JPH01235287A - 高温超伝導薄膜のパターニング法 - Google Patents

高温超伝導薄膜のパターニング法

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JPH01235287A
JPH01235287A JP63061500A JP6150088A JPH01235287A JP H01235287 A JPH01235287 A JP H01235287A JP 63061500 A JP63061500 A JP 63061500A JP 6150088 A JP6150088 A JP 6150088A JP H01235287 A JPH01235287 A JP H01235287A
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JP
Japan
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film
light
temperature superconducting
thin film
polycrystalline
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Application number
JP63061500A
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English (en)
Inventor
Yoshihiro Takao
義弘 鷹尾
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し目次コ 概要 産業上の利用分野 従来の技術(第3図) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(第1図) 作用 実施例(第2図) 一実施例 拡張 発明の効果 [概要] セラミックス系高温超伝導薄膜パターニング法に関し、 短時間で簡単にパターニングすることを目的とし、 基板上にセラミックス系高温超伝導材薄膜を被着する薄
膜被着工程と、被着された高温超伝導材薄膜上の、所望
の高温超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被
着する遮光熱膜被着工程と、該遮光熱模被着済高温超伝
導材薄膜上に光照射して熱処理するアニール工程とで構
成する。
3産業上の利用分野] 本発明は、L a−B a−Cu−0系、Y −B a
−Cu−0系、L a−B a−9u−Cu−0系等の
セラミックス系高温超伝導薄膜のパターニング法に関す
る。
[従来の技術] 超伝導体をLSI等の配線に利用するには、基板上に超
伝導薄膜を被着後、所望の形状にパターニングしなけれ
ばならない。
しかし、セラミックス系高温超伝導体については、現在
のところ、その薄膜をエツチングするためのIa当なエ
ツチング剤がみつかっていない。このため、セラミック
ス系高温超伝導薄膜のパターニングは、第3図(a)〜
(c)に示す工程が用いられていた。
すなわち、 (a)絶縁性基板l上にセラミックス系高温超伝導薄膜
2を形成後、 (b)イオンビームを透過しないレジスト層3を高温超
伝導体12上に積層し、露光、現像して、高温超伝導体
として利用したい部分のレジスト層3を残置させ、 (c)高温超伝導材薄膜2の上方からto11個/am
”程度のイオン(例えば00)4を注入し、レジスト層
3を積層していない部分の高温超伝導薄膜2を絶縁体5
化し、レノスト3被着部の薄膜を高温超伝導薄膜2のま
まに残すという方法でパターニングしていた。
[発明が解決しようとする課題] しかし、パターニングする前に、基板上に高温超伝導薄
膜を形成しておく必要があり、工程数が多く煩雑である
また、イオン打ち込みに数100〜1時間も必要とする
本発明の目的は、上記課題に鑑み、短時間で簡単にセラ
ミックス系高温超伝導薄膜をパターニングできる高温超
伝導薄膜パターニング法を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 第1図は本発明の高温超伝導薄膜パターニング法の工程
原理図である。本発明は順次行われる次の工程(a)〜
(d)を有する。
図中、(a)は薄膜被着工程であり、基@l上にセラミ
ックス系高温超伝導材薄膜6を、例えばスパッタリング
により被着させる。
(b)は遮光熱膜被着工程であり、被着された高温超伝
導材薄膜6上の、所望の高温超伝導薄膜パターン以外の
領域に、遮光熱膜7を被着する。
(c)は光アニール工程であり、遮光熱膜被着済高温超
伝導材薄膜に、紫外光等の光8を照射して熱処理する。
[作用] 光8の照射により、遮光熱膜被着領域以外の高温超伝導
材薄膜6が光を吸収してその温度が急上昇し、アコール
されて超伝導薄膜2になる。
遮光熱膜被着領域は光アニールされず、超伝導材薄膜6
は超伝導体化されずに、絶縁膜として残る。
したがって、超伝導体化とパターニングが同時に行われ
、不要部超伝導体の絶縁体化の工程を省くことができる
[実施例] 以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
(+)−実施例 第2図(a)〜(e)は基板上に被着した高温超伝導薄
膜のパターニングを行う一実施例工程図である。
(a)スパッタ法または真空蒸着法等により、基板1、
例えばSr’l’i0.またはMgOからなる基板I上
に、3.OQO人程形成厚さのセラミックス系高温超伝
導材、例えばY B he Cus O?□の薄@6を
被着させる。
(b)次いで、例えば、5iHt+Otを反応ガスとし
て、CVD法により、上記高温超伝導材薄膜6上に3,
000人程形成厚さのS iOを膜9を形成させる。こ
の5iOy膜9は、断熱膜として機能する。
(c)その後、例えば、S iC14+ H*を反応ガ
スとしてCVD法により、SiO*膜9上に500人程
鹿の厚さの多結晶Si膜10を形成させる。この多結晶
Si膜10は、光反射・吸収膜として機能する。
(d)さらに、多結晶Si薄膜0上にホトレジスト(不
図示)を被着してから、ホトマスク(不図示)を通しホ
トレジストを所望の高温超伝導薄膜パターンと同一パタ
ーンに露光、現像し、露光部以外を除去する。
次いで、例えばフッソ酸等により、ホトレジスト除去部
の多結晶Si膜10および5iOz膜9をエツチングす
る。
(e)次に、例えば高圧水銀灯11から高温超伝導材薄
膜6上に紫外光(中心波長3650人)8Aを照射する
と、多結晶Si膜10は、この紫外光8Aのエネルギー
の約59%を反射する。また、多結晶S1膜10中に入
射した残り41%の紫外光は殆どが吸収されて熱になり
、膜厚500人を透過できるのほこの41%の僅か0.
95%にすぎない。
また、多結晶Si膜10の下層に熱伝導率の低い5iO
z膜9が存在するので、該熱の殆どは高温超伝導材薄膜
6に伝達されず、大気中に放散される。
すなわち、多結晶Si膜10とS r O*膜9の両者
で遮光熱膜7として機能し、入射光の影響を無視できる
したがって、SiOオ膜9下の高温超伝導材薄膜6は絶
縁体のまま残る。
しかし、遮光熱膜7を設けていない部分の高温超伝導薄
膜提供には紫外光8Aが入射し、急昇温され、アニール
されるので、短時間で超伝導体化される (2)拡張 上記実施例では、遮光熱膜7を、光吸収膜としての5i
Oy膜9上に反射膜としての多結晶Siね10を積層し
て構成したものについて説明したが、S i O*膜9
を用いず、比較的厚い多結晶Sl膜10のみで遮光熱膜
7を構成してもよい。
また、上記実施例ではアニール用照射光として紫外光を
使用した場合を説明したが、赤外光あるいは可視光など
を使用してもよく、また、レーザビームを用いてもよい
。この場合、遮光熱膜材は光の波長に応じて適当なもの
を選定する。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、基板上に被着さ
れたセラミックス系高温超伝導材薄膜上の、所望の高温
超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被着し、
光照射してアニールする構成であり、遮光熱膜下は高温
超伝導材のまま残され所望のパターン部のみ、入射光が
熱に変換されてアニールされ、超伝導体化されるので、
従来のように超伝導材薄膜全体をアニールして超伝導体
化した後さらに所望のパターン以外の部分に長時間イオ
ンを注入して絶縁体化する方法に比べ、少ない工程数で
、しかも簡単かつ短時間で高温超伝導薄膜のバターニン
グを行うことができるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(c)は本発明に係る高温超伝導R膜パ
ターニング法の原理工程説明図、第2図(a)〜(e)
は本発明の一実施例に係る高温超伝導薄膜パターニング
法の工程図、第3図(IL)〜(c)は従来の高温超伝
導薄膜バターニング法の工程図である。 図中、 1は基板 2はセラミックス系高温超伝導薄膜 5は絶縁体 6はセラミックス系高温超伝導材薄膜 7は遮光熱膜 8.8Aは照射光 9はSin、膜 lOは多結晶Si膜 Itは高圧水銀灯 6高温超伝導N蕩膜 / 発明の■図 第1図 従来例 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  基板(1)上にセラミックス系高温超伝導材薄膜(6
    )を被着する薄膜被着工程(a)と、被着された高温超
    伝導材薄膜(6)上の、所望の高温超伝導薄膜パターン
    以外の領域に、遮光熱膜(7)を被着する遮光熱膜被着
    工程(b)と、該遮光熱膜被着済高温超伝導材薄膜上に
    光照射して熱処理するアニール工程(c)と、 を有することを特徴とする高温超伝導薄膜パターニング
    法。
JP63061500A 1988-03-15 1988-03-15 高温超伝導薄膜のパターニング法 Pending JPH01235287A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04134886A (ja) * 1990-09-27 1992-05-08 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導素子および作製方法
JPH04134880A (ja) * 1990-09-27 1992-05-08 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導素子およびその作製方法
JPH04168781A (ja) * 1990-11-01 1992-06-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導素子および作製方法

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JPS5720486A (en) * 1980-07-11 1982-02-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Superconductive integrated circuit and preparation thereof
JPH01119076A (ja) * 1987-10-30 1989-05-11 Nec Corp 酸化物超伝導体膜の製造方法
JPH01147878A (ja) * 1987-12-04 1989-06-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超電導素子の製造方法

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