JPH01503005A - 核反応装置制御システムの検証 - Google Patents

Abstract

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Description

【発明の詳細な説明】 女　・、　′　シスームの　蕾 本発明はｍｍに時間依存する状態の変化を含む制御システムの運転のその場所で の検証に関し、特に原子力発電プラントの保護システムの検証に関連している。 圧力、温度、流量、液面の高さ等を含むプラントプロセスシステムの運転におい て測定された定常状態と、これらが変化する遷移値とがプラントの制御と保護に 役立てられている。 一定時間測定されたこれらの値の記録は、システムと装置の問題点の位置決定と 是正に使用できる。 制御及び保護システムは、圧力、温度流量等のプロセスパラメータの値を電気的 、光学的、又は電磁的波の様な様々な形のアナログ、又はデジタル信号に変換す るセンサ又は変換器からの情報を監視する。プラント制御保護システムの電気回 路はセンサによって変換されたこれらの信号に反応し、プラントの効率を最大に するように、またもしこれらのパラメータの値が人員や装置にとって危険となる 運転状態になれば。 そのプロセスを停止するように設計されている。 そのゆえに制御保護の電気回路は許容誤差を設計された数値に維持し、プラント の安全と効率を確保することが大変重要である。このことは、沸騰水型原子炉（ ＢＷＲ）及び加圧水型原子炉（ＤＷＲ）発電プラントのような、核反応による水 蒸気を供給するシステムにとって特に重要である。これらのプラントの運転は核 規制委員会（Ｎｕｃｌｅａｒ　Ｒｅｇｕｌａｔｏｒｙ　Ｃｏｍｍｉ−５ｓｉｏｎ ）のような政府期間によって厳密に規制されている制御保護の電気回路がプラン トの安全操業のための指定された許容範囲内であることを保証するための手法は 、厳密に受け入れられている。これらの手法は確実で正確な測定許容誤差が一時 的な値を含むプロセスパラメータの許容差に一致することを指定する周期的試験 処理手順を含んでいる。 典型的な先行技術であるセンサによる監視装置と方法１０が簡略化された図式ブ ロックダイヤグラムとして第１図に示されている。センサ監視装置ｌＯは、ＰＷ Ｒ発電プラントに用いられる計測ループ、プロセスループ、ストリング又は保護 チャンネルとして知られ、変化する状態を測定する位置に取付けられた変換器／ センサ１２を有する。計測される状態変化とは、圧力、温度流体レベル流速等で ある。変換器／センサ１２は電源１４に結合したレジスタ１６を有し、これは第 １の電流閉回路を形成している。第１のスイッチ２０は電極１４と、圧力、温度 等の値を電流信号に変える変換器／センサ１２との間に結合さされている。電源 １４は、ある周囲の信号レベルでの変換器／センサ１２からの電流を確立し。 テストポイントＡは変換器／センサ１２と電源との間にあり。 変換器／センサ１２からの出力信号の監視ができるようにしている。また電源１ ４はボンド／（インチ）”（ＰＳＩ）華氏温度その他の変換器／センサ１２の出 力信号を目に見えるように表示するために変換を行ない、場合によっては聴覚に よる警戒警報や計器の信号レベルや他の視覚に訴えるディスプレイ（図示してい ない）に変換する。 電源１４はさらに電圧ループ２４によってダイナミック補償回路３０に結合され ている。これは前述の時間依存状態の変数の一つの変動と遷移を補償する。ダイ ナミック補償回路３０は進み／遅れ、進み、遅れ、又は比例補償のいずれかを供 給するが、ＰＪ単のため、以下では進み／遅れ補償についてのみ考える。ダイナ ミック補償回路３０はさらに電圧ループ２５によってトリップ回路２２に結合さ れている。トリップ回路２２は信号が前もって決められた範囲から外れたときに 補正又は停止信号を保護システム２８に供給する。第２のスイッチ２６はトリッ プ回路２２と保護システム２８の間に結合され、トリップ回路２２による補正又 は停止信号をテスト　′ポイントＣで監視できるようにされている。議論のため に第１図では保護システム２８から分離されているように図示されているけれど 、センサ監視装置１０は一般には保護システムの一部に含まれると考えられる。 安全と信頼性のために多くの変換器／センサと関連する保護ループが原子力発電 所の特有のプロセスパラメータを監視するために備えられるのは普通のことであ る。保護システム２８は１以上の監視センサ又は保護回路の電力発電所の運転を 停止するための予め決められた最高又は最低の信号レベルを検出したときに活性 化される。 原子力発電所におけるプロセスの重要な部分はプロセスパラメータの遷移又は逸 脱を検出する能力と、潜在的に害のある状態に対する保護回路の応答を早めるよ うに保護回路における信号レベルを変えることによって、逸脱に応答する能力で ある０例として、正常な圧力が２１００ｐｓｉである場合に１８００ｐｓｉの低 圧力になり、保護回路が活性化される例を考える。正常な圧力２１００ｐｓｉに 対して保護回路は６．２００ボルトの出力信号を発生しており、指定されたトリ ップ点に相当する１８００ｐｓ　ｉに対しては３，２００ボルトと、トリップ回 路をリセットする１９００ｐｓｉに対しては４，２００ボルトが用いられる。し かし、プロセスシステムの運転においては、１２００ｐｓｉの正常値から１８０ −０ｐｓｉへのゆっくりした圧力変化と、比較的短い時間に起こる急勾配の圧力 低下との間の明白な相違がある。状態変数のこの急激な変化を償うために、原子 カプラントに典型的に採用されてるようないくつかの補償システムは、センサか らの信号の変化速度に関連して指数的に増加又は減少するようにセンサからの信 号を変化させるためのダイナミック補償回路３０を有している。例えばもし、圧 力が２１００ｐｓｉから１９００ｐｓｉに急に低下すれば、ダイナミック補償回 路からの出力はトリップポイントである１８００ｐｓｉに相当する３、２００ボ ルト以下の信号ボルトを生じ、結果的にはトリップ回路２２から停止出力を生じ 、保護システム２８の活性化が生じる。後に圧力レベルが１９００ｐｓ　ｉを離 れたら、ダイナミック補償回路３０の信号出力ボルトのレベルはトリップレベル から４，２００ボルトへ増加し、トリップ回路２２がリセットされる。 これら保護及び制御回路の正確な調整は正確な運転にとって必要不可欠であり９ 例えば原子力発電プラントにおいては非常に重要である。従って、その場でのチ ェックはプロセスループと、お決まりの基礎に基づいた原子カプラントの保護シ ステムとのさまざまな部分から成立っており１個々の回路基板のそれぞれは調整 され、その中のいくつかは制御システムからはずされ、特別のテスト設備に取付 けられる必要がある。これらの回路の調整の仕様は非常にきびしく、許容誤差は 狭い０例えば正常の歯止め圧力は１８８５ｐｓ　ｉに指定されているが、１８７ １ｐｓｉより低くてはならない、０から１０ボルトの範囲における。このような 信号レベルの許容誤差は２５ミリボルトの測定の正確さを要求するものである。 このことは人知の範囲内でできる限り正確にトリップ時における信号レベルを記 録する専門家と共に、高度に正確なデジタルボルトメータの使用を必要とする。 本発明に先たち、第１図と同様の保護又はセンサ監視装置１０のため簡略化され た典型的なその場所での調整チェックの手法は次のようである。すなわち第１と 第２のスイッチ２０゜２６を開き、変換器／センサ１２及びトリップ回路２２か ら保護システム２８を孤立させる。補正／保護監視回路とそれに関連するスイッ チを大変注意深く正しく選択しなければならない。というのは、誤りはプラント プロセス全体に歯止めがかかる事故につながるからである。ひとたび孤立させら れ。 ダイナミック補償特性を短絡させてダイナミック補償の形を変えたら、トリップ 信号を発生するための可変信号発生器（図示していない）が信号注入ポイントＢ に結合される。テスト信号が手動で正常値から歯止めポイントを越えた値に変え られ、そして、リセット限界の範囲内の値に戻される。上記の原子カプラントの 例では、信号発生は６，２００ボルトから、３，２００ボルトより幾分低い値に 変化させそれから。 ４．２００ボルト以上に増加させる。歯止めとリセットの正確な値はカード上の ＬＥＤであるテストポイントＣで判断を加えながら書き留められる。トリップと リセットの正確な値は専門家がテストポイントＣにつながれたデジタルボルトメ ータを使って記録される。誤差限界の範囲内で、これらの値はそれぞれ３，２０ ０±チヤンネル許容誤差と４，２００±許容リセツト誤差である。上述の手法は 短絡されたダイナミック補償回路内で行なわれる。というのは信号発生器によっ て供給される手動で傾斜させた信号の測定値をダイナミック補償回路に供給され た信号およびトリップ回路２２に供給された歯止め信号と調和させるように供給 していないからである。ダイナミック補償回路３０を回路内に有する制御／プロ セスシステムの意味のあるその場所での短絡しないテストを行なうために、信号 電圧はすべて、同時に指定された値の大変狭いチャンネル許容誤差の範囲内で正 確に測定されなければならない。加えて、傾斜される信号はダイナミック補償回 路３０の運転特性に正確に一致していなければならない。 本発明は原子力発電プラントの時間依存状態の変化を監視この運転データを記録 するための先行技術の一つのアプローチは信号値をインクペンによって記録する 細長いチャートを使用することである。しかし、これらインクで描かれた選だけ の幅が許容誤差よりも大きく、この場合にはこれらの装置は実際的ではなくなる 。さらに、ダイナミック補償回路３０は仕様書中では定期的にセンサ監視装置１ ０から取りはずし。 特別なテスト装置で調整して維持される。しかしこの手順は正しい運転のその場 所での検証をしていることにはならない。 加えてセンサ監視装置１０と保護回路２８の完全なチェックに必要な時間は、ダ イナミック補償回路３０を短絡させた場合でさえ約３０分である。典型的な原子 力発電所内のセンサ監視回路の数は多いので、この検証と調整操作は実質的に絶 え間ない、このことはダイナミック補償回路３００作業台での調整が行なわれる 場合にたとえそれが狂っていなくても行なわれなければならないので特に当ては まる。というのは従来の技術はこのサブシステムのその場所でのチェックが可能 ではないからである。最後に、上に示したようにセンサの数を減らすことが、原 子炉運転の監視のために行なわれる。検証と調整操作の間の動作中のプラント保 護に利用される。その場所でのテスト中にセンサの数を減らすことは原子炉保護 システムの信頼性と正確さの減少とプラントプロセスの不慮の過失の危険を増す ことに相当する。もちろんテスト時間を最小限にしてこのような状況での安全原 因を最大にし、危険を最少にすることが望ましい。 主里立旦血 し、テストに必要な時間を最小限にする原子炉保護システムの運転のダイナミッ ク検証を提供することによって上に述べた従来技術の制限を打ち破るものである ０本発明のコンピュータ制御検証システムは、ダイナミック補償回路を有する保 従って２本発明の目的はこのプロセスに特徴的な時間に依存する状態可変をより 正確に監視するようなより改良されたプロセスを提供することにある。 本発明の他の目的は２時間に依存する状態可変に応答するに模擬した正確な制御 信号を提供することによって核反応装置発電所用の保護システムの操作を検証す ることにある。 さらに本発明の他の目的は操作システムのための保護構成の動作をより正確で確 実に計測し記録することにある。 本発明のさらに他の目的は操作システムのための保護構成のトラブルシューティ ングのための改良されたシステムと方法を提供することにある。 図面の簡単な説明 添付のクレームは１本発明を特徴づける新規な特徴を示す。 しかし９本発明臼体および目的や利点は、好適な実施態様の詳細な説明を１図面 を考慮して参照することにより最もよく理解される。ここで、参照符号は各図に おいて共通である。 第１図は従来の典型的な発電核反応装置で用いられる構成と方法と監視するセン サを簡単な図式で表したものである。 第２図は本発明に関する核反応装置発電所の保護システムもしくは制御システム の操作を検証するための構成を簡単な図式で表したものである。 第３ａ図および第３ｂ図は、第２図の発電所制御システム検証の構成を各部分を 拡大し、より詳しく説明するためのものである。 第４図は本発明の反応装置制御システム検証の構成を使用する際に用いる従来の 加圧水型原子炉の制御チャネルを簡単な図式で説明したものである。 第５ａ図は保護システム、すなわち本発明によって検証され得る該操作によって 制御される１反応装置システムパラメータにおける変化を表す変換器アウトプッ トランプ信号の。 経過時間による変化を示し、第５ｂ図はトリップを示す、第５Ｃ図は反応装置制 御システムの該操作を制御するための変換器アウトプット信号に応答するトリッ プ回路のリセット電圧を示す。 第６図は、第３ａ図および第３ｂ図に示される反応装置制御システム検証の構成 のプログラム可能なランプ／ステップ発生器を簡単な図式で示したものである。 第６ａ図はプロセス信号シミュレーターおよびランプ／ステップ発生器の好適な 実施態様において用いられる制御パネルと読み出し表示を簡単な図式で示したも のである。　゛第７図は第３ａ図および第３ｂ図に示されている反応装置制御シ ステム検証の構成の好適な実施態様において用いられる。プログラミング／制御 シーケンサ、エンコーダ回路、およびキーボードドライバ回路の要部を示す。 第７ａ図は第３ａ図および第３ｂ図に示された反応装置制御システム検証の構成 の好適な実施態様におけるプログラマブルロジックコントローラ、試験および測 定装置、インターフェイス回路の要部を表す。 第７ｂ図は第３ａ図および第３ｂ図に示された反応装置制御システム検証の構成 の好適な実施態様におけるプログラマブルロジックコントローラ、試験および測 定装置、インターフェイス回路の要部を表す。 第８図は本発明の好適な実施態様に用いられるプログラム／制御シーケンサの制 御パネルを示す。 第９図は本発明の検証システムを保護システムに接続する際に使用するプラグの 適切な接続を検証するための構成を簡単な図式で示すものである。 第１０ａ図および第１０ｂ図は、第９図の接続プラグ検証構成を本発明の保護シ ステム検証構成により適切な信号操作テストの実行の検証にも使うことができる ような方法を説明するものである。 第１１ａ図、第１１ｂ図、および第１１ｃ図はそれぞれ核反応装置パワープラン ト保護システムの操作を検証する際に本発明の検証構成によって実施される操作 の順序を表すひとつのフローチャートの異なる部分を表す。 （以下余白） た　の；　、ｔ；日 第２図に本発明による検証システム４０の一例の簡単なブロック図を示す。 検証システム４０は、変換器またはセンサを有する複数の保護チャネル４６を含 む保護システムを備えた核反応発電ステーションについて使用することを企図し たものである。保護チャネル４６は、核反応発電ステーションの様々な動作パラ メータを監視し、ある動作パラメータが所定の上限または下限を越えたときに適 切な停止信号または制御信号を出力する。この様に、制御信号とは検証システム ４０内で生成され、または検証システム４０によって出力される信号をいう、こ れに対して、プロセス信号とは、保護システムまたは保護システムと共に用いら れる操作システムによって生成される信号をいう０本発明の検証システム４０は 、保護システムの適正な動作の監視及び検証を行い、保護システムが発電ステー ションの動作特性の変化に反応して、好ましからざる、または時には安全でない 動作条件が発生した場合に反応装置の動作を制御し、ある時には停止させること を保証する。 保護チャネル４６は、温度、圧力、水位等の様々な動作パラメータの監視を行う 、保護チャネル４６と包含する保護システムは、これらの動作パラメータの認め られた制限値に従って発電ステーションの動作を制御する。従って、ある動作パ ラメータが変化して所与の制限を越え、または所定の期間に亙って所与の制限を 越えたならば、保護システムは適切な制御信号または停止信号を発電ステーショ ンに対して出力することによって対処する０本発明はウェスチングハウス７３０ ｏ核反応プロセス制御システムについて使用することを意図したものであるが、 本発明の原理はその様な制御システム−殻に対して適用可能であり、従って本発 明は前述のウェスチングハウス社のシステムと共に動作することに限定されない 、前述のウェスチングハウス７３００プロセス制御システムでは、典型的には、 ３個又は４個の保護チャネル又は計器ループが１個の動作パラメータの監視に用 いられる。３個又は４個のプロセスループの内の少なくとも２個のループによっ て許容範囲外の条件が検出されると、発電ステーションに対してその動作を終了 させるための停止信号が供給される。 保護チャネル４６はインターフェイス送受回路４５を介して、制御信号処理用論 理回路４３にプロセス信号を供給する０本発明では、シミュレートされたプロセ ス信号が、論理回路４３及びインターフェイス送受回路４５に対してプロセス信 号の処理のためにプロセス信号シミュレータ／ジェネレータ４４から与えられる 。論理回路４３の動作は、ユーザによるプログラミング／制御シーケンサ４１に 対する入力に応答するプログラマブルロジックコントローラ４２　（ＰＬＣ）に よって制御される。プロセス信号／シミュレータ・ジェネレータ４４から論理回 路４３及びインターフェイス送受回路４５に供給された動作パラメータシミュレ ーション信号は、ユーザによるプログラミング／制御シーケンサ４１に対する入 力のみならず、ＰＬＣに格納されている操作プログラムに従って、論理回路４３ 及びインターフェイス送受回路４５において処理される。制御／プロセス信号処 理用論理回路４３からの出力信号は、インターフェイス送受回路４５を介してテ スト、測定及び記憶装置４７に供給される。該出力信号は、保護システムに対し て与えられたシミュレートされた動作信号に対して応答する保護システムの動作 特性を表している。論理回路４３からインターフェイス送受回路４５を介してテ スト、測定及び記憶装置４７に供給される出力信号を観測し記録することにより 、システムのオペレータは保護システムの動作を観察し、保護システムの動作を 所定の動作限界と比較することができ、適正な保護システムの動作を検証し、又 は不正な保護回路の動作を検出し適当な修正ステップを遂行することができる。 第３ａ図及び第３ｂ図に本発明をより詳細に示す９本発明の反応器制御システム の検証装置４０のこれ以上の詳細については述べない、以下の議論に於ては、第 ３ａ図及び第３ｂ図は本発明の概略を示しており、当業者が熟知しているであろ う詳細は含んでいないことを銘記すべきである。 例えば、第３ａ図及び第３ｂ図では、インターフェイスリレー７０ａ、７０ｂ、 ７０ｃ、７０ｅはインターフェイス回路４５のみにあり、マルチプレクサ６８は 制御／ブｂセス信号処理用論理回路４５にのみあるものとされている。 しかし、簡単のために図面には示していないが、検証装置４０内の他の回路もス インターフェイスリレー及びマルチプレクサを含むことができることに注意すべ きである。 検証システム４０は更に始動キーボード５０及びプログラマキーボード５２をプ ログラミング／制御シーケンサ４１内に備えている。プログラマキーボードは、 検証システム４０の状態並びに該システムの動作に関する命令をオペレータに対 して視覚的に示すために、読みだし表示装置３１６．３１８．３２０を備えてい る。始動キーボード５０はテストのために選択された始動点を視覚的に示すため に読みだし表示装置２６４を備えている。プログラマキーボード５２及び始動キ ーボード５０は、オペレータに対して応答するキーボードをそれぞれ備えている 。そのキーボー・　ドを用いて、オペレータは後述するように、検証システム４ ０の動作をプログラムし制御するためのコマンドを入力することができる。 オペレータによる制御入力は、始動キーボード５０及びプログラマキーボード５ ２から与えられる。始動キーボード５０はコマンドを複数のデジタル符号化器６ ０へ、キーボードドライバ６０ａへ、そしてそこから入力論理回路６２へ供給す る。プログラマキーボード５２はコマンドをＰＬＣ４２ａ　（ＣＰＵ）内の複数 のデジタル符号化器に供給する。始動キーボード５０に於て入力されデジタル符 号化されたコマンドは、その後、入力論理回路６２からプログラマブルロジック コントローラ（ＰＬＯ）４２に与えられる。該コマンドは様々なテストコマンド を含んでいる。プログラミングキーボード５２に於て入力されデジタル符号化さ れたコマンドは、テスト動作の開始時に於てシステムの初期のプログラムのため にＰＬＣ４２に与えられる。該コマンドは様々なプログラミングコマンド及び操 作コマンドを含んでいる。ＰＬＣ４２は内部に電気的にプログラム可能な読みだ し専用メモリ（ＥＦＲＯＭ）を有している。 ＰＬＣ４２は本発明の一実施例においては西独のクーンケ（Ｋｕｈｎｋｅ　）社 によって製造されたものである。ＰＬＣ４２は、与えられる制御入力及びＰＬＣ ４２に格納されている操作プログラムに従って、論理ロー又は論理ハイを出力論 理回路６６．６６ａ、６６ｂへ出力する。出力論理回路６６．６６ａ、６６ｂは 好ましい実施態様に於てはロジックアレーであり、論理回路６６ｂはインターフ ェイス回路４５内のインターフェイスリレー制御コイル７０ｅに結合されており 、論理回路６６ａはアナログマルチプレクサ６８．６８ａ、６８ｂに結合されて いる。出力論理６６は制御入力及びコマンド入力をランプ／ステップ発生器７４ に供給する。出力論理６６ａは、制御入力及びコマンド入力をアナログマルチプ レクサ６８．６８ａ、６８ｂに供給し、スコープコマンド信号をインターフェイ ス回路４５を介して供給する。出力論理６６ｂは、インターフェイスリレー制御 コイルに信号を供給し、その内部の様々なリレーを選択的に作動させる。 ＰＬＣ４２はプロセス信号シミュレータ／ジェネレータ４４内のプログラマブル ランプ／ステップ発生器７４及び様々なトランスミッタ／シミュレータ７６に間 接的に結合されており、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４及びトラン スミッタ／シミュレータ７６の制御を行う、始動キーボード５０を介してオペレ ータによって入力された制御入力及びＰＬＣ４２に格納されている操作プログラ ムに従って、ＰＬＯは、適切なランプ／ステップ信号を発生するためにプログラ マブルランプ／ステップ発生器７４に適切な制御信号を供給する。ランプ／ステ ップ信号は、保護システム内の計器ループ／保護チャネル４６に与えられる。同 様に、トランスミッタ／シミュレータ７６はＰＬＣ４２からの適切な制御信号に 応答して、核反応発電ステーション４８の固定された動作パラメータを表す１個 以上のプロセス信号を供給する。あるケースでは、トランミッタ／シミュレータ ７６は計器ループに入力を与えることなく、プログラマブルランプ／ステップ発 生器７４は計器ループ／保護チャネル４６に適切なランプ／ステップ信号を供給 することができる。これは、核反応発電ステーション４８の他の動作条件とは独 立でありうる１個の遷移する動作パラメータに応答する保護システムを検証する ことが望まれる場合に行われる。プログラマブルランプ／ステップ発生器７４及 びトランスミッタ／シミュレータ７６から計器ルー１４６に与えられ、核反応器 の動作状態をシミュレートするテスト信号に伴って、シミュレートされた信号が 、インターフェイスプラグ７０を介して、インターフェイスリレー７０ａから保 護システムの動作な監視するための計器ループに供給される。保護システムは、 発電ステーション４８の１個以上の動作パラメータを表している該シミュレート された信号を処理する。該シミュレートされた信号はマルチプレクサ６８にも供 給される。マルチプレクサ６８は出力論理６６ａから受信した制御信号に従って 、シミュ　。 レートされた入力信号を選択的にインターフェイスリレー７０ｄに供給する。シ ミュレートされた入力信号の選択されたものは、その後、テスト、測定及び記憶 装置４７に供給され、後述するように、計器ループ４６からの出力信号と共に、 監視及び評価に供される。 インターフェイスリレー７０ａから入力されるシミュレートされたプロセス信号 に応答して、テスト中の計器ループは、シミュレートされた条件下でのその動作 を表す信号をインターフェイスリレー７０ｂ、７０ｃに出力する。インターフェ イスリレー７０ｂ、７０ｃは、計器ループ４６からの出力信号をマルチプレクサ ６８ａ、６８ｂに供給する。マルチプレクサ６８ａ、６８ｂは、出力論理６６ａ から受信した制御信号に従って、保護システムのシミュレートされた動作信号を 選択的にインターフェイスリレー７０ｄに供給する０選択された保護システムの シミュレートされた動作信号は、その後、システムオペレータによる監視及び評 価のために、１個以上のテスト、測定及び記憶装置４７に与えられる。テスト、 測定及び記憶装置４７は、デジタル電圧計及びデジタルオシロスコープ或はコン ピュータ端末のビデオディスプレイ（ＣＲＴ）８１のような通常の測定及び表示 装置を含むことができる０本発明の好適な一実施Ｒ様においては、ニコレット（ Ｎｉ−ｃｏｌｅｔ）　４０９４デジタルオシロスコープが使用される。テスト、 測定及び記憶装置４７に与えられ、保護システムの計器ループ４６の実際の動作 条件下でのシミュレートされた動作を表す信号は、磁気ディスクや磁気テープの ような記憶及び後の再生のための様々なデータ記憶装置８４にも与えることがで きる。このようにして、保護システム内の様々な計器ループ４６の様々な要素の シミュレートされた動作条件の範囲に亙る動作をメモリに永久に記憶することが でき、時間の上での比較が行われる。このことにより、潜在的な危険な状態を早 期に検出し、適切な修正行動の準備を行うために、一般には保護システムの、特 に計器ループ４６の動作の傾向を時間の上で解析することが可能となる。 第４図に典型的な計器ループ又は保護チャネル３１の概略的なブロック図を示す ０本発明の検証システムはこのような計器ループ又は保護チャネル３１と共に用 いることを意図したものである。第４図に示される保護チャネル３１は、加圧水 型原子炉（ＰＷＲ）発電ステーションに於て使用される加圧圧力チャネルである 。保護チャネルへの入力は加圧器２９からの圧力信号である。該信号は原子炉冷 却システムの圧力を示している。該信号は計器ループ電源３２を介して、第１及 び第２の双安定トリップ回路３４及び３６に直接供給され、進み遅れ回路３７を 介して第３の双安定トリップ回路３８に供給される。加圧器２９、ループ電源３ ２、進み遅れ回路３７及び第３の双安定トリップ回路３８で構成される保護チャ ネル３１の部分は、第１図に示した従来技術のセンサ監視システム１０に類似し ている。 進み遅れ回路３７は、有限の応答時間と有する信号のためのダイナミック補償機 能を遂行する。従来の多くの加圧水型原子炉では、更に第４図に示した計器ルー プに類似した３個の加圧圧力ループがあり、各ループは各々の入力を原子炉保護 システムに供給している。典型的には、原子炉の完全なトリップを生成するため には４個のチャネルの内の２個のチャネルがアクティブになる必要がある。これ らの計器ループの内の１個の検証を行うためには、そのループを分離して、部分 的なトリップをシミュレートするためにその出力双安定回路をトリップさせる必 要がある。この理由で、計器ループの検証を時宜を得た且つ効果的な仕方で行う ことが重要である。保護システム３１のテスト信号が与えられ、又は信号が監視 される部分は、文字Ａ、Ｂ及びＦで示されている。他方、保護チャネルのトリッ プ出力はＣ，Ｄ、Ｅ及びＧの場所で監視される。第５ａ図、第５ｂ図及び第５ｃ 図は、進み遅れ回路３７及び第３の双安定トリップ回路３８を含む保護チャネル ３１の部分における様々な信号を示している。第５ａ図は、プログラマブルラン プ／ステップ発生器７４によって第４図の保護チャネル３１のループ電源３２の 入力（点Ａ）に供給されるランプ電圧の変化を示している。この減少するランプ 電圧は、計器ループ内の変換器によって感知された時間依存状態変量の変化に関 する計器ループ３１内の加圧器２９の出力をシミュレートしている。第５ａ図で はランプ電圧は時間の経過と共に減少するように示されているが、本発明は、時 間依存状態変量を表す電圧（又はｔ流）における増大をも等しく補償する。 ループ電源３２に供給される、時間によって変化するシミュレートされた加圧器 の圧力信号に応答して、該電源はシミュレートされた加圧器の圧力信号に比例し な信号を出力する。進み遅れ回路３７は、計器ループの感知可能な応答時間をダ イナミックに補償する。−実施Ｂ様に於ては、進み遅れ回路３７は与えられる入 力信号を下記の式で数学的に表される仕方で処理する。 Ｖ（Ｔ）＝　（Ｖ＋ＲＲＸ　（Ｔｔ（Ｌ−Ｌ）Ｘ　［Ｉ　ＥＸＰ　（Ｔ／ＴＬＩ ＩＧコ　）　）ここで、 Ｔ　＝時間 ’ｒＬｌｌＱ　＝遅れ時間 Ｌ−Ｌ　＝進み−遅れ ＲＲ＝ランプ率 ■　＝入力電圧 Ｖ　（Ｔ）は第１にはランプ率（ＲＲ）の関数である。上式の右辺のその他のパ ラメータは一般に保護チャネル４６の回路によって定められた固定値である。　 Ｖ（Ｔ）は第５ｂ図に図式的に示されており、ランプ率によってさだめられるラ ンプ電圧の進み関数を示している。ランプ率（ＲＲ）に伴うＶ　（Ｔ）の変化に より、保護チャネル４６は時間依存状態変量における大きな遷移に対応する過剰 なランプ率を補償することができる。第５ｂ図の場合には、Ｖ　（Ｔ）は最初に 急速に減少して最終的なランプ電圧Ｖをとおり、極小値に達し、その後、時間と 共に僅かに増大する。これは第４図の点Ｆで測定される。 第５ｃ図は、第５ａ図のランプ電圧が与えられる第４図の点Ｇに現れるような保 護チャネル４６の出力を示している。第５ｂ図及び第５ｃ図に示されるように、 Ｖ　（Ｔ）がＶ、に等しい値まで減少するときには、保護チャネル４６は時間Ｔ ｖに於てトリップ電圧パルスを出力する。保護チャネル３１の第３の双安定トリ ップ回路３８によってトリップ電圧パルスが出力されると、発電ステーションに 停止信号が供給される。　Ｖ（Ｔ）が増大してｖＦに等しいか又はそれを上回る と、発電ステーションに対し、その動作を再始動させ、それが再び正常に動作し ていると見なすことを許すために、トリップ回路３８によってリセット信号が供 給される。第５ｂ図及び第５ｃ図に於て、保護チャネル４６によってトリップ電 圧が出力される時間はＴＴで表されており、リセット時間はＴｔで表されている 。 第６図は、本発明の原子炉制御システム検証装置の好適な一実施例に於て用いら れるプログラマブルランプ／ステップ発生器７４の概略のブロック図を示す、第 ３ａ図及び第３ｂ図に関して前述したように、プログラマブルランプ／ステップ 発生器７４は出力論理回路６６に結合されており、該回路からの制御信号入力を 受信する。一実施態様に於ては、８個の制御入力が出力論理回路６６からプログ ラマブルランプ／ステップ発生器７４に供給される。プログラマブルランプ／ス テップ発生器７４へのＡ、Ｂ、Ｃ及びＤ入力は、該発生器内のプログラマブル読 みだし専用メモ−！、Ｊ　（ＰＲＯＭ）２０２に供給される。ＰＲＯＭ２０２は 、出力論理回路６６からの４個の入力に応答してプログラマブルランプ／ステッ プ発生器７４の４個の動作パラメータを定めるためにプログラムされている。４ 個の動作パラメータとは、　（１）ランプ率、　（２）ランプ／ステップ上限、 （３）ランプ／ステップ下限、及び（４）プログラマブルランプ／ステップ発生 器７４からの出力が該発生器７４内のｔ流ドライバ２３６又は電圧ドライバ２３ ８によってなされるか否か、である、ＰＲＯＭ２０２がプログラマブルであるこ とにより、段階的な又は実質的に連続的な仕方での操作が可能であることを含む 、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４の操作に関する高度の柔軟性が提 供される。 出力論理回路６６からプログラマブルランプ／ステップ発生器７４への残りの４ 個の入力は、ランプハイ（ＲＨ）、ランプロー（ＲＬ）、ステップハイ（ＳＨ） 及びステップロー（ＳＬ）を含んでいる。これらの４個の入力は、上述の４個の 制御信号を処理するための複数の論理ゲート（図示せず）で構成されるプログラ マブルランプ／ステップ発生器７４内の論理回路２００に供給される。論理回路 ２００には更に２個の入力信号がＰＲＯＭ２０２から供給される。これらの２こ の信号はＡＵＴＯ／ＭＡＮＵＡＬ　５ＥＬＥＣＴ信号及びＶＯＬＴＡＧＥ／ＣＵ ＲＲＥＮＴ　５ＥＬＥＣＴ信号である。マニュアル操作モードでは、ＰＲＯＭ２ ０２への論理入力はローである。もしこれらの入力ラインの何れかがハイになる と、ＦＲＯＭ２ｏ２は論理回路２００に対して適切な信号を与え、プログラマブ ルランプ／ステップ発生器７４はそれに対して出力論理回路６６から与えられる 様々な入力に従う自動操作になる。プログラマブルランプ／ステップ発生器７４ が自動操作モードにある場合には、プログラマブルロジックコントローラに格納 されているプログラムは後述するように、第６ａ図の制御パネル及び読みだし表 示装置５４上のマニュアル制御スイッチを禁止する。ランプ発生器のＰＲＯＭ２ ０２への論理入力がローの場合には、ユーザはランプ発生器の動作を手動で制御 するためにプログラマキーボードを介して入力を行うことができる。ＰＲＯＭ２ ０２はまた、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４の出力がｔｉドライバ 回路２３６によってなされるか、又は電圧ドライバ回路２３８によってなされる かを定めるための、ＶＯＬＴＡＧＥ／ＣＵＲＲＥＮＴ　５ＥＬＥＣＴ信号を論理 回路２００に供給する。 ＰＲＯＭ２０２は更に、上限カウンタ２０４、下限カウンタ２０８、及びランプ 率カウンタ２１２に結合されており、それらのカウンタに制御入力を供給する。 論理回路２００は上述のカウンタのそれぞれにロード信号を供給する。 そこで、ＰＲＯＭ２０２からの出力信号に従って、上限カウンタ２０４又は下限 カウンタ２０８が選択され、ランプ率カウンタ２１２には望ましいランプ率の情 報が与えられる０次に、オペレータにランプ上限又はランプ下限を視覚的に示す ために、上限カウンタ２０４が上限表示袋！２０６に適切な制御信号を供給する か、又は下限カウンタ２゜８が下限表示装置２１０に適切な制御信号を供給する 。上限及び下限表示装置２０６及び２１０は、後述するように制御パネル及び読 み出し表示装置５４上に配設されている。 更に、上限カウンタ２０４と下限カウンタ２０８との何れかが、ハイ／ロー選択 回路２１６にカウンタリミット信号を供給する。論理回路２００は又、ハイ／ロ ー選択回路２１６に、ランプハイ、ランプローステップハイ、及びステップロー の制御機能の何れかを示す制御信号を供給する。 同様に、ランプ率カウンタ２１２は、ランプ率表示装置２１°４及び可変周波数 発生器２２０に入力信号を与える。ランプ率表示装置２１４も又制御パネル及び 読み出し表示装置５４上に配設されており、プログラマブルランプ発生器７４の ランプ率の視覚的な表示を提供する。固定周波数マスタ発振器２１８も又、可変 周波数発生器２２０に入力を与える。可変周波数発生器２２０からの出力周波数 はランプ率カウンタ２１２から与えられる入力信号に比例しており、従って、そ の入力の変化に連れて変動する。望ましいランプ率に従って変化する周波数発生 器２２０の可変周波数出力は、ランプ制御回路２２６に供給される。ランプ制　 ゛四回路２２６は、複数のカウンタ２２４に３個の出力を与える。ランプ制御回 路２２６からカウンタ２２４への出力は、次の２個の制御信号を含んでいる。（ １）ランプリミットをハイかローに定めるロードリミット信号、及び（２）電圧 又は電流が増大させられるべきか又は減少させられるべきかを示すアップ信号又 はダウン信号である。ハイ／ロー選択回路２１６からの他の入力は、カウンタ２ ２４に対して、電圧又は電流がランプ方式とステップ方式との何れで変化させら れるべきかを示す、ランプ制御回路２２６からのランプアップ又はランプダウン 信号に応答して、カウンタ２２４は増加させられるか又は減少させられる。 カウンタ２２４はコンパレータ２２２に入力を供給する。 コンパレータ２２２はカウンタからの電圧又は電流出力をハイ／ロー選択回路２ １６を介して上限カウンタ２０４又は下限カウンタ２０８からコンパレータに与 えられるランプ上限又はランプ下限と比較する。コンパレータ２２２はランプ／ ステップ発生器の論理回路２００にリミット比較入力を供給する。論理回路２０ ０はランプ制御回路２２６に適切な制御信号を与える。論理回路２００からラン プ制御回路２２６への入力は、ランプアップ又はランプダウン信号であって、こ の信号は、コンパレータ２２２がカウンタ２２４からのランプ電圧又は電流出力 がランプの上限又は下限に等しいことを検出するまで引き続いて出力される。 このとき、論理回路２００はランプ制御回路２２６に停止信号を供給し、カウン タ２２４のランプ動作を終了させる。 ランプ発生器論理回路２００はまた、ランプ制御回路２２６にロードカウンタ信 号を送り、ランプ制御回路によるカウンタ２２４へのランプ初期値及びランプ上 限又は下限のロードを開始させる。 カウンタ２２４のランプ出力は、ランプ発生器の論理回路２００からのラッチイ ネーブル入力を受信するデジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）ラッチ２２８に供給され る。　Ｄ／Ａラッチ２２８へのラッチイネーブル入力は、カウンタ２２４からＤ ／Ａ変換器２３０へのランプ信号をクロックする。 このことにより、Ｄ／Ａ変換器にロードされているデータが安定状態にあり、ど のビットも遷移状態にないことが保証される。Ｄ／Ａラッチ２２８は従って、Ｄ ／Ａ変換器２３０に供給されるデジタルデータに時間遅れを与え、その結果、信 号の伝搬遅延から生じるタイミングの問題が除去され、信号の安定が保証される 。Ｄ／Ａラッチ２２８はまた、電圧又は電流のランプ信号の値を表す信号をデジ タル出力表示装置２３２に与え、オペレータに対してランプ電圧又は電流値の視 覚的な表示を提供する。　Ｄ／Ａ変換器２３０はＤ／Ａラッチ２２８のデジタル 出りょくを複数の加算増幅器２３４に与えられるアナログ信号に変換する。 加算増幅器２３４は、選択されたランプ率に於て周波数が変化する対応する信号 を、電流ドライバ２３６及び電圧ドライバ２３８に供給する。ＰＲＯＭ２０２が ランプ発生器の論理回路２００に電流選択信号を供給するとき、論理回路２００ から電流ドライバ２３６に電流イネーブル信号が与えられる。を流イネーブル信 号により、を流ドライバ回路２３６が第３ａ図及び第３ｂ図に示したマルチプレ クサを介して検証システムのインターフェイスリレーへ上向き又は下向きの電流 ランプ信号を出力することが可能になる。 ＰＲＯＭ２０２がランプ／ステップ発生器の論理回路２゜Ｏに電圧選択信号を供 給するとき、論理回路２００は電流ドライバ２３６に電流イネーブル信号を与え ず、電圧ドライバ回路２３８がインターフェイスリレーへランプ電圧を供給する ことが可能になる。電流ドライバ回路２３６への電流イネーブル信号は、プログ ラマブルランプ／ステップ発生器７４内でのフィードバック経路を提供しており 、電流ドライバ回路に対する保護を与える。従って、プログラマブルランプ発生 器７４がランプ電圧モードで動作している場合には、電流ドライバ２３６は本質 的に高インピーダンスであり、回路内で接続された場合に於てもショートするこ とはない。 このように、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４は、一実施例では０． ＩＶから１２．９９９Ｖである、電圧又は電流ランプ率の上限から下限までの連 続的な範囲を提供することができる。電流又は電圧ランプの上限及び下限のみな らず、ランプ値の連続的な範囲も又、ランプ／ステップ発生器のＰＲＯＭ２０２ にプログラムすることができる。Ａ後に、プログラマブルランプ／ステップ発生 器７４は、ランプ上限及び下限並びにランプ率が後述するようにオペレータによ って選択されるマニュアル操作のみならず、論理回路２００及びＰＲＯＭ２０２ の制御の下での完全な自動操作も提供する。 第６ａ図は、本発明の一実施例で用いられたプロセス信号シミュレータ／ランプ ／ステップ発生器７４に於て使用されるものとして第３ａ図及び第３ｂ図に示さ れた制御パネル及び読み出し表示装置５４を更に詳細に示している。 制御パネル及び読み出し表示装置５４は、プログラマブルランプ／ステップ発生 器７４が自動モードと手動モードとの何れにあるかを示すための自動／手動イン ジケータ３１４を備えている０手動モードに於ては、ランプの方向がハイかロー かを制御するために、セレクタスイッチ３１５が設けられている０分当りの電圧 で表されるランプ率は、制御パネル及び読み出し表示装置５４の一部をなしてい るアルファニューメリック文字表示装置２１４上に視覚的に表示される。制御パ ネル及び読み出し表示袋［５４にはまた、ステップハイセレクタ及び表示装置２ ０６並びにステップローセレクタ及び表示装置２１０が含まれている。第３ａ図 及び第３ｂ図のＰＬＣ４２に格納されているプログラムによって手動モードが選 択されている場合には、ランプ率はランプ率インジケータ２１４の上下に設けら れているスイッチによって手動で選択することができ、ランプの方向はランプハ イ及びローセレクタ３１５によって上向き又は下向きに選択される。制御パネル 及び読み出し表示袋２５４上には又、ＰＬＣに格納されているプログラムによっ て電圧モードと電流モードの何れが選択されているかを示す自動インジケータ３ １４ａ並びに外部の装置（図示せず）への出力のための手動出力結合部３１４ｂ が含まれている。 制御パネル及び読み出し表示装置５４上には又、手動電圧選択又は電流選択スイ ッチ３１４ｃ及びランプ電圧又は電流値の表示装置２３２が含まれている。 第７図は、本発明の好適な一実施例で用いられるプログラミング／制御シーケン サ４１、符号化回路６０、及びキーボードドライバ回路６０ａの部分の模式的な ブロック図を示している。第３ａ図及び第３ｂ図に関して既に述べたように、プ ログラミング／制御シーケンサ４１は、第７図では簡単のために示されていない プログラマキーボード５２を備えている。テスト系列は、プログラマキーボード 上のキーを介して４桁のコードを入力することにより開始される。キーは第７図 では簡単のために示されていないが、第３ａ図及び第３ｂ図には図示されている 。４桁のコードは、どの計器ループ又は保護チャネルをテストすべきか、及び何 のテストがなされるべきかを指定している。オペレータはそれから、プログラマ キーボード５２上のキー（Ｆｏｏ）を選択することにより、プログラミング／制 御シーケンサ４１を始動する。この時点では、プログラミング／制御シーケンサ ４１はチャネルがテスト状態にあり、正しく接続されていることを調べる。チャ ネルがテスト状態にあり、正しく接続されているならば、プログラミング／制御 シーケンサ４１は第３ａ図及び第３ｂ図に示されている緑色の「Ｇ○」ライトを 点灯し、テスト信号の注入を許可する０個々のテスト系列は始動キーボード上の キーを介して２桁のコードを入力することによって開始される。２桁のコードは 、保護ループ又は保護チャネルのテストすべき点を指定している。オペレータは 、始動キーボード５０上のロードキーを選択することによってテストを開始する 。 この魚具降では、シーケンサは自動的にテストを指揮する。 シーケンスは以下の通りである。 Ａ、インターフェイスリレー７０ａ、７０ｂ、７０ｃにより、保護チャネル内の 様々な点がアクセスされ、アクティブにされる。 Ｂ、シーケンスは待ち、ループ設定タイマ４２ｂが必要に応じて起動される。 Ｃ，デジタルオシロスコープ８２が「ホールド」モードから「活き（ｌｉｖｅ） 」モードに移される。 Ｄ、プログラマブルランプ発生器７４が起動される。 Ｅ、デジタルオシロスコープ８２が「活きｊモードから「ホールドラスト（ｈｏ ｌｄ　１ａｓｔ）」モードに移される。 Ｆ、テストランが完了したならば、デジタルオシロスコープ８２はデータをデー タ記憶装置８４へ送ることにより、テストデータをメモリに転送する。 Ｇ、オペレータは割り込みをかけてテスト結果を受け取る。値が不正であり許容 範囲内にない場合には、オペレータは既に記録されたテストデータ又は履歴を用 いて計器ループ又は保護チャネルの修理を行う。 始動キーボードに対するオペレータの入力は、始動キーボードからの出力を２進 信号に符号化する符号化回路６０内の２進化１０進（ＢＣＤ）符号化器２５２に 供給される。 ＢＣＤ符号化器２５２からの２進出力は、複数のラッチ２５４、リセット回路２ ６８、ロード回路２９２及び第１番目の桁が（３）より大きいことを検出する回 路２９４に供給される。 始動キーボード５０にＯと９の間の数字が入力されると、ＢＣＤ符号化器２５２ はシフトレジスタ２６６にクロック信号を供給する。シフトレジスタ２６６はラ ッチ２５４に対して、選択された数字を表すデータをラッチにラッチするために ラッチ信号を与える。０と９の間の他の数字が選択された場合には、シフトレジ スタ２６６はやはりその情報をラッチ２５４にラッチする。始動キーボード５０ に対して第２番目の数字が入力される前にロードキー５７が選択された場合には 、ＢＣＤ符号化器２５２は、この情報をラッチ２５４にラッチするのを防ぐため に、シフトレジスタ２６６に対するストローブ信号を出力しない、ロードキー５ ７が選択された場合には、ＢＣＤ符号化器２５２の２進出力はロード回路２９２ 内の様々な論理ゲートに与えられる。ロード回路２９２はＢＣＤ符号化器２５２ からの２進出力をデコードし、対応する信号をフリップフロップ回路２７０のＳ ＥＴ入力に供給する。フリップフロップ回路２７０の出力は、禁止回路３１２を 介して４−１６２進１０進デコーダ２７４及び２７６に与えられるＬＯＡＤコマ ンドを表している。従って、ロードキー５７が選択された場合には、ロード回路 ２９２はフリップフロップ２７０に高レベルのＳＥＴ入力を与え、フリップフロ ップ２７０は、キーボード入力を複数のドライバ２７８に供給するために、ＬＯ ＡＤ信号を一対の４−１６デコーダ２７４及び２７６に与える。ドライバ２７８ の出力は、第３ａ図及び第３ｂ図に示された制御／プロセス信号を処理するため の論理回路４３内の入力論理６２に供給される。 始動キーボード５０上のリセットキー５５が選択されると、ＢＣＤ符号化器２５ ２から適切な出力がなされ、該出力はリセット回路２６８によってデコードされ る。リセット回路２６８は、フリップフロップ２７０をリセットするために、Ｏ Ｒゲート３００を介してフリップフロップ２７０のリセット入力にリセット信号 を与える。更に、リセット信号は後ろのシフトレジスタ２６６のリセット入力に 供給され、これによってラッチ２５４に対するロード信号が終了する。リセット キー５５は、典型的にはテストの完了時に、また引き続くテストデータの解析の 間に選択される。 始動キーボード５０上で２個の数字が選択される前にロードキー５７が選択され たならば、ＢＣＤ符号化器２５２は、シフトレジスタ２６６のクロック入力に対 してストローブ信号を供給せず、キーボード入力はラッチ２５４にラッチされな い、第２番目の数字は、ロードキー５７を介してＬＯＡＤコマンドが入力される 前に始動キーボード５０上で入力されなければならない、ロード回路２９２は、 ＬＯＡＤコマンドを受け付ける前に第２番目の数字が入力されたというシフトレ ジスタ２６６からの確認を受けなければならない。 ＢＣＤ符号化器２５２に結合された発振回路２５０は、ＢＣＤ符号化器２５２の ために正しいタイミングを与える。 始動キーボード５０上のオペレータの入力を表すラッチ２５４からの出力は又、 表示ドライバ回路２５８を介して読み出し表示装置上の発光ダイオード（ＬＥＤ ）インジケータ２６４に供給される。ラッチ２５４から出力されたＢＣＤ情報も 又、４−１６デコーダ２７４及び２７６に入力される前にＢＣＤ−２進デコーダ ２７２によってＢＣＤから２進形式に変換される。ＢＣＤ−２進デコーダ２７２ のＹ５出力は、ＯＲゲート３００からＲＥＳＥＴ出力を供給するために、ＯＲゲ ート３００の一方の入力にフィードバックされている。ＯＲゲート３００からの ＲＥＳＥＴ出力は、禁止回路３〕、２へのロード信号の出力を終了し、４−１６ デコーダ２７４及び２７６へのデータのロードを停止するために、ロードフリッ プフロップ２７０のＲＥＳＥＴ入力に与えられている。同様に、ＯＲゲート３０ ０からのＲＥＳＥＴ出力は、始動キーボード５０上に入力されたデータを更にラ ッチ２５４にラッチするのを避けるために、シフトレジスタ２６６のＲＥＳＥＴ 入力に供給されている。このようにして、ＢＣＤ−２進デコーダによって検出さ れる所定の上限を越えた第２番目の数字の入力は排除される。 このようにして、システムの動作はシステムオペレータによって入力される所定 の数の有効な操作命令に関して定義され得る。また、誤った、及び任意の入力は 妨げられる。 一実施態様に於ては、始動キーボード５０上で許された数字の入力でもっとも大 きいのは、番号３１である。始動キーボード５０上で入力された最初の数字が３ より大きいならば、第１番目の数字が３より大きいいことを検出する回路２９４ は、リセット信号をＯＲゲート３００に与え、ＯＲゲート３００は上述したよう にしてリセット機能を提供する。 第７ａ図は、本発明の好適な一実施例に於て用いられるプログラマブルロジック コントローラ、テスト及び測定装置、及びインターフェイス回路の部分の簡単な ブロック図を示している。第３ａ図及び第３ｂ図に示されたランプ／ステップ発 生器及びトランスミッタ・シミュレータ７４及び７６は、選択された保護システ ムシミュレート信号をアナログマルチプレクサ１００に供給する。アイソレータ １０２を介しての出力論理６６ａからの選択された制御信号に従って、アナログ マルチプレクサ１００は選択された保護システムシミュレート信号を、第３ａ図 及び第３ｂ図にも示したように、インターフェイスリレー７０ｄを介して１個以 上のデジタルオシロスコープ８２に供給する。また、ランプ／ステップ発生器及 びトランスミッタ・シミュレータ７４及び７６は、選択された保護システムシミ ュレート信号をアナログマルチプレクサ１０４に供給する。それぞれのアイソレ ータ１０６を介しての出力論理回路６６ａからの選択された制御信号に従って、 アナログマルチプレクサ１０４は選択された保護システムシミュレート信号をイ ンターフェイスリレー７０ｄを介して１個以上のデジタルオシロスコープ８０に 供給する。 （以Ｔ−余白） 第７ｂ図には本発明の言及している実施例に使用されるプログラマブルロジック コントローラ、テスト装置、測定装置。 及びインターフェイス回路の一部を形成する簡略化ブロックダイヤグラムである 。インターフェイスリレー７０ａから入力されたシミュレートされた信号に応答 してテスト中の計器ループ４６は、第３ａ図及び第３ｂ図に示されるようにイン ターフェイス７０ｂ及び７０ｃにシミュレートされた状態のもとに、その動作を 表わすプロセス信号を出力する。インターフェイスリレー７０ｂはシミュレート されたテストのもとに計器ループからアナログマルチプレクサ１０８にプロセス 信号を供給する。アイソレータ１１０を通って供給される出力ロジック回路６６ ａから選択された制御信号に一致して。 アナログマルチプレクサ１０８は選択された保護プロセスシグナルを、インター フェイスリレー７０ｄに供給し、そこから１又はそれ以上のデジタルオシロスコ ープ８２のチャネルに導かれる。 第３ａ図及び第３ｂ図に示されるように、インターフェイスリレー７０ｃはシミ ュレートされたテストのもとに計器ループからレベル低下のためにアイソレータ １１２へ、それからアナログマルチプレクサ、そしてロジックカード６２ａへと 双安定出力するプロセスを供給する。アナログマルチプレクサ１１４は出力ロジ ック６６ａからアイソレータ１１６を通じて受けた９選択された制御信号に一致 してインターフェイスリレー７０ｄに双安定出力するプロセスを供給し、そこか ら１又はそれ以上のデジタルオシロスコープのチャネルにつながる。インターフ ェイスリレー７０ｃからアイソレータ１１２へ、そしてロジック人力６２ａへ双 安定出力するプロセスは、上に述べたように、プログラマブルロジックコントロ ーラ４２に対し、双安定ロジックレベルを供給するものであり、それは第３ａ図 及び第３ｂ図に示されている。 プログラマブルロジックコントローラのメモリに格納されたオペレータが選択し たプログラムに関連してロジック人力６２ａから、ＣＰＵ４２ａに入力されたロ ジックレベルは比較され、テスト中のループの検証に供される。 （以下余白） 第８図を参照して、プログラマ／コントロールシーケンサ４１は上述のように、 複数のキーバッド５８を有するプログラマキーボード５２、他の複数のキー５６ を有する始動キーボード５０を備えている。始動キーボード５ｏ内のキー又はキ ーバッドの２個は、リセットキー５５及びロードキー５７であり、それらの機能 は上述した０作動灯２６４ａは緑色の場合には、プログラマブルロジックコント ローラ４２内の動作プログラムが、第３ａ図及び第３ｂ図に示すように、計器４ ６を処理するためのプラグ７０の適切なインターフェイス接続及び計器ループ４ ６からの双安定レベルが正しいことを検証し、検証システムが正常な動作の準備 ができていることを検証している。 プログラミング／コントロールシーケンサ４１の制御盤読み出し表示部は、プロ グラマブルロジックコントローラ内のプログラムが現在作動しているメモリ内の アドレスを表示する現在アドレス表示装置３１６、プログラマブルロジックコン トローラにより実行されている命令のコード化された記憶シンボルを表示するた めの記憶ディスプレイ３１８、及び工１０バスを介してデータが送受されるアド レスを表示するためのデータアドレスディスプレイ３２０を更に備えている。 また、検証システムによって行われているテストの識別を表す数を表示するため の始動点ディスプレイ２６４も備えている。最後に、プログラミング／コントロ ールシーケンサ４１は、検証システムによって行われているテストが計器ループ 又は保護チャネル内の所望の位置をテストしていることの検証の可視表示を提供 するための複数の表示ＬＥＤ３２２も備えている。 第９図には、インターフェイス回路４５と保護チャネル４６との接続に於けるプ ラグ７０からプラグ３９への適切な接続を検証するための構成を示す略図及びブ ロック図が示されている。同図に示すように、プラグ３９はＢＢ、ＣＣ，ＤＤ及 びＥＥで示された４個の端子を有している。それぞれのプルアップ抵抗３２８． ３３０．３３２及び３３４を介して＋ＶＤＣが上述の端子の各々に印加されてい る。端子ＢＢは中性接地端子に接続されている。従って、端子の各々に＋ＶＤＣ が印加され、端子ＢＢが中性接地端子に接続されているので、第３ａ図及び第３ ｂ図に示されているように、インターフェイスプラグ７ｏ、インターフェイスリ レー７０ａ、プルアップ６２ｂ、及び入力ロジック６２ａを介して、４ビツトコ 一ド化信号０１１１がプラグ３９からプログラマブルロジックコントローラ４２ に与えられる。プログラマブルロジックコントローラは、その動作プログラム内 の第１のマーク又はフラグをセットすることにより入力コード０１１１に応答す るようにプログラムされている。プログラマブルロジックコントローラ内のマー クのセットは、第１０ａ図を参照して説明され得る。第１０ａ図に各端子ＢＢ、 ＣＣ，ＤＤ及びＥＥはリレー又は接点として示されている。接地された端子ＢＢ は閉じたリレーとして示されている。第１０ａ図に示されたリレーの組合せがプ ログラマブルロジックコントローラによって検出されると、該コントローラは、 インターフェイスプラグ７０が保護チャネル４６に適切に接続されていることを 表す第１のマークをセットする。従って、第１０ａ図のリレー構成は、インター フェイスプラグ７０の適切な接続を検証するための、そして適切な接続が検証さ れたときのプログラマブルロジックコントローラ内の第１のマークのセットのた めのＡＮＤゲートとして機能する。 適正な計器ループ又は保護チャネルがテスト中であることを実証するために、同 様のアプローチがなされる。第１０ａ図及び第１０ｂ図に従って、やがて他のリ レーＩＮＴ　０１が、テストされている計器ループの出力を表わすのに使用され る。テスト信号の入力に引続いて所望の計器ループからの出力が検出されたら、 他のリレーＩＮＴ　０１は閉じられ。 正しい結合を検証して最初の目印であるマークｌがセットされているときは閉じ ている。動作していない他のリレーに直列に配列される。このように第１０ｂ図 に示される直列に結合された２つのリレーは適正なプラグの連結を検証し、テス ト中の適正ループを検証するように結合され、２番目の目印マーク２は作動して いるプログラム中にプログラマブルロジックコントローラによってセットされる 。このようにコネクタの検証とテスト中のループの検証が１本発明の検証システ ムのプログラマブルロジックコントローラによってなされる。 第１１ａ図、第１１ｂ図及び第１１ｃ図はプログラマブルロジックコントローラ ４２のもとに、その中に格納されている操作プログラムに従って、検証システム ４０によって実行される一連の動作が示されている。第１１ａ図、第１１ｂ図。 及び第１１ｃ図はそれぞれプログラマブルロジックコントローラ４２内の動作プ ログラムのほんの一部を図示しているにすぎず、第１１ｂ図は、ＡからＦの文字 で示された位置で第１１ａ図と第１ｉｅ図につながることを意味する。第１１ａ 図、第１１ｂ図、及び第１１ｃ図に表わされたフローチャートにおいて長方形は 一連の操作の始まり、命令、又は命令セットを表わし、結果として制御機能が実 行される。一方ひし形はプログラマブルロジックコントローラ内の２つの信号の 比較に基づいて決定する点を表わす。 プログラマブルロジックコントローラ４２内に格納されたプログラムの実行は、 オペレータによるプログラマキーボード５２上のキーＦおよび３の選択により、 ステップ３５０から始まる。計器ループ又は保護チャネルのスタートアドレスは プログラマキーボード上に入力され、続いてプログラマキーボード上の「Ｓ」キ ーを押されるとプログラマブルロジックコントローラ４２内の動作プログラムが プログラマブルコントローラのメモリ上の以前に選択されたスタートアドレスま で歩を進めて来る。正しいスタートアドレスは、プログラミング／制御シーケン サ制御パネル４１上のスタートアドレスディスプレイ３１６に表示され、確認さ れる。スタートアドレスの表示に続いてオペレータは、プログラマブルロジック コントローラの動作を開始させるためにプログラマキーボード５２上にＦＯＯを 入力する。ＦＯＯコマンドはプログラマブルロジックコントローラの動作プログ ラムのスタートコマンドを表わす。 動作プログラムの最初の段階はブロック３５４における入力及び出力レジスタを 使用できるようにすることを伴う。次にプログラムはステップ３５６に進み、記 述の正しいコネクタがテストすべき保護チャネルに連結されていることを検証す るコネクタ検証テストを実行する。そしてコネクタが誤って保護チャネルに連結 されていたら、マークがプログラマブルロジックコントローラ内に設定されず、 プログラムはステップ３５６に分岐して戻り、再びコネクタの正しい連結をチェ ックする。もし、ステップ３５６で正しいコネクタの連結が検証されたら、マー クがプログラマブルロジックコントローラ内に設定され、プログラムはステップ ３５８へ進む。 ステップ３５８では、プログラマブルロジックコントローラ４２は、テストすべ き保護チャネル内の、双安定回路としても知られているコンパレータ又はトリッ プ回路からの出力に対して開いている。保護チャネル内のコンパレータ回路から の出力はその保護チャネルがテスト中であることを示す。 基準電圧信号を典型的に含んでいる。コンパレータ信号からの出力が開かれた後 プログラムはステップ３６０へ進み、前述したように１又は２以上の保護ループ がテスト中であることを検証するためのテスト中のループ手順に通じている。も しコネクタマークがそれ以前にステップ３５６で設定されており、ステップ３６ ０で決定されたように１又は２以上の保護チャネルがテスト中であるなら、プロ グラムはプログラマブルロジックコントローラ内のラッチに「ＧＯ」マークを設 定する。もしステップ３６０で正しい保護チャネルとテスト中のループのテスト が検証されなければ、プログラムは正しい保護チャネルが検証システムに結合さ れ、テスト中のループ手順が検証されるまで、ループを実行する。ステップ３６ ２では、正しいコネクタの連結とテスト中の保護チャネルの検証に続いて、プロ グラマブルロジックコントローラが緑の「ＧＯ」の光２６４ａを読み出しディス プレイ４１上に照らし出し、出力ロジック回路６６．６６ａ及び６６ｂの危機出 力ロジックカードを可能にしている。それに加えて、第１図の保護チャネルのテ ストポイントＡおよびＢのようなテストすべき保護チャネルの入力ルーブチスト ポイントが開かれる。 ステップ３６４ではプログラムは、オペレータによって必要な開始ポイントを開 始キーボードに入力されるのを待つ。 必要な開始ポイントは所望のテスト機能に相当する位置を示すために開始キーボ ード５０上に入力された２つの数字によって表わされる。 プログラマブルロジックコントローラ４２内のプログラムはＧＯマーク又はステ ップ３６６でのプログラム中のフラグの設定をチェックする。プログラムはＧｏ マークの設定を検出するまで３６６のステップを実行し１次にテストされる保護 チャネルのテストポイントを入力するプロセスを開くためのステップ３６８に進 む。 テストされる保護チャネル内のテストポイントを開いた後。 プログラマブルロジックコントローラ４２は出力ロジック６６によって適切なア ドレスをプログラマブルランプ／ステップ発生器７４に送り、プログラマブルラ ンプ／ステップ発生器が正しいテスト信号をステップ３７０でインターフェイス リレー７０ａとインターフェイスプラグ７０とを通じて、保護チャネル４６に出 力できるようにしている。 ステップ３６４に続いて、必要な開始ポイントが開始キーボード５０上に入力さ れ、プログラマブルロジックコントローラ４２に供給された後、プログラマブル ロジックコントローラ内のプログラムは同時に関連する様々なサブルーチンを実 行するためにステップ３８４．ステップ４２４．及びステップ３７２に分岐する 。これらの分離したサブルーチンは。 別々に次のバラグラフに記述されている。プログラマブルロジックコントローラ ４２は多くのタイミング回路又はタイマ４２ｂを有しており、以下のプログラム 動作内の様々なタイミング機能を実行している。以下に記載された動作を実行す るのに様々なタイミング回路が関係するが、簡単のためにタイマ４２ｂは単一ブ ロックとして表わされている。そのため。 これら様々のタイミング回路は単一ブロック４２ｂとして表される一方、タイマ ーはステップロー及びハイタイマ、ランプロー及びハイタイマ、ループ処理タイ マ、シーケンス待ちタイマ、スコープリプパルスタイマ、及びスコプホールドラ ストパルスタイマを含む。上述の各々のタイマとそれらに関連したタイミング機 能もまた２次のバラグラフで論じられる。 プログラマブルロジックコントローラの中央処理装置（ＣＰＵ）４２ａはその動 作プログラムを格納するためのメモリを有している。 プログラムがステップ４２４に分岐したとき２次のプログラムはランプハイコマ ンド又はランプハイマークのいずれが入力されるかを決定する。もしステップ４ ２４で、ランプハイコマンドが入力され、又はランプハイマークが設定されたこ とが決定されたら、プログラムはステップ４２６に進み。 一連の待機マークが設定されているかどうかを決定し、このマークが設定される までループを実行する。ステップ４２６ａでは、プログラムはランブロータイマ マークが設定されていないことを決定し、このマークが設定されるまでループを 実行する。もしランブローマークが設定されていなければ、プログラムはステッ プ４２８に進み、プログラマブルロジックコントローラ４２から出力ロジック６ ６を通して、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４にランプハイ信号を供 給し、電圧をランプさせ、電流出力を上昇させる。 もしステップ４２４でランプハイが選択されていないこと又はランプハイマーク が設定されていないことが決定されたら、プログラムはステップ４３０に分岐し 、ランプローが選択され、又はランブローマークが設定されているかどうかを決 定する。もしステップ４３０でランプローが選択され、又はランブローマークが 設定されていることが決定されたら。 プログラムはステップ４３２に進み、一連の待機が設定されているかどうかを決 定する。 もしステップ４３０でプログラムが、ランプローが選択されず又はランブローマ ークが設定されていないことを決定したら、プログラムはこれらの状態のいずれ かが満足されるまでループを実行する。もし、ステップ４３２で、一連の待機マ ークの設定が検出されなかったら、プログラムはこのマークが設定されるまでル ープを実行し９次にステップ４３２ａに進み、ランプハイタイママークが設定さ れているかどうかを決定し、このマークが設定されるまでループを実行する。 もしランプハイタイママークがセットされなかったら、ステップ４３４はプログ ラマブルロジックコントローラ４２から。 出力ロジック６６を通して、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４に、ラ ンプローシグナルを供給し、プログラマブルランプ／ステップ発生器の出力を低 力ヘランプさせる。 ステップ３６４で開始キーボード５０に、必要な開始ポイントの入力が行なわれ たら、もう一つのサブルーチンがプログラムによって実行され、ステップ３７２ が開始される。プログラムはステップ３７２でステップロー信号が、プログラマ ブルロジックコントローラ４２によって、プログラマブルランプ発生器７４に供 給される必要があるかどうかを決定する。もし、ステップ３７２でステップロー 信号がプログラマブルランプ発生器７４に供給されることが決定されたら、プロ グラムはステップ３７４に進み、ＧＯマークが設定されたかどうかを決定し、こ のマークが設定されるまでループを実行する。ひとたびＧＯマークが設定された ら、プログラムはステップ３７６へ進み、プログラマブルロジックコントローラ ４２内のステップロータイマの操作を開始する。ステップロータイマはステップ ３７８のステップロー関数発生器を活発にし、プログラマブルランプ／ステップ 発生器７４を下方ヘステップさせる。 プログラムは次に、ステップロータイマが終り、ステップロータイミングが完了 した時を検出するためにステップ３８０へ進む。ひとたびステップロータイミン グが完了したことがステップ３８０で検出されたら、プログラムはステップ３８ ２へ進ミ、プログラマブルランプ／ステップ発生器７４へのステップローコマン ドを不活発にする。 もし、ステップ３７２で、プログラムがステップローシグナルがプログラマブル ランプ／ステップ発生器７４に供給する必要がないことを決定したら、プログラ ムは、ステップ４１４に分岐し、再びＧＯマークが設定されているかどうかを決 定する。ひとたびＧＯマークの設定がステップ４１４で検出されたら、プログラ ムはステップ４１６へ進み、プログラマブルロジックコントローラ４２のステッ プハイタイマの動作を開始する。ここでは逆に、ステップ４１８のステップハイ 関数を活発にさせる。ステップロー及びステップハイタイマの両方がプログラマ ブルロジックコントローラ４２内のタイマ回路４２ｂの中で可変のハードウェア タイマであり、これはプログラマブルランプ／ステップ発生器７４が上昇又は下 降のいずれにランプされるかを決定しており、外部からのタイマセツティングが できるようにされている。ステップ４１８でステップ関数を活発化させたあと、 プログラムはステップ４２０に進み、ステップハイタイマが完了した時を決定す る。 ステップハイタイマが完了したのに続いてプログラムはステップ４２２に進み、 ステップハイコマンドを不活発にする。 そのため、ステップロー及びステップハイコマンドはそれぞれステップ３８２と ４２２を不活発にさせる。 ステップ３６４で開始キーボード５０上に必要な開始ポイントが入力されたのに 続いて、プログラマブルロジックコントローラ４２に格納されたプログラムはス テップ３８４に分岐し、ループ決定時間サブルーチンを実行する。ループ決定時 間は保護チャネルがダイナミック関数を有しているときに必要となる。保護チャ ネルがダイナミック関数を有していないときは、ループ決定時間サブルーチンは 必要ではなく、実行されることはない、このように、もしステップ３８４でプロ グラムがループ決定時間は不必要であると決定したら、プログラムはステップ３ ９２へ分岐し、ＧＯマークを設定する。 もし、ステップ３８４でダイナミック関数テストの場合なのでループ決定時間が 必要であることが決定されたら、プログラムはステップ３８６に進み、ＧＯマー クの設定を捜す。ステップ３８６でＧＯマークの設定の検出に続いてプログラム はステップ３８８に進み、ループ決定タイマの動作を開始させる。このタイマは プログラマブルロジックコントローラ４２内のタイマ回路４２ｂのもう一つのハ ードウェアタイマである。ループ決定タイマがテストされている保護チャネル内 のすべての遷移が確定した後、ループ決定タイマが時間を計り終える。そのとき プログラムはステップ３９０に進み、ループ決定タイマの完了を待ち、ステップ ３９２に進んでループ決定タイマの完了に続いて、ＧＯマークの設定をチェック する。ステップ３９２でＧＯマークの設定を検出したら、プログラムはステップ ３９４に進み、シーケンス待ちタイマの動作を開始させる。このタイマはデジタ ルオシロスコープのテストデータの表示に５秒の遅延を導入する。 この５秒の遅延はデジタルオシロスコープの陰極選管（ＣＲＴ）のフルラスター スキャンを可能にし、テストデータのフルビデオディスプレイを確実にしている 。シーケンス待機タイマのスタートに続いて、プログラムはステップ３９６でス コープリブパルスタイマの動作を開始する。スコープリブパルスタイマは、前に 議論したシーケンス待機タイマと同様にプログラマブルロジックコントローラ４ ２のタイマ回路４２ｂ内のハードウェアタイマであり、ステップ３９８のオシロ スコープリブ関数の活発化によってデジタルオシロスコープのＣＲＴを活発にさ せる。 デジタルオシロスコープがステップ３９８で活発にさせた後、プログラムはステ ップ４０２でスコープリプ関数を不活発化させる前にステップ４００で活発な継 続したパルスを待つ。このようにスコープリブパルスの終了につづくスコープリ ブ関数の早い不活発化によってデジタルオシロスコープはシングルパルスによっ て活性化され、またデジタルオシロスコープを活性化する信号の維持に対する要 求は回避される。 スコープリプ関数がステップ４０２で不活発化された後。 プログラムはシーケンス待機時間の完了と、ステップ４０４でのシーケンス待機 タイマの完了を待つ。ステップ４０４で検出されるシーケンス待機タイマの完了 は、フルテスタがＣＲＴ上のテストデータのディスプレイに有用となることを確 実にするのに必要である。一方、スコープリブパルスタイマの動作とスコープリ ブ関数の活発化は、維持された信号よりも一連のパルスによってデジタルオシロ スコープが活性化されることを可能にしている。ステップ４０４でシーケンス待 機タイマの完了に続いて、プログラムはデジタルオシロスコープのＣＲＴ上のテ ストデータの表示を維持するためのサブルーチンを実行する。このようにステッ プ４０６でスコープホールドラストパルスタイマの動作が開始され、もうひとつ のパルスが活発化されたスコープホールドラスト関数によってデジタルオシロス コープに供給され、デジタルオシロスコープがＣＲＴの最後のラスクスキャンの 間に現存する表示データを維持するようにされている。プログラムは次にステッ プ４１０に進み、そこでホールドラストパルスタイマの完了が検出され、ステッ プ４１２でスコープホールドラスト関数が不活発化され、そして、デジタルオシ ロスコープのＣＲＴに表示されたテストデータが維持される。 ステップ４０４でのシーケンス待機タイマの完了に続いて。 プログラムはステップ４３６に進み、もし望むなら２方向のランプ動作を実行す る。このようにステップ４３６ではプログラムはランプロータイムが必要かどう かを決定し、そしてもし必要ならばステップ４３８に進んで、プログラマブルロ ジックコントローラ４２のタイマ回路４２ｂのランブロータイマの動作を開始す る。ステップ４４０では、ランブロータイマの完了が検出され、プログラマブル ランプ発生器７４の出力の下降ランプを開始する。他方、ステップ４３６でラン ブロータイムが必要であると決定されたら、プログラムはステップ４４２に分岐 し、ランプハイタイマの動作を開始させる。ランプハイタイマの完了がステップ ４４４で決定され。 プログラマブルランプ発生器７４の上昇ランプが開始される。 付録には本発明による核反応装置制御システムの検証によるウェスティングハウ スＷ７３００原子炉制御システムの動作の検証に用いられた典型的なダイナミッ ク計算法が示されている。付録に示された例では加圧された加圧ループＩＰ−０ ４５５ループが検証のために選択された。これはこのループがダイナミック及び 非ダイナミックな関数から成っているからである。付録中の計器ループブロック ダイアグラムには計器ループトリップ回路がＮＡＬカードとして、ダイナミック 補償又は進み／遅れ回路がＮＬＬカードとして、そして電源供給回路はＮＬＰカ ードとして表わされている。付録はスタティック回路演算のための線型方程式と ダイナミック回路演算を表わす非線型方程式を説明している。シミュレートされ た動作信号が計器ループに注入され、動作検証信号が計器ループ内で検出される テストポイントもまた付録の中の様々な図に示されている０式はこの付録の終わ りのダイナミックレスポンスの表に説明される値を得るのに使用した。付録に説 明された式と計算は核反応装置発電所の加圧機の圧力ループの動作の検証に向け られる一方、同じ式とデータ表が２本発明の原理によって計器ループの異なるタ イプの動作の検証に使用される。 保護システムの計器ループのスタティック及びダイナミックなテストを可能にす る核反応装置制御システムの検証がこのように示されている。ダイナミックテス トの場合には計器ループの応答時間は変えることができる。すべての計器ループ を２個々の回路基板からはずす必要はなく、その場所で早（正確にテストするこ とが可能となった。テストの結果はデジタルオシロスコープを含む様々なディス プレイ装置に写し出すことができ、後に呼び出すために様々なデータ格納装置に 格納でき、現在の計器ループと比較し、将来の計器ループの動作の分析と予測に 供せられる。 本発明の詳細な実施例が示されているので、当業者にとってその広い見識によっ て新たに発明しなくとも、容易に変型又は修飾することが可能である。そのゆえ に付加された請求項の目的は本発明の真の精神と視野内のこれらの変型又は修飾 のすべてをカバーすることである。主題は先の記述を説明し添付した図面は例示 であり、これに限定されるものではない、従来の技術に基づいてクレームから容 易に予測される場合に９本発明の実際的な視野が次のクレームに定められること を意図するものである。 台−二鯰 Ｗ７３００の典型的なダイナミック計算１−次 Ａ、目的 Ｂ、ダイナミックテストの紹介 Ｃ１基本式 ＩＩＩ形式 ２、進み遅れ式 ３、ダイナミックストリング式 ４、ダイナミック入力ドリップ及びリセット式５、非グイナミフク入カドリップ 及びリセット式り１例−一加圧機の加圧ループ １、テスト１計算−−ダイナミックストリング２、テスト２計算−一非ダイナミ ックストリングＥ、要約 Ｆ、付録 Ｇ、参考大獄 Ａ、目的 本論文の目的は、加圧機の加圧ループのダイナミック及び非ダイナミックストリ ングの典型的な数学的計算を示すことである。ループ関数、システムスフ−リン グ、テストの性能及び評価等の他の分野は本論文の範囲外である。 Ｂ、ダイナミックテストの紹介 デジタルオシロスコープは、同時にテストの４個の信号を記録する４個のチャネ ルを有している０通常は、ランプ信号がループの入力に印加され、３個の連続し た出力が記録される。 拡張されたテスト能力の一つはループのトラブルシューティングである。ループ の入力及び最終出力信号はストリングの機能テストを評価するためのキーである 。カードの入力信号及び出力信号はカード機能を評価するのに用いられる。 お ループのモデルとして、加圧機の加圧ループＩ　Ｐ−０４５５が選択された。そ れが、ダイナミック及び非ダイナミック機能を備えた最小のループだからである 。 ｉ％書（内容に変更なし） ＴＹＰＩＣＡＬ　ＤＹＮＡ？ＩＩＣＣＡＬＣＵＬＡ丁１ＯＮＳ　ＯＦ　Ｗ７３０ ０ＦＩＧＬＩＲＥ　１：　Ｂｌｏｃｋ　Ｄｉａｇｒａｓ＋±ス上し　ダイナミッ クストリング　１時間関数）±ス上ム　非ダイナミック　ストリング止！ 浄書（内容に変更なし） Ｙ　ａ（Ｙｌ−Ｙｌ）　”　（Ｘ　−Ｘり　／　（Ｘｔ　−Ｌ）　＋　Ｙｌ　（ １）ＹＬ＠　、　Ｙ　−ＥＲＲ＋　（２） Ｙ＊＋−Ｙ　＋　ＥＲＲ＋　（３） 浄書（内容に変更なしン ＴＹＰＩＣＡＬ　ＤＹＮＡＭＩＣＣＡＬＣＬＩＬＡＴＩＯＮＳ　ＯＦ　１７３０ ０ｔ〉　−丁＋　Ｅｔ　ＩＪ　□　Ｇ　傘　（Ｅａｓｅ　Ｌｌｌ　＋ＲＲ＊　１ 丁＋　（ＬＥ　ｗ＋　−ＬＡ　Ｉｌｌ）　”（１４ＸＰ　（−Ｔ／ＬＡ　ｗ＋　 ）　〕　ｄＸＰ　（（丁−ｔ　）／ＬＡ　ｍｕ　）　ｌ　）　（８）ｔ〉　・　 Ｔ、Ｅｅ＋ｕ　−’　寥　（Ｅｔ−０、、＋ＲＲ傘　（Ｔ÷　（ＬＥｉ　Ｌ。　 −ＬＡ　ＬＪ　）　”（１−ＥＸＰ　（−Ｔ／ＬＡ　ＬＯ））　寧ＥＸＰ　（（ 丁−ｔ）ルＡＬＯ）　ｌ　）　（９）ここで ａ　゛　な　の　！　・　び１　セ・　Ｕｌ））リップセントポイント時間 ｔ　ｔ　−（Ｅ　ａｔ　−Ｇ　＊　Ｅｔ−−）　／Ｇ　＊　ＲＲ−（ＬＥ　−Ｌ Ａ　）　（１０）浄書（内容に変更なし） １）トリップ時間下ｉｌｌ： ｔｔ　Ｌｏ□　（Ｅｅｔｗ＋−Ｇ＊Ｅｔｓｅｔｏ）　／Ｇ傘ＲＲ−（ＬＥ＋＋＋ 　−ＬＡ　ＬＯ）　（１２）２）トリップ時間上ｌＩｌ： ｔ、　Ｉｌｌ・（Ｅ　ｏｒ　Ｌｌｌ　−ＧネＥ（ｎ。□＞　７Ｇ＊ＲＲ−（ＬＥ 　、。−ＬＡ□’Ｉ　（１３）ここで ＴＲＩＰ５　−　Ｅ５　＋　ｔｙ　傘　ＲＲ５（１６）Ｒ２５２丁５　寥　Ｅ５ 　＋　Ｔ　傘　１１１１５　（１７）浄Ｉ！（内容に変更なし） ＴＹＰＩＣＡＬ　［ｌＹＩＩＡＭＩＣＣＡＬＣＬＩＬＡＴＩＯＮＳ　ＯＦ　＠Ｌ ７３００ｂ　゛　の　１・　およ　１セ・ ＥＲＲ４：テスト信号裕度 イ　ミー　トトプ　び１セ・ト ｂ　゛　・の　ドブ　び１セー ここで ｚｐＨ内客！二τ更なし） 浄書（内容に変更なし） ０１例　（セフシランＢのブロック図を参照されたい）Ｔｅｓｔ　ＩＩ　：　０ ００．０１０．０１１．１０３　：　ダイナミックストリングＴｅ５ｔ　＠２　 ：　０００．０１０，１Ｇ１．１０４　：　非ダイナミックストリング■号　肚 星−Ｌ　聚−盟　多 加圧機の加圧ループ情報： ユ、賛よ！ＭＷ？Ｗ門琵賃昔ふ紹癌ス餞耗隷％已育テストインフォメーション： 浄書（内容に変更なし） ｉｆ’ｆｊ（ＦＭ−ｃｒも一＆Ｔｈ　＄　−１浄書（内容に変更なし） ＴＹＰＩＣＡＬ　ＤＹＩＩＡＭＩＣＣＡＬＣｔｌＬＡＴＩＯＮＳ　ＯＦ　Ｗ７３ ００リセットポイント ■＞＞＞　ｔｔ　ＩＪ　１（２，３３８−６，６３８）／（−０，０８３３３４ ）−（１０，３−０，９７）　−４２，２７ＳＥＣ下限リセット時間 ０４　＞＞＞　ｂ　Ｌｌｌ　□　５０−０．９７＊Ｌｎ　（（（２，３６３−６ ，７３８）バー０．０８３３３）−５０）　／（９，７−０，９７）　＊　（１ −ＥＸＰ　Ｃ−５０１０，９７）　）　ｌ　−５１，２１ＳＥＣもＩぜ蔓渭カ ０り＞＞＞　ｔｔ　ｗ＋　＠（２，２８８−６，７３８）／　−０，０８３３３ ４）−（９，７−１，０３）　−４４，７３ＳＥＣ下限リセット時間 ＯＳ　＞＞＞　ｔ、　Ｉｌ＋　−５０−１，０３−Ｌｒ＋　（（（２，４６３− ６，６３８）／（−０，０８３３３）−５０）　／（１０，３−１，０３）−（ １−ＥＸＰ（−５０／１．０３））ｌ−５４，６７ＳＥＣｅ　トド　およ　イ　 ミ・　ス　１ングの１セ・（２２）＞＞＞Ｅ５−０．４傘Ｅｉｓ＊＋１Ｅ５−０ ．４ｍ６．６８８＋１−３．６７５ＶＤＣＲＲ５・−０，４傘５／６０　−−０ ．０３３３３３νＤＣ／ＳＥＣ言−セ一　ポイント　およびその ＧＱ　＞＞＞　ＴＥＣＢ　５ＰＥＣ−３，６７５−４５，６０−０，０３３３３ ３−２，１５５ＶＤＣＱ［９＞＞＞　丁１１１Ｐ５　−　３．６７５　−　４３ ．５０　、　０．０３３３３３　−　２．２２５　ＶＤＣＯＤＤ　＞＞＞　ＴＲ ＩＰＳ　Ｌ−−３，６７５−４４，７３−０，０３３３３３−０，００５−２， １７９ＶＤＣＯＪ　＞＞＞　丁ＲＩＰ５　、ｌ＋　−３，６７５−４２，２７− ０，０３３３３３＋　０．００５　−　２．２７１　ＶＤＣ浄書（内容に変更な し） ＴＹＰＩＣＡＬ　ＤＹＮＡＭＩＣＣＡＬＣＵＬＡＴＩＯＮＳ　ＯＦ　Ｗ７３００ １セートセ・　ポイン　嘗お　の ０７）　＞＞＞　ＲＥＳＥＴ５　□　３．６７５−５０１１０．０３３３３３　 ・２．００８　ＶＤＣ＠　＞＞＞　ＲＥＳＥ丁５　ｔｏ　−２，００８−０，０ ０５−２，００３ＶＤＣ（２１）＞＞＞　ＲＥＳＥＴ５　Ｉｌ＋　・２．００８ 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　０．０２５−０．０４０）＋１　−２．１７６　ＶＤＣ３）　リセットセット ポイント電圧およびその＠度（２Ｂ）　＞＞＞　ＲＥＳＥＴＩＯ−２，８７５− ０，１００−２，７７５ＶＤＣ（２３）　＞＞＞　ＲＥＳＥＴ５　−０．４　傘 ２．７７５　＋　１　−２．１１０　ＶＤＣ（２６）　＞＞＞　ＲＥＳＥＴ５　 Ｌｏ　−０，４−（２，７７５−０，０５０）　＋　１　−２．０９０　ＶＤＣ （２７）　＞＞＞　ＲＥＳＥＴ５　＋ｕ　−０，４−（２，７７５＋　０．０５ ０）　＋　１　−２．１３０ＶＤＣ浄８（内容に変更なし） ＴＹＰＩＣＡＬ　ＤＹＮＡＭＴＣＣＡＬＣＵＬＡＴＩＯＮＳ　ＯＦ　！１７３０ ０Ｇ、　ＲＥＦＥＲＥＮＣＥＳ インターツーイヌ−ルーフレ 乞７’ｉｆ　Ｌ／　７−マルテフルクプｃｇへＦｌｏ、７ｂ。 Ｆｌｏ、　９ ）Ｊ）鍮ｄ回鼾２ユヘ ＩＧｉｉａ 手続補正書（方式） 平成元年７月２７日Ｕ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．保護システムの適当な動作を検証するための構成であって、該保護システム が操作システムの動作を監視し、制御し、及び操作システム制御信号を与えるた めの該操作システムの第１の操作パラメータを表す時間に依存する状態可変信号 に応答する計測ループを備えており、第１の制御信号を発生するための、ユーザ に応答する入力手段、 該計測ループ及び該ユーザ応答入力手段に接続され、第２の制御信号を発生させ るために該第１の制御信号に応答するプログラム可能な制御手段、 可変信号発生手段、該計測ループ及び該プログラム可能な制御手段に接続され、 模擬された時間に依存する状態可変信号を発生するために該第２の制御信号に応 答し、及びそれに応答して該計測ループが該操作システム制御信号を出力する該 模擬された時間に依存する状態可変信号を該計測ループに与える可変信号発生手 段、並びに 該計測ループに接続され、該操作システム制御信号に応答して該保護システムの 動作を検証する該操作システム制御信号の可視表示を与えるための表示／試験手 段を備えている保護システムの適当な動作を検証するための構成。 ２．前記プログラム可能な制御手段が、該ユーザ応答入力手段及び該プログラム 可能な制御手段からそれぞれ出力される該第１及び第２の制御信号を処理するた めに、並びに該第１及び第２の制御信号をプログラム可能な制御手段及び可変信 号発生手段にそれぞれ与えるために、該該可変信号発生手段に接続された論理回 路手段を有している請求の範囲第１項に記載の構成。 ３．前記プログラム可能な制御手段が、前記入力手段及び前記論理回路手段に接 続されているプログラマブルロジックコントローラを更に有している請求の範囲 第２項に記載の構成。 ４．前記論理回路手段、前記計測ループ、前記表示／試験手段、及び前記可変信 号発生手段を接続するためのインターフェイス回路手段を更に備えている請求の 範囲第３項に記載の構成。 ５．前記インターフェイス回路手段が複数のインターフェイスリレーを有してい る請求の範囲第４項に記載の構成。 ６．前記論理回路手段が前記インターフェイス回路手段に接続されたマルチプレ クサ回路を有している請求の範囲第４項に記載の構成。 ７．前記論理回路手段が、前記マルチプレクサ回路、前記インターフェイス回路 手段、前記可変信号発生手段、及び前記プログラマブルロジックコントローラに 接続された出力論理回路を更に有している請求の範囲第６項に記載の構成。 ８．前記論理回路手段が、前記入力手段、前記プログラマブルロジックコントロ ーラ、前記インターフェイス回路手段、及び前記出力論理回路に接続された入力 論理回路を更に備えている請求の範囲第７項に記載の構成。 ９．前記表示／試験手段がデジタルオシロスコープを有している請求の範囲第１ 項に記載の構成。 １０．前記表示／試験手段がデジタル電圧計を有している請求の範囲第１項に記 載の構成。 １１．前記表示／試験手段が陰極線管を有している請求の範囲第１項に記載の構 成。 １２．後続の呼び出しと前記保護システムの後続の操作と比較とのために前記操 作システム制御信号を記憶するための、前記表示／試験手段に接続されたデータ 記憶手段を更に備えている請求の範囲第１項に記載の構成。 １３．前記データ記憶手段がディスク記憶装置を有している請求の範囲第１２項 に記載の構成。 １４．前記計測ループが、時間に依存する状態可変信号を検出するための変換器 、及び前記操作システム制御信号を与えるために保護システムに接続されたトリ ップ回路を有している請求の範囲第１項に記載の構成。 １５．前記模擬された時間に依存する状態可変信号を前記計測ループ内の前記変 換器と前記トリップ回路との間に与えるための手段を更に有しており、前記操作 システム制御信号が、該操作システム制御信号が所定の限度を越えたときに操作 システムの動作を終らせるための停止信号である請求の範囲第１４項に記載の構 成。 １６．前記計測ループが、前記時間に依存する状態可変信号の応答時間を補償す るために前記変換器と前記トリップ回路との間に接続されたダイナミック補償回 路手段を更に有している請求の範囲第１５項に記載の構成。 １７．前記ダイナミック補償回路手段が進み／遅れ回路を有している請求の範囲 第１６項に記載の構成。 １８．停止後に、前記操作システム制御信号が前記所定の限度をもはや越えてい ないときには前記操作システムの動作を再開させるためのリセット信号発生手段 を更に備えている請求の範囲第１５項に記載の構成。 １９．前記可変信号発生手段が可変ランプ信号発生器を有しており、前記模擬さ れた時間に依存する状態可変信号がランプ信号である請求の範囲第１項に記載の 構成。 ２０．前記可変ランプ信号発生器がプログラム可能であり、プログラマブル読み 出し専用メモリを有している請求の範囲第１９項に記載の構成。 ２１．前記可変ランプ信号発生器が、連続的に可変のランプ信号を与えるための 連続可変周波数発生器を有している請求の範囲第１９項に記載の構成。 ２２．前記可変ランプ信号発生器が、上方のランプ信号リミット及び下方のラン プ信号リミットをそれぞれ設けるための上限カウンタ及び下限カウンタを有して いる請求の範囲第１９項に記載の構成。 ２３．前記可変ランプ信号発生器が、前記ランプ信号のランプ率を変えるための 可変ランプ率手段を有している請求の範囲第１９項に記載の構成。 ２４．前記可変ランプ信号発生器が、電流ドライバ、電圧ドライバ、及び該電流 ドライバと該電圧ドライバとを選択して該可変ランプ信号発生器に電流又は電圧 のどちらかに可変のランプ信号をそれぞれ与えることを許容するための手段を有 している請求の範囲第１９項に記載の構成。 ２５．前記計測ループ及び前記プログラム可能な制御手段に接続され、保護シス テムの動作の検証の間に少なくとも１個の固定された信号を該計測ループに与え るために前記第２の制御信号に応答するトランスミッタ／シミュレータ手段を更 に備えており、該少なくとも１個の固定された信号が操作システムの第２の操作 パラメータを表している請求の範囲第１項に記載の構成。 ２６．操作システムの複数の操作パラメータの１個を表している各時間に依存す る状態可変信号にそれぞれが応答する複数の計測ループを更に備えており、前記 可変信号発生手段が該計測ループの１個に前記模擬された時間に依存する状態可 変信号を与える請求の範囲第１項に記載の構成。 ２７．前記ユーザ応答入力手段が、前記時間に依存する状態可変信号が与えられ る複数の計測ループの１個を選択するために前記プログラム可能な制御手段に選 択制御信号を与えるための選択手段を有している請求の範囲第２６項に記載の構 成。 ２８．前記ユーザ応答入力手段が数字付されたマルチキーのキーボードを有して おり、該キーボードと前記プログラム可能な制御手段とを接続するためのエンコ ーダ回路を更に備えている請求の範囲第１項に記載の構成。 ２９．前記エンコーダ回路が、複数の有効なユーザ入力を規定するための、及び 前記キーボードに対する有効でないユーザ入力を拒絶して保護システム検証構成 の権限のない操作を防止するためのユーザ入力検証手段を有している請求の範囲 第２８項に記載の構成。 ３０．前記ユーザ入力検証手段が、有効なユーザ入力を所定の数に限定するため の最大入力数限定手段を有している請求の範囲第２９項に記載の構成。 ３１．前記ユーザ入力検証手段が、２個のキーボード入力により構成されるよう な有効入力を更に規定するための２キー入力検出手段を更に有している請求の範 囲第３０項に記載の構成。 ３２．前記ユーザ応答入力手段が、前記キーボードに対するユーザ入力を表示す るために該キーボードヘのユーザによる入力に応答する読み出し手段を更に備え ている請求の範囲第２８項に記載の構成。 ３３．前記ユーザ応答入力手段が、前記保護システム検証構成の動作を始めるた めの第１の始動キーボード、及び前記保護システム検証構成の動作を制御するた めの第２のプログラミングキーボードを有している請求の範囲第１項に記載の構 成。 ３４．前記操作システムが核反応発電所を備えている請求の範囲第１項に記載の 構成。 ３５．時間に依存する状態可変信号の大きさ又は変化率が所定の限度を越えたと きに発電プラントの動作を終らせる停止信号を発生させるために、そして発電プ ラントが再起動される、該時間に依存する状態可変信号がもはや該所定の限度を 越えていないときに更にリセット信号を発生するために、該時間に依存する状態 可変信号により表される発電プラントの動作パラメータを感知するための変換器 手段を有する保護システムを備えた核反応発電プラントであって、該保護システ ムの動作を検証するための手段が、 第１の制御信号を発生するためのユーザ入力に応答する入力手段、 該入力手段に接続され、第２の制御信号を発生するために該第１の制御信号に応 答するプログラム可能な制御手段、該保護システム及び該プログラム可能な制御 手段に接続され、時間に依存する可変状態を表す時間変化信号を変換器手段に与 えるための該第２の制御信号に応答するランプ信号発生手段、 与えられた時間変化信号に対する保護システムの応答を測定し、表示するために 保護システムに接続された検出／表示手段 を備えた核反応発電プラント。 ３６．発電プラントの各種の変動状態を監視し、発電プラントの動作を制御する ための保護及び制御システムを備えた核反応発電プラントであって、該保護及び 制御システムが、発電プラント動作パラメータを表す信号が与えられる入力端と 、それから停止／制御信号が与えられる出力端とを有し、該保護及び制御システ ムの適当な動作を検証するための検証システムが、 選択された発電プラントプロセスを表す第１の制御信号、及び該発電プラントプ ロセスに関連する可変状態を表す第１の入力信号を発生するためのユーザ応答入 力手段、該入力手段に接続され、第２の制御信号を出力するために該第１の制御 信号及び入力信号に応答するコントローラ手段、該保護及び制御システム及び該 コントローラ手段に接続され、該保護及び制御システムに第１のプロセス指定信 号を与えるためにそして可変状態指定信号を発生するために該第２の制御信号に 応答するロジック／インターフェイス回路、該保護及び制御システムの入力端に 接続され、該ロジック／インターフェイス回路に更に接続され、該発電プラント の可変状態を模擬するダイナミック信号を発生するために、そして停止／制御信 号を該ロジック／インターフェイス回路に与える該保護及び制御システムの入力 端に与えるために該可変状態指定信号に応答するシミュレーション信号発生手段 、並びに 該停止／制御信号を測定し、表示して該保護及び制御システムの適当な動作を検 証するための、該ロジック／インターフェイス回路に接続された測定／表示手段 を備えた核反応発電プラント。 ３７．操作システムに接続され、該操作システムの第１の操作パラメータを表す 可変状態信号に応答する少なくとも１個の保護チャネルを有する保護／制御構成 の遷移信号応答の適当な監視及び検証のための方法であって、操作者の入力に応 答して、該可変状態信号及び該可変状態信号の選択された変動を表す選択信号を 与えること、該選択信号に応答して、該第１の動作パラメータ及びその選択され た変動に対応する模擬された可変状態信号を該保護チャネルに与えること、 該模擬された可変状態信号に対する該保護チャネルの応答を測定し、該保護チャ ネルの応答が所定の限度以内でない場合には該保護チャネルから制御信号を与え ること、並びに該模擬された可変状態信号及び該制御信号を監視し、該保護／制 御構成の適当な遷移信号応答を検証することを包含する方法。 ３８．前記模擬された可変状態信号を上方又は下方にランプすることにより該模 擬された可変状態信号を選択的に変動させる行程を更に包含する請求の範囲第３ ７項に記載の方法。 ３９．ランプされた模擬された可変状態信号の上限及び下限を規定する行程を更 に包含する請求の範囲第３８項に記載の方法。 ４０．模擬された可変状態信号ランプ率を検証する行程を更に包含する請求の範 囲第３８項に記載の方法。 ４１．前記保護／制御構成が１個以上の保護チャネルを有しており、該１個以上 の保護チャネルからの遷移信号応答を監視し検証するために該保護チャネルの１ 個を選択することを更に包含している請求の範囲第３７項に記載の方法。 ４２．該保護チャネルの選択された１個に模擬された可変状態信号を与え、該操 作システムの各種の他の動作パラメータに対応する模擬された固定された信号を 残りの保護チャネルに与える行程を更に包含する請求の範囲第４１項に記載の方 法。 ４３．前記模擬された可変状態信号が与えられる保護チャネルが該保護チャネル の選択された１個であることを検証する行程を更に包含し、その動作が監視され 、検証されることが好ましい請求の範囲第４２項に記載の方法。 ４４．前記模擬された可変状態信号及び制御信号のビデオ表示を与える行程を更 に包含する請求の範囲第３７項に記載の方法。 ４５．ディジタルオシロスコープ上で前記模擬された可変状態信号及び制御信号 を測定し表示する行程を更に包含する請求の範囲第４４項に記載の方法。 ４６．後に読み出されて前記保護／制御構成のその後の遷移信号応答と比較する ために前記模擬された可変状態信号及び制御信号を記憶させる行程を更に包含す る請求の範囲第３７項に記載の方法。 ４７．前記模擬された可変状態信号に対する該保護チャネルの応答を測定する行 程が、該保護チャネルの応答と所定の上限及び下限とを比較し、該模擬された可 変状態信号が該上限及び下限のどちらかを越えた時にのみ前記制御信号を発生す ることを包含する請求の範囲第３７項に記載の方法。 ４８．前記制御信号が、前記模擬された可変状態信号が前記上限及び下限のどち らかを越えた時に前記操作システムの動作を終らせるための停止信号である請求 の範囲第４７項に記載の方法。 ４９．前記停止信号の受取による前記操作システムの動作の終了の後に、前記模 擬された可変状態信号がもはや前記上限及び下限のどちらも越えていないときに 該操作システムの動作を再開させる行程を更に包含する請求の範囲第４８項に記 載の方法。 ５０．前記模擬された可変状態信号の電流を変化させるか電圧を変化させるかを 選択する行程を更に包含する請求の範囲第３７項に記載の方法。 ５１．複数の有効操作者入力を規定する行程、及び各有効操作者入力にそれぞれ が対応する複数の選択信号を与える行程を包含し、更に、有効でない操作者入力 を検出し、拒絶する行程を包含する請求の範囲第３７項に記載の方法。 ５２．前記複数の有効操作者入力を、ユーザキーボード入力の数とユーザキーボ ード入力の最大数とによって規定する行程を更に包含する請求の範囲第５１項に 記載の方法。 ５３．操作者入力をビデオ表示装置に表示する行程を更に包含する請求の範囲第 ３７項に記載の方法。 ５４．プログラマブルランプ／ステップ発生器であって、ユーザによる入力を受 け取り、それに応答して第１及び第２の制御信号を与えるためのユーザ応答入力 手段、ランプ／ステップ発生器の動作パラメータを表すデータを記憶させるため に該入力手段に接続されたプログラム可能な記憶手段、そこでは該ユーザ応答入 力手段からの該第１の制御信号の該プログラム可能な記憶手段による受取に応答 して該プログラム可能な記憶手段からデータが読み出される、該入力手段及び該 プログラム可能な記憶手段に接続され、該第２の制御信号と、該ランプ／ステッ プ発生器動作パラメータを表すデータとに応答して、第３の制御信号を与えるた めの論理手段、並びに 該論理手段及び該プログラム可能な記憶手段に接続され、該第３の制御信号と、 該ランプ／ステップ発生器動作パラメータを表すデータとに応答して、電圧又は 電流のどちらかが変化するランプ／ステップ出力信号を与えるためのランプ／ス テップ制御手段 を備えているプログラマブルランプ／ステップ発生器５５．前記ユーザによる入 力が、ランプハイ信号若しくはランプロー信号、又はステップハイ信号又はステ ップロー信号を含む請求の範囲第５４項に記載のプログラマブルランプ／ステッ プ発生器。 ５６．前記プログラム可能な記憶手段がプログラマブル読み出し専用メモリであ り、前記データがランプ率及びハイランプ／ステップ又はローランプ／ステップ 信号を表している請求の範囲第５４項に記載のプログラマブルランプ／ステップ 発生器。 ５７．プログラム可能な記憶手段から読み出されたランプ／ステップ発生器動作 パラメータを表すデータ、及び前記論理手段から出力された前記第３の制御信号 の可視表示を与えるための、該プログラム可能な記憶手段及び該論理手段に接続 された表示手段を更に備えている請求の範囲第５６項に記載のプログラマブルラ ンプ／ステップ発生器。 ５８．前記ユーザ応答入力手段が自動／手動モードセレクタを有しており、前記 プログラム可能な記憶手段から読み出され、前記論理手段に与えられるデータが 自動／手動セレクト信号及び電圧／電流セレクト信号を有している請求の範囲第 ５７項に記載のプログラマブルランプ／ステップ発生器。 ５９．前記ランプ／ステップ制御手段が、電流ドライバ、電圧ドライバ、及びそ れらを切り換えるための手段を有している請求の範囲第５４項に記載のプログラ マブルランプ／ステップ発生器。 ６０．前記電流ドライバと電圧ドライバとを切り換えるための手段が、前記論理 手段から該電流ドライバに電流イネーブル信号を与えるための手段を有しており 、該信号により該プログラマブルランプ／ステップ発生器は電流が変化するラン ブ／ステップ出力信号を与え、該電流イネーブル信号がない場合には該プログラ マブルランプ／ステップ発生器は電圧が変化するランプ／ステップ出力信号を与 える請求の範囲第５９項に記載のプログラマブルランプ／ステップ発生器。 ６１．前記ランプ／ステップ制御手段が、ランプ／ステップ上限、ランプ／ステ ップ下限及びランプ率を確立するための、前記プログラム可能な記憶手段から読 み出されたデータ及び前記第３の制御信号に応答する複数のカウンタを有してい る請求の範囲第５４項に記載のプログラマブルランプ／ステップ発生器。 ６２．前記複数のカウンタの１個がランプ率カウンタであり、前記ランプ／ステ ップ制御手段が、該ランプ率カウンタに接続され、ランプ率に比例した周波数を 有する第４の制御信号を与えるための可変周波数発生器と、該第４の制御信号を 電流ランプ出力信号又は電圧ランプ出力信号のどちらかに変換するための手段を 有している請求の範囲第６１項に記載のプログラマブルランプ／ステップ発生器 。 ６３．被制御システムの動作状態に応答する制御システムの動作を監視する複数 の計測ループと共に使用され、１個の計測ループの動作が該被制御システムの動 作状態を模擬する入力信号を該計測ループの複数の第１のテストポイントの１個 に与えることによって検証され、該計測ループの応答が該計測ループの第２のテ ストポイントに於いて検証され、該計測ループの検証を制御するためのプログラ ミング／制御シーケンサであって、 動作検証のために該計測ループの選択された１個を指定するための第１のユーザ 応答入力手段、及び該計測ループの選択された１個の動作の検証に於いて該入力 信号が与えられるべき該計測ループの選択された１個の複数の第１のテストポイ ントの選択された１個を指定するための第２のユーザ応答入力手段 を備えているプログラミング／制御シーケンサ。 ６４．前記ユーザ応答入力手段がマルチキープログラマーキーボードを有してい る請求の範囲第６３項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ６５．マルチターミナルプラグによって計測ループに接続され、該マルチターミ ナルプラグの計測ループヘの適切な接続を検証するための手段を更に備えている 請求の範囲第６３項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ６６．前記マルチターミナルプラグの計測ループヘの適切な接続を検証するため の手段が、接地された第１のターミナル、それぞれのプルアップ抵抗を介してプ ラグの残りのターミナルに接続された＋ＶＤＣ源、及び該プラグの接地された第 １のターミナルを検出するための手段を有している請求の範囲第６５項に記載の プログラミング／制御シーケンサ。 ６７．前記第２のユーザ応答入力手段がマルチキー始動キーボードを有している 請求の範囲第６３項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ６８．各種のテストポイントに於ける前記計測ループの前記選択された１個の動 作を監視するための手段を更に備えている請求の範囲第６３項に記載のプログラ ミング／制御シーケンサ。 ６９．各種のテストポイントに於ける前記計測ループの前記選択された１個の動 作の可視表示を与えるためのビデオ表示手段を更に備えている請求の範囲第６８ 項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ７０．各種のテストポイントに於ける前記計測ループの前記選択された１個の動 作の監視及び表示のための前記手段がマルチチャネルデジタルオシロスコープを 有している請求の範囲第６９項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ７１．前記第１及び第２のユーザ応答入力手段がそれぞれ第１のプログラミング キーボード及び第２の始動数字付けされたマルチキーキーボードを有している請 求の範囲第６３項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ７２．前記第２の始動キーボードに対する有効入力を規定するための及び該第２ の始動キーボードに有効でない入力がなされた時に該プログラミング／制御シー ケンサの動作を防止するための手段を更に備えている請求の範囲第７１項に記載 のプログラミング／制御シーケンサ。 ７３．前記第２の始動キーボードに対する有効入力を規定するための手段が、該 第２の始動キーボードに対する少なくとも２個のキーの入力を検出するための手 段を有している請求の範囲第７２項に記載のプログラミング／制御シーケンサ。 ７４．前記第２の始動キーボードに対する有効入力を規定するための手段が、選 択されたキー番号が所定の数値限度を越えているときに該第２のキーボードを停 止するキー番号検出手段を更に有している請求の範囲第７３項に記載のプログラ ミング／制御シーケンサ。