JPH0129297B2 - - Google Patents

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JPH0129297B2
JPH0129297B2 JP57157691A JP15769182A JPH0129297B2 JP H0129297 B2 JPH0129297 B2 JP H0129297B2 JP 57157691 A JP57157691 A JP 57157691A JP 15769182 A JP15769182 A JP 15769182A JP H0129297 B2 JPH0129297 B2 JP H0129297B2
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JP
Japan
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dense
dense layer
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porous
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JP57157691A
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English (en)
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JPS5946738A (ja
Inventor
Junta Yamamoto
Takeshi Ichibagase
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP57157691A priority Critical patent/JPS5946738A/ja
Publication of JPS5946738A publication Critical patent/JPS5946738A/ja
Publication of JPH0129297B2 publication Critical patent/JPH0129297B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/10Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
    • H01J29/36Photoelectric screens; Charge-storage screens
    • H01J29/39Charge-storage screens
    • H01J29/45Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen
    • H01J29/451Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen with photosensitive junctions
    • H01J29/456Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen with photosensitive junctions exhibiting no discontinuities, e.g. consisting of uniform layers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 この発明は、カラーテレビジヨンカメラ等に使
用される撮像管の光電変換ターゲツトおよびその
製造方法に関するものである。 従来例の構成とその問題点 一般に、カラーテレビジヨンカメラに用いられ
るビジコン形カラー撮像管の光電変換ターゲツト
は、三硫化アンチモン(Sb2S3)からなる光導電
膜を備える。かかる光導電膜は、Sb2S3の稠密層
とSb2S3の多孔質層とを交互に積層した多層構造
となすことによつて良好な特性を得ることができ
るが、光入射によつて、生じた荷電キヤリアのう
ちの正孔がSb2S3の多孔質層に捕獲されるため、
とくに焼付、留像およびγ特性の点で満足すべき
ものではなかつた。とくに、低照度下において強
い光が入射した場合、黒に強く焼き付くので、画
質が非常に悪くなる。また、γ値が過大となりや
すく、暗所での色信号出力が不足勝ちとなる。 発明の目的 この発明は、とくに単撮像管形カラーテレビジ
ヨンカメラに組み込まれるカラー撮像管に適した
分光感度特性を有し、低照度下または中照度下に
おける焼付現象が少なく、留像特性も優れてい
て、しかも広い照明範囲下で十分な色再現性が得
られる撮像管用の光電変換ターゲツトおよびその
製造方法を提供するものである。 発明の構成 この発明の光電変換ターゲツトは、基板上に被
着形成された透明導電層と、この透明導電層上に
被着形成されたSb2S3またはSb過剰のSb2S3から
なる第1稠密層と、この第1稠密層上に被着形成
されたSb過剰のSb2S3を主成分とする第2稠密層
と、この第2稠密層上に被着形成されたSb2S3
主成分とする多孔質層と、この多孔質層上に被着
形成されたSb過剰のSb2S3を主成分とする第3稠
密層とを備えたものにおいて、前記多孔質層の
Sb濃度を前記第3稠密層側へ行くに従つて段階
的または連続的に高くしたことを特徴とするもの
であつて、その詳細および製造方法は、図示した
実施例とともに以下に詳細に詳明する。 実施例の説明 本発明を実施した光電変換ターゲツトの断面を
示す第1図において、ガラス円盤からなる基板1
は、その一方の面上に透明導電層2を有してい
る。透明導電層2は、たとえば酸化インジウム
(In2O3)をスパツタにより500Å〜1000Åの層厚
に被着形成したものであつて、透明導電層2上に
は、Sbを過剰に含んだSb2S3の第1稠密層3が被
着形成されている。第1稠密層3は、1×
10-4Torr以下の真空度のもとで形成できるが、
不純物や欠陥を含まない良好な層を得るために
は、5×10-6以下の真空度下で形成するのが好ま
しい。第1稠密層3上には、Sbを過剰に含んだ
Sb2S3からなる第2稠密層4が被着形成されてお
り、この第2稠密層4も、5×10-6Torr以下の
真空度下で形成するのが好ましい。 第1および第2稠密層3,4は、光電変換感度
に大きく寄与する感度領域であり、Sbを過剰に
添加することにより、約600nmの光波長を中心
にした広い範囲で増感作用営ませることができ
る。Sbを過剰に添加することにより、P型半導
体としての性質が強まることが実験の結果判明し
た。このため、Sb濃度の異なる2つのSb2S3領域
を接合すると、弱い整流性接合が得られる。第2
図はこの整流性接合の電圧−電流特性を示すもの
で、過剰のSbを異なる割合で添加した2領域を
接合し、添加Sbの多い方を負とする極性に直流
電圧を印加すると、その逆の極性に直流電圧を印
加した場合に比して電流が流れにくい。そして、
前記2領域のSbの濃度差が大きいほど前記整流
性の傾向が大きい。 また、第3図aに示すように、電流が流れにく
い方向へ直流電圧を印加する逆バイアスでは、前
記2領域A,Bの接合面に集中して内部電圧が発
生するのであつて、この様子を第3図bに示す。
これより明らかなように、前記2領域のSb濃度
を均一にした場合、内部に作用する電界は一様と
なるのに対し、前記2領域のSb濃度を異ならせ
た場合は、接合面に集中して電界が生じる。 このような集中電界形成領域を、光電変換部に
設けると、前記領域では、光入射により生じた荷
電キヤリアが加速される。したがつて、正負のキ
ヤリアは再結合することなく速やかに両電極に達
することになり、感度が向上する。そして、その
ためには、第1稠密層3よりも第2稠密層4の
Sb濃度を高くする必要がある。第1および第2
稠密層3,4のSb濃度の差が大きいほど内部電
界が強くなり、感度に関しては有利である。しか
し、Sbの特定波長光増感作用により、分光感度
に変化をきたすから、Sb濃度には分光感度面か
らの制約がある。 第1稠密層3は、主として青色光に対して高い
感度を有する必要があり、このためにはSbは少
ないほど有利である。しかし、N型半導体である
透明導電層2との境界を形成する目的から、第1
稠密層3のSbは71.68〜76重量%とする。また、
第2稠密層4には、第1稠密層3よりも高濃度に
Sbを含ませ、強い電界を形成するのが有利であ
るが、Sbが高濃度になりすぎると、分光感度の
ピークが赤色側へ移動し、単管式カラー撮像管の
光電変換ターゲツトに適さなくなる。このため、
第2稠密層4のSbとしては、76〜80重量%が限
度である。また、第1および第2稠密層3,4の
各層厚は、いずれが大きくても分光感度のピーク
が赤色側へ移動する。単管式カラー撮像管の光電
変換ターゲツトに使用する場合は、青色感度が高
い方が好ましいので、どちらの層厚も小さい方が
分光感度面では有利である。しかし、あまり薄す
ぎると全体の感度が低下するので、第1および第
2稠密層3,4の各層厚は100Å〜1000Åが適当
である。 第2稠密層4を形成したのち、Ar、N2、Neま
たはHe等の不活性ガス中で、Sbを過剰に含んだ
Sb2S3を蒸発、凝縮させ、Sb2S3からなる第1お
よび第2多孔質層5,6を形成する。多孔質層
5,6は密度が低いため、見かけ上の誘電率は小
さく、ターゲツト全体の静電容量が小さくなる。
また、多孔質層は、電子を通過させるが正孔を捕
獲する性質があるので、多孔質層5,6を形成し
たことにより、全体の静電容量が小さくなつて残
像特性が著しく改善され、しかも、光電変換によ
り生じた多数の正孔のうち電子走査側へ向う正孔
が吸収される。そして、光照射後にも残る正孔が
吸収されることとなり、留像現象が低減される。
しかし、多孔質層で捕獲された正孔は、透明導電
層2側へ逆電界を生じ、感度領域である第1およ
び第2稠密層3,4の電界を相殺するから、光入
射した部分の感度に低下をきたし、負の焼付現象
を生じる。また、多孔質層5,6内に捕獲された
正孔は、電子の走査側から徐々に注入される電子
と結合して消滅するから、この部分における暗電
流が減少し、低照度下において強い光が入射した
場合、強い負の焼付現象を生じる。 そこで、この発明では、Sb2S3を主体とする多
孔質層のSb濃度を均一とせず、段階的または連
続的に変化させて内部電界を生じさせ、捕獲され
た正孔を前記内部電界で引き出させることによ
り、前記焼付現象を軽減させる。すなわち、光入
射によつて光導電膜内で発生した電子および正孔
の対は、すみやかに外部へとり出さなければ、
Sb2S3を主体とする多孔層に捕獲される。電子お
よび正孔が発生する領域に電界を与えると、電子
および正孔は電極方向への力を受けて外部へとり
出される。また、捕獲された電荷は熱励起により
絶え間なく伝導帯または荷電子帯へ放出される
が、これらの再放出された電荷はすみやかにとり
出さないと、再捕獲される。この再捕獲を防ぐに
は、やはりこの領域に電界を与えておく必要があ
る。なお、多孔質層を形成する場合、真空度が1
×10-4Torr未満では完全な多孔質とならず、稠
密層に近いものとなる。また、真空度が1×
10-4Torrを越えると、多孔質性が強くなり、正
孔の通過量が減少しすぎて感度を低下させるの
で、多孔質層を形成する場合の真空度は、1×
10-4Torr〜1×10-1Torrの範囲内に設定すべき
である。ただし、前記不活性ガスにO2を添加す
ると、多孔質性が若干強くなることを考慮すべき
である。また、真空度が1×10-1Torrに近づく
と、正孔の通過量が減少するのみならず、入射光
量に対する信号の比γ値に減少をきたすことがあ
る。 したがつて真空度は、これらを勘案して設定す
る。多孔質層の層厚はγ値に影響するので、第1
および第2多孔質層5,6の各層厚は、100Å〜
4000Åの範囲から選ぶのがよい。第1多孔質層5
に比して第2稠密層4のSb濃度が高いと、第1
多孔質層5と第2稠密層4との間に内部電界が形
成されず、感度の向上が望めずに暗電流が大とな
る。また、多孔質層に多量のSbを添加すると、
Sb2S3とSbとが分離してしまう。しかしながら、
第2多孔質層6に対しては第1多孔質層5よりも
高濃度にSbを添加する必要性があるので、第1
多孔質層5における実用的なSb濃度は、Sbが76
〜80重量%である。 第2多孔質層6には、第1多孔質層5よりも高
濃度にSbを含ませる必要があり、Sb濃度は、Sb
が80〜90重量%の範囲内が適当である。 第2多孔質層6上にSbを過剰に含んだSb2S3
らなる第3稠密層7を形成するのであるが、第3
稠密層7は、第2稠密層4と同じく完全な稠密層
となすために、1×10-4Torr以下、好ましくは
5×10-6Torr以下の真空中で形成する。第3稠
密層7のSb濃度が第2多孔質層6のSb濃度より
も低いと暗電流が増大するので、第2多孔質層6
と同等またはそれ以上のSb濃度に設定する。ま
た、Sb濃度が高すぎると、Sb2S3とSbとが分離す
るので、第3稠密層7のSb添加量は80〜90重量
%が適当である。 第3稠密層7の層厚が大きすぎると、赤色感度
が若干増加する。しかし、厚すぎると残像が増加
し、逆に薄すぎると電子走査側からの電子が第1
および第2多孔質層5,6へ進入し、多孔質層の
特性が損なわれるので、第3稠密層7の層厚は
1000Å〜5000Åが適当である。 以上のようにして形成された光電変換ターゲツ
トを、真空装置内または撮像管の真空外囲器内に
封入したのち、50〜200℃の温度下で30分以上熱
処理する。この真空熱処理の所要時間は、高温下
であれば短かく、低温下であれば長く設定する。
この真空熱処理によつて、各層の接触面における
なじみが良くなり、かつ、粒子状構造に変化を生
じ、感度が向上するとともに、信号電流の不所望
な時間的変動を防ぐことができる。 第1多孔質層5と第2多孔質層6との層厚配分
を変えると、中照度下での焼付および低照度下で
の焼付のいずれか一方をとくに効果的に軽減させ
ることができる。すなわち、第1多孔質層5の層
厚比率を小さくすると、とくに中照度下での焼付
現象が軽減され、第2多孔質層6の層厚比率を小
さくすると、とくに低照度下での焼付現象が軽減
される。また、留像については、前記層厚比の大
小に関係なく、従来のものよりも軽減される。次
表は、その具体的数値例を示すものである。
【表】 いずれの測定も、パターンの撮像および光の照
射などを15秒間行なつたのちの焼付および留像を
示し、多孔質層の層厚配分を適当に選ぶと、中照
度焼付、低照度焼付および留像を従来のものより
も軽減できることが判る。とくに従来、画質を著
しく悪くしていた低照度下での焼付が効果的に改
善される。また、不活性ガスの圧力を適当に選ぶ
ことによつて、γ特性を任意に選択することがで
き、広い照度範囲下で十分な色信号をとり出すこ
とができる。したがつて、とくに単管用カラー撮
像管の光電変換ターゲツトに使用した場合、良好
な色再現特性を得ることができる。 なお、前記実施例では、多孔質層を第1および
第2の2層に形成したが、これは3層以上であつ
てもよく、また、Sb濃度を第3稠密層側へ行く
に従つて段階的に高める代りに、連続的に高めて
もよい。さらに、Sb2S3の各層に若干の不純物を
混入させてもよい。 発明の効果 この発明の光電変換ターゲツトは、前述のよう
に構成されるので、低照度下や中照度下での焼付
現象および留像現象を軽減させることができ、し
かも、良好な分光感度特性が得られるのみならず
γ特性を任意に設定できるので、とくに、カラー
撮像管に適用して広い照度範囲下で満足すべき色
信号出力をとり出すことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を実施した光電変換ターゲツ
トの断面図、第2図はSb濃度の異なる2つの
Sb2S3領域の接合面における整流特性を示す図、
第3図aは逆バイアスされた前記接合面を示す
図、第3図bは前記接合面における内部電圧を示
す図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板上に被着形成された透明導電層と、この
    透明導電層上に被着形成されたSb2S3またはSb過
    剰のSb2S3からなる第1稠密層と、この第1稠密
    層上に被着形成されたSb過剰のSb2S3を主成分と
    する第2稠密層と、この第2稠密層上に被着形成
    されたSb2S3を主成分とする多孔質層と、この多
    孔質層上に被着形成されたSb過剰のSb2S3を主成
    分とする第3稠密層とを備え、前記多孔質層の
    Sb濃度は前記第3稠密層側へいくに従つて段階
    的または連続的に高いことを特徴とする光電変換
    ターゲツト。 2 Sbが71.68〜76重量%のSb2S3を1×
    10-4Torr以下の真空中で透明導電層上に蒸着し、
    層厚が100Å〜1000Åの第1稠密層を形成する段
    階と、Sbが76〜80重量%のSb2S3を1×10-4Torr
    以下の真空中で前記第1稠密層上に蒸着し、前記
    第1稠密層よりもSb濃度が高く層厚が100Å〜
    1000Åの第2稠密層を形成する段階と、Sbが76
    〜80重量%のSb2S3を1×10-1Torr以上のガス雰
    囲気中で前記第2稠密層上に蒸着し、層厚が100
    Å〜4000Åの第1多孔質層を形成する段階と、
    Sbが80〜90重量%のSb2S3を前記ガス雰囲気中で
    前記第1多孔質層上に蒸着し、前記第1多孔質層
    よりもSb濃度が高く層厚が100Å〜4000Åの第2
    多孔質層を形成する段階と、Sbが80〜90重量%
    のSb2S3を1×10-4Torr以下の真空中で前記第2
    多孔質層上に蒸着し、層厚が1000Å〜5000Åの第
    3稠密層を形成する段階とを備えてなることを特
    徴とする光電変換ターゲツトの製造方法。
JP57157691A 1982-09-09 1982-09-09 光電変換タ−ゲツトおよびその製造方法 Granted JPS5946738A (ja)

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