JPH01228072A - System for recognizing external shape of linear pattern - Google Patents

System for recognizing external shape of linear pattern

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Publication number
JPH01228072A
JPH01228072A JP5455188A JP5455188A JPH01228072A JP H01228072 A JPH01228072 A JP H01228072A JP 5455188 A JP5455188 A JP 5455188A JP 5455188 A JP5455188 A JP 5455188A JP H01228072 A JPH01228072 A JP H01228072A
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JP
Japan
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average
line
pellet
groups
linear pattern
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Pending
Application number
JP5455188A
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Japanese (ja)
Inventor
Sadatomo Nishimura
定智 西村
Masuzo Ikumi
生見 益三
Zenya Yoshizaki
吉崎 禅哉
Takashi Nirei
楡井 享司
Keizo Tsuchiya
土屋 慶三
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP5455188A priority Critical patent/JPH01228072A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a correct external shape by returning the uneven external shape to the linear information of a mean point, dividing data into two, obtaining respective gravity centers, and approximating the external shape line based on a straight line to pass through the gravity center. CONSTITUTION:A photographed original picture (a) is binarized, a picture (b) is obtained, the boundary point of the binarization is averaged at every 8 scanning lines, the coordinates of the mean point is calculated, and made into a mean point picture (c). The whole picture is divided into two, for a left half, an area h1 which is obtained by eliminating the area, whose Y-coordinate is (a) from maximum and minimum values, is made into a processing area, it is vertically divided into two by the gravity center of the whole picture, and by linking the gravity centers of an upper half and a lower half, the mean line can be obtained. Further, only the mean points existing the outside of the line is objected, the mean line is repeatedly obtained in the same way, and the last mean line is made into the external shape line. For the right half, the same processing is executed.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、直線状パターンの外形認識方式に関し、詳
しくは、半導体ペレット等の矩形状の外形を持つ微小半
導体部品をリードとかステム、サブペレットとか基板等
にボンディングする場合に正確に半導体ペレット等の部
品の外形又はそのパターン部分の外形を認識することが
できるような認識方式の改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a method for recognizing the outline of a linear pattern, and more specifically, it is used to recognize a micro semiconductor component having a rectangular outline such as a semiconductor pellet as a lead, stem, or sub-pellet. The present invention relates to an improvement in a recognition method that can accurately recognize the outer shape of a component such as a semiconductor pellet or the outer shape of a pattern thereof when bonding to a substrate or the like.

[従来の技術] 従来、半導体ペレット等の矩形状の外形を持つ微小半導
体部品は、リードとかステム、サブペレットとか基板等
にボンディングされて、製品とされるが、発光ダイオー
ドとか、レーザダイオード等にあっては、リードとかス
テム、サブペレットとか基板等に取付られる位置によっ
て、その発光方向に多少の位置ずれが生じる。
[Prior Art] Conventionally, micro semiconductor components with rectangular external shapes, such as semiconductor pellets, are bonded to leads, stems, sub-pellets, substrates, etc., and made into products. In some cases, the light emitting direction may be slightly misaligned depending on the position where the lead, stem, sub-pellet, substrate, etc. are attached.

[解決しようとする課題] 特に、レーザダイオードでは、この位置ずれが問題とな
るが、発光部分を持つペレットは、微小なものであり、
その外形に細かな凹凸があって、なめらかな直線状とな
っていない。しかも、その外形にばらつきがある。その
ためサブペレット等を基板に接合する場合にペレットと
サブペレットとの間に位置ずれが生じて、サブペレット
等の基板部分に半田付は接合しても製品における発光点
が求める中心位置とはならず、その許容範囲を越えるこ
とがあって、その歩留りが低下する欠点がある。
[Problem to be solved] This positional misalignment is especially a problem with laser diodes, but the pellets with the light-emitting part are minute,
Its outer shape has small irregularities and is not a smooth straight line. Moreover, there are variations in their external shapes. Therefore, when sub-pellets, etc. are bonded to a substrate, a positional shift occurs between the pellets and the sub-pellets, and even if the sub-pellets, etc. are soldered to the substrate, the light emitting point of the product may not be at the desired center position. First, there is a drawback that the permissible range may be exceeded, resulting in a decrease in yield.

この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、外形のばらつきがあっても、また、外形に
細かな凹凸があっても正確に外形を認識できる直線状パ
ターンの外形認識方式を提供することを目的とする。
This invention solves the problems of the prior art, and provides a linear pattern outline that allows accurate recognition of the outline even if there are variations in the outline or small irregularities in the outline. The purpose is to provide a recognition method.

[課6題を解決するための手段] このような目的を達成するためのこの発明の直線状パタ
ーンの外形認識方式における手段は、直線状パターンの
外形を認識する外形認識方式において、直線状パターン
の外形を撮像して得た二値化原画データの各点について
隣接する複数の点のグループにグループ分けし、各グル
ープの平均点を求め、直線状パターンの1つの線に沿っ
た平均点複数を選択してこれらをその1つの線に従って
2分割して2つのグループに分け、それぞれのグループ
の平均点の重心を通る第1回目の平均線を求め、前記2
つのグループのそれぞれの平均点複数のうちの平均線よ
り直線状パターンの外側方向となる位置にある残りの複
数の平均点について2つのグループのそれぞれにおける
重心を通る第2回目の平均線を求め、この2回目又は同
様な処理をして得た第3回目以降の平均線を直線状パタ
ーンの1つの線に対応させるものである。
[Means for Solving Problem 6] Means for the linear pattern outer shape recognition method of the present invention to achieve such an object is that in the outer shape recognition method for recognizing the outer shape of a linear pattern, the linear pattern Each point of the binarized original image data obtained by imaging the outline of , divide them into two groups according to that one line, find the first average line that passes through the center of gravity of the average points of each group, and calculate the
A second average line passing through the center of gravity of each of the two groups is determined for the remaining plurality of average points located in a direction outward of the linear pattern from the average line of the plurality of average points of each of the two groups, This second or third and subsequent average lines obtained through similar processing are made to correspond to one line of the linear pattern.

[作用] このように、撮像して得た原画データを二値化してグル
ープ分けし、各グループごとに平均化することで、凹凸
の外形が平均点の線情報に還元できる。そこで、これら
データを2分割して、それぞれの重心を求めることで、
重心を通る2点の直線で外形線が近似でき、かつこの近
似された外形線に対応する直線データを外側へと移動さ
せることで、より外形に近い線情報を得ることができる
[Operation] In this way, by binarizing the original image data obtained by imaging, dividing the data into groups, and averaging each group, the outline of the unevenness can be reduced to line information of the average point. Therefore, by dividing these data into two and finding the center of gravity of each,
The outline can be approximated by two straight lines passing through the center of gravity, and by moving the straight line data corresponding to the approximated outline outward, line information closer to the outline can be obtained.

その結果、より正確な外形データが得られ、この外形か
ら中心線等を求めれば、部品の位置決めを正確に行うこ
とができる。また、位置決め処理ばかりでなく、正確な
外形を得る必要がある場合に簡単な処理で外形が得られ
る。
As a result, more accurate outer shape data can be obtained, and by determining the center line and the like from this outer shape, the parts can be positioned accurately. In addition to positioning processing, when it is necessary to obtain an accurate external shape, the external shape can be obtained by simple processing.

[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、この発明の直線状パターンの外形認識方式を
レーザダイオードペレットをサブレットにボンディング
する場合に適用した一実施例の処理のフローチャートで
あり、第2図(a)〜(h)は、その処理を説明するた
めにCRTデイスプレィ上の表示画面で示した画面デー
タの説明図、第3図は、レーザダイオードペレットボン
ディング装置の要部外観図、第4図は、サブペレット及
びレーザダイオードペレットの平面図と側面図、そして
その接合状態を示す説明図である。
FIG. 1 is a flowchart of a process of an embodiment in which the linear pattern outer shape recognition method of the present invention is applied to bonding a laser diode pellet to a sublet, and FIGS. 2(a) to (h) are: An explanatory diagram of the screen data shown on the display screen on the CRT display to explain the process, Figure 3 is an external view of the main parts of the laser diode pellet bonding equipment, and Figure 4 is the sub-pellet and laser diode pellet. FIG. 3 is a plan view, a side view, and an explanatory diagram showing a state in which they are joined.

第3図において、20は、レーザダイオードペレットボ
ンディング装置であって、1は、そのレーザダイオード
ペレットのボンディングステーションである。ボンディ
ングステーション1は、加熱台2と、位置決め爪機構3
とを備えていて、加熱台2の上部にはサブペレット撮像
カメラ4が設けられ、加熱台2に隣接する下側には、レ
ーザダイオードペレット撮像カメラ5が設けられている
In FIG. 3, 20 is a laser diode pellet bonding apparatus, and 1 is a bonding station for the laser diode pellet. The bonding station 1 includes a heating table 2 and a positioning claw mechanism 3.
A sub-pellet imaging camera 4 is provided on the upper part of the heating table 2, and a laser diode pellet imaging camera 5 is provided on the lower side adjacent to the heating table 2.

これらサブペレット撮像カメラ4とレーザダイオードペ
レット撮像カメラ5との映像信号は画像処理装置6に入
力されて、所定の外形認識処理が行われ、その映像が画
像表示部としてのCRTデイスプレィ6aに表示される
The video signals from the sub-pellet imaging camera 4 and the laser diode pellet imaging camera 5 are input to an image processing device 6, where a predetermined external shape recognition process is performed, and the video is displayed on a CRT display 6a serving as an image display section. Ru.

加熱台2は、その内部にカートリッジヒータが埋設され
ていて、温度調節器によりボンディング時の温度がコン
トロールされる。この加熱台2にはペレットハンドリン
グ機構7により搬送されたサブペレット21(第4図(
a)参照)が位置決めされて保持される。ペレットハン
ドリング機構7は、加熱台2に隣接して設けられたX方
向のXテーブル8上を移動し、そのアーム7aがZ方向
に移動可能となっている。そして、このアーム7aの先
端側には、サブペレット21を吸着するための吸着チャ
ック7bが取付られている。なお、サブペレット21は
、Yテーブル9に載置されたパレット9aの各区画され
て枠の中にセットされている。
The heating table 2 has a cartridge heater embedded therein, and the temperature during bonding is controlled by a temperature regulator. On this heating table 2 are sub-pellets 21 (see Fig. 4) conveyed by the pellet handling mechanism 7.
a)) is positioned and held. The pellet handling mechanism 7 moves on an X table 8 in the X direction provided adjacent to the heating table 2, and its arm 7a is movable in the Z direction. A suction chuck 7b for suctioning the sub-pellet 21 is attached to the tip side of the arm 7a. In addition, the sub-pellets 21 are set in each partitioned frame of the pallet 9a placed on the Y table 9.

ペレットハンドリング機構7により移送されたサブペレ
ット21は、加熱台2上に載置され、その位置決めは、
位置決め爪機構3によってコーナガイド2aにサブペレ
ット21が突き当てられることで行われる。その結果、
はぼ加熱台2の所定の位置にサブペレット21の中心が
位置決めされる。
The sub-pellet 21 transferred by the pellet handling mechanism 7 is placed on the heating table 2, and its positioning is as follows.
This is done by abutting the sub-pellet 21 against the corner guide 2a by the positioning claw mechanism 3. the result,
The center of the sub-pellet 21 is positioned at a predetermined position on the heating table 2.

ここで、位置決め爪機構3は、直角をした谷溝を持・つ
爪3aとこの爪3aを進退させるモータ等を有する進退
機構(図示せず)とから構成されている。そして、この
位置決め爪機構3と加熱台2とは、ともに微小移動する
X−Yテーブル10上に載せられていて、X/Y方向に
その位置が微調整可能となっている。
Here, the positioning pawl mechanism 3 is composed of a pawl 3a having a right-angled valley groove and an advancing/retracting mechanism (not shown) having a motor etc. for moving the pawl 3a forward and backward. Both the positioning claw mechanism 3 and the heating table 2 are placed on an X-Y table 10 that moves slightly, and their positions can be finely adjusted in the X/Y directions.

第4図の(a)の平面図及び側面図(右側)に示すよう
にサブペレット21は、矩形をしたシリコン基板であっ
て、その大きさがほぼ700〜1000μm角程度のも
のである。そして、レーザダイオードペレット22(同
図(b)参照)が接合される接合面21aがその一辺に
接して島状に形成されている。接合面21aは、約30
0μm角程度のものであって、これは半田パターンとな
っている。
As shown in the plan view and side view (right side) of FIG. 4(a), the sub-pellet 21 is a rectangular silicon substrate, and its size is about 700 to 1000 μm square. A bonding surface 21a to which a laser diode pellet 22 (see FIG. 2B) is bonded is formed in an island shape in contact with one side of the bonding surface 21a. The joint surface 21a is approximately 30
It is approximately 0 μm square and serves as a solder pattern.

この半田パターンの接合面21aに載置されるのが同図
(b)に示すレーザダイオードペレット22であって、
その平面図及び側面図(右側)に示すように、その中央
部分が少し突出した台状となっていて、そこに矩形状に
金パターン22aの接合面が形成されている。この金パ
ターン22aが前記の接合面21aに接して載置され、
半田パターンが加熱溶解されてレーザダイオードペレッ
ト22がサブペレット21に接合固定される。
Placed on the bonding surface 21a of this solder pattern is a laser diode pellet 22 shown in FIG.
As shown in the plan view and side view (right side), the central portion thereof has a slightly protruding platform shape, and a rectangular bonding surface of the gold pattern 22a is formed there. This gold pattern 22a is placed in contact with the bonding surface 21a,
The solder pattern is heated and melted, and the laser diode pellet 22 is bonded and fixed to the sub-pellet 21.

なお、レーザダイオードペレット22は、ローダテーブ
ル11上のパレットllaに金パターン22aを下側に
した裏返し状態で区分けされて収納されている。そして
、レーザダイオードペレット22は、Y−Z−θテーブ
ルを持つペレットハンドリング機構12によりハンドリ
ングされて加熱台2上にあるサブペレット21の接合面
21aヒに載置される。なお、ペレットハンドリング機
構12は、Xテーブル8上を移動し、12aは、このペ
レットハンドリング機構12のアームであり、12bは
、その先端側に設けられたペレットを吸着するための吸
着チャックであって、これがθテーブルに支持されて回
転できるようになっている。
Note that the laser diode pellets 22 are stored in compartments on a pallet lla on the loader table 11 with the gold pattern 22a facing down. The laser diode pellet 22 is then handled by a pellet handling mechanism 12 having a YZ-θ table and placed on the joint surface 21a of the sub-pellet 21 on the heating table 2. The pellet handling mechanism 12 moves on the X-table 8, 12a is an arm of this pellet handling mechanism 12, and 12b is a suction chuck provided at the tip side for sucking pellets. , which is supported by a θ table so that it can rotate.

ここで、ペレットハンドリング機構12によりチャック
されたレーザダイオードペレット22は、X方向に直線
移動して、その搬送途中で、−旦、レーザダイオードペ
レット撮像カメラ5の上部で停止して、その裏側が下側
にあるレーザダイオードペレット撮像カメラ5により撮
影されてその画像データが画像処理装置6に送られる。
Here, the laser diode pellet 22 chucked by the pellet handling mechanism 12 moves linearly in the An image is taken by a laser diode pellet imaging camera 5 on the side, and the image data is sent to an image processing device 6.

画像処理装置6では、この画像データによりレーザダイ
オ−ドペレット22の金パターン22aの外形を認識し
てその中心線を検出する。そして、サブペレット21の
接合面21aの中心線上にレーザダイオードペレット2
2の中心線がサブペレット21の中心線に乗るように(
−第4図の(a)、(b)の中心線0,0′参照)載置
される。
The image processing device 6 uses this image data to recognize the outer shape of the gold pattern 22a of the laser diode pellet 22 and detect its center line. Then, the laser diode pellet 2 is placed on the center line of the joint surface 21a of the sub-pellet 21.
so that the center line of 2 is on the center line of sub-pellet 21 (
(See center lines 0 and 0' in FIGS. 4(a) and 4(b)).

すなわち、第4図の(C)に示されるように、レーザダ
イオードペレット22の金パターン22aの中心線0′
がサブペレット21の接合面22aの中心線0上に乗る
ように接合面22aに載置されて接合されることで、サ
ブペレット21がリード又はステム等に載置されてモー
ルドされて製品となったときに、その発光光線の位置を
あらかじめ設定された位置となし、発光光線の位置のば
らつきを少なくして、その製品における歩留まりを向上
させることができる。
That is, as shown in FIG. 4(C), the center line 0' of the gold pattern 22a of the laser diode pellet 22
The sub-pellet 21 is placed on the joint surface 22a and joined so that it lies on the center line 0 of the joint surface 22a of the sub-pellet 21, and the sub-pellet 21 is placed on a lead or stem and molded to become a product. In this case, the position of the emitted light beam can be set to a predetermined position to reduce variations in the position of the emitted light beam, thereby improving the yield of the product.

レーザダイオードペレット22とサブペレット21との
位置関係の精度は高いものが要求されていて、例えば、
その精度は、サブペレット21のY方向の位置(第4図
の(C)参照)に対して±25μm程度まで、かつ取付
回転角θとして±10程度までとなっている。
High accuracy is required in the positional relationship between the laser diode pellet 22 and the sub-pellet 21, for example,
The accuracy is up to about ±25 μm with respect to the position of the sub-pellet 21 in the Y direction (see (C) in FIG. 4), and up to about ±10 as the mounting rotation angle θ.

このように精度の高い位置決めを行うために、加熱台2
の上部に配置されたサブペレット撮像カメラ4及びレー
ザダイオードペレット撮像カメラ5によりサブペレット
21とレーザダイオードペレット22とのそれぞれの画
像を採取して画像処理装置θによりそれぞれの位置決め
制御を行う。
In order to perform highly accurate positioning in this way, the heating table 2
Images of the sub-pellet 21 and the laser diode pellet 22 are taken by the sub-pellet imaging camera 4 and the laser diode pellet imaging camera 5 arranged above the sub-pellet 21 and the laser diode pellet 22, and their positioning is controlled by the image processing device θ.

この場合、特にサブペレット21は、レーザダイオード
ペレット22に比べて比較的大きなサイズであって、こ
れが突き当て位置決めされているので、通常の画像処理
でその中心線0の位置を正確に把握することができるが
、レーザダイオードペレット21は、小さい上に外形に
ばらつきがあるため、通常のハンドリング操作では、サ
ブペレット21に対して正確な位置決めを行うことが困
難である。そのため、その正確な外形を把握して中心線
0′を求めることが必要になる。
In this case, the sub-pellet 21 in particular is relatively large in size compared to the laser diode pellet 22, and since it is positioned in abutment, it is difficult to accurately determine the position of its center line 0 through normal image processing. However, since the laser diode pellet 21 is small and has variations in external shape, it is difficult to accurately position the sub-pellet 21 by normal handling operations. Therefore, it is necessary to determine the center line 0' by grasping the accurate outer shape.

そこで、サブペレット21の金パターン21aの外形に
ついてそのパターン認識をする処理が第1図の手順で画
像処理袋rIt6において行われる。
Therefore, a pattern recognition process for the outer shape of the gold pattern 21a of the sub-pellet 21 is performed in the image processing bag rIt6 according to the procedure shown in FIG.

なお、画像処理装置6においては、そのCRTデイスプ
レィ6aにおける画面の表示に対応する画素(512X
512)の画面メモリを有していて、そこに記憶された
画素データについて以下の処理が行われるが、説明を簡
単にするためにここでは、この画素データを画面表示上
のデータに換えて説明する。
In addition, in the image processing device 6, pixels (512X
512), and the following processing is performed on the pixel data stored there, but to simplify the explanation, this pixel data will be replaced with data on the screen display. do.

CRTデイスプレィea上の画像を示す第2図の(a)
に見るように、まず、第1図のステップ■で、レーザダ
イオードペレット22の原画データが採取され、ステッ
プ■で適当なスレッシュホールドをかけ、これらを二値
化して金パターン22a部分の画像パターンデータにす
る(第2図(b)参照)。
Figure 2 (a) showing the image on the CRT display ea.
As shown in FIG. 1, first, in step (2) in FIG. 1, the original image data of the laser diode pellet 22 is collected, and in step (2), an appropriate threshold is applied and these are binarized to obtain image pattern data of the gold pattern 22a. (see Figure 2(b)).

次に、ステップ■にて、画面上の右上端を原点としたX
Y座標データ(その画素の位置をxY座標に対応させる
)として画像における水平走査に関して8本対応ごとに
グループ化してこれらグループにおける各点の座標位置
からこれらの平均点(重心点)の座標位置を算出してそ
れを平均点画像データとする。このときのCRTデイス
プレィ6a上での表示状態を示すのが第2図の(C)で
ある。
Next, in step ■,
As Y coordinate data (corresponding to the x and Y coordinates of the pixel position), the horizontal scanning of the image is grouped into groups of 8 lines, and the coordinate position of the average point (center of gravity) is calculated from the coordinate position of each point in these groups. Calculate and use it as average point image data. FIG. 2C shows the display state on the CRT display 6a at this time.

次に、ステップ■にて、前記平均点画像データに対して
X座標方向において画面の中央から2分割して、画面左
半分に相当する平均点のグループと右半分に相当する平
均点グループとの第1及び第2の平均点グループに分け
る(第2図の(d)参照)。
Next, in step (2), the average point image data is divided into two from the center of the screen in the X coordinate direction, and an average point group corresponding to the left half of the screen and an average point group corresponding to the right half are divided. Divide into first and second average score groups (see (d) in Figure 2).

次のステップ■では、レーザダイオードペレットの金パ
ターン22aの左側からまずその外形線を求める。すな
わち、ここで、各平均点について、そのY座標の最小点
及び最大点の座標位置を求める(第2図(d)のうちの
平均点F及び平均点G参照)。
In the next step (2), the outline of the gold pattern 22a of the laser diode pellet is first determined from the left side. That is, for each average point, the coordinate positions of the minimum and maximum Y coordinates are determined (see average point F and average point G in FIG. 2(d)).

次のステップ■では、Y方向の距離(画素数)aを入力
して、Y方向において前記の最大点GからY方向に距離
aだけ上にある平均点と、最小点FからY方向に距離a
だけ下にある平均点との範囲(両側を含む)にある平均
点のグループh、を選択する。ここで、距離aは、Y方
向の線に対応する平均点のグループを選択するためであ
って、これにより不必要な平均点のデータを排除してい
る。すなわち、ここでは、X方向の線に対応するデータ
は不要なものであるためこれを排除している。したがっ
て、距離aは、最大点G又は最小点Fから見て最初のY
方向の角の点に到るまでの距離のうち大きい方の距離と
等しいかそれ以上の値であればよい。
In the next step ■, input the distance (number of pixels) a in the Y direction, and calculate the average point that is a distance a above the maximum point G in the Y direction and the distance in the Y direction from the minimum point F. a
Select a group h, whose average scores are within a range (inclusive) with the average score below. Here, the distance a is used to select a group of average points corresponding to the line in the Y direction, thereby eliminating unnecessary average point data. That is, here, the data corresponding to the line in the X direction is unnecessary and is therefore excluded. Therefore, the distance a is the first Y when viewed from the maximum point G or minimum point F.
The value may be equal to or greater than the larger distance to the corner point of the direction.

次のステップ■では、Y方向において、前記平均点グル
ープh/をほぼ中央から2分割して2つのグループにす
る。そして、次のステップ■において、これら2つの平
均点のグループの重心をそれぞれ求め、前記2つの重心
を結ぶ平均線Aを得る(第2図の(e)の線A参照)。
In the next step (2), the average point group h/ is divided into two groups approximately from the center in the Y direction. Then, in the next step (2), the centroids of these two groups of average points are determined, and an average line A connecting the two centroids is obtained (see line A in (e) of FIG. 2).

次のステップ■では、金パターン22aの画像パターン
において前記平均線Aより外側にある残りの平均点を各
グループについて取り上げて、ステップ[相]にて、前
記と同様に2つの平均点のグループの重心をそれぞれ求
め、これら2つの重心を結ぶ平均線を得る(第2図の(
e)の線B参照)。
In the next step (2), the remaining average points outside the average line A in the image pattern of the gold pattern 22a are taken up for each group, and in step [phase], the remaining average points of the two groups of average points are taken up in the same way as above. Find each center of gravity and obtain an average line connecting these two centers of gravity (see Figure 2).
(See line B in e).

このようにして平均線を2回以上求め(3回以上のとき
には、ステップ■〜ステップ[相]を繰り返す)、ステ
ップ■にて最後に得た平均線をY方向左側の外形線とし
てメモリに記憶する。
In this way, the average line is obtained two or more times (if it is three times or more, repeat steps ■ to step [phase]), and the average line finally obtained in step ■ is stored in the memory as the left contour line in the Y direction. do.

次のステップ[相]では、ステップ■で2グループ化し
たうち残されたグループがあるか否かを判定する。最初
は、YES条件が成立するので、ステップ■へと戻り、
残された右側のグループについてステップ■〜ステップ
[相]までの処理をする。この場合の処理に対応するも
のが第2図(f)に示すものであって、その平均点のグ
ループの範囲がh2であり、平均線Cが第1回目の線、
平均線りが第2回目の線である。
In the next step [phase], it is determined whether there is any remaining group among the two groups formed in step (2). At first, the YES condition is met, so return to step ■,
The remaining group on the right side is processed from step ■ to step [phase]. The process corresponding to this case is shown in FIG. 2(f), where the range of the group of average points is h2, and the average line C is the first line,
The average line is the second line.

このようにして、Y方向における左右の外形線が求めら
れ、それがメモリに記憶されると、2つのグループにつ
いて残りがないので、前記ステップ[相]において、N
o条件が成立して、次のステップ[相]へと移行し、ス
テップ[相]で、X方向とY方向について外形線の求め
が終了したか否かが判定される。最初はY方向の外形線
が求められ、X方向はまだ求められていないので、ここ
でNo条件となり、次のステップ■にて、X方向の座標
とY方向の座標とが入れ替えられて、ステップ■へと戻
る。その結果、以後は、X方向についての外形線がステ
ップ■〜[相]の処理で求められる。第2図(g)のh
a*11ttは、このX方向におけるそれぞれの平均点
グループを示していて、距離すは、Y方向の距離aに対
応するものであり、平均点K。
In this way, when the left and right contour lines in the Y direction are obtained and stored in the memory, there are no remaining two groups, so in the step [phase], N
When the o condition is satisfied, the process moves to the next step [phase], and in step [phase], it is determined whether or not the determination of the outline in the X direction and the Y direction has been completed. At first, the outline in the Y direction is determined, and the X direction has not been determined yet, so the No condition is set here, and in the next step ■, the coordinates in the X direction and the coordinates in the Y direction are swapped, and the Return to ■. As a result, from now on, the outline in the X direction is obtained by the processing of steps ① to [phase]. h in Figure 2 (g)
a*11tt indicates each average point group in the X direction, and the distance S corresponds to the distance a in the Y direction, which is the average point K.

L及びM、Nは、その最大点及びその最小点である。L, M, and N are its maximum point and its minimum point.

このようにして、Y方向及びX方向の外形線が求められ
ると、先のステップ@にてYES条件が成立して次の中
心線を算出する処理へと移る。
When the contour lines in the Y direction and the X direction are determined in this way, the YES condition is satisfied in the previous step @, and the process moves to the next process of calculating the center line.

このようにして得た4つの外形線から第2図(h)に示
すように、金パターン22の各交点15゜16.17.
18を求めて、この外形の関係がサブペレット21に載
置して位置合わせできる許容範囲でないときには、ペレ
ットハンドリング機構12が元へと戻り、レーザダイオ
ードペレット22を再チャックして再認識する処理を行
うことになる。なお、第2図(h)に示すように、外形
線に許容範囲を越えたθ11θ2の傾きがあるときには
、ハンドリング機構12のθテーブルを回転させ、吸着
チャック12bを回転させてその傾きを補正する。
From the four outlines thus obtained, each intersection of the gold pattern 22 is 15°, 16.17°, as shown in FIG. 2(h).
18, and if this external shape relationship is not within the allowable range for placement and positioning on the sub-pellet 21, the pellet handling mechanism 12 returns to its original position, chucks the laser diode pellet 22 again, and performs the process of re-recognizing it. I will do it. Note that, as shown in FIG. 2(h), when the outline has an inclination of θ11θ2 that exceeds the allowable range, the θ table of the handling mechanism 12 is rotated, and the suction chuck 12b is rotated to correct the inclination. .

こうして位置合わせできる許容範囲に入っていると、サ
ブペレット撮像カメラ4とレーザダイオードペレット撮
像カメラ5の絶対座標軸を基準としてサブペレット22
の接合面22aの外形情報と前記の金パターン22aの
各交点15.1B、17.18の座標位置とからサブペ
レット22の接合面22aの中心線と金パターン22a
の中心線と・のずれ量及び発光面側の辺P(第3図の(
C)参照)とのずれ僅(又は一方の他方に対するX。
When the alignment is within the allowable range, the sub-pellet 22
The center line of the joint surface 22a of the sub-pellet 22 and the gold pattern 22a are determined from the external shape information of the joint surface 22a of the sub-pellet 22 and the coordinate positions of the respective intersection points 15.1B and 17.18 of the gold pattern 22a.
The amount of deviation between the center line and the side P on the light emitting surface side ((
C)

Y方向のずれ座標量及びその回転座標θ)を算出して、
ペレットハンドリング機構12によりサブペレット21
の接合面2ia上にレーザダイオードペレット22の金
パターン22aを位置合わせしてレーザダイオードペレ
ット22を載置する。
Calculate the displacement coordinate amount in the Y direction and its rotational coordinate θ),
The sub-pellet 21 is made by the pellet handling mechanism 12.
The laser diode pellet 22 is placed on the bonding surface 2ia of the laser diode pellet 22 with the gold pattern 22a of the laser diode pellet 22 aligned.

載置されたレーザダイオードペレット22は、加熱台2
が加熱されることでサブペレット22に接合される。な
お、このとき、位置ずれを防止するために、レーザダイ
オードペレット22は吸着チャック12bによりチャッ
クされて固定された状態で行われてもよい。
The placed laser diode pellet 22 is placed on the heating table 2
is joined to the sub-pellet 22 by being heated. At this time, in order to prevent positional deviation, the laser diode pellet 22 may be chucked and fixed by the suction chuck 12b.

以上説明してきたが、実施例では、8点を1つのグルー
プとして平均点を求めているが、これは、隣接する複数
の点について平均点が求められればよく、その数は8個
に限定されない。また、隣接する複数の点は、その一部
が重なっていても或いは飛ばされて採用されていてもよ
いことはもちろんである。
As explained above, in the example, the average score is calculated for 8 points as one group, but it is sufficient to calculate the average score for a plurality of adjacent points, and the number is not limited to 8. . Furthermore, it goes without saying that a plurality of adjacent points may partially overlap or may be skipped.

また、実施例では、レーザダイオードペレットをサブペ
レットに接合する例を挙げているが、この発明は、この
ような場合に限定されるものではなく、直線」二の外形
を持つ電子部品のパターン認識等、各種の外形パターン
の認識に適用できるものである。
Further, in the embodiment, an example is given in which a laser diode pellet is bonded to a sub-pellet, but the present invention is not limited to such a case, and is applicable to pattern recognition of an electronic component having a straight line shape. This method can be applied to the recognition of various external patterns such as the following.

さらに、認識されたパターンについては、位置決めに利
用される場合に限るものではない。
Furthermore, the recognized pattern is not limited to being used for positioning.

[発明の効果コ 以上の説明から理解できるように、この発明にあっては
、撮像して得た原画データを二値化してグループ分けし
、各グループごとに平均化することで、凹凸の外形が平
均点の線情報に還元できる。
[Effects of the Invention] As can be understood from the above explanation, in this invention, the original image data obtained by imaging is binarized, divided into groups, and averaged for each group. can be reduced to the line information of the average score.

そこで、これらデータを2分割して、それぞれの重心を
求めることで、重心を通る2点の直線で外形線が近似で
き、かつこの近似された外形線に対応する直線データを
外側へと移動させることで、より外形に近い線情報を得
ることができる。
Therefore, by dividing these data into two and finding the center of gravity of each, the outline can be approximated by two straight lines passing through the center of gravity, and the straight line data corresponding to this approximated outline can be moved outward. By doing this, it is possible to obtain line information that is closer to the outer shape.

その結果、より正確な外形データが得られ、この外形か
ら中心線等を求めれば、部品の位置決めを正確に行うこ
とができる。また、位置決め処理ばかりでなく、正確な
外形を得る必要がある場合に簡単な処理で外形が得られ
る。
As a result, more accurate outer shape data can be obtained, and by determining the center line and the like from this outer shape, the parts can be positioned accurately. In addition to positioning processing, when it is necessary to obtain an accurate external shape, the external shape can be obtained by simple processing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の直線杖パターンの外形認識方式を
レーザダイオードペレットをサブレットにボンディング
する場合に適用した一実施例の処理のフローチャートで
あり、第2図(a)〜(h)は、その処理を説明するた
めにCRTデイスプレィ上の表示画面で示した画面デー
タの説明図、第3図は、レーザダイオードペレットボン
ディング装置の要部外観図、第4図は、サブペレット及
びレーザダイオードペレットの平面図と側面図、そして
その接合状態を示す説明図である。 1・・・ボンディングステーション、 2・・・加熱台、3・・・位置決め爪機構、4・・・サ
ブペレット撮像カメラ、 5・・・レーザダイオードペレット撮像カメラ、6・・
・画像処理装置t、7.12・・・ペレットハンドリン
グ機構、20・・・ボンディングステーション、21・
・・サブペレット、21a・・・接合面、22・・・レ
ーザダイオードペレット、22a・・・金パターン。 特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
   弁理士 梶 山 拮 是
FIG. 1 is a flowchart of a process of an embodiment in which the linear cane pattern external shape recognition method of the present invention is applied to bonding a laser diode pellet to a sublet, and FIGS. 2(a) to (h) are: An explanatory diagram of the screen data shown on the display screen on the CRT display to explain the process, Figure 3 is an external view of the main parts of the laser diode pellet bonding equipment, and Figure 4 is the sub-pellet and laser diode pellet. FIG. 3 is a plan view, a side view, and an explanatory diagram showing a state in which they are joined. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Bonding station, 2... Heating table, 3... Positioning claw mechanism, 4... Sub-pellet imaging camera, 5... Laser diode pellet imaging camera, 6...
- Image processing device t, 7.12... Pellet handling mechanism, 20... Bonding station, 21.
... Sub-pellet, 21a... Bonding surface, 22... Laser diode pellet, 22a... Gold pattern. Patent applicant Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Agent Patent attorney Kore Kajiyama

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)直線状パターンの外形を認識する外形認識方式に
おいて、前記直線状パターンの外形を撮像して得た二値
化原画データの各点について隣接する複数の点のグルー
プにグループ分けし、各グループの平均点を求め、前記
直線状パターンの1つの線に沿った前記平均点複数を選
択してこれらをその1つの線に従って2分割して2つの
グループに分け、それぞれのグループの平均点の重心を
通る第1回目の平均線を求め、前記2つのグループのそ
れぞれの平均点複数のうちの前記平均線より前記直線状
パターンの外側方向となる位置にある残りの複数の平均
点について前記2つのグループのそれぞれにおける重心
を通る第2回目の平均線を求め、この2回目又は同様な
処理をして得た第3回目以降の平均線を前記直線状パタ
ーンの前記1つの線に対応させることを特徴とする直線
状パターンの外形認識方式。
(1) In an outline recognition method that recognizes the outline of a linear pattern, each point of the binarized original image data obtained by imaging the outline of the linear pattern is divided into groups of a plurality of adjacent points, and each Find the average score of the group, select the plurality of average points along one line of the linear pattern, divide them into two along that one line, divide them into two groups, and calculate the average score of each group. The first average line passing through the center of gravity is determined, and the remaining average points of the plurality of average points of each of the two groups, which are located in the outer direction of the linear pattern from the average line, are calculated as follows. determining a second average line that passes through the center of gravity in each of the two groups, and making this second or third and subsequent average lines obtained through similar processing correspond to the one line of the linear pattern; An outline recognition method for linear patterns featuring the following.
(2)直線状パターンは、矩形状の半導体ペレットの接
合図形パターンであり、グループ分けした各グループの
平均点をXY座標に展開して、前記接合図形パターンを
形成している各平均点の座標をX方向(又はY方向)に
おいて2分割して第1の2つのグループに分け、この2
分した一方について前記直線状パターンのY方向(又は
X方向)の1つの線に沿った前記平均点複数を選択して
これらを前記1つの線に沿って2分割して第2の2つの
グループに分け、それぞれのグループの平均点の重心座
標を通る第1回目の平均線を求め、第2の2つのグルー
プのそれぞれの平均点複数のうちの前記平均線より前記
接合図形パターンの外側方向となる位置にある複数の平
均点について第2の2つのグループのそれぞれにおける
重心を通る第2回目の平均線を求め、この2回目又は同
様な処理をして得た第3回目以降の平均線を前記1つの
線に対応させることを特徴とする請求項1記載の直線状
パターンの外形認識方式。
(2) The linear pattern is a bonding figure pattern of rectangular semiconductor pellets, and the average points of each divided group are developed into XY coordinates, and the coordinates of each average point forming the bonding figure pattern are is divided into two in the X direction (or Y direction), divided into the first two groups, and these two
Select the plurality of average points along one line in the Y direction (or The first average line passing through the barycentric coordinates of the average points of each group is determined, and the second average line of the plurality of average points of each of the second two groups is determined in the outward direction of the joined figure pattern. Find the second average line passing through the center of gravity of each of the second two groups for the plurality of average points at the positions, and calculate the third and subsequent average lines obtained by this second or similar processing. 2. The linear pattern outer shape recognition method according to claim 1, wherein the linear pattern outer shape recognition method is made to correspond to the one line.
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