JPH01250771A - Analyzing device for operation of logic circuit - Google Patents
Analyzing device for operation of logic circuitInfo
- Publication number
- JPH01250771A JPH01250771A JP63076078A JP7607888A JPH01250771A JP H01250771 A JPH01250771 A JP H01250771A JP 63076078 A JP63076078 A JP 63076078A JP 7607888 A JP7607888 A JP 7607888A JP H01250771 A JPH01250771 A JP H01250771A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- logic circuit
- operation mode
- model
- signal
- mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 15
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は大規模で複雑な論理回路の動作を解析する方式
に係り、特に論理回路のデバッグに際して、その動きを
シミュレーションによって一目瞭然にしてわかるように
追跡するとともに、バグを含んでいる場合には、その候
補を得るような論理回路の動作解析方式に関する。[Detailed Description of the Invention] [Objective of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for analyzing the operation of a large-scale and complex logic circuit, and in particular, when debugging a logic circuit, the operation is analyzed by simulation. This invention relates to a method for analyzing the behavior of logic circuits that allows for easy tracking and, if a bug is included, to find a candidate for it.
(従来の技#)
従来、大規模で複雑な論理回路のデバッグは、その動作
を状態遷移図などによって把握しながら行っていた。し
かし、この方法では回路の動作モードを状態の時間的な
系列として把握しなければならなく、複雑な回路の動作
を表現するための状態の時間的な系列は長くなるので、
動作を理解するのに時間が掛かつていた。またバグを含
んでいる場合には、異常動作の原因を探るために、信号
値を逐一逆方向(入力側)に入手で辿る必要があったO
(発明が解決しようとする課題)
本発明は上述したような、大規模で複雑な論理回路の動
作を把握するのに要する時間を短縮し、異常動作の原因
となっている論理回路のモデルおよびテストデータのバ
グをつきとめるための工数と、これに要する時間を短縮
することを目的とする。(Conventional Technique #) Conventionally, large-scale, complex logic circuits have been debugged by understanding their operation using state transition diagrams and the like. However, with this method, the operating mode of the circuit must be understood as a time series of states, and the time series of states to express the operation of a complex circuit is long.
It took some time to understand how it worked. In addition, if a bug is included, it is necessary to trace the signal values in the reverse direction (input side) one by one in order to find the cause of the abnormal operation. (Problem to be solved by the invention) The present invention As mentioned above, it is necessary to reduce the time required to understand the operation of large-scale and complex logic circuits, and to identify bugs in the logic circuit model and test data that are causing abnormal operation. The purpose is to shorten the time required.
(課題を解決するための手段)
上述した問題点を解決するために、本発明では状態およ
び制御信号の組合わせ論理の時間的な系列によって動作
モードを規定し、これを時間軸方向に整理しておくこと
により、シミュレーシ目ン時に、これを参照しながらモ
ニタリングすべき信号を動的に決定して、動作モードを
絞りこんでいくという手法を用いて、大規模で複雑な論
理回路の動作を解析するという方式を採っている。また
、本発明ではデータ信号の値を記号化して、記号シミエ
レーシ璽ンを行うといった方法を併用して論理回路の動
作を明確にしている。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention defines operation modes by a temporal sequence of combinatorial logic of states and control signals, and organizes them along the time axis. By doing so, during simulation, you can dynamically determine the signals to be monitored while referring to this information, and narrow down the operation mode. The method is to analyze the Further, in the present invention, the operation of the logic circuit is clarified by using a method of symbolizing the value of the data signal and performing symbol similation.
(作用)
本発明では前述した技術的な手段である。動作モードを
定義しておき、シミエレーシ冒ンにおいて、これに応じ
たモニタリングを行うことによる動作モードの追跡を行
うという手段と、データ信号の記号化という手段を併用
することによって、シミュレーション時に論理回路の動
作が一目瞭然に表示することが可能になる。また、本発
明ではシミニレ−91ン時の論理回路のモデルの動作と
、動作モードの定義および期待値として与えられる動作
モードから推論させることにより論理回路のモデルおよ
びテストデータのバグを容易に発見することが可能にな
る。(Function) The present invention is the technical means described above. By defining the operating mode and tracking the operating mode by monitoring accordingly during simulation, and by symbolizing data signals, it is possible to easily understand the logic circuit during simulation. The operation can be displayed clearly at a glance. In addition, in the present invention, bugs in the logic circuit model and test data can be easily discovered by inferring the behavior of the logic circuit model at the time of Simini Lane 91, the definition of the operation mode, and the operation mode given as the expected value. becomes possible.
(実施例) 本発明を実施例に基づき詳細に説明する。(Example) The present invention will be explained in detail based on examples.
第1図に本発明の一実施例における処理およびデータの
流れをあられした図を示す。第1図において入力処理l
において論理回路のモデルa、記号化データb、テスト
データC,(動作モードを含む)期待値d、動作モード
の定ギeを入力し、論理回路のモデルと記号化データに
よって、論理回路のモデル中のデータ信号に対して記号
値を割り当てる記号化処理2と動作モードの定ギを時間
軸方向に整理する動作モード分析処理3を行い、動作モ
ード分析の結果から動作モードをシミュレーシ曹ン時に
検出するための回路を合成する動作モード分析回路合成
処理によって作成した回路を記号化処理の施された論理
回路のモデルに付加し、次に動作モード分析用回路のモ
デルを含む論理回路のモデルとテストデータを入力とし
て、記号シミュレーション5を行う。このシミ為し−ジ
目ンにおいてはモニタリングしている信プの値の履歴か
ら動作モードを判定し、また判定できないかあるいは期
待値と動作モードが合わない場合に、その異常動作を引
き起こした原因となる論理回路のモデルのバグの候補を
推論する論理回路の動作監視処理6が働き、その経過を
動作モードのトレースおよびバグ候補信号名と当該信号
のトレース出力を行うという形で論理回路の動作の解析
を行う。FIG. 1 shows a diagram showing the processing and data flow in an embodiment of the present invention. In Figure 1, input processing l
Input the logic circuit model a, the encoded data b, the test data C, the expected value d (including the operation mode), and the constant gear e of the operation mode, and create a logic circuit model using the logic circuit model and the encoded data. The symbolization process 2 assigns symbol values to the data signals in the data signal, and the operation mode analysis process 3 organizes the fixed values of the operation modes in the time axis direction. The circuit created by the operation mode analysis circuit synthesis process that synthesizes the circuit for detection is added to the logic circuit model that has been subjected to the symbolization process, and then the logic circuit model that includes the model of the circuit for operation mode analysis is added. Symbolic simulation 5 is performed using the test data as input. In this case, the operation mode is determined from the history of the values of the input signals being monitored, and if the operation mode cannot be determined or the expected value does not match the operation mode, the cause of the abnormal operation is determined. Logic circuit operation monitoring processing 6 operates to infer bug candidates for the logic circuit model, and the operation of the logic circuit is monitored by tracing the operation mode and outputting the name of the bug candidate signal and the trace of the signal. Perform the analysis.
次に動作モードの定ギに関して、ごく簡単な具体例を用
いて説明を行う。第2図は動作モードの定ギの一実施例
で、第3図はそのタイミングチャートである。第2図に
おいてfがデータの書き込みモードg、hがデータの読
込みモードの定ギである。3モードともクロック信号C
LKの立上り時刻からn1時刻後に制御信号■0几Q信
号が立下り、読込みモード(g、h)では同時に制御信
号RDが立下る。またhのモードではIon、Q信号が
立下ってからn2時刻後に制御信号BRDが立下ること
を定ギしている。また期待値としてはfモードではtl
から2クロツク後にデータ信号11iD AT Aに書
き込みデータがg、hモードではtlから1クロツク後
にデータ信号線DATAに読込みデータが乗るというこ
とを与える。但しhモードではDATA信号には1バイ
トのデータのみが乗る。上記動作モードを、動作モード
分析処理を通して時間軸方向に整理されたものを用いて
シミュレーション時にCLK、l0RQ、RD倍信号モ
ニタリングによって、CLK信号の立上りからn1時刻
後のl0RQ信号の立下りを検出した段階で動作モード
がf、gt hに絞られ、RD倍信号モニタリング値も
同時に立下りを示していれば動作モードはg、hに絞り
込まれる。このようにして時間軸方向に整理された動作
モードを用いて、動作モードの追跡および、動作モード
の候補からはずれたもので、いちばん最後まで残ったも
のから順にそのはずれた原因となった信号およびその理
由を保持して、論理回路の誤動作の原因となったバグの
候補として出力することによって論理回路の動作を解析
する。Next, the fixed limit of the operation mode will be explained using a very simple example. FIG. 2 shows an example of a constant gear operation mode, and FIG. 3 is a timing chart thereof. In FIG. 2, f is the data write mode g, and h is the data read mode. Clock signal C in all three modes
At time n1 after the rising time of LK, the control signal 0-Q signal falls, and at the same time in the read mode (g, h), the control signal RD falls. Furthermore, in mode h, it is determined that the control signal BRD falls at a time n2 after the falling of the Ion and Q signals. Also, the expected value is tl in f mode.
The write data is applied to the data signal 11iDATA two clocks after tl, and in the h mode, the read data is applied to the data signal line DATA one clock after tl. However, in h mode, only 1 byte of data is carried on the DATA signal. The falling edge of the l0RQ signal was detected at time n1 after the rising edge of the CLK signal by monitoring the CLK, l0RQ, and RD multiplied signals during simulation using the above operating modes organized in the time axis direction through operating mode analysis processing. At this stage, the operating modes are narrowed down to f and gth h, and if the RD double signal monitoring value also shows a fall at the same time, the operating modes are narrowed down to g and h. Using the operation modes organized in the time axis direction in this way, you can track the operation modes and identify the signals and signals that caused the deviation, starting from the last remaining operation mode candidate. The operation of the logic circuit is analyzed by retaining the reason and outputting it as a candidate for the bug that caused the malfunction of the logic circuit.
本発明の方式を論理回路の設計および検証時に、論理回
路の動作を把握する上で採用することにより、その工数
を減少させ、論理回路の設計および検証に要する時間が
短縮される。特に、論理回路のモデルおよびテストデー
タのデバッグにおいて、設計ミスの部分をつきとめるた
めに本発明を使用することによって、デバッグの期間が
短縮される。By employing the method of the present invention to understand the operation of a logic circuit when designing and verifying the logic circuit, the number of man-hours can be reduced and the time required for designing and verifying the logic circuit can be shortened. In particular, in debugging logic circuit models and test data, the use of the present invention to locate design errors reduces debugging time.
第1図は本発明の一実施例における処理およびデータの
流れを示すブロック図である。第2図は動作モードの定
ギの一例を示す図で、第3図は第2図に示した動作モー
ドのタイミング図である。
1・・・入力処理、
2・・・記号化処理、
3・・・動作モード分析処理、
4・・・動作モード分析回路合成処理、5・・・シミュ
レーション1
6・・・動作監視処理1
a* bt ’t dt e・・・入力データ、fl
g、h・・・動作モード。
0、 ム c L:L e
第 l 図FIG. 1 is a block diagram showing processing and data flow in one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an example of a constant timing of the operation mode, and FIG. 3 is a timing diagram of the operation mode shown in FIG. 2. 1... Input processing, 2... Symbolization processing, 3... Operating mode analysis processing, 4... Operating mode analysis circuit synthesis processing, 5... Simulation 1 6... Operation monitoring processing 1 a *bt 't dt e...Input data, fl
g, h...operation mode. 0, M c L:L e
Figure l
Claims (7)
段と、動作モードの指定を行う手段とを用いて、入力さ
れた論理回路のモデルとテストデータによるシミュレー
ションを行い、その際に論理回路の動作モードを特定す
るために、前記論理回路のモデルおよび動作モードと、
モニタしている信号値の履歴から、シミュレーション時
にモニタすべき信号を動的に変更して動作モードを判定
しながら自動的に動作を追跡することを特徴とする論理
回路の動作解析方式。(1) Using means for inputting a logic circuit model and test data, and means for specifying an operation mode, a simulation is performed using the input logic circuit model and test data, and at that time, the logic circuit is a model of the logic circuit and the mode of operation to identify the mode of operation;
A logic circuit behavior analysis method characterized by dynamically changing the signals to be monitored during simulation based on the history of the monitored signal values and automatically tracking the behavior while determining the operation mode.
の時間系列によって、論理回路の動作モードの指定を行
うことを特徴とする請求項1記載の論理回路の動作解析
方式。2. The method for analyzing the operation of a logic circuit according to claim 1, wherein the operation mode of the logic circuit is specified by a time series of a combinational logic equation based on a state signal and a control signal.
従ってモジュール化されたモデルを使用し、これと対応
して動作モードの指定を階層的に行うことを特徴とする
請求項1記載の論理回路の動作解析方式。(3) The logic according to claim 1, characterized in that a model modularized according to a hierarchy based on functions is used as a model of the logic circuit, and correspondingly, the operation mode is specified hierarchically. Circuit behavior analysis method.
ュールの入力信号をデータ信号と制御信号に分けたもの
を用い、シミュレーションにおいてデータ信号の値を記
号化して、記号シミュレーションを行い、データ信号値
の変化点における記号値を実載の信号値との対応を表示
することにより、論理回路の動作を解析することを特徴
とする請求項1記載の論理回路の動作解析方式。(4) As a logic circuit model, the input signals of each hierarchically designed module are divided into data signals and control signals, and the values of the data signals are symbolized in the simulation, and the data signal values are 2. The method for analyzing the operation of a logic circuit according to claim 1, wherein the operation of the logic circuit is analyzed by displaying a correspondence between a symbol value at a point of change in the signal value and an actual signal value.
ン時に特定した動作モードと比較を行い、不一致部分の
信号名および、その期待値と信号値を得ることを特徴と
する請求項1記載の論理回路の動作解析方式。(5) The logic circuit according to claim 1, characterized in that an operation mode is given as an expected value, and a comparison is made with an operation mode specified during simulation to obtain a signal name of a mismatched portion, and its expected value and signal value. Motion analysis method.
作の原因となる候補を動作モードから自動的に推論させ
て、論理回路の動作を解析することを特徴とする請求項
1もしくは請求項5のいずれかに記載の論理回路の動作
解析方式。(6) The operation of the logic circuit is analyzed by automatically inferring candidates that cause abnormal operation of bugs in the logic circuit model and test data from the operation mode. A method for analyzing the operation of a logic circuit according to any one of the following.
定する回路を自動的に生成し、論理回路のモデルに付加
して、シミュレーションを行うことによって、論理回路
の動作を解析することを特徴とする請求項1記載の論理
回路の動作解析方式。(7) A claim characterized in that the operation of the logic circuit is analyzed by automatically generating a circuit that determines a specified operation mode during simulation, adding it to a logic circuit model, and performing simulation. 1. Operation analysis method of the logic circuit described in 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63076078A JPH01250771A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Analyzing device for operation of logic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63076078A JPH01250771A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Analyzing device for operation of logic circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01250771A true JPH01250771A (en) | 1989-10-05 |
Family
ID=13594776
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63076078A Pending JPH01250771A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Analyzing device for operation of logic circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01250771A (en) |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP63076078A patent/JPH01250771A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7962869B2 (en) | Method and system for debug and test using replicated logic | |
US6163763A (en) | Method and apparatus for recording and viewing error data generated from a computer simulation of an integrated circuit | |
US6263301B1 (en) | Method and apparatus for storing and viewing data generated from a computer simulation of an integrated circuit | |
US20060190860A1 (en) | Method and system for debugging using replicated logic and trigger logic | |
EP1913410B1 (en) | Method and system for debug and test using replicated logic | |
KR19990077472A (en) | Method for automatically generating behavioral environment for model checking | |
KR20000017333A (en) | Semiconductor integrated circuit design and evaluation system | |
JPS63145549A (en) | Simulation method for logic circuit | |
US7051299B2 (en) | Method for generating reusable behavioral code | |
JPS6116100B2 (en) | ||
US7266791B2 (en) | High level synthesis device, method for generating a model for verifying hardware, method for verifying hardware, control program, and readable recording medium | |
US6985840B1 (en) | Circuit property verification system | |
US6249891B1 (en) | High speed test pattern evaluation apparatus | |
US6077305A (en) | Latch inference using dataflow analysis | |
US7131087B2 (en) | Multi-cycle path analyzing method | |
JPH01250771A (en) | Analyzing device for operation of logic circuit | |
Schlör et al. | Using a visual formalism for design verification in industrial environments | |
CN113485879A (en) | Labview-based automatic testing method for calling vivado-tcl script | |
CA1212770A (en) | Method for propagating unknown digital values in a hardware based complex circuit simulation system | |
JPH03158972A (en) | Simulator | |
Noon | A design verification and logic validation system | |
SU942025A1 (en) | Device for discrete object checking and diagnostics | |
JP2674142B2 (en) | Logic circuit operation verification method | |
Massoud | Evidence-Oriented Tracing and Verification, The Declaration of Timeprints | |
JPS59148971A (en) | Simulating method of logical circuit |