JPH01216224A - 多点温度測定装置 - Google Patents
多点温度測定装置Info
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- JPH01216224A JPH01216224A JP4256988A JP4256988A JPH01216224A JP H01216224 A JPH01216224 A JP H01216224A JP 4256988 A JP4256988 A JP 4256988A JP 4256988 A JP4256988 A JP 4256988A JP H01216224 A JPH01216224 A JP H01216224A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、２線方式で接続された複数個の測温抵抗体
側側からの各信号に基づいて各測温抵抗体に対応する箇
所の温度測定をおこなう装置であって、特に抵抗調整を
しないで配線抵抗による測温誤差を除去するように改善
した多点温度測定装置に関する。
側側からの各信号に基づいて各測温抵抗体に対応する箇
所の温度測定をおこなう装置であって、特に抵抗調整を
しないで配線抵抗による測温誤差を除去するように改善
した多点温度測定装置に関する。
多点温度測定装置を含む多点温度制御装置の従来例につ
いて第５図を参照しながら説明する。 第５図はこの従来の多点温度制御装置の構成を示すブロ
ック図で、この多点温度制御装置はマイクロコンピュー
タを主要部として構成され、主として入出力部としての
測定部２１．設定部３０．操作部４０およびマイクロコ
ンピュータ４からなる。測定部２１は温度測定を担当す
るユニットで、各測定点に設置された測温抵抗体Ｒｔｉ
（ｉ−１〜ｎ）、測定回路２２および多点Ａ／Ｄコンバ
ータ２３がら主としてなる。さらにこの多点Ａ／Ｄコン
バータ２３は切替回路２４およびＡ／Ｄコンバータ２５
からなる。 設定部３０は各測定点の温度設定をするとともに、その
各測定点の偏差を表示する。操作部４０は偏差に基づい
て制御対象に対して操作をおこない、ヒータＨｉ（ｉ＝
ｌ”ｎ）と、その駆動回路４１で代表される。 測温抵抗体Ｒｔｉは２線方式で接続されており、３線方
式と比べると、測温抵抗体Ｒｔｉと本体側との間の配線
が２線でよいから、配線費、配線作業費の低減が図れ、
また、端子配列の簡素化が可能になる長所がある。しか
も、この長所は温度測定点が多くなるほど著しい効果を
発揮する。なお、先程の端子配列の簡素化は、特に測温
抵抗体が別形式の温度検出器である熱電対と併設される
ときに、各測定点がいずれも２端子に統一できる形で表
れる。
いて第５図を参照しながら説明する。 第５図はこの従来の多点温度制御装置の構成を示すブロ
ック図で、この多点温度制御装置はマイクロコンピュー
タを主要部として構成され、主として入出力部としての
測定部２１．設定部３０．操作部４０およびマイクロコ
ンピュータ４からなる。測定部２１は温度測定を担当す
るユニットで、各測定点に設置された測温抵抗体Ｒｔｉ
（ｉ−１〜ｎ）、測定回路２２および多点Ａ／Ｄコンバ
ータ２３がら主としてなる。さらにこの多点Ａ／Ｄコン
バータ２３は切替回路２４およびＡ／Ｄコンバータ２５
からなる。 設定部３０は各測定点の温度設定をするとともに、その
各測定点の偏差を表示する。操作部４０は偏差に基づい
て制御対象に対して操作をおこない、ヒータＨｉ（ｉ＝
ｌ”ｎ）と、その駆動回路４１で代表される。 測温抵抗体Ｒｔｉは２線方式で接続されており、３線方
式と比べると、測温抵抗体Ｒｔｉと本体側との間の配線
が２線でよいから、配線費、配線作業費の低減が図れ、
また、端子配列の簡素化が可能になる長所がある。しか
も、この長所は温度測定点が多くなるほど著しい効果を
発揮する。なお、先程の端子配列の簡素化は、特に測温
抵抗体が別形式の温度検出器である熱電対と併設される
ときに、各測定点がいずれも２端子に統一できる形で表
れる。
以上説明したように、従来の技術では、低コスト化や端
子配列の簡素化などの長所がある反面、測定誤差を除去
するために配線抵抗調整を必要とし、それだけ手数とコ
ストを要するという欠点がある。この欠点について、以
下に数式を用いて説明する。 第５図で、Ｒｔｉ：測温抵抗体の値、Ｒ１：配線抵抗の
値、Ｒｖｉ：調整抵抗の値、Ｒｂ ニブリッジ抵抗の値
、Ｅｂ ニブリッジ電源の電圧、とすると、測温値は、
以下に示されるような端子Ｐｉ −Ｐｇ間の電圧Ｖｉ
に基づいて、求められる。なお、ｉ＝ １− ｎ で
、測定点の番号である。 Ｖｉ ＝ （Ｒｔｉ＋２ Ｒｉ 十Ｒｖｉ） Ｅｂ ／
Ｒｂただし、ＲｂはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉ、
Ｒｖｉよりそれぞれ極めて大きいから、この条件によっ
て数式は整理しである。 したがって、２Ｒｉ＋Ｒｖｉ を１０Ω程度の一定値
にするようにＲｖｉによって調整しないと、Ｖｉが測定
点によって変わり、ひいては測温値に誤差を生じること
になる。 この発明の課題は、従来の技術がもつ以上の問題点を解
消し、２線接続力式の測温抵抗体による温度測定におい
て、抵抗調整をしないで配線抵抗による測温誤差を除去
するように改善した多点温度測定装置を提供することに
ある。
子配列の簡素化などの長所がある反面、測定誤差を除去
するために配線抵抗調整を必要とし、それだけ手数とコ
ストを要するという欠点がある。この欠点について、以
下に数式を用いて説明する。 第５図で、Ｒｔｉ：測温抵抗体の値、Ｒ１：配線抵抗の
値、Ｒｖｉ：調整抵抗の値、Ｒｂ ニブリッジ抵抗の値
、Ｅｂ ニブリッジ電源の電圧、とすると、測温値は、
以下に示されるような端子Ｐｉ −Ｐｇ間の電圧Ｖｉ
に基づいて、求められる。なお、ｉ＝ １− ｎ で
、測定点の番号である。 Ｖｉ ＝ （Ｒｔｉ＋２ Ｒｉ 十Ｒｖｉ） Ｅｂ ／
Ｒｂただし、ＲｂはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉ、
Ｒｖｉよりそれぞれ極めて大きいから、この条件によっ
て数式は整理しである。 したがって、２Ｒｉ＋Ｒｖｉ を１０Ω程度の一定値
にするようにＲｖｉによって調整しないと、Ｖｉが測定
点によって変わり、ひいては測温値に誤差を生じること
になる。 この発明の課題は、従来の技術がもつ以上の問題点を解
消し、２線接続力式の測温抵抗体による温度測定におい
て、抵抗調整をしないで配線抵抗による測温誤差を除去
するように改善した多点温度測定装置を提供することに
ある。
この課題を解決するために、本発明に係る第１の多点温
度測定装置は、 各測温抵抗体の両端を短絡したときの、この測温抵抗体
の側からの信号値を調整値として格納する調整値メモリ
と； 測定時における前記各測温抵抗体側からの信号値より、
前記調整メモリに格納された前記各測温抵抗体側に対応
する前記調整値を差し引く減算手段と；を備え、 この減算手段からの出力に基づき前記各測温抵抗体に対
応する箇所の測温値を得るようにする。 同じくその第２の多点温度測定装置は、基準温度におけ
る前記各測温抵抗体の側からの信号値を基準値として格
納する基準メモリと；測定時における前記各測温抵抗体
側からの信号値より、前記基準メモリに格納された前記
各測温抵抗体側に対応する前記基準値を差Ｌ７引く減算
手段と；を備え、 この減算手段からの出力に基づき前記各測温抵抗体に対
応する箇所の測温値を得るようにする。
度測定装置は、 各測温抵抗体の両端を短絡したときの、この測温抵抗体
の側からの信号値を調整値として格納する調整値メモリ
と； 測定時における前記各測温抵抗体側からの信号値より、
前記調整メモリに格納された前記各測温抵抗体側に対応
する前記調整値を差し引く減算手段と；を備え、 この減算手段からの出力に基づき前記各測温抵抗体に対
応する箇所の測温値を得るようにする。 同じくその第２の多点温度測定装置は、基準温度におけ
る前記各測温抵抗体の側からの信号値を基準値として格
納する基準メモリと；測定時における前記各測温抵抗体
側からの信号値より、前記基準メモリに格納された前記
各測温抵抗体側に対応する前記基準値を差Ｌ７引く減算
手段と；を備え、 この減算手段からの出力に基づき前記各測温抵抗体に対
応する箇所の測温値を得るようにする。
【作 用】
第１の発明においては、測定時における各測温抵抗体側
からの信号値より、調整メモリに格納されている、各測
温抵抗体の両端を短絡したときの、測温抵抗体の側から
の信号値（調整値）を、減算手段を介して差し引くと、
その差値は、測定時における各測温抵抗体の抵抗値に比
例する。したがって、先程の差値から測温値を求めるこ
とができる。 第２の発明においては、測定時における各測温抵抗体側
からの信号値より、基準メモリに格納されている、基準
温度における各測温抵抗体の側からの信号値（基準値）
を、減算手段を介して差し引くと、その差値は、測定時
における各測温抵抗体の抵抗値に比例する。したがって
、先程の差値から測温値を求めることができる。
からの信号値より、調整メモリに格納されている、各測
温抵抗体の両端を短絡したときの、測温抵抗体の側から
の信号値（調整値）を、減算手段を介して差し引くと、
その差値は、測定時における各測温抵抗体の抵抗値に比
例する。したがって、先程の差値から測温値を求めるこ
とができる。 第２の発明においては、測定時における各測温抵抗体側
からの信号値より、基準メモリに格納されている、基準
温度における各測温抵抗体の側からの信号値（基準値）
を、減算手段を介して差し引くと、その差値は、測定時
における各測温抵抗体の抵抗値に比例する。したがって
、先程の差値から測温値を求めることができる。
本発明に係る実施例について以下に図面を参照しながら
説明する。この実施例は多点温度測定装置を含む多点温
度制御装置である。 第１図は第１の発明に係る実施例の構成を示すブロック
図で、この実施例はマイクロコンピュータを主要部とし
て構成され、主として入出力部としての測定部１．設定
部３０．操作部４０およびマイクロコンピュータ４から
なる。 測定部１は温度測定を担当するユニットで、各測定点に
設置された測温抵抗体Ｒｔｉ（ｉ＝１〜ｎ）、測定回路
２および多点Ａ／Ｄコンバータ２３から主としてなる。 さらにこの多点Ａ／Ｄコンバータ２３は切替回路２４お
よびＡ／Ｄコンバータ２５からなる。 マイクロコンピュータ４は周知のように、ＣＰＵ５、Ｒ
ＡＭ６．ＲＯＭ７．入力ポート８．出力ポート９からな
る。 設定部３０は各測定点の温度設定をするとともに、その
各測定点の偏差を表示する。操作部４０は偏差に基づい
て制御対象に対して操作をおこない、ヒータＨｉ（ｉ＝
１−ｎ）と、その駆動回路４１で代表される。 以上説明したように、この実施例の構成は、第５図を参
照しながら説明した従来装置と、測定部２の内容が異な
る外は同じである。測定部２の内容で従来装置における
のと異なる点は、調整抵抗Ｒｖｉが除かれている点と、
スイッチＫｉが測温抵抗体Ｒｔｉと並列に設けである点
とである。なお、従来装置におけるのと同じ部品、ユニ
ットには同じ符号を付けである。 この実施例の動作について、第２図のフローチャートを
参照しながら説明する。なお、動作は調整モードと測定
モードとに大別され、第２図におけるステップ５ｌ−３
５が調整モードに、ステップＳ６〜Ｓ１２が測定モード
に相当する。 第２図において、ステップＳｌで測定点番号ｉ（カウン
タ）を初期化し、測定点ごとにスイッチＫｉをＯＮして
（ステップ３２）、つまり測温抵抗体Ｒｔｉを短絡して
、そのときの測温抵抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧
Ｕａｉ）を調整値としてＲＯＭ７ （の調整値領域）
に格納する（ステップＳ３）。 このＲＯＭ７として、設計上はＥＥＲＯＭが用いられて
データの消失ないし消去が防止される。なお、電圧Ｕａ
ｉは、第１図の端子Ｘｉ −Ｘｇ間の電圧である。以
上のことを全測定点について番号順に実施しくステップ
Ｓ４．Ｓ５）、調整モードを終了する。なお、スイッチ
Ｋｉは調整モードの最初にすべてについてＯＮにしても
よい。 次のステップから測定モードになり、ステップＳ６で、
ｉの初期化をし、測定点ごとにスイッチＫｉを０ＦＦＬ
（ステップ３７）、そのときの測温抵抗体Ｒｔｉの側
からの信号値（電圧Ｕｔｉ）を測定値として入力する（
ステップＳ８）。なお、電圧Ｕｔｉは、第１図の端子Ｘ
ｉ −Ｘｇ間の電圧である。 次のステップＳ９で、（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）を演算し、以
上のことを全測定点について番号順に実施しくステップ
ＳＩ０． ３１１） 、かつ測定が継続される限り繰り
返す（ステップ３１２）。なお、スイッチＫｉは測定モ
ードの最初にすべてについてＯＦＦにしてもよい。 ところで、値（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）が、測温抵抗体Ｒｔｉ
Ｏ値に比例すること、すなわち、（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）に
基づいて測温値を求め得ることを、以下に数式によって
説明する。 Ｕａｉ＝Ｅｂ ［１−Ｒｈ／（２Ｒｉ＋Ｒｈ））Ｕｔｉ
−Ｅｂ （１−Ｒｈ／（Ｒｔｉ＋２Ｒｉ＋Ｒｂ））した
がって、 Ｕｔｉ−Ｕａｉ＝Ｒｔｉ Ｅｂ／Ｒｂ ただし、ＲｂはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉよりそれ
ぞれ極めて大きいから、この条件によって数式は整理し
である。 次に、第２の発明に係る実施例について、以下に図面を
参照しながら説明する。 第３図はこの実施例の構成を示すブロック図で、同図に
おいてこの実施例の構成が、第１図で説明した第１の発
明に係る実施例のときと異なる点は、スイッチＫｉがな
いこと、および周囲温度測定用の測温抵抗体Ｒｔｏの１
個が３線接続方式で設けられたことである。なお、Ｒｏ
は配線抵抗、Ｅｃは、周囲温度測定用のブリッジ電源の
電圧、Ｒａ、Ｒｃは、それぞれブリッジ抵抗である。 この実施例では、各測定点における周囲温度が、先程の
周囲温度測定用の測温抵抗体Ｒｔｏを持ち回ることによ
って測定され（３線式だから配線抵抗による誤差はなく
正確に測定される）、詳細な説明は省略するが、基準温
度における各測定点での測温抵抗体Ｒｔｉ側からの信号
値が求められる。そして、この信号値に基づいて、配線
抵抗Ｒｉの影響を除去しようとするものである。 この実施例の動作について、第４図のフローチャートを
参照しながら説明する。なお、動作は準備モードと測定
モードとに大別され、第４図におけるステップＳｌ〜Ｓ
４が準備モードに、ステップ３５〜Ｓ１０が測定モード
に相当する。 第４図において、ステップＳ１で測定点番号ｉ（カウン
タ）を初期化し、測定点ごとに基準温度における測温抵
抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧Ｖｓｉ）を基準値と
して第３図のＲＯＭ？（の基準値領域）に格納する（ス
テップＳ２）。なお、詳しい説明は省略するが、基準温
度における測温抵抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧Ｖ
ｓｉ）は、先に説明したように周囲温度測定用の測温抵
抗体Ｒｔｏによって求められる。なお、電圧Ｖｓｉは、
第３図の端子Ｙｉ −Ｙｇ間の電圧である。以上のこ
とを全測定点について番号順に実施しくステップ３３．
Ｓ４）、準備モードを終了する。 次のステップから測定モードになり、ステップＳ５で、
ｉの初期化をし、測定点ごとに測温抵抗体Ｒｔｉの側か
らの信号値（電圧ｖＬｉ）を測定値として入力する（ス
テップ３６）。次のステップＳ７で、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ
）を演算し、以上のことを全測定点について番号順に実
施しくステップ３Ｂ、Ｓ９）、かつ測定が継続される限
り繰り返す（ステップ３１０）。 さて、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ）に基づいて測温値を求め得る
ことを、以下に数式によって説明する。 Ｖｓｉ−Ｅｂ ［１−Ｒｈ／（Ｒｓｆ＋２Ｒｉ＋Ｒｈ）
）Ｖｔｉ＝Ｅｂ （１−Ｒｂ／（Ｒｔｉ＋２Ｒｉ＋Ｒｂ
））したがって、 Ｖｔ１−Ｖｓｉ＝（Ｒｔｉ−Ｒｓｉ）Ｅｂ／Ｒｂただし
、ＲｈはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉよりそれぞれ掻
めて大きいから、この条件によって数式は整理しである
。ここで、Ｒｓｉは既知であるから、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ
） ニよッ１’ Ｒｔ ｉ、ヒイテは測温値を得ること
ができる。 ところで、以上に説明した第１．第２の各発明に係る実
施例いずれによっても、単にソフトウェア的な手段によ
って、つまり抵抗調整作業をしないで、配線抵抗による
測温誤差を除去することができるから、その作業が簡単
になり、低コスト化が図れる。しかも、多点温度測定の
場合、測定点数が多くなるほど、その効果が大きくなる
。
説明する。この実施例は多点温度測定装置を含む多点温
度制御装置である。 第１図は第１の発明に係る実施例の構成を示すブロック
図で、この実施例はマイクロコンピュータを主要部とし
て構成され、主として入出力部としての測定部１．設定
部３０．操作部４０およびマイクロコンピュータ４から
なる。 測定部１は温度測定を担当するユニットで、各測定点に
設置された測温抵抗体Ｒｔｉ（ｉ＝１〜ｎ）、測定回路
２および多点Ａ／Ｄコンバータ２３から主としてなる。 さらにこの多点Ａ／Ｄコンバータ２３は切替回路２４お
よびＡ／Ｄコンバータ２５からなる。 マイクロコンピュータ４は周知のように、ＣＰＵ５、Ｒ
ＡＭ６．ＲＯＭ７．入力ポート８．出力ポート９からな
る。 設定部３０は各測定点の温度設定をするとともに、その
各測定点の偏差を表示する。操作部４０は偏差に基づい
て制御対象に対して操作をおこない、ヒータＨｉ（ｉ＝
１−ｎ）と、その駆動回路４１で代表される。 以上説明したように、この実施例の構成は、第５図を参
照しながら説明した従来装置と、測定部２の内容が異な
る外は同じである。測定部２の内容で従来装置における
のと異なる点は、調整抵抗Ｒｖｉが除かれている点と、
スイッチＫｉが測温抵抗体Ｒｔｉと並列に設けである点
とである。なお、従来装置におけるのと同じ部品、ユニ
ットには同じ符号を付けである。 この実施例の動作について、第２図のフローチャートを
参照しながら説明する。なお、動作は調整モードと測定
モードとに大別され、第２図におけるステップ５ｌ−３
５が調整モードに、ステップＳ６〜Ｓ１２が測定モード
に相当する。 第２図において、ステップＳｌで測定点番号ｉ（カウン
タ）を初期化し、測定点ごとにスイッチＫｉをＯＮして
（ステップ３２）、つまり測温抵抗体Ｒｔｉを短絡して
、そのときの測温抵抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧
Ｕａｉ）を調整値としてＲＯＭ７ （の調整値領域）
に格納する（ステップＳ３）。 このＲＯＭ７として、設計上はＥＥＲＯＭが用いられて
データの消失ないし消去が防止される。なお、電圧Ｕａ
ｉは、第１図の端子Ｘｉ −Ｘｇ間の電圧である。以
上のことを全測定点について番号順に実施しくステップ
Ｓ４．Ｓ５）、調整モードを終了する。なお、スイッチ
Ｋｉは調整モードの最初にすべてについてＯＮにしても
よい。 次のステップから測定モードになり、ステップＳ６で、
ｉの初期化をし、測定点ごとにスイッチＫｉを０ＦＦＬ
（ステップ３７）、そのときの測温抵抗体Ｒｔｉの側
からの信号値（電圧Ｕｔｉ）を測定値として入力する（
ステップＳ８）。なお、電圧Ｕｔｉは、第１図の端子Ｘ
ｉ −Ｘｇ間の電圧である。 次のステップＳ９で、（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）を演算し、以
上のことを全測定点について番号順に実施しくステップ
ＳＩ０． ３１１） 、かつ測定が継続される限り繰り
返す（ステップ３１２）。なお、スイッチＫｉは測定モ
ードの最初にすべてについてＯＦＦにしてもよい。 ところで、値（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）が、測温抵抗体Ｒｔｉ
Ｏ値に比例すること、すなわち、（Ｕｔｉ−Ｕａｉ）に
基づいて測温値を求め得ることを、以下に数式によって
説明する。 Ｕａｉ＝Ｅｂ ［１−Ｒｈ／（２Ｒｉ＋Ｒｈ））Ｕｔｉ
−Ｅｂ （１−Ｒｈ／（Ｒｔｉ＋２Ｒｉ＋Ｒｂ））した
がって、 Ｕｔｉ−Ｕａｉ＝Ｒｔｉ Ｅｂ／Ｒｂ ただし、ＲｂはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉよりそれ
ぞれ極めて大きいから、この条件によって数式は整理し
である。 次に、第２の発明に係る実施例について、以下に図面を
参照しながら説明する。 第３図はこの実施例の構成を示すブロック図で、同図に
おいてこの実施例の構成が、第１図で説明した第１の発
明に係る実施例のときと異なる点は、スイッチＫｉがな
いこと、および周囲温度測定用の測温抵抗体Ｒｔｏの１
個が３線接続方式で設けられたことである。なお、Ｒｏ
は配線抵抗、Ｅｃは、周囲温度測定用のブリッジ電源の
電圧、Ｒａ、Ｒｃは、それぞれブリッジ抵抗である。 この実施例では、各測定点における周囲温度が、先程の
周囲温度測定用の測温抵抗体Ｒｔｏを持ち回ることによ
って測定され（３線式だから配線抵抗による誤差はなく
正確に測定される）、詳細な説明は省略するが、基準温
度における各測定点での測温抵抗体Ｒｔｉ側からの信号
値が求められる。そして、この信号値に基づいて、配線
抵抗Ｒｉの影響を除去しようとするものである。 この実施例の動作について、第４図のフローチャートを
参照しながら説明する。なお、動作は準備モードと測定
モードとに大別され、第４図におけるステップＳｌ〜Ｓ
４が準備モードに、ステップ３５〜Ｓ１０が測定モード
に相当する。 第４図において、ステップＳ１で測定点番号ｉ（カウン
タ）を初期化し、測定点ごとに基準温度における測温抵
抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧Ｖｓｉ）を基準値と
して第３図のＲＯＭ？（の基準値領域）に格納する（ス
テップＳ２）。なお、詳しい説明は省略するが、基準温
度における測温抵抗体Ｒｔｉの側からの信号値（電圧Ｖ
ｓｉ）は、先に説明したように周囲温度測定用の測温抵
抗体Ｒｔｏによって求められる。なお、電圧Ｖｓｉは、
第３図の端子Ｙｉ −Ｙｇ間の電圧である。以上のこ
とを全測定点について番号順に実施しくステップ３３．
Ｓ４）、準備モードを終了する。 次のステップから測定モードになり、ステップＳ５で、
ｉの初期化をし、測定点ごとに測温抵抗体Ｒｔｉの側か
らの信号値（電圧ｖＬｉ）を測定値として入力する（ス
テップ３６）。次のステップＳ７で、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ
）を演算し、以上のことを全測定点について番号順に実
施しくステップ３Ｂ、Ｓ９）、かつ測定が継続される限
り繰り返す（ステップ３１０）。 さて、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ）に基づいて測温値を求め得る
ことを、以下に数式によって説明する。 Ｖｓｉ−Ｅｂ ［１−Ｒｈ／（Ｒｓｆ＋２Ｒｉ＋Ｒｈ）
）Ｖｔｉ＝Ｅｂ （１−Ｒｂ／（Ｒｔｉ＋２Ｒｉ＋Ｒｂ
））したがって、 Ｖｔ１−Ｖｓｉ＝（Ｒｔｉ−Ｒｓｉ）Ｅｂ／Ｒｂただし
、ＲｈはＲｔｉより、かつＲｔｉはＲｉよりそれぞれ掻
めて大きいから、この条件によって数式は整理しである
。ここで、Ｒｓｉは既知であるから、（Ｖｔｉ−Ｖｓｉ
） ニよッ１’ Ｒｔ ｉ、ヒイテは測温値を得ること
ができる。 ところで、以上に説明した第１．第２の各発明に係る実
施例いずれによっても、単にソフトウェア的な手段によ
って、つまり抵抗調整作業をしないで、配線抵抗による
測温誤差を除去することができるから、その作業が簡単
になり、低コスト化が図れる。しかも、多点温度測定の
場合、測定点数が多くなるほど、その効果が大きくなる
。
以上脱型したように、第１の発明においては、測定時に
おける各測温抵抗体側からの信号値より、調整メモリに
格納されている、各測温抵抗体の両端を短絡したときの
、測温抵抗体の側からの信号値（調整値）を、減算手段
を介して差し引くと、その差値は、測定時における各測
温抵抗体の抵抗値に比例する；第２の発明においては、
測定時における各測温抵抗体側からの信号値より、基準
メモリに格納されている、基準温度における各測温抵抗
体の側からの信号値（基準値）を、減算手段を介して差
し引くと、その差値は、測定時における各測温抵抗体の
抵抗値に比例する；したがって、いずれの場合にも各差
値から測温値を求めることができる。 したがって、この発明によれば、従来の技術に比べ次の
ようなすぐれた効果がある。 （１） 単にソフ、トウエア的な手段によって、つま
り抵抗調整作業をしないで、配線抵抗による測温誤差を
除去することができるから、その作業が簡単になり、低
コスト化が図れる。しかも、多点温度測定の場合、測定
点数が多くなるほど、その効果が大きくなる。 （２）シたがって、２線接続力式の欠点が除去されて、
本来の２線接続力式の長所、たとえば配線自体、配線作
業、接続端子などのコスト低減だけが発揮される。
おける各測温抵抗体側からの信号値より、調整メモリに
格納されている、各測温抵抗体の両端を短絡したときの
、測温抵抗体の側からの信号値（調整値）を、減算手段
を介して差し引くと、その差値は、測定時における各測
温抵抗体の抵抗値に比例する；第２の発明においては、
測定時における各測温抵抗体側からの信号値より、基準
メモリに格納されている、基準温度における各測温抵抗
体の側からの信号値（基準値）を、減算手段を介して差
し引くと、その差値は、測定時における各測温抵抗体の
抵抗値に比例する；したがって、いずれの場合にも各差
値から測温値を求めることができる。 したがって、この発明によれば、従来の技術に比べ次の
ようなすぐれた効果がある。 （１） 単にソフ、トウエア的な手段によって、つま
り抵抗調整作業をしないで、配線抵抗による測温誤差を
除去することができるから、その作業が簡単になり、低
コスト化が図れる。しかも、多点温度測定の場合、測定
点数が多くなるほど、その効果が大きくなる。 （２）シたがって、２線接続力式の欠点が除去されて、
本来の２線接続力式の長所、たとえば配線自体、配線作
業、接続端子などのコスト低減だけが発揮される。
第１図は第１の発明に係る実施例の構成を示すブロック
図、 第２図はこの実施例の動作を示すフローチャート、第３
図は第２の発明に係る実施例の構成を示すブロック図、 第４図はこの実施例の動作を示すフローチャート、第５
図は従来例の構成を示すブロック図である。 符号説明 Ｋｉ ：スイッチ、Ｒｔｔ、 Ｒｔｏ ：測温抵抗体、
Ｒｉ、Ｒｏ ：配線抵抗、ｉ ＝ １〜ｎ である。 １．１１：測定部、２．１２ Ｆ測定回路、４：マイク
ロコンピュータ、５ ： ＣＰＵ、７：ＲＯＭ、２３：
多点Ａ／Ｄコンバータ。 代駄弁理士 山 口 巖、≦ “・ｌＩ 」ｊ８１淀舒 第１図 第２図 第３図 第４把 第５０
図、 第２図はこの実施例の動作を示すフローチャート、第３
図は第２の発明に係る実施例の構成を示すブロック図、 第４図はこの実施例の動作を示すフローチャート、第５
図は従来例の構成を示すブロック図である。 符号説明 Ｋｉ ：スイッチ、Ｒｔｔ、 Ｒｔｏ ：測温抵抗体、
Ｒｉ、Ｒｏ ：配線抵抗、ｉ ＝ １〜ｎ である。 １．１１：測定部、２．１２ Ｆ測定回路、４：マイク
ロコンピュータ、５ ： ＣＰＵ、７：ＲＯＭ、２３：
多点Ａ／Ｄコンバータ。 代駄弁理士 山 口 巖、≦ “・ｌＩ 」ｊ８１淀舒 第１図 第２図 第３図 第４把 第５０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）２線方式で接続された複数個の測温抵抗体の側から
の各信号に基づいて前記各測温抵抗体に対応する箇所の
温度測定をおこなう装置において、前記各測温抵抗体の
両端を短絡したときの、この測温抵抗体の側からの信号
値を調整値として格納する調整値メモリと；測定時にお
ける前記各測温抵抗体側からの信号値より、前記調整メ
モリに格納された前記各測温抵抗体側に対応する前記調
整値を差し引く減算手段と；を備え、この減算手段から
の出力に基づいて前記各測温抵抗体に対応する箇所の測
温値を得るようにしたことを特徴とする多点温度測定装
置。 ２）２線方式で接続された複数個の測温抵抗体の側から
の各信号に基づいて前記各測温抵抗体に対応する箇所の
温度測定をおこなう装置において、基準温度における前
記各測温抵抗体の側からの信号値を基準値として格納す
る基準メモリと；測定時における前記各測温抵抗体側か
らの信号値より、前記基準メモリに格納された前記各測
温抵抗体側に対応する前記基準値を差し引く減算手段と
；を備え、この減算手段からの出力に基づいて前記各測
温抵抗体に対応する箇所の測温値を得るようにしたこと
を特徴とする多点温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4256988A JPH01216224A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 多点温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4256988A JPH01216224A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 多点温度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01216224A true JPH01216224A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12639694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4256988A Pending JPH01216224A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 多点温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01216224A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018163140A (ja) * | 2017-02-24 | 2018-10-18 | ザ・ボーイング・カンパニーＴｈｅ Ｂｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ | ２線式抵抗温度検出器及び使用方法 |
| JP6756935B1 (ja) * | 2019-07-31 | 2020-09-16 | 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 | 測温システム、測温センサユニット及び測温システムの構成変更方法 |
| WO2023248629A1 (ja) * | 2022-06-23 | 2023-12-28 | 立山科学株式会社 | 温度測定システム |
-
1988
- 1988-02-25 JP JP4256988A patent/JPH01216224A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018163140A (ja) * | 2017-02-24 | 2018-10-18 | ザ・ボーイング・カンパニーＴｈｅ Ｂｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ | ２線式抵抗温度検出器及び使用方法 |
| JP6756935B1 (ja) * | 2019-07-31 | 2020-09-16 | 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 | 測温システム、測温センサユニット及び測温システムの構成変更方法 |
| WO2021019712A1 (ja) * | 2019-07-31 | 2021-02-04 | 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 | 測温システム、測温センサユニット及び測温システムの構成変更方法 |
| WO2023248629A1 (ja) * | 2022-06-23 | 2023-12-28 | 立山科学株式会社 | 温度測定システム |
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