JPH0151227B2 - - Google Patents

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JPH0151227B2
JPH0151227B2 JP55165970A JP16597080A JPH0151227B2 JP H0151227 B2 JPH0151227 B2 JP H0151227B2 JP 55165970 A JP55165970 A JP 55165970A JP 16597080 A JP16597080 A JP 16597080A JP H0151227 B2 JPH0151227 B2 JP H0151227B2
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JP
Japan
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test
signal
gain
subscriber
channel
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JP55165970A
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Josefu Burorin Sutefuen
Rensu Gotsutsuman Jefurei
Hawaado Moogan Denisu
Harorudo Suwanson Kenesu
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AT&T Corp
Original Assignee
AT&T Technologies Inc
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Publication date
Application filed by AT&T Technologies Inc filed Critical AT&T Technologies Inc
Publication of JPS5698065A publication Critical patent/JPS5698065A/ja
Publication of JPH0151227B2 publication Critical patent/JPH0151227B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/30Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
    • H04M3/302Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop using modulation techniques for copper pairs
    • H04M3/303Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop using modulation techniques for copper pairs and using PCM multiplexers, e.g. pair gain systems
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は電話加入者ループ・テスト・システム
に関する。 従来のアナログまたはデイジタル・キヤリア技
法を用いることによりより少数の金属線対で複数
個の加入者チヤネルを提供出来ることが知られて
いる。典型的なアナログ・キヤリア・システムは
ビー・エス・ボシツクの米国特許第4196321号に
示されている。デイジタル加入者ループ・キヤリ
ア・システムは1976年6月15日付のジエー・エ
ル・コールドウエルの米国特許第3963869号に示
されている。 これらキヤリア・システムのキヤリア部分をテ
ストする種々の技法が知られている。例えば前述
のビー・エス・ボシツクの特許および1977年1月
11日付ジエー・イー・デイルの米国特許第
4002847号に示されている。しかしこのようなシ
ステムはキヤリアにより形成されたチヤネルだけ
でなく、遠隔キヤリア端末からそれによつてサー
ビスを受けている加入者に至る音声周波引込線も
有している。特定の加入者に対するキヤリアによ
り形成されたチヤネルとその加入者に対する音声
周波引込線の両方をテストすることが望ましい。 本発明によると、少くとも1つの加入者線対の
多重化システム即ち対利得加入者ループ伝送シス
テム中のキヤリアにより形成されたチヤネルと、
前記伝送システムの遠隔端末から加入者電話器に
至る市内引込線の組合せにより形成された加入者
ループをテストするシステムが提供されており、
該テスト・システムは中央局テスト施設からテス
トされる加入者の市内引込線に至る金属線信号路
を延ばす引込線テスト手段と、前記テストされて
いる加入者に相応するキヤリアにより形成された
チヤネルを同時にテストするチヤネル・テスト手
段より成つている。 ここで対利得加入者ループシステムとは、複数
の加入者線対を多重化伝送路上に多重化して電話
ケーブルの利用度を向上させる加入者電話装置で
あつて、デジタル加入者多重化システムと同様の
動作をするシステムを指す。従つて、対利得加入
者ループとは多重化伝送路によつて与えられる加
入者ループを指す。 本発明の好ましき実施例では、キヤリアにより
形成された加入者チヤネルおよび遠隔端末から加
入者に至る加入者チヤネルの音声周波部分の両者
が標準テスト施設からテストされる。複数個のキ
ヤリアによりサービスを受けている加入者に対す
る音声周波引込線の金属線のテストを行うため
に、中央局と対利得システムの遠隔端末の間に単
一の金属線テスト対が設けられている。更に標準
テスト施設と中央局交換機の間にタンデムにテス
ト制御装置が接続されており、該制御装置は金属
線対をその1端においてテスト施設に接続し、他
端において加入者音声周波引込線に接続すること
により標準テスト開始信号に応動する。それと同
時に、キヤリアにより形成された加入者チヤネル
は反射性または吸収性終端され、テスト制御装置
から中央局交換機を通して自動テストすることが
可能となる。従つてテスト実行者は加入者の音声
周波引込線に対し標準の金属線テストを実行する
ことが可能であり、一方加入者ループのキヤリア
により形成された部分はテスト制御装置から自動
的にテストされる。 本テスト装置はキヤリア部分および金属線部分
の両者を含む各々のキヤリアにより形成された加
入者ループを完全にテストすることが出来る。更
にこのテストは手動または自動の標準テスト信号
に応動する。最後に、キヤリアにより形成された
部分のテストはキヤリア・システムの型とは無関
係に制御され、実際に行なわれるテストはキヤリ
ア・システムのチヤネルにより提供されるサービ
スの特定の型に対して補正される。 以下図面を参照して本実施例について述べる。 第1図を参照すると、本発明に従う対利得テス
ト・システムの一般的なブロツク図が示されてい
る。第1図のシステムは中央局ロケーシヨン10
および遠隔ロケーシヨン11を有している。中央
局ロケーシヨン10は対利得システムの中央局端
末12を含んでいる。端末12は周知のアナログ
またはデイジタル多重化技法を用いることによつ
て出中継伝送施設13および入中継伝送施設14
を介してキヤリアにより形成された加入者チヤネ
ルを提供する。このようにして端末12は施設1
3および14上に複数個の周波数分割されたチヤ
ネルを提供するか、又は施設13および14上に
複数個の時間多重化されたデイジタル・チヤネル
を提供する。対利得システムの相応する遠隔端末
15はこれら多重化されたチヤネル上の信号を複
数の加入者電話器17に分配するため市内引込線
上の複数個の音声周波数アナログ信号に分離す
る。 中央局ロケーシヨン10は電子式、クロスバ式
またはステツプ・バイ・ステツプ式交換システム
の如き任意の標準的中央局交換システムより成る
中央局交換機18を含んでいる。中央局交換機1
8は導線19上の音声周波数対利得端子および
(金属線ループ20を介して加入者電話器21に
接続されている)複数個の金属線ループ端子を他
のループ、出局間トランク22(電話システムの
他の中央局へ接続される中央局のトランクであつ
て、中央局の加入者電話機からの出音声周波数信
号を他の中央局の加入者電話機へ搬送するもの)
またはテスト・トランク23に相互接続する役割
を果す。 中央局ロケーシヨン10はまたテストの目的で
テスト・トランク23および中央局交換機18を
介して金属線ループ20にアクセスするのに通常
使用される標準の修理サービス受付台(RSB)
24に接続されたトランク25を含んでいる。こ
のRSB24は通常ループ20を手動でテストす
る手動市内テスト卓またはループ20を自動的に
テストする自動テスト装置のいずれかを含んでい
る。RSB24の主たる機能は加入者から障害の
報告を受け取つたときループ20をテストするこ
とである。 RSB24からのテスト・トランク25は対利
得テスト制御装置26を通してテスト・トランク
23に接続されている。一般に対利得テスト制御
装置26は対利得システム12−15を介して対
利得端子への線19に接続された市内ループに
RSB24がテスト・アクセスすることを許容す
る。市内引込線16へのアクセスは中央局テス
ト・ユニツト27、金属線対28および遠隔端末
テスト・ユニツト29を通して行なわれる。同一
の対利得システム12−15によつてサービスを
受けている(か又は並列システムにより共有され
ている)多数の市内引込線16にアクセスするの
には単一の金属線対28で十分である。 金属線対28を介して市内引込線16に金属線
によるアクセスを提供することに加えて、対利得
テスト制御装置26はまた中央局交換機18を通
して対利得システム12−15のキヤリアにより
形成されたチヤネルの中央局端末に直接アクセス
している。遠隔端末テスト・ユニツト29はキヤ
リアにより形成されたチヤネルの遠隔端末の端に
おいて予め選択されたテスト終端を提供し、それ
によつて対利得テスト制御装置26からキヤリア
により形成されたチヤネルの各々の一巡テストを
許容する。対利得制御装置26によつて行なわれ
るチヤネル・テストは完全に自動化することが出
来、RSB24からの市内引込線16のテストと
同時に行うことが可能である。 第1図のシステムはテストの目的で対利得シス
テムのすべての部分にアクセスすることが理解さ
れよう。市内ループおよび加入者端末装置への個
別的アクセスは金属線対28を通して行なわれ
る。それと同時に、テスト・トランク23および
中央局交換機18を通して対利得システムのチヤ
ネルにテスト・アクセスが行なわれる。テストの
手順は中央局対利得チヤネル端子に正規の信号状
態を提供することを含むので、システムのチヤネ
ル・テスト部分は関与する対利得システムの型と
は全く独立している。このようにして、システム
によつて提供されるチヤネル数とは独立に同一の
テスト装置がアナログおよびデイジタル対利得シ
ステムの両者に対して使用することが出来る。テ
スト接続はテストすべき回線の電話番号をダイア
ルするだけでRSB24から中央局のチヤネル端
子に対して設定される。次にRSB24は対利得
チヤネルの中央局端子に対する標準接続テストを
行う。加入者チヤネルそれ自身に対するテスト・
アクセスを開始した後、RSB24は標準テスト
系列を実行し、キヤリアによつて形成された加入
者ループに対する特殊なテスト手続きを行う必要
はない。この機能により金属線加入者ループとキ
ヤリアにより形成された加入者ループを混在して
有する中央局に対するRSBの膨大な管理上の負
担が救済される。 キヤリアにより形成される加入者ループに対す
るテスト接続を設定するための自動的な手続きを
より良く理解するため、第2図の簡単化された回
路図を考察する。第1図の装置ユニツトに相応す
る第2図の装置ブロツクは便宜上同じ引用数字で
示されている。対利得システムはデイジタル信号
チヤネルおよびデイジタル音声チヤネルを有する
多重化されたデイジタル・システムである。これ
らデイジタル信号チヤネルは対利得テスト・シス
テムの中央局ロケーシヨン10と遠隔ロケーシヨ
ン11の間で制御情報を交換するために使用され
る。周波数分割されたアナログ対利得システムに
おいては、上述の信号チヤネルは別個の周波数帯
域によつて提供される。 第2図の回路図において、RSB(図示せず)は
対利得テスト制御装置26中の平常時は閉じた接
点40に通し、RSBトランク25を介してテス
ト・トランク23にアクセスしている。このよう
にしてRSBトランク25は金属線ループ20
(第2図には図示せず)に対する直接アクセスを
行うために使用される。 対利得システムに接続された加入者の電話番号
がRSBトランク25および中央局スイツチ18
を通してダイアルされるとき、回線19を介して
対利得システムの中央局端末12中のコーデツク
(符号・復号器)69に対する接続が形成される。
テスト手順を開始するため、RSBのテスト実行
者はテスト・トランクのチツプ側にテスト電圧
(+116V)を加える。これはテスト卓において逆
ステーシヨン・キー(REV)および正ステーシ
ヨン・キー(+STA)を操作することにより実
行される。+116Vの電圧は平常時は閉じた接点4
0を通して端末12中のテスト電圧検出器41に
供給される。テスト電圧の検出に応動して、コー
デツク69は回線19上にトーンを加え、該トー
ンは交換機18およびトランク23を通して対利
得テスト制御装置26中のトーン検出器42に伝
送される。それと同時に、NSEIZE信号が導線7
7上に発生され、該信号はテスト回路が既に使用
されているかどうかを決定するのに使用される。
既に使用されている場合には導線68上の話中捕
捉信号(SZEBSY)がテスト実行者にその状態
を告知する。それと同時に、コーデツク69は出
回線13上に信号ビツト流中のテスト・コードを
送信する。標準D型デイジタル・チヤネル・バン
クにおいてチヤネル毎に信号機能を与える方法が
1979年7月13日付エス・ジエー・ブロリンの米国
特許願第057333号に述べられている。コーデツク
69中で発生された信号は、適当なテスト・トラ
ンクが適当な対利得システムおよびそのシステム
中の適当な加入者チヤネルと関連付けられること
を保証するハンドシエイク・ルーチンを開始す
る。 トーンがトーン検出器42により検出される
と、出力がANDゲート43に加えられ、ANDゲ
ート43は部分的にエネイブルされる。この信号
はテスト接続の要求を指示し、接続されるべき特
定のテスト・トランクを指定する。ここでトーン
検出器42は各テスト・トランク毎に設けられて
いることに注意されたい。 対利得システムの遠隔端末15中のコーデツク
44によつて出回線13上のテスト・コードを受
信するとNSEIZE信号が回線14上に送信され
る。このNSEIZE信号は、例示の目的で点線で示
されている仮想線45上に送られた論理信号であ
るかのように作用する。遠隔端末テスト・ユニツ
ト29は入回線14上のデータ・リンク・チヤネ
ルを利用してSEIZE RC信号を中央局テスト・ユ
ニツト27に送信する。標準D型デイジタル・チ
ヤネル・バンクにおいて付加的データ・リンクを
形成する1つの手法が1978年12月5日付のジエ
ー・イー・ランドリの米国特許願第966637号(日
本国特許願第156944/79号)中に述べられてい
る。SEIZE RC信号に応動して中央局テスト・ユ
ニツト27はSEIZE信号を対利得テスト制御装置
26に送信し、ANDゲート43のエネイブルを
完了する。ANDゲート43の出力に応動して、
対利得テスト制御装置26はこのテスト操作に対
して割当てるため特定のテスタ・ユニツト59お
よび関連するテスタ・トランクを選択する。この
ようにして、対利得テスト制御装置26は、第1
の対用し得る話中でないテスタ・ユニツトの位置
を決定するため走査される複数個のテスタ・ユニ
ツトを含んでいる。このとき対利得テスト制御装
置26はその一般的機能をチエツクし、校正を行
うためテスタ・ユニツトそれ自体に対しテスト系
列を実行する。このテストの結果が不成功である
とそのテスタ・ユニツトの話中フラグがセツトさ
れ、次に利用可能なテスタ・ユニツトを選択し、
それと同時に局内の警報器を作動させる。 適当なテスタ・ユニツト59が選択されると、
ANDゲート43の出力は中央局テスト・ユニツ
ト27に向う導線47上にPROCEED信号を発生
する。このPROCEED信号は選択された特定のテ
スタ・ユニツトに依存して異なる導線上に現われ
る。中央局テスト・ユニツト27において、この
PROCEED信号は出回線13上の信号チヤネルを
介して遠隔端末テスト・ユニツト29に伝送され
るPROCEED CR信号を発生する。PROCEED
CR信号は、例示の目的で点線で示されているOR
ゲート46からの仮想線上に送られた論理信号で
あるかのように作用する。それと同時に、導線4
7上のPROCEED信号はANDゲート48をエネ
イブルする。 遠隔端末テスト・ユニツト29において、
PROCEED CR信号は対利得システムの遠隔端末
15に向う導線48上にNGATE信号を提供す
る。導線48上のこのNGATE信号はテスト中の
チヤネルに対するチヤネル・テスト・リレーを作
動させ、それによつて端末15中の接点49を作
動させる。接点49はコーデツク44により提供
された対利得チヤネルから市内引込線16を切離
し、該市内引込線16を遠隔端末テスト・ユニツ
ト29に向う回線50に接続する。接点49はま
たコーデツク44の加入者チヤネル端子を遠隔端
末テスト・ユニツト29中のバツテリ・モニタ回
路51およびテスト終端回路62に接続する。 PROCEED CR信号はまたリレーを作動させ、
平常時開いている接点52を閉じて回線50をテ
スト対28に接続する。バツテリ・モニタ51は
コーデツク44の加入者端子上の音声回路で用い
られる低雑音電圧源(送話バツテリ)を調べ、チ
ヤネル・テスト・リレー上の接点49が適正に動
作していることを指示する信号をANDゲート5
3の1つの入力に提供する。ANDゲート53は
PROCEED CR信号によつて完全にエネイブルさ
れ、エネイブルされるとPROCEED RC信号を発
生し、該信号は入回線14上のデータ・リンク・
チヤネルを介して中央局テスト・ユニツト27に
返送される。PROCEED RC信号は、例示の目的
で点線で示されているANDゲート53かANDゲ
ート48に至る仮想線上に送られた論理信号であ
るかのように作用する。中央局テスト・ユニツト
27においてPROCEED RC信号を受信すると
ANDゲート48は完全にエネイブルされ、該ゲ
ート48はORゲート54を通して平常時は開い
た接点55を閉じて、テスト対28を回線56を
介して対利得テスト制御装置26に接続する。 ORゲート54の出力はまた導線57上に
SLEEVE信号を発生し、該信号は対利得テスト
制御装置26中の接点40を作動させる。このよ
うにしてRSBテスト・トランク25はテスト・
トランク23から切離される。テスト電圧(+
116V)がテスト・トランク25から除去される
とき、テスタ・ユニツト59はトランク23、中
央局交換機18および回線19を介して対利得シ
ステムの中央局端末12のコーデツク69上の加
入者端子に接続される。RSBトランク示25は
接点58および回線56を介し接点55通してテ
スト対28に接続される。これらの接続が完了す
ると、対利得テスト制御装置26は中央局テス
ト・ユニツト27に至る導線60上にLOCK信号
を発生する。導線60上の信号はORゲート54
の出力により部分的にエネイブルされていた
ANDゲート61をエネイブルする。導線47上
のPROCEED信号はこのとき除去される。AND
ゲート61の出力はテスト操作期間中ずつと接点
55および58を閉じた状態に保持するためOR
ゲート54に加えられる。導線60上のLOCK信
号が除去されると、これらリレーの接点は復旧
し、またPROCEED CR信号を終了させ、遠隔接
続を復旧する。 第2図のシステムは現在テスト系列を実行する
状態にある。RSBトランク25に接続された手
動又は自動テスト卓は現在テスト対28を通して
市内引込線16に接続されている。これにより直
接的な金属線接続が行なわれ、テスト実行者また
は自動装置が市内引込線16および加入者電話器
17に対し金属線ループに対して使用される任意
の正規のテスト手順を行うことが可能となる。こ
れらテストは例えば導線間または1方の導線と地
気の間の漏洩テスト、回線上の外部電圧のテス
ト、回線上のリンガに対する衝撃テスト等を含ん
でいる。RSBに居るテスト実行者は電話器セツ
トをRSBの回線に接続することにより市内引込
線16をモニタすることも可能である。 上述の如き金属線によるアクセス・テストと同
時に、テスタ・ユニツト59はコーデツク69上
の加入者チヤネル端子に接続され、終端回路62
はテスト中のチヤネル・ユニツトの加入者側に接
続される。終端62は加入者チヤネルに対するテ
スト終端を提供し、従つてテスタ59が自動制御
の下で加入者チヤネルのテストを行うことを許容
する。これらのテストは一巡チヤネル損失、反響
リターンロスおよび空きチヤネル雑音測定の如き
交流伝送テストを含む。これら終端はまたオフ・
フツク、チツプ・パーテイ識別地気、貸幣収納、
リターン信号および単一パーテイおよびマルチパ
ーテイのリンギング信号の種々の形態を検出する
ことが可能である。 ここでチツプ・パーテイ識別地気とは次のよう
なものである。チツプ導体とリング導体からなる
単一ラインへ接続されている2つのパーテイ、チ
ツプ・パーテイとリング・パーテイがある。一本
のみのラインが同時に用いられるから、いずれの
加入者がサービスを要求していたかを識別する必
要がある。これを行うため、チツプパーテイ電話
機は地気への接続を持つている。オフ・フツク
(呼の開始)時課金のためにそのパーテイがチツ
プパーテイであることを自動的に識別するべく地
気接続が調べられる。 ここでテスト回路の大部分は中央局対利得テス
ト制御回路26のテスタ・ユニツト59に設けら
れていることに注意されたい。遠隔ロケーシヨン
11に設けられている唯一の回路は単なる反射性
および吸収性終端および地気接続より成る終端6
2である。これら終端の変更はマルチ・パーテ
イ・リンギングまたは貸幣収納またはリターン信
号をこれら終端を制御する制御コードとして使用
することにより実行される。加入者チヤネルは加
入者引込線16には接続されていないから、これ
ら電話器制御コードは終端回路62における終端
を制御する信号コードとして使用可能である。 上述の装置は金属線加入者ループ16および回
線13および14中の相応するキヤリアにより形
成された加入者チヤネルの両方を別におよび同時
にテストすることが出来ることが理解されよう。
金属線より成る引込線テスト系列は中央局から延
びている通常の金属線ループに対して使用される
のと同じ回路を用いて手動でまたは自動的に実行
される。これにより中央局から金属線ループまた
はキヤリアにより形成された加入者チヤネルのい
ずれによつてサービスを受けていようとも、
RSBにおいてはすべての加入者に対し標準のテ
スト手順を使用することが可能となる。これによ
り中央局を機能させるための監理上の負荷は大幅
に減少する。 それと同時に、テスタ・ユニツト59は対利得
システム中の選択的に終端されたキヤリアにより
形成された加入者チヤネルに対し自動テスト系列
を実行することが出来る。このようにして、中央
局から加入者に至るリンク全体が同時にテストさ
れ、加入者線接続が完全に利用可能で動作可能で
あるかどうかがチエツクされる。テスタ・ユニツ
ト59によつて実行されたテストの結果はテスト
応答トーンおよび電圧をRSBトランク25に加
えることによりRSBに中継され、テスト実行者
に可聴又は可視信号を提供し、自動チヤネル・テ
ストが成功裡に完了したことを指示する。 全相互接続系列の実行は約1秒で実行出来る。
相互接続手順のすべての階程は自動的にタイミン
グがとられ、タイム・アウトが生じたり、不適切
な信号が受信されると、再指令信号(高速話中信
号)がRSBに返送される。次にテスト接続を設
定するために新しい試みが開始される。テスト・
トランク接点58の最終的開放はRSBテスト・
トランク25のチツプ導線から+116Vのテスト
信号が除去されるまで遅延される。これによりテ
スト実行者に対しテスト接続が適正に設定された
ことが知らされる。 以上第1図の対利得テスト・システムの全体と
しての動作を第2図と関連して概説した。残りの
図は上述の動作を実行するのに必要な詳細な回路
を示している。 第3図には対利得システムの中央局端末12の
コーデツク69中の中央局チヤネル・ユニツトの
1つの詳細なブロツク図を示す。中央局チヤネ
ル・ユニツトはハイブリツド変成器70を有し、
該変成器70には特定の加入者の中央局端子のチ
ツプ導線71およびリング導線72が接続されて
いる。リンギング検出器73はハイブリツト変成
器70の1方の巻線を介してリング導線72に接
続されており、中央局により導線71および72
に加えられるリンギング信号を検出する役目を果
す。リンギング信号の検出により制御回路74に
入力が供給され、該制御回路74はこれらリンギ
ング信号を変調器75を介して符号化し、それら
を回線76を介して出伝送施設13(第1図)に
伝送する。 チツプ導線71はハイブリツド70の他方の巻
線を通してテスト電圧検出器41に接続されてお
り、該検出器41の出力はまた制御回路74に接
続されている。第2図と関連して述べたように、
テスト電圧検出器41はチツプ導線71上の+
116Vのテスト信号を検出するよう設計されてい
る。チツプ導線71上に現われる+116ボルトの
ようなテスト電圧が制御回路74に与えられ、そ
れに応答して制御回路74はリード77上に
NSEIZE信号を発生する。NSEIZE信号は、中央
局コーデツク69から中央局テストユニツト27
を制御する。これは第2図におけるコーデツク4
4に関して先に説明したものと同様な制御を提供
する。それと同時に、検出器42(第2図)によ
つて検出されるトーンを導線71および72上に
加える。 導線71および72上に現われる音声信号はハ
イブリツド70および低域フイルタ78を通して
変調器75に伝送される。これら音声信号は変調
器75で符号化され、出伝送施設13に向う回線
76上に送出される。伝送施設14からの入信号
はデマルチプレツクスされ、導線7を介して復調
器80に供給され、該復調器は音声周波信号を復
調し、それを低域フイルタ81およびハイブリツ
ド変成器70を通して導線71および72に供給
する。 導線79上に現われる符号化されたオフ・フツ
ク信号は復調器80によつて復調され、制御回路
74に供給され、リレー82を作動させる。する
とリレー82は平常時開いた接点83を閉じ、導
線71および72の間の信号路を閉じることによ
り中央局にオフ・フツク状態を中継する。 第4図には第3図のリンギング信号検出器73
の詳細な回路図が示されている。入力導線100
に加えられたリンギング信号はブロツキング・コ
ンデンサ101を通して抵抗102およびコンデ
ンサ103より成る雑音フイルタに供給される。
コンデンサ101は直流を阻止する。リンギング
信号の正および負の半波は抵抗105および10
6を通して夫々電流を流す。電流バイアス抵抗1
04および107は夫々正の電圧源108および
負の電圧源109に接続されている。抵抗104
および105の中点はトランジスタ110のベー
スに接続されており、抵抗106および107の
中点はトランジスタ111のベースに接続されて
いる。コンデンサ103は抵抗105および10
6の中点に接続されている。抵抗105を通して
引き出される電流が抵抗104を通るバイアス電
流を超すほど高いレベルにまで増大すると、トラ
ンジスタ110はオフとなる。抵抗106を流れ
る電流が抵抗107を流れるバイアス電流を超す
と、トランジスタ111は導通する。ダイオード
114および115は夫々トランジスタ110お
よび111のベース・エミツタ間の逆電圧に対す
る保護の役目を果す。 トランジスタ110のコレクタはトランジスタ
116のベースおよびバイアス抵抗112に接続
されている。トランジスタ110がオフとなる
と、トランジスタ116はONとなり、この共通
ノードは接地される。従つて、大きな正又は負の
入力信号はトランジスタ111またはトランジス
タ116を導通させ、そのコレクタの共通ノード
を接地する。この共通ノードの接地により抵抗1
20を通して電流が流れ、電源108に接続され
たコンデンサ119を放電し、それによつて供給
電圧レベルに充電される。コンデンサ119上の
電圧が充分低くなると、導線121上に出力信号
が現われる。コンデンサ119の両端に直列に接
続された抵抗118および120は出力回路の回
復時間を制御する。 第4図のリンギング信号検出器は単一パーテイ
およびマルチパーテイの重畳されたリンギング信
号の両方に応動することに注意されたい。導線1
21上の信号は第3図の制御回路74に加えら
れ、これらリンギング信号を変調器75および回
線76を介して遠隔端末に中継する。 第5図には第1および2図の対利得テスト制御
回路26の更に詳細なブロツク図が示されてい
る。第5図のテスト制御回路は制御回路130、
テスタ・ユニツト131、トーン検出器42、保
守デイスプレイ装置132および種々の論理回路
より成る。RSBトランクのチツプ、リングおよ
びスリーブ導線25はK2接点58を通してテス
ト対56に、またはK3接点144を通して中央
局交換機に至るテスト・トランク23に供給され
る。K2接点58の平常時は閉じた接点40は第
2図に示すものと同一である。トランク23は
K3接点133を通してトーン検出器42に接続
されている。従つて中央局交換機からの回線23
上へのトーンの出現はトーン検出器42で検出さ
れ、ANDゲート134を部分的にエネイブルす
る。ANDゲート134は制御回路130からの
導線135上のSELECT信号によつて完全にエ
ネイブルされる。第5図の詳細な論理回路は各
RSBテスト・トランク25および各テスタ・ユ
ニツトに対して繰返されているので、導線135
上のSELECT信号は選択された特定のテスタ・
ユニツト131を同定するのに役立ち、トーン検
出器出力は使用される特定のテスト・トランクを
選択するのに役立つ。 ANDゲート134の出力は制御回路130お
よびそれと同時にフリツプ・フロツプ136のD
入力に供給される。フリツプ・フロツプ136の
ONE出力はリレー駆動回路137に加えられK2
リレー138を作動させる。リレー138はK2
接点58を作動させて加入者接続を切離し、トラ
ンク25をテスト対56に接続し、テスタ・ユニ
ツト131をトランク23に接続する。 各テスト・トランクはそれ自身のトーン検出器
を有しているから、多重テスト・トランクでは近
接トーンの同時検出が生じる可能性がある。テス
タ・ユニツトが1つ以上のテスト・トランクに接
続される可能性を排除するため、すべてのトーン
検出器の出力は各フリツプ・フロツプ141のD
入力に加えられ、所与のトーン検出器の出力はそ
の関連するフリツプ・フロツプ141のエツジ・
トリガされたクロツク入力に加えられる。遅延延
素子700はクロツク・エツジの後までD入力の
変化を生じさせないから、所与のトーン検出器は
その関連するフリツプ・フロツプ141を動作出
来ないことに注意されたい。この特徴により遅延
素子700によつて決定される時間ウインドウ
(本例では50ナノ秒以下)期間に曖味なトーンの
検出を行う可能性を制限する。 フリツプ・フロツプ141は動作するとリレー
駆動器142に信号を供給し、K3リレー143
を作動させる。K3接点144はトランク25を
抵抗145及びK3接点146を通して地気に接
続する。フリツプ・フロツク141の出力はまた
ANDゲート147を部分的にエネイブルする。
ANDゲート147は導線148上の120IPM
(120インタラプシヨン/分)信号によつて完全に
エネイブルされる。このようにして話中の中央局
テスト・トランク23へアクセスする試みにより
K3接点144はRSBトランク25を間欠的な地
気に接続し、RSB24に対しアクセスを再試行
すべきことを指示する高速話中信号を提供する。
更に導線701はSZEBSYが受信されたとき、
または相互接続系列で問題が生じたときに、割当
てるべきテスタ・ユニツトが入手出来ない場合、
そのプリセツト入力を介してフリツプ・フロツプ
141を作動させる制御回路130用の手段を提
供する。スリーブ導線140は電流検出器702
と関連してテスト・トランクから高速話中指示を
切離す手段を提供する。 テスタ・ユニツト131により実行されるテス
ト系列は制御回路130の制御の下でテスト選択
導線151により実行される。テストの結果は導
線159により制御回路130に返送される。デ
イスプレイ・ユニツト132は適当な障害補正手
順を同定するのに使用される。制御回路130は
また導線47上にPROCEED信号をそして導線6
0上にLOCK信号を発生し、導線51によつて
SLEEVE信号を受信する。これら導線47,6
0,51はすべて中央局テスト・ユニツト27に
接続されている。K3接点133は高速話中指示
がRSBトランク25に返送されているときトー
ン検出器42を回路からロツク・アウトする。フ
リツプ・フロツプ136はまたZERO出力導線1
52上の話中信号を制御回路130に提供する。
導線153上のANDゲート134の出力はどの
テスタ・ユニツトが割当てられたかを制御回路1
30に指示する。 第6図には第5図のテスタ・ユニツト131の
如きテスタ・ユニツトの詳細な回路図が示されて
いる。第6図のテスタ・ユニツトは第5図の導線
151上の9つの信号により動作する9つのテス
ト・リレーK5〜K13(第6図には図示せず)の制
御の下にある。第6図において、チツプ導線16
0およびリング導線161はテスト・トランク2
3から種々のリレー接点を通してハイブリツド・
コイル162に接続されている。テスト信号源1
63は抵抗164および増幅器165を通してハ
イブリツド・コイル162の1つの巻線に接続さ
れている。このようにして信号源163で発生し
たテスト信号はハイブリツド162を通してテス
ト・トランク23のチツプ導線160およびリン
グ導線161に送信される。リターン・ロスおよ
び雑音の如き交流テストは信号源163からの信
号を用いて実行される。このテスト信号の周波数
はハイブリツド間反射の効果を減少させるため音
声周波数領域の1部分にわたつて掃引される。
K10接点166は増幅器165に対する入力を接
地することによりこれらACテストを禁止する。 テスト・トランク23からのリターン信号はハ
イブリツド・コイル162を通してフイルタ16
7に伝送され、該フイルタの出力は可変利得増幅
器168に加えられる。K11接点169は増幅器
168の利得を変化させ、雑音信号を測定する場
合に感度の増大を許容する。増幅器168の出力
は整流器170に加えられ、該整流器の出力は比
較回路171に加えられる。比較回路171は整
流器170の出力を種々の閾値と比較し、これら
閾値と交差したときに導線172および173上
に出力信号を提供する。1つの閾値は例えば一巡
ロスおよびリターン・ロスに対して使用され、他
の閾値は雑音を測定するのに使用される。 K3接点175はリング導線161上の正規送
話バツテリ電圧を反転し、K5接点176は重畳
されたリンギング信号の極性を反転する。K3接
点177はチツプ導線160に加えられる貨幣電
圧の極性を反転する。K6接点178はリング導
線161にリンギング信号を加え、それと同時に
チツプ導線160をK6接点179を通して接地
する。平常時は閉じたK8接点180は抵抗18
1およびハイブリツド変成器162のコイルを通
してチツプ導線160に地気を提供する。K8接
点182および183はチツプおよびリング接続
を逆転させ、それによつてバツテリまたはリンギ
ングをリング導線161の代りにチツプ導線16
0に供給する。K13接点187はチツプ導線16
0とリング導線161の間に終端抵抗188を挿
入し、それと同時にチツプ導線接続を開く。 K7接点192は貨幣電圧を抵抗193を通し
てチツプ導線160に接続し、K7接点194は
K13接点187が動作したときチツプおよびリン
グ導線の両端から終端抵抗188を除去する。
K12接点195および196はハイブリツド16
2を導線197および198に接続し、テスタ・
ユニツトと中央局スイツチの間の信号路を形成す
ると同時にトランク23をK12接点197および
184を通して導線198および186に接続
し、これにより金属線テスト対が形成される。 電圧検出器200は平常時はK12接点197を
通してチツプ導線160に接続され、チツプ電圧
をモニタして導線201上に出力信号を提供す
る。電流検出器202はK5接点175を通して
供給される送話電圧と直列に接続されており、オ
フ・フツク・ループ電流および貨幣またはANI
チツプ電流の両方に対し導線203上のこの回線
電流の指示を提供する。 K9接点205は導線206上にオフ・フツク
信号を提供し、該信号はデータ・リンクを介して
遠隔端末に送信されキヤリアにより形成された加
入者チヤネルの遠隔終端をオン・フツク状態に戻
す。これによりリンギング信号をチヤネルの遠隔
終端の制御に使用することが可能となる。 第6図のテスタ・ユニツトは9つのテスト・リ
レーの制御の下でテスト・トランク23に交流音
声周波テスト信号、直流およびリンギング/貨幣
信号状態を選択的に提供する。それと同時に、テ
スタ・ユニツトは(導線201上の)回線電圧お
よび(導線203上の)回線電流の指示および交
流テストの結果に関する導線172および173
上の指示を提供する。 第6図のテスタ・ユニツトを制御するテスト・
リレーは第5図の制御回路130からの導線15
1上の信号の制御の下にある。制御回路130は
すべての必要な制御信号を提供する論理回路また
は同じ機能を提供するマイクロプロセサより成
る。 第7図には第5図の制御回路130として使用
するのに適したマイクロプロセサのブロツク図が
示されている。第7図のマイクロプロセサは例え
ばモステツク社のMK3870単一チツプ・マイクロ
コンピユータであつて良い。 第7図のマイクロプロセサはその中にユニツト
の残りの部分を制御する制御プログラムが記憶さ
れている読み出し専用メモリ210を含んでい
る。メモリ210はアドレス・レジスタ211の
中のアドレス・コード(このアドレス・コードは
加算回路212から取り出される)によつてアク
セスされる。加算回路212への1つの入力はバ
ス213から取り出され、第7図のマイクロプロ
セサの主要ユニツトのすべてに接続されている。
回路212の他の入力はアドレス・レジスタ21
1の出力から取り出され、それによつてアドレ
ス・レジスタ211中のアドレスが歩進される
か、あるいは算術修飾が施され、メモリ210中
のプログラム・コード・ワード・ロケーシヨンの
適当な系列が生じる。 複数個のスクラツチ・パツド・レジスタ214
がまた計算の中間結果を記憶するために設けられ
ている。スクラツチ・パツド・レジスタ214は
バス213からロードされるスクラツチ・パツ
ド・アドレス・レジスタ215によりアクセスさ
れる。 その入力およびその出力がバスに接続されてい
る算術および論理ユニツト216はマイクロプロ
セサによつて実行されるすべての算術および論理
演算に対して使用される。算術および論理ユニツ
ト216の第2の入力はバス213に接続された
アキユミユレータ・レジスタ217から供給され
る。 読み出し専用メモリ210からアクセスされる
プログラム・インストラクシヨンはバス213に
よつてインストラクシヨン・レジスタ218に加
えられ、インストラクシヨン・レジスタ218の
出力はマイクロプロセサ中のすべての他の回路の
動作を制御するため制御論理回路219に加えら
れる。複数個のポート220,221,222お
よび223はバス213に接続されており、導線
224,225,226および227上に夫々独
立した出力を提供する。ポート222は更に新ら
しいデータがポート222中にロードされ出力す
る準備が出来たとき導線228上にSTROBE信
号を提供する。MK3870マイクロプロセサの更な
る詳細な事項ならびにこのマイクロプロセサ中に
使用されるインストラクシヨン・セツトに関して
は1977年7月発行の“モステツクF8マイクロプ
ロセサ・デバイス”(これはモステツク社から入
手出来る)に述べられている。 第7図のマイクロプロセサの種々のポートは第
5図に示す種々の制御信号を送受信するのに使用
される。一般にポート220は導線135(第6
図)上のSELECT出力ならびに話中および警報
信号を提供する。ポート220はこれら出力信号
のために予約されているから、これら出力信号は
テスト系列期間中の任意の時点において、または
連続的に供給可能である。 ポート221は導線51上のSLEEVE信号な
らびに導線152上の話中信号を提供し、これら
信号を受信するのに常時利用可能である。ポート
223はポート222に対する種々の入力および
出力を制御するためテスタ・アドレス信号および
クロツク信号を提供する。 ポート222は双方向性データ・バスを提供
し、該バスはポート223からの読み出し/書き
込みおよびアドレス信号の制御の下で導線153
(第5図)上のトーン検出器出力および導線15
9上のテスト結果信号を受信し、導線47上に
PROCEED信号を、導線60上にLOCK信号を、
導線151上にテスト制御信号を、そしてデイス
プレイ132にデイスプレイ信号を発生する。第
7図のマイクロプロセサのポートの種々の信号の
一覧を以下の表〜に示す。
【表】
【表】
【表】
【表】
【表】
【表】
【表】
【表】 第8図には第1図にブロツク27として示す中
央局チヤネル・テスト・ユニツトの詳細な論理図
が示されている。第8図のテスト・ユニツトは第
1図の対利得テスト制御装置26からのテスト対
56を含んでおり、該対はテスト対28を介して
遠隔ロケーシヨンに延びている。テスト対はチヤ
ネル・テスト・ユニツトを通して対利得テスト制
御装置から遠隔ロケーシヨンに至るテスト対に対
する接続を形成する役目を有している平常時は開
いたK16接点250により中断されている。更に
第8図のマイクロプロセツサから取り出される導
線251上のテスト警報信号は第14図と関連し
て以下で述べるデータ送信器に加えられる。この
テスト警報信号はあるテスト系列が失敗したか又
はタイム・アウトとなつたことを指示し、このよ
うな障害が生じたときテスト接続を遠隔端末にお
いて解除することを許容するべく遠隔端末に送信
される。 先に指摘した如く、第6図のテスタ・ユニツト
はテスト系列の実行期間中オン・フツク信号を発
生することが出来る。導線206上に現われるこ
のオン・フツク信号はインバータ710を通して
NORゲート253に供給され、該NORゲート2
53の出力は導線254上に現われ、第14図の
データ送信器に加えられる。導線47上の
PROCEED信号は又対利得テスト制御装置26、
厳密に言えば第7図のマイクロプロセサで発生さ
れる。表に示すように、この信号はテスタ・ユ
ニツトが選択され動作可能状態が予めテストされ
ると発生される。導線47上の信号はインバータ
711を通してNORゲート255に加えられ、
該ゲート255の出力はORゲート256および
ANDゲート257に加えられる。導線258上
のORゲート256の出力は第2図に示す
PROCEED CR信号を形成し、同様に第14図の
データ送信器に加えられる。NORゲート255
の残りの入力は抵抗260を通して正の電圧源2
59から取り出される。K13接点261(K13リ
レー291はSEIZE信号を発生する)により、
NORゲート255に対するこの入力は高レベル
となり、それによつてSEIZE信号が対利得テスト
制御装置26に送信されるまでPROCEED CR信
号の発生を禁止する。導線60上のLOCK信号は
又第7図のマイクロプロセサで発生される。(表
参照) 一度テストが選択され、全ハンドシエイク手順
が完了すると、テスト系列の実行が開始される。
導線60上のLOCK信号はこのときANDゲート
262に加えられる。ANDゲート257の出力
およびANDゲート262の出力はNORゲート2
63で組合わされ、該NORゲート263の出力
はインバータ264で反転され、リレー駆動回路
265に加えられる。駆動回路265の出力は
K16リレー266を作動させ、該リレーが動作す
るとK16接点267が閉じ、それによつてSLV導
線57上に地気が提供される。第2図と関連して
議論したように、導線57上のこの信号は対利得
テスト制御装置26中のリレー接点58を作動さ
せてテスト接続を完成させるのに使用される。こ
の論理回路は導線47上のPROCEED信号および
導線268上のPROCEED RC信号でK16リレー
266を作動させる。K16リレー266が一度作
動すると、導線47上のPROCEED信号が終了し
たとき導線60上のLOCK信号はリレー266を
動作状態に保持する。 ANDゲート257は第2図のANDゲート48
に相応し、ANDゲート262は第2図のANDゲ
ート61に相応することが理解されよう。AND
ゲート257に対する残りの入力の1つは第15
図と関連して後述するデータ受信器からの
PROCEED RC導線268から取り出される。
ANDゲート257に対する最後の入力はNORゲ
ート269の出力から取り出され、NORゲート
269の入力はTESTALM RC導線270およ
びSEIZE RC導線271(これらはいずれも第1
5図のデータ受信器から来ている)上に現われ
る。導線271上のSEIZE RC信号が消滅する
か、又は遠隔端末で警報(TESTALM RC)が
生じると、第8図のすべてのリレーはこの論理回
路により復旧される。従つてPROCEED RC信号
が導線268上で既に受信され、SEIZE RC信号
が導線271上で既に受信されていないならば、
導線57上のSLV信号は発生されないことが理
解されよう。さらに遠隔端末における警報信号を
指示するTESTALM RC信号が導線270上で
受信されていないこともまた必要である。 ANDゲート262の残りの入力はSLV信号が
導線57上に発生されたことを指示するインバー
タ回路264の出力およびSEIZE RC信号が導線
271上で受信され、TESTALM RC信号が導
線270上で未だ受信されていないことを指示す
るNORゲート269の出力より成る。NORゲー
ト263の反転出力はNORゲート253および
NORゲート256に対する第2の入力を形成す
る。この回路の目的は遠隔端末に送信される特定
のオン・フツク信号(多重化されていても良い)
を固定することにある。このときNORゲート2
63の出力は導線258上にPROCEED CR信号
を発生することが可能であり、導線47上の
PROCEED信号は終了し得る状態にある。 導線268上のPROCEED RC信号はインバー
タ272で反転され、フリツプ・フロツプ273
のD入力に加えられる。クロツク信号はNORゲ
ート255の反転出力からフリツプ・フロツプ2
73に供給される。導線47上のPROCEED信号
の立下りエツジでフリツプ・フロツプ273は導
線274上に出力を発生し、該信号はNORゲー
ト275に加えられる。即ちフリツプ・フロツプ
273は系列の適当な時点でPROCEED RC信号
が導線268上で受信されたことを記憶する役目
を有しており、この記憶された情報は後で使用さ
れる。フリツプ・フロツプ273はSEIZE RC信
号が導線271から除去されるとリセツトされ
る。これにより中央局端末に対するSEIZE信号の
終了を許容する。 NSEIZE信号は第3図と関連して議論したよう
に導線77上で受信される。導線77上の信号は
ANDゲート277に加えられ、該ANDゲート2
77の他の入力は導線278上のMJO信号であ
る。このMJO信号は主警報状態がキヤリア・シ
ステムから受信されたことを指示する。ANDゲ
ート277の出力はリレー駆動回路279に加え
られ、該回路279の出力はK15リレー280を
作動させる。該リレーが作動すると、K15リレー
280はK15接点281を閉じ、導線282上に
TMAJ信号を供給する。この警報信号はテスト
中のキヤリア・システム中の主警報装置に信号を
送るのに使用されると共にテスト系列を終了さ
せ、RSBに低速話中信号を加えるのに使用され
る。 導線77上のNSEIZE信号およびフリツプ・フ
ロツプ273の出力はNORゲート275で組合
わされ、該NORゲート275の出力はNORゲー
ト283に加えられる。NORゲート283の残
りの入力は導線271上の 信号から取
り出される。NORゲート283の出力はフリツ
プ・フロツプ295にクロツクとして加えられ、
フリツプ・フロツプ295のD入力の信号に応じ
てK13リレー291またはK14リレー287を作
動させる論理信号として作用する。信号
(これは金属線対が既に他のテストに使用中であ
ることを指示する)が導線294上に現われる
と、K14リレー287が動作し、導線281上に
SZEBSY(話中捕捉)信号を発生する。第2図と
関連して指摘したように、このSZEBSY信号は
施設が話中であることを指示するのに使用され
る。導線294上にINHIB信号が存在しないな
らば、K13リレー291が動作しSEIZE信号(導
線273)を対利得テスト制御装置26(第2
図)に送信する。K16接点296はテストが進行
中の場合INHIB導線294を活性化する。(対利
得テスト制御装置26からの導線47上の
PROCEED信号が除去されると、フリツプ・フロ
ツプ273にNORゲート275および283を
介してクロツクが加えられ、K13リレー291が
復旧する。 第9図には対利得システムの遠隔端末15のコ
ーデツク44に見出されるような遠隔チヤネル・
ユニツトのブロツク図が示されている。デマルチ
プレクサからの入力回線300はデマルチプレク
サ回路301に加えられ、そこでデイジタル信号
は音声周波信号に変換され、ハイブリツド変成器
302に加えられる。デイジタル・パルス列から
の制御信号は制御回路303に加えられる。この
ようにして、例えばリンギングが市内電話引込線
に加えられることを指示する制御信号がK7リレ
ー304を作動させるのに使用される。第2図と
関連して述べたNGATE信号は導線48上に現わ
れ、制御回路303に加えられる。この信号は
K18リレー305を作動させ、テスト接続を設定
する。 ハイブリツド変成器302を通して伝送された
音声信号はチツプ導線306およびリング導線3
07上に現われる。(これら導線は市内引込線に
よつて加入者電話機回路に接続されている。)導
線306および307により加入者電話機から受
信された音声周波数信号はハイブリツド変成器3
02を通して変調回路308に伝送される。変調
回路308においてこれら音声周波数信号は導線
309上のパルス振幅変調信号に変換され、該パ
ルス振幅変調信号は第1図の入伝送線14上で伝
送するべくコーダ/マルチプレクサ回路に加えら
れる。 加入者がオン・フツクすると、電話器を通して
流れているループ電流が電流検出器310によつ
て検出され、制御回路303に至る導線311上
にオフ・フツク信号を提供する。このオフ・フツ
ク信号は導線312を介して変調器308にオ
フ・フツク信号を符号化させ、導線309上のデ
イジタル・パルス流として伝送させる。このオ
フ・フツク信号は、中央局端末においては電話を
正規の使い方をしている期間中サービス要求とし
て使用される。 正規送話バツテリが負電圧源313から抵抗3
14、ハイブリツド変成器302の1方の巻線の
1部およびリング導線307を通して加入者電話
器に提供されている。この送話電流の帰路はチツ
プ導線306、ハイブリツド変成器302の他の
巻線の1部および抵抗315を通して地気に至る
回路により提供される。K17接点316は正規の
送話バツテリを切離し、リング導線307をリン
ギング信号発生器317に接続する。K17接点3
16はK17リレー304により動作し、該リレー
304は上述の如く導線300上のパルス列中に
リンギング・コードが存在することに応動して動
作する。K17リレー304はまたK17接点330
を作動させ、抵抗331を通るリンギング信号に
対する帰路を提供する。導線48上の信号(およ
びそのチヤネル上にテスト・コードが存在するこ
と)に応動して動作するK18リレー305はK18
接点318および319を動作させる。K18切断
リレー305はテスト系列が終了するまで
NGATE信号によりロツクされる。第9図から分
るように、接点318および319は市内引込線
306および307を第2図のテスト対50に接
続する役割を果す。それと同時にこれら接点はハ
イブリツド変成器302を遠隔端末チヤネル・テ
スト・ユニツト29に接続る。このようにして音
声周波金属線回路は中央局から市内引込線まで延
ばされ、それと同時にチヤネルそれ自身はチヤネ
ル・テスト・ユニツト29で終端される。 第10図は第1および2図にブロツク29とし
て示す遠隔端末チヤネル・テスト・ユニツトの一
般的なブロツク図である。第10図のチヤネル・
テスト・ユニツトは先に述べた如く第9図の遠隔
チヤネル・ユニツトから出ている一対の導線32
5および326を含んでいる。導線325および
326は平常時は閉じたK19リレーの接点327
および328を通して終端回路62に接続されて
いる。先に指摘した如く、各チヤネルのテスト期
間中チヤネル・ユニツトの遠隔端はテスト系列を
援助するため受動終端素子により選択的に終端さ
れている。更にこれら受動終端は加入者ループが
テスト中でない場合にはマルチパーテイ・リンギ
ンクまたは貨幣信号を制御するのに通常使用され
る信号の制御の下にある。このようにしてリンギ
ング信号検出器329は中央局から伝送された制
御信号に応動して遠隔端まで発生される導線32
5および326上のリンギング信号または貨幣制
御信号の存在を検出するのに使われる。K19リレ
ー331が(第11図と関連して述べるように)
オン・フツク信号によつて動作すると、検出器3
29の出力はリンギング信号論理回路330に加
えられる。該回路330はこれらリンギング信号
をリレー331,332および333の動作を制
御するのに使用する。 導線325および326はK19接点327およ
び328の平常時は閉じた部分を通して第2図に
一般的なブロツク図として示す終端回路62に接
続されている。ライン・フイード検出回路51は
第9図の遠隔チヤネル・ユニツトから供給される
送話バツテリの存在を検出するべく導線325と
326に接続されている。終端回路62はリレー
331,332および333の制御の下にある。
詳細に述べると、K20接点334はK20リレー3
32により動作し、動作すると導線325および
326に対し短絡反射性終端を提供する。このよ
うな短絡終端が存在しない場合には、抵抗335
および336が導線325および326に対する
整合した消散性終端を提供する。抵抗335と3
36の間の共通接合点はK20リレー332のK20
切換接点340を通してダイオード337および
338に接続されている。一方これらダイオード
は抵抗339および平常時は閉じたK21接点34
1を通して接地されている。このようにしていず
れかの極性の平衡した地気がK20リレー332に
より動作したK20接点340により供給される。
K21リレー333は平常時は閉じた接点341を
開いて平衡接続を終了させる。この接続は遠隔加
入者電話器における自動番号同定地気または貨幣
地気を模擬するのに使用される。 対利得システムにおける加入者ループの完全な
テストを行うために遠隔端末において必要な唯一
の装置は人工終端62セツトとこれら終端を選択
するのに必要な制御回路であることに注意された
い。信号を発生し応答を評価する複雑な装置はす
べて中央局に置かれている。更に、この中央局回
路は種々の異なる加入者チヤネルまたは対利得シ
ステムに対して重複して設ける必要はなく、従つ
て多数の加入者チヤネルをテストするのに共通使
用することが出来る。 第10図にはまたチヤネル・テスト・ユニツト
の他の部分を制御するのに使用される制御回路3
50が示されている。詳細に述べると、導線45
上のNSEIZE信号は制御回路350に加えられ、
該回路350は導線48上にNGATE信号を供給
する。ライン・フイード検出回路51の出力はま
た導線351上の種々の警報信号および他のテス
ト信号と共に制御回路350に加えられる。制御
回路350はまたK22リレー352を作動させて
K22接点715を閉じ、金属線対28を直線50
(第2図)に接続する。 データ・エンコーダ353およびデータ・デコ
ーダ354がまた第10図に示されている。これ
ら回路は制御回路350から信号を受信し、制御
回路350に信号を送信する。データ・エンコー
ダ353はデータ・リンクを介して中央局に伝送
するべくデータ導線355上に直列デイジタル信
号を提供する。導線356上の中央局直列データ
信号はデコーダ354で復号され、制御回路35
0に加えられる。エンコーダ353およびデコー
ダ354については第14および15図と関連し
て夫々詳細に述べる。 第11図には第10図のリンギスグ信号論理回
路330の詳細な論理回路が示されている。第1
1図の論理回路は4つの入力導線400,40
1,402および403を含んでいる。これら導
線上の信号はチツプ導線上の正の重畳されたリン
ギングおよび貨幣電圧(導線400)、チツプ導
線上の負の重畳されたリンギングおよび貨幣電圧
(導線401)、リング導線上の正の重畳されたリ
ンギングおよび貨弊電圧(導線402)およびリ
ング導線上の負の重畳されたリンギングおよび貨
幣電圧(導線403)の検出器を指示する。導線
400上の信号はNANDゲート404に加えら
れ、NANDゲート404の出力はNORゲート4
05を通してオフ・フツク・フリツプ・フロツプ
406のセツト入力導線に加えられる。フリツ
プ・フロツプ406のZERO出力はリレー駆動器
407を通してK19リレー331を作動させるべ
く加えられる。NORゲート405の出力はまた
NANDゲート408に加えられ、該NANDゲー
ト408の他の入力はオン・フツク導線409が
加えられている。ゲート408の出力はフリツ
プ・フロツプ406をリセツトし、それによつて
リレー駆動器407およびK19リレー331を作
動させるのに使用される。K19リレー331はチ
ツプ導線325およびリング導線326をリンギ
ング検出器329(第10図)に接続する。リン
ギングが検出されると、論理回路330はK19リ
レー331を復旧させ、それによつて導線325
および326を終端62に切換える。導線409
上の新らしいオン・フツク・コマンドはK19リレ
ー331を作動させ、再び導線325および32
6をリンギング検出器330に接続する。 導線401上の信号はフリツプ・フロツプ41
1のセツト入力に加えられる。フリツプ・フロツ
プ411のQ出力はリレー駆動器412を通して
K20リレー332を作動させるべく加えられる。 導線402上の信号はフリツプ・フロツプ41
4のセツト入力に加えられ、フリツプ・フロツプ
414のQ出力はリレー駆動器415を通して
K21リレー333を作動させるべく加えられる。
フリツプ・フロツプ411および414はNOR
ゲート416からの出力に応動してリセツトさ
れ、従つて夫々のリレーは復旧する。NORゲー
ト416の1つの入力は導線409上のオン・フ
ツク信号である。他の入力は導線417上の反転
されたPROCEED CR信号である。導線417は
またNORゲート405の残りの入力ともなつて
いる。これにより各々の新らしいテストの開始時
点において新らしいリンギング信号に対してレデ
イ状態となるようすべてのリレーが復旧状態とな
ることが保証される。 導線403上の信号はフリツプ・フロツプ41
8のセツト入力に加えられ、フリツプ・フロツプ
418のQ出力はフリツプ・フロツプ411およ
び414のセツト端子に対する他の入力として加
えられる。フリツプ・フロツプ418はNORゲ
ート416の出力によつてリセツトされる。フリ
ツプ・フロツプ411および414の出力は
NANDゲート404の残りの入力として加えら
れる。 導線400上の信号またはフリツプ・フロツプ
411または414のリセツトによりゲート40
4の出力が生じ、該出力はNORゲート405を
介してフリツプ・フロツプ406をセツトするの
に加えられる。このようにして、K20リレー33
2は−T(導線401)または−R(導線403)
リンギング信号に作用し、K21リレー333は−
R(導線407)または+R(導線402)リンギ
ング信号に対して作用する。リレー332および
333は共に導線409上のオン・フツク・コマ
ンドにより復旧する。これらリレーの動作は以下
で述べる中央局端末で開始される特定のテスト系
列に対処し得るように設計されている。 第12図は第10図のライン・フイード検出回
路51の詳細な回路図を示している。この回路は
チツプ導線325およびリング導線326(第1
0図参照)の間に直列に接続された一対の抵抗4
20および421を含んでいる。一対の発光ダイ
オード422および423が互いに逆極性で抵抗
420の両端に接続されている。このようにして
導線325および326の両端にいずれの極性の
信号が加わつてもダイオード422または423
のいずれか1方を通して電流が流れる。このよう
な電流がこれらダイオードの1方を通して流れる
と、ダイオードは可視光線を発し、該光線は光検
出トランジスタ424によつて検出され、導線4
25上に出力信号を提供する。第10図と関連し
て指摘した如く、導線425上の信号は導線32
5および326上に送話バツテリが存在すること
を指示するために制御回路350に加えられる。
この信号は第2図と関連して述べた切断手順の完
了を確認するのに使用され、従つてこの初期切断
操作が成功裡に完了しないならばテスト系列が継
続しないことを保証するのに使用される。第12
図の電流検出器はまた切断状態に固定されたリレ
ーを検出し、警報信号を与えるのに使用される。 第13図には第10図の制御回路350の詳細
な論理図が示されている。一般にこれら制御回路
はデンタ・エンコーダ353、データ・デコーダ
354および回路の残りの部分の間のインタフエ
ースとして動作する。このようにして、導線45
上のNSEIZE信号はNORゲート450に加えら
れ、該ゲート450の出力は、遠隔端末において
適当なチヤネルが同定されたことを指示するべく
中央局ロケーシヨンに返送されるSEIZE RC信号
として導線451上に現われる。中央局ロケーシ
ヨンからの導線52上のTESTALM CR信号は
ハンドシエイク系列の進行期間中に警報状態に達
したことを指示する。この信号はORゲート45
3に加えられ、該ゲート453の出力はインバー
タ462、抵抗454、および発光ダイオード4
55を通して正の電圧源456に加えられる。こ
のようにして中央局において警報状態が生じる
と、この信号はこの警報状態を告知するべく遠隔
端末の指示ランプを点灯する。それと同時にテス
ト系列は終了し、高速話中信号がRSBに返送さ
れる。 導線457上のPROCEED CR信号はNAND
ゲート464に加えられ、該NANDゲート46
4の出力は第10図に示す導線48上のNGATE
信号より成る。NANDゲート464の他の入力
は導線719上の 信号であり、
これは警報状態にある間NGATE信号を禁止す
る。ORゲート463,465および458およ
びNANDゲート459は市内補助警報(LMN)
論理回路を形成する。ゲート458は、導線45
7上のPROCEED CR信号が低レベルで、K22リ
レー352が動作すると、補助警報信号を導線4
60上に加える。ゲート465は、導線48上の
NGATE信号が高レベル(不活性)で導線425
上でライン・フイード電流が検出されると、導線
460上に警報を加える。ゲート463は、警報
状態が存在し 、導線45上の
NSEIZE信号が低レベル(不活性)であると、導
線460上に低レベルを加える。3つのORゲー
ト出力463,465および458のいずれかが
低レベルであるとNANDゲート459の出力は
活性状態となる。このLMN市内補助警報信号は
またORゲート453に対する残りの入力として
加えられ、警報ランプ455を点灯する。第12
図に詳細に示すライン・フイード検出回路51の
出力は導線425上に現われる。この信号はOR
ゲート460を通して出力導線461に加えられ
る。(この信号は中央局ロケーシヨンに返送すべ
きPROCEED RC信号を形成する。) NANDゲート464の出力は導線48上の
NGATE信号を形成し、インバータ466により
反転されて、ORゲート465の残りの入力に加
えられる。インバータ466の出力はまたリレー
駆動器467を通つてK22リレー352を動作さ
せるべく加えられる。K22リレー352が動作す
るとK22接点468はORゲート458から1つ
入力を、せしてORゲート460から1つの入力
を除去し、それによつてテストが進行中でない場
合スタツクK22リレー352のモニタとして作用
する。 第14図には第10図に示すデータ送信器、即
ちエンコーダ353の詳細なブロツク図が示され
ている。第14図に示す如きデータ送信器は第1
図のシステムの各端末に設けられており、デー
タ・リンクを介して他の端末にある第15図に示
す如きデータ受信器と通信するものであることを
理解されたい。第2図と関連して先に述べたよう
にテスト接続の設定を可能とするハンドシエイク
信号を交換するのに使用されるのはこのデータ送
信器およびデータ受信器である。 第14図を参照すると、導線500,501お
よび502上の信号によつて3つの入力信号状態
が指示される。これら信号状態は導線504上の
ストローブ信号によつてレジスタ503の3つの
ビツト位置にセツトされる。レジスタ503の内
容は並直列変換器505に加えられる。変換器5
05はこれら並列ビツトを導線506上の直列ビ
ツト流に変換し、該直列ビツト流は他方の端末に
伝送するべく対利得システムのマルチプレクサ回
路に加えられる。導線507上のクロツク信号は
並直列交換器505を制御するカウンタ回路50
8に加えられる。導線504上のフレーム信号は
新らしい入力データをレジスタ503にストロー
ブして加えるだけでなく、次の直列ビツト流を発
生するためのカウンタ508をクリアし、直流ビ
ツト流中の適当なタイムスロツトまでカウンタ5
08をデイスエイブルする。 第15図には第14図の送信器により発生され
るデータを受信するデータ受信器が示されてい
る。このようにして、導線510上を到来する直
列データは導線512上のクロツク信号の制御の
下でシフト・レジスタ511中に加えられる。こ
れらクロツク信号は導線515上のフレーム信号
によりANDゲート514でゲートされた導線5
13上のクロツク流から発生される。ここでシフ
ト・レジスタ511は4ビツトの記憶位置を有し
ていることに注意されたい。余分な記憶位置の存
在により導線510上で受信された直列パルスは
それらが連続して2回受信され、比較されて、再
送したものが元のものと同じであることが分るま
で記憶しておくことが可能である。 このようにして、シフト・レジスタ511の最
終段はシフト・レジスタ511の初段の出力と共
に比較回路516に加えられる。これら信号が同
じであると、出力信号はANDゲート517を部
分的にエネイブルする。一方ANDゲート517
の出力はフリツプ・フロツプ518のプリセツト
入力に加えられる。 ANDゲート517の残りの入力はANDゲート
514の出力から取り出されたクロツク・パルス
流である。このようにしてフリツプ・フロツプ5
18のプリセツト入力は第1および第2の伝送に
よる信号が同一である毎に活性状態となる。 フリツプ・フロツプ518のO出力はフリツ
プ・フロツプ519のD入力に加えられる。フリ
ツプ・フロツプ519の1出力はレジスタ502
のストローブ信号として加えられ、シフト・レジ
スタ511の最終の3ビツト位置の内容をゲート
してレジスタ520に加える。フリツプ・フロツ
プ518は導線515上のフレーム信号がクロツ
クとして加えられ、フリツプ・フロツプ519に
はANDゲート514の出力がクロツクとして加
えられる。フリツプ・フロツプ519は導線51
5上のクレーム信号によつてクリアされる。 比較回路516の出力が相応する相続くビツト
位置の信号が同一であることを指示している限
り、フリツプ・フロツプ518はANDゲート5
17の出力によつてプリセツト状態に保持される
ことが理解されよう。フリツプ・フロツプ518
のQ出力はD入力が接地されているので高レベル
に保持される。この状態では、導線515上のフ
レーム信号はレジスタ511の内容をレジスタ5
20中にストローブして加える。比較回路516
が不一致を指示すると、フリツプ・フロツプ51
8はプリセツトされ、フリツプ・フロツプ519
をリセツトし、ストローブ信号が導線522上に
発生されることを妨げる。データ・ビツトが3回
同じように受信された後においては、フリツプ・
フロツプ518はリセツト状態に留まり、導線5
21上には出力は現ろれない。ゲート514から
のクロツク信号はフリツプ・フロツプ519を1
状態とし、導線522上にストローブ信号を提供
し、データをレジスタ520中に読み込む。デー
タ・ワードの相続くビツトが同一でないと、フリ
ツプ・フロツプ518はプリセツトされ、ストロ
ーブ信号は発生されない。 第16図は第14図のデータ送信器と第15図
のデータ受信器を用いて中央局ロケーシヨンと遠
隔端末ロケーシヨンの間で伝送される種々の信号
を識別表である。このようにして中央局ロケーシ
ヨンに伝送される(D0、D1およびD2として識別
される)3つのビツトはSEIZE RC、PROCEED
RCおよびTFSTALM RC信号を表わす。中央局
から遠隔端末に向う反対方向においてはD0はOH
信号を、D1はPROCEED CR信号を、D2は
TESTALM CR信号を表わす。 第1図の対利得テスト制御装置26によつて実
行される自動テスト系列をより良く理解するため
に、第10図に示すテスト終端62を考察する。
一般にK19接点327および328は終端回路6
2とリンギング信号検出器329の間でチヤネル
の遠隔端子を切換えるのに使用される。K19接点
327および328が動作すると、第10図のチ
ヤネル・テスト・ユニツトは検出器329によつ
て符号化されたリンギング信号に応動し、それに
よつて終端62を制御できるので、遠隔端末はオ
ン・フツク状態にあると言われる。動作状態にあ
つては、遠隔端末は吸収終端(接点327および
328は復旧状態)状態で開始され、終端62を
変えたいと希望する毎に新しい終端を設定するた
めに新らしい符号化されたリンギング信号を受信
する準備として遠隔端末はオン・フツク状態(接
点327および328が動作した状態)に戻され
る。 K20接点334は閉じたとき反射性終端を提供
する。これら接点が開かれると、抵抗335およ
び336によつて吸収性終端が提供される。チツ
プ・パーテイ識別はK20接点340およびK21接
点341により提供される。K20接点340はチ
ツプ対地気識別電流の極性を制御するのに対し、
K21接点341はこの電流路を中断する。種々に
終端の順序は第17図の状態図に更に明確に示さ
れている。 第17図を参照すると、終端回路の初期状態5
26はチツプ・パーテイ識別に吸収性終端を提供
する。即ち、K19接点327および328は復旧
し、K20接点334および340も復旧し、K21
接点339も復旧する。この状態では、反響リタ
ーン・ロスおよび貨幣チヤネル・ユニツトに対す
る測定が可能である。これら測定が完了すると、
回路は第16図に示すようにデータ・リンクを介
して伝送されたオン・フツク信号によつてオン・
フツク状態525に戻る。すると第10図の回路
は終端を再配置する符号化されたリンギング信号
を受信する状態となる。例えばリング導線上の負
の重畳されたリガギングは、一巡リターン・ロス
および空きチヤネル雑音を測定するのに使用し得
るTPI(状態527参照)なしに反射性終端を設定す
る。再びこれらの測定が完了すると遠隔端末15
はデータ・リンクで伝送された信号によつてオ
ン・フツク状態に戻る。同様に、リング導線上の
正の重畳されたリンギング信号は状態528に示す
ようにチツプ・パーテイ識別接続なしに終端62
を吸収状態とする。この状態において測定を行つ
た後、終端はオン・フツク・データ・コマンドに
よつて再びオン・フツク状態525に戻る。同様に
チツプ導線上の正の重畳されたリンギングはチツ
プ・パーテイ識別によつて終端を吸収状態529と
するのに使用され、またはチツプ導線上の負の重
畳されたリンギングを用いてチツプ・パーテイ識
別により反射性終端状態530とするのに使用され
る。これらの状態の要約およびこれらの状態をと
るために必要な信号および3つのリレー331,
332および333の状態を表に示す。
【表】 第18,19および20図には第10図に示す
種々の終端を用い対利得テスト制御装置26中の
マイクロプロセサにより制御される種々のテスト
系列の詳細なフロー・チヤートが示されている。
第18図のテスト系列のフロー・チヤートは他の
テスト系列をも代表しているので詳細に述べる。
テストの開始時点において、PROCEED CR信号
は終端を初期吸収状態とする。即ち表に示すよ
うにK19リレー331を復旧状態に、K20リレー
332およびK21リレー333を復旧状態とす
る。この状態において、抵抗335および336
は吸収性終端を提供し、K20接点340および
K21接点339は正の貨幣識別電流が流れること
を許容する。次に中央局テスタ・ユニツト131
はリング導線上に標準の−48Vバツテリを加え、
チツプ導線を接地する。これは第6図に示すよう
に復旧状態に留まるK5接点175およびやはり
復旧状態に留まるK8接点180によつて実行さ
れる。このときテスト信号発振器163はK10接
点166を開いた状態に留まることを許容するこ
とによりエネイブルされる。これは第18図のボ
ツクス600で実行される。判定ボツクス601
において、オフ・フツク状態がテストされ、これ
らの接続がすべて設定されたことを確認する。第
9図に示すように、負電圧が電源313から平常
時は閉じた接点316を介してリング導線に供給
される。このオフ・フツク電圧が存在すると、オ
フ・フツク電流が吸収抵抗335および336
(第10図)を通して流れ、この回線電流がテス
タ・ユニツト131(第6図)中の電流検出器2
02により検出されることを許容する。電流が検
出されないと、これはボツクス603中に示すよ
うに障害状態を表わす。 オフ・フツク電流が検出されると、第6図のテ
スト・トーンおよび検出器167,168,17
0および171は第18図のボツクス602中に
示すように反響リターン・ロスを測定する。この
反響リターン・ロスが比較回路171によつて設
定された閾値以上であると、テストは継続され
る。しかしもしこの閾値以上であると、ボツクス
605によつて示すように再び障害状態が存在す
る。 チヤネルがこのテストを通過すると、ボツクス
606中に示すようにリング導線が開放状態のま
まチツプ導線に+48Vが加えられる。チツプ導線
上に正の電圧は正規の加入者セツト中にチツプ電
流は流さないが、チツプ電流が貨幣電話器セツト
中に流れることを許容する。このようにして半定
ボツクス607はこのチツプ電流をチエツクし、
もし存在する場合にはボツクス608中のフラグ
をセツトし、チヤネルは貨幣チヤネルであること
を指示する。チツプ電流が流れない場合にはチヤ
ネルは非貨幣チヤネルであるものと仮定する。 ボツクス609において終端は再び(データ・
リンク・コマンドを介して)オン・フツク状態と
なり、リング導線上の負のリンギングのバースト
が送信され、次にボツクス610中に示すように
チツプ導線を接地した状態でリング導線に−48V
の電圧が加えられる。再び半定ボツクス611中
において終端がテストされ、オン・フツク状態に
あるかどうか確認され、もしオン・フツク状態に
ない場合にはボツクス612中において障害指示
が与えられる。電話器セツトがオン・フツク状態
にあるなら、このときチヤネル損失を測定するこ
とが可能である。ボツクス609で送信されたリ
ング導線上の負の重畳されたリンギング信号は
K20接点334を作動させることにより第17図
の反射性終端状態527を設定する。この状態で
は、テスト・トーンは短絡反射性終端から反射さ
れ、従つてリターン信号は一巡チヤネル損失の尺
度となる。この測定はボツクス613で行なわ
れ、第6図の同じ検出回路167,168,17
0および171で行なわれる。半定ボツクス61
4で示すようにこのチヤネル損失が所望の閾値以
下であるとボツクス615の障害状態に入る。も
し閾値以上であると第18図のボツクス616中
に示すようにK10接点166を作動させることに
よりテスト信号発振器163(第6図)はオフと
される。 現在空きチヤネル雑音が所望の閾値以上か又は
以下かを決定するため判定ボツクス617中にお
いて一巡空きチヤネル雑音を測定することが可能
である。雑音信号を測定するため、第6図のK11
接点169は測定路に付加利得50dBを提供する
ために閉じられる。雑音信号がこの閾値以上であ
ると、障害状態618に入る。もし閾値以下である
と、これら−48Vはボツクス619中に示すよう
にリング導線が開放の状態でチツプ導線に加えら
れる。この状態ではチツプ電流は存在すべきでな
い。これは判定ボツクス620でテストされ、も
しチツプ電流が検出されると、障害状態621に入
る。チツプ電流が検出されないと、“シングル・
パーテイOK”チエツク・フラグがボツクス62
2でセツトされる。その後、判定ボツクス623
において、貨幣フラツクがセツトされているかど
うかがチエツクされる。貨幣フラグがセツトされ
ていると、テストはボツクス624に示される貨
幣系列(詳細は第19図に示されている。)に進
む。貨幣フラグがセツトされていないと、ボツク
ス625に進み、第20図のマルチ・パーテイ・
テスト系列に入る。 第19図および20図のテスト系列は第18図
と関連して議論したテスト系列と全く類似してい
る。第18図におけると同様、これらのテスト系
列はチヤネルの遠隔端末における適当な終端を設
定するため符号化されたリンギング信号又は±
130Vの貨幣電圧を印加すること、またはキヤリ
アにより形成された加入者チヤネルの特定の状態
をテストするため貨幣または送話バツテリ電圧の
印加を含んでいる。第18図と関連して述べたよ
うにリターン・ロス、一巡チヤネル損失およびマ
イドル状態雑音に対する交流測定もまた行なわれ
る。 適当なテスト系列すべてが成功裡に完了する
と、加入者チヤネルはOKであるとマークされ、
このOK状態はRSBトランク25上にトーン・バ
ーストまたは直流電圧レベルを提供することによ
りRSBに中継返送される。RSBに居るテスト実
行者はテストの完了後任意の時点においてこのテ
スト結果の指示を要求することが出来る。RSB
で自動テスト装置が使用されている場合にはテス
トが成功裡に完了したことまたは未だ完了してい
ないことを自動テスト装置に知らせるのに特殊な
電圧レベルが使用される。 上述の対利得テスト・システムは加入者電話器
に接続されている金属線の引込線とキヤリアによ
り形成された加入者チヤネルの両方を対利得シス
テムを通して同時にテストするのに使用し得るこ
とが理解されよう。このテスト・システムは使用
されている対利得システムの型とは全く独立して
いる。何故ならばテスト・システムはテスト系列
を制御するのに標準電話信号を印加しているから
である。このようにして必要なテストを実行する
ため、標準マルチパーテイ・リンギング信号また
は貨幣収納およびリターン信号を使用してキヤリ
アに形成されたチヤネルの遠隔終端が制御され
る。テスト系列中の任意の点でテスト系列が障害
状態となるテスト実行者のチヤネルの障害が生じ
たことを警告するため中央局ロケーシヨンにおい
て指示が発生される。テストの目的で使用される
中央局端末と遠隔端末(第1図の対28)の間に
張られている金属線対は遠隔ロケーシヨンのすべ
ての加入者により共有されている。このようにし
て、任意の1時点においては対利得システム中の
唯1つの加入者のみがテスト可能である。このこ
とは自動チヤネル・テストは数秒(2〜4秒)で
完了するから、テスト手順に対する大きな制限と
はならない。テスト実行者はテスト要求を再開始
することにより任意の時点においてテスト系列を
再実行することが出来る。 対利得テスト・ユニツト中の複数個のテスト・
ユニツトを設け、それと同時に対利得テスト制御
装置に接続された複数個のテスト・トランクを提
供することにより、単一のRSBが異なつた対利
得システム中の加入者チヤネルに対し同時にテス
トを実行し得ることに注意されたい。一般にこの
能力によりRSBのテスト実行者は加入者が金属
線対によりサービスを受けているのか、または対
利得システムを通してサービスを受けているのか
に関係なく、任意の加入者に対しテストを実行す
ることが出来る。この加入者サービスの型に対す
るテスト・システムのトランスペアレンシにより
中央局修理施設は大幅に節約出来る。テスト実行
者は種々の型の加入者サービスに対する別個のテ
スト手順を学び慣れる必要はない。更にテストの
大部分は自動的に迅速に行なわれるから、テスト
手順は迅速に実行され、それによつてRSBの全
体としての動作がスピード・アツプされる。 以上要約すると次の通りである。 対利得システムとして知られるようになつた部
分的に多重化施設で形成されている電話加入者ル
ープに対するテスト・システムが示されている。
このテスト装置では、対利得システムの遠隔端末
から加入者に至る市内引込線はキヤリア・システ
ム自体とは分離され、中央局から遠隔端末ロケー
シヨンに延びている別個の金属線対と接続するこ
とによりテストされる。それと同時に、加入者ル
ープのキヤリアにより形成された部分は自動テス
ト装置に接続されており、該装置はキヤリアによ
り形成されたチヤネルの伝送特性のテストだけで
なく、キヤリアにより形成されたチヤネルのリン
ギング、貨幣制御およびパーテイ識別情報の如き
監視情報を伝送する能力をも自動的にテストす
る。対利得チヤネルの遠隔端末はこれらテスト手
順を助けるため反射性または吸収性終端で選択的
に終端される。テスト・システムはキヤリアによ
り形成されたチヤネルが中央局のテスト実行者に
対しあたかも金属線ループと同一であるかの如く
見做されるように設計されており、従つて加入者
ループをテストする監理上の負担は大幅に軽減さ
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実現する対利得テスト・シス
テムの一般的なブロツク図;第2図は第1図のテ
スト装置を使用する単一の加入者ループに対する
テスト接続の更に詳細なブロツク図;第3図は第
1図の対利得テスト・システムで有用な中央局チ
ヤネル・ユニツトの更に詳細なブロツク図;第4
図は第3図のチヤネル・ユニツトで使用するのに
適したリンギング信号検出器の詳細な回路図;第
5図は第1図のシステムで自動チヤネル・テスト
を行うのに使用される中央局テスト制御装置の更
に詳細なブロツク図;第6図は第5図のテスト制
御装置中のテスタ・ユニツトの詳細な回路図;第
7図は第5図のテスト制御装置の制御回路として
有用なマイクロプロセサの一般的なブロツク図;
第8図は第1図の対利得テスト・システムで有用
な中央局チヤネル・テスト・ユニツトの詳細な論
理回路図;第9図は第1図の対利得テスト・シス
テムで有用な遠隔端末チヤネル・ユニツトの詳細
なブロツク図;第10図は第1図の対利得テス
ト・システムで有用な遠隔端末チヤネル・テス
ト・ユニツトの詳細なブロツク図;第11図は第
10図の遠隔端末チヤネル・テスト・ユニツト中
で使用されるリンギング信号用論理回路の詳細な
回路図;第12図は第10図の遠隔端末チヤネ
ル・テスト・ユニツト中で使用されるライン・フ
イード検出回路の詳細な回路図;第13図は第1
0図の遠隔端末チヤネル・テスト・ユニツト中の
制御回路の詳細な論理回路図;第14図は第8図
の中央局チヤネル・テスト・ユニツトならびに第
10図の遠隔端末チヤネル・テスト・ユニツトの
両方で有用なデータ送信器の詳細なブロツク図;
第15図は第8図の中央局チヤネル・テスト・ユ
ニツトならびに第10図の遠隔端末チヤネル・テ
スト・ユニツトの両方で有用なデータ受信器の詳
細なブロツク図;第16図は中央局と遠隔端末の
間で送受を行う第14図のデータ送信器および第
15図のデータ受信器の種々の信号状態を表わす
図;第17図は第10図に回路図に示す遠隔端末
テスト終端回路のシーケンスを示す状態図;第1
8図は第1図のシステム中の単一パーテイ・キヤ
リア・チヤネルをテストするため第7図のマイク
ロプロセサによつて提供されるテスト系列のフロ
ー・チヤート;第19図は第1図の対利得システ
ム中の貨幣チヤネルに対するテスト系列のフロ
ー・チヤート;第20図は第1図の対利得システ
ム中のマルチパーテイ・チヤネルに対するテスト
系列のフロー・チヤートである。 〔主要部の符号の説明〕 特許請求の範囲 符 号 市内引込線 16 中央局 10

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なくとも1つの対利得加入者ループ伝送シ
    ステムにおけるキヤリアにより形成されたチヤネ
    ルと該伝送システムの遠隔端末から加入者電話器
    に至る市内引込線との組合せで実現されている加
    入者ループをテストする対利得加入者ループテス
    ト方式において、 中央局テスト施設から遠隔端末に至る金属線信
    号路とテストされる加入者の引込線を該金属線信
    号路の遠隔端末に接続する手段とからなる引込線
    テスト手段、 該テストされる加入者に対応のキヤリアにより
    形成されたチヤネルをテストするチヤネルテスト
    手段、及び 該中央局テスト施設から遠隔端末に至る金属線
    信号路を介してテストされる加入者の引込線をテ
    ストするよう該引込線テスト手段を動作させ、同
    時に該テストされる加入者に対応のキヤリアによ
    り形成されたチヤネルを試験するよう該チヤネル
    テスト手段を動作させる手段とからなる対利得加
    入者ループテスト方式。 2 特許請求の範囲第1項に記載の方式におい
    て、 該伝送システムの中央局端末と該伝送システム
    の遠隔端末との間に設けられた単一の金属テスト
    線対、及び該伝送システムにより形成される加入
    者ループの全ての間で該テスト線対を共有する手
    段とを含む対利得加入者ループテスト方式。 3 特許請求の範囲第1項又は第2項に記載の方
    式において、 該中央局テスト施設から中央局交換施設に至る
    複数のテストトランク、及び該テスト施設を該金
    属線信号路に接続しそして該交換施設を該チヤネ
    ルテスト手段に接続するよう該テストトランクを
    切離すための該テストトランク内の手段とを含む
    対利得加入者ループテスト方式。 4 特許請求の範囲第1項、第2項又は第3項に
    記載の方式において、 該チヤネルテスト手段が該伝送システムの中央
    局端末で自動テスト実行手段、及び該伝送システ
    ムの遠隔端末で該キヤリアにより形成されたチヤ
    ネルを選択的に終端させる手段を含む対利得加入
    者ループテスト方式。 5 特許請求の範囲第4項に記載の方式におい
    て、 該自動テスト実行手段は蓄積プログラムマイク
    ロプロセツサを含む対利得加入者ループテスト方
    式。 6 特許請求の範囲第4項又は第5項に記載の方
    式において、 該選択的終端手段は、電話監視信号に応答して
    該遠隔端末で該キヤリアにより形成されたチヤネ
    ルの終端を変更する手段を含む対利得加入者ルー
    プテスト方式。 7 特許請求の範囲第1項乃至第6項の一に記載
    の方式において、 該伝送システムにおけるデータリンク、及び該
    引込線テスト手段と該チヤネルテスト手段とを同
    時に動作させるための該データリンクを有する手
    段を含む対利得加入者ループテスト方式。 8 特許請求の範囲第7項に記載の方式におい
    て、 該伝送システムの各チヤネルの中央局端末に設
    けられ該テスト施設からのテスト電圧に応答して
    トーンを発生するテスト電圧応答手段、及び該ト
    ーンに応答して該同時に動作させる手段を開始さ
    せるトーン検出手段を含む対利得加入者ループテ
    スト方式。 9 特許請求の範囲第1項乃至第8項の一に記載
    の方式において、 テスト施設、該テスト施設と金属線加入者ルー
    プ又はキヤリアにより形成された加入者ループの
    いずれかとの間に接続を設定するための中央局交
    換施設を含む手段、及びキヤリアにより形成され
    た加入者ループのみに関し該接続を切離す手段と
    を含む対利得加入者ループテスト方式。 10 特許請求の範囲第9項に記載の方式におい
    て、 該キヤリアにより形成された加入者ループと関
    連したテスト電圧検出手段、及び該切離し手段を
    付勢するための該テスト電圧検出手段を有する手
    段とを含む対利得加入者ループテスト方式。 11 特許請求の範囲第4項乃至第10項の一に
    記載の方式において、 該選択的終端手段は吸収的終端を提供する手段
    及び反射的終端を提供する手段とからなる対利得
    加入者ループテスト方式。 12 特許請求の範囲第4項乃至第11項の一に
    記載の方式において、 該選択的終端手段はチツプパーテイ識別のため
    の電流路を提供する手段からなる対利得加入者ル
    ープテスト方式。 13 特許請求の範囲第1項乃至第12項の一に
    記載の方式において、 該キヤリアにより形成された加入者ループの交
    流電流特性をテストする手段と該キヤリアにより
    形成された加入者ループの電話信号特性をテスト
    する手段からなる自動キヤリアチヤネルテスト装
    置を含む対利得加入者ループテスト方式。 14 特許請求の範囲第13項に記載の方式にお
    いて、 該交流電流テスト手段はエコー戻り損失をテス
    トする手段、伝送損失をテストする手段及び空チ
    ヤネル雑音をテストする手段とからなるものであ
    る対利得加入者ループテスト方式。 15 特許請求の範囲第13項又は第14項に記
    載の方式において、 単一パーテイとマルチパーテイのリンギング信
    号方式をテストする手段、及び硬貨チヤネル監視
    と信号方式をテストする手段とからなる電話信号
    方式テスト手段を含む対利得加入者ループテスト
    方式。
JP16597080A 1979-11-27 1980-11-27 Pair gain subscriber*s loop test system Granted JPS5698065A (en)

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