JPH01232454A - Test system for address bus - Google Patents

Test system for address bus

Info

Publication number
JPH01232454A
JPH01232454A JP63058655A JP5865588A JPH01232454A JP H01232454 A JPH01232454 A JP H01232454A JP 63058655 A JP63058655 A JP 63058655A JP 5865588 A JP5865588 A JP 5865588A JP H01232454 A JPH01232454 A JP H01232454A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
line
address bus
register
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63058655A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Kobayashi
義昭 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP63058655A priority Critical patent/JPH01232454A/en
Publication of JPH01232454A publication Critical patent/JPH01232454A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To quickly test an address bus by setting a register on an address bus of a conventional circuit and executing an address bus test program with addition of a small number of circuits including a gate circuit, etc. CONSTITUTION:A register 4 has its output connected an input/output controller 3 and its input connected to an address bus line 10 respectively. An output line 22 is added to the controller 3 to transmit a turn-on signal when the 1st specific data is sent to the controller 3 and to turn off said turn-on signal when the 2nd specific data is sent to the controller 3. Then the gate circuits 23 and 25 latch the contents of the line 10 supplied to the register 4 by the memory read signal that is transmitted only when data are read out of a memory at output of a turn-on signal through the line 22. A CPU 1 latches the signals having all bits '0' and '1' sent to the line 10 via the register 4 and reads these signals out of the register 4 via the controller 3 to check the coincidence between this latched signal with the signal sent previously to the line 10.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアドレスバス試験方式、特にマイクロコンピュ
ータのアドレスバス試験方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an address bus testing method, and more particularly to an address bus testing method for microcomputers.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種のアドレスバス試験方式は、マイクロコン
ピュータを使用1. 、”、ニジステムがプログラムを
実行する中央処理装置とプログラムを格納するメモリと
各種入出力制御装置とからなり、アドレスバスを試験す
るための専用の回路はなく、プログラムでプログラムの
暴走チエツク、またはメモリにある値を書込み、読出し
て同じデータかをチエツクするメモリ試験を行なうこと
で、アドレスバスの試験も兼ねている。
Conventionally, this type of address bus test method uses a microcomputer.1. ``The system consists of a central processing unit that executes programs, memory that stores the programs, and various input/output control devices.There is no dedicated circuit for testing the address bus, and there is no program runaway check or memory It also serves as an address bus test by performing a memory test in which a certain value is written and read to check whether the data is the same.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のアトし・スバスの試験は、エラーまたは
暴走が発生したときにエラー個所がメモリ。
In the conventional AT/S bus test mentioned above, when an error or runaway occurs, the error location is located in the memory.

データバスまたはアドレスバスのいずれかを判断するこ
とが容易でない。特にワークエリアがプログラムエリア
より老番地のときとか、プログラムエリアで使用してい
ないアドレスをワークエリアのアドレスで使用している
とき、このアドレスが異常でもプログラムは見かけ上正
常動作すると言う問題点がある。
It is not easy to determine whether it is a data bus or an address bus. Especially when the work area is at an older address than the program area, or when the work area address uses an address that is not used in the program area, there is a problem that the program appears to operate normally even if this address is abnormal. .

例えばプログラムのO番地から1000 (IIEX)
番地(アドレスバス212ビツトのみ“1”)、ワーク
エリアが1001 ()IEX)番地(アドレスバス2
t 2.2oビツトが“’1”)から3000()IE
X)番地(アドレスバス213.’)12ビツト°“1
゛)のプログラムにおいて、アドレスバス213ビ・ソ
トが0にスタックしたとき、プログラムエリアではこの
213ビツトは0のままで正常動作するが、プログラム
によってワークエリアの3000(HEX)番地の内容
を読出したとき213ビツトが0にスタックされている
ので1000 (II E X ’)番地の内容を読出
し、異常データによってプログラムが実行されることに
なる。
For example, 1000 from address O of the program (IIEX)
address (address bus 212 bits only “1”), work area is 1001 ()IEX) address (address bus 2
t 2.2o bit “'1”) to 3000()IE
X) address (address bus 213.') 12 bits "1"
In the program (2), when the address bus 213 bits are stuck at 0, the 213 bits in the program area remain 0 and operate normally, but the program reads the contents of address 3000 (HEX) in the work area. Since 213 bits are stacked at 0, the contents of address 1000 (IIEX') are read and the program is executed using the abnormal data.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のアドレスバス試験方式は、共通のアドレスバス
線と共通のデータバス線とに中央処理装置とプログラム
を格納するメモリと入出力制御装置とを接続したマイク
ロコンピュータシステムにおいて、前記入出力制御装置
に出力が接続され入力が前記アドレスバス線に接続され
たレジスタと、前記入出力制御装置に第1の特定のデー
タを転送したときオン信号を出力し第2の特定のデータ
を転送したときこのオン信号をオフとする前記入出力制
御装置に設けられた出力線と、この出力線からのオン信
号の出力時に前記メモリからデータを読取るときのみに
送出するメモリリード信号により前記レジスタに入力さ
れるアドレスバス線の内容をラッチさせるゲート回路と
を設け、前記中央処理装置はアドレスバス線に送出され
た全ビット°°0”および全ピッド′1°゛の信号を前
記レジスタにラッチさせ、前記入出力制御装置を介して
前記レジスタにラッチされた信号を読取って、この信号
とアドレスバス線に前に送出した信号との一致を調べる
ことにより構成される。
The address bus test method of the present invention is applicable to a microcomputer system in which a central processing unit, a memory that stores a program, and an input/output control device are connected to a common address bus line and a common data bus line. and a register whose output is connected to the address bus line and whose input is connected to the address bus line, outputs an on signal when the first specific data is transferred to the input/output control device, and outputs an on signal when the second specific data is transferred to the input/output control device. An output line provided to the input/output control device that turns off the on signal, and a memory read signal that is sent only when reading data from the memory when the on signal is output from this output line are input to the register. A gate circuit is provided to latch the contents of the address bus line, and the central processing unit causes the register to latch the signals of all bits °°0'' and all pins '1°'' sent to the address bus line, and It is constructed by reading the signal latched in the register via the output control device and checking whether this signal matches the signal previously sent to the address bus line.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

この実施例はプログラムを実行する中央処理装置1、プ
ログラムを格納するメモリ2、各種入出力装置を制御す
る入出力制御装置3、アドレスバスデータを蓄積するレ
ジスタ4、各種制御信号を作成する制御信号発生回路5
、ゲート制御を行なうフリップフロップ6、AND回路
7、信号反転回路8.9、アドレスバス線10、データ
バス線11、メモリリクエスト線12.IOリクエスト
線13、リード線14、ライト線15、第1マシンサイ
クル線16、メモリリード線17、メモリライト線18
、■0リード線19、IOライト線20、レジスタ内容
出力線21、タロツク線22、ゲート線23,25.デ
ータセット信号線24により構成されている。
This embodiment includes a central processing unit 1 for executing programs, a memory 2 for storing programs, an input/output control device 3 for controlling various input/output devices, a register 4 for storing address bus data, and a control signal for creating various control signals. Generation circuit 5
, a flip-flop 6 for gate control, an AND circuit 7, a signal inversion circuit 8.9, an address bus line 10, a data bus line 11, a memory request line 12. IO request line 13, read line 14, write line 15, first machine cycle line 16, memory read line 17, memory write line 18
, ■0 lead line 19, IO write line 20, register content output line 21, tarok line 22, gate line 23, 25 . It is composed of a data set signal line 24.

第2図は本発明のアドレスバス試験のためにメモリ2に
格納されているプログラムのフローチャートで、以下第
2図を参照して第1図の動作について説明を進める。先
ず中央処理装置1は内部のレジスタにアドレスとしてA
LL“0″を設定する(ステップ■)。
FIG. 2 is a flowchart of a program stored in the memory 2 for the address bus test of the present invention, and the operation of FIG. 1 will be explained below with reference to FIG. First, the central processing unit 1 writes an address A to an internal register.
Set LL "0" (step ■).

次に入出力制御装置3からのゲート線23からオン信号
を送出させる(ステップ■)。この手順は次のようにし
て行なわれる。先ず中央処理装置1は第3図に示すマシ
ンサイクルM1のタイミングにプログラムカウンタの内
容をアドレス線10に送出する。次に中央処理装置1は
メモリリクエスト線12、リード線14、第1マシンサ
イクル線16に信号を送出する。メモリリクエスト線1
2、リード線14の信号は制御信号発生回路5に入力さ
れ、メモリリード信号に変換されメモリリード線17を
介してメモリ2に入力される。メモリ2はこの信号を受
信すると、データバス線11にメモリ2の内容を送出す
る。中央処理装置1はこの内容を受信して出力命令であ
ることを知り、出力命令であることから出力装置のアド
レスをメモリ2からリードするため、アドレスバス線1
0にプログラムカウンタを+1してアドレスを送出し、
メモリリクエスト線12、リード線14に信号を送出す
る(このときは第1マシンサイクル線16に信号は送出
されない。第1マシンサイクル線16の信号は命令コー
ドをリードするときだけ送出される。)。これらの信号
は制御信号発生回路5によりメモリリード信号に変換さ
れメモリリード線17を介してメモリ2に入力され、メ
モリ2からはデータバス線11にメモリの内容(出力装
置のアドレス)が送出され、中央処理装置1がこの内容
を受信する。中央処理装置1は出力装置のアドレスが分
かると、第3図に示すマシンサイクルM3のタイミング
にアドレスバス線10にメモリ2から受信した出力装置
のアドレスを送出し、次いでデータバス線11に第1の
特定のデータを送出し、IOリクエスト線13、ライト
線15に信号を送出する。この信号は制御信号発生回路
5により、IOライト信号に変換され、IOライト線2
0を介して入出力制御装置3に入力される。そこで入出
力制御装置3は■○ライト信号を受信すると同時にデー
タバス線11の第1の特定のデータをラッチし、このデ
ータに従ってゲート線23にオン信号を送出する。なお
このオン信号はAND回路7のゲートをオン、フリ・・
Iブフロップ6のリセットを解除する(■○ライト信号
、ゲート線23のオン信号のタイミングは第3図に示す
ように出力命令のマシンサイクルM3である。) 次にステップ■で設定されたアドレスのメモリ内容を読
取る(ステップ■)。この場合に中央処理装置1は命令
コードをメモリ2がら読取り、ステップ■で設定した内
部のレジスタの内容をリードする命令と判断して次のマ
シンサイクルM2(第3図リード命令のM2)でアドレ
スバス線10にALL”O”を送出し、メモリリクエス
ト線12、リード線14に信号を送出する。これらの信
号は制御信号発生回路5によりメモリリード信号に変換
され、メモリリード線17を介してメモリ2に入力され
ると同時にAND回路7にも入力される。メモリ2は0
番地の内容をデータバス線11に送出し、中央処理装置
1で受信されるが、この内容はアドレスバス試験には不
要なのでプログラム上無効としている。またメモリの読
取りのみなのでプログラムには何ら影響を与えない。一
方、すでに入出力制御装置3からのゲート線23のオン
信号によりフリップフロップ6のリセットが解除され、
フリップフロップ6の出力信号はゲー)−線25を介し
てAND回路7のゲートを開けているので、AND回路
7に入力されたメモリリード信号はAND回路7から出
力され、この信号が信号反転回路9により反転されレジ
スタ4の入力信号のラッチ信号としてレジスタ4に入力
される。
Next, an ON signal is sent from the gate line 23 from the input/output control device 3 (step 2). This procedure is performed as follows. First, central processing unit 1 sends the contents of the program counter to address line 10 at the timing of machine cycle M1 shown in FIG. Next, the central processing unit 1 sends signals to the memory request line 12, the lead line 14, and the first machine cycle line 16. Memory request line 1
2. The signal on the lead wire 14 is input to the control signal generation circuit 5, converted into a memory read signal, and input to the memory 2 via the memory lead wire 17. When memory 2 receives this signal, it sends the contents of memory 2 to data bus line 11. The central processing unit 1 receives this content and knows that it is an output command, and since it is an output command, the address bus line 1 is read in order to read the address of the output device from the memory 2.
Add 1 to the program counter to 0 and send the address.
A signal is sent to the memory request line 12 and the lead line 14 (at this time, no signal is sent to the first machine cycle line 16. The signal on the first machine cycle line 16 is sent only when reading the instruction code). . These signals are converted into memory read signals by the control signal generation circuit 5 and input to the memory 2 via the memory lead line 17, and the memory contents (address of the output device) are sent from the memory 2 to the data bus line 11. , the central processing unit 1 receives this content. When the central processing unit 1 knows the address of the output device, it sends the address of the output device received from the memory 2 to the address bus line 10 at the timing of machine cycle M3 shown in FIG. , and sends signals to the IO request line 13 and write line 15. This signal is converted into an IO write signal by the control signal generation circuit 5, and the IO write line 2
0 to the input/output control device 3. Therefore, the input/output control device 3 latches the first specific data on the data bus line 11 at the same time as receiving the ■○ write signal, and sends an on signal to the gate line 23 in accordance with this data. Note that this on signal turns on the gate of the AND circuit 7, and turns on the gate of the AND circuit 7.
Release the reset of the I block flop 6 (■○ The timing of the write signal and the ON signal of the gate line 23 is the machine cycle M3 of the output command as shown in FIG. 3.) Next, the address set in step ■ Read the memory contents (step ■). In this case, the central processing unit 1 reads the instruction code from the memory 2, determines that it is an instruction to read the contents of the internal register set in step ①, and addresses it in the next machine cycle M2 (M2 of the read instruction in Figure 3). ALL "O" is sent to the bus line 10, and signals are sent to the memory request line 12 and lead line 14. These signals are converted into memory read signals by the control signal generation circuit 5, and are input to the memory 2 via the memory lead line 17, and simultaneously input to the AND circuit 7. Memory 2 is 0
The content of the address is sent to the data bus line 11 and received by the central processing unit 1, but this content is unnecessary for the address bus test and is therefore invalidated in the program. Also, since it only reads memory, it does not affect the program in any way. On the other hand, the reset of the flip-flop 6 has already been canceled by the ON signal of the gate line 23 from the input/output control device 3.
Since the output signal of the flip-flop 6 opens the gate of the AND circuit 7 via the gate line 25, the memory read signal input to the AND circuit 7 is output from the AND circuit 7, and this signal is sent to the signal inversion circuit. 9 and input to the register 4 as a latch signal of the input signal of the register 4.

このとき、アドレスバス線10にはまだ0番地のアドレ
スが出力されていて、レジスタ4にはALL“°0”が
ラッチされる。また信号反転回路9から出力されるメモ
リリード信号の反転信号によってフリップフロップ6が
リセットされ、AND回路7のゲートは閉じられる。
At this time, the address of address 0 is still being output to the address bus line 10, and ALL "°0" is latched in the register 4. Further, the flip-flop 6 is reset by the inverted signal of the memory read signal output from the signal inverting circuit 9, and the gate of the AND circuit 7 is closed.

次に中央処理装置1は入出力制御装置3からのゲート線
23のオン信号をオフさせる(ステップ■)。この手順
はステップ■と同じであるが、ステップ■で入出力制御
装置3に第1の特定のデータを送った代りに、第2の特
定のデータを送ることにより行なわれる。ゲート線23
からオフ信号が出力されることでAND回路7のゲート
は閉しられたままで、フリップフロップ6の出力のゲー
ト線25はオンとなるが、レジスタ4に新らなにデータ
がラッチされることがなくなる。
Next, the central processing unit 1 turns off the on signal of the gate line 23 from the input/output control unit 3 (step 2). This procedure is the same as step (2), except that instead of sending the first specific data to the input/output control device 3 in step (2), second specific data is sent. gate line 23
Since the off signal is output from , the gate of the AND circuit 7 remains closed and the gate line 25 of the output of the flip-flop 6 is turned on, but no new data is latched into the register 4. It disappears.

次に中央処理装置1は入出力制御装置3を介してレジス
タ4の内容を読取る(ステップ■)。この手順はレジス
タ4が入出力制御装置3に接続された一つの入出力装置
と見做すことによって行なわれる。
Next, the central processing unit 1 reads the contents of the register 4 via the input/output control unit 3 (step 2). This procedure is performed by regarding the register 4 as one input/output device connected to the input/output control device 3.

次に中央処理装置1は読取ったレジスタ4の内容がステ
ップ■で設定した内部アドレスの内容と一致するかを調
べる(ステップ■)。その結果−致すれば内部アドレス
の内容がALL“0°゛であったかを調べ(ステップ■
)、ALL“0”であれば内部アドレスの内容をALL
“1″に設定する(ステップ■)。次いでステップ■に
戻る。
Next, the central processing unit 1 checks whether the read contents of the register 4 match the contents of the internal address set in step (2) (step (2)). As a result, check whether the contents of the internal address are ALL “0°” (step ■
), if ALL is “0”, the contents of the internal address are all
Set it to “1” (step ■). Next, return to step ■.

なおステップ■で一致しなかったら誤りとして誤り表示
を行なう(ステップ■)。またステップ■でALL”O
”でなければ終了する。
If they do not match in step ■, an error is displayed as an error (step ■). Also, in step ■ ALL”O
” otherwise it will end.

以上の処理により中央処理装置は、アドレスバス線10
にALL“°0″とALL“1′°を送って誤りなく出
力されたかを調べることができ、アドレスバス線の何れ
のビット線のスタック障害も検出される。
Through the above processing, the central processing unit
It is possible to check whether the data is output without error by sending ALL "0" and ALL "1'° to the address bus line, and a stack failure in any bit line of the address bus line can be detected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、従来回路のアドレスバス
線にレジスタを設け、ゲート回路等の僅かの回路を追加
し、アドレスバス試験用のプログラムを実行させること
により速やかにアドレスバスの試験ができる効果がある
As explained above, the present invention can quickly test the address bus by providing a register in the address bus line of the conventional circuit, adding a few circuits such as gate circuits, and running the address bus test program. effective.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は本発
明のアドレスバス試験用のプログラムのフローチャート
、第3図は第1図における主要な信号のタイムチャート
である。 l・・・中央処理装置、2・・・メモリ、3・・・入出
力制御装置、4・・・レジスタ、5・・・制御信号発生
回路、6・・・フリップフロップ、10・・・アドレス
バス線、11・・・データバス線。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flow chart of an address bus test program of the present invention, and FIG. 3 is a time chart of the main signals in FIG. l... Central processing unit, 2... Memory, 3... Input/output control device, 4... Register, 5... Control signal generation circuit, 6... Flip-flop, 10... Address Bus line, 11...data bus line.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 共通のアドレスバス線と共通のデータバス線とに中央処
理装置とプログラムを格納するメモリと入出力制御装置
とを接続したマイクロコンピュータシステムにおいて、
前記入出力制御装置に出力が接続され入力が前記アドレ
スバス線に接続されたレジスタと、前記入出力制御装置
に第1の特定のデータを転送したときオン信号を出力し
第2の特定のデータを転送したときこのオン信号をオフ
とする前記入出力制御装置に設けられた出力線と、この
出力線からのオン信号の出力時に前記メモリからデータ
を読取るときのみに送出するメモリリード信号により前
記レジスタに入力されるアドレスバス線の内容をラッチ
させるゲート回路とを設け、前記中央処理装置はアドレ
スバス線に送出された全ビット“0”および全ビット“
1”の信号を前記レジスタにラッチさせ、前記入出力制
御装置を介して前記レジスタにラッチされた信号を読取
つて、この信号とアドレスバス線に前に送出した信号と
の一致を調べることを特徴とするアドレスバス試験方式
In a microcomputer system in which a central processing unit, a memory for storing programs, and an input/output control unit are connected to a common address bus line and a common data bus line,
a register having an output connected to the input/output control device and an input connected to the address bus line; and a register that outputs an on signal when first specific data is transferred to the input/output control device and transmits second specific data. an output line provided in the input/output control device that turns off this on signal when the on signal is transferred, and a memory read signal that is sent only when reading data from the memory when the on signal is output from this output line. A gate circuit is provided to latch the contents of the address bus line input to the register, and the central processing unit latches all bits "0" and all bits "0" sent to the address bus line.
1'' signal is latched in the register, the signal latched in the register is read through the input/output control device, and it is checked whether this signal matches the signal previously sent to the address bus line. Address bus test method.
JP63058655A 1988-03-11 1988-03-11 Test system for address bus Pending JPH01232454A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63058655A JPH01232454A (en) 1988-03-11 1988-03-11 Test system for address bus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63058655A JPH01232454A (en) 1988-03-11 1988-03-11 Test system for address bus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01232454A true JPH01232454A (en) 1989-09-18

Family

ID=13090604

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63058655A Pending JPH01232454A (en) 1988-03-11 1988-03-11 Test system for address bus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01232454A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03233744A (en) * 1990-02-09 1991-10-17 Fujitsu Ltd Stand-by system route test system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03233744A (en) * 1990-02-09 1991-10-17 Fujitsu Ltd Stand-by system route test system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR860009351A (en) I / O control system
JPH1078889A (en) Microcomputer
JPH01232454A (en) Test system for address bus
JPH08171504A (en) Emulation device
JP2000132431A (en) Signal processor
JPH1040130A (en) Microcomputer
JP3350069B2 (en) Bus line monitoring method
JPS6339050A (en) Address bus test circuit
JPH0315948A (en) Address bus test system
JPS603049A (en) Bus interface apparatus
TW432277B (en) Pre-boot debugging device and method of computer system
JP2635637B2 (en) In-system memory test equipment
JPH0152774B2 (en)
JPH05108493A (en) Memory control system
JP3341738B2 (en) Memory error detection method
JP2558902B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0215353A (en) Abnormality setting system at specific address
JP3012402B2 (en) Information processing system
JPS5846421A (en) Data transferring device
JPH0721767B2 (en) Emulation method
JPH01162947A (en) Trace controller
JPH03144740A (en) Processor comparator and instruction feeder
JPS6037062A (en) Memory reading-out method
JPH04330549A (en) Controller
JPH01142948A (en) Symbolic debugger for microcomputer