JPH01264626A - チップ貼付装置 - Google Patents
チップ貼付装置Info
- Publication number
- JPH01264626A JPH01264626A JP9137088A JP9137088A JPH01264626A JP H01264626 A JPH01264626 A JP H01264626A JP 9137088 A JP9137088 A JP 9137088A JP 9137088 A JP9137088 A JP 9137088A JP H01264626 A JPH01264626 A JP H01264626A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- microscope
- head
- stage
- rotary table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 7
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、VTR用ビデオヘッドの組立装置に係わり、
特に、多数のヘッドチップを1枚のベース上に貼付ける
に好適なチップ貼付装置に関する。
特に、多数のヘッドチップを1枚のベース上に貼付ける
に好適なチップ貼付装置に関する。
特開昭62−31007号公報には、1枚のベースに2
つのヘッドチップを、これらのギャップ間距離が充分短
かいように、近接して貼り付け、いわゆるダブルアジマ
スヘッドを形成するようにした組立装置が開示されてい
る5、これは、予め1つのヘッドチップが貼り付けられ
たベースとへラドチップとを夫々保持部で保持し、ベー
スとヘッドチップとの相対位置を光学測定部で測定しつ
つこの相対位置調整を行ない、しかる後、瞬間接着剤で
もってヘッドチップをベースに貼りつけるものである。
つのヘッドチップを、これらのギャップ間距離が充分短
かいように、近接して貼り付け、いわゆるダブルアジマ
スヘッドを形成するようにした組立装置が開示されてい
る5、これは、予め1つのヘッドチップが貼り付けられ
たベースとへラドチップとを夫々保持部で保持し、ベー
スとヘッドチップとの相対位置を光学測定部で測定しつ
つこの相対位置調整を行ない、しかる後、瞬間接着剤で
もってヘッドチップをベースに貼りつけるものである。
ところで、上記従来技術では、光学測定部としては1個
の顕微鏡を用い、2つのへラドチップの先端部(ヘッド
ギャップ部)をこの顕微鏡の同−視野内にとらえ、これ
らヘッドチップの突出段差x1、ギヤツブ間隔子1.ト
ラック段差Z、などをへラドチップ保持部で粗微動し、
顕微鏡の視野内に予めセットされた基準線に合わせ、し
かる後、デスペンサで接着剤を供給し1ヘツドチツプを
ベースに貼りつけている。
の顕微鏡を用い、2つのへラドチップの先端部(ヘッド
ギャップ部)をこの顕微鏡の同−視野内にとらえ、これ
らヘッドチップの突出段差x1、ギヤツブ間隔子1.ト
ラック段差Z、などをへラドチップ保持部で粗微動し、
顕微鏡の視野内に予めセットされた基準線に合わせ、し
かる後、デスペンサで接着剤を供給し1ヘツドチツプを
ベースに貼りつけている。
一方、ビデオ信号をディジタル化して記録再生するディ
ジタルV’]”Rにおいては、必要信号量の関係でもっ
て各チャンネル記録再生が行なわれ、このために、この
チャンネル数に等しい数の多数のへラドチップが1つの
ベースに近接して配置される。このような場合にも、こ
れらへラドチップを1つのベースに貼9つけるに際して
は、これらの突出段差X1rギャップ間隔Y1.トラッ
ク段5 ・ 差Z、を調整する必要があり、さらには、回転シリンダ
に取りつけたときの回転中心に関しての各ヘッドチップ
間の角度間隔(以下、姿勢という)θ、の調整も必要と
なる。
ジタルV’]”Rにおいては、必要信号量の関係でもっ
て各チャンネル記録再生が行なわれ、このために、この
チャンネル数に等しい数の多数のへラドチップが1つの
ベースに近接して配置される。このような場合にも、こ
れらへラドチップを1つのベースに貼9つけるに際して
は、これらの突出段差X1rギャップ間隔Y1.トラッ
ク段5 ・ 差Z、を調整する必要があり、さらには、回転シリンダ
に取りつけたときの回転中心に関しての各ヘッドチップ
間の角度間隔(以下、姿勢という)θ、の調整も必要と
なる。
ところで、かかるディジタルVTR用のビデオヘッド組
立に際し、上記従来技術を用いると、顕微鏡の総合倍率
が、ヘッドチップのギャップ確認のため、400〜10
00倍にしており、このために、多連のへラドチップを
同−視野内にとらえることができない。
立に際し、上記従来技術を用いると、顕微鏡の総合倍率
が、ヘッドチップのギャップ確認のため、400〜10
00倍にしており、このために、多連のへラドチップを
同−視野内にとらえることができない。
また、各ヘッドチップの貼付姿勢θ、を確認するために
、1枚のへラドチップの平面を上からまfcは下から別
の顕微鏡の視野内にヘッドチップの平面全体音とらえる
方法もあるが、ヘッドチップ貼付作業の確認の必要性に
より、この顕微鏡の総合倍率全50〜100倍にする必
要がある。しかし。
、1枚のへラドチップの平面を上からまfcは下から別
の顕微鏡の視野内にヘッドチップの平面全体音とらえる
方法もあるが、ヘッドチップ貼付作業の確認の必要性に
より、この顕微鏡の総合倍率全50〜100倍にする必
要がある。しかし。
これによると、この顕微鏡に設けた基準線にヘッドデツ
プの接合線などを合わせるにほこの倍率は低くすき、こ
のために、姿勢θ、に対する充分な#!度が得られない
。
プの接合線などを合わせるにほこの倍率は低くすき、こ
のために、姿勢θ、に対する充分な#!度が得られない
。
なお、各ヘッドチップの姿勢θ1は、ヘッドチップとテ
ープとのタッチの関係上、VTRにおける回転シリンダ
の回転中心の法線が基準線として必要となるが、現状の
貼付装置では、2個のヘッドチップを平行に貼りつけて
いるため、上記各ヘッドチップの姿勢θ1の位置決めが
非常に難かしいなどの問題がある。
ープとのタッチの関係上、VTRにおける回転シリンダ
の回転中心の法線が基準線として必要となるが、現状の
貼付装置では、2個のヘッドチップを平行に貼りつけて
いるため、上記各ヘッドチップの姿勢θ1の位置決めが
非常に難かしいなどの問題がある。
本発明の目的は、かかる問題点を解消し、1枚のベース
に多連へラドチップを#i度良く貼りつけることができ
るようにしたチップ貼付装置を提供することにある。
に多連へラドチップを#i度良く貼りつけることができ
るようにしたチップ貼付装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、複数のチップ貼
付位置を有するベースが取りつけられる回転テーブルと
、該回転テーブルの回転を検出する回転割出器と、該回
転テーブルに取りつけられた該ベースの1つの該チップ
貼付位置の先端部を視野内に含む第1の顕微鏡と、該第
1の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第1のステー
ジと、該回転テーブルに取りつけられた該ベースの1つ
の該チップ貼付位置の上面を視野内に含む第2の顕微鏡
と、該第2の顕微鏡を水平、垂直方向に移動すせる第2
のステージと、ヘッドチップを保持するチップホルダと
、該ヘッドチップ全水平、垂直方向に変位させてかつ回
動させる第3のステージと、該回転割出器の出力にもと
づく該回転テーブルの回転位置と該第1の顕微鏡の水平
、垂直位li1を設定するためのカウンタでもって構成
する。
付位置を有するベースが取りつけられる回転テーブルと
、該回転テーブルの回転を検出する回転割出器と、該回
転テーブルに取りつけられた該ベースの1つの該チップ
貼付位置の先端部を視野内に含む第1の顕微鏡と、該第
1の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第1のステー
ジと、該回転テーブルに取りつけられた該ベースの1つ
の該チップ貼付位置の上面を視野内に含む第2の顕微鏡
と、該第2の顕微鏡を水平、垂直方向に移動すせる第2
のステージと、ヘッドチップを保持するチップホルダと
、該ヘッドチップ全水平、垂直方向に変位させてかつ回
動させる第3のステージと、該回転割出器の出力にもと
づく該回転テーブルの回転位置と該第1の顕微鏡の水平
、垂直位li1を設定するためのカウンタでもって構成
する。
また、回転テーブルにマスタゲージを設け、該マスタゲ
ージによって該第1.第2の顕微鏡の初期設定を可能と
する。
ージによって該第1.第2の顕微鏡の初期設定を可能と
する。
さらに、第1の顕微鏡をカメラと一体化するとともに、
該第1の顕微鏡に基準線を有する目盛板やスリット板を
設け、また、カメラとモニタとの間に輝度ザングラを設
ける。
該第1の顕微鏡に基準線を有する目盛板やスリット板を
設け、また、カメラとモニタとの間に輝度ザングラを設
ける。
第1.第2の顕微鏡は、1つのへラドチップだけを含む
視野とするので、倍率全非常に高めることで焦点深度を
浅くすることができ、このために。
視野とするので、倍率全非常に高めることで焦点深度を
浅くすることができ、このために。
第6のステージを用いてヘッドチップの位置設定を高精
度にできる。ヘッドチップの突出段差X。
度にできる。ヘッドチップの突出段差X。
は第1の顕微鏡のピント合わせによって設定でき、第3
のステージにより、モニタをみながら行なうことができ
る。モニタでのピント合わせは、ヘッドチップ先端部の
ヘッドギャップのピントをみたり、輝度ザンプラによる
場合には、モニタ上には輝度線がコントラストに比例し
たノツチとして現われ、これによって定量的にピント合
わせができる。
のステージにより、モニタをみながら行なうことができ
る。モニタでのピント合わせは、ヘッドチップ先端部の
ヘッドギャップのピントをみたり、輝度ザンプラによる
場合には、モニタ上には輝度線がコントラストに比例し
たノツチとして現われ、これによって定量的にピント合
わせができる。
また、回転割出器によって回転テーブルの回転量が検出
できるから、これとカウンタとの値とから、回転テーブ
ルの回転角が高精度で得られ、したがって、ギャップ間
隔Y、が高精度に設定できる。トラック段差21につい
ては、第1のステージにより、カウンタに設定される値
に応じて第1の顕微鏡を垂直方向に変位させることによ
って設定される。
できるから、これとカウンタとの値とから、回転テーブ
ルの回転角が高精度で得られ、したがって、ギャップ間
隔Y、が高精度に設定できる。トラック段差21につい
ては、第1のステージにより、カウンタに設定される値
に応じて第1の顕微鏡を垂直方向に変位させることによ
って設定される。
ヘッドチップの姿勢θ、については、上記のギャップ間
隔Y1の設定によって高精度に決めることができるが、
さらに、第1の顕微鏡に設けたス、 7 。
隔Y1の設定によって高精度に決めることができるが、
さらに、第1の顕微鏡に設けたス、 7 。
リット板とへラドチップの先端部とにより、モニタ上に
明暗線が生じ、この明暗線のコントラストとがヘッドギ
ャップの像を中心に対称とすることによジ、高精度に設
定できる。
明暗線が生じ、この明暗線のコントラストとがヘッドギ
ャップの像を中心に対称とすることによジ、高精度に設
定できる。
まず、第4図および第3図により、ベースにヘッドチッ
プが4個貼りつけられ7’C4連チツプ貼付ヘツドにつ
いて説明する。なお、第4図はこのヘッドの平面図、第
3図はこのヘッドの側面図であって、1はベース、2は
ヘッドチップ、5は接着剤、4は先端部、5はへッドギ
ャソプ、6は平面部、7は2つのコア半休のチップ接合
線である。
プが4個貼りつけられ7’C4連チツプ貼付ヘツドにつ
いて説明する。なお、第4図はこのヘッドの平面図、第
3図はこのヘッドの側面図であって、1はベース、2は
ヘッドチップ、5は接着剤、4は先端部、5はへッドギ
ャソプ、6は平面部、7は2つのコア半休のチップ接合
線である。
第4図、第3図において、ベース1の4つの突状部の先
端に夫々へラドチップ2が貼りつけられる。これらへラ
ドチップ2の貼付精度としては、各ヘッドチップ2のヘ
ッドギャップ5が回転シリンダの回転中心0から同一半
径RVC位置させるためのヘッドチップ2間の先端部4
の突出段差X1゜各ヘッドチップ2のギャップ間隔Y1
、トラック段差Z、および回転中心Oとギャップ間隔Y
、と8 ・ のなす角度すなわち姿勢σ1の夫々がμmオーダ、分オ
ーダでの誤差範囲で位置決めされなければならない。
端に夫々へラドチップ2が貼りつけられる。これらへラ
ドチップ2の貼付精度としては、各ヘッドチップ2のヘ
ッドギャップ5が回転シリンダの回転中心0から同一半
径RVC位置させるためのヘッドチップ2間の先端部4
の突出段差X1゜各ヘッドチップ2のギャップ間隔Y1
、トラック段差Z、および回転中心Oとギャップ間隔Y
、と8 ・ のなす角度すなわち姿勢σ1の夫々がμmオーダ、分オ
ーダでの誤差範囲で位置決めされなければならない。
以下、このように各ヘッドチップ2をベースに貼りつけ
るための本発明の実施例を図面によって説明する。
るための本発明の実施例を図面によって説明する。
第1図は本発明によるテッグ貼付装置の一実施例を示す
平面図、第2図は矢印A側からみた側面図、第3図は矢
印B側からみた側面図であって、1はベース、2はへラ
ドチップ、8は枠、9はマスタゲージ、10はチップ整
列台、11は回転テーブル、)2は回転マグネスケール
、15はカウンタ、14はセンサ、15はマイクロヘッ
ド、16はXステージ、17は直進センサ、18は回転
ツマミ、19i1:Xステージ、20は輝度サンクラ、
21はモニタ、22はカメラ、25は顕@鏡、24は門
柱、25はモニタ、26はカメラ、27は顕W、鏡、2
8はノズル、291−@ Z ステー シ、50に光源
、61はリレーレンズ、32はスリット板、56はハー
フプリズム、34は対物レンズ、35゜55′は基準線
、66は目盛板、67は接眼レンズ、58は撮像素子、
59はチップホルダ、40はXYステージ、41はZス
テージ、42は吸着ブロック、43は平行板バネ、44
はσステージ、45.45’は切欠線でるる。
平面図、第2図は矢印A側からみた側面図、第3図は矢
印B側からみた側面図であって、1はベース、2はへラ
ドチップ、8は枠、9はマスタゲージ、10はチップ整
列台、11は回転テーブル、)2は回転マグネスケール
、15はカウンタ、14はセンサ、15はマイクロヘッ
ド、16はXステージ、17は直進センサ、18は回転
ツマミ、19i1:Xステージ、20は輝度サンクラ、
21はモニタ、22はカメラ、25は顕@鏡、24は門
柱、25はモニタ、26はカメラ、27は顕W、鏡、2
8はノズル、291−@ Z ステー シ、50に光源
、61はリレーレンズ、32はスリット板、56はハー
フプリズム、34は対物レンズ、35゜55′は基準線
、66は目盛板、67は接眼レンズ、58は撮像素子、
59はチップホルダ、40はXYステージ、41はZス
テージ、42は吸着ブロック、43は平行板バネ、44
はσステージ、45.45’は切欠線でるる。
第1図〜第3図において、枠8上には、回転マグネスケ
ール12とその上に回転テーブル11とが設けられてい
る。回転テーブル11にはマスタゲージ9、ベース1、
チップ整列台10が取りつけられている。回転マグネス
ケール12に対向してセンサ14が設けられ、このセン
サ14はカウンタ13に接続されている。回転マグネス
ケール12とセンサ14とが回転テーブル11の回転割
出しに用いられる。
ール12とその上に回転テーブル11とが設けられてい
る。回転テーブル11にはマスタゲージ9、ベース1、
チップ整列台10が取りつけられている。回転マグネス
ケール12に対向してセンサ14が設けられ、このセン
サ14はカウンタ13に接続されている。回転マグネス
ケール12とセンサ14とが回転テーブル11の回転割
出しに用いられる。
また、枠8上には、マイクロヘッド15の操作によって
矢印X方向に移動するXステージ16が設けられ、この
マイクロヘッド15はカウンタ13に接続されている。
矢印X方向に移動するXステージ16が設けられ、この
マイクロヘッド15はカウンタ13に接続されている。
Xステージ16上には、回転ツマミ18によって矢印Z
方向移動するZステージ19が設けられ、このZ方向の
移動はカウンタ16に接続された直進センサドアによっ
て検知される。Zステージ19上には、カメラ22と顕
微鏡26とが一体となって水平方向(X方向)に取りつ
けられ、このカメラ22が輝度サンプラ20を介してモ
ニタ21に接続されている。
方向移動するZステージ19が設けられ、このZ方向の
移動はカウンタ16に接続された直進センサドアによっ
て検知される。Zステージ19上には、カメラ22と顕
微鏡26とが一体となって水平方向(X方向)に取りつ
けられ、このカメラ22が輝度サンプラ20を介してモ
ニタ21に接続されている。
なお、Xステージ16上には、さらに、顕微鏡23をは
さんで門柱24が取りつけられており、この門柱24か
ら水平方向(X方向)に突出した2ステージ29に、カ
メラ26と顕微鏡27とが一体となって垂直方向(Z方
向)に取ジつけられ、また、この2ステージ29の先端
に接着剤塗布用のノズル28が取りつけられている。
さんで門柱24が取りつけられており、この門柱24か
ら水平方向(X方向)に突出した2ステージ29に、カ
メラ26と顕微鏡27とが一体となって垂直方向(Z方
向)に取ジつけられ、また、この2ステージ29の先端
に接着剤塗布用のノズル28が取りつけられている。
ここで、顕微鏡23は光源30、リレーレンズ51、ス
リット板32、ハーフプリズム33、対□物レンズ34
、目盛板56および接眼レンズ67からなる。回転テー
ブル11に取りつけられたベース1の先端にヘッドチッ
プ2を配置すると、光源30からの光はリレーレンズ5
1によって明暗などが配置されたスリット板32で結像
し、さらに、ハーフプリズム33で反射された後、対物
し・ 11 ・ ンズ34によってヘッドチップ2の先端部で結像する。
リット板32、ハーフプリズム33、対□物レンズ34
、目盛板56および接眼レンズ67からなる。回転テー
ブル11に取りつけられたベース1の先端にヘッドチッ
プ2を配置すると、光源30からの光はリレーレンズ5
1によって明暗などが配置されたスリット板32で結像
し、さらに、ハーフプリズム33で反射された後、対物
し・ 11 ・ ンズ34によってヘッドチップ2の先端部で結像する。
このヘッドチップ2で反射された光は、対物レンズ64
、ハーフプリズム33を通り、基準線が設けられた目盛
板36で結像し、さらに、接眼レンズ37でカメラ22
の撮像素子68で結像する。この目盛板36の基準線が
モニタ21上に基準線35として表示される。
、ハーフプリズム33を通り、基準線が設けられた目盛
板36で結像し、さらに、接眼レンズ37でカメラ22
の撮像素子68で結像する。この目盛板36の基準線が
モニタ21上に基準線35として表示される。
顕微鏡27もこれと同様の構成をなしているが、スリッ
ト板が省かれている。また、その目盛板での基準線がモ
ニタ25上に基準線35′として表示される。
ト板が省かれている。また、その目盛板での基準線がモ
ニタ25上に基準線35′として表示される。
枠8上には、さらにま几、XYステージ40が設けられ
ている。このXYステージ40上にZステージ41が取
9つけられ、このZステージ41の側部にθステージ4
4が取りつけられている。
ている。このXYステージ40上にZステージ41が取
9つけられ、このZステージ41の側部にθステージ4
4が取りつけられている。
このθステージ44にはヘッドチップ2の吸着ブロック
42とこれを保持する平行板バネ45とからなるチップ
ホルダ59が取りつけられている。
42とこれを保持する平行板バネ45とからなるチップ
ホルダ59が取りつけられている。
XYステージ40はヘッドチップ2のXY方向の位置決
めを行なうためのものであり、Zステージ12 。
めを行なうためのものであり、Zステージ12 。
41はヘッドチップ2の上下方向(Z方向)の位置決め
を行なうものである。また、θステージ44はヘッドチ
ップの姿勢#を調整するためのものである。
を行なうものである。また、θステージ44はヘッドチ
ップの姿勢#を調整するためのものである。
次に、この実施例の動作を説明する。
まず、回転テーブル11を第1図の図示状態から左まわ
りに回転させる。この回転量θはセンサ14と回転マグ
ネスケール12によって検出され、予めカウンタ13に
設定された回転量Iだけ回転すると、回転テーブル11
は停止する。このとき、マスタゲージ9の先端部に設け
られた切欠線45が顕微鏡26の視野内に入り、マスタ
ゲージ9の上面に設けられた切欠線45′は顕微鏡27
の視野内に入る。そこで、モニタ21では、第6図に示
すように、顕微鏡23における目盛板36の基準線35
とともにマスタゲージ9の切欠線45が表示され、モニ
タ25では、第7図に示すように、顕微鏡27における
目盛板(図示せず)の基準線35′とともにマスタゲー
ジ9の切欠線45′が表示される。
りに回転させる。この回転量θはセンサ14と回転マグ
ネスケール12によって検出され、予めカウンタ13に
設定された回転量Iだけ回転すると、回転テーブル11
は停止する。このとき、マスタゲージ9の先端部に設け
られた切欠線45が顕微鏡26の視野内に入り、マスタ
ゲージ9の上面に設けられた切欠線45′は顕微鏡27
の視野内に入る。そこで、モニタ21では、第6図に示
すように、顕微鏡23における目盛板36の基準線35
とともにマスタゲージ9の切欠線45が表示され、モニ
タ25では、第7図に示すように、顕微鏡27における
目盛板(図示せず)の基準線35′とともにマスタゲー
ジ9の切欠線45′が表示される。
次に、回転テーブル11を微動させ、マイクロヘッド1
5、回転ツマミ18を操作し、モニタ21上で基準M5
5に切欠線45が一致するように、顕微鏡23のX、Z
方向の位置調整を行ない、同様に、モニタ25上で基準
線55′Pこ切欠線45′が一致するように顯徽鍵27
の位置調整を行ない、光学系の原点出しを行なう。この
状態でカウンタ15をリセットし、X値、Z値、#値を
夫々零に設定する。
5、回転ツマミ18を操作し、モニタ21上で基準M5
5に切欠線45が一致するように、顕微鏡23のX、Z
方向の位置調整を行ない、同様に、モニタ25上で基準
線55′Pこ切欠線45′が一致するように顯徽鍵27
の位置調整を行ない、光学系の原点出しを行なう。この
状態でカウンタ15をリセットし、X値、Z値、#値を
夫々零に設定する。
次に、カウンタ15にセンサ14の出力を順次書き込み
ながら回転テーブル11を第1図で右まわりに回転させ
、チップ整列台1o上の1つのへラドチップ2が顕11
1鏡27の真下に来るようにする。そして、Zステージ
41でもってチップホルダ59を降下させ、吸着ブロッ
ク42でこのヘッドチップ2を真空吸着させる。吸着ブ
ロック42はへラドチップ2を吸着すると上昇し、回転
テーブル11はカウンタ13のI値を読みながら左まわ
りに回転し、ベース1の貼付部の1つが顕微鏡27の真
下に来た位置で停止する。
ながら回転テーブル11を第1図で右まわりに回転させ
、チップ整列台1o上の1つのへラドチップ2が顕11
1鏡27の真下に来るようにする。そして、Zステージ
41でもってチップホルダ59を降下させ、吸着ブロッ
ク42でこのヘッドチップ2を真空吸着させる。吸着ブ
ロック42はへラドチップ2を吸着すると上昇し、回転
テーブル11はカウンタ13のI値を読みながら左まわ
りに回転し、ベース1の貼付部の1つが顕微鏡27の真
下に来た位置で停止する。
しかる後、チップホルダ39はZステージ4゜によって
降下し、ヘッドチップ2はベース1の貼付部に平行板バ
ネ4SVC↓りて押しつけられるか、あるいに若干浮い
た状態に設定される。この状態において、38図に示す
よりに、モニタ25において・基準線55′とヘッドチ
ップ2の先端部4、接合線7とが一致していれば、姿勢
〃、位置X、Yに対するチップホルダ39にょる粗動が
終る。
降下し、ヘッドチップ2はベース1の貼付部に平行板バ
ネ4SVC↓りて押しつけられるか、あるいに若干浮い
た状態に設定される。この状態において、38図に示す
よりに、モニタ25において・基準線55′とヘッドチ
ップ2の先端部4、接合線7とが一致していれば、姿勢
〃、位置X、Yに対するチップホルダ39にょる粗動が
終る。
貼付精度をさらに向上させるためには、第9因に示すよ
りに、モニタ21上で基準線55とへラドチップ2のギ
ャップ5とを一致させ、ギャップ間隔Y1に関する位置
決めを行なう。これらの操作はσステージ44、XYス
テージ40によって行なわれる。
りに、モニタ21上で基準線55とへラドチップ2のギ
ャップ5とを一致させ、ギャップ間隔Y1に関する位置
決めを行なう。これらの操作はσステージ44、XYス
テージ40によって行なわれる。
また、突出段差X、の調整は、モニタ21でギャップ5
のピントが合うように、XYステージ40を微動させて
行なう。このとき、モニタ21の中央部を横にクロスし
て輝度信号を輝度テンプラ20で検出し、その明暗度を
モニタ21の下部に輝度線46として表示する。ピント
が合えばスリット・ 15・ 板32の明暗線47がはっきり結像し、輝度線46のノ
ツチ高さ48が最大となることを利用してピント合わせ
の精度を高めることができる。
のピントが合うように、XYステージ40を微動させて
行なう。このとき、モニタ21の中央部を横にクロスし
て輝度信号を輝度テンプラ20で検出し、その明暗度を
モニタ21の下部に輝度線46として表示する。ピント
が合えばスリット・ 15・ 板32の明暗線47がはっきり結像し、輝度線46のノ
ツチ高さ48が最大となることを利用してピント合わせ
の精度を高めることができる。
姿勢σ、は、ヘッドチップ2の先端部4の姿勢がill
、たけ誤ると、ヘッドチップ2のヘッドギャップ5を境
に左右で輝度線46上の各部の明暗線47のノツチ高さ
48が対称とならない。そこで、Iステージ44を微動
することにより、明暗線47の各部のノツチ高さ48が
ギャップ5を境に対称となるため、ヘッドチップ2の姿
勢θ、を高精度に合わせ込むことができる。
、たけ誤ると、ヘッドチップ2のヘッドギャップ5を境
に左右で輝度線46上の各部の明暗線47のノツチ高さ
48が対称とならない。そこで、Iステージ44を微動
することにより、明暗線47の各部のノツチ高さ48が
ギャップ5を境に対称となるため、ヘッドチップ2の姿
勢θ、を高精度に合わせ込むことができる。
以上の調整作業が終ると、2ステージ41でヘッドチッ
プ2をベース1に再度押圧し、デイスペンサからノズル
2Bに接着剤を送り込み、第8肉に示すモニタ25を目
視しながら接着剤を塗布し、ヘッドテップ2をベース1
に接着する。接着後、Zステージ41に↓りてチップホ
ルダ39を上昇させる。
プ2をベース1に再度押圧し、デイスペンサからノズル
2Bに接着剤を送り込み、第8肉に示すモニタ25を目
視しながら接着剤を塗布し、ヘッドテップ2をベース1
に接着する。接着後、Zステージ41に↓りてチップホ
ルダ39を上昇させる。
以上のようにして、カウンタ13とモニタ21.25を
目視し、チップホルタ−39全粗嶽動させな、16 がら、回転テーブル11に取りつけられたベース1上に
、ヘッドチップ2を位置決めして貼9つけることができ
る。
目視し、チップホルタ−39全粗嶽動させな、16 がら、回転テーブル11に取りつけられたベース1上に
、ヘッドチップ2を位置決めして貼9つけることができ
る。
このようにして1つ目のへラドチップ2がベース1に貼
りつけられると、2つ目、5つ目、4つ目のヘッドチッ
プ2も同様にしてベース1に貼ジつけられる。但し、夫
々のヘッドチップ2のベース1での貼付位置が異なるの
で、夫々の位置が顕微鏡27の真下となるように回転テ
ーブル11を回転し、チップホルダ39がチップ整列台
1oがら夫々のへラドチップ2を吸着するように、夫々
のヘッドチップ2毎にチップ整列台1oを位置づける。
りつけられると、2つ目、5つ目、4つ目のヘッドチッ
プ2も同様にしてベース1に貼ジつけられる。但し、夫
々のヘッドチップ2のベース1での貼付位置が異なるの
で、夫々の位置が顕微鏡27の真下となるように回転テ
ーブル11を回転し、チップホルダ39がチップ整列台
1oがら夫々のへラドチップ2を吸着するように、夫々
のヘッドチップ2毎にチップ整列台1oを位置づける。
また、ベース1上の各ヘッドチップ2の貼付部Itは、
ベース1での貼付位置の段差により互いにトラック段差
Z1があるが、カウンタ13のZ値をみながら回転ツマ
ミ18を操作して顕微鏡23を2方向に変位させ、この
トランク段差Zの視野を設定する。
ベース1での貼付位置の段差により互いにトラック段差
Z1があるが、カウンタ13のZ値をみながら回転ツマ
ミ18を操作して顕微鏡23を2方向に変位させ、この
トランク段差Zの視野を設定する。
以上により、4連チンプ貼付ヘツドが組み立てられる。
以上のように、この実施例ではヘッドチップの突出段差
X1、ギャップ間隔Y1、姿勢Cを高積度1c設定でき
る。また、顕微鏡27の視野内にヘッドチップとベース
のハンドリング、接着作業がとらえられるので、作業不
良をその作業の途中で見つけ出すことができる。顕微鏡
25の視野内には1個のみのへラドチップが含まれるだ
けであるが、回転テーブル11に設けた回転マグネスケ
ール、センサ14、カウンタ13による回転割出器によ
ってギャップ間隔Y1が高精度にかつ容易に確保できる
し、顕微鏡230倍率も充分高くできて、ヘッドチップ
2の突出段差X1の精度も高めることができる。
X1、ギャップ間隔Y1、姿勢Cを高積度1c設定でき
る。また、顕微鏡27の視野内にヘッドチップとベース
のハンドリング、接着作業がとらえられるので、作業不
良をその作業の途中で見つけ出すことができる。顕微鏡
25の視野内には1個のみのへラドチップが含まれるだ
けであるが、回転テーブル11に設けた回転マグネスケ
ール、センサ14、カウンタ13による回転割出器によ
ってギャップ間隔Y1が高精度にかつ容易に確保できる
し、顕微鏡230倍率も充分高くできて、ヘッドチップ
2の突出段差X1の精度も高めることができる。
また、輝度サングラ20に↓り、モニタ21上でのへラ
ドチップ2のピント合わせを定量的に行なうことができ
、ヘッドチップ2の突出段差X。
ドチップ2のピント合わせを定量的に行なうことができ
、ヘッドチップ2の突出段差X。
の精度が高まるし、さらに、顕微鏡内にスリット板32
を設けたことによV、モニタ21上での明暗線46のノ
ツチ高さ48の対称性を利用し、ヘッドチップ2の姿勢
σ1を高精度に設定できる。
を設けたことによV、モニタ21上での明暗線46のノ
ツチ高さ48の対称性を利用し、ヘッドチップ2の姿勢
σ1を高精度に設定できる。
さらに、マスタゲージ9により、光学系の校正が敏速か
つ容易に行なうことができ、作業の効率の向上と品質安
定化が実現できる。
つ容易に行なうことができ、作業の効率の向上と品質安
定化が実現できる。
なお、以上の実施例は4個のへラドチップを同一ベース
に貼りつけるものであったが、本発明は、一般に、2個
以上のへラドチップの貼付は几適用可能であることはい
うまでもない。
に貼りつけるものであったが、本発明は、一般に、2個
以上のへラドチップの貼付は几適用可能であることはい
うまでもない。
以上説明したように、本発明によれば、同一のベースに
複数のへラドチップを高倍率の顕微鏡を用いて貼りつけ
ることができるから、ヘッドチップの突出段差、ギャッ
プ間隔、姿勢を高精度でかつ容易に設定できる。
複数のへラドチップを高倍率の顕微鏡を用いて貼りつけ
ることができるから、ヘッドチップの突出段差、ギャッ
プ間隔、姿勢を高精度でかつ容易に設定できる。
第1図〜第3図は本発明によるチップ貼付装置の一実施
例を示し、第1図は平面図、第2図および第3図は夫々
側面図であジ、第4図は4連チツプ貼付ヘツドの平面図
、第3図は同じく側面図、第6図〜第9図は夫々第2図
に示したモニタの表示画面の例を示す図である。。 19 。 1 ・・・ベース、2・・・・・・ヘッドチップ、3・
・・・・・接着剤、5・・・・・・ヘッドギャップ、9
・・・・・・マスタゲージ、10・・・・・・チップ整
列台、11・・・・・・回転テーブル、12・・・・・
・回転マグネスケール、13・・パ・カウンタ、14・
・・・・・センサ、16・・・・・・Xステージ、19
・・・・・Zステージ、20・・・・・・輝度サンプラ
、21・・・・・・モニタ、22・・・・・・カメラ、
23・・・・・・顕微鏡、24・・・・・・門柱、25
・・・・・モニタ、26・・・・・・カメラ、27・・
・・・・顕微鏡、28・・・・ノズル、29・・・・・
・Zステージ、30・・・・・光源、32・・・・・・
スリット板、33・・・・・ハーフプリズム、34・・
・・・・対物レンズ、65゜55′ ・・・・・基準線
、36・・・・・・目盛板、57・・・・・・接眼レン
ズ、68・・・・・撮像素子、39・・・・・チップホ
ルダ、40・・・・・XYステージ、41・・・・・・
Zステージ、42・・・・・・吸着ブロック、45・・
・・・・平行板バネ、44・・・θステージ、45.4
5’ ・・・・・・切欠線。
例を示し、第1図は平面図、第2図および第3図は夫々
側面図であジ、第4図は4連チツプ貼付ヘツドの平面図
、第3図は同じく側面図、第6図〜第9図は夫々第2図
に示したモニタの表示画面の例を示す図である。。 19 。 1 ・・・ベース、2・・・・・・ヘッドチップ、3・
・・・・・接着剤、5・・・・・・ヘッドギャップ、9
・・・・・・マスタゲージ、10・・・・・・チップ整
列台、11・・・・・・回転テーブル、12・・・・・
・回転マグネスケール、13・・パ・カウンタ、14・
・・・・・センサ、16・・・・・・Xステージ、19
・・・・・Zステージ、20・・・・・・輝度サンプラ
、21・・・・・・モニタ、22・・・・・・カメラ、
23・・・・・・顕微鏡、24・・・・・・門柱、25
・・・・・モニタ、26・・・・・・カメラ、27・・
・・・・顕微鏡、28・・・・ノズル、29・・・・・
・Zステージ、30・・・・・光源、32・・・・・・
スリット板、33・・・・・ハーフプリズム、34・・
・・・・対物レンズ、65゜55′ ・・・・・基準線
、36・・・・・・目盛板、57・・・・・・接眼レン
ズ、68・・・・・撮像素子、39・・・・・チップホ
ルダ、40・・・・・XYステージ、41・・・・・・
Zステージ、42・・・・・・吸着ブロック、45・・
・・・・平行板バネ、44・・・θステージ、45.4
5’ ・・・・・・切欠線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、n個(但し、nは2以上の整数)のチップ貼付位置
を有するベースおよびチップ整列台が取りつけられた回
転テーブルと、該回転テーブルの回転角を検出する回転
割出器と、該チップ貼付位置の1つの先端部を視野内に
含むようにした第1の顕微鏡と、該1の顕微鏡を水平、
垂直方向に移動させる第1のステージと、該チップ貼付
位置の1つの上面部を視野内に含むようにした第2の顕
微鏡と、該第2の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる
第2のステージと、ヘッドチップを保持するチップホル
ダと、該チップホルダを水平、垂直方向に変位させかつ
回動させる第3のステージと、該回転割出器の出力にも
とづく該回転テーブルの回転位置と該第1の顕微鏡の水
平、垂直位置を設定するためのカウンタとからなり、該
チップ貼付位置毎に該カウンタの値に応じて該第1、第
2の顕微鏡の視野内に設定し、ヘッドチップの位置、姿
勢調整を該第1の顕微鏡で監視しつつ該第3のステージ
によって行ない、該ベースの各チップ貼付位置に夫々ヘ
ッドチップを貼りつけ可能に構成したことを特徴とする
チップ貼付装置。 2、請求項1において、前記回転テーブルにマスタゲー
ジを設け、該マスタゲージを第1、第2の顕微鏡の視野
内に位置づけ、前記第1、第2のステージによって前記
第1、第2の顕微鏡の初期設定を可能に構成したことを
特徴とするチップ貼付装置。 3、請求項1または2において、前記第1の顕微鏡に基
準線を有する目盛板を設けるとともに、該第1の顕微鏡
をカメラと一体化し、該基準線と前記ベースに貼りつけ
られるべきヘッドチップの先端部とを同時モニタ可能と
したことを特徴とするチップ貼付装置。 4、請求項3において、前記第1の顕微鏡にスリット板
を設けるとともに、前記カメラとモニタとの間に輝度サ
ンプラを設け、該スリット板とヘッドチップのギャップ
によってモニタ上に明暗線を表示させることにより、ヘ
ッドチップの突出量、姿勢を定量的に確認可能としたこ
とを特徴とするチップ貼付装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9137088A JP2708460B2 (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | チップ貼付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9137088A JP2708460B2 (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | チップ貼付装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01264626A true JPH01264626A (ja) | 1989-10-20 |
JP2708460B2 JP2708460B2 (ja) | 1998-02-04 |
Family
ID=14024490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9137088A Expired - Lifetime JP2708460B2 (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | チップ貼付装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2708460B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111398311A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-07-10 | 深圳市海铭德科技有限公司 | 一种用于芯片镀膜工艺的砝码压力检测校验系统及方法 |
-
1988
- 1988-04-15 JP JP9137088A patent/JP2708460B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111398311A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-07-10 | 深圳市海铭德科技有限公司 | 一种用于芯片镀膜工艺的砝码压力检测校验系统及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2708460B2 (ja) | 1998-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102364002B1 (ko) | 고정밀 본드 헤드 위치 결정 방법 및 장치 | |
JP3425213B2 (ja) | Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置 | |
JP3173676B2 (ja) | プローブ装置 | |
JPH01264626A (ja) | チップ貼付装置 | |
KR102161093B1 (ko) | 기판 접합 장치. | |
JP3210827B2 (ja) | プローバのアライメント方法及び装置 | |
JP2944250B2 (ja) | ヘッド組み立て装置及びヘッド組み立て方法 | |
JPH062271Y2 (ja) | Tabと電極の精密位置決め機構 | |
JPS61198739A (ja) | 電子部品接続用高精度位置決め機構 | |
CN115802141A (zh) | 一种双模组主动对准装配方法、装置、电子设备及介质 | |
JPH1147843A (ja) | 加工機 | |
JPH0216413Y2 (ja) | ||
JPS58127103A (ja) | 目合せマ−ク検出装置 | |
JPH0122604B2 (ja) | ||
JPS63237538A (ja) | ウエハオ−トプロ−バ | |
JPS636942Y2 (ja) | ||
JPH04349233A (ja) | 光素子及びその実装方法 | |
JPH05274835A (ja) | 磁気ヘッドの位置決め接着方法 | |
JPH06150431A (ja) | 測定治具 | |
JPS62200515A (ja) | ヘツド取付治具の調整方法 | |
JPH06153052A (ja) | 3板式撮像ブロックの組立装置 | |
JPS6313234A (ja) | 電子銃測定装置 | |
JPH1125435A (ja) | 磁気ヘッドの測定装置 | |
JPH11296829A (ja) | 磁気ヘッドの位置決め方法および位置決め装置 | |
JPH0461298B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071017 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081017 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081017 Year of fee payment: 11 |