JPH01276592A - Manufacture of multi-color display thin film el element - Google Patents

Manufacture of multi-color display thin film el element

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Publication number
JPH01276592A
JPH01276592A JP63104297A JP10429788A JPH01276592A JP H01276592 A JPH01276592 A JP H01276592A JP 63104297 A JP63104297 A JP 63104297A JP 10429788 A JP10429788 A JP 10429788A JP H01276592 A JPH01276592 A JP H01276592A
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JP
Japan
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film
insulating film
light emitting
films
insulating
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Pending
Application number
JP63104297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruki Ozawaguchi
小沢口 治樹
Noriyoshi Yamauchi
山内 規義
Yasuaki Tamura
保暁 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication of JPH01276592A publication Critical patent/JPH01276592A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a multi-color display thin film EL element containing a luminous film made of an alkaline earth metal by continuously overlapping and forming insulating films and luminous films, performing photo-etching processing and lift-off processing on both films, and plane-arranging luminous films. CONSTITUTION:The first insulating film 25 is formed on a glass substrate 26 and a transparent electrode film 24, the first luminous film 26 and the second insulating film 27 are overlapped and formed on it. A photo-resist pattern 28 is formed on the insulating film 27 by photo-etching, the second insulating film 27 and the first luminous film 26 are etched using it as a mask, the second luminous film 29 is formed on the remaining photo-resist pattern 28 and the first insulating film 25. The first - fourth insulating films 25, 27, 30 and the first - third luminous films 26, 29, 32 are aligned with no gap and without being overlapped each other. After the third luminous film 32 is photo-etched, the fifth insulating film 34 is formed, a back electrode 35 made of an Al film is formed on the insulating film 34, photo-etching processing is performed in a fine line pattern. A thin film EL element is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複数の色を用いた表示が可能な薄膜EL素子
の製造方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a method of manufacturing a thin film EL element capable of displaying a plurality of colors.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

情報社会の発達にともない、表示端末装置の重要性が高
まっている。特に、薄形で軽量な平面形表示装置の実現
が強く望まれており、このため、各種方式の平面形表示
装置の研究開発が盛んに行われている。中でも、薄膜E
L(エレクトロルミネセンス)素子は、全固体形デバイ
スであるため信頼性が高く、自己発光形で表示品質がす
ぐれている、などの利点を有し、将来の平面形表示装置
の最有力候補になり得ると期待されている。
With the development of the information society, the importance of display terminal devices is increasing. In particular, there is a strong desire to realize a flat display device that is thin and lightweight, and for this reason, various types of flat display devices are actively researched and developed. Among them, thin film E
L (electroluminescent) elements have advantages such as being highly reliable as they are all-solid-state devices, and are self-luminous and have excellent display quality, making them the most promising candidates for future flat display devices. It is expected that it will become possible.

薄膜EL素子は、原理的には第9図に示すような構造の
ものであって、ガラスなどの透明性基板1上に発光中心
となるマンガン(M n )や希土類金属(Tb、 S
m、 Tm、 Pr、Dy、 Eu、 Ce)を添加し
た硫化亜鉛(ZnS)あるいはセレン化亜鉛(ZnSe
) 、硫化ストロンチウム(SrS)、硫化カルシウム
(CaS)、硫化バリウム(BaS)などの発光膜2と
、絶縁性を保持する目的で設けた絶縁膜3を、透明電極
膜4と金属電極膜5とで挾みサンドインチ状に構成され
ている。このように構成された素子において、上記透明
電極膜4と金属電極膜5との間に交流電界を印加すると
、上記発光膜2が発光し、透明性基板1の外側からカラ
ー表示として観察される。そして、上記透明型WA膜4
および金属電極膜5を細線状に加工し1、線順次で電界
を印加していけば、高精細な文字や図形が表示できる。
In principle, a thin film EL element has a structure as shown in FIG. 9, in which manganese (M n ) or rare earth metals (Tb, S
Zinc sulfide (ZnS) or zinc selenide (ZnSe) added with m, Tm, Pr, Dy, Eu, Ce)
), a luminescent film 2 made of strontium sulfide (SrS), calcium sulfide (CaS), barium sulfide (BaS), etc., and an insulating film 3 provided for the purpose of maintaining insulation, are combined with a transparent electrode film 4 and a metal electrode film 5. It is made up of a sandwich in the shape of an inch. In the element configured in this manner, when an alternating current electric field is applied between the transparent electrode film 4 and the metal electrode film 5, the light emitting film 2 emits light, which is observed as a color display from the outside of the transparent substrate 1. . Then, the transparent WA film 4
If the metal electrode film 5 is processed into a thin line shape 1 and an electric field is applied line by line, high-definition characters and figures can be displayed.

表示色は発光膜2の母体材料とそれに添加された物質に
よって決まり、ZnS膜にMn、 Tb、Sm、 To
+を添加した場合は、それぞれ黄色、緑色、赤色、青色
に発光し、また、SrS膜にCe、Euを添加した場合
は、それぞれ青色、緑色に発光する。さらに、発光膜母
体材料にCaS膜を用い、これにCe、Euを添加した
場合は、それぞれ緑色、赤色に発光することが知られて
いる。しかしながら、各種の発光色の材料は出揃ってき
ているが、現在実用化されているものは、ZnS膜にM
nを添加した発光膜を用いた黄色発光の単色表示素子だ
けである。これは、多色表示薄膜EL素子について、構
成材料の開発と並んで製造に関する鍵である素子構成や
製造工程が確立されていないためである。
The display color is determined by the base material of the light-emitting film 2 and the substances added to it.
When + is added, the light is emitted in yellow, green, red, and blue, respectively, and when Ce and Eu are added to the SrS film, the light is emitted in blue and green, respectively. Furthermore, it is known that when a CaS film is used as a light-emitting film host material and Ce and Eu are added thereto, the film emits green and red light, respectively. However, although materials with various luminescent colors have become available, the one currently in practical use is a ZnS film with M
It is only a monochromatic display element that emits yellow light using a light-emitting film doped with n. This is because, in addition to the development of constituent materials, the device configuration and manufacturing process, which are key to manufacturing, have not been established for multicolor display thin film EL devices.

従来、提案されている2色以上の発光を同一の素子で実
現させる方法としては、つぎに記す2つの方法がある。
Conventionally, there are two methods described below as methods for realizing light emission of two or more colors using the same element.

第1の方法は、Y、 0ishi、 T、 Kato 
and Y。
The first method is Y, Oishi, T, Kato
and Y.

Hamakawaのテクニカル・ダイジェスト・オブ。Hamakawa's technical digest of.

1983 ・ジャパン・デイスプレィ(Technic
alDigest of 1983 Japan Di
splay) p、570 (1983)に述べられて
いるような、異なる発光色の素子を重ねる方法である。
1983 ・Japan Display (Technic
alDigest of 1983 Japan Di
This is a method of stacking elements of different luminescent colors, as described in Spray) p., 570 (1983).

第10図は上記方法で製造した薄膜EL素子の断面図で
ある。第10図において、6はガラス基板、7は第1の
透明電極膜、8は第1の絶縁膜、9は第1の発光膜、1
0は第2のyAa膜、IIは第2の透明電極膜、12は
第3の絶縁膜、13は第2の発光膜、14は第4の絶縁
膜、そして[5は背面電極である。
FIG. 10 is a cross-sectional view of a thin film EL device manufactured by the above method. In FIG. 10, 6 is a glass substrate, 7 is a first transparent electrode film, 8 is a first insulating film, 9 is a first light emitting film, 1
0 is the second yAa film, II is the second transparent electrode film, 12 is the third insulating film, 13 is the second light emitting film, 14 is the fourth insulating film, and [5 is the back electrode.

また、第2の方法は1発明者らが関係する出願であるが
、特願昭61−211940号公報に記載されている方
法である。上記方法は第11図に示すように、ガラス基
板16上に透明電極膜17および第1の絶縁膜18を順
次形成したのち、上記第1の絶縁膜18上に形成された
第1の発光膜19を、硝酸を主体とする酸系エツチング
液を用いた湿式ホトエツチング工程によりパタン加工し
、ついで、ホトレジスhを残した状態で第2の発光膜2
0を形成し、リフ1〜オフ工程によりパタン加工し、さ
らに続いて第2の絶縁膜21および背面電極22を順次
形成することによって、最終的に2種類以上の発光膜を
同−鎖板上に平面配列させた構造を実現しようとするも
のである。
The second method is a method filed by one of the inventors and is described in Japanese Patent Application No. 1983-211940. As shown in FIG. 11, the above method includes sequentially forming a transparent electrode film 17 and a first insulating film 18 on a glass substrate 16, and then forming a first light emitting film formed on the first insulating film 18. 19 is patterned by a wet photoetching process using an acidic etching solution mainly containing nitric acid, and then the second light emitting film 2 is formed with the photoresist h remaining.
0 is formed, patterned through the riff 1 to off steps, and then the second insulating film 21 and the back electrode 22 are sequentially formed to finally form two or more types of light emitting films on the same chain plate. The aim is to realize a structure in which the elements are arranged in a plane.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記第1の方法は、電極を外部回路に接続するための電
極取出しが著しく複雑になることと、即動回路の構成が
著しく複雑になることなどの欠点を有しており、実用的
な表示装置に適用することは困難である。さらに、上記
方法を用いてフルカラー表示に必要な3種類の発光色(
赤、緑および青)の素子を積層して、高精細な表示が可
能な多色表示薄膜EL素子を構成することは、電極を外
部に取出すための有効な手段がないため不可能といえる
The first method described above has the disadvantages that the electrode extraction for connecting the electrode to an external circuit becomes extremely complicated, and the configuration of the immediate action circuit becomes extremely complicated. It is difficult to apply it to devices. Furthermore, using the above method, the three types of emitting colors necessary for full color display (
It is impossible to construct a multicolor display thin film EL element capable of high-definition display by stacking red, green, and blue elements because there is no effective means for taking out the electrodes to the outside.

一方、上記第2の方法は、素子を発光させるために電気
を給電する電極配線が基本的には単色薄膜EL素子と同
じであって構成が容易であること、ホトエツチングとリ
フトオフとを併用したセルフアライメント工程であるた
め、パタンずれを起すことなく高精細な発光画素作製が
できること、また、フルカラー表示のための3種類の発
光膜の配列および電極取出しも問題ないなどの利点があ
り。
On the other hand, in the second method, the electrode wiring for supplying electricity to make the device emit light is basically the same as that of a monochromatic thin film EL device, so the structure is easy, and the second method is a self-emitting method that uses a combination of photoetching and lift-off. Since it is an alignment process, it has the advantage that high-definition light-emitting pixels can be manufactured without pattern misalignment, and there is no problem in arranging three types of light-emitting films and taking out electrodes for full-color display.

上記第1の方法に較べすぐれた多色表示薄膜EL素子の
構成法といえる。しかしながら、上記第2の方法もつぎ
のような問題点があり、完成された方法とはいえない。
This method can be said to be superior to the first method described above for constructing a multicolor display thin film EL element. However, the second method has the following problems, and cannot be said to be a perfect method.

第1にSrS、CaSなどのアルカリ土類系発光膜は青
色や赤色ELとしてはZnS系発光膜よりも発光効率が
高く、近年有望な多色表示薄膜EL素子材料として期待
されているが、これらの材料は水分との反応性が高くか
つ酸化しやすいので、上記材料を用いて多色表示薄膜E
L素子を作製しようとする場合に、発光膜に直接レジス
トを塗布して露光、現像を行う上記第2の方法は、上記
ホトエツチング工程の途中で発光膜が酸化し劣化してし
まうので適用できず、したがって、使用材料が限定され
るという問題がある。また第2として、薄膜EL素子は
絶縁膜や電極と接する発光層界面が発光特性に重要な寄
与をしていることは周知の事実であるが、上記第2の方
法は、ホトレジストを発光膜に直接塗布し、加熱処理や
剥離処理を行う方法であるため、発光膜と絶縁膜との界
面が汚染し、その結果、発光特性の劣化を招くという問
題点があった。
First, alkaline earth-based light-emitting films such as SrS and CaS have higher luminous efficiency than ZnS-based light-emitting films as blue and red EL, and have recently been expected to be promising materials for multicolor display thin-film EL elements. Since these materials have high reactivity with moisture and are easily oxidized, the above materials can be used to produce multicolor display thin films E.
When attempting to manufacture an L element, the second method described above, in which a resist is applied directly to the light-emitting film, exposed and developed, cannot be applied because the light-emitting film oxidizes and deteriorates during the photo-etching process. Therefore, there is a problem that the materials used are limited. Secondly, it is a well-known fact that in thin-film EL devices, the interface of the emissive layer in contact with the insulating film and electrodes makes an important contribution to the luminescent properties. Since this method involves direct coating and heat treatment and peeling treatment, there is a problem in that the interface between the light emitting film and the insulating film is contaminated, resulting in deterioration of the light emitting characteristics.

本発明は、上記の各課題を解決し、アルカリ土類系の発
光膜を含む多色表示薄膜EL素子も実現可能とする製造
方法を得ることを目的とする。
An object of the present invention is to solve each of the above-mentioned problems and to obtain a manufacturing method that makes it possible to realize a multicolor display thin film EL element including an alkaline earth-based light emitting film.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的は、まず、絶縁膜と発光膜とを重ねて連続形成
したのち、上記両方の膜についてホトエツチング加工と
リフトオフ加工を行って、上記発光膜を平面配列した構
造に薄膜EL素子を作製することによって達成できる。
The above purpose is to first sequentially form an insulating film and a light-emitting film, and then perform photo-etching and lift-off processing on both films to fabricate a thin film EL element with a structure in which the light-emitting films are arranged in a plane. This can be achieved by

〔作  用〕[For production]

本発明の製造工程を示す第1図ないし第7図について説
明する。第1図において、ガラス基板23上に透明電極
膜24を形成したのち、これらガラス基板23および透
明電極膜24の上面に第1の絶縁膜25を形成する。上
記第1の絶縁膜25としては、酸系のエツチング液に耐
性があるTa205膜5M203膜、Si、N、膜、S
io、膜およびこれらの膜を組合わせた膜を使用するこ
とができる。つぎに、上記第1の絶縁膜25の上面に1
例えばCe添加5rS(以下SrS : Ceと記す)
からなる第1の発光膜26を電子ビーム蒸着法、MOC
VD法あるいはスパッタリング法などによって形成する
。つぎに引続いて、第2の絶縁膜27をCVD法あるい
はスパッタリング法により上記発光膜26上に形成する
。上記第2の絶縁膜27の材料としては、そのホトエツ
チング加工には水を使用しないドライエツチングが好ま
しいため、ドライ加工が容易な薄膜材料、例えばSi、
N4.Sio2が望ましい。つぎにホトエツチング工程
によって第2の絶縁膜27上にホトレジストパタン28
を形成し、該ホトレジストパタン28をマスクとして第
2の絶縁膜27と第1の発光膜26をエツチングし、第
1図に示すような断面の構造を得る。ここで、第2の絶
縁膜27のエツチングは弗酸をベースにした液体に浸漬
することによっても行えるが、ガラス基板23の浸食等
を防止し、第2の絶縁膜27だけを選択的に、かつ制御
性よく行うには、CF4.C4F、などのガスプラズマ
を用いたドライエツチングが最も望ましい。また、第1
の発光膜26のエツチングは塩素を含むガス、すなわち
、CF4とCQ2との混合気体やct42F2、CCL
、 BCR,、SiCハなどのガス中でのプラズマ放電
を用いたドライエツチング法が最適である。
1 to 7 showing the manufacturing process of the present invention will be explained. In FIG. 1, after a transparent electrode film 24 is formed on a glass substrate 23, a first insulating film 25 is formed on the upper surfaces of the glass substrate 23 and the transparent electrode film 24. The first insulating film 25 includes a Ta205 film, a 5M203 film, a Si film, a N film, and an S film, which are resistant to acid-based etching solutions.
io, membranes and combinations of these membranes can be used. Next, on the upper surface of the first insulating film 25,
For example, Ce-added 5rS (hereinafter referred to as SrS: Ce)
The first light emitting film 26 consisting of
It is formed by a VD method, a sputtering method, or the like. Subsequently, a second insulating film 27 is formed on the light emitting film 26 by a CVD method or a sputtering method. As for the material of the second insulating film 27, a thin film material that can be easily dry-processed, such as Si,
N4. Sio2 is desirable. Next, a photoresist pattern 28 is formed on the second insulating film 27 by a photoetching process.
The second insulating film 27 and the first light emitting film 26 are etched using the photoresist pattern 28 as a mask to obtain a cross-sectional structure as shown in FIG. Here, the second insulating film 27 can also be etched by immersing it in a hydrofluoric acid-based liquid, but in order to prevent the glass substrate 23 from being eroded, etching only the second insulating film 27 can be done selectively. And to perform with good controllability, use CF4. Dry etching using gas plasma such as C4F is most desirable. Also, the first
The etching of the luminescent film 26 is performed using a gas containing chlorine, that is, a mixed gas of CF4 and CQ2, ct42F2, CCL.
A dry etching method using plasma discharge in a gas such as , BCR, or SiC is optimal.

その他に硝酸を主体とし、これにエツチング速度を調整
するため燐酸、酢酸、およびこれに水を加えた混合液、
あるいは塩酸をエツチング液とした湿式エツチング法も
、絶縁膜27が十分な界面保護効果を発揮しているので
使用することができる。
In addition, a mixture containing nitric acid as the main ingredient, phosphoric acid, acetic acid, and water to adjust the etching rate;
Alternatively, a wet etching method using hydrochloric acid as an etching liquid can also be used since the insulating film 27 exhibits a sufficient interface protection effect.

つぎに、ホトレジストパタン28が残された状態で、上
記の残留ホトレジストパタン28および第1の絶縁膜2
5上に、例えばEu添加CaS (CaS :Eu)膜
からなる第2の発光膜29を、電子ビーム蒸着法、スパ
ッタリング法あるいはMOCVD法により形成し、つい
で、例えばSi3N4.3i○2膜などからなる第3の
絶縁膜30をCVD法あるいはスパッタリング法によっ
て形成し、第2図に示すような構造を得る。
Next, with the photoresist pattern 28 remaining, the remaining photoresist pattern 28 and the first insulating film 2 are removed.
A second light-emitting film 29 made of, for example, an Eu-doped CaS (CaS:Eu) film is formed on the film by electron beam evaporation, sputtering, or MOCVD, and then a second light-emitting film 29 made of, for example, a Si3N4.3i○2 film is formed on the film. A third insulating film 30 is formed by CVD or sputtering to obtain a structure as shown in FIG.

ついで、上記のような処理を施したガラス基板23をレ
ジスト剥離液に浸漬し、ホトレジストパタン28を除去
することにより上記第2の発光膜29と第3の絶縁膜3
0をリフトオフ加工して、第3図に示すような構造を得
る。この工程によって、ガラス基板23上に第1の発光
膜26と第2の発光膜29とを、間隙なくかつ重ね合う
ことなく配列することができる。
Next, the glass substrate 23 treated as described above is immersed in a resist stripping solution to remove the photoresist pattern 28, thereby removing the second light emitting film 29 and the third insulating film 3.
0 is subjected to lift-off processing to obtain a structure as shown in FIG. Through this step, the first light emitting film 26 and the second light emitting film 29 can be arranged on the glass substrate 23 without any gaps and without overlapping each other.

つぎに、上記の第2および第3の絶縁膜27.30上に
ホトエツチング工程によってホトレジストパタン31を
形成し、その後、上記第1図に示したパタンを形成する
際に、第2の絶縁膜27と第1の発光膜26とをホトエ
ツチング加工した方法と同様な手法により、第2の絶縁
膜27と第3の絶縁膜30とのいずれか一方または両方
、および第1の発光膜26と第2の発光膜29とのいず
れか一方または両方を、エツチングして第4図に示すよ
うな構造を得る。つづいて、第1の絶縁膜25およびホ
トレジストパタン31上に、スパッタリング法、MOC
VD法あるいは電子ビーム法によって、例えばCe添加
CaS (CaS : Ce)からなる第3の発光膜3
2と、例えばSi3N4.5in2膜などからなる第4
の絶縁膜33をCVD法あるいはスパッタリング法で形
成し、第5図に示すような構造を得る。
Next, a photoresist pattern 31 is formed on the second and third insulating films 27 and 30 by a photoetching process, and then, when forming the pattern shown in FIG. By photo-etching the second insulating film 27 and the third insulating film 30, or both of the second insulating film 27 and the third insulating film 30, and the first light-emitting film 26 and the second The structure shown in FIG. 4 is obtained by etching one or both of the light emitting film 29 and the light emitting film 29. Subsequently, on the first insulating film 25 and the photoresist pattern 31, sputtering method, MOC
A third light-emitting film 3 made of, for example, Ce-doped CaS (CaS:Ce) is formed by a VD method or an electron beam method.
2 and a fourth film made of, for example, Si3N4.5in2 film.
An insulating film 33 is formed by CVD or sputtering to obtain a structure as shown in FIG.

上記のような処理を施したガラス基板23をレジスト剥
離液に浸漬してホトレジストパタン31を除去すること
により、上記第3の発光膜32をリフトオフ加工して第
6図に示すような構造を得る。この工程により、ガラス
基板23上に第1の発光膜26と第2の発光膜29、さ
らに第3の発光膜32とを、互いに間隙なくかつ重ね合
うことなく配列することができる。
By immersing the glass substrate 23 treated as described above in a resist stripping solution to remove the photoresist pattern 31, the third light emitting film 32 is subjected to a lift-off process to obtain a structure as shown in FIG. 6. . Through this step, the first light emitting film 26, the second light emitting film 29, and the third light emitting film 32 can be arranged on the glass substrate 23 without any gaps and without overlapping each other.

つぎに、第2ないし第3、第4の絶縁膜27.30.3
3のそれぞれの上面に、第5の絶縁膜34を形成する。
Next, the second to third and fourth insulating films 27.30.3
A fifth insulating film 34 is formed on the upper surface of each of the electrodes 3.

上記第5のMA縁膜34としては、Ta2O,膜、Al
120.膜、Si3N4膜、S io2膜およびこれら
の膜を組合わせた膜を使用することができる。なお、第
5の絶縁膜34は第2、第3、第4の絶縁膜があるので
、必ずしも必要としない。しかし、第2、第3の発光膜
29.32をホトエツチング工程そのリフ1〜オフを容
易に行うためには第2、第3、第4の絶縁膜27.30
.33は膜厚を1100n以下にすることが好ましいの
で、素子耐圧を上げる観点から、第3の発光膜32をホ
トエツチング加工後、第5の絶縁膜34を入れる方がよ
い。最後に、上記第5の絶縁膜34の上面に、例えば薄
膜からなる背面電極35を形成し、細線パタンにホトエ
ツチング加工することによって、第7図に示すような断
面を有する薄膜EL素子が完成し、その製造工程は完了
する。
The fifth MA edge film 34 includes Ta2O, film, Al
120. membranes, Si3N4 membranes, Sio2 membranes, and combinations of these membranes can be used. Note that the fifth insulating film 34 is not necessarily required since there are second, third, and fourth insulating films. However, in order to easily carry out the photo-etching process of the second and third light emitting films 29.32 and the riff 1 to off process, the second, third and fourth insulating films 27.30
.. 33 preferably has a film thickness of 1100 nm or less, so from the viewpoint of increasing the device breakdown voltage, it is better to insert the fifth insulating film 34 after photoetching the third light emitting film 32. Finally, a back electrode 35 made of, for example, a thin film is formed on the upper surface of the fifth insulating film 34 and photoetched into a fine line pattern, thereby completing a thin film EL element having a cross section as shown in FIG. , its manufacturing process is completed.

ここで、前記のように本発明の詳細な説明する中で、発
光膜の例としてあげたSrS : Ce膜、CaS :
 Eu膜、およびCaS : Ce膜は、いずれも水分
と反応して酸化劣化を起しやすい性質がある。
Here, as mentioned above, in the detailed explanation of the present invention, the SrS:Ce film, CaS:
Both the Eu film and the CaS:Ce film have the property of reacting with moisture and easily causing oxidative deterioration.

したがって、これらの膜を用いた薄膜EL素子はホトエ
ツチング工程に耐えられないため、従来知られていた方
法では高精細な多色表示素子としては製造できなかった
。しかしながら、上記の本発明方法、すなわち、これら
の薄膜上にさらに絶縁膜を形成し、かつ、プラズマ放電
を利用したドライエツチングによって加工する方法をと
れば、何ら劣化を招くことなくこれらの発光膜のホトエ
ツチング加工が可能になり、第7図に示すように3種類
の発光膜で構成された多色表示素子を製造することがで
きる。
Therefore, thin film EL devices using these films cannot withstand the photo-etching process, and therefore cannot be manufactured as high-definition multicolor display devices using conventionally known methods. However, if the method of the present invention described above is used, that is, a method in which an insulating film is further formed on these thin films and processed by dry etching using plasma discharge, these light emitting films can be processed without causing any deterioration. Photoetching processing becomes possible, and a multicolor display element composed of three types of light emitting films can be manufactured as shown in FIG.

上記第7図に示す薄膜EL素子によると、透明電極24
と背面電極35との間に交流電界を印加することによっ
て、SrS : Ce1lTAからなる第1の発光膜2
6は青色に、CaS : Eu膜からなる第2の発光膜
29は赤色に、CaS:Ce膜からなる第3の発光膜3
2は緑色に発光する。したがって、上記構成の薄膜EL
素子によれば3原色の発光が得られるので、各発光膜か
ら出る発光強度を、印加する電圧によって調節すれば8
色以上の多色表示を実現することができる。
According to the thin film EL device shown in FIG. 7 above, the transparent electrode 24
By applying an alternating current electric field between and the back electrode 35, the first light emitting film 2 made of SrS:
6 is blue, the second light emitting film 29 made of CaS:Eu film is red, and the third light emitting film 3 made of CaS:Ce film is shown in red.
2 emits green light. Therefore, the thin film EL with the above configuration
Since the device can emit light in three primary colors, the intensity of light emitted from each light-emitting film can be adjusted by adjusting the applied voltage.
It is possible to realize multi-color display with more than one color.

なお、発光膜26,29.32は上記した材料だけに限
定されるわけではなく、例えば、赤色発光膜としてはS
m添加ZnS (ZnS : Sm) 、青色発光膜と
してはTm添加ZnS (ZnS : Tm) 、緑色
発光膜としてはTb添加ZnS (ZnS : Tb)
なども使用することができる。なお、発光膜としてZn
S膜を用いた層については、ZnS膜は湿式ホトエツチ
ング加工を行っても急激な劣化を起さないので、特願昭
61−211940号に開示された方法、すなわち、発
光膜上に絶縁膜を連続形成せずに、ホトエツチング工程
を通して発光膜のパタン加工を行ってもよい。また、発
光膜を2種類にしても、3色以上の表示が可能な多色表
示素子が実現できる。
Note that the light-emitting films 26, 29, and 32 are not limited to the above-mentioned materials; for example, as a red light-emitting film, S
m-doped ZnS (ZnS: Sm), Tm-doped ZnS (ZnS: Tm) for the blue light-emitting film, and Tb-doped ZnS (ZnS: Tb) for the green light-emitting film.
etc. can also be used. Note that Zn is used as a light emitting film.
Regarding the layer using the S film, since the ZnS film does not undergo rapid deterioration even when wet photoetching is performed, the method disclosed in Japanese Patent Application No. 61-211940, that is, forming an insulating film on the light emitting film, is used. The light-emitting film may be patterned through a photo-etching process instead of being formed continuously. Further, even if two types of light emitting films are used, a multicolor display element capable of displaying three or more colors can be realized.

上記2種類の発光膜で構成された素子を作製するには、
上記第1図から第6図に示した製造途中工程のうち、第
4図、第5図および第6図に関する製造工程を省いて行
えばよい。
To fabricate an element composed of the above two types of light emitting films,
Of the manufacturing steps shown in FIGS. 1 to 6 above, the manufacturing steps related to FIGS. 4, 5, and 6 may be omitted.

〔実施例〕〔Example〕

つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図ないし第6図は本発明による多色表示薄膜EL素
子の製造工程をそれぞれ示す断面図、第7図および第8
図は上記製造工程によって作製した薄膜EL素子の実施
例をそれぞれ示す素子断面図である。
1 to 6 are cross-sectional views showing the manufacturing process of a multicolor display thin film EL device according to the present invention, and FIGS.
The figures are device cross-sectional views showing examples of thin film EL devices manufactured by the above manufacturing process.

第1実施例 第1図において、ガラス基板23としては厚さ1.2+
aの商品名NA40ガラス(HOYA社製)を用い、上
記ガラス基板23上に膜厚1100nのITO(錫添加
酸化インジュウム、In2O,:Sn)透明電極膜24
を高周波スパッタリング法により形成し、ホトエツチン
グ加工により細線状の電極構造とした。
In FIG. 1 of the first embodiment, the glass substrate 23 has a thickness of 1.2+
A transparent electrode film 24 of ITO (tin-added indium oxide, In2O, :Sn) with a film thickness of 1100 nm is formed on the glass substrate 23 using NA40 glass (manufactured by HOYA), which is a trade name of a.
was formed by high-frequency sputtering, and a thin wire-like electrode structure was formed by photoetching.

つぎに、高周波スパッタリング法で膜厚200nmのT
a、O,膜と、電子サイクロトロン共鳴(ECR)CV
D法で膜厚1100nのSL、N4膜を順次積層し、第
1の絶縁膜25を形成した。ついで、電子ビーム蒸着法
により膜厚600nmのSrS : Ce膜からなる第
1の発光膜26とECR−CVD法により膜厚1100
nのSi3N4膜からなる第2の絶縁膜27を順次形成
し、ポジ型レジスト(商品名マイクロポジット1400
−27)を用いてホトレジストパタン28を形成し、そ
の後、まずCF、ガスを用いたプラズマによりSL、N
、膜27をドライエツチングし、ついでCCf12F2
ガスを用いたプラズマによりSrS :Ce膜26をエ
ツチング加工した。この時のドライエツチング加工条件
は、放電電力200〜300W、ガス流量50〜150
secn+、圧力0.5〜1.5Torr、処理温度4
0℃〜80℃、処理時間10分以内が適当であった。
Next, a T film with a thickness of 200 nm was made by high-frequency sputtering method.
a, O, membrane and electron cyclotron resonance (ECR) CV
The first insulating film 25 was formed by sequentially stacking SL and N4 films with a film thickness of 1100 nm using the D method. Next, a first light-emitting film 26 made of an SrS:Ce film with a film thickness of 600 nm is formed by electron beam evaporation, and a film with a film thickness of 1100 nm is formed by ECR-CVD.
A second insulating film 27 made of a Si3N4 film of n is sequentially formed, and a positive resist (trade name Microposit 1400
-27) to form a photoresist pattern 28, and then first SL, N
, dry etching the film 27, then CCf12F2
The SrS:Ce film 26 was etched by plasma using gas. The dry etching processing conditions at this time were: discharge power 200-300W, gas flow rate 50-150W.
secn+, pressure 0.5 to 1.5 Torr, processing temperature 4
A temperature of 0°C to 80°C and a treatment time of 10 minutes or less were suitable.

なお、SrS : Ce膜のエツチングについては湿式
エツチングも行ったが、これによってもパタン加工はで
きた。この際のエツチング液の組成は、塩酸濃度が10
〜20重量%の希塩酸が最適であった。
Note that wet etching was also performed for etching the SrS:Ce film, and patterning was also possible with this method. The composition of the etching solution at this time is that the concentration of hydrochloric acid is 10
~20% by weight dilute hydrochloric acid was optimal.

つぎにホトレジストパタン28を残したままで、電子ビ
ーム蒸着法により膜厚600nmのCaS:Euからな
る第2の発光膜29とECR−CVD法により膜厚11
00nのSi、N4膜30を順次形成した。つぎに、ガ
ラス基板23をレジスト剥離液(商品名マイクロポジッ
トリムーバ140)に浸漬し、さらに超音波を印加する
ことによりホトレジストパタン28を除去して、第2の
発光膜であるCaS : Eu膜29と第3の絶縁膜3
0をホトエツチング工程いで、商品名マイクロポジット
1400−27を用いてホトレジストパタン31を形成
し、第1の発光膜26と第2の絶縁膜27とをエツチン
グ加工したときと同じ要領で、第2の発光膜29と第3
の絶縁膜30をホトエツチング加工した。つぎに、ホト
レジストパタン31を残したままで、電子ビーム蒸着法
により膜厚600nmのCaS : Ceからなる第3
の発光膜32と、ECR−CVD法により第4の絶縁膜
としてSL、N4膜33を形成し、つづいてガラス基板
23をレジスト剥離液(商品名マイクロポジットリムー
バ140)に浸漬し、さらに超音波を印加することによ
り、ホトレジストパタン31を除去して第3の発光膜3
2と第4のMa膜33をホトエツチング加工した。
Next, while leaving the photoresist pattern 28, a second light-emitting film 29 made of CaS:Eu with a film thickness of 600 nm is formed by electron beam evaporation, and a film with a film thickness of 11 nm is formed by ECR-CVD.
00n Si and N4 films 30 were sequentially formed. Next, the glass substrate 23 is immersed in a resist stripping solution (trade name: Microposit Remover 140), and the photoresist pattern 28 is removed by applying ultrasonic waves to form a CaS:Eu film 29, which is a second light emitting film. and third insulating film 3
A photoresist pattern 31 is formed using Microposit 1400-27 (trade name) in a photoetching process, and a second photoresist pattern 31 is formed in the same manner as when the first light emitting film 26 and the second insulating film 27 are etched. The light emitting film 29 and the third
The insulating film 30 was photoetched. Next, while leaving the photoresist pattern 31, a third film made of CaS:Ce with a thickness of 600 nm is formed by electron beam evaporation.
SL, N4 film 33 is formed as a fourth insulating film by the ECR-CVD method, and then the glass substrate 23 is immersed in a resist stripping solution (trade name: Microposit Remover 140), and then subjected to ultrasonic wave treatment. By applying , the photoresist pattern 31 is removed and the third light emitting film 3
The second and fourth Ma films 33 were photoetched.

つぎに、高周波スパッタリング法により膜厚300 n
 mのTa205膜からなる第5の絶詠膜34を形成し
、つづいて膜厚200nmのM背面電極膜35を形成し
、さらに上記M背面電極膜35を細線状にホトエツチン
グ加工して、第7図に示すような断面構造の′gi、膜
EL素子を完成させた。
Next, a film thickness of 300 nm was obtained by high-frequency sputtering method.
A fifth insulating film 34 made of a Ta205 film with a thickness of 200 nm is formed, followed by an M back electrode film 35 with a film thickness of 200 nm, and the M back electrode film 35 is photoetched into a thin line shape. A film EL device with a cross-sectional structure as shown in the figure was completed.

上記第7図に示す薄膜EL素子において、透明電極膜2
4と成背面電極膜35との間に、周波数1kHzの交流
電圧150■を印加したところ、第1.第2、第3の発
光膜26.29.32はそれぞれ200cd 7m2以
上の輝度で青、赤、緑色に発光した。また、電極膜24
と35とにおいて、電圧印加個所を適当に選択し、発光
膜26.29.32からの発光色を混合して観測するこ
とにより、青色、水色、緑色、黄色、赤色、ピンク色、
白色の合計7色の発光表示を行うことができた。また、
ホトエツチング工程に起因する薄膜の剥離や、エツチン
グ液の浸透による薄膜の溶解などによる素子の故障は全
く生じなかった。
In the thin film EL device shown in FIG. 7 above, the transparent electrode film 2
When an AC voltage of 150 cm with a frequency of 1 kHz was applied between the back electrode film 35 and the back electrode film 35, the first. The second and third light-emitting films 26, 29, and 32 each emitted blue, red, and green light with a luminance of 200 cd 7 m2 or more. In addition, the electrode film 24
and 35, by appropriately selecting the voltage application points and observing the mixed colors of the emitted light from the light emitting films 26, 29, 32, blue, light blue, green, yellow, red, pink,
A total of 7 colors of light emitting display including white could be performed. Also,
There was no failure of the device due to peeling of the thin film due to the photoetching process or dissolution of the thin film due to penetration of the etching solution.

第2実施例 ガラス基板23として厚さ1 、2 +m+の商品名7
059ガラス(コーニング社製)を用い、ガラス基板2
3上に膜厚1100nのIT○透明電極膜24を高周波
スパッタリング法により形成し、ホトエツチング加工に
より細線状の電極構造とした。つぎに、高周波スパッタ
リング法で膜厚200nmのTa205膜とECR−C
VD法で膜厚1100nのSi3N4膜を順次積層し、
第1の絶縁膜25を形成した。ついで、電子ビーム蒸着
法により膜厚600nmのSrS : Ce膜からなる
第1の発光膜26と、ECR−CVD法により膜厚11
00nのSL、N4膜とからなる第2の絶縁膜27を順
次形成した。つぎに、ポジ型レジスト(商品名マイクロ
ポジット1400−27)を用いてホトレジス)・パタ
ン28を形成し、その後はまずCF4ガスを用いたプラ
ズマにより5L3N、膜27をドライエツチングし、つ
いでCF4ガスに塩素を50%の濃度で混合したガスを
用いたプラズマにより、 SrS : Ce膜26をエ
ツチング加工した。この時のドライエツチングの加工条
件は放電電力200〜300W、ガス流量5050−1
50se、圧力0.5〜1.5Torr、処理温度40
℃〜80℃、処理時間10分以内が適当であった。なお
、SrS : Ce膜のエツチングについては。
Second Example Glass substrate 23 with thickness 1, 2 + m+, product name 7
Glass substrate 2 using 059 glass (manufactured by Corning)
An IT◯ transparent electrode film 24 having a film thickness of 1100 nm was formed on the substrate 3 by high frequency sputtering, and a thin wire-like electrode structure was formed by photoetching. Next, a Ta205 film with a thickness of 200 nm and an ECR-C
Si3N4 films with a film thickness of 1100 nm were sequentially laminated using the VD method,
A first insulating film 25 was formed. Next, a first light-emitting film 26 made of an SrS:Ce film with a film thickness of 600 nm was formed by electron beam evaporation, and a film with a film thickness of 11 nm was formed by ECR-CVD.
A second insulating film 27 consisting of a 00n SL film and an N4 film was sequentially formed. Next, a photoresist pattern 28 is formed using a positive resist (trade name Microposit 1400-27), and then the 5L3N film 27 is first dry etched using plasma using CF4 gas, and then the film 27 is etched using CF4 gas. The SrS:Ce film 26 was etched by plasma using a gas mixed with chlorine at a concentration of 50%. The dry etching processing conditions at this time are discharge power 200 to 300W, gas flow rate 5050-1
50se, pressure 0.5-1.5 Torr, processing temperature 40
C. to 80.degree. C. and treatment time within 10 minutes was appropriate. Regarding the etching of the SrS:Ce film.

湿式エツチングも行ったがこれでもパタン加工ができた
。この際のエツチング液は、硝酸濃度が2〜50重量%
の硝酸、燐酸、酢酸、およびこれらの水との混合液を用
いた。
I also used wet etching, but was able to create a pattern even with this method. The etching solution at this time has a nitric acid concentration of 2 to 50% by weight.
Nitric acid, phosphoric acid, acetic acid, and a mixture of these with water were used.

つぎに、ホトレジストパタン28を残したままで、電子
ビーム蒸着法により、膜厚700nmのMn添加ZnS
 (ZnS : Mn)からなる第2の発光膜29を形
成した。そして、ガラス基板23をレジスト剥離液(商
品名マイクロポジットリムーバ140)に浸漬し、さら
に超音波を印加することによりホトレジストパタン28
を除去して、第2の発光膜であるZnS:Mn膜29を
ホトエツチング加工した。
Next, while leaving the photoresist pattern 28, a Mn-doped ZnS film with a thickness of 700 nm is deposited by electron beam evaporation.
A second light emitting film 29 made of (ZnS:Mn) was formed. Then, the glass substrate 23 is immersed in a resist stripping liquid (trade name: Microposit Remover 140), and ultrasonic waves are applied to remove the photoresist pattern 28.
was removed, and the ZnS:Mn film 29, which is the second light emitting film, was photoetched.

その後、高周波スパッタリング法により膜厚300nm
のTa205膜からなる第3の絶縁膜34を形成し、つ
づいて膜厚200nmの成育面電極35を形成し。
After that, a film thickness of 300 nm was formed by high frequency sputtering method.
A third insulating film 34 made of a Ta205 film is formed, followed by a growth surface electrode 35 having a film thickness of 200 nm.

さらに細線状にホトエツチング加工することによって、
第8図に示すような断面構造の薄膜EL素子を完成させ
た。
Furthermore, by photoetching into fine lines,
A thin film EL device with a cross-sectional structure as shown in FIG. 8 was completed.

上記薄膜EL素子において、透明電極膜24とM背面電
極膜35との間に、周波数1kHzの交流電圧150v
を印加したところ、第1および第2の発光膜26および
29はそれぞれ200cd/rrr以上の輝度で、青色
および黄色に発光した。また、電極膜24と35とにお
いて、電圧印加個所を適当に選択し、発光膜26および
29からの発光色を混合して観測することにより、青色
、黄色、白色の3色表示を行うことができた。また、ホ
トエツチング工程に起因する薄膜の剥離や、エツチング
液の浸透による薄膜の溶解などの素子故障は全く生じな
かった。
In the thin film EL element, an AC voltage of 150 V with a frequency of 1 kHz is applied between the transparent electrode film 24 and the M back electrode film 35.
When this was applied, the first and second light-emitting films 26 and 29 each emitted blue and yellow light with a luminance of 200 cd/rrr or more. In addition, by appropriately selecting the voltage application points in the electrode films 24 and 35 and observing the mixed colors of the emitted light from the light emitting films 26 and 29, it is possible to perform a three-color display of blue, yellow, and white. did it. Moreover, no element failures such as peeling of the thin film caused by the photoetching process or dissolution of the thin film due to penetration of the etching solution occurred.

なお、上記薄膜EL素子の製造方法は、あくまで本発明
の一実施例であって2本発明の主旨を逸脱しない範囲で
、種々の変更や改善を行うことができるのはいうまでも
ない。
It should be noted that the method for manufacturing a thin film EL element described above is merely one embodiment of the present invention, and it goes without saying that various changes and improvements can be made without departing from the spirit of the present invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上記のように本発明による多色表示薄膜EL素子の製造
方法は、透明な絶縁基板上に配設された複数の帯状透明
電極と、該透明電極上に直接あるいは絶縁膜を介して3
種類の発光膜を形成し、さらに上記各発光膜上に絶縁膜
を介して背面電極を配設した多色表示薄膜EL素子の製
造方法において、第1の発光膜と絶縁膜とを連続して積
層形成する第1の工程と、上記第1の発光膜と絶縁膜と
をホトエツチングによりパタン加工する第2の工程と、
上記ホトエツチングに用いたホトレジストを残した状態
で、上記基板上に第2の発光膜と絶縁膜とを連続して形
成する第3の工程と、上記ホトレジストを除去すること
により上記第2の発光膜と絶縁膜とをリフトオフ加工す
る第4の工程と、上記第1および第2の発光膜と絶縁膜
の少なくとも一方を、ホトエツチングによりパタン加工
する第5の工程と、該第5の工程で用いたホトレジスト
を残した状態で、上記基板上に第3の発光膜と絶縁膜と
を連続して形成する第6の工程と、上記第5の工程で使
用したホトレジストを除去することにより、上記第3の
発光膜と絶縁膜とをリフトオフ加工する第7の工程とを
含むことにより、従来の多色表示薄膜EL素子の製造に
関する問題点を解決し、カラーEL材料として近年とく
に注目されているSrS、CaSなどのアルカリ土類系
発光膜を含む多色表示7N、膜EL素子をも実現できる
から、本発明による製造方法により高精細なフルカラー
平面形表示装置を薄膜EL素子で実現できるという効果
がある。なお、透明電極上に2種類の発光膜を形成して
多色表示薄膜EL素子を製造する場合も、本発明の製造
方法によって同様の効果を得ることができる。
As described above, the method for manufacturing a multicolor display thin film EL element according to the present invention includes a plurality of band-shaped transparent electrodes disposed on a transparent insulating substrate, and three strip-shaped transparent electrodes disposed on a transparent insulating substrate, and three
In the method for manufacturing a multicolor display thin film EL device, in which different types of light emitting films are formed, and a back electrode is further disposed on each of the light emitting films via an insulating film, the first light emitting film and the insulating film are continuously formed. a first step of forming a layer, a second step of patterning the first light emitting film and the insulating film by photoetching;
a third step of successively forming a second light emitting film and an insulating film on the substrate while leaving the photoresist used in the photoetching; and a third step of forming a second light emitting film and an insulating film on the substrate; a fourth step of lift-off processing the first and second light emitting films and the insulating film; a fifth step of patterning at least one of the first and second light emitting films and the insulating film by photo-etching; A sixth step of successively forming a third light-emitting film and an insulating film on the substrate while leaving the photoresist; and removing the photoresist used in the fifth step; SrS, which has attracted particular attention in recent years as a color EL material, solves the problems associated with the production of conventional multicolor display thin film EL elements. Since it is also possible to realize a multi-color display 7N and film EL element containing an alkaline earth light emitting film such as CaS, the manufacturing method of the present invention has the effect of realizing a high-definition full-color flat display device using a thin film EL element. . Note that the same effect can be obtained by the manufacturing method of the present invention when a multicolor display thin film EL element is manufactured by forming two types of light emitting films on a transparent electrode.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第6図は本発明による多色表示薄膜EL素
子の各製造工程をそれぞれ示す断面図。 第7図は上記製造工程により製造した多色表示薄膜EL
素子の第1実施例を示す素子断面図、第8図は上記薄膜
EL素子の第2実施例を示す素子断面図、第9図は薄膜
EL素子の原理を説明する断面図、第10図は上記薄膜
EL素子の一従来例を示す素子断面図、第11図は上記
薄膜EL素子の他の従来例を示す素子断面図である。 23・・・絶縁基板     24・・・帯状透明電極
25・・・第1の絶縁膜   26・・・第1の発光膜
27・・・第2の絶縁膜   29・・・第2の発光膜
30・・・第3の絶縁膜   32・・・第3の発光膜
35・・・背面電極 特許出原人 日本電信電話株式会社
1 to 6 are cross-sectional views showing each manufacturing process of a multicolor display thin film EL device according to the present invention. Figure 7 shows a multicolor display thin film EL manufactured by the above manufacturing process.
FIG. 8 is a cross-sectional view of the device showing the first embodiment of the device, FIG. 8 is a cross-sectional view of the device showing the second embodiment of the thin film EL device, FIG. 9 is a cross-sectional view explaining the principle of the thin film EL device, and FIG. FIG. 11 is an element sectional view showing one conventional example of the thin film EL element, and FIG. 11 is an element sectional view showing another conventional example of the thin film EL element. 23... Insulating substrate 24... Band-shaped transparent electrode 25... First insulating film 26... First light emitting film 27... Second insulating film 29... Second light emitting film 30 ...Third insulating film 32...Third light emitting film 35...Back electrode patent originator Nippon Telegraph and Telephone Corporation

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 1. 透明な絶縁基板上に配設された複数の帯状透明電
極と、該透明電極上に直接あるいは絶縁膜を介して3種
類の発光膜を形成し、さらに上記各発光膜上に絶縁膜を
介して背面電極を配設した多色表示薄膜EL素子の製造
方法において、第1の発光膜と絶縁膜とを連続して積層
形成する第1の工程と、上記第1の発光膜と絶縁膜とを
ホトエッチングによりパタン加工する第2の工程と、上
記ホトエッチングに用いたホトレジストを残した状態で
、上記基板上に第2の発光膜と絶縁膜とを連続して形成
する第3の工程と、上記ホトレジストを除去することに
より上記第2の発光膜と絶縁膜とをリフトオフ加工する
第4の工程と、上記第1および第2の発光膜と絶縁膜の
少なくとも一方を、ホトエッチングによりパタン加工す
る第5の工程と、該第5の工程で用いたホトレジストを
残した状態で、上記基板上に第3の発光膜と絶縁膜とを
連続して形成する第6の工程と、上記第5の工程で使用
したホトレジストを除去することにより、上記第3の発
光膜と絶縁膜とをリフトオフ加工する第7の工程とを含
むことを特徴とする多色表示薄膜EL素子の製造方法。
1. A plurality of band-shaped transparent electrodes are arranged on a transparent insulating substrate, three types of light emitting films are formed on the transparent electrodes either directly or through an insulating film, and further on each of the light emitting films is formed with an insulating film interposed therebetween. A method for manufacturing a multicolor display thin film EL device provided with a back electrode includes a first step of successively laminating a first light emitting film and an insulating film; a second step of patterning by photoetching; a third step of successively forming a second light emitting film and an insulating film on the substrate while leaving the photoresist used in the photoetching; a fourth step of lifting off the second light emitting film and the insulating film by removing the photoresist; and patterning at least one of the first and second light emitting films and the insulating film by photoetching. a fifth step; a sixth step of successively forming a third light emitting film and an insulating film on the substrate while leaving the photoresist used in the fifth step; A method for manufacturing a multicolor display thin film EL device, comprising a seventh step of lifting off the third light emitting film and the insulating film by removing the photoresist used in the step.
2. 透明な絶縁基板上に配設された複数の帯状透明電
極と、該透明電極上に直接あるいは絶縁膜を介して2種
類の発光膜を形成し、さらに上記各発光膜上に絶縁膜を
介して背面電極を配設した多色表示薄膜EL素子の製造
方法において、第1の発光膜と絶縁膜とを連続して積層
形成したのち、上記積層膜をホトエッチングによりパタ
ン加工する工程と、上記ホトエッチングに使用したホト
レジストを残した状態で、上記基板上に第2の発光膜と
絶縁膜とを連続して形成する工程と、上記ホトレジスト
を除去して、上記第2の発光膜と絶縁膜をリフトオフ加
工する工程とを含むことを特徴とする多色表示薄膜EL
素子の製造方法。
2. A plurality of band-shaped transparent electrodes are arranged on a transparent insulating substrate, two types of light emitting films are formed on the transparent electrodes directly or through an insulating film, and further, two types of light emitting films are formed on each of the light emitting films with an insulating film interposed therebetween. A method for manufacturing a multi-color display thin film EL device provided with a back electrode includes the steps of: successively laminating a first light-emitting film and an insulating film, and then patterning the laminated film by photo-etching; A step of successively forming a second light emitting film and an insulating film on the substrate while leaving the photoresist used for etching, and a step of removing the photoresist and forming the second light emitting film and the insulating film. A multicolor display thin film EL characterized by including a step of lift-off processing.
Method of manufacturing elements.
JP63104297A 1988-04-28 1988-04-28 Manufacture of multi-color display thin film el element Pending JPH01276592A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03233889A (en) * 1990-02-07 1991-10-17 Sharp Corp Manufacture of thin film el(electroluminescence) element
US5989785A (en) * 1994-12-22 1999-11-23 Nippondenso Co., Ltd. Process for fabricating an electroluminescent device
JP2002367774A (en) * 2001-06-04 2002-12-20 Sony Corp Thin-film pattern forming method and thin-film pattern forming device
KR100606439B1 (en) * 1999-04-08 2006-07-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Method for fabricating an eld

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03233889A (en) * 1990-02-07 1991-10-17 Sharp Corp Manufacture of thin film el(electroluminescence) element
US5989785A (en) * 1994-12-22 1999-11-23 Nippondenso Co., Ltd. Process for fabricating an electroluminescent device
KR100606439B1 (en) * 1999-04-08 2006-07-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Method for fabricating an eld
JP2002367774A (en) * 2001-06-04 2002-12-20 Sony Corp Thin-film pattern forming method and thin-film pattern forming device

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