JPH01235287A - 高温超伝導薄膜のパターニング法 - Google Patents
高温超伝導薄膜のパターニング法Info
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- JPH01235287A JPH01235287A JP63061500A JP6150088A JPH01235287A JP H01235287 A JPH01235287 A JP H01235287A JP 63061500 A JP63061500 A JP 63061500A JP 6150088 A JP6150088 A JP 6150088A JP H01235287 A JPH01235287 A JP H01235287A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
し目次コ
概要
産業上の利用分野
従来の技術(第3図)
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段(第1図)
作用
実施例(第2図)
一実施例
拡張
発明の効果
[概要]
セラミックス系高温超伝導薄膜パターニング法に関し、
短時間で簡単にパターニングすることを目的とし、
基板上にセラミックス系高温超伝導材薄膜を被着する薄
膜被着工程と、被着された高温超伝導材薄膜上の、所望
の高温超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被
着する遮光熱膜被着工程と、該遮光熱模被着済高温超伝
導材薄膜上に光照射して熱処理するアニール工程とで構
成する。
膜被着工程と、被着された高温超伝導材薄膜上の、所望
の高温超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被
着する遮光熱膜被着工程と、該遮光熱模被着済高温超伝
導材薄膜上に光照射して熱処理するアニール工程とで構
成する。
3産業上の利用分野]
本発明は、L a−B a−Cu−0系、Y −B a
−Cu−0系、L a−B a−9u−Cu−0系等の
セラミックス系高温超伝導薄膜のパターニング法に関す
る。
−Cu−0系、L a−B a−9u−Cu−0系等の
セラミックス系高温超伝導薄膜のパターニング法に関す
る。
[従来の技術]
超伝導体をLSI等の配線に利用するには、基板上に超
伝導薄膜を被着後、所望の形状にパターニングしなけれ
ばならない。
伝導薄膜を被着後、所望の形状にパターニングしなけれ
ばならない。
しかし、セラミックス系高温超伝導体については、現在
のところ、その薄膜をエツチングするためのIa当なエ
ツチング剤がみつかっていない。このため、セラミック
ス系高温超伝導薄膜のパターニングは、第3図(a)〜
(c)に示す工程が用いられていた。
のところ、その薄膜をエツチングするためのIa当なエ
ツチング剤がみつかっていない。このため、セラミック
ス系高温超伝導薄膜のパターニングは、第3図(a)〜
(c)に示す工程が用いられていた。
すなわち、
(a)絶縁性基板l上にセラミックス系高温超伝導薄膜
2を形成後、 (b)イオンビームを透過しないレジスト層3を高温超
伝導体12上に積層し、露光、現像して、高温超伝導体
として利用したい部分のレジスト層3を残置させ、 (c)高温超伝導材薄膜2の上方からto11個/am
”程度のイオン(例えば00)4を注入し、レジスト層
3を積層していない部分の高温超伝導薄膜2を絶縁体5
化し、レノスト3被着部の薄膜を高温超伝導薄膜2のま
まに残すという方法でパターニングしていた。
2を形成後、 (b)イオンビームを透過しないレジスト層3を高温超
伝導体12上に積層し、露光、現像して、高温超伝導体
として利用したい部分のレジスト層3を残置させ、 (c)高温超伝導材薄膜2の上方からto11個/am
”程度のイオン(例えば00)4を注入し、レジスト層
3を積層していない部分の高温超伝導薄膜2を絶縁体5
化し、レノスト3被着部の薄膜を高温超伝導薄膜2のま
まに残すという方法でパターニングしていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、パターニングする前に、基板上に高温超伝導薄
膜を形成しておく必要があり、工程数が多く煩雑である
。
膜を形成しておく必要があり、工程数が多く煩雑である
。
また、イオン打ち込みに数100〜1時間も必要とする
。
。
本発明の目的は、上記課題に鑑み、短時間で簡単にセラ
ミックス系高温超伝導薄膜をパターニングできる高温超
伝導薄膜パターニング法を提供することにある。
ミックス系高温超伝導薄膜をパターニングできる高温超
伝導薄膜パターニング法を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
第1図は本発明の高温超伝導薄膜パターニング法の工程
原理図である。本発明は順次行われる次の工程(a)〜
(d)を有する。
原理図である。本発明は順次行われる次の工程(a)〜
(d)を有する。
図中、(a)は薄膜被着工程であり、基@l上にセラミ
ックス系高温超伝導材薄膜6を、例えばスパッタリング
により被着させる。
ックス系高温超伝導材薄膜6を、例えばスパッタリング
により被着させる。
(b)は遮光熱膜被着工程であり、被着された高温超伝
導材薄膜6上の、所望の高温超伝導薄膜パターン以外の
領域に、遮光熱膜7を被着する。
導材薄膜6上の、所望の高温超伝導薄膜パターン以外の
領域に、遮光熱膜7を被着する。
(c)は光アニール工程であり、遮光熱膜被着済高温超
伝導材薄膜に、紫外光等の光8を照射して熱処理する。
伝導材薄膜に、紫外光等の光8を照射して熱処理する。
[作用]
光8の照射により、遮光熱膜被着領域以外の高温超伝導
材薄膜6が光を吸収してその温度が急上昇し、アコール
されて超伝導薄膜2になる。
材薄膜6が光を吸収してその温度が急上昇し、アコール
されて超伝導薄膜2になる。
遮光熱膜被着領域は光アニールされず、超伝導材薄膜6
は超伝導体化されずに、絶縁膜として残る。
は超伝導体化されずに、絶縁膜として残る。
したがって、超伝導体化とパターニングが同時に行われ
、不要部超伝導体の絶縁体化の工程を省くことができる
。
、不要部超伝導体の絶縁体化の工程を省くことができる
。
[実施例]
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
(+)−実施例
第2図(a)〜(e)は基板上に被着した高温超伝導薄
膜のパターニングを行う一実施例工程図である。
膜のパターニングを行う一実施例工程図である。
(a)スパッタ法または真空蒸着法等により、基板1、
例えばSr’l’i0.またはMgOからなる基板I上
に、3.OQO人程形成厚さのセラミックス系高温超伝
導材、例えばY B he Cus O?□の薄@6を
被着させる。
例えばSr’l’i0.またはMgOからなる基板I上
に、3.OQO人程形成厚さのセラミックス系高温超伝
導材、例えばY B he Cus O?□の薄@6を
被着させる。
(b)次いで、例えば、5iHt+Otを反応ガスとし
て、CVD法により、上記高温超伝導材薄膜6上に3,
000人程形成厚さのS iOを膜9を形成させる。こ
の5iOy膜9は、断熱膜として機能する。
て、CVD法により、上記高温超伝導材薄膜6上に3,
000人程形成厚さのS iOを膜9を形成させる。こ
の5iOy膜9は、断熱膜として機能する。
(c)その後、例えば、S iC14+ H*を反応ガ
スとしてCVD法により、SiO*膜9上に500人程
鹿の厚さの多結晶Si膜10を形成させる。この多結晶
Si膜10は、光反射・吸収膜として機能する。
スとしてCVD法により、SiO*膜9上に500人程
鹿の厚さの多結晶Si膜10を形成させる。この多結晶
Si膜10は、光反射・吸収膜として機能する。
(d)さらに、多結晶Si薄膜0上にホトレジスト(不
図示)を被着してから、ホトマスク(不図示)を通しホ
トレジストを所望の高温超伝導薄膜パターンと同一パタ
ーンに露光、現像し、露光部以外を除去する。
図示)を被着してから、ホトマスク(不図示)を通しホ
トレジストを所望の高温超伝導薄膜パターンと同一パタ
ーンに露光、現像し、露光部以外を除去する。
次いで、例えばフッソ酸等により、ホトレジスト除去部
の多結晶Si膜10および5iOz膜9をエツチングす
る。
の多結晶Si膜10および5iOz膜9をエツチングす
る。
(e)次に、例えば高圧水銀灯11から高温超伝導材薄
膜6上に紫外光(中心波長3650人)8Aを照射する
と、多結晶Si膜10は、この紫外光8Aのエネルギー
の約59%を反射する。また、多結晶S1膜10中に入
射した残り41%の紫外光は殆どが吸収されて熱になり
、膜厚500人を透過できるのほこの41%の僅か0.
95%にすぎない。
膜6上に紫外光(中心波長3650人)8Aを照射する
と、多結晶Si膜10は、この紫外光8Aのエネルギー
の約59%を反射する。また、多結晶S1膜10中に入
射した残り41%の紫外光は殆どが吸収されて熱になり
、膜厚500人を透過できるのほこの41%の僅か0.
95%にすぎない。
また、多結晶Si膜10の下層に熱伝導率の低い5iO
z膜9が存在するので、該熱の殆どは高温超伝導材薄膜
6に伝達されず、大気中に放散される。
z膜9が存在するので、該熱の殆どは高温超伝導材薄膜
6に伝達されず、大気中に放散される。
すなわち、多結晶Si膜10とS r O*膜9の両者
で遮光熱膜7として機能し、入射光の影響を無視できる
。
で遮光熱膜7として機能し、入射光の影響を無視できる
。
したがって、SiOオ膜9下の高温超伝導材薄膜6は絶
縁体のまま残る。
縁体のまま残る。
しかし、遮光熱膜7を設けていない部分の高温超伝導薄
膜提供には紫外光8Aが入射し、急昇温され、アニール
されるので、短時間で超伝導体化される (2)拡張 上記実施例では、遮光熱膜7を、光吸収膜としての5i
Oy膜9上に反射膜としての多結晶Siね10を積層し
て構成したものについて説明したが、S i O*膜9
を用いず、比較的厚い多結晶Sl膜10のみで遮光熱膜
7を構成してもよい。
膜提供には紫外光8Aが入射し、急昇温され、アニール
されるので、短時間で超伝導体化される (2)拡張 上記実施例では、遮光熱膜7を、光吸収膜としての5i
Oy膜9上に反射膜としての多結晶Siね10を積層し
て構成したものについて説明したが、S i O*膜9
を用いず、比較的厚い多結晶Sl膜10のみで遮光熱膜
7を構成してもよい。
また、上記実施例ではアニール用照射光として紫外光を
使用した場合を説明したが、赤外光あるいは可視光など
を使用してもよく、また、レーザビームを用いてもよい
。この場合、遮光熱膜材は光の波長に応じて適当なもの
を選定する。
使用した場合を説明したが、赤外光あるいは可視光など
を使用してもよく、また、レーザビームを用いてもよい
。この場合、遮光熱膜材は光の波長に応じて適当なもの
を選定する。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、基板上に被着さ
れたセラミックス系高温超伝導材薄膜上の、所望の高温
超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被着し、
光照射してアニールする構成であり、遮光熱膜下は高温
超伝導材のまま残され所望のパターン部のみ、入射光が
熱に変換されてアニールされ、超伝導体化されるので、
従来のように超伝導材薄膜全体をアニールして超伝導体
化した後さらに所望のパターン以外の部分に長時間イオ
ンを注入して絶縁体化する方法に比べ、少ない工程数で
、しかも簡単かつ短時間で高温超伝導薄膜のバターニン
グを行うことができるという優れた効果を奏する。
れたセラミックス系高温超伝導材薄膜上の、所望の高温
超伝導薄膜パターン以外の領域に、遮光熱膜を被着し、
光照射してアニールする構成であり、遮光熱膜下は高温
超伝導材のまま残され所望のパターン部のみ、入射光が
熱に変換されてアニールされ、超伝導体化されるので、
従来のように超伝導材薄膜全体をアニールして超伝導体
化した後さらに所望のパターン以外の部分に長時間イオ
ンを注入して絶縁体化する方法に比べ、少ない工程数で
、しかも簡単かつ短時間で高温超伝導薄膜のバターニン
グを行うことができるという優れた効果を奏する。
第1図(a)〜(c)は本発明に係る高温超伝導R膜パ
ターニング法の原理工程説明図、第2図(a)〜(e)
は本発明の一実施例に係る高温超伝導薄膜パターニング
法の工程図、第3図(IL)〜(c)は従来の高温超伝
導薄膜バターニング法の工程図である。 図中、 1は基板 2はセラミックス系高温超伝導薄膜 5は絶縁体 6はセラミックス系高温超伝導材薄膜 7は遮光熱膜 8.8Aは照射光 9はSin、膜 lOは多結晶Si膜 Itは高圧水銀灯 6高温超伝導N蕩膜 / 発明の■図 第1図 従来例 第3図
ターニング法の原理工程説明図、第2図(a)〜(e)
は本発明の一実施例に係る高温超伝導薄膜パターニング
法の工程図、第3図(IL)〜(c)は従来の高温超伝
導薄膜バターニング法の工程図である。 図中、 1は基板 2はセラミックス系高温超伝導薄膜 5は絶縁体 6はセラミックス系高温超伝導材薄膜 7は遮光熱膜 8.8Aは照射光 9はSin、膜 lOは多結晶Si膜 Itは高圧水銀灯 6高温超伝導N蕩膜 / 発明の■図 第1図 従来例 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板(1)上にセラミックス系高温超伝導材薄膜(6
)を被着する薄膜被着工程(a)と、被着された高温超
伝導材薄膜(6)上の、所望の高温超伝導薄膜パターン
以外の領域に、遮光熱膜(7)を被着する遮光熱膜被着
工程(b)と、該遮光熱膜被着済高温超伝導材薄膜上に
光照射して熱処理するアニール工程(c)と、 を有することを特徴とする高温超伝導薄膜パターニング
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63061500A JPH01235287A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 高温超伝導薄膜のパターニング法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63061500A JPH01235287A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 高温超伝導薄膜のパターニング法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01235287A true JPH01235287A (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=13172873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63061500A Pending JPH01235287A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 高温超伝導薄膜のパターニング法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01235287A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04134886A (ja) * | 1990-09-27 | 1992-05-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導素子および作製方法 |
JPH04134880A (ja) * | 1990-09-27 | 1992-05-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導素子およびその作製方法 |
JPH04168781A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導素子および作製方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5720486A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Superconductive integrated circuit and preparation thereof |
JPH01119076A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Nec Corp | 酸化物超伝導体膜の製造方法 |
JPH01147878A (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導素子の製造方法 |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP63061500A patent/JPH01235287A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5720486A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Superconductive integrated circuit and preparation thereof |
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JPH01147878A (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導素子の製造方法 |
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JPH04134880A (ja) * | 1990-09-27 | 1992-05-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導素子およびその作製方法 |
JPH04168781A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導素子および作製方法 |
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