3の発光
量を大きくする必要がない。そして、散乱反射光
量を大きくとることができることは、一層測定精
度を向上させることができる。
上部の複数の光源2から床面22(標準白色面
7)に照射された光は、その入射角と等しい反射
角で反射し、鏡面角反射光20として光量検出素
子4に入射する。また、下部の複数の光源3から
床面22(標準白色面7)に照射された光を、入
射角と反射角が等しくない散乱反射光21として
光量検出素子4に入射する。そして、鏡面角反射
光量は床面22の光沢を、散乱反射光量は床面2
2の明度をそれぞれ表わすが、鏡面角反射光20
を得るための光源2は上部に、散乱反射光21を
得るための光源3は下部に配設され、しかもそれ
らが複数となつているので、床面22の汚れ度を
一定面(暗箱1の開口面)の平均値として検出す
ることができ、極くわずかな一部の汚れに因る誤
測定を防止することができると共に、光源2が上
方に、光源3が下方に位置することによつて、床
面22の汚れ度に関連した反射光量の変化が大き
く、測定精度が高くなる。また、散乱反射光21
を得るための光源3は床面22に近い位置にある
ので、特に反射光量が小さくなる散乱反射光量を
大きくとることができ、そのために光源3の発光
量を大きくする必要がない。そして、散乱反射光
量を大きくとることができることは、一層測定精
度を向上させることができる。
汚れ度測定器を使用し、床の汚れ度を測定する
にあたつては、下面ふた6を閉じたままにし、電
源スイツチ15を入れ、鏡面角反射光量測定スイ
ツチ6を「ON」、散乱反射光量測定スイツチ1
7を「OFF」とし、鏡面角反射光量較正器ダイ
ヤル18を調節して、指示メータ11の読みを基
準値に合せる。これで標準白色面7の鏡面角反射
光量による較正が終る。次に鏡面角反射光量測定
スイツチ16を「OFF」、散乱反射光量測定スイ
ツチ17を「ON」とし、散乱反射光量較正器ダ
イヤル19を調節して、指示メータ11の読みを
基準値に合せる。これで標準白色面7の散乱反射
光量による較正を終る。そこで、下面ふた6を取
外し、測定しようとする床上に暗箱を置き、鏡面
角反射光量測定スイツチ16および散乱反射光量
測定スイツチ17を交互に「ON」、「OFF」して
鏡面角反射光量および散乱反射光量による測定値
を指示メータ11で読取れば、標準白色面7を基
準とした相対値として得ることができる。なお、
標準白色面7を清浄に仕上げた任意の色調・絵模
様の面に替えて同様の較正をした場合には、その
面を基準とした相対値としての測定値が得られ
る。
にあたつては、下面ふた6を閉じたままにし、電
源スイツチ15を入れ、鏡面角反射光量測定スイ
ツチ6を「ON」、散乱反射光量測定スイツチ1
7を「OFF」とし、鏡面角反射光量較正器ダイ
ヤル18を調節して、指示メータ11の読みを基
準値に合せる。これで標準白色面7の鏡面角反射
光量による較正が終る。次に鏡面角反射光量測定
スイツチ16を「OFF」、散乱反射光量測定スイ
ツチ17を「ON」とし、散乱反射光量較正器ダ
イヤル19を調節して、指示メータ11の読みを
基準値に合せる。これで標準白色面7の散乱反射
光量による較正を終る。そこで、下面ふた6を取
外し、測定しようとする床上に暗箱を置き、鏡面
角反射光量測定スイツチ16および散乱反射光量
測定スイツチ17を交互に「ON」、「OFF」して
鏡面角反射光量および散乱反射光量による測定値
を指示メータ11で読取れば、標準白色面7を基
準とした相対値として得ることができる。なお、
標準白色面7を清浄に仕上げた任意の色調・絵模
様の面に替えて同様の較正をした場合には、その
面を基準とした相対値としての測定値が得られ
る。
本発明に係る床汚れ度測定器は、以上説明した
ように、下面が光学的に開放され、その光学的開
放端を下にして床面に置く暗箱を備え、この暗箱
内の上部と下部には、それぞれ下方を照射する複
数の光源を配設し、暗箱内の上部には、上部の複
数の光源から床面に照射された光の鏡面角反射光
量を検出し、かつ下方の複数の光源から床面に照
射された光の散乱反射光量を検出する光量検出素
子を配設してなるものであるから、床面の汚れ度
を一定面の平均値として検出し、一部の汚れに因
る誤測定を無くして測定の信頼性を向上させるこ
とができ、しかも、床の汚れ度に関連した反射光
量の変化を大きくして、測定精度を向上させるこ
とができる。
ように、下面が光学的に開放され、その光学的開
放端を下にして床面に置く暗箱を備え、この暗箱
内の上部と下部には、それぞれ下方を照射する複
数の光源を配設し、暗箱内の上部には、上部の複
数の光源から床面に照射された光の鏡面角反射光
量を検出し、かつ下方の複数の光源から床面に照
射された光の散乱反射光量を検出する光量検出素
子を配設してなるものであるから、床面の汚れ度
を一定面の平均値として検出し、一部の汚れに因
る誤測定を無くして測定の信頼性を向上させるこ
とができ、しかも、床の汚れ度に関連した反射光
量の変化を大きくして、測定精度を向上させるこ
とができる。
図面は本発明の一実施例を示すものであつて、
第1図は床汚れ度測定器の縦断面図、第2図はそ
の回路構成を示すブロツク線図である。 1……暗箱、2……上部の光源、3……下部の
光源、4……光量検出素子、7……標準白色面、
10……電源、11……指示メータ、14,1
4′……較正回路、22……床面。
第1図は床汚れ度測定器の縦断面図、第2図はそ
の回路構成を示すブロツク線図である。 1……暗箱、2……上部の光源、3……下部の
光源、4……光量検出素子、7……標準白色面、
10……電源、11……指示メータ、14,1
4′……較正回路、22……床面。
Claims (1)
- 1 下面が光学的に開放され、その光学的開放端
を下にして床面に置く暗箱を備え、この暗箱内の
上部と下部には、それぞれ下方を照射する複数の
光源を配設し、暗箱内の上部には、上部の複数の
光源から床面に照射された光の鏡面角反射光量を
検出し、かつ下方の複数の光源から床面に照射さ
れた光の散乱反射光量を検出する光量検出素子を
配設してなることを特徴とする床汚れ度測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10434878A JPS5531902A (en) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | Measuring unit for floor dirt |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10434878A JPS5531902A (en) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | Measuring unit for floor dirt |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5531902A JPS5531902A (en) | 1980-03-06 |
JPH0156376B2 true JPH0156376B2 (ja) | 1989-11-29 |
Family
ID=14378377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10434878A Granted JPS5531902A (en) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | Measuring unit for floor dirt |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5531902A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5854549U (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-13 | 松下電器産業株式会社 | じゆうたん等の汚染率測定装置 |
JPS5862546A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | じゆうたんなどの汚染率測定装置 |
JPS58140899A (ja) * | 1982-02-16 | 1983-08-20 | ソニ−・テクトロニクス株式会社 | ロジツク信号表示方法 |
JPS6140545A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-26 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
JPH0516525Y2 (ja) * | 1986-05-09 | 1993-04-30 | ||
JP2843533B2 (ja) * | 1994-10-13 | 1999-01-06 | 株式会社下村工務店 | 床面等の洗浄管理方法 |
JPH08313435A (ja) * | 1995-05-22 | 1996-11-29 | Kyosan Electric Mfg Co Ltd | 路面水分計測装置 |
JP6438703B2 (ja) * | 2014-08-21 | 2018-12-19 | バンドー化学株式会社 | 異物検査装置、異物検査システム及び異物検査方法 |
-
1978
- 1978-08-29 JP JP10434878A patent/JPS5531902A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5531902A (en) | 1980-03-06 |
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