JPH01312644A - 放射線環境下で使用される制御装置 - Google Patents
放射線環境下で使用される制御装置Info
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- JPH01312644A JPH01312644A JP63143796A JP14379688A JPH01312644A JP H01312644 A JPH01312644 A JP H01312644A JP 63143796 A JP63143796 A JP 63143796A JP 14379688 A JP14379688 A JP 14379688A JP H01312644 A JPH01312644 A JP H01312644A
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、放射線環境下で使用される制御装置、例えば
放射線環境下で作業するロボットに搭載される制御装置
に関するものであり、特に該制御装置の被曝した放射線
量が許容線量に達したか否かを検知し得るようにした制
御装置に関する。
放射線環境下で作業するロボットに搭載される制御装置
に関するものであり、特に該制御装置の被曝した放射線
量が許容線量に達したか否かを検知し得るようにした制
御装置に関する。
放射線環境、特に原子カプラントの中で作業するロボッ
トは、作業内容の高度化のため、ロボット本体内に制御
装置を搭載していることが多い。
トは、作業内容の高度化のため、ロボット本体内に制御
装置を搭載していることが多い。
第3図はこのようなロボット30を例示したもので、図
中、31はロボット本体内に搭載した制御装置である。
中、31はロボット本体内に搭載した制御装置である。
制御装置ff131はIC(集積回路)を主とする電子
回路から成るが、放射線被曝には弱く、被曝した集積i
IA量が多くなると制御装置31は故障を起す、制御装
置31が故障してロボットが放射線環境の中で停止する
と1人間が修理のため近づくことができないという問題
が生ずる。この問題を避けるために、故障が発生する前
に、制御装置31の修理や交換をすることが考えられて
いる。このためには制御装置31がどれ位の集積線量を
浴びたかをモニタする必要があり、このため、従来、第
3図に示す如く、ロボット30に放射線センサ32を取
り付けたり、又は作業室内部に放射線モニタ33を設置
して放射線量をモニタし、モニタした線量を基に故障発
生時期を予測してM御装置31の交換や修理を行うこと
が考えられている。制御装置31は、通常、機能別に分
割された交換可能な複数のハードウェア単位(ボード)
から構成されているので、交換や修理はそれらのボード
単位で行われる。
回路から成るが、放射線被曝には弱く、被曝した集積i
IA量が多くなると制御装置31は故障を起す、制御装
置31が故障してロボットが放射線環境の中で停止する
と1人間が修理のため近づくことができないという問題
が生ずる。この問題を避けるために、故障が発生する前
に、制御装置31の修理や交換をすることが考えられて
いる。このためには制御装置31がどれ位の集積線量を
浴びたかをモニタする必要があり、このため、従来、第
3図に示す如く、ロボット30に放射線センサ32を取
り付けたり、又は作業室内部に放射線モニタ33を設置
して放射線量をモニタし、モニタした線量を基に故障発
生時期を予測してM御装置31の交換や修理を行うこと
が考えられている。制御装置31は、通常、機能別に分
割された交換可能な複数のハードウェア単位(ボード)
から構成されているので、交換や修理はそれらのボード
単位で行われる。
ところで、M御装置の各ボードはそれを構成するICの
種類やボードの使用状態によって耐放射線性(故障する
までの被曝集積線量)が異なるものであり、また被曝集
積線量もロボットの作業環境の放射線量率の空間分布や
各ボードの過去の交換時期によってボード毎に異なるも
のである。しかるに前記従来技術では、制御装置の各ボ
ード単位での集積線量はモニタすることができず、また
各ボードの使用状態や構成ICの種類の相違を考慮でき
ないため、各ボード毎に故障発生時期の予測ができない
、このため、各ボードを一律に交換しなければならず、
経済的でないという問題がある。
種類やボードの使用状態によって耐放射線性(故障する
までの被曝集積線量)が異なるものであり、また被曝集
積線量もロボットの作業環境の放射線量率の空間分布や
各ボードの過去の交換時期によってボード毎に異なるも
のである。しかるに前記従来技術では、制御装置の各ボ
ード単位での集積線量はモニタすることができず、また
各ボードの使用状態や構成ICの種類の相違を考慮でき
ないため、各ボード毎に故障発生時期の予測ができない
、このため、各ボードを一律に交換しなければならず、
経済的でないという問題がある。
上記の点に鑑み、本発明は、放射線環境下で使用される
制御装置において、制御装置を構成する交換可能なハー
ドウェア単位(ボード)毎の放射線被曝量をモニタし、
該ハードウェア単位毎の故障発生時期の予測を可能にす
ることを目的とするものである。
制御装置において、制御装置を構成する交換可能なハー
ドウェア単位(ボード)毎の放射線被曝量をモニタし、
該ハードウェア単位毎の故障発生時期の予測を可能にす
ることを目的とするものである。
上記目的は5演算処理ユニツトを含み複数の交換可能な
ハードウェア単位をバスによって結合してなる放射線環
境下で使用される制御装置において、上記各ハードウェ
ア単位に、該ハードウェア単位の被曝集積放射線量を検
出するセンサ手段と該センサ手段の出力を前記演算処理
ユニットが読み取れる信号に変換して前記演算処理ユニ
ットに伝送する信号変換手段とを設け、前記演算処理ユ
ニットにより上記信号変換手段からの信号をモニタする
ことによって前記各ハードウェア単位の被曝集積放射線
量が該ハードウェア単位の最大許容集積放射線量に達し
たことを検知することによって達成される。
ハードウェア単位をバスによって結合してなる放射線環
境下で使用される制御装置において、上記各ハードウェ
ア単位に、該ハードウェア単位の被曝集積放射線量を検
出するセンサ手段と該センサ手段の出力を前記演算処理
ユニットが読み取れる信号に変換して前記演算処理ユニ
ットに伝送する信号変換手段とを設け、前記演算処理ユ
ニットにより上記信号変換手段からの信号をモニタする
ことによって前記各ハードウェア単位の被曝集積放射線
量が該ハードウェア単位の最大許容集積放射線量に達し
たことを検知することによって達成される。
また、前記センサ手段を、前記ハードウェア単位に用い
られているICを構成するトランジスタと同じ種類のト
ランジスタと該トランジスタの動作条件を決定する抵抗
とから構成することが好ましい。
られているICを構成するトランジスタと同じ種類のト
ランジスタと該トランジスタの動作条件を決定する抵抗
とから構成することが好ましい。
また、前記信号変換手段としては、前記センサ手段の出
力を所定の閾値と比較し、それらが一致すると前記演算
処理ユニットにインタラプト信号を伝送するコンパレー
タを用いるか、または、前記センサ手段の出力をアナロ
グ/ディジタル変換してディジタルデータとして前記バ
スを通して前記演算処理ユニットに伝送するものを用い
る。
力を所定の閾値と比較し、それらが一致すると前記演算
処理ユニットにインタラプト信号を伝送するコンパレー
タを用いるか、または、前記センサ手段の出力をアナロ
グ/ディジタル変換してディジタルデータとして前記バ
スを通して前記演算処理ユニットに伝送するものを用い
る。
上記センサはその被曝集積放射線量に対応した信号を出
力する。該センサは制御装置を構成している交換可能な
ハードウェア単位毎に組み込まれているから、該センサ
を搭載している各ハードウェア単位がどのような条件下
で放射線に曝されたものであっても、その影響を集積し
て反映することができる。該センサの出力信号が所定の
レベルに達すると、その出力信号をモニタしている信号
変換手段により制御装置の演算処理ユニットに信号が出
力され、これにより、該ハードウェア単位が故障する以
前にこれに対して交換・修理等の処置をすることができ
る。
力する。該センサは制御装置を構成している交換可能な
ハードウェア単位毎に組み込まれているから、該センサ
を搭載している各ハードウェア単位がどのような条件下
で放射線に曝されたものであっても、その影響を集積し
て反映することができる。該センサの出力信号が所定の
レベルに達すると、その出力信号をモニタしている信号
変換手段により制御装置の演算処理ユニットに信号が出
力され、これにより、該ハードウェア単位が故障する以
前にこれに対して交換・修理等の処置をすることができ
る。
以下、放射線環境下で作業するロボットに搭載されたロ
ボット用制御装置に本発明を実施した実施例を示す、第
1回は該ロボット用制御装置の構成図である。この制御
装置を構成するハードウェアの交換単位はCPUボード
1.A/D変換ボード3.D/A変換ボード4.ディジ
タル入出力ボード5の4つであり、これらはバス2で互
いに結合されている。バス2はアドレスバス、データバ
ス、インタラプト信号等を含む制御線を含んでいる。C
PUボード1は内蔵する演算処理ユニットであるCPU
IIによりメモリ12に格納されたプログラムに従って
ロボットを制御する。CPU11はメモリ12とは内部
バス8で結合されており、さらにバスインターフェース
9によってバス2と結合されている。従ってCPUI
1は、ロボットに設けられた力センサ等のアナログセン
サ14の信号をA/D変換ボード3を通して取込んだり
、ロボットの可動部の位置を検出するエンコーダ16の
信号をディジタル入出力ボード5を通して取込み、これ
らを用いて制御用演算処理を行なって、ロボットが所要
の動きをするようにロボットのモータ15をD/A変換
ボード4を介して制御することができる。
ボット用制御装置に本発明を実施した実施例を示す、第
1回は該ロボット用制御装置の構成図である。この制御
装置を構成するハードウェアの交換単位はCPUボード
1.A/D変換ボード3.D/A変換ボード4.ディジ
タル入出力ボード5の4つであり、これらはバス2で互
いに結合されている。バス2はアドレスバス、データバ
ス、インタラプト信号等を含む制御線を含んでいる。C
PUボード1は内蔵する演算処理ユニットであるCPU
IIによりメモリ12に格納されたプログラムに従って
ロボットを制御する。CPU11はメモリ12とは内部
バス8で結合されており、さらにバスインターフェース
9によってバス2と結合されている。従ってCPUI
1は、ロボットに設けられた力センサ等のアナログセン
サ14の信号をA/D変換ボード3を通して取込んだり
、ロボットの可動部の位置を検出するエンコーダ16の
信号をディジタル入出力ボード5を通して取込み、これ
らを用いて制御用演算処理を行なって、ロボットが所要
の動きをするようにロボットのモータ15をD/A変換
ボード4を介して制御することができる。
さらにCPU11はCPUボード1内に設けられた信号
変換回路7やインタラプト処理回路10と内部バス8を
介して接続されている。さらにCPUボード1内に設け
られた放射線センサ6が該信号変換回路7と接続されて
いる。
変換回路7やインタラプト処理回路10と内部バス8を
介して接続されている。さらにCPUボード1内に設け
られた放射線センサ6が該信号変換回路7と接続されて
いる。
他のボード3,4.5もCPU、メモリ、インタラプト
処理回路を除けばほぼ同様の構成であり。
処理回路を除けばほぼ同様の構成であり。
例えばA/D変換ボード3内では図示の如く放射線セン
サ6が信号変換回路7と接続され、該信号変換回路7は
内部バス8及びバスインターフェース9を介してバス2
と接続されている。ここで13はA/D変換器である。
サ6が信号変換回路7と接続され、該信号変換回路7は
内部バス8及びバスインターフェース9を介してバス2
と接続されている。ここで13はA/D変換器である。
D/A変換ボード4゜ディジタル入出力ボード5にも同
様に放射線センサ6および信号変換回路7が組み込まれ
、同様にバス2に接続されている。
様に放射線センサ6および信号変換回路7が組み込まれ
、同様にバス2に接続されている。
第2図にCPUボード1における放射線センサ旦と信号
変換回路ユの構成を示す7本実施例ではボードに使用す
るICとしてバイポーラ形トランジスタを用いた。従っ
て、放射性の影響が同じになるように放射線センサ且に
もバイポーラトランジスタ20を用いている。放射線セ
ンサ且はバイポーラトランジスタ20及び抵抗21,2
2.23から成っている。信号変換回路ユはコンパレー
タ25および可変抵抗24から成り、出力26は内部パ
ス8を介してインタラプト処理回路10に接続されてい
る。バイポーラトランシタ20の電流増幅率り2.はバ
イポーラトランシタ20に放射線が照射されると、第4
図に示すように、集積線量が増加するにつれ低下する。
変換回路ユの構成を示す7本実施例ではボードに使用す
るICとしてバイポーラ形トランジスタを用いた。従っ
て、放射性の影響が同じになるように放射線センサ且に
もバイポーラトランジスタ20を用いている。放射線セ
ンサ且はバイポーラトランジスタ20及び抵抗21,2
2.23から成っている。信号変換回路ユはコンパレー
タ25および可変抵抗24から成り、出力26は内部パ
ス8を介してインタラプト処理回路10に接続されてい
る。バイポーラトランシタ20の電流増幅率り2.はバ
イポーラトランシタ20に放射線が照射されると、第4
図に示すように、集積線量が増加するにつれ低下する。
電流槽1lIW率ht、の係は近似的に次の関係となる
。
。
K:損傷定数
φ:集積線量
従ってバイポーラトランジスタ20のh□をモニタして
いればCPUボード1に照射された集積線量がわかる。
いればCPUボード1に照射された集積線量がわかる。
第2図の放射線センサ旦においては抵抗21゜22及び
電源電圧+Vによってバイポーラトランジスタ20のベ
ースにベース電流を供給している。
電源電圧+Vによってバイポーラトランジスタ20のベ
ースにベース電流を供給している。
ベース電流をi、とするとバイポーラ1−ランジスタ2
0に流れるエミッタ電流i、は 1g=11r*1m で与えられる。従って抵抗23に発生する電圧voは抵
抗23の抵抗値をR2,とするとVzx = l z
Rz3= h ta i m R23となる。ボードが
故障しない限界線量φ5、に対応するバイポーラトラン
ジスタのh 1mをり、、1 (第4図参照)とすると
、h、6□のときの抵抗23に発生する電圧V 231
kは Vz3th= h ta、l ii3 となる。従って信号変換回路ユにおいてはコンパレータ
25の閾値Vt&を可変抵抗24を調節してvtk=v
23tkトナルヨウニシテオケハ、CPUボードに照射
された線量がφ1、となった時、コンパレータ25の出
力26から内部バス8を介して、インタラプト信号がイ
ンタラプト処理回路10に入力される。
0に流れるエミッタ電流i、は 1g=11r*1m で与えられる。従って抵抗23に発生する電圧voは抵
抗23の抵抗値をR2,とするとVzx = l z
Rz3= h ta i m R23となる。ボードが
故障しない限界線量φ5、に対応するバイポーラトラン
ジスタのh 1mをり、、1 (第4図参照)とすると
、h、6□のときの抵抗23に発生する電圧V 231
kは Vz3th= h ta、l ii3 となる。従って信号変換回路ユにおいてはコンパレータ
25の閾値Vt&を可変抵抗24を調節してvtk=v
23tkトナルヨウニシテオケハ、CPUボードに照射
された線量がφ1、となった時、コンパレータ25の出
力26から内部バス8を介して、インタラプト信号がイ
ンタラプト処理回路10に入力される。
他のボードすなわちA/D変換ボード3.D/A変換ボ
ード4.ディジタル入出力ボード5についても、これら
に内蔵される放射線センサ6、信号変換回路7の構成、
動作はほぼCPUボード1の場合と同様である。但しイ
ンタラプト処理回路10へのインタラプト信号の経路の
みが異なる。
ード4.ディジタル入出力ボード5についても、これら
に内蔵される放射線センサ6、信号変換回路7の構成、
動作はほぼCPUボード1の場合と同様である。但しイ
ンタラプト処理回路10へのインタラプト信号の経路の
みが異なる。
例えばA/D変換ボード3について説明すると、該ボー
ド3の信号変換回路7から出力されたインタラプト信号
は該ボード3の内部バス8.バスインターフェース9.
バス2.CPUボード1のインターフェース9.CPU
ボード1の内部バス8を中継してインタラプト処理回路
1oに入る。
ド3の信号変換回路7から出力されたインタラプト信号
は該ボード3の内部バス8.バスインターフェース9.
バス2.CPUボード1のインターフェース9.CPU
ボード1の内部バス8を中継してインタラプト処理回路
1oに入る。
インタラプト処理回路1oにインタラプト信号が入力さ
れると、インタラプト処理回路1oはCPUI lにイ
ンタラプトを知らせ、CPUIIはインタラプト制御プ
ログラムをスタートする。
れると、インタラプト処理回路1oはCPUI lにイ
ンタラプトを知らせ、CPUIIはインタラプト制御プ
ログラムをスタートする。
インタラプト制御プログラムのフローチャートを第5図
に示す、CPU11は、まず、交換の必要なボードがど
のボードかをインタラプト信号の出所を調べて特定する
(LL)、その結果はメモリ12に書込まれるとともに
、第1図には示されていない通信装置を使ってプラント
の中央制御室等に知らされる1次に待避行動をとる(L
2)、すなわち、ロボットが放射線環境下で作業してい
るときには作業を中止し、ロボットの格納庫等、保守作
業のできる場所までロボットを移動させる制御をする0
以上の行動により、ロボットは人の近づくのが困難な作
業場所で故障してその場に停止したままになることが防
がれ、また、これ以上放射線を浴びると故障するボード
がボード単位で特定できるので、そのボードのみを交換
することができる。
に示す、CPU11は、まず、交換の必要なボードがど
のボードかをインタラプト信号の出所を調べて特定する
(LL)、その結果はメモリ12に書込まれるとともに
、第1図には示されていない通信装置を使ってプラント
の中央制御室等に知らされる1次に待避行動をとる(L
2)、すなわち、ロボットが放射線環境下で作業してい
るときには作業を中止し、ロボットの格納庫等、保守作
業のできる場所までロボットを移動させる制御をする0
以上の行動により、ロボットは人の近づくのが困難な作
業場所で故障してその場に停止したままになることが防
がれ、また、これ以上放射線を浴びると故障するボード
がボード単位で特定できるので、そのボードのみを交換
することができる。
第2図の放射線センサ旦を用いることにより。
各ボードの使用状態に応じた放射線の影響を集積した結
果を検知することができる。すなわち、放射線によるボ
ードのICや放射線センサ旦の劣化はボードの使用状態
によって異なる。すなわち通電時の方が非通電時(電源
電圧07時)よりも劣化が大きい、またボードを7ニー
リングする(−定時間高温に保つ)と、放射線による劣
化が成る程度回復する。放射線センサ旦は各ボードに取
り付けられているので、各ボードにおけるこれらの影響
を全て集積して自動的に取り込むことができ、その結果
に基づいて前記のインタラプトを発生させることができ
る。第6図にその様子を示す。同図においてS□〜S4
は夫々ボードの状態を示し、S工は通電時(放射線あり
)、S2は非通電時(放射線あり)、S、はアニーリン
グ時(放射線なし)、S4は通電時(放射線あり)を示
す。
果を検知することができる。すなわち、放射線によるボ
ードのICや放射線センサ旦の劣化はボードの使用状態
によって異なる。すなわち通電時の方が非通電時(電源
電圧07時)よりも劣化が大きい、またボードを7ニー
リングする(−定時間高温に保つ)と、放射線による劣
化が成る程度回復する。放射線センサ旦は各ボードに取
り付けられているので、各ボードにおけるこれらの影響
を全て集積して自動的に取り込むことができ、その結果
に基づいて前記のインタラプトを発生させることができ
る。第6図にその様子を示す。同図においてS□〜S4
は夫々ボードの状態を示し、S工は通電時(放射線あり
)、S2は非通電時(放射線あり)、S、はアニーリン
グ時(放射線なし)、S4は通電時(放射線あり)を示
す。
このように、ボードの使用状態により放射線の影響が異
なっていても、また各ボードの過去の交換時期が異なる
ことによって各ボードの浴びた放射線の集積線量が異な
っていても、それらの影響は各ボードに設けられた放射
線センサに自動的に取り込まれるので、各ボー事毎に故
障発生時期を予測することができる。
なっていても、また各ボードの過去の交換時期が異なる
ことによって各ボードの浴びた放射線の集積線量が異な
っていても、それらの影響は各ボードに設けられた放射
線センサに自動的に取り込まれるので、各ボー事毎に故
障発生時期を予測することができる。
第7図は、第2の実施例として、第1図中の各ボードに
使用しているICがMOSFETである場合の該ボード
に設ける放射線センサ且及び信号変換回路−7−の構成
例を示す、放射線の影響を同じにするために第7図では
放射線センサ旦にもMOSFET40を用い、可変抵抗
41でゲート電圧を規定している。
使用しているICがMOSFETである場合の該ボード
に設ける放射線センサ且及び信号変換回路−7−の構成
例を示す、放射線の影響を同じにするために第7図では
放射線センサ旦にもMOSFET40を用い、可変抵抗
41でゲート電圧を規定している。
MOSFETは集積放射線量が多くなると閾値電圧が変
動するという特性を持っているため、放射線の影響を知
るには抵抗43の電圧をモニタしていればよい、信号変
換器−7−は第2図と同様コンパレータ45と閾値を決
める可変抵抗44とで成っており、出力46からインタ
ラプト信号を出力する。本図の放射線センサ旦を用いる
ことにより、MOSFETでできたボードのICの放射
線による影響をモニタすることができ、先の実施例と同
様の作用効果を奏することができる。
動するという特性を持っているため、放射線の影響を知
るには抵抗43の電圧をモニタしていればよい、信号変
換器−7−は第2図と同様コンパレータ45と閾値を決
める可変抵抗44とで成っており、出力46からインタ
ラプト信号を出力する。本図の放射線センサ旦を用いる
ことにより、MOSFETでできたボードのICの放射
線による影響をモニタすることができ、先の実施例と同
様の作用効果を奏することができる。
またバイポーラトランジスタとMOSFETが混在して
いるボードにおいては、第1の実施例と第2の実施例の
2種の放射線センサをボードに搭載し、そのうちの1つ
でも閾値に達したらインタラプトを発生させることによ
り正確なモニタができる。
いるボードにおいては、第1の実施例と第2の実施例の
2種の放射線センサをボードに搭載し、そのうちの1つ
でも閾値に達したらインタラプトを発生させることによ
り正確なモニタができる。
第8図は第2図の信号変換回路−7−の構成をコンパレ
ータではなくアナログ/ディジタル変換器(ADC)2
7にしたものである。ADC27の出力28は第1図に
示す内部バス8のデータバスに接続する。この実施例に
おいては、CPUI lは各ボードの放射線センサ旦の
出力値の連続的な変化をモニタすることができ、ADC
27からのデータを定期的にモニタすることにより、そ
の増分より作業中の線量率を求めることもできる。従っ
て線量率の高い場所では作業時間を短かくし、定期的に
保守点検する等の作業計画も容易に立てることができる
という効果がある。
ータではなくアナログ/ディジタル変換器(ADC)2
7にしたものである。ADC27の出力28は第1図に
示す内部バス8のデータバスに接続する。この実施例に
おいては、CPUI lは各ボードの放射線センサ旦の
出力値の連続的な変化をモニタすることができ、ADC
27からのデータを定期的にモニタすることにより、そ
の増分より作業中の線量率を求めることもできる。従っ
て線量率の高い場所では作業時間を短かくし、定期的に
保守点検する等の作業計画も容易に立てることができる
という効果がある。
なお、制御装置の各ボードでは、通常、集積度の高いC
PU、メモリ、A/D変換器、D/A変換器等のLSI
はソケットにより設置しており、容易に交換できるよう
になっている。従って、このことを利用して、LSI単
位で内部に第2図や第7図で示した放射線センサ且を設
ける実施例も可能であり、これによりLSI単位での故
障発生以前の交換が可能になる。
PU、メモリ、A/D変換器、D/A変換器等のLSI
はソケットにより設置しており、容易に交換できるよう
になっている。従って、このことを利用して、LSI単
位で内部に第2図や第7図で示した放射線センサ且を設
ける実施例も可能であり、これによりLSI単位での故
障発生以前の交換が可能になる。
本発明によれば放射線環境下で働く制御装置の交換単位
であるボード毎に放射線の影響をモニタできるので、制
御装置の交換単位毎に放射線被ばくによる故障を事前に
予測し、交換単位毎にその交換時期を知ることができる
ので、経済的に保守を行うことができる。
であるボード毎に放射線の影響をモニタできるので、制
御装置の交換単位毎に放射線被ばくによる故障を事前に
予測し、交換単位毎にその交換時期を知ることができる
ので、経済的に保守を行うことができる。
また、センサ手段として、ボード(ハードウェア)単位
に用いられているICを構成するトランジスタと同じ種
類のトランジスタと該トランジスタの動作条件を決定す
る抵抗とから構成したもの くを用いることによって、
各ボードの使用状態に応じた放射線の影響を集積した結
果を検知することができる。
に用いられているICを構成するトランジスタと同じ種
類のトランジスタと該トランジスタの動作条件を決定す
る抵抗とから構成したもの くを用いることによって、
各ボードの使用状態に応じた放射線の影響を集積した結
果を検知することができる。
また、信号変換手段として、センサ手段の出力を所定の
閾値と比較し、それらが一致すると演算処理ユニットに
インタラプト信号を伝送するコンパレータを用いること
によって、閾値をボードが故障しない限界線量に設定し
ておけば、制御装置を搭載したロボットが人の近づくの
が困難な作業場所で故障してその場に停止したままにな
ることを防止できる。
閾値と比較し、それらが一致すると演算処理ユニットに
インタラプト信号を伝送するコンパレータを用いること
によって、閾値をボードが故障しない限界線量に設定し
ておけば、制御装置を搭載したロボットが人の近づくの
が困難な作業場所で故障してその場に停止したままにな
ることを防止できる。
また、信号変換手段として、センサ手段の出力をアナロ
グ/ディジタル変換してディジタルデータとしてデータ
バスを通して演算処理ユニットに伝送するものを用いれ
ば、演算処理ユニットでは各ボードのセンサ手段の出力
値の連続的な変化をモニタすることができ、これらのデ
ータを定期的にモニタすることにより1作業中の線量率
を求めることもできる。
グ/ディジタル変換してディジタルデータとしてデータ
バスを通して演算処理ユニットに伝送するものを用いれ
ば、演算処理ユニットでは各ボードのセンサ手段の出力
値の連続的な変化をモニタすることができ、これらのデ
ータを定期的にモニタすることにより1作業中の線量率
を求めることもできる。
第1図は本発明の一実施例であるロボット用制御装置の
構成図、第2図は同実施例における放射線センサと信号
変換回路の構成図、第3図は従来のロボットにおける放
射線モニタ手段の説明図、第4図はバイポーラトランジ
スタの放射線による特性変化図、第5図は上記実施例に
おけるCPUのインタラプト制御プログラムのフローチ
ャート。 第6図は放射線センサの放射線による影響の説明図、第
7図は本発明の第2の実施例における放射線センサと信
号変換回路の構成図、第8図は同じく第3の実施例にお
ける放射線センサと信号変換回路の構成図である。 1・・・CPUボード、2・・・バス、3・・・A/D
変換ボード、4・・・D/A変換ボード、5・・・ディ
ジタル入出力ボード、6・・・放射線センサ、7・・・
信号変換回路、8・・・内部ハス、9・・・バスインタ
ーフェース。 1o・・・インタラプト処理回路、11・・・CPU、
12・・・メモリ、2o・・・バイポーラトランジスタ
。 25・・・コンパレータ、27・・・A/D変換器、4
0・・・MOSFET、45・・・コンパレータ。 特許出願人 工業技術院長 飯塚幸三 第3 図 第4−阻 委S国 芋2 図 θ 時閉 茅7目
構成図、第2図は同実施例における放射線センサと信号
変換回路の構成図、第3図は従来のロボットにおける放
射線モニタ手段の説明図、第4図はバイポーラトランジ
スタの放射線による特性変化図、第5図は上記実施例に
おけるCPUのインタラプト制御プログラムのフローチ
ャート。 第6図は放射線センサの放射線による影響の説明図、第
7図は本発明の第2の実施例における放射線センサと信
号変換回路の構成図、第8図は同じく第3の実施例にお
ける放射線センサと信号変換回路の構成図である。 1・・・CPUボード、2・・・バス、3・・・A/D
変換ボード、4・・・D/A変換ボード、5・・・ディ
ジタル入出力ボード、6・・・放射線センサ、7・・・
信号変換回路、8・・・内部ハス、9・・・バスインタ
ーフェース。 1o・・・インタラプト処理回路、11・・・CPU、
12・・・メモリ、2o・・・バイポーラトランジスタ
。 25・・・コンパレータ、27・・・A/D変換器、4
0・・・MOSFET、45・・・コンパレータ。 特許出願人 工業技術院長 飯塚幸三 第3 図 第4−阻 委S国 芋2 図 θ 時閉 茅7目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、演算処理ユニットを含み複数の交換可能なハードウ
ェア単位をバスによつて結合してなる放射線環境下で使
用される制御装置において、上記各ハードウェア単位に
、該ハードウェア単位の被曝集積放射線量を検出するセ
ンサ手段と該センサ手段の出力を前記演算処理ユニット
が読み取れる信号に変換して前記演算処理ユニットに伝
送する信号変換手段とを設け、前記演算処理ユニットに
より上記信号変換手段からの信号をモニタすることによ
つて前記各ハードウェア単位の被曝集積放射線量が該ハ
ードウェア単位の最大許容集積放射線量に達したことを
検知することを特徴とする、放射線環境下で使用される
制御装置。2、前記センサ手段は、前記ハードウェア単
位に用いられているIC(集積回路)を構成するトラン
ジスタと同じ種類のトランジスタと該トランジスタの動
作条件を決定する抵抗とからなる請求項1記載の放射線
環境下で使用される制御装置。 3、前記信号変換手段は、前記センサ手段の出力を所定
の閾値と比較し、それらが一致すると前記演算処理ユニ
ットにインタラプト信号を伝送するコンパレータである
請求項1記載の放射線環境下で使用される制御装置。 4、前記信号変換手段は、前記センサ手段の出力をアナ
ログ/ディジタル変換してディジタルデータとして前記
バスを通して前記演算処理ユニットに伝送するものであ
る請求項1記載の放射線環境下で使用される制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63143796A JPH01312644A (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | 放射線環境下で使用される制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63143796A JPH01312644A (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | 放射線環境下で使用される制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01312644A true JPH01312644A (ja) | 1989-12-18 |
JPH058453B2 JPH058453B2 (ja) | 1993-02-02 |
Family
ID=15347185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63143796A Granted JPH01312644A (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | 放射線環境下で使用される制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01312644A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012198223A (ja) * | 2005-08-26 | 2012-10-18 | Lawrence Livermore National Security Llc | 腐食を検出するための塗料、並びに、腐食、化学侵襲、及び放射性侵襲の警告方法 |
JP2013513814A (ja) * | 2009-12-15 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 放射線量に基づく撮像検出器タイルのパラメタの補償 |
-
1988
- 1988-06-13 JP JP63143796A patent/JPH01312644A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012198223A (ja) * | 2005-08-26 | 2012-10-18 | Lawrence Livermore National Security Llc | 腐食を検出するための塗料、並びに、腐食、化学侵襲、及び放射性侵襲の警告方法 |
JP2013513814A (ja) * | 2009-12-15 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 放射線量に基づく撮像検出器タイルのパラメタの補償 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH058453B2 (ja) | 1993-02-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |