JPH01229415A - 薄膜磁気ヘッドの検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は薄膜磁気ヘッドのウィグル不良ヘッドの検査方
法に係り、従来、測定が困難であったウィグルレベルの
特定を可能とする検査方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、ウィグルヘッドの検査方法として、特開昭５８−
１９４１２５号公報に代表されるように、ウニハレベル
で、ヘッドのインダクタンス測定によるものが主であっ
た。この方式は薄膜ヘッド特有の複雑な機械加工の工程
の手前で行うため、製品のコストを低下するのに最良の
方法であるが、実際のヘッド再生信号で発生するウィグ
ルとの関係が明確にされていない。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術では、薄膜磁気ヘッドのような、磁性体を
スパッタリング、蒸着などの薄膜作成技術により積層し
た極めて薄い磁性体を持つデバイスの性能評価は難しい
。これはバルク型の磁性体にくらべて、薄膜磁性体では
磁区構造そのものの動きが、外部磁界に対して、非線形
の動作を起こすことによる。

また、薄膜磁性体の磁区構造は、薄膜の製膜条件により
大きく変化し、プロセスとして管理が難しく、検査段階
での良否の判定を厳密にする必要がある。

このように薄膜磁性体の磁区構造に依存し、ヘッドの再
生信号の品質を低下させるものに「ウィグル」とよばれ
る異常波形現象がある。

第２図にウィグルが発生した磁気ヘッドの再生波形と、
ウィグル成分の抽出例を示す。

このウィグルがヘッドの再生波形に発生すると、ピーク
シフトとよばれる情報読み取りエラーが発生する。ピー
クシフトとは再生信号のピーク間の時間ずれのことで、
ウィグルの発生により、この時間間隔が変化する。

第３図にウィグルの大きさとピークシフトとの関係を測
定した例を示す。この図からピークシフトの大きさは、
発生したウィグルの大きさに、はぼ、比例することがわ
かる。

また、ウィグルは外部からの強制磁界によって、再生信
号の波形の斜面を移動することが観察されている。ウィ
グル成分が再生波形のピークに位置した時、ピークシフ
トは最大になることも観察された。

本発明の目的は、不良ヘッドに発生する、ウィグル成分
を特定し、薄膜磁気ヘッドの良、不良を選別する方法を
提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、不良ヘッドに発生するウィグル成分を特定
することにより可能ではあるが、従来すぐれた方法がな
かった。本考案では一定の振幅を持つ第一の高い周波数
の外部励磁信号による磁気ヘッド再生信号中のウィグル
成分が、第二の低い周波数の外部励磁信号により再生信
号の斜面をかけのぼって、再生波形のエンベロープを変
化させる様子を観察し、ウィグルレベルを特定すること
により、目的を達成する。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を説明する。第１図は検査系統
図である。装置は磁気ディスク４．モータ８．信号記録
袋＠６．信号再生装置７．リード・ライト切り換えスイ
ッチ５．外部励磁コイル２゜励磁信号′ｆＡ３から構成
される。以下、検査方法を詳細に説明する。

まず、最初に信号記録装置６により発生させた信号をデ
ィスク４に記録する。記録周波数は１〜２　Ｍ　Ｈｚと
する。これはディスク４上に孤立波形として信号を記録
するためである。次に、リード／ライト切り換えスイッ
チ５をリード側に倒し、再生動作を行う。ディスク４上
に記録された信号は磁気ヘッド１により電気信号に変換
され信号再生装置に送られる。信号再生装置７では送ら
れて来た微妙な電気信号を増幅し、オシロスコープ等の
波形表示装置で、視覚化する。以上の動作で、角周波数
の高い信号源を磁気ヘッドを通して読むことができる。

次に５周波数の低い信号源の発生方法について述べる。

低周波数信号源は外部励磁コイル２により前述の磁気ヘ
ッド１ ルを示す。第５図はディスクに記録された信号をヘッド
で読み取り、電気信号としたものであり、再生信号と言
われる。ヘッドに不良が発生し、波形歪が発生すると、
図中、黒い三角印で示したウィグルが発生する。更に、
この再生信号に外部磁界を印加すると、外部磁界の強さ
に応じて、ウィグルが斜面をかけ登る。この図では（ａ
）から順に外部磁界を大きくした時の様子を示している
。

（ｂ）、（ｃ）と順にウィグルが斜面をかけ登り、ある
磁界になると再生波形のピークとウィグルが一致する（
（ｃ））。この時、再生波形のピーク点は（ａ）、（ｂ
）にくらべて高くなり、盛り上り現象を生じる。ウィグ
ルの発生原因はヘッド磁性体の磁区構造に依存している
ことまでは知られているが詳細は、いまだ、不−明であ
る。

第６図（ａ）に実際にウィグルの発生した再生波形の盛
り上りを測定した例を示す。この図は第４図のモデルと
異なり、再生波形の下半分に下むきのピークを持つウィ
グルが発生した例を示している。この時、ウィグル成分
でディジタル波形処理技術を用いて抽出した例を第６図
（ｂ）に示す。

この例では、約７　、５　ｍ　Ｖ　のウィグル成分を抽
出することができたが、第６図（ｂ）の盛り上り分８　
ｍ　Ｖにほぼ等しいことがわかる。複数の例について同
様の実験を行ったが、ウィグル成分と、再生波形の盛り
上りはほぼ等しいことが確認された。

以上のように、ディスクからの再生信号に対して外部か
ら励磁磁界を加えると、ウィグルの大きさが再生波形の
盛り上りとして観察できることがわかる。このような手
段を用いれば、ウィグルを発生させる不良ヘッドの検査
が簡単に行なえる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、ウィグルの大きさを、ディスクの再生
波形から特定することができ、製品への事故品混入を未
然に防ぐことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の検査系統図、第２図は磁
気ヘッド再生信号とウィグル成分の抽出例図、第３図は
ウィグルの大きさとピークシフトの関係を示す図、第４
図はウィグルが外部励磁信号により移動する様子を示す
図、第５図はエンベロープの変化を示す図、第６図は実
際の測定例図である。 １・薄膜磁気ヘット、２・・・外部励磁コイル、３・・
外部励磁信号源、４・・・磁気ディスク媒体、５・・・
記８／再成切り換えスイッチ、６・・・記録回路、７・
・・再生回路（装置）、８・・・モータ。 第　１　図 図面の浄↓Ｃ；’；ご：こ変更なし） 第２図 峙間（戸ン 第３図 第４図 第５図 （Ｑ） （ｋ） （Ｃλ 手続補正書（方式） 昭和′６３年　６月　２Ｆ４

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、薄膜磁気ヘッドの検査方法において、高周波数信号
   源によつて磁気的に誘導され、前記薄膜磁気ヘッドのコ
   イルに発生する信号と、低周波数信号源によつて磁気的
   に誘導され、前記薄膜磁気ヘッドの前記コイルに発生す
   る信号とが、相互に干渉をおこし、干渉信号のエンベロ
   ープの変調度から前記薄膜磁気ヘッドの良否を検査する
   ことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの検査方法。 ２、特許請求の範囲第１項において、 前記高周波数信号源として、磁気ディスクの記録信号、
   前記低周波数信号源として、前記薄膜磁気ヘッドの近く
   に設置した、ソレノイドコイルから発生する磁界を利用
   することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの検査方法。 ３、特許請求の範囲第１項において、 前記周波数信号源として、磁気ディスクの記録信号、前
   記低周波数信号源として、前記薄膜磁気ヘッドの前記コ
   イルに電圧を印加することを特徴とする、薄膜磁気ヘッ
   ドの検査方法。