JPH01272192A - セラミックス基板 - Google Patents

セラミックス基板

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JPH01272192A
JPH01272192A JP5898189A JP5898189A JPH01272192A JP H01272192 A JPH01272192 A JP H01272192A JP 5898189 A JP5898189 A JP 5898189A JP 5898189 A JP5898189 A JP 5898189A JP H01272192 A JPH01272192 A JP H01272192A
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赤井 芳人
Noriyuki Konaga
小永 宣之
Yasunori Zairi
在里 康則
Yukikazu Moritsu
森津 幸和
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OKUNO SEIYAKU KOGYO KK
Okuno Chemical Industries Co Ltd
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OKUNO SEIYAKU KOGYO KK
Okuno Chemical Industries Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/45Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
    • C04B41/52Multiple coating or impregnating multiple coating or impregnating with the same composition or with compositions only differing in the concentration of the constituents, is classified as single coating or impregnation

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、セラミックス基板に関する。
従来の技術及びその問題点 セラミックス板上に導電体層を形成したセラミックス基
板は、耐熱性、放熱性等が良好であり、低熱膨脂性であ
るなどの優れた特性を有するものである。このようなセ
ラミックス基板の製造法としては、従来下記のような方
法が知られている。
湿式めっき法で導電体層を形成する方法として、セラミ
ックス板をフッ酸、硝酸等でエツチングした後、めっき
皮膜を形成する方法がある。しかしながら、この方法で
は、セラミックス基材の品質によって、めっき皮膜の接
合強度が一定せず、また耐薬品性が高いセラミックスの
場合には、効果的なエツチングは困難であり、高い接合
強度は得難い。
また、Mo、W等の高融点金属の粉末をセラミックス上
に塗布し、窒素雰囲気中で高温処理(1500〜180
0℃)する方法もある。この方法では、導電層の接合強
度は高いが、高温度と雰囲気調節が必要なため、生産性
が低いという欠点がある。更に、直接半田付けを行なう
ことができないのでめっき工程が必要になり、また電気
導体として抵抗が高いという欠点もある。
Au、Ag5Pt等の貴金属粉末又はCu。
Ni、Al等の高導電性卑金属粉末と低融点ガラスフリ
ット等のバインダー成分とを、有機ビヒクルに混合分散
させた、いわゆる厚膜導体ペーストをセラミックス上に
塗布し、加熱して焼付ける方法がある。この方法は、貴
金属の場合にはコストが高く、電気導体として使用する
とマイグレーションの問題がある。また卑金属の場合、
加熱時に雰囲気調節する必要があり、処理が煩雑である
また、所定の形状の銅板をセラミックス上に置き、窒素
雰囲気中で1100〜1500℃程度で加熱圧着する方
法がある。この方法では、雰囲気調節が必要であるため
に操作が煩雑であることに加えて、銅板の厚さが062
〜0.3mm程度以上必要であり、銅板のパターンニン
グ精度が悪いという欠点がある。
問題点を解決するための手段 本発明者は、上記した如き問題点に鑑みて、鋭意研究を
行なった結果、特定の組成のガラス組成物をセラミック
ス上に塗布して加熱処理した後、その上にめっき皮膜を
形成させることによって、簡単な方法で各種のセラミッ
クス上に、高い接合強度を有する導電体層を形成するこ
とができ、しかも形成される導電体層は、セラミックス
基板として要求される導電特性、ハンダ付は性、接合強
度等が良好であり、セラミックス基板として極めて有用
なものであることを見出した。
即ち、本発明は、 (I)セラミックス基材、 (II)該セラミックス基材上に、 (i)  TiN、TiB2、AlN、AlB2、BN
SB4 C5SiC及びSi3N4の少なくとも1種の
粉末3〜80重量%、 (ii)  5LO2粉末4〜80重量%、(Iii)
  B2O3粉末1〜40重量%、及び(iV)   
(R+ ) 2O、(R2)0、(R3)02及び(R
t )2O3 (ただし、R1はNa5KまたはLi%
R2はMg。
Ca5Ba、Zn、PbまたはCd、R3はTi、Zr
またはMn、R4はAlまたはBiである)の少なくと
も1種の粉末1〜80重量% からなるガラス組成物 を塗布し、加熱して得られためっき用下地層、並びに (III)該下地層上に形成されためっき皮膜からなる
セラミックス基板に係る。
本発明セラミックス基板では、用いるセラミックス材料
としては、従来のセラミックス基板の材料と同様のもの
でよく、500℃以上の耐熱温度を有するセラミックス
材料から誘電率、絶縁性、誘電正接等のセラミックス基
板として必要な特性を考慮して、使用目的に応じて適宜
選択すればよい。本発明での使用に適するセラミックス
材料としては、例えばアルミナ、ジルコニア、ベリリア
、ムライト、ホルステライト、コープライト、チタン酸
鉛、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸鉛等の酸化
物系セラミックス、窒化ケイ素、窒化アルミニウム等の
非酸化物系セラミックス等が挙げられる。
本発明のセラミックス基板を得るには、まず、セラミッ
クス基材上に、特定組成のガラス組成物を塗布した後、
加熱処理して、めっき用下地層を形成する。
本発明で用いるガラス組成物は、 (i )  T iN s T iB 2 、A QN
 s A Q B 2、B N −B 4 Cs S 
I C及びSi3N4の少なくとも1種の粉末3〜80
重量%、 (ii)  5io2粉末4〜80重量%、(iii)
  B2O3粉末1〜40重曾%、及び(fV)   
(R1) 2O.  (R2) 0、(Rs )02及
び(R4)2O3(ただし、R,はNa、KまたはLi
、R2はMg%Ca。
Ba、ZnSPbまたはCd5R3はTi1Zrまたは
Mn5R4はAlまたはBEである)の少なくとも1種
の粉末1〜80重量%からなるものである。該ガラス組
成物をセラミックス上にコーティングして加熱した場合
に、上記組成物中の非酸化物粉末がガラス組成物中に島
状に点在する形状になり、この上にめっき皮膜を形成さ
せた場合の接合強度が著るしく向上する。
本発明で用いるガラス組成物では、各成分の配合量が上
記範囲を下回る場合には、ガラス組成物を加熱した場合
にガラス化しないか、或いは接合強度が著るしく低下し
、また上記範囲を上回る場合にも接合強度の著るしい低
下があるので好ましくない。
本発明ガラス組成物の各成分としては、いずれも市販の
ものを使用でき、特にその製法、粒度、純度などは限定
されないが、接合体の接合強度を高めるためには、高純
度のものを使用することが好ましく、粒度は0.1〜1
00μm程度のものを使用することが好ましい。
本発明で用いるガラス組成物を製造する方法は、特に限
定されるものではなく、例えば、各成分物質をミキサー
、ライカイ機、ミル等で単に混合するだけでよい。また
、2種以上の任意に選択した成分物質を混合し、700
〜1600℃で10〜2O分間加熱溶融した後、ボール
ミル等で0. 1〜100μm程度に粉砕して得た粉末
に他の成分物質を添加混合してもよい。
ガラス組成物の塗布方法としては、特に限定されず以下
のような方法を例示できる。
(i)組成物を直接塗布する方法。
(11)組成物を溶射する方法。
(iii )組成物をアルコール、アセトン等の溶剤に
分散させてスプレー塗装する方法。
(iV )組成物を有機ビヒクルに分散させた後、分散
液をハケ塗り、スクリーン印刷、スプレー塗装等により
塗布する方法。
有機ビヒクルとしては、例えば、エチルセルロース樹脂
、アクリル樹脂等の有機高分子化合物をイソプロピルア
ルコール、パインオイル、ブチルカルピトールアセテー
ト等の有機溶剤に溶解したものを使用できる。塗布量は
、ガラス組成物の量が0.005〜2g/Cff12と
なるようにすることが好ましい。加熱温度は500〜1
500℃とし、加熱時間は、3〜60分程度とする。加
熱時の雰囲気は、特に限定されず、例えば空気、窒素ガ
ス、水素ガス、アルゴンガス等の雰囲気でよい。
次いでセラミックスが室温となった後、めっきを行なっ
て、めっき用下地層上にめっき皮膜を形成する。めっき
方法としては、常法に従えばよく、例えば触媒物質を付
着させた後、無電解ニッケルめっき、または無電解鋼め
っきを行なう方法でよい。触媒付着方法、無電解めっき
方法等は、いずれも常法に従えばよく、例えば、触媒付
着方法としては、感受性付与及び触媒付与の工程による
方法、触媒ペーストを印刷し焼成する方法等がある。
形成するめっき皮膜の種類としては、従来のめっき法に
より形成されるセラミックス基板と同様のものでよく、
例えば、無電解ニッケルめっき被膜または無電解銅めっ
き皮膜単独のめつき皮膜の他に、これらの上に電気銅め
っきを行なうことによって、厚い金属層を形成したもの
でもよい。また、銅−Ni−金の組み合わせのような三
層のめつきも従来法と同様に可能である。めっき皮膜の
厚さは、特に限定的ではなく、通常のセラミックス基板
の導電層と同様に、0.1〜300μm程度とすればよ
い。
セラミックス基板の回路パターン形成方法は、従来のめ
っき法で作成するセラミックス基板と同様でよく、めっ
き皮膜を形成した後、エツチングレジストを印刷して、
エツチングにより回路パターンを形成する、いわゆるサ
ブトラクティブ法、及びガラス組成物の焼成層を形成し
た後、無電解めっき用触媒を付与し、次いでめっきレジ
ストにより必要なパターンを形成した後無電解めっきに
より回路パターンを直接形成する、いわゆるアディティ
ブ法のいずれも可能である。
発明の効果 本発明のセラミックス基板では、セラミックス基材とめ
つき皮膜とが強固に結合されており、めっき皮膜の接合
強度は充分な強さである。しかもその製造工程では、特
殊な雰囲気は必要なく、生産性も良好である。そして、
目的に応じて各種のめっき皮膜を容易に形成できるので
、非常に適用範囲が広く、充分な導電性や良好なノ1ン
ダ付は性を簡単に付与できる。
実施例 以下、実施例を示して本発明を更に詳細に説明する。
実施例1 粒径30ttmの5L02139g、粒径的10μmの
B 2O328 g s粒径約10μmのCd014g
1粒径約2OμmのTi028g及び粒径的5μmのB
i2O328gからなる粉末を白金ルツボで1450℃
、30分加熱して溶融した。
次いで、この溶融物が冷却した後、ボールミルで粉砕し
て1〜10μmの粉末とし、これに粒径1〜10μmの
Si3N466g、Al B217g及びB、C17g
を加えて混合して、ガラス組成物を得た。次いで該ガラ
ス組成物100gに、エチルセルロース15重量%及び
パインオイル85重量%からなる有hビヒクル19gを
加えて混合し、3本ロールに3回通して塗布用組成物を
得た。
次いで、該塗布用組成物を5X5XO,1cmのアルミ
ナ板に2O0メツシユスクリーンでガラス組成物の量が
0.008g/C112となるようにスクリーン印刷し
た後、150℃10分間予備加熱してから、870℃で
2O分間加熱した。アルミナ板を室温に冷却させた後、
無電解めっき用触媒付与液(商標“C0P−4230”
、奥野製薬工業■製)中に25℃、5分間浸漬して、2
O0℃10分間加熱し、続いて室温となってから無電解
銅めっき液(商標“OPCカッパー”、奥野製薬工業■
製)中に55℃30分間浸漬して銅めっき皮膜を形成さ
せた。次いで電気銅めっきを行ない銅めっき厚を40μ
mとすることによって、セラミックス基板を作製した。
その後、銅めっき表面に、2X2+smの正方形の形状
にマスキングインキ(商標“トップレジストG”奥野製
薬工業■製)を5ケ所スクリーン印刷し、次にUV照射
を10秒間行なってマスキングインキを硬化させた。こ
の試料を塩化第2鉄水溶液中に50℃で浸漬して、マス
キング部分以外の銅めっき部分を溶解し、次いで塩化メ
チレン液中に浸漬してマスキングインキを剥離除去した
。残った銅めっき皮膜とアルミナ板との接合強度を求め
るために、この上に直径1.0+uの銅線を、鉛対錫が
37 : 63のはんだを用いて、260℃ではんだ付
けし、25℃で銅線をアルミナ板に対して垂直に引張り
、めっき皮膜がアルミナ板から剥離したときの強度を測
定した。その結果4 、 5 kg/ mm2という非
常に高い接合強度を有するものであった。また形成され
ためっき皮膜のシート抵抗は0.7mΩ/口であり、非
常に高い導電性を有するものであった。
実施例2 粒径的1.pmのS t 0275 gs粒径約0.5
μmのB2O32O gs粒径約0.5μmのLi2O
17.5g−粒径的1μmのMgO7,5g、粒径的1
μmのPbO12,5g及び粒径的3μmのZr021
0gを混合した粉末を白金ルツボにいれて1300℃3
0分間加熱して、溶融した。この溶融物をボールミルで
粉砕して5〜30μmの粉末とした後、粒径的10μm
の1!N100gと混合しガラス組成物を得た。次いで
該ガラス組成物80gにメタノール10g及びイソプロ
ピルアルコール10gからなる混合溶媒を加えて、これ
を5 X 5 X 0. 05c■の窒化アルミニウム
焼結体に、上記ガラス組成物量が0、01 g/cm2
になるようにスプレー塗装し、150℃で10分間予備
加熱した後、1000℃で10分間加熱した。窒化アル
ミニウム焼結体を室温まで冷却した後、次に示す方法で
無電解銅めっきを行なうことによって、セラミックス基
板を作製した。
(i)  脱脂:アルコール液中に5分間浸漬した。
(ii )  触媒付与:センシタイザ−液に25℃、
3分間浸漬後、水洗し、アクチベーター液に25℃、2
分間浸漬後、水洗した。センシタイザ−液としては、セ
ンシタイザ−(商標’TMPセンシタイザ−”奥野製薬
工業■製)100mQ/Q水溶液を使用し、アクチベー
ター液としては、アクチベータ−(商標“TMPアクチ
ベーター”奥野製薬工業■製)100mQ/9水溶液を
使用した。
(iii )無電解銅めつき:無電解鋼めっき液(商標
“OPCカッパー”、奥野製薬工業■製)中に55℃で
210分間浸漬した。
得られたセラミックス基板は、厚さ15μmの銅めっき
皮膜からなる導電層を有するものであった。
次いで実施例1と同様にしてマスキング及びエツチング
を行なった後、銅皮膜と窒化アルミニウム焼結体との接
合強度を測定した。その結果、4.3kg/llll1
2という高い接合強度を有するものであった。また、銅
皮膜のシート抵抗は、1.3mΩ/口であり、充分な導
電性を有するものであった。
実施例3 実施例1と同様にして、有機ビヒクルとガラス組成物と
を混合して得た組成物を、2O0メツシユスクリーンに
よりs 5 X 5 ×0− 06 c■のアルミナ板
にガラス組成物量0.008g/cm2の割合で塗布し
た後、950℃で5分間加熱した。次いで実施例2に示
した( i )  (ii )により触媒付与した後、
無電解銅めっき液ropcカッパ」中に55℃、30分
間浸漬して銅皮膜を2μm形成した後、銅めっき表面に
、めっき用マスキングインキ(商品名「フォトマールM
TJ奥野製薬工業轢製)を2X2ms+の正方形の形状
を5ケ所残してスクリーン印刷し、次にUV照射を10
秒行なってマスキングインキを硬化させた。次いで、電
気銅めっきを行ない銅めっき厚を30μmとした後、塩
化メチレン液中に浸漬してマスキングインキを剥離除去
した。次いで、試料を過硫酸アンモニウム水溶液に2O
℃で浸漬して無電解銅めっきのみの部分を溶解した。残
った銅めっき皮膜とアルミナ板との接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ、4 、6 kg/ ll
m2であり、高い接合強度を有するものであった。また
、銅皮膜のシート抵抗は、1.0m97口であり、高い
導電性を有するものであった。
実施例4 実施例2で用いたガラス組成物において、AlNをSi
Cに代えた以外は、実施例2と同様にして、ガラス組成
物と有機溶媒との混合物を得た。次いで、これを実施例
2と同様にして、3×3xO,3cmのジルコニア焼結
体上へ塗布し、加熱した。その後、実施例1と同様にし
て無電解銅めっきを行なうことによってセラミックス基
板を得た。得られたセラミックス基板では、銅皮膜は、
3 、8 kg/ mm2という高い接合強度を有する
ものであり、またシート抵抗は0.8mΩ/口であり、
良好な導電性を示した。
(以 上)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(I)セラミックス基材、 (II)該セラミックス基材上に、 (i)TiN、TiB_2、AlN、 AlB_2、BN、B_4C、SiC及び Si_3N_4の少なくとも1種の粉末3〜80重量%
    、 (ii)SiO_2粉末4〜80重量%、 (iii)B_2O_3粉末1〜40重量%、及び(i
    v)(R_1)_2O、(R_2)O、(R_3)O_
    2及び(R_4)_2O_3(ただし、R_1はNa、
    KまたはLi、R_2はMg、Ca、Ba、Zn、Pb
    またはCd、R_3はTi、ZrまたはMn、R_4は
    AlまたはBiである)の少なくとも1種の粉末1 〜80重量% からなるガラス組成物 を塗布し、加熱して得られためっき用下地層、並びに (III)該下地層上に形成されためっき皮膜からなる
    セラミックス基板。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996023321A1 (en) * 1995-01-27 1996-08-01 Sarnoff Corporation Glass bonding layer for a ceramic circuit board support substrate
WO1998042636A1 (en) * 1997-03-26 1998-10-01 Ionotec Ltd. Hermetic joining of ceramic components
CN102724805A (zh) * 2012-06-19 2012-10-10 田宝祥 具有高散热与高导热特性的复合陶瓷基板
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