JPH01261690A - Device for inspecting liquid crystal display body - Google Patents

Device for inspecting liquid crystal display body

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JPH01261690A
JPH01261690A JP63090755A JP9075588A JPH01261690A JP H01261690 A JPH01261690 A JP H01261690A JP 63090755 A JP63090755 A JP 63090755A JP 9075588 A JP9075588 A JP 9075588A JP H01261690 A JPH01261690 A JP H01261690A
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lcd
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uninspected
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博 鈴木
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Abstract

PURPOSE:To incline a stage at the same angle as the inclined angle of an object to be inspected before the object is placed on the stage by detecting the inclined angle of the object while the object is carried to the stage. CONSTITUTION:This inspection device is constituted of a detecting section 32 which detects the inclination of an uninspected large-sized liquid crystal display body (LCD) while the LCD is carried to a stage 4 after the LCD is taken out of an uninspected cassette, calculating section 33 which calculates the deviated quantity and deviated angle of the LCD from the inclination information detected by the section 32, and stage inclination driving section 35 which drives the stage 4 in the X- and Y-axis and peripheral directions based on the command of a CPU 34 which is exclusively used for a loader section produced in accordance with the calculated deviated quantity and deviated angle. Then the inclination of the object to be inspected is detected and calculated while the object is carried to the stage 4 after it is taken out of its cassette. Therefore, the stage can be pre-aligned by driving the stage 4 to the same inclination as that of the object.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、液晶表示体検査装置に関する。[Detailed description of the invention] [Purpose of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a liquid crystal display inspection device.

(従来の技術) 近年ではテレビ両面を構成する大型液晶表示体(以下、
LCDと略記する)を被vA祭体とし、この被1察体を
11察検査する検査装置でその特性を観察検査するもの
がある。ところで、LCD表面に多数個形成された画素
をvA察検査する工程がある。
(Prior art) In recent years, large liquid crystal displays (hereinafter referred to as
There is an inspection device that uses an object to be inspected (abbreviated as LCD) as an object to be inspected, and observes and inspects its characteristics using an inspection device that performs eleven inspections on this object. By the way, there is a process of performing vA inspection on a large number of pixels formed on the surface of the LCD.

上記工程では、液晶表示体検査装置のヘッドプレートの
裏側に設けられているプローブ端子電極にLCDの周縁
にある電極を接触させて通電する工程と、通電された後
にLCDの画素の状態を観察検査する工程とが一緒にな
ったLCDプローバと称するLCD検査装置を用いてL
CDの&11察検査を行なっている。
In the above process, the electrodes on the periphery of the LCD are brought into contact with the probe terminal electrodes provided on the back side of the head plate of the liquid crystal display inspection device to supply electricity, and after the electricity is supplied, the state of the pixels of the LCD is observed and inspected. Using an LCD inspection device called an LCD prober that includes the
We are conducting &11 inspection of CDs.

このLCD検査装置において、上述したヘッドプレー1
−に設けられたプローブ端子電極に対応したL CD 
電極を正確な位置で接触するために、位置合わせを行な
っている。この位置合わせには、粗位置合せと微位置合
せとがあり、初めに粗位置合せしたのちに、さらに正確
に位置合わせするために微位置合せを行なっている。こ
の粗位置合せをプリアライメントと称している。
In this LCD inspection device, the above-mentioned head play 1
-LCD corresponding to the probe terminal electrode provided on
Positioning is performed in order to contact the electrodes at precise positions. This positioning includes coarse positioning and fine positioning, and after first rough positioning, fine positioning is performed to achieve even more accurate positioning. This rough alignment is called prealignment.

上記LCD検査装置は、第7図で示すように、検査部■
とローダ部■とから構成されている。上記検査部(1)
にはL CD (3)を載置して仮固定されるステージ
(イ)が設けられている。
As shown in FIG. 7, the LCD inspection device has an inspection section
and a loader section ■. Above inspection department (1)
A stage (A) is provided on which the LCD (3) is placed and temporarily fixed.

上記ローダ部■はカセット■を載置する載置台■と、カ
セット■からX軸方向に移動してLCD■を取出すピン
セット■と、このピンセット■をY軸方向に搬送するY
IIIIIl搬送部(8)と、このY#搬送部(8)と
平行に移動するアライメント板0と、上記ピンセット■
に載置したLCD■をアライメント板(9)に移し替え
るサブチャック(10)と称する機構とから構成されて
いる。
The loader section ■ includes a mounting table ■ on which the cassette ■ is placed, a tweezers ■ that moves in the X-axis direction from the cassette ■ to take out the LCD ■, and a Y that transports the tweezers ■ in the Y-axis direction.
The IIIl transport section (8), the alignment plate 0 that moves parallel to this Y# transport section (8), and the tweezers ■
It consists of a mechanism called a sub-chuck (10) that transfers the LCD (1) placed on the alignment plate (9).

上記ローダ部■の作用はピンセット■によってカセット
■から取出されたLCD■がY軸搬送部(8)を介して
X@方向搬送部(11)に受は渡す位置(12)まで搬
送される。
The action of the loader section (2) is such that the LCD (2) taken out from the cassette (2) is transported by the tweezers (2) to a position (12) where it is transferred to the X@ direction transport section (11) via the Y-axis transport section (8).

この搬送された位@(12)にアライメント板0が空間
を隔てて重なるようにY軸方向に移動配置される。そし
て、上記サブチャック(10)の上昇に伴って、上記L
CD■がピンセフ8■面からサブチャック(10)に移
し替えられたサブチャックは最上部まで上昇する。そし
て、アライメント板0)とY軸方向の位置(12)に移
動配置される。この移動されてアライメント板■)に移
し替えられる。
The alignment plate 0 is moved and arranged in the Y-axis direction at this transported position @(12) so as to overlap with each other with a space in between. Then, as the sub-chuck (10) rises, the L
The sub-chuck (10) in which the CD ■ has been transferred from the surface of the pin safety 8■ to the sub-chuck (10) rises to the top. Then, it is moved to a position (12) in the Y-axis direction with respect to the alignment plate 0). This is moved and transferred to the alignment plate (■).

この移し替えられたLCD■はアライメン1−Fi■)
に設けられたコマ(9a)によってブリ・アライメント
される。このブリ・アライメントされたLCD(3)は
傾きがコマ(9a)によって修正され、ステージ(イ)
と同じ方向に直されている。この傾きが直されたLCD
■はサブチャックのなんでもない動作によってステージ
Ω)に移し替えられる。
This relocated LCD■ is Alignment 1-Fi■)
The frame (9a) provided in the frame (9a) is used for bris alignment. The tilt of this fully aligned LCD (3) is corrected by the frame (9a), and the stage (a)
is oriented in the same direction. LCD with this tilt corrected
■ is transferred to stage Ω) by an ordinary movement of the sub-chuck.

このように、LCD■の四辺の側面を中心に向けてコマ
(9a)が摺動するようにしてブリ・アライメントする
方法が一般的に用いられている。
In this way, a method is generally used in which the frame (9a) slides toward the center of the four sides of the LCD (2) to achieve the alignment.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来のLCD検査装置におけるブリ・ア
ライメントの機構は、搬送状態を一時停止させてアライ
メント板に移し替え、コマ等で抑圧して物理的にブリ・
アライメントしているのでローダ部の機構が複雑になる
と共に、ブリ・アライメントする作業時間の短縮化の障
害となる問題があった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, the burr alignment mechanism in conventional LCD inspection equipment temporarily stops the conveyance state, transfers it to the alignment plate, and physically checks the burr by suppressing it with a piece or the like.
Since alignment is required, the mechanism of the loader section becomes complicated, and there is a problem in that it becomes an obstacle to shortening the working time for the alignment.

また、LCDの四辺の側面をアライメント板に設けられ
たコマがLCDに衝突、また押圧力の強さによって、L
CDの側辺を破損させるという問題もあった。
In addition, the pieces provided on the alignment plate on the four sides of the LCD collide with the LCD, and due to the strength of the pressing force, the
There was also the problem of damaging the sides of the CD.

本発明の目的とするところは、上述した従来の問題点に
ついて健みなされたもので、被検査体が収納されたカセ
ットからステージに搬送する搬送中にこの被検査体の傾
き(ずれ量・ずれ角)を検出し算出し、ステージを上記
傾きに駆動制御するようにしてブリ・アライメントを行
うLCD検査装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and to solve the problem of the inclination (displacement amount/shift) of the object to be inspected during transportation from the cassette in which the object to be inspected is stored to the stage. An object of the present invention is to provide an LCD inspection device that performs bristle alignment by detecting and calculating the angle) and driving and controlling the stage to the above-mentioned inclination.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(a題を解決するための手段) 本発明は被検査体が収納されたカセットから被検査体を
ステージまで搬送し、被検査体の表示状態を検査する検
査装置において。
(Means for Solving Problem A) The present invention relates to an inspection apparatus that transports the object to be inspected from a cassette containing the object to a stage and inspects the display state of the object to be inspected.

上記ステージに搬送される被検査体の傾きを検知し、こ
の被検査体の傾きと同じ傾きに上記ステージを駆動制御
したのち、このステージに被検査体を載置する構成にし
たことを特徴としている。
The structure is characterized in that the inclination of the object to be inspected being conveyed to the stage is detected, the stage is driven and controlled to have the same inclination as the inclination of the object to be inspected, and then the object to be inspected is placed on this stage. There is.

(作用・効果) 被検体をステージまで搬送する搬送中に被検体の傾きを
検知しているので、上記被検体をステージに載置する前
に、このステージを被検査体と同じ傾きに駆動させるこ
とが可能になる。
(Function/Effect) Since the inclination of the subject is detected during transportation of the subject to the stage, the stage is driven to the same inclination as the subject before placing the subject on the stage. becomes possible.

例えば、上記検知は、検出部と算出部とから構成され、
被検査体をステージ搬送する搬送中に被検査体のエツジ
部を検出し、このエツジ位置が検出されるのでエツジ間
距離が算出される。この算出されたエツジ間距煎値から
ずれ量・ずれ角が算出されて検知できる。
For example, the above detection is composed of a detection section and a calculation section,
Edges of the object to be inspected are detected while the object to be inspected is being transported to the stage, and since the edge positions are detected, the distance between the edges is calculated. The deviation amount and deviation angle can be calculated and detected from the calculated edge distance decoupling value.

この算出されたずれ量・ずれ角の値にもとづいて、ステ
ージをずれ量・ずれ角に駆動制御させることができる。
Based on the calculated values of the deviation amount and deviation angle, the stage can be driven and controlled to the deviation amount and deviation angle.

そして、ずれ量・ずれ角に駆動制御されたステージに被
検査体を載置することができる。
Then, the object to be inspected can be placed on the stage whose drive is controlled according to the amount of deviation and angle of deviation.

上記被検査体をa置したステージを正規位置に戻すこと
により、この被検査体の傾きが補正されてブリ・アライ
メントが完了することになる。
By returning the stage on which the object to be inspected is placed a to its normal position, the inclination of the object to be inspected is corrected and the alignment is completed.

上記被検査体をステージに搬送する搬送中に被検査体の
傾きを検知したのち、ステージをL泥波検査体と同じ傾
きに載置しているので、搬送を〜時停止させることなく
、ブリ・アライメントを行うためにブリ・アライメント
時間を短縮させることができる。
After detecting the inclination of the object to be inspected during transport of the object to be inspected to the stage, the stage is placed at the same inclination as the L mud wave inspection object.・It is possible to shorten the time required for alignment.

」二泥波検査体を押えることなくブリ・アライメント可
能なので、被検査体を破損させることがないという効果
がある。
Since it is possible to carry out alignment without holding down the object to be inspected, there is an effect that the object to be inspected will not be damaged.

(実施例) 以下、本発明LCD検査装置をLCD検査装置システム
に適用して図面を参照して説明する。
(Example) Hereinafter, the LCD inspection apparatus of the present invention will be explained by applying it to an LCD inspection apparatus system with reference to the drawings.

上記説明において、従来例で説明した同一部品は同一符
号を用いて説明する。
In the above description, the same parts described in the conventional example will be described using the same symbols.

この実施例は、LCD電極にプローブ端子電極を接触さ
せて、パターンジェネレータからのパターン信号でLC
D画素が表示して、これを観察検査してLCDの完成度
合によって振分けるものである。
In this embodiment, a probe terminal electrode is brought into contact with an LCD electrode, and a pattern signal from a pattern generator is used to control the LCD.
The D pixels are displayed, which are then inspected and sorted according to the degree of completion of the LCD.

先ず、L CD検査装置システムについて説明す机 上、記LCD検査装置システム(13)の外観構成につ
いて第6図を参照して説明する。
First, to explain the LCD inspection apparatus system, the external configuration of the LCD inspection apparatus system (13) will be described with reference to FIG. 6.

先ず、テスタ(14)とLCD検査装置(15)とから
構成されている。従って、上記LCD検査装置(15)
で順次検査されるLCDの電極がプローブ端子電極と接
触して、このプローブ端子電極と接続されたテスタによ
ってテストパターンが送られてきて順次LCDを検査す
るようになっている。
First, it consists of a tester (14) and an LCD inspection device (15). Therefore, the above LCD inspection device (15)
The electrodes of the LCDs to be sequentially tested come into contact with the probe terminal electrodes, and a test pattern is sent by a tester connected to the probe terminal electrodes to sequentially test the LCDs.

上記LCD検査装vi(15)+L LCD(7)電極
にプローブ端子電極を接触させる検査部(1)と、検査
部0)にLCDを搬送させるローダ部■とから構成され
ている。
The LCD inspection device vi(15)+L consists of an inspection section (1) that brings probe terminal electrodes into contact with the LCD (7) electrodes, and a loader section (2) that transports the LCD to the inspection section 0).

尚、上記LCD検査装置(15)において、LCDのア
ライメントターゲットマークを用いて位置合せを行う場
合に、オペレータがアライメントを行うのに必要な表示
装置1例えばテレビ画面(16)が設けられている。さ
らに、LCD電極にプローブ端子電極が設定位置で接触
しているかを確認するスコープ(17)が設けられてい
る。
The LCD inspection apparatus (15) is provided with a display device 1, such as a television screen (16), which is necessary for the operator to perform alignment when alignment is performed using alignment target marks on the LCD. Furthermore, a scope (17) is provided for checking whether the probe terminal electrode is in contact with the LCD electrode at the set position.

また、上記L CD検査袋!(15)に操作入力された
フロッピディスク(15a)を挿入する挿入部(15b
)が設けられている。
Also, the above L CD inspection bag! (15) into which the floppy disk (15a) is inserted (15b).
) is provided.

次に、上記LCD検査装置(15)の内部構成について
第5図を参照して説明する。
Next, the internal structure of the LCD inspection device (15) will be explained with reference to FIG. 5.

上記検査部(1)は、アライメント部(図示せず)及び
ステージ(イ)とから構成されている。
The inspection section (1) is composed of an alignment section (not shown) and a stage (A).

上記ステージ■は、載置されるLCD■より表面積の大
きい四角形状に形成されている。
The stage (2) is formed into a rectangular shape with a larger surface area than the LCD (2) on which it is placed.

この四角形状のステージ(イ)の底部中心には回転自在
な軸が設けられ、回動自在に構成されている。
A rotatable shaft is provided at the center of the bottom of this rectangular stage (A), and it is configured to be rotatable.

即ち、上記ステージ(イ)は矢印で示すようにX軸方向
に駆動させるX軸駆動モータ(18)と、Y軸方向に駆
動させるY軸駆動モータ(19)とがボールスクリ軸(
20)とこのボールスクリ軸に螺合結合で支持したナツ
ト(図示せず)で移動自在に設けられている。
That is, in the stage (A), as shown by the arrow, an X-axis drive motor (18) that drives in the X-axis direction and a Y-axis drive motor (19) that drives in the Y-axis direction are connected to the ball screw shaft (
20) and a nut (not shown) that is threadedly supported by the ball screw shaft.

以上、上記ステージ(イ)はX軸、Y軸方向に移動する
ことを説明したが、周回動方向について説明すると、上
記ステージ(イ)の底部中心には回動自在な軸がタイミ
ングベルト(21)等で回動モータ(22)と張架され
、この回動モータ(22)をCPUの指令にもとづいて
回動する如く駆動して、上記ステージに)の回動を行う
ことが可能に設けられている。
Above, it has been explained that the stage (A) moves in the X-axis and Y-axis directions, but to explain the rotation direction, there is a rotatable shaft at the center of the bottom of the stage (A), which is attached to the timing belt (21). ) etc., and the rotary motor (22) is driven to rotate based on a command from the CPU, so that the stage can be rotated. It is being

次に上記ローダ部■の構成について説明する。Next, the configuration of the loader section (2) will be explained.

上記ローダ部■は未検査L CD (23)が収納され
た未検査用カセット(24)からL CD (23)を
取出してステージ(イ)に搬送する搬送中にブリ・アラ
イメントしてステージに受は渡すと同時に検査終了のL
 CD (25)をカセット内に収納するものである。
The above-mentioned loader section (2) takes out the L CD (23) from the uninspected cassette (24) containing the uninspected L CD (23) and carries it to the stage (A). The inspection ends at the same time as the L
A CD (25) is stored in a cassette.

上記ローダ部■は、未検査用カセット(24)を載置す
る載置台■と、この未検査用カセット(24)からL 
CD (23)を取出すピンセット■と、このピンセッ
トを、Y軸方向に移動させるY軸搬送部(8)と、この
Y軸搬送部■から、ステージ0)にL CD (23)
を受は渡すX軸方向搬送部(11)とから構成されてい
る。
The loader section (■) includes a mounting table (■) on which an uninspected cassette (24) is placed, and an L from this uninspected cassette (24).
A tweezers ■ takes out the CD (23), a Y-axis transport section (8) moves the tweezers in the Y-axis direction, and from this Y-axis transport section ■, the L CD (23) is transferred to stage 0).
The receiver is made up of an X-axis direction conveying section (11) for passing.

上記載置台■は、未検査用カセット(24)、完成品用
カセット(26) 、半完成品用カセット(27)、及
び不良品用カセット(28)を並列に揃える如く設けら
れている。この夫々のカセットからLCDと出入可能に
設けられていることは言うまでもない。
The above-mentioned mounting table (2) is provided so as to arrange the uninspected cassette (24), the finished product cassette (26), the semi-finished product cassette (27), and the defective product cassette (28) in parallel. Needless to say, each cassette is provided so that the LCD can be accessed and removed from the cassette.

上記ピンセット■は昇降部(図示せず)の頂面に設けら
れ、さらにこの昇降部(図示せず)の底面は、Y軸方向
に移動されるY@[送部(8)に設けられている。
The tweezers (■) are provided on the top surface of the elevating section (not shown), and the bottom surface of this elevating section (not shown) is provided on the Y@[feeding section (8)] which is moved in the Y-axis direction. There is.

上記X軸方向搬送部(11)はステージG)にLCD 
 ”(23)を受は渡し、検査終了後のL CD (2
5)は、ピンセット■に受は戻すように構成されている
The X-axis direction transport section (11) has an LCD on the stage G).
” (23) to Uke, and after the inspection, the L CD (2
5) is configured so that the receiver is returned to the tweezers ■.

ここで、上記X軸方向搬送部(11)は、ステージ(イ
)とピンセット■との距離りを離れた位置をX軸方向に
移動自在に設けられている。
Here, the X-axis direction conveyance section (11) is provided so as to be movable in the X-axis direction at a position apart from the stage (A) and the tweezers (2).

上記ロータ部■の夫々の構成は、ローダ部専用のCPU
の指令に基づいて駆動制御されている。
Each of the above rotor sections ■ has a CPU dedicated to the loader section.
The drive is controlled based on the command.

ここで、上記y**m送部(ハ)は、Y軸モータ(29
)で駆動され、上記ピンセット■は進退モータ(30)
で駆動される。上記X軸方向搬送部(11)は、X軸モ
ータ(31)で駆動されるようになっている。
Here, the y**m feed section (c) is a Y-axis motor (29
), and the tweezers ■ above are driven by a forward/backward motor (30).
is driven by. The X-axis direction conveyance section (11) is driven by an X-axis motor (31).

本実施例の特徴は、未検査用L CD (23)を未検
査用カセット(24)から取出し、ステージ(イ)に搬
送する搬送中にL CD (23)の傾きを検出し、こ
の検出した傾きからXY軸方向のずれ量と1回転ずれ角
とを算出して、この算出されたずれ量及びずれ角でステ
ージに)を移W!j+させたのちにLCDをJ”l l
l′tする。そして、ステージ0)を正規位置に戻して
ブリ・アライメントを行うところにある。
The feature of this embodiment is that the inclination of the L CD (23) is detected while the uninspected L CD (23) is taken out from the uninspected cassette (24) and transported to the stage (A). Calculate the amount of deviation in the XY axis directions and the deviation angle of one rotation from the inclination, and move the W! to the stage using the calculated deviation amount and deviation angle. After setting the value to j+, change the LCD to J”l l
l't. Then, the stage 0) is returned to its normal position and the tail alignment is performed.

本実施例の特徴的構成は、第1図に示すように未検査L
 CD (23)が未検査用カセット(24)から取出
しステージO)に搬送する搬送中に傾きを検出する検出
部(32)と、この検出された傾き情報からずれ量、及
びずれ角を算出する算出部(33)とこの算出されたず
れ量、及びずれ角でローダ部専用cPU (34)の指
令にもとづいてステージO)のX軸・Y軸及び周回動方
向に駆動させるステージ傾斜駆動部(35)とから構成
されている。
The characteristic configuration of this embodiment is as shown in FIG.
A detection unit (32) detects the inclination while the CD (23) is being transported from the uninspected cassette (24) to the takeout stage O), and calculates the amount of deviation and deviation angle from the detected inclination information. The stage tilt drive unit (33) drives the stage O) in the X-axis, Y-axis and rotational direction based on the commands from the loader unit dedicated cPU (34) using the calculated deviation amount and deviation angle. 35).

先ず、上記検査部(32)の構成は、第3図で示すよう
に、ピンセット■で未検査用カセット(24)から検査
用L CD (23)を取出してステージ0)に受は渡
す搬送路に光学センサ、例えば反射形センサ(36)を
設けている。
First, as shown in FIG. 3, the inspection section (32) has a transport path where the inspection LCD (23) is taken out from the uninspected cassette (24) using tweezers and transferred to stage 0). is provided with an optical sensor, for example a reflective sensor (36).

この反射形センサ(36)位置を一定の速度で通過させ
ることにより、このL CD (23)が上記反射形セ
ンサ(36)底部を通過した駆動モータのパルス量を検
出するものである。
By passing this reflective sensor (36) position at a constant speed, this L CD (23) detects the amount of pulses of the drive motor that has passed the bottom of the reflective sensor (36).

即ち、未検査L CD (23)を未検査用カセット(
24)から取出し、ステージ(イ)に搬送する搬送中に
このLCD■の傾きのずれ量・ずれ角を検出する検出部
(32)は、搬送路(37)中心の対称位置に反射形セ
ンサ(36)をL CD (23)面と対向して設けら
れている。
That is, the untested L CD (23) is placed in the untested cassette (
A detection unit (32) that detects the deviation amount and deviation angle of the inclination of this LCD (24) during transport while transporting it to the stage (A) is equipped with a reflective sensor ( 36) is provided facing the L CD (23) surface.

この反射形センサ(36)は、未検査用カセット(24
)から未検査L CD (23)を取出す方向1例えば
X軸方向に一対の反射形センサ(36a)を設ける。
This reflective sensor (36) is connected to the uninspected cassette (24).
) A pair of reflective sensors (36a) are provided in the direction 1 for taking out the uninspected L CD (23) from, for example, the X-axis direction.

この一対の反射形センサ(36a)間距離をYsとして
いる。
The distance between the pair of reflective sensors (36a) is defined as Ys.

同様にして、取出された未検査L CD (23)をX
軸方向搬送部(11)に受は渡す位II(12)まで搬
送する途中に一対の反射形センサ(36b)を設けてい
る。
Similarly, the uninspected L CD (23) taken out is
A pair of reflective sensors (36b) are provided in the axial direction conveyance section (11) while conveying the receiver to the transfer point II (12).

この一対の反射形センサ(36b)間距離をXsとして
いる。上記反射形センサ(36)は発光部と受光素子と
が一対に構成され、発光部から照射した光量が反射によ
って受光素子に入射する反射がデジタル信号で感知する
ようになっている。
The distance between the pair of reflective sensors (36b) is defined as Xs. The reflective sensor (36) is configured with a light emitting part and a light receiving element as a pair, and the amount of light irradiated from the light emitting part is reflected and incident on the light receiving element, and the reflection is detected as a digital signal.

次に、上記検出部(32)の作用について説明する。Next, the operation of the detection section (32) will be explained.

この検出部(32)は基準データの入力と、未検査LC
Dの傾きを求めるデータ抽出に用いられている。
This detection unit (32) inputs reference data and detects uninspected LC.
It is used for data extraction to find the slope of D.

即ち、上記基準データの入力方法はステージG)の位置
角度方向の基準データをRA M (3g)に入力する
ために長さ方向X。、幅方向Y。のL CD (39)
(以下基準LCDと略記する)を第3図で示すように、
ピンセット■の中心(7a)位置に合わせて載置する。
That is, the method of inputting the reference data is to input the reference data in the position and angle direction of the stage G) into the RAM (3g) in the length direction X. , width direction Y. L CD (39)
(hereinafter abbreviated as reference LCD) as shown in Fig. 3,
Place it on the center (7a) of the tweezers ■.

この載置はオペレータが行う。この載置した状態でピン
セット■をX軸方向に設定された速度で搬送する。
This placement is performed by the operator. In this placed state, the tweezers (2) are transported in the X-axis direction at a set speed.

この時に上記基準L CD (39)のエツジ部(ey
g+f−h)を検出することができる。
At this time, the edge part (ey
g+f−h) can be detected.

同様にして、上記ビンセラI−〇をY軸方向に設定され
た速度で搬送する。
Similarly, the Vincera I-0 is transported at a set speed in the Y-axis direction.

この時に」二記基準L CD (39)のエツジ部(a
tb、c)を検出することができる。
At this time, the edge part (a
tb, c) can be detected.

二の基準LCD (39)のエツジ位置の基準データは
RAM (38)に記憶される。
The reference data of the edge position of the second reference LCD (39) is stored in the RAM (38).

上記未検査L CD (23)の検出データ算出は第2
図に示すように、未検査用カセット(24)から未検査
L CD (23)をピンセット■で取出す。
The detection data calculation for the uninspected L CD (23) is performed in the second
As shown in the figure, take out the uninspected L CD (23) from the uninspected cassette (24) with tweezers ■.

この取出された未検査L CD (23)はX軸方向、
Y軸方向に設定された速度では搬送する。
This taken out uninspected L CD (23) is in the X-axis direction,
It is transported at the speed set in the Y-axis direction.

この時に、未検査L CD (23)のエツジ部(a′
、b′。
At this time, the edge part (a') of the uninspected L CD (23)
,b′.

C’ +d’ re’ +f’ +g’ +h’ )を
検出することができる。
C' + d're' + f' + g' + h') can be detected.

次に−1−記算出部(33)について説明する。上述し
たように未検査L CD (23)のエツジ部が検出で
きるので基準データと比軟して、未検i L CD (
23)の傾き、即ち、XY軸方向のずれ1で、回動方向
のずれ角が算出することができる。
Next, the -1- entry calculation unit (33) will be explained. As mentioned above, since the edge portion of the uninspected L CD (23) can be detected, it is compared with the reference data and the uninspected i L CD (
23), that is, a deviation of 1 in the XY axis direction, the deviation angle in the rotation direction can be calculated.

この算出は例えばXY軸方向のずれ量、及び回動方向の
ずれ角を計算する計算式は、先ず、基準L CD (3
9)に対するずれ角をθとすれば、また基準L CD 
(39)に対するずれ量をΔX、Δyとすればで表わさ
れる。
For example, the calculation formula for calculating the amount of deviation in the XY axis direction and the deviation angle in the rotation direction is based on the reference L CD (3
If the deviation angle with respect to 9) is θ, then the reference L CD
If the amount of deviation with respect to (39) is ΔX and Δy, then it is expressed as ΔX and Δy.

同様にして で表わされる。in the same way It is expressed as

上記した計算式を演算し、ずれ量・ずれ角を算出するよ
うに構成されている。
It is configured to calculate the amount of deviation and angle of deviation by calculating the above-mentioned calculation formula.

以上で算出部の説明を終る。This concludes the explanation of the calculation section.

次に、上記ステージX、Y、0.rg動部(35)ハ、
上記算出部(33)で算出された、ずれ量・ずれ角の信
号がステージ専用CP U (34a)とローダ部専用
CP U (34)間データ通信によりステージ専用C
PU (34a)に入力される。
Next, the stages X, Y, 0. rg moving part (35) c,
The signals of the deviation amount and deviation angle calculated by the calculation section (33) are sent to the stage-dedicated C through data communication between the stage-dedicated CPU (34a) and the loader section-dedicated CPU (34).
It is input to PU (34a).

このステージ専用CP U (34a)がステージは)
のX軸方向、Y軸方向及び回動方向に制御駆動されるよ
うに構成されている。
This stage dedicated CPU (34a) is the stage)
It is configured to be controlled and driven in the X-axis direction, Y-axis direction, and rotational direction.

次に1作用について説明する。Next, one effect will be explained.

ローダ部■の載置台0に未検査用カセット(24)を載
置し、さらに検査終了後のL CD (25)が収納さ
れる収納カセット(26,27,28)を合計、複数個
載置する。
Place the untested cassette (24) on the loading table 0 of the loader section (■), and also place a total of multiple storage cassettes (26, 27, 28) for storing the L CD (25) after the test. do.

オペレータが、ローダ部■のピンセット■の中心(7a
)に基準L CD (39a)の中心を重ねるように載
置する。
The operator holds the center of the tweezers ■ (7a) in the loader section ■.
) so that the centers of the reference L CD (39a) overlap.

この載置された基準L CD (39)は、X軸方向、
及びY軸方向の搬送路に設けた反射形センサ(36a。
This placed reference L CD (39) is
and a reflective sensor (36a) provided on the transport path in the Y-axis direction.

36)で上記基準L CD (39)のエツジ部(ay
 b+Q + d +  e +  f +  g )
が検出される。
36), the edge part (ay
b + Q + d + e + f + g)
is detected.

このエツジ部(ay b+ Q+ d+ e+  f+
 g)の位置は、RA M (38)の番地に記憶する
This edge part (ay b+ Q+ d+ e+ f+
The location of g) is stored at address RAM (38).

次に、ローダ部専用CP U (34)の指令にもとづ
いてY#lll1送部(ハ)及びピンセット■が駆動し
て未検査用カセット(24)から未検査L CD (2
3)を取出す。
Next, based on the command from the loader section dedicated CPU (34), the Y#lll1 feeding section (c) and the tweezers ■ are driven to transfer the uninspected L CD (2) from the uninspected cassette (24).
3) Take it out.

この取出された未検査L CD (23)をY軸搬送部
(8)の駆動で、X軸方向搬送部(11)に未検査LC
D(23)を受は渡す位置まで搬送する。
This taken out uninspected L CD (23) is driven by the Y-axis transport section (8), and the uninspected L CD (23) is transferred to the X-axis transport section (11).
The receiver transports D (23) to the delivery position.

上記搬送中において上記未検査L CD (23)のエ
ツジ(a/ 、b+ 、c/ 、d+ 、e/ 4′9
g/ N )を検出することになる。
During the transportation, the edges (a/ , b+ , c/ , d+ , e/ 4'9 of the uninspected L CD (23)
g/N).

そして、上述した算出部(33)では、上記未検査L 
CD (23)のエツジ(a# 、b′、c/ 、d/
 、e+ 、fl 、gl 、hf )情報から、ずれ
角(ill)を を算出し、さらにX方向のずれ量(ΔX)をY方向のず
れ量(Δy)を と算出する。
Then, in the calculation unit (33) mentioned above, the uninspected L
CD (23) edges (a#, b', c/, d/
, e+ , fl , gl , hf ) information, the deviation angle (ill) is calculated, and furthermore, the deviation amount in the X direction (ΔX) and the deviation amount in the Y direction (Δy) are calculated.

この算出されたずれ角(θ)、X方向ずれ量(ΔX)及
びY方向ずれ量(Δy)はステージ専用CPU(34a
)の指令によって、ステージXYf3駆動部(35)を
駆動させて、ステージに)方向を未検査LCD(23)
方向と合わせるように駆動制御することになる。
The calculated deviation angle (θ), the amount of deviation in the X direction (ΔX), and the amount of deviation in the Y direction (Δy) are processed by the stage-dedicated CPU (34a
), the stage XYf3 drive unit (35) is driven, and the uninspected LCD (23)
The drive will be controlled to match the direction.

このステージ(イ)に未検査L CD (23)を載置
し仮固定、例えば真空圧で吸着固定する。
An uninspected L CD (23) is placed on this stage (A) and temporarily fixed, for example, by vacuum pressure.

上記ステージ(イ)は基の正規位置に回動するように駆
動してプリアライメントを終了することになる。
The stage (a) is driven to rotate to the original normal position, and the pre-alignment is completed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のLCD検査装置の特徴的構成を説明す
るためのブロック説明図、第2図は第1図の未検査LC
Dのエツジ部を検出する方法を説明するための説明図、
第3図は第1図の基準LCDのエツジ部を検出する方法
を説明するための説明図、第4図は第1図の作用を説明
するためのフローチャート図、第5図は第1図のLCD
検査装置の検査部、ローダ部を説明するための説明図、
第6図は第1図のLCD検査装置を一実施例であるLC
D検査装置システムの外a構成を説明するための説明図
、第7図は従来のLCD検査装置を説明するための説明
図である。 13・・・LCD検査装置システム、 15・・・LCD検査装置、 23・・・未検査LCD
、24・・・未検査用カセット、 25・・・検査部L
CD、32・・・検出部、 33・・・算出部、34・
・・ローダ部専用CPU、 34a・・・ステージ専用CPU。 35・・・ステージX、YO駆動部、36・・・反射セ
ンサ、36a・・・(X軸用)反射センサ、 36b・・・(Y@用)反射センサ。 特許出願人  東京エレクトロン株式会社第2図 第3図 第4図 第6図
FIG. 1 is a block explanatory diagram for explaining the characteristic configuration of the LCD inspection device of the present invention, and FIG. 2 is an uninspected LC of FIG. 1.
An explanatory diagram for explaining a method of detecting the edge portion of D,
3 is an explanatory diagram for explaining the method of detecting the edge portion of the reference LCD in FIG. 1, FIG. 4 is a flowchart diagram for explaining the operation of FIG. 1, and FIG. LCD
An explanatory diagram for explaining the inspection section and loader section of the inspection device,
FIG. 6 shows an example of the LCD inspection apparatus shown in FIG.
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining the external configuration of the D inspection device system, and FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining the conventional LCD inspection device. 13...LCD inspection device system, 15...LCD inspection device, 23...Uninspected LCD
, 24... uninspected cassette, 25... inspection section L
CD, 32...detection section, 33...calculation section, 34.
...CPU dedicated to the loader section, 34a...CPU dedicated to the stage. 35... Stage X, YO drive section, 36... Reflective sensor, 36a... (For X axis) reflective sensor, 36b... (For Y@) reflective sensor. Patent applicant Tokyo Electron Ltd. Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被検査体が収納されたカセットから被検査体をステージ
まで搬送し、被検査体の表示状態を検査する検査装置に
おいて、 上記ステージに搬送される被検査体の傾きを検知し、こ
の被検査体の傾きと同じ傾きに上記ステージを駆動制御
したのち、このステージに被検査体を載置する構成にし
たことを特徴とする液晶表示体検査装置。
[Claims] In an inspection device that transports an object to be inspected from a cassette containing the object to a stage to a stage and inspects the display state of the object, the inclination of the object to be inspected being conveyed to the stage is detected. A liquid crystal display inspection apparatus characterized in that the stage is driven and controlled to have the same inclination as the inclination of the object to be inspected, and then the object to be inspected is placed on the stage.
JP63090755A 1988-04-13 1988-04-13 Liquid crystal display inspection equipment Expired - Lifetime JP2640751B2 (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009041969A (en) * 2007-08-07 2009-02-26 Shimadzu Corp Array inspection system and prober frame tilt correction method

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