JPH01287486A - テストパターンプログラム生成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリＬＳＩのテストパターンプログラム生成
装置に係勺、特にパターン出力の時間間隔を考慮したテ
ストパターンプログラム生成装置に関する。

〔従来の技術〕

従来のこの種のテストパターンプログラムの生成は人手
によシ開発されたマイクロプログラムが制御するアルゴ
リズミックパターン発生器によシ行なわれていて、テス
トパターンプログラムを記述するマイクロプログラムの
自動生成に関する例はない。なおこの種の装置に関連す
るものとしては特開昭６１−１７５５８０号公報記載の
フルゴリズミックパターン発生装置が挙げられる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術はテストパターン発生においてパターンデ
ータを出力するタイミングが重要である丸めパターンデ
ータ出力の時間間隔が規定され、したがって該規定時間
内に実行可能なパターンデータ出力命令以外のパターン
データ計算やレジスタ値設定等の命令を含むプログラム
ステップ数が制限される。このようなテストパターン生
成においてタイミングが重要であることから、命令を並
列に実行可能なマイクロプログラムが用いられているが
、しかしマイクロプログラムを直接人手によシ開発する
には複数命令を並列に実行可能であるため命令相互の干
渉等を考慮する必要があって、プログラム開発に熟練を
、要するうえ工数がかかるという問題があった。

本発明の目的は高級言語で記述したテストパターンプロ
グラムからマイクロプログラムで記述されたテストパタ
ーンプログラムを生成する装置において、メモリＬＳＩ
のテストタイミング仕様を満たすテストパターンプログ
ラムを自動生成するテストパターンプログラム生成装置
を提供するＫある。

〔課題を解決するための手段〕 上記目的は、メモリＬＳＩの電気的テストが電気的信号
の系列であるテストパターンをパターン毎にある規則に
従ってアドレスを変えながら各アドレスを与えて行われ
るため、高級言語記述によるテストパターンプログラム
がＬＳＩのアドレスをループ制御変数としたループ構造
主体となっておシ、このような高級言語で記述したテス
トパターンプログラムを構文解析して高級言語の実行ス
テップ順に各命令と同じ動作をするマイクロプログラム
の命令に置き換えることＫよってマイクロプログラムで
記述したテストパターンプログラムを自動生成する装置
において、上記命令を置き換える翻訳のさいに高級言語
プログラム中の演算命令等で使用される可能性のあるレ
ジスタが必ず初期値を設定するため、その結果として不
要なレジスタ値設定命令が生成されるとともに、１つの
レジスタが２種類以上の設定値で使用される場合等には
使用する演算の近くの前で設定するため、演算がループ
内にある時にはループの外で一度設定すれば済むレジス
タ設定命令も繰返し実行することなどがＬＳＩのテスト
タイミング仕様を満たさない原因の１つになる点に着目
して、これを改善スヘ＜自動生成されたテストパターン
プログラムをマイクロプログラムメモリ上で実行順にス
テップを捜しながらレジスタ値設定命令ステップを検出
するレジスタ設定命令ステップ検出ブロックを設けると
ともに、テストパターンプログラムの実行ステップ順に
先頭から値設定と演算等のレジスタ操作命令が出現した
レジスタに関するレジスタ使用状態の情報によシ上記検
出されたレジスタ値設定命令ステップの要不要を決定す
る機能をもつレジスタ使用状態判定ブロックと、ここで
不要と判定されたレジスタ値設定命令ステップを削除す
る不要ステップ削除ブロックとを設けたテストパターン
プログラム生成装置によ）達成される。

〔作用〕

上記テストパターンプログラム生成装置は、高級言語で
記述されたテストパターンプログラムに機械的な翻訳を
施した結果生成されたマイクロプログラムからマイクロ
プログラムメモリ上で実行順にステップを捜しながらレ
ジスタ値設定命令ステップ検出ブロックでレジスタ値設
定命令ステップを検出し、検出されたレジスタ値設定命
令ステップからレジスタ使用状態判定ブロックで着目し
ている検出ステップ値を設定しているレジスタがそれ以
降のステップで使用されているかどうかＫよシネ要なレ
ジスタ値設定命令ステップかどうかを判定し、不要なス
テップと判定された場合には不要ステップ削除ブロック
で不要ステップを削除することＫよシ、このような不要
レジスタ値設定命令ステップの削除結果からメモリＬＳ
Ｉのテストタイミング仕様を満たさないテストパターン
プログラムを生成することがなくなシ、メモリＬＳＩの
テストタイミング仕様を満たすテストパターンプログラ
ムが自動生成される。

〔実施例〕 以下に本発明の一実施例を第１図から第８図によシ説明
する。

第８図は本発明によるテストパターンプログラム生成装
置で生成されるプログラムを使用するパターン発生器を
含むテスタ（テストパターン発生装置）の一実施例を示
す全体構成図である。第８図において、１０はテストコ
ントローラ、１１はタイミング発生器、１２はパターン
発生器、１３ｉｔテｘ）パターンプログラム（命令メモ
リ）８．１４はプロセッサ、１５は出力レジスタ、１６
は波形形成回路、１７は被試験メモリである。この構成
でテスタ（テストパターン発生装置）のパターン発生器
１２はテスタコントローラ１０によって起動され、パタ
ーン発生器１２のプロセッサ１４は本発明によシ生成さ
れたテストパターンプログラム（命令メモリ）１３の命
令に従って算出したテストパターンをタイミング発生器
１１の発生する基本クロックに従って出力レジスタ１５
に出力し、出力レジスタ１５はテストパターンのアドレ
スとデータ等を波形形成回路１６に出力する。

出力されたアドレスとデータ等の信号はテスタコントロ
ーラ１０の命令によシ選択した波形を波形形成回路で合
成され、被試験メモリ１７に対してアドレスやデータ等
のテスト信号パターンとじて出力される。

第２図は本発明によるテストパターンブーグラム生成装
置の一実施例を示すシステム構成図である。第２図にお
いて、１はテストパターンプログラム（高級言語記述）
、２はコンパイラ部、３はマイクロプログラムメモリ、
４は本発明の一部である不要レジスタ設定命令削除部、
８はテストパターンプログラム（マイクロプログラム記
述）である。この構成で、システムに入力された高級言
語で記述されたテストパターンプログ２ム１はコンパイ
ラ部２でマイクロプログラムに翻訳されて、不要レジス
タ設定命令削除部４中のマイクロプログラムメモリ５に
入力され、不要レジスタ設定命令削除ｉＫマイクロプロ
グラムで記述されたテストパターンプログラム８に出力
される。

第１図は第２図の本発明の要部である不要レジスタ設定
命令削除部４の一実施例を示すブロック図である。第１
図において、１は高級言語で記述したテストパターンプ
ログラム、２はコンパイラ部、３はマイクロプログラム
メモリ、４は本発明の要部である不要レジスタ設定命令
削除部、５はレジスタ設定命令ステップ検出ブロック、
６はレジスタ使用状態判定ブロック、７は不要ステップ
削除ブロックである。この構成で、高級言語で記述され
たテストパターンプログラム１をコンパイラ部２で機械
的な置換えＫよシマイクロプログラムに変換した結果が
マイクロプログラムメモリ３に出力される。この不要レ
ジスタ設定命令削除部４中のマイクロプログラムメモリ
３上で、レジスタ設定命令ステップ検出ブロック５がレ
ジスタ設定命令ステップを検出し、この検出されたレジ
スタ設定命令ステップに対してレジスタ使用状態判定ブ
ロック６で該設定したレジスタが他で使用されているか
判定するととによ）該レジスタ設定命令ステップが不要
かを判定し、検出されたレジスタ設定命令ステップが不
要である場合には該ステップを不要ステップ削除ブロッ
ク７で不要ステップとして削除する。

第３図は第１図の不要レジスタ設定命令削除部４のレジ
スタ設定命令ステップ検出ブロック５で検出するマイク
ロプログラムメモリ３内のマイクロプログラムのコマン
ドタイ、プの相違の説明図である。第３図において、３
１は演算命令系コマンドで、演算命令系のコマンドタイ
プ、カウンタ、命令等と演算指定部からなる。３２はレ
ジスタ値設定命令系コマンドで、レジスタ値設定命令系
のコマンドタイプ、カウンタ、命令等とレジスタ塩、値
指定部からなる。

第４図は第１図の不要レジスタ設定命令削除部４のレジ
スタ使用状態判定ブロック６ＩＣおいてレジスタの状態
や検出ステップ番号等をレジスタの使用状態の判定のた
めに記憶しておく情報記憶領域の詳細説明図である。９
４図において、６１はレジスタ情報領域で、その時点ま
でに使用状態を調べたことのあるレジスタ名称を登録し
て保存しておく。６２は検出ステップ情報領域で、検出
されたレジスタ設定命令ステップのステップ番条と、値
を設定しているレジスタ塩と、そのレジスタの状態とを
記憶する。６３は調査ステップ情報領域で、調査ステッ
プで調査対象のステップ番号と、コマンドタイプと、検
出ステップで値を設定している着目レジスタの調査ステ
ップでの使用状態とを記憶する。

第５図は第１図の不要レジスタ設定命令削除部４のレジ
スタ使用状態判定ブロック６内でレジスタの使用状態を
判定するためのレジスタ使用状態判定規準の表の説明図
である。第５図において、６４はレジスタ使用状態判定
規準表で、検出されたステップの設定レジスタ状態と、
調査ステップのコマンドタイプと、調査ステップのレジ
スタ使用状態とＫよシ、５つのＱｊｌｌｉｅｌ　１〜５
に分類される。ｏａｓｅｌはそれぞれ初期値設定、レジ
スタ設定命令系、使用、ｃａｓｅ　２は初期値設定、演
算系、使用、ｃａｓｅ　３は使用中、レジスタ設定命令
系、使用、Ｃａ１３６４は使用中、演算系、使用、Ｃａ
８６５は調査ステップの使用状態が未使用の場合である
。

第６図は第１図の不要レジスタ設定削除部４の不要レジ
スタ設定削除処理の概略流れ図である。

第６図において、まず入力されたマイクロプログラムは
マイクロプログラムメモリ３に格納されておシ、レジス
タ設定命令検出ブロック５は実行ステップ中に検出する
ステップがあるか判断して（ステップ６０１　）、検出
ステップがない場合には処理を終了し、検出ステップが
ある間はマイクロプログラム中の命令を実行順に調べて
レジスタ値設定命令系コマンド３２（第３図）のレジス
タ値設定命令ステップを検出する（ステップ６０２）。

ここでレジスタ設定命令ステップが検出された場合には
レジスタ設定命令ステップ検出ブロック５はレジスタ使
用状態判定ブロック６内の検出ステップ情報領域６２（
第４図）へ検出したステップ番号と値を設定しているレ
ジスタ塩とを記憶させる。この記憶したレジスタ塩をレ
ジスタ情報領域６１（第４図）の登録しであるレジスタ
塩と照合して検出ステップのレジスタ塩が登録済みか判
断しくステップ６０５）、登録済みの場合には当該レジ
スタは調査済みであるので検出ステップ番号に＋１して
次ステツプを検出ステップとしくステップ６１０）、ス
テップ６０１に戻って次のレジスタ値設定命令ステップ
の検出を試み、未登録のレジスタ塩の場合にはレジスタ
情報領域６１にレジスタ塩を登録するとともに、検出ス
テップ情報領域６２のレジスタの状態を初期値設定圧す
る（ステップ６０４　）、ついで検出ステップの次ステ
ツプ（ｖＩ４Ｉ４デステップあるか判断しくステップ６
０５）、次ステツプがない場合には検出ステップ番号に
＋１して次ステツプを検出ステップとしくステップ６１
０）、ステップ６０１に戻る０次ステップがある場合に
は調査ステップ情報領域６３（第４図）に次ステツプの
調査対象ステップ番号と、コマンドタイプと、新たに登
録した着目レジスタの次ステツプでの使用状態とを記憶
させる。

つぎにレジスタ使用状態判定ブロック６は検出ステップ
情報領域６２０着目レジスタの使用状態と、調査ステッ
プ情報領域６３のコマンドタイプと着目レジスタの使用
状態とを調べ、レジスタ使用状態判定規準表６４（第５
図）Ｋ従い５つのｏａｓｅに分類して処理を行い、不要
と判明した検出ステップは不要ステップ削除ブロック７
で削除される（ステップ６０６）。ついでｃａｓｅ　５
で々いか判断しくステップ６０７）、ｏａｓａ　５でな
い場合には調査ステップ番号を＋１して調査ステップの
次ステツプを調査ステップとしく６０８）、ステップ６
ｏ５ＫＭり、Ｃａ５ｅ　５の場合には調査ステップ番号
を−ＩＫして（ステップ６０９）、ステップ６０５に戻
る。

第７図は第６図の不要レジスタ設定削除部４の不要レジ
スタ設定削除処理のステップ６０６のレジスタ使用状態
判定ブロック６のレジスタ使用状態判定処理を中心とす
る詳細流れ図である。第７図において、まずステップ６
０５（第６図）で次ステツプ（ｖ４査ステップ）がある
場合には、新九に登録した着目レジスタを次ステツプ（
調査ステップ）で使用しているか否か使用状態を調査す
るとともＫ（ステップ７０１）、次ステツプ（調査ステ
ップ）のステップ番号とコマンドタイプとを調べ（ステ
ップ７０２　）、それらを調査ステップ情報領域６３（
第４図）Ｋ記憶させる。ついでレジスタ使用状態判定ブ
ロック６は検出ステップ情報領域６２の着目レジスタの
使用状態と、調査ステップ情報領域６３のコマンドタイ
プと着目レジスタの使用状態とをレジスタ使用状態判定
規準表（第５図）に従って５つのｃａｓｅ　Ｋ分類する
。

まずｃａｍｅ　１を判断して（ステップ７０４　）　、
ｃａｓｅｌの場合には、検出ステップのレジスタ状態が
初期値設定、調査ステップのコマンドタイプがレジスタ
設定命令系、調査ステップのレジスタ使用状態が使用の
場合であって、レジスタに初期値を設定後に、−度も使
用せずに、別な値の設定を行っているので、検出ステッ
プのレジスタ設定命令は不要と判定される。そこでレジ
スタ使用状態判定ブロック６は不要ステップ削除ブロッ
ク７に不要と判明した検出ステップのレジスタ設定命令
のステップ番号を送シ、不要ステップ削除ブロック７で
検出ステップの削除を実行しくステップ７ｏ９）、調査
ステップに＋１して調査ステップを検出ステップに置き
換え（ステップ７１３　）、ステップ７０１に戻って次
ステツプ以降についてレジスタ使用状態の判定を試みる
。ついでｃａｓｅ　２を判断して（ステップ７０５）、
ｃａｓｅ　２の場合には、検出ステップのレジスタ状態
が初期値設定、調査ステップのコマンドタイプが演算系
、調査ステップのレジスタ使用状態が使用の場合であっ
て、レジスタの初期値設定後に１最初のレジスタ使用で
あるので、検出ステップ情報領域６２のレジスタ状態を
使用中としくステップ７１０）、調査ステップの次ステ
ツプを調査ステップとして（ステップ７１３）、ステッ
プ７０１に戻って次ステツプ以降の判定を試みる。つい
でｃａｓｅ　３を判断して（ステップ７０６）、ｃａｍ
ｅ５の場合には、検出ステップが使用中、調査ステップ
のコマンドタイプがレジスタ設定命令系、調査ステップ
のレジスタ使用状態が使用の場合であって、レジスタ初
期値設定し、−回以上レジスタを使用後に、またレジス
タ値を設定しているので、検出ステップ情報領域６２の
レジスタ状態を初期値設定としくステップ７１１）、調
査ステップの次ステツプを調査ステップとして（ステッ
プ７１３）、ステップ７０１に戻って次ステツプ以降の
判定を試みる。ついでｃａｓｅ　４を判断して（ステッ
プ７０７　）、ｃａｍｅ４の場合には、検出ステップの
レジスタ状態が使用中、調査ステップのコマンドタイプ
が演算系、調査ステップのレジスタ使用状態が使用の場
合であって、レジスタ初期値設定後に、−回以上レジス
タを使用し、再度調査ステップでレジスタを使用してい
るので、調査ステップの次ステツプを調査ステップとし
て（ステップ７１３　）、ステップ７０１に戻って次ス
テツプ以降の判定を試みる。

ついでｃａｓｅ　５を判断して（ステップ７０８）、ｃ
ａｓｅ　５の場合には、調査ステップのレジスタ使用状
態が未使用の場合であって、レジスタ初期設　。

定径に一度も使用せずに実行ステップを終るので、検出
ステップは不要レジスタ設定命令ステップであると判定
される。そこでレジスタ使用状態判定ブロック６は不要
ステップ削除ブロック７＆Ｃ先のレジスタ設定命令のス
テップ番号を送シ、不要ステップ削除ブロック７で検出
ステップの削除を実行しくステップ７１２）、調査ステ
ップを−１として（ステップ７１４）、ステップ６０５
（第６図）に戻って、次のレジスタ設定命令ステップの
検出を試み、実行ステップ中に検出するステップがなく
なった場合には処理を終了する。

〔発明の効果〕

本発明によれば、高級言語で記述し九テストパターンプ
ログラムからマイクロプログラムで記述したテストパタ
ーンプログラムを自動生成する装置において、不要レジ
スタ設定命令を削除するととＫよシメモリＬＳＩのテス
トタイミング仕様を満たすテストパターンプログラムが
生成できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストパターンプログラム生成装
置の一実施例を示す不要レジスタ設定命令削除部のブロ
ック図、第２図は同じくシステム構成図、第５図は第１
図（第２図）のマイクロプログラムのコマンドタイプの
相違の説明図、第４図は第１図レジスタ使用状態判定プ
ｐツク内の情報記憶領域の詳細説明図、第５図は第１図
のレジスタ使用状態判定ブロックのレジスタ使用状態判
定規単衣の説明図、第６図は第１図の不要レジスタ設定
削除処理部の不要レジスタ設定削除処理の概略流れ図、
第７図は第６図のレジスタ使用状態判定ブロックのレジ
スタ使用状態判定処理を中心とした詳細流れ図、第８図
は本発明に係るテストパターン発生装置の一実施例を示
す全体構成図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、高級言語で記述したテストパターンプログラムを構
   文解析し、高級言語の命令と同じ動作をするマイクロプ
   ログラムの命令に実行順に置き換えを行うことにより、
   マイクロプログラムで記述したテストパターンプログラ
   ムを自動生成するシステムにおいて、マイクロプログラ
   ム化したテストパターンプログラムを格納するマイクロ
   プログラムメモリと、マイクロプログラムメモリ上でレ
   ジスタ設定命令ステップを検出するレジスタ設定命令ス
   テップ検出ブロックと、検出したレジスタ設定命令ステ
   ップのレジスタ設定が必要であるか判定するレジスタ使
   用状態判定ブロックと、不要と判定されたレジスタ設定
   命令ステップを削除する不要ステップ削除ブロックとを
   設け、不要のレジスタ設定命令ステップを削除したマイ
   クロプログラムで記述したテストパターンプログラムを
   生成することを特徴とするテストパターンプログラム生
   成装置。