JPH01255263A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JPH01255263A
JPH01255263A JP63083700A JP8370088A JPH01255263A JP H01255263 A JPH01255263 A JP H01255263A JP 63083700 A JP63083700 A JP 63083700A JP 8370088 A JP8370088 A JP 8370088A JP H01255263 A JPH01255263 A JP H01255263A
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circuit
ground potential
output
diode
input
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Yasuhiro Nunokawa
康弘 布川
Hirotaka Mochizuki
博隆 望月
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/06Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration

Abstract

PURPOSE:To extend the dynamic range of a signal based on input/output terminals by supplying an operation voltage and/or a circuit ground potential from an exterior through a unidirectional element, and providing a unidirectional element directed from an inner ground potential to the input/output terminals and a unidirectional element directed from the terminals to the inner operation voltage. CONSTITUTION:A unidirectional element D1 provided to transmit a ground potential GND and/or an operation voltage Vcc to be supplied from an outer terminal to the ground potential GND' or the operation voltage of an inner circuit, a unidirectional element D2 provided to supply a current directed from the ground potential GND' toward an input and/or output terminal OUT and/or a unidirectional element provided to supply a current directed from an input and/or output terminal toward the operation voltage of the circuit are provided. For example, the ground potential GND' of the inner circuit is applied through a diode D1. In order that an output MOSFETQ1 is not again turned ON by a reverse electromotive force of a load L, a diode D2 directed from the ground potential GND' of the circuit to the output terminal OUT is provided.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路装置に関し、例えばソース
フォロワ形態の出力MOS F ETを用いて誘導性負
荷を駆動する出力回路に利用して有効な技術に関するも
のである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and can be effectively applied to an output circuit that drives an inductive load using, for example, a source follower type output MOS FET. It's about technology.

(従来の技術〕 誘導性負荷を駆動するパワー出力回路の例として、例え
ば雑誌「電子技術J1987年11月号、頁22〜頁2
5がある。このパワーMO3FETは、ソースを接地し
、ドレインに誘導性負荷であるモータ等を接続するもの
である。
(Prior Art) As an example of a power output circuit that drives an inductive load, for example, the magazine "Electronic Technology J November 1987 issue, pages 22 to 2
There are 5. This power MO3FET has a source grounded and a drain connected to an inductive load such as a motor.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

電子燃料噴射用のソレノイド等のように自動車搭載用の
パワー出力回路は、パワー出力素子を電源電圧側とし、
負荷を回路の接地電位側にするハイサイド駆動回路(ソ
ースフォロワ回路)とすることが望ましい。なぜなら、
負荷を電源電圧側に接続すると、衝突事故等により負荷
が接地されると、そこに過電流が流れて火災を引き起こ
す虞れがあるからである。
Power output circuits installed in automobiles, such as electronic fuel injection solenoids, have power output elements on the power supply voltage side.
It is desirable to use a high-side drive circuit (source follower circuit) in which the load is placed on the ground potential side of the circuit. because,
This is because if the load is connected to the power supply voltage side and the load is grounded due to a collision or the like, there is a risk that an overcurrent will flow there and cause a fire.

ところが、第9図に示すようなソースフォロワ出力回路
においては、駆動MO3FETQ2をオン状態にして、
出力MO3FETQIのゲートを回路の接地電位のよう
なロウレベルにすると出力MOS F ETQ 1をオ
ン状態からオフ状態にすることができる。しかし、負荷
りに逆起電圧が発生するため、第1O図に示すように、
出力MO3FETQIのソース電位が負電位になり、そ
れが出力MO3FETQIの実質的なしきい値電圧vt
hに達すると、出力MO3FETQIが再びオン状態に
なり出力端子OUTの電位をクランプさせる。
However, in the source follower output circuit as shown in FIG. 9, when the drive MO3FETQ2 is turned on,
By setting the gate of the output MO3FETQI to a low level such as the ground potential of the circuit, the output MOSFETQ1 can be turned from the on state to the off state. However, since a back electromotive force is generated in the load, as shown in Figure 1O,
The source potential of the output MO3FETQI becomes a negative potential, which becomes the effective threshold voltage vt of the output MO3FETQI.
When the voltage reaches h, the output MO3FETQI turns on again and clamps the potential of the output terminal OUT.

上記しきい値電圧vthは、絶対値的に比較的小さな電
圧であるため、上記負荷りに蓄えられたエネルギーを放
出させるのに時間がかかり、実質的な出力MOS F 
ETのオフ状態への切り換えを遅くする。このことは、
上記負荷りをパルス幅変調信号により駆動する場合、上
記逆起電圧期間、言い換えるならば、上記出力MOS 
F ETの実質的なオフ状態への切り換え時間が長くな
ると、その分パルス幅変調信号のパルス幅デユーティが
制約を受けて制御範囲が狭くなる。
Since the threshold voltage vth is a relatively small voltage in absolute value, it takes time to release the energy stored in the load, and the actual output MOS F
Slows down the switching of the ET to the off state. This means that
When the load is driven by a pulse width modulation signal, the back electromotive voltage period, in other words, the output MOS
As the switching time of the FET to the substantially OFF state becomes longer, the pulse width duty of the pulse width modulation signal is restricted accordingly, and the control range becomes narrower.

上記のような出力回路の他、第11図に示すようなPN
P型トランジスタTIによる入力回路にあっては、入力
端子INに供給される入力信号が負極性の電圧になろう
とすると、PNP )ランジスタの構造上存在するダイ
オードD3がオン状態となり、入力信号をクランプする
とともに、その電流により内部回路が誤動作してしまう
。例えば、テレビジョン受像回路において、フライバッ
クトランス等により形成される信号は負極性の電圧にな
るため、上記のような入力回路を用いると誤動作を生じ
る。
In addition to the above output circuit, a PN as shown in Figure 11
In an input circuit using a P-type transistor TI, when the input signal supplied to the input terminal IN becomes a negative polarity voltage, the diode D3, which exists in the structure of the PNP transistor, turns on and clamps the input signal. At the same time, the current causes the internal circuit to malfunction. For example, in a television receiver circuit, a signal formed by a flyback transformer or the like has a negative polarity voltage, so if the above-described input circuit is used, malfunctions will occur.

すなわち、従来の半導体集積回路装置では、回路の動作
電圧及び接地電位が回路外部もしくは内部の低インピー
ダンス電源により一義的に決められていることから、入
力又は出力端子からみた場合、その電圧が動作電圧以上
及び回路の接地電位以下になったとき、動作保証がなさ
なていないという問題を有するものである。
In other words, in conventional semiconductor integrated circuit devices, the operating voltage and ground potential of the circuit are uniquely determined by a low impedance power supply external or internal to the circuit, so when viewed from the input or output terminal, the voltage is the operating voltage. There is a problem in that operation is not guaranteed when the voltage drops below the ground potential of the circuit.

この発明の目的は、入出力端子からみた信号のダイナミ
ックレンジを拡大できる半導体集積回路装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device that can expand the dynamic range of signals viewed from input/output terminals.

この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、半導体集積回路に対して一方向性素子を介し
て外部から動作電圧及び/又は回路の接地電位を供給す
るとともに、内部の接地電位から入出力端子に向かう一
方向性素子及び/又は入出力端子から内部の動作電圧に
向かう一方向性素子を設ける。
That is, the operating voltage and/or circuit ground potential is supplied from the outside to the semiconductor integrated circuit via the unidirectional element, and the unidirectional element and/or input/output terminal is supplied from the internal ground potential to the input/output terminal. A unidirectional element is provided from the terminal to the internal operating voltage.

〔作 用〕[For production]

上記した手段によれば、一方向性素子のスイッチング動
作により入力及び/又は出力端子の信号は、内部の動作
電圧及び/又は接地電位の制約を受けるとなく拡大でき
る。
According to the above means, the signal at the input and/or output terminal can be expanded by the switching operation of the unidirectional element without being restricted by the internal operating voltage and/or ground potential.

〔実施例〕〔Example〕

第1図には、この発明に係るパワー出力回路をモータや
ソレノイド等のような誘導性負荷りを駆動するハイサイ
ド駆動回路(ソースフォロワ回路)に用いた場合の一実
施例の回路図が示されている。
FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment in which the power output circuit according to the present invention is used in a high-side drive circuit (source follower circuit) that drives an inductive load such as a motor or a solenoid. has been done.

この実施例のパワー出力回路は、同図に破線で示したよ
うに1つの集積回路ICとして形成され、特に制限され
ないが、パワーMO3FETQIは、後述するようにそ
のドレイン領域として基板が用いられ、基板の裏面側に
ドレイン電極が設けられる構造とされる。
The power output circuit of this embodiment is formed as one integrated circuit IC as shown by the broken line in the same figure. Although not particularly limited, the power MO3FETQI uses a substrate as its drain region as described later, and The structure is such that a drain electrode is provided on the back side of the device.

パワーMO3FETQIのドレインは、電源電圧Vcc
に結合される。上記MO3FETQIのソースは、外部
端子OUTに結合され、そこに上記モータやソレノイド
等のようなりM 導性の負荷りが設けられる。それ故、
パワー出力MO3FETQ1は、ソースフォロワ出力M
OS F ETとして動作する。
The drain of the power MO3FET QI is connected to the power supply voltage Vcc
is combined with The source of the MO3FET QI is coupled to an external terminal OUT, to which an M conductive load such as the motor or solenoid is provided. Therefore,
The power output MO3FET Q1 is the source follower output M
Operates as an OS FET.

上記パワーMO3FETQIのゲートには駆動MOSF
ETQ2と負荷抵抗RLからなる駆動回路が設けられる
。駆動回路の動作電圧は、昇圧回路BSTにより上記電
源電圧Vccを昇圧した電圧Vcc+Vが用いられる。
The gate of the above power MO3FETQI has a drive MOSFET.
A drive circuit consisting of ETQ2 and a load resistor RL is provided. As the operating voltage of the drive circuit, a voltage Vcc+V obtained by boosting the power supply voltage Vcc by a booster circuit BST is used.

上記駆動MOS F BTQ2のゲートには、特に制限
されないが、インバータ回路N1を通して制御信号in
が供給される。
Although not particularly limited, a control signal in is applied to the gate of the drive MOS F BTQ2 through an inverter circuit N1.
is supplied.

特に制限されないが、インバータ回路N1は、その動作
電圧が上記電源電圧Vccに比べて比較的低い5■系の
電圧とされる。これに応じて、上記制御信号inはハイ
レベルを5■として、ロウL/ベルの回路の接地電位の
ような比較的低い論理レベルとされる。したがって、上
記インバータ回路N1とMO3FETQ2と抵抗Rから
なる駆動回路は一種のレベル変換動作を行うものである
Although not particularly limited, the operating voltage of the inverter circuit N1 is set to a voltage in the 5-inch range, which is relatively lower than the power supply voltage Vcc. Accordingly, the control signal in has a high level of 5■, which is a relatively low logic level such as the ground potential of a low L/bell circuit. Therefore, the drive circuit consisting of the inverter circuit N1, MO3FET Q2, and resistor R performs a type of level conversion operation.

この実施例では、上記出力MO3FETQIのオフ状態
への実質的なスイッチング速度を速くするために次の構
成にされる。すなわち、上記駆動MO3FETQ2のソ
ースのような内部回路の接地電位GND’ は、ダイオ
ードDIを通して与えられる。すなわち、外部の接地電
位GNDに対してIC内部回路の接地電位GND’ は
、上記ダイオードD1の順方向電圧骨だけレベルシフト
された高い電圧になる。この接地電位GND’ は、上
記インバータ回路N1や昇圧回路BSTの接地電位とし
ても用いられる。そして、出力端子OUTにおける負極
性側のダイナミックレンジを拡大するために、言い換え
るならば、出力MO5FETQ1が負荷りの逆起電圧に
よって再びオン状態にならないようにするため、回路の
接地電位GND゛から上記出力端子OUTに向かうダイ
オードD2が設けられる。
This embodiment has the following configuration in order to increase the substantial switching speed of the output MO3FET QI to the off state. That is, the ground potential GND' of the internal circuit such as the source of the drive MO3FET Q2 is applied through the diode DI. In other words, the ground potential GND' of the IC internal circuit becomes a higher voltage level-shifted by the forward voltage of the diode D1 with respect to the external ground potential GND. This ground potential GND' is also used as the ground potential of the inverter circuit N1 and booster circuit BST. In order to expand the dynamic range on the negative polarity side at the output terminal OUT, in other words, to prevent the output MO5FET Q1 from turning on again due to the back electromotive force of the load, from the ground potential GND of the circuit to A diode D2 is provided towards the output terminal OUT.

例えば、制御信号inがハイレベルのときインバータ回
路Nlの出力信号が回路の接地電位のようなロウレベル
になる。この出力信号のロウレベルに応じて駆動MOS
 F BTQ 2がオフ状態にされ、パワーMO3FE
TQIのゲートには、抵抗Rを通して昇圧された動作電
圧Vcc+Vが供給される。上記昇圧回路BSTにより
形成される昇圧電圧+■をMO3FETQIの実質的な
しいき値電圧以上に設定される。したがって、第2図の
波形図に示すように、MO3FETQIがオン状態のと
き、そのソースからは電源電圧Vccがそのまま出力さ
れるので電圧損失の無い高い出力電圧を得ることができ
る。このような定常的な動作状態では、ダイオードD2
は逆バイアスされるためオフ状態になっており、上記出
力信号を得ることができる。
For example, when the control signal in is at a high level, the output signal of the inverter circuit Nl becomes a low level such as the ground potential of the circuit. Drive MOS according to the low level of this output signal.
F BTQ 2 is turned off and power MO3FE
A boosted operating voltage Vcc+V is supplied to the gate of the TQI through a resistor R. The boosted voltage +■ formed by the booster circuit BST is set to be equal to or higher than the substantial threshold voltage of MO3FETQI. Therefore, as shown in the waveform diagram of FIG. 2, when the MO3FET QI is in the on state, the power supply voltage Vcc is directly outputted from its source, so that a high output voltage without voltage loss can be obtained. Under such steady-state operating conditions, diode D2
is in an off state because it is reverse biased, and the above output signal can be obtained.

制御信号inがハイレベルからロウレベルに切り変わる
と、インバータ回路N1の出力信号がハイレベルになっ
て駆動MO3FETQ2をオン状態にする。これにより
、パワーMO3FETQIのゲートとソースが短絡され
るから、パワーMO3FETQIがオン状態からオフ状
態に切り換えられる。このとき、負荷りには、逆起電圧
が発生しパワーMO3FETQIのソースが結合された
出力端子OUTを負電位に低下させる。この逆起電圧に
応じてダイオードD2がオン状態になり、IC内部の接
地電位GND” も低下させる。それ故、上記逆起電圧
が発生してもMOS F ETQ 2は、上記インバー
タ回路Nlの出力信号のハイレベルによりオン状態を維
持するから、出力MO3FETQIはオフ状態のままに
される。すなわち、出力端子OUTの電圧は、内部回路
でクランプされることがなく、内部回路の動作の保証も
行われるものとなる。
When the control signal in changes from high level to low level, the output signal of the inverter circuit N1 becomes high level and turns on the driving MO3FET Q2. As a result, the gate and source of the power MO3FETQI are short-circuited, so that the power MO3FETQI is switched from the on state to the off state. At this time, a back electromotive force is generated in the load, lowering the output terminal OUT to which the source of the power MO3FET QI is connected to a negative potential. Diode D2 turns on in response to this back electromotive force, and also lowers the ground potential GND inside the IC. Therefore, even if the back electromotive force occurs, MOS FETQ 2 does not control the output of the inverter circuit Nl. Since the ON state is maintained by the high level of the signal, the output MO3FET QI remains in the OFF state.In other words, the voltage at the output terminal OUT is not clamped by the internal circuit, and the operation of the internal circuit is guaranteed. Become something that will be loved.

この実施例では、上記負荷りに対してダイオードD3と
ツェナーダイオードZDからなる電圧クランプ回路が設
けられている。このため、第2図の波形図に示すように
、上記出力MO3FETQ1がオフ状態に切り換えられ
るときの出力端子OUTの電位は、−(VD3+VZD
)な負極性の大きな電圧になる。ここで、VD3は、ダ
イオードD3の順方向電圧であり、VZDはツェナーダ
イオードZDのツェナー電圧である。上記クランプ電圧
を絶対値的に高く設定することにより、誘導性の負荷り
に蓄えられてエネルギーを短時間で放出させることがで
きる。これにより、出力MO3F ETQ 1をパルス
幅変調信号で制御するときの制御範囲を拡大できるもの
である。
In this embodiment, a voltage clamp circuit consisting of a diode D3 and a Zener diode ZD is provided for the above load. Therefore, as shown in the waveform diagram of FIG.
) becomes a large voltage with negative polarity. Here, VD3 is the forward voltage of diode D3, and VZD is the Zener voltage of Zener diode ZD. By setting the clamp voltage to a high absolute value, the energy stored in the inductive load can be released in a short time. This makes it possible to expand the control range when controlling the output MO3F ETQ 1 with a pulse width modulation signal.

第3図は、この発明をPNP l−ランジスタを用いた
入力回路に適用した場合の一実施例の回路図が示されて
いる。
FIG. 3 shows a circuit diagram of an embodiment in which the present invention is applied to an input circuit using a PNP l-transistor.

この実施例でも、IC内部回路には、ダイオードD1を
介して接地電位が与えられる。そして、入力端子TNに
おける負極性側のダイナミックレンジを拡大させるため
に、前記のような内部接地電位GND’から入力端子I
Nに向かうダイオードD3が付加される。この構成にお
いては、入力端子INに供給される信号が、負極性にな
るとダイオードD3がオン状態になって内部接地電位G
ND’ を入力端子INの信号に従って低下させる。
In this embodiment as well, the ground potential is applied to the IC internal circuit via the diode D1. In order to expand the dynamic range on the negative polarity side of the input terminal TN, the input terminal I
A diode D3 towards N is added. In this configuration, when the signal supplied to the input terminal IN becomes negative, the diode D3 turns on and the internal ground potential G
ND' is lowered according to the signal at input terminal IN.

これにより、入力端子INの信号が内部回路のダイオー
ド等により電圧クランプされることがなく、入力ダイナ
ミックレンジを接地電位以下に拡大することができる。
As a result, the signal at the input terminal IN is not voltage clamped by a diode or the like in the internal circuit, and the input dynamic range can be expanded to below the ground potential.

この場合、内部回路は、上記入力信号に応じて接地電位
GND’  も低下するから、内部回路の動作保証が行
われる。
In this case, since the ground potential GND' of the internal circuit is also lowered in accordance with the input signal, the operation of the internal circuit is guaranteed.

第4図には、この発明を一般概念的に示したブロック図
である。
FIG. 4 is a block diagram showing the general concept of the invention.

この実施例では、半導体集積回路に構成される増幅回路
AMPを例にして、その入力及び出力のダイナミックレ
ンジを接地電位以下の負極性側及び電源電圧VCC以上
の正極性側に拡大させる一般的手法が示されている。
In this example, an amplifier circuit AMP configured in a semiconductor integrated circuit is used as an example, and a general method is used to expand the dynamic range of its input and output to the negative polarity side below the ground potential and the positive polarity side above the power supply voltage VCC. It is shown.

すなわち、回路の接地電位GND’及び動作電圧VCC
’ は、それぞれダイオードDIとD4を通して供給さ
れる。それ故、接地電位GND’ は前記のように外部
の接地電位GNDに対してダイオードD1の順方向電圧
分だけレベルが高くされる。
That is, the circuit ground potential GND' and the operating voltage VCC
' are supplied through diodes DI and D4, respectively. Therefore, as described above, the level of the ground potential GND' is made higher than the external ground potential GND by the forward voltage of the diode D1.

動作電圧Vcc’ は、ダイオードD4の順方向電圧分
だけ外部の電源電圧Vccに対して低くされる。
The operating voltage Vcc' is made lower than the external power supply voltage Vcc by the forward voltage of the diode D4.

そして、接地電位GND以下の負極性のダイナミックレ
ンジを拡大させるために、入力端子IN及び出力端子O
UTと接地電位GND’ との間には、前記のように接
地電位GND’ 側から入力端子IN及び出力端子0t
JTにそれぞれ向かうダイオードD3及びD2が設けら
れる。
In order to expand the negative dynamic range below the ground potential GND, the input terminal IN and the output terminal O
Between UT and the ground potential GND', the input terminal IN and the output terminal 0t are connected from the ground potential GND' side as described above.
Diodes D3 and D2 are provided respectively facing JT.

一方、電源電圧VC(、以上の正極性側のダイナミック
レンジを拡大させるために、入力端子IN及び出力端子
OUTと動作電圧VCC’ との間には、入力端子IN
及び出力端子から動作電圧Vcc’ にそれぞれ向かう
ダイオードD6及びD5が設けられる。
On the other hand, in order to expand the dynamic range on the positive polarity side above the power supply voltage VC, the input terminal IN is connected between the input terminal IN and output terminal OUT and the operating voltage VCC'
and diodes D6 and D5 respectively directed from the output terminal to the operating voltage Vcc'.

この構成では、入力端子IN又は出力端子OUTの電位
が前記のような負極性になると、ダイオードD3又はD
2により接地電位GND’ もそれに追従して低下する
。逆に、入力端子IN又は出力端子OUTの電位が電源
電圧Vcc以上に高くなると、ダイオードD6又はD5
により動作電圧■cc’ もそれに追従して高くなる。
In this configuration, when the potential of the input terminal IN or the output terminal OUT becomes negative as described above, the diode D3 or D
2, the ground potential GND' also decreases accordingly. Conversely, when the potential of the input terminal IN or output terminal OUT becomes higher than the power supply voltage Vcc, the diode D6 or D5
Accordingly, the operating voltage cc' also increases accordingly.

このように、この実施例の増幅回路へMPは、入力端子
IN又は出力端子OUTのいずれかが、上記与えられる
接地電位GNDや電圧電圧VCCの範囲を越えて絶対値
的に大きくなると、それに追従して内部の接地電位及び
動作電圧も変化するから、信号のダイナミックレンジを
拡大しつつ、内部回路の動作保証が可能になる。
In this way, the MP to the amplifier circuit of this embodiment follows when either the input terminal IN or the output terminal OUT increases in absolute value beyond the range of the ground potential GND and voltage VCC given above. Since the internal ground potential and operating voltage also change, it is possible to expand the dynamic range of the signal and guarantee the operation of the internal circuit.

第5図には、他の一実施例の要部回路図が示されている
や 同図においては、前記のようなダイオードDIに代えて
トランジスタT2のベース、エミッタを介して半導体集
積回路ICの内部接地電位GND″が供給される。また
、入力端子INと接地電位G N D ’ との間に設
けられるダイオードD3に代えてトランジスタT3のベ
ース、エミッタが利用される。この構成では、トランジ
スタT2にコレクタ電流T S 2とトランジスタT3
のコレクタ電流ISIをセンス電流として用いることに
より、一番低い電位になっている端子を検出することが
できる。例えば、トランジスタT2のコレクタ電流IS
2が流れている時には、接地電位GNDを供給する端子
が最低電位であり、トランジスタT3のコレクタ電流■
Slが流れている時には、接地電位GND’ は、入力
端子INが最低電位になっていることを示す。各端子に
トランジスタT3のようなトランジスタを設ければ、複
数の端子のうち最も低い電位にされる端子を検出するこ
とができる。このような構成を採ることにより、それを
帰還等にも利用することができる。
FIG. 5 shows a circuit diagram of the main part of another embodiment. In the same figure, the semiconductor integrated circuit IC is connected via the base and emitter of the transistor T2 instead of the diode DI as described above. The internal ground potential GND'' is supplied.Furthermore, the base and emitter of the transistor T3 are used in place of the diode D3 provided between the input terminal IN and the ground potential GND'.In this configuration, the base and emitter of the transistor T3 are used. collector current T S 2 and transistor T3
By using the collector current ISI as a sense current, it is possible to detect the terminal at the lowest potential. For example, the collector current IS of transistor T2
2 is flowing, the terminal that supplies the ground potential GND is at the lowest potential, and the collector current of the transistor T3 is
When Sl is flowing, the ground potential GND' indicates that the input terminal IN is at its lowest potential. By providing a transistor such as the transistor T3 at each terminal, it is possible to detect the terminal that is set to the lowest potential among the plurality of terminals. By adopting such a configuration, it can also be used for return, etc.

第6図には、この発明の更に他の一実施例のブロック図
が示されている。
FIG. 6 shows a block diagram of still another embodiment of the invention.

この実施例では、半導体集積回路ICに構成される回路
が複数ブロックCBI、CB2及びCB3に分割される
。そして、各回路ブロックCBIないしCB3に対して
ダイオードD1”、DI’及びDIを介して外部端子か
らそれぞれ接地電位GNDが与えられる。回路ブロック
CBIに入力信号を供給する入力端子INとそれに対応
した接地電位との間に前記のようなダイオードD3が設
けられる。回路ブロックCB3に出力信号を送出する出
力端子OUTとそれに対応した接地電位との間に前記の
ようなダイオードD2が設けられる。
In this embodiment, a circuit configured in a semiconductor integrated circuit IC is divided into a plurality of blocks CBI, CB2, and CB3. Then, a ground potential GND is applied to each circuit block CBI to CB3 from an external terminal via diodes D1'', DI', and DI.An input terminal IN that supplies an input signal to the circuit block CBI and its corresponding ground The diode D3 as described above is provided between the output terminal OUT which sends an output signal to the circuit block CB3 and the corresponding ground potential.

この構成では、入力端子INが負極性の電位にされた場
合、それに対応した回路ブロックCBIの接地電位がそ
れに追従し、他の回路ブロックCB2やCB3は上記ダ
イオードDi’ 、DIを介した接地電位にすることが
できる。逆に、出力端子OUTが負極性の電位にされた
場合、それに対応した回路ブロックCB3の接地電位が
それに追従し、他の回路ブロックCBIやCB2は上記
ダイオードD1″、DI“を介した接地電位にすること
ができる。このような構成を採ることによって、入力電
圧や出力電圧の影響を受けたくない回路ブロックを持つ
半導体集積回路を得ることができるものである。
In this configuration, when the input terminal IN is set to a negative polarity potential, the ground potential of the corresponding circuit block CBI follows it, and the other circuit blocks CB2 and CB3 are connected to the ground potential via the diodes Di' and DI. It can be done. Conversely, when the output terminal OUT is set to a negative potential, the ground potential of the corresponding circuit block CB3 follows it, and the other circuit blocks CBI and CB2 are set to the ground potential via the diodes D1'' and DI''. It can be done. By adopting such a configuration, it is possible to obtain a semiconductor integrated circuit having circuit blocks that are not affected by input voltage or output voltage.

第7図には、前記第1図の実施例回路のMO3FETQ
1及びダイオードDI、D2の一実施例の構造断面図が
示されている。
FIG. 7 shows the MO3FETQ of the embodiment circuit of FIG.
1 and a structural cross-sectional view of an embodiment of the diodes DI, D2.

パワーMO5FETQIは、そのドレイン令σ域がN型
基板とされる。それ故、ドレイン電極りは基板の裏面側
に設けられる。上記ドレイン電極りには電源電圧VCC
が与えられる。パワーMO5FETQ1を構成するP型
のチャンネル領域は、基板の表面にリング状に形成され
る。このP型のチャンネル領域の表面に同様にリング状
のN型のソース領域が形成される。上記ソース領域とド
レイン領域としての基板との間に挾まれたチャンネル領
域の表面には、ゲート絶縁膜を介してゲート電極Gが形
成される。上記ソース領域とチャンネル領域とは共通接
続されてソース電極Sとされる。
The power MO5FET QI has an N-type substrate in its drain region σ region. Therefore, the drain electrode is provided on the back side of the substrate. The power supply voltage VCC is applied to the drain electrode above.
is given. A P-type channel region constituting the power MO5FET Q1 is formed in a ring shape on the surface of the substrate. Similarly, a ring-shaped N-type source region is formed on the surface of this P-type channel region. A gate electrode G is formed on the surface of the channel region sandwiched between the source region and the substrate serving as the drain region, with a gate insulating film interposed therebetween. The source region and the channel region are commonly connected to form a source electrode S.

これにより、MO3FETQIの駆動電流は、基板の縦
方向に流れるものとなる。
As a result, the drive current of MO3FETQI flows in the vertical direction of the substrate.

このようなパワーMO3FETQIと、上記各回路素子
は同じ基板上に形成される。それ故、上記N型基板にP
型の分離領域(150)が形成され、このP型置#i領
域ISOを介して上記各回路素子が形成される。例えば
、ダイオードD1は、トランジスタをダイオード接続し
たものが用いられる。すなわち、上記P型骨HH域IS
O内にN型のコレクタ領域が形成され、このコレクタ領
域内にP型のベース領域を、そのベース領域内にN型の
エミッタ領域を形成してNPN型のトランジスタを構成
する。そして、上記ベースとしてのP型頭域とコレクタ
としてのN型領域とを接続してダイオード接続する。そ
して、そのカソードして作用するN型のエミッタ領域に
は外部端子を介して回路の接地電位GNDが供給される
。アノードとして共通接続されたベース、コレクタ領域
は、を記P型分離領域ISOへのバイアス電圧、回路の
接地電位点GND’ に接続される。また、上記アノー
ドとして共通接続されたベース、コレクタ領域は、ダイ
オードD2のアノード側に接続される。ダイオードD2
も上記同様な構造のトランジスタが用いられ、そのベー
スとコレクタが共通接続されてダイオード構成とされる
。そして、そのベース、コレクタは、上記ダイオードD
Iのアノード電極としてのベース、コレクタに接続され
る。
Such power MO3FETQI and each of the circuit elements described above are formed on the same substrate. Therefore, P
A type isolation region (150) is formed, and each of the circuit elements described above is formed via this P type isolation region #i region ISO. For example, as the diode D1, a diode-connected transistor is used. That is, the P-type bone HH region IS
An N-type collector region is formed in the O, a P-type base region is formed in the collector region, and an N-type emitter region is formed in the base region, thereby forming an NPN-type transistor. Then, the P-type head region as the base and the N-type region as the collector are connected to form a diode connection. The N-type emitter region, which acts as a cathode, is supplied with the ground potential GND of the circuit via an external terminal. The base and collector regions, which are commonly connected as an anode, are connected to the bias voltage to the P-type isolation region ISO and the ground potential point GND' of the circuit. Further, the base and collector regions commonly connected as the anode are connected to the anode side of the diode D2. Diode D2
A transistor having a structure similar to that described above is also used, and its base and collector are commonly connected to form a diode configuration. And its base and collector are the diode D
The base as an anode electrode of I is connected to the collector.

このダイオードD2を構成するトランジスタのエミッタ
は、カソード電極としてMO3FETQIのソースSに
接続される。
The emitter of the transistor constituting this diode D2 is connected to the source S of MO3FETQI as a cathode electrode.

このような半導体構造においては、ト記分離領域ISO
と基板との間で大きな寄生ダイオードが存在する。それ
故、電源電圧Vccと回路の接地電位点GNDとを逆接
続しても、言い換えるならば、端子Vccに接地電位を
与え、端子GNDに↓12■のような電圧を与えるもの
としても、ダイオードDiが挿入されているから、素子
を破壊させるような過大電流が流れることはない。した
がって、この実施例の半導体集積回路装置は、自動車搭
載用のパワースイッチ回路に適したものとなる。なぜな
ら、自動車にあっては、バッテリーの放電によりエンジ
ンスタートが不能になったとき、他の自動車のバッテリ
ーと接続してエンジンスタートを行うことがしはしば生
じる。この場合、バッテリー間をケーブルによって逆接
続してしまう可能性が極めて高いからである。このよう
な逆接続が行われても、上記の半導体集積回路装置では
素子が破壊してしまうことがない。
In such a semiconductor structure, the isolation region ISO
A large parasitic diode exists between the Therefore, even if the power supply voltage Vcc and the circuit ground potential point GND are reversely connected, in other words, even if the ground potential is applied to the terminal Vcc and the voltage ↓12■ is applied to the terminal GND, the diode Since Di is inserted, an excessive current that would destroy the element will not flow. Therefore, the semiconductor integrated circuit device of this embodiment is suitable for a power switch circuit mounted on an automobile. This is because in automobiles, when the engine cannot be started due to discharge of the battery, it is often necessary to connect the battery of another automobile to start the engine. This is because in this case, there is a very high possibility that the batteries will be connected in reverse by the cable. Even if such a reverse connection is made, the elements of the semiconductor integrated circuit device described above will not be destroyed.

第8図には、他の一実施例の構造断面図が示されている
。この実施例では、半導体集積回路に第6図の実施例と
同様に複数のブロックが設けられる。すなわち、半導体
基板上には、2つの分離領域rsO1とlSO2が設け
られる。例えば、分離領域1soiには、第6図の回路
ブロックCB1のように入力端子INが設けられる場合
、前記同様にトランジスタ構造を利用してダイオードD
3とDi”を構成し、接地電位の供給及び接地電位と入
力端子INとの接続を行う。他方の分離領域lSO2に
は、第6図の回路ブロックCB3のような出力端子OU
Tが設けられる場合、同様な構造のダイオードD1及び
D2を構成し、接地電位の供給及び接地電位と出力端子
OUTとの接続を行う。
FIG. 8 shows a structural sectional view of another embodiment. In this embodiment, a plurality of blocks are provided in the semiconductor integrated circuit as in the embodiment shown in FIG. That is, two isolation regions rsO1 and lSO2 are provided on the semiconductor substrate. For example, when the input terminal IN is provided in the isolation region 1soi as in the circuit block CB1 of FIG.
3 and Di" to supply the ground potential and connect the ground potential to the input terminal IN. The other isolation region lSO2 has an output terminal OU like the circuit block CB3 in FIG.
When T is provided, diodes D1 and D2 having a similar structure are configured to supply the ground potential and connect the ground potential to the output terminal OUT.

上記分離領域l5OIとlSO2には、それぞれダイオ
ードDI及びDl”を介して接地電位が与えられる。こ
の構成では、分離領域1301及びlSO2の電位は、
それぞれ端子IN及びOUTの最低電位に追従して変化
し、回路の最低電位に維持できる。したがって、上記分
離領域1301  (lSO2)をベースとする縦方向
の寄生トランジスタ(T4)が動作することを抑えるこ
とができる。また、基板には電a電圧Vccが与えられ
るから、上記2つの分離領域rsO1と1302をエミ
ッタとコレクタとし、その間の基板をペースとするよう
な横方向の寄生トランジスタの発生も抑えることができ
る。
A ground potential is applied to the isolation regions l5OI and lSO2 through diodes DI and Dl'', respectively. In this configuration, the potentials of the isolation regions 1301 and lSO2 are as follows.
They change in accordance with the lowest potential of the terminals IN and OUT, respectively, and can be maintained at the lowest potential of the circuit. Therefore, the operation of the vertical parasitic transistor (T4) based on the isolation region 1301 (lSO2) can be suppressed. Furthermore, since the electric voltage Vcc is applied to the substrate, it is possible to suppress the generation of lateral parasitic transistors in which the two isolation regions rsO1 and 1302 are used as emitters and collectors, and the substrate between them is used as a paste.

なお、第4図の実施例のように、動作電圧もダイオード
を通して供給する方式では、基板にも上記ダイオードを
介した電圧が供給される。
In addition, in a system in which the operating voltage is also supplied through the diode as in the embodiment shown in FIG. 4, the voltage is also supplied to the substrate through the diode.

上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。すなわち、 (1)半導体集積回路に対して一方向性素子を介して外
部から動作電圧及び/又は回路の接地電位を供給すると
ともに、内部の接地電位から入出力端子に向かう一方向
性素子及び/又は入出力端子から内部の動作電圧に向か
う一方向性素子を設けることにより、一方向性素子のス
イッチング動作により入力及び/又は出力端子の信号は
、内部の動作電圧及び/又は接地電位の制約を受けると
なく拡大できるという効果が得られる。
The effects obtained from the above examples are as follows. That is, (1) The operating voltage and/or circuit ground potential is supplied from the outside to the semiconductor integrated circuit via the unidirectional element, and the unidirectional element and/or circuit is supplied from the internal ground potential to the input/output terminal. Alternatively, by providing a unidirectional element that goes from the input/output terminal to the internal operating voltage, the switching operation of the unidirectional element allows the signal at the input and/or output terminal to overcome the constraints of the internal operating voltage and/or ground potential. You can get the effect of being able to expand without receiving it.

(2)ハイサイド駆動回路を構成する半導体集積回路に
対して、ダイオードを介して接地電位を供給するととも
に、接地電位とソースフォロワ出力端子との間にダイオ
ードを挿入する構成を採ることにより、出力MOS F
 ETを実質的にオフ状態にさせる時間を短くできる。
(2) By supplying ground potential via a diode to the semiconductor integrated circuit that constitutes the high-side drive circuit, and by inserting a diode between the ground potential and the source follower output terminal, the output MOS F
The time during which the ET is substantially turned off can be shortened.

これにより、誘導性負荷をパルス幅変調信号により駆動
することが可能になるという効果かえられる。
This has the effect of making it possible to drive an inductive load with a pulse width modulated signal.

(3)上記fil又は(2)のように、接地電位をダイ
オードを介して供給する構成を採ることによって、電源
を逆接続した場合の破壊強度の向上を図ることができる
という効果が得られる。
(3) By employing a configuration in which the ground potential is supplied through a diode as in the above fil or (2), it is possible to achieve the effect of improving the breakdown strength when the power supply is reversely connected.

(4)半導体集積回路に構成される回路を複数ブロック
に分割し、それぞれにダイオードを介して接地電位又は
動作電圧を供給し、それと信号の授受を行う外部端子と
の間にダイオードを設ける構成を採ることにより、外部
端子の電圧に対応して各ブロック単位で接地電位以下の
最低電位及び動作電圧以上の最高電位を決めることがで
きる。この構成においては、入力電圧や出力電圧の影響
を受けたくない回路ブロックを持つ半導体集積回路を得
ることができるという効果が得られる。
(4) A configuration in which the circuit configured in a semiconductor integrated circuit is divided into multiple blocks, each block is supplied with a ground potential or operating voltage via a diode, and a diode is provided between the block and the external terminal for transmitting and receiving signals. By taking this, the lowest potential below the ground potential and the highest potential above the operating voltage can be determined for each block in accordance with the voltage of the external terminal. This configuration has the advantage that it is possible to obtain a semiconductor integrated circuit having circuit blocks that are not affected by input voltage or output voltage.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種に変更が
可能である。例えば、第4図の実施例において、端子I
N又はOUTの電圧に応じて、付加するダイオードD1
〜D6の組み合わせを種々選ぶことができるものである
。また、パワーMO3FETは、1つの半導体基板上に
複数個設ける構成としてもよい。この場合、基板をドレ
インとするパワーMO3FETにおいては、必然的にド
レインを共通化したハイサイド駆動回路(ソースフォロ
ワ回路)として用いられるものである。上記パワーMO
3FETは、第1図のようなモータやソレノイドといっ
たようなインダクタンス負荷を駆動するものの他、自動
車ヘッドランプ等のランプ類を駆動する駆動回路等従来
の機械的なスイッチ素子に置き換えられる電子式のパワ
ースイッチ回路に適したものとなる。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the above-mentioned Examples, and modifications can be made without departing from the gist thereof. For example, in the embodiment of FIG.
Depending on the voltage of N or OUT, add diode D1
- D6 can be selected from various combinations. Further, a plurality of power MO3FETs may be provided on one semiconductor substrate. In this case, in a power MO3FET whose drain is the substrate, it is inevitably used as a high-side drive circuit (source follower circuit) with a common drain. Above power MO
3FETs are used not only to drive inductance loads such as motors and solenoids as shown in Figure 1, but also to electronic power switches that can replace conventional mechanical switching elements, such as drive circuits that drive lamps such as automobile headlamps. This makes it suitable for switch circuits.

また、ロウサイド駆動回路を構成する場合には、出力M
O3FET及び駆動MOS F ETとしてPチャンネ
ルMOS F ETを用いるものとすればよい。この構
成では、PチャンネルMO3FETのドレインには、回
路の接地電位が与えられるから、負荷を電源電圧Vcc
側とするロウサイド駆動回路が構成できる。
In addition, when configuring a low side drive circuit, the output M
A P-channel MOS FET may be used as the O3FET and the drive MOS FET. In this configuration, the ground potential of the circuit is applied to the drain of the P-channel MO3FET, so the load is connected to the power supply voltage Vcc.
A low-side drive circuit can be configured for the low-side drive circuit.

この発明は、半導体集積回路装置に広く利用できるもの
である。
The present invention can be widely used in semiconductor integrated circuit devices.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、半導体集積回路に対して一方向性素子を介
して外部から動作電圧及び/又は回路の接地電位を供給
するとともに、内部の接地電位から入出力端子に向かう
一方向性素子及び/又は入出力端子から内部の動作電圧
に向かう一方向性素子を設けることにより、一方向性素
子のスイッチング動作により入力及び/又は出力端子の
信号は、内部の動作電圧及び/又は接地電位の制約を受
けるとなく拡大できる。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. That is, the operating voltage and/or circuit ground potential is supplied from the outside to the semiconductor integrated circuit via the unidirectional element, and the unidirectional element and/or input/output terminal is supplied from the internal ground potential to the input/output terminal. By providing a unidirectional element that goes from the terminal to the internal operating voltage, the switching action of the unidirectional element causes the signal at the input and/or output terminal to be free from the constraints of the internal operating voltage and/or ground potential. Can be expanded.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の一実施例を示す回路図、第2図は
、その動作を説明するための波形図、第3図は、この発
明の他の一実施例を示す回路図、 第4図は、この発明を一般概念的に示した一実施例のブ
ロック図、 第5図は、この発明の他の一実施例を示す要部回路図、 第6図は、この発明の更に他の一実施例を示すブロック
図、 第7図は、上記第1図の回路の一実施例を示す構造断面
図、 第8図は、上記第6図のに対応した一実施例を示す断面
図、 第9図は、ソースフォロワ出力回路の一例を示す回路図
、 第10図は、その動作の一例を説明するための波形図、 第11図は、入力回路の一例を説明するための回路図で
ある。 IC・・半導体集積回路、L・・負荷(誘導性)、BS
T・・昇圧回路、N1・・インバータ回路、AMP・・
増幅回路、CBI〜CB3・・回路ブロック、To・・
定電流源
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of this invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining its operation, and FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment of this invention. FIG. 4 is a block diagram of one embodiment showing the general concept of this invention, FIG. 5 is a circuit diagram of a main part showing another embodiment of this invention, and FIG. 6 is a block diagram of another embodiment of this invention. A block diagram showing one embodiment of the circuit, FIG. 7 is a structural sectional view showing an embodiment of the circuit shown in FIG. 1 above, and FIG. 8 is a sectional view showing an embodiment corresponding to the circuit shown in FIG. 6 above. , FIG. 9 is a circuit diagram showing an example of a source follower output circuit, FIG. 10 is a waveform diagram for explaining an example of its operation, and FIG. 11 is a circuit diagram for explaining an example of an input circuit. It is. IC: Semiconductor integrated circuit, L: Load (inductive), BS
T: Boost circuit, N1: Inverter circuit, AMP...
Amplifier circuit, CBI~CB3...Circuit block, To...
constant current source

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、外部端子から供給される接地電位及び/又は動作電
圧を内部回路の接地電位又は動作電圧に伝えるよう設け
られた一方向性素子と、上記回路の接地電位から入力及
び/又は出力端子へ向かう電流を流すよう設けられた一
方向性及び/又は上記入力及び/又は出力端子から上記
回路の動作電圧に向かう電流を流すように設けられた一
方向性素子とを具備することを特徴とする半導体集積回
路装置。 2、上記一方向性素子は、ダイオード形態のトランジス
タからなるものであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の半導体集積回路装置。 3、上記回路の接地電位は、素子を分離する分離領域に
も供給されるものであることを特徴とする特許請求の範
囲第1又は第2項記載の半導体集積回路装置。
[Claims] 1. A unidirectional element provided to transmit a ground potential and/or operating voltage supplied from an external terminal to a ground potential or operating voltage of an internal circuit; and/or a unidirectional element arranged to flow a current toward the output terminal and/or a unidirectional element arranged to flow a current toward the operating voltage of the circuit from the input and/or output terminal. A semiconductor integrated circuit device characterized by: 2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the unidirectional element is a diode-type transistor. 3. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1 or 2, wherein the ground potential of the circuit is also supplied to an isolation region that separates elements.
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