JPH01222028A - 高純度タンタル又は高純度ニオブ微粒子の製造方法 - Google Patents
高純度タンタル又は高純度ニオブ微粒子の製造方法Info
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- JPH01222028A JPH01222028A JP4827988A JP4827988A JPH01222028A JP H01222028 A JPH01222028 A JP H01222028A JP 4827988 A JP4827988 A JP 4827988A JP 4827988 A JP4827988 A JP 4827988A JP H01222028 A JPH01222028 A JP H01222028A
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- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 34
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 title claims abstract description 4
- 239000010955 niobium Substances 0.000 title claims description 30
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 8
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 52
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 28
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 18
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims abstract description 18
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 7
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims description 32
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 29
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 21
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 abstract description 11
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 abstract description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 238000011084 recovery Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012856 packing Methods 0.000 abstract 2
- 229910000039 hydrogen halide Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000012433 hydrogen halide Substances 0.000 abstract 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 5
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 5
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 5
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 4
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 238000005660 chlorination reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001649 bromium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000026030 halogenation Effects 0.000 description 1
- 238000005658 halogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- WTKKCYNZRWIVKL-UHFFFAOYSA-N tantalum Chemical compound [Ta+5] WTKKCYNZRWIVKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
- Manufacture Of Metal Powder And Suspensions Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
(産業上の利用分野)
本発明はタンタル又はニオブの製造に係り、より詳細に
は、各種高温材料、耐食材料用の粉末乃至焼結体として
使用される高純度で微細なタンタル又はニオブ粉末を気
相還元法により製造する方法に関する。 (従来の技術及び解決しようとする課題)タンタル(T
a)とニオブ(Nb)は化学的、物理的性質が類似の点
が多く、いずれも耐熱性、耐食性に優れているため、そ
の金属粉又は合金粉は焼結体にして各種の高温材料、耐
食材料に使用されている。特にタンタルは電解コンデン
サーの陽極に好適な材料である。 ところで、TaやNb粉末を製造する方法には、■粉砕
法、■Na還元法、■真空蒸発法、■気相還元法などが
ある。しかし、インゴットを水素化粉砕し或いは機械的
に粉砕する■の方法では1μm以下の粒径に揃えること
は困難であり、また弗化物をNaで還元する方法■は、
Taの場合、K、TaF7+5Na42KF+5NaF
+Taの反応によるものであり、一般に凝集しており、
細かなものはできず、また高密度化しにくい欠点がある
。 一方、■の真空蒸発法は特に純度の点では改善されるも
のの、蒸気圧が低いために生産性が悪く、コスト高とな
り、工業的製造法とは云えない。 また、■の気相還元法は、例えば、塩化物(TaCQs
)を水素ガスで還元する方法であり、安価な設備を使用
でき、運転コストが低い利点がある。しかし、Ta、N
bは活性であるために耐火物からの酸素により酸化され
るので、純度が悪いという欠点があり、原理的には知ら
れているものの工業的には実施されていない。 この点、前記■の気相還元法については従来より種々の
提案がされている。すなわち、(1)ハロゲン化物を加
熱してハロゲン化物蒸気を得る方法(例、特開昭59−
170211号、同62−56506号、同62−19
2507号)、 (2)高温に加温された金属にハロゲ
ンガスを当ててハロゲン化物ガスを得る方法などがあり
、前者の(1)の方法が主流となっている。 また、本出願人は先に後者(2)の方法を改良する方法
として特願昭62−227856号を提案したが、この
方法の場合、多くの金属でそのハロゲン化物が液状又は
固体で生成し表面積が変化するため、一定量のハロゲン
化物発生量が得られず、生産効率上問題があり、更に、
ハロゲン化物を反応部へ送るパイプ上に還元された金属
が成長し、操業上問題があった。 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためになさ
れたものであって、特に本出願人が先に提案した前記気
相還元法によるTa又はNbの製造法を改良し、酸化物
がなく、酸素等の不純物が極めて少ない高純度で粒度分
布のよいTa又はNb微粉末を生産効率良く、しかも安
定して安価に製造できる方法を提供することを目的とす
るものである。 (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本発明者は、Ta又はNbの
ハロゲン化物がガス状で一定量を安定して得られる方法
について鋭意研究を重ねた結果、Ta又はNb粒子をハ
ロゲンガスによりハロゲン化物にする際に、得られたハ
ロゲン化物が容易に蒸発して表面より除去されることに
よりTa又はNb粒子を化学的に粉砕する結果となり、
Ta又はNb粒子表面が蘇生され、安定して一定量のハ
ロゲン化物ガスの発生が低温で得られることを知見し。 ここに本発明をなしたものである。 すなわち、本発明に係るタンタル又はニオブの気相還元
法は、粒径100〜500μmのTa又はNb粒子を2
00〜600℃に保持し、これをアルゴン等の不活性ガ
スと9〜50vol%のハロゲンガスとの混合物と接触
させてTa又はNbを含む蒸気を得て、次いで該ハロゲ
ン化物を含む蒸気を800〜1100℃の温度で水素ガ
スで還元することを特徴とするものである。 以下に本発明を更に詳細に説明する。 本発明者の実験研究によれば、Ta又はNbは、そのハ
ロゲン化物の沸点が非常に低温で融点と殆ど変わりがな
いため、その原料粒子を加熱する際に温度コントロール
すると、ハロゲン化物が金属表面から昇華してゆき、常
に新しい金属面が露出されて反応が更に進み、安定した
ハロゲン化物ガス(蒸気)が得られることが判明した。 因みに、ハロゲン化物が塩化物、弗化物及び臭化物の場
合、それらの融点と沸点は第1表に示すとおりである。
は、各種高温材料、耐食材料用の粉末乃至焼結体として
使用される高純度で微細なタンタル又はニオブ粉末を気
相還元法により製造する方法に関する。 (従来の技術及び解決しようとする課題)タンタル(T
a)とニオブ(Nb)は化学的、物理的性質が類似の点
が多く、いずれも耐熱性、耐食性に優れているため、そ
の金属粉又は合金粉は焼結体にして各種の高温材料、耐
食材料に使用されている。特にタンタルは電解コンデン
サーの陽極に好適な材料である。 ところで、TaやNb粉末を製造する方法には、■粉砕
法、■Na還元法、■真空蒸発法、■気相還元法などが
ある。しかし、インゴットを水素化粉砕し或いは機械的
に粉砕する■の方法では1μm以下の粒径に揃えること
は困難であり、また弗化物をNaで還元する方法■は、
Taの場合、K、TaF7+5Na42KF+5NaF
+Taの反応によるものであり、一般に凝集しており、
細かなものはできず、また高密度化しにくい欠点がある
。 一方、■の真空蒸発法は特に純度の点では改善されるも
のの、蒸気圧が低いために生産性が悪く、コスト高とな
り、工業的製造法とは云えない。 また、■の気相還元法は、例えば、塩化物(TaCQs
)を水素ガスで還元する方法であり、安価な設備を使用
でき、運転コストが低い利点がある。しかし、Ta、N
bは活性であるために耐火物からの酸素により酸化され
るので、純度が悪いという欠点があり、原理的には知ら
れているものの工業的には実施されていない。 この点、前記■の気相還元法については従来より種々の
提案がされている。すなわち、(1)ハロゲン化物を加
熱してハロゲン化物蒸気を得る方法(例、特開昭59−
170211号、同62−56506号、同62−19
2507号)、 (2)高温に加温された金属にハロゲ
ンガスを当ててハロゲン化物ガスを得る方法などがあり
、前者の(1)の方法が主流となっている。 また、本出願人は先に後者(2)の方法を改良する方法
として特願昭62−227856号を提案したが、この
方法の場合、多くの金属でそのハロゲン化物が液状又は
固体で生成し表面積が変化するため、一定量のハロゲン
化物発生量が得られず、生産効率上問題があり、更に、
ハロゲン化物を反応部へ送るパイプ上に還元された金属
が成長し、操業上問題があった。 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためになさ
れたものであって、特に本出願人が先に提案した前記気
相還元法によるTa又はNbの製造法を改良し、酸化物
がなく、酸素等の不純物が極めて少ない高純度で粒度分
布のよいTa又はNb微粉末を生産効率良く、しかも安
定して安価に製造できる方法を提供することを目的とす
るものである。 (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本発明者は、Ta又はNbの
ハロゲン化物がガス状で一定量を安定して得られる方法
について鋭意研究を重ねた結果、Ta又はNb粒子をハ
ロゲンガスによりハロゲン化物にする際に、得られたハ
ロゲン化物が容易に蒸発して表面より除去されることに
よりTa又はNb粒子を化学的に粉砕する結果となり、
Ta又はNb粒子表面が蘇生され、安定して一定量のハ
ロゲン化物ガスの発生が低温で得られることを知見し。 ここに本発明をなしたものである。 すなわち、本発明に係るタンタル又はニオブの気相還元
法は、粒径100〜500μmのTa又はNb粒子を2
00〜600℃に保持し、これをアルゴン等の不活性ガ
スと9〜50vol%のハロゲンガスとの混合物と接触
させてTa又はNbを含む蒸気を得て、次いで該ハロゲ
ン化物を含む蒸気を800〜1100℃の温度で水素ガ
スで還元することを特徴とするものである。 以下に本発明を更に詳細に説明する。 本発明者の実験研究によれば、Ta又はNbは、そのハ
ロゲン化物の沸点が非常に低温で融点と殆ど変わりがな
いため、その原料粒子を加熱する際に温度コントロール
すると、ハロゲン化物が金属表面から昇華してゆき、常
に新しい金属面が露出されて反応が更に進み、安定した
ハロゲン化物ガス(蒸気)が得られることが判明した。 因みに、ハロゲン化物が塩化物、弗化物及び臭化物の場
合、それらの融点と沸点は第1表に示すとおりである。
第 1 表
次に、本発明の製造プロセスについて説明する。
第1図は本発明の実施に用いられる装置の一例であり、
第2図は該装置の気相還元部の詳細を示した図である。 ■Ta又はNbの原料 通常はTa又はNbの粗粉又は抜屑を原料として用い、
低純度のものでよい。但し、それらのハロゲン化物の発
生速度は原料の表面積によって変化するため、適正な粒
径のものを用いる必要があり。 本発明では粒径が100〜500μmの範囲のものを用
いるのが好ましく、また扱い易い。。 このような原料は、上下を適当な大きさの網で仕切られ
た充填層13内に置かれる。 ■加温及びハロゲン化 まず、ハロゲンガスとしては塩素(CQ)、弗素(F)
、臭素(Br)等を使用できるが、装置の腐食防止並び
に生成されるハロゲン化物の早期流出防止の観点から、
ハロゲン化物は沸点の低いものがよく、塩素が望ましい
。 このような点から1本発明では、ハロゲン化物発生部分
の温度を200〜600℃の範囲の適当な温度に調整す
るものである。通常は400℃程度とし、ハロゲン化物
の融点+300℃以下がよい。 ハロゲンガスのみでは、発生したハロゲン化物の流量が
小さく、不安定なため、Ar等の不活性ガスを適当量で
同時に流す必要がある。ハロゲンガスの混合割合は9〜
50vo12%の範囲が好ましい。50vol%を超え
るとそのような効果が小さく、ハロゲン化物が粗粉とな
り、また9 vo 95未満ではハロゲン化物が微粉と
なるものの、ハロゲン化物の流量が低下し搬送不充分と
なるので好ましくない。 なお、ガス流量は反応装置の大きさ、目的とする粒度等
に応じて、自由に設定することができる。 また、温度コントロールは原料層中心部に設置した加熱
制御装置(例、石英管TC)により行うが。 Ta又はNbとハロゲンガスとの反応は発熱反応である
ことを考慮し、ハロゲンガス量及びハロゲンガスと不活
性ガスとの混合量を調節しながら、ハロゲン化物の融点
上300℃以内となるように制御する。 ■ Ta又はNb塩化物の還元 得られたTa又はNbハロゲン化物は、ガス状(蒸気)
であり、キャリアーガス(例、 Ar)によって搬送し
、還元反応部分(反応炉)に供給される。 塩化物ガスの場合は沸点が低く、凝縮することなく容易
に反応炉に導入できる。なお、ハロゲンガス濃度は粉末
粒径に影響を及ぼすので、キャリアーガス流量及びハロ
ゲンガス流量は粒径を最適にするように選択するのがよ
い、キャリアーガス流量は例えばハロゲンガス流量の約
5倍とする。 次いで、Ta又はNbハロゲン化物ガスは反応炉で反応
温度に加温される。反応温度は適宜設定できるが、80
0〜1100℃の範囲が望ましい。 従来、Nb、Ta等の高融点金属を水素還元する場合、
反応温度を1300〜1500℃程度に設定する場合が
多いが、反応温度が高いと耐火物の還元が起こり、粉末
中の酸素含有量が極端に増すことになる。この点、本発
明における反応温度は低温でよいので、耐火物の酸化が
防止されると共に気密性の高い石英管を使用可能となる
ため、酸素含有量の低いハロゲン化物が得られる効果と
相俟って、粉末中の酸素含有量を著しく下げることがで
きる。含有酸素量は粉末の取り出し時に空気酸化によっ
て生じる酸化物量分だけに留まる程度である。なお、反
応温度が500℃未満では反応速度が遅くなりすぎ、粉
末中の塩化物量が増すので望ましくなC1゜ 例えば、Ta又はNb塩化物の場合の水素ガスによる反
応は、次式 %式% により行なわれるが、これらの反応式の平衡関係より、
水素ガスの流量は、Taの場合は1100℃でH,/T
aモル比が1671.800℃のときは64/1(95
%収率)となる、しかし、本発明者の実験結果により、
純度の良いTa粉(Nb粉)を得るためにはHz /
T a (N b )モル比が30/1以上が必要であ
り、多いほど良好な結果が得られることが判明した。し
かし、500倍以上になると水素の流速が大きくなりす
ぎ、反応に寄与しないで流出する分が多くなるため、こ
れ以上の水素ガスは不要である。 還元反応で生じたTa又はNb粉末は、装置内で回収さ
れるが、回収した粉末はArガス中で装置から取り出す
か、或いはゆっくり空気に触れさせて表面を安定化させ
てから取り出すのがよい。 次に本発明の実施例を示す。 (実施例) 第1図に示す装置を使用してタンタルの気相還元を実施
した。なお、第2図はこの装置における気相還元反応部
の詳細を示した図である。図中、1はAr供給ボンベ、
2はH2供給ボンベ、3はCQ2供給ボンベ、4は脱酸
器、5は脱水器、6は流量計、7はCQ、ライン、8は
キャリアArライン、9は第2Arライン、10はH2
ライン、11は反応管、12は塩化物発生炉、13は充
填層、14は還反応炉、15はH2ガスノズル、16は
粉未回収フィルター、17はHCQ吸収塔、18は電気
伝導度測定セル、19は飛散防止網、20は粉末支え網
、21は充填層13の中心部に設けた石英管TCであり
、Ta粉の塩化物化並びに該塩化物の水素還元、生成粉
末の回収等が連続的に実施できる装置構成を有している
。 まず、Ta原料として、市鹸の一32#(粒径500μ
m)のTa粗粉(0□含有量は約2500ppm)を準
備し、これを塩化物発生炉12の充填層13にセットし
た。セット後、Arガスで充分に雰囲気置換を行った。 次いで、CQ、ガス流量0.05NQ/min、キャリ
アArガス流量0 、5 N Q /sin、第2Ar
ガス流量2 、5 N Q /winにて各ガスをライ
ンに供給すると共に、H2ガスを流量10 N L/a
+in (約、0.4no Q /rain)にてHz
/ T aモル比が約400倍になるようにH2ガス
ノズル15より還元反応炉14に供給し、更に塩化物発
生炉11の塩化温度を500℃、還元反応炉14の反応
温度を1000℃にセットして反応を開始した。 これにより、Ta粗粉は充填層内にて塩化揮発しくTa
CQ、蒸発速度I X 10 ””no Q /m1n
)、生じた塩化物ガスはキャリアArガスによって還元
反応炉14に導かれ、H2ガスノズル15からの水素ガ
スにより還元され、金属微粒子と塩化水素ガスが生成さ
れる。 生成された金属微粒子は回収フィルター16に捕集され
、塩化水素ガスは吸収塔17に吸収除去される。 回収された金属微粒子についてTEM(透過型電子顕微
鏡)によりデジタイザーを用いて画像回折を行って粒度
分布を調べ、まhX線回折により酸化物の存在を調べた
。 その結果、金属微粒子はアモルファス状で、凝集が弱く
、X線回折によっても酸化物の存在は認められず、o2
含有量が極めて少ない実質的に純金属Taよりなる粉で
あることが確認された。また粒度分布は、第3図及び第
4図に示すとおり、平均粒径が10.9〜24.9rv
で良好な粒径分布を示した。 (発明の効果) 以上詳述したように、本発明によれば、特定の粒径のT
a又はNb原料に不活性ガスと混合したハロゲンガスを
低温度で接触させてハロゲン化物ガスを得て水素還元す
るので、以下のような優れた効果が得られる。 ■低温で発生したハロゲン化物ガスが発生部分から離れ
た処で還元反応するため、ハロゲン化物導入ノズルへの
付着等の問題が全くなく、安定した運転ができる。 ■低温でハロゲンガスを取り扱うため、装置材質に対す
る問題が少なく、気密性の高い装置が容易に作製でき、
安価に高純度のTa又はNb粉を得る装置が構成できる
。 ■ハロゲン化物の発生量のコントロールが容易で1粒度
分布のコントロールが楽であり、流入させるハロゲンガ
ス及び希釈不活性ガス流量によって制御が容易である。
第2図は該装置の気相還元部の詳細を示した図である。 ■Ta又はNbの原料 通常はTa又はNbの粗粉又は抜屑を原料として用い、
低純度のものでよい。但し、それらのハロゲン化物の発
生速度は原料の表面積によって変化するため、適正な粒
径のものを用いる必要があり。 本発明では粒径が100〜500μmの範囲のものを用
いるのが好ましく、また扱い易い。。 このような原料は、上下を適当な大きさの網で仕切られ
た充填層13内に置かれる。 ■加温及びハロゲン化 まず、ハロゲンガスとしては塩素(CQ)、弗素(F)
、臭素(Br)等を使用できるが、装置の腐食防止並び
に生成されるハロゲン化物の早期流出防止の観点から、
ハロゲン化物は沸点の低いものがよく、塩素が望ましい
。 このような点から1本発明では、ハロゲン化物発生部分
の温度を200〜600℃の範囲の適当な温度に調整す
るものである。通常は400℃程度とし、ハロゲン化物
の融点+300℃以下がよい。 ハロゲンガスのみでは、発生したハロゲン化物の流量が
小さく、不安定なため、Ar等の不活性ガスを適当量で
同時に流す必要がある。ハロゲンガスの混合割合は9〜
50vo12%の範囲が好ましい。50vol%を超え
るとそのような効果が小さく、ハロゲン化物が粗粉とな
り、また9 vo 95未満ではハロゲン化物が微粉と
なるものの、ハロゲン化物の流量が低下し搬送不充分と
なるので好ましくない。 なお、ガス流量は反応装置の大きさ、目的とする粒度等
に応じて、自由に設定することができる。 また、温度コントロールは原料層中心部に設置した加熱
制御装置(例、石英管TC)により行うが。 Ta又はNbとハロゲンガスとの反応は発熱反応である
ことを考慮し、ハロゲンガス量及びハロゲンガスと不活
性ガスとの混合量を調節しながら、ハロゲン化物の融点
上300℃以内となるように制御する。 ■ Ta又はNb塩化物の還元 得られたTa又はNbハロゲン化物は、ガス状(蒸気)
であり、キャリアーガス(例、 Ar)によって搬送し
、還元反応部分(反応炉)に供給される。 塩化物ガスの場合は沸点が低く、凝縮することなく容易
に反応炉に導入できる。なお、ハロゲンガス濃度は粉末
粒径に影響を及ぼすので、キャリアーガス流量及びハロ
ゲンガス流量は粒径を最適にするように選択するのがよ
い、キャリアーガス流量は例えばハロゲンガス流量の約
5倍とする。 次いで、Ta又はNbハロゲン化物ガスは反応炉で反応
温度に加温される。反応温度は適宜設定できるが、80
0〜1100℃の範囲が望ましい。 従来、Nb、Ta等の高融点金属を水素還元する場合、
反応温度を1300〜1500℃程度に設定する場合が
多いが、反応温度が高いと耐火物の還元が起こり、粉末
中の酸素含有量が極端に増すことになる。この点、本発
明における反応温度は低温でよいので、耐火物の酸化が
防止されると共に気密性の高い石英管を使用可能となる
ため、酸素含有量の低いハロゲン化物が得られる効果と
相俟って、粉末中の酸素含有量を著しく下げることがで
きる。含有酸素量は粉末の取り出し時に空気酸化によっ
て生じる酸化物量分だけに留まる程度である。なお、反
応温度が500℃未満では反応速度が遅くなりすぎ、粉
末中の塩化物量が増すので望ましくなC1゜ 例えば、Ta又はNb塩化物の場合の水素ガスによる反
応は、次式 %式% により行なわれるが、これらの反応式の平衡関係より、
水素ガスの流量は、Taの場合は1100℃でH,/T
aモル比が1671.800℃のときは64/1(95
%収率)となる、しかし、本発明者の実験結果により、
純度の良いTa粉(Nb粉)を得るためにはHz /
T a (N b )モル比が30/1以上が必要であ
り、多いほど良好な結果が得られることが判明した。し
かし、500倍以上になると水素の流速が大きくなりす
ぎ、反応に寄与しないで流出する分が多くなるため、こ
れ以上の水素ガスは不要である。 還元反応で生じたTa又はNb粉末は、装置内で回収さ
れるが、回収した粉末はArガス中で装置から取り出す
か、或いはゆっくり空気に触れさせて表面を安定化させ
てから取り出すのがよい。 次に本発明の実施例を示す。 (実施例) 第1図に示す装置を使用してタンタルの気相還元を実施
した。なお、第2図はこの装置における気相還元反応部
の詳細を示した図である。図中、1はAr供給ボンベ、
2はH2供給ボンベ、3はCQ2供給ボンベ、4は脱酸
器、5は脱水器、6は流量計、7はCQ、ライン、8は
キャリアArライン、9は第2Arライン、10はH2
ライン、11は反応管、12は塩化物発生炉、13は充
填層、14は還反応炉、15はH2ガスノズル、16は
粉未回収フィルター、17はHCQ吸収塔、18は電気
伝導度測定セル、19は飛散防止網、20は粉末支え網
、21は充填層13の中心部に設けた石英管TCであり
、Ta粉の塩化物化並びに該塩化物の水素還元、生成粉
末の回収等が連続的に実施できる装置構成を有している
。 まず、Ta原料として、市鹸の一32#(粒径500μ
m)のTa粗粉(0□含有量は約2500ppm)を準
備し、これを塩化物発生炉12の充填層13にセットし
た。セット後、Arガスで充分に雰囲気置換を行った。 次いで、CQ、ガス流量0.05NQ/min、キャリ
アArガス流量0 、5 N Q /sin、第2Ar
ガス流量2 、5 N Q /winにて各ガスをライ
ンに供給すると共に、H2ガスを流量10 N L/a
+in (約、0.4no Q /rain)にてHz
/ T aモル比が約400倍になるようにH2ガス
ノズル15より還元反応炉14に供給し、更に塩化物発
生炉11の塩化温度を500℃、還元反応炉14の反応
温度を1000℃にセットして反応を開始した。 これにより、Ta粗粉は充填層内にて塩化揮発しくTa
CQ、蒸発速度I X 10 ””no Q /m1n
)、生じた塩化物ガスはキャリアArガスによって還元
反応炉14に導かれ、H2ガスノズル15からの水素ガ
スにより還元され、金属微粒子と塩化水素ガスが生成さ
れる。 生成された金属微粒子は回収フィルター16に捕集され
、塩化水素ガスは吸収塔17に吸収除去される。 回収された金属微粒子についてTEM(透過型電子顕微
鏡)によりデジタイザーを用いて画像回折を行って粒度
分布を調べ、まhX線回折により酸化物の存在を調べた
。 その結果、金属微粒子はアモルファス状で、凝集が弱く
、X線回折によっても酸化物の存在は認められず、o2
含有量が極めて少ない実質的に純金属Taよりなる粉で
あることが確認された。また粒度分布は、第3図及び第
4図に示すとおり、平均粒径が10.9〜24.9rv
で良好な粒径分布を示した。 (発明の効果) 以上詳述したように、本発明によれば、特定の粒径のT
a又はNb原料に不活性ガスと混合したハロゲンガスを
低温度で接触させてハロゲン化物ガスを得て水素還元す
るので、以下のような優れた効果が得られる。 ■低温で発生したハロゲン化物ガスが発生部分から離れ
た処で還元反応するため、ハロゲン化物導入ノズルへの
付着等の問題が全くなく、安定した運転ができる。 ■低温でハロゲンガスを取り扱うため、装置材質に対す
る問題が少なく、気密性の高い装置が容易に作製でき、
安価に高純度のTa又はNb粉を得る装置が構成できる
。 ■ハロゲン化物の発生量のコントロールが容易で1粒度
分布のコントロールが楽であり、流入させるハロゲンガ
ス及び希釈不活性ガス流量によって制御が容易である。
第1図及び第2図は本発明法の実施に用いる装置の一例
を示す説明図で、第1図は装置の全体図、第2図は第1
図のA部の詳細図であり、第3図は実施例で得られたT
a微粒子の粒径分布を示すヒストグラム、 第4図は第2図の粒径分布を対数確率プロットした図で
ある。 7・・・CQ2ライン、8・・・キャリアArライン、
9・・・第2Arライン、10・・・H2ライン、11
・・・反応管、12・・・塩化物発生炉、13・・・充
填層、14・・・還元反応炉、15・・・H2ガスライ
ン、16・・・粉未回収フィルター、19・・・飛散防
止網、20・・・粉末支え網、21・・・石英管TC6 第2図 ハr+uz
を示す説明図で、第1図は装置の全体図、第2図は第1
図のA部の詳細図であり、第3図は実施例で得られたT
a微粒子の粒径分布を示すヒストグラム、 第4図は第2図の粒径分布を対数確率プロットした図で
ある。 7・・・CQ2ライン、8・・・キャリアArライン、
9・・・第2Arライン、10・・・H2ライン、11
・・・反応管、12・・・塩化物発生炉、13・・・充
填層、14・・・還元反応炉、15・・・H2ガスライ
ン、16・・・粉未回収フィルター、19・・・飛散防
止網、20・・・粉末支え網、21・・・石英管TC6 第2図 ハr+uz
Claims (1)
- 粒径100〜500μmのTa又はNb粒子を200〜
600℃に保持し、これをアルゴン等の不活性ガスと9
〜50vol%のハロゲンガスとの混合ガスと接触させ
てTa又はNbのハロゲン化物を含む蒸気を得て、次い
で該ハロゲン化物を含む蒸気を800〜1100℃の温
度で水素ガスで還元することを特徴とするタンタル又は
ニオブの気相還元法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63048279A JP2702954B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 高純度タンタル又は高純度ニオブ微粒子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63048279A JP2702954B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 高純度タンタル又は高純度ニオブ微粒子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01222028A true JPH01222028A (ja) | 1989-09-05 |
JP2702954B2 JP2702954B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=12798996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63048279A Expired - Lifetime JP2702954B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 高純度タンタル又は高純度ニオブ微粒子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2702954B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4833125A (ja) * | 1971-08-30 | 1973-05-08 | ||
JPS6223912A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-31 | Showa Denko Kk | 金属微粉の製造法 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63048279A patent/JP2702954B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4833125A (ja) * | 1971-08-30 | 1973-05-08 | ||
JPS6223912A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-31 | Showa Denko Kk | 金属微粉の製造法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2702954B2 (ja) | 1998-01-26 |
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