JP2018163140A - ２線式抵抗温度検出器及び使用方法 - Google Patents

Abstract

【課題】高精度な温度測定を可能にする、軽量且つ低コストな２線式抵抗温度検出器を提供する。【解決手段】２線式抵抗温度検出器１０２は、温度変化に応答して変化するセンサ抵抗を有するＲＴＤセンサ１０６を含む。加えて、２線式ＲＴＤ１０２は、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルスを生成するためのパルス発生装置を有する制御ユニット１４０に、ＲＴＤセンサ、電気的に連結するリードペア１３０を含む。２線式ＲＴＤはまた、リードペア間に電気的に連結され、第１の電流パルスを受けると開放状態で動作可能となり、第２の電流パルスを受けると閉鎖状態で動作可能となるスイッチ１６０を含む。開放状態１６２では、第１の電流パルスはリードペアとＲＴＤセンサを通って流れる。閉鎖状態では、第２の電流パルスはリードペアを通って流れる。スイッチによって、制御ユニットはセンサ抵抗（ＲＳ）及び対応するセンサ温度を決定することができる。【選択図】図７

Description

本開示は概して温度測定に関し、より具体的には、改良され高い精度を有する２線式抵抗温度検出器に関する。

適切な操作を行うため、システムによっては高い精度の温度測定を必要とする。例えば、宇宙打ち上げビークルは、様々なサブシステムを正確にモニタして適切に機能させるため、数百個もの温度センサを含みうる。具体的な実施例では、液体推進剤ロケットエンジンを備えた打ち上げビークルは、極低温推進剤の温度を正確にモニタすることが必要になりうる。打ち上げビークルは、極低温推進剤の熱管理のための制御ユニットを有する。制御ユニットは、推進剤タンク、流体導管、バルブ、及びその他の推進剤システム構成要素など、打ち上げビークルの様々な場所で極低温推進剤の温度測定を必要としうる。幾つかの実施例では、制御ユニットは、温度測定が行われる場所から比較的遠く離れたところに配置されることがある。

抵抗温度検出器（ＲＴＤ）は、温度測定が望まれる構成要素に装着されるＲＴＤセンサ（例えば、抵抗素子）を含む装置である。ＲＴＤセンサに少量の電流（すなわち、励起電流）を流すことによって、ＲＴＤセンサの両端に電圧を生成する。ＲＴＤセンサの両端の電圧は、電流がＲＴＤセンサを通過するときのＲＴＤセンサの抵抗を決定するために使用される。センサ抵抗は、センサ抵抗と共に直線的に変化するＲＴＤセンサの温度を決定するために使用される。その際、ＲＴＤセンサが高温になるにつれてセンサの抵抗は大きくなり、逆に、温度が下がれば抵抗は小さくなる。ＲＴＤセンサは、センサ抵抗を決定し、その後センサ温度との関連を決定するため、センサ電圧を測定する制御ユニットに電気的に連結されうる。

従来の２線式ＲＴＤでは、ＲＴＤセンサは、絶縁済み銅ワイヤなど、ワイヤリードペアによって制御ユニットに電気的に連結されうる。残念ながら、ワイヤリードの抵抗はＲＴＤセンサの抵抗に加わり、制御ユニットによって決定される総電気抵抗はＲＴＤセンサ単独よりも大きくなり、その結果、誤った温度測定となる。温度測定の誤差はワイヤリードの長さに比例するため、非常に長いワイヤリードは、これに対応して大きな温度測定誤差をもたらす。加えて、温度が異なればワイヤリードの抵抗も異なる。例えば、打ち上げビークルの極低温推進剤のモニタ用など、極低温度（例えば、−３００Ｆ未満）で従来の２線式ＲＴＤが使用されるときには、極低温度でのワイヤリードの抵抗の変化は相対的に小さいため、温度測定誤差は相対的に大きくなりうる。

従来の２線式ＲＴＤに関連する誤差を補償する試みとして、制御ユニットの総抵抗値をワイヤリードの静抵抗に等しい分だけ調整する方法がある。ワイヤリードの静抵抗は、所定の温度での各ワイヤリードの１フィートあたりの既知の抵抗値に基づいて計算可能である。代替的に、所定の温度でもワイヤリードの静抵抗は測定可能である。残念ながら、飛行中又は稼働中には、ワイヤリードの実際の抵抗は、ワイヤリードの抵抗の計算値又は測定値とは異なることがある。更に、ワイヤリードの長さ方向のある区間は、静抵抗が計算又は測定された温度よりも低いこと、又は高いことがありうる。

従来の２線式ＲＴＤに関連する誤差を補償するその他の試みには、３線式ＲＴＤ及び４線式ＲＴＤの開発が含まれている。３線式ＲＴＤは、標準的な２線式ＲＴＤに第３のワイヤリードを追加する。第３のワイヤリードは、制御ユニットにフィードバック信号を送信するために使用される。制御ユニットはこれを使用して、ワイヤリードに付加された抵抗によって引き起こされる温度測定誤差を補償する。しかしながら、数百個の温度センサを有する宇宙打ち上げビークルの場合、第３のワイヤリードをＲＴＤに付加することは、打ち上げビークルのコストと重量を増大させ、ビークルの性能を損なう。例えば、３線式ＲＴＤの重量の増大は、打ち上げビークルのペイロード能力及び／又は利用できる推進剤の重量を減少させる結果となりうる。４線式ＲＴＤは、標準的な２線式ＲＴＤに２本のワイヤリードを追加し、制御ユニットによる信号電圧測定だけを要求することによって、測定プロセスを単純化する。２本の追加ワイヤは励起電流を伝えないため、測定誤差に影響を及ぼすことはない。しかしながら、４線式ＲＴＤの追加された２本のリードワイヤは、ＲＴＤのコストと重量を更に増大させ、ビークルの性能を更に損なう。

以上のように、当該技術分野においては、高精度な温度測定を可能にする、軽量且つ低コストな抵抗温度検出器が必要になっている。

抵抗温度検出器に関連する上述のニーズは、ＲＴＤセンサの温度変化に応答して変化するセンサ抵抗を有するＲＴＤセンサを含む、２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）を提供する本開示によって、具体的に対処され緩和される。加えて、２線式ＲＴＤは、第１の電流パルス及び第２の電流パルスを生成するように構成された少なくとも１つの電流パルス発生装置を有する制御ユニットに、ＲＴＤセンサを電気的に連結するリードペアを含む。リードペアは全体としてリード抵抗を有する。２線式ＲＴＤはまた、リードペア間に電気的に連結され、第１の電流パルスにさらされると開放状態で動作可能となり、第２の電流パルスにさらされると閉鎖状態で動作可能となるスイッチを含む。開放状態では、第１の電流パルスはリードペアとＲＴＤセンサを通って流れる。閉鎖状態では、第２の電流パルスはスイッチを経由してリードペアを通って流れる。このスイッチにより、制御ユニットは、スイッチが開放状態にあるときにリード抵抗に結合されたセンサ抵抗と、スイッチが閉鎖状態にあるときのリード抵抗との間の差分に基づいて、センサ抵抗とこれに対応するセンサ温度を決定することができる。

制御ユニット及び２線式ＲＴＤを含む温度検出システムも開示される。制御ユニットは、第１の電流パルスと第２の電流パルスを生成するように構成された、少なくとも１つの電流パルス発生装置を有する。２線式ＲＴＤは、ＲＴＤセンサ、ＲＴＤセンサを制御ユニットに電気的に連結するリードペア、並びに、リードペア間に電気的に連結され、第１の電流パルスにさらされると開放状態で動作可能となり、第２の電流パルスにさらされると閉鎖状態で動作可能となるスイッチを含む。スイッチが開放状態にあると、第１の電流パルスはリードペアとＲＴＤセンサを通って流れる。スイッチが閉鎖状態にあると、第２の電流パルスはスイッチを経由してリードペアを通って流れる。制御ユニットは、スイッチが開放状態にあるときにリード抵抗に結合されたセンサ抵抗と、スイッチが閉鎖状態にあるときのリード抵抗との間の差分に基づいて、センサ抵抗とこれに対応するセンサ温度を決定するように構成されている。

加えて、温度測定の方法が開示されている。本方法は、制御ユニットの電流パルス発生装置を使用して、センサ抵抗を有するＲＴＤセンサに制御ユニットを電気的に連結するリードペアの１つのリードに、第１の電流パルスを印加することを含む。リードペアは全体としてリード抵抗を有し、スイッチによって電気的に連結されている。本方法はまた、第１の電流パルスに応答して、開放状態にあるスイッチを操作し、これによって第１の電流パルスがリードペアとＲＴＤセンサを通って流れるようにすることを含む。加えて、本方法はまた、スイッチが開放状態にあるときに、スイッチが開放状態にあるときのセンサ抵抗とリード抵抗の組み合わせを含む第１の抵抗を測定することを含む。本方法は更に、電流パルス発生装置を使用して、リードペアの１つのリードに第２の電流パルスを印加することを含む。加えて、本方法は、第２の電流パルスに応答して、閉鎖状態にあるスイッチを操作し、これによって第２の電流パルスがスイッチを経由してリードペアを通って流れるようにすることを含む。更に、本方法は、スイッチが閉鎖状態にあるときに、リード抵抗を含む第２の抵抗を測定することを含む。本方法はまた、制御ユニットを使用して、第１の抵抗と第２の抵抗との間の差分に基づいて、センサ抵抗とこれに対応するセンサ温度を決定することを含む。

上述した特徴、機能及び利点は、本開示の様々な実施形態において独立して達成可能であり、又は、以下の説明及び図面を参照して更なる詳細が理解可能である更に他の実施形態において組み合わされてもよい。

本開示の上記の及びその他の特徴は、図面を参照することでより明白となり、図面では、全体を通して類似の番号が類似の部分を表している。

温度センサ、温度センサと制御ユニットとの間に延在するリードペア（例えば、２本のワイヤ）、及びリードペア間に電気的に連結されたスイッチを含む、２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）を有する温度検出システムのブロック図である。 本開示の複数の２線式ＲＴＤを組み込んだ打ち上げビークルの非限定的な実施例の図解である。 極低温推進剤の流体導管に装着された本開示の２線式ＲＴＤを図解する、打ち上げビークルの下方部分の拡大図である。 温度に対して、従来の２線式ＲＴＤによって提供される温度測定の誤差をプロットしたグラフである。ここでは、約−３００Ｆを下回る温度として定義される極低温で、比較的大きな誤差が発生することを示している。 薄膜ＲＴＤセンサとして構成されるＲＴＤセンサの実施例の図解である。 ワイヤが巻かれたＲＴＤセンサとして構成される、ＲＴＤセンサの実施例の図解である。 電流パルス発生装置によって生成された第１の電流パルスにさらされた結果として、開放状態又は開放位置にあるスイッチを示す、２線式ＲＴＤの実施例の概略的な図解である。これにより、第１の電流パルスはリードペアと温度センサを通って流れる。 第１の電流パルスよりも大きい第２の電流パルスにさらされた結果として、閉鎖状態又は閉鎖位置にあるスイッチを示す、図７の２線式ＲＴＤの概略的な図解である。これにより、第２の電流パルスはスイッチを経由してリードペアを通って流れる。 パルス周期に対して、スイッチが開放状態にあるときにリードペアとセンサを通って流れる第１の電流パルスと、スイッチが閉鎖状態にあるときにリードペアを通って流れる第２の電流パルスとを交互に印加している間の抵抗値をプロットしたグラフである。 スイッチが、第１の方向に流れる第１の電流パルスにさらされた結果として、開放状態で動作するダイオードを有する受動スイッチである、２線式ＲＴＤの実施例の概略的な図解である。これにより、第１の電流パルスはリードペアと温度センサを通って流れる。 第１の方向と反対の第２の方向に流れる第２の電流パルスにさらされた結果として、閉鎖状態で動作するダイオードを示す図１０の２線式ＲＴＤの概略的な図解である。これにより、第２の電流パルスはリードペアだけを通って流れる。 スイッチが、第１の電流パルスの流れにさらされた結果として、開放状態での動作を示す電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）を有する２線式ＲＴＤの概略的な図解である。これにより、第１の電流パルスはリードペアと温度センサを通って流れる。 第１の電流パルスよりも大きい第２の電流パルスにさらされた結果として、閉鎖状態で動作する電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）を示す図１０の２線式ＲＴＤの概略的な図解である。これにより、第２の電流パルスはリードペアを通って流れる。 パルス周期に対して、同一のパルス周期を有する第１の電流パルスと第２の電流パルスを印加する間の抵抗値をプロットしたグラフで、第１の電流パルスはパルス周期の２５パーセントである第１のパルス幅を有し、第２の電流パルスはパルス周期の５０パーセントである第２のパルス幅を有している。 パルス周期に対して、第１のパルス周期の第１の電流パルスと第２のパルス周期の第２の電流パルスを印加する間の抵抗値をプロットしたグラフで、第１の電流パルスは、第１のパルス周期の２５パーセントである第１のパルス幅、第１のパルス周期の５０パーセントである第２の周期を有し、第２のパルス幅は第２のパルス周期の５０パーセントである。 温度の測定方法に含まれる一又は複数の操作を示すフロー図である。

ここで図面を参照すると、これらの図面は本開示の好ましい様々な実施形態を例示する目的で示されており、図１には、制御ユニット１４０に電気的に連結された２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）１０２を有する温度検出システム１００のブロック図が示されている。２線式ＲＴＤ１０２は、ＲＴＤセンサ１０６、ＲＴＤセンサ１０６と制御ユニット１４０との間に延在する導電性リードペア１３０、及び、リードペア１３０間に電気的に連結されたスイッチ１６０を含む。ＲＴＤセンサ１０６は、プラチナ、ニッケル、銅、又は他の材料から形成された抵抗素子を含み、温度が測定又はモニタされる構成要素２１８に連結されるように構成されている。構成要素２１８は、ＲＴＤセンサ１０６が対象物の温度を測定するために装着される対象物であってよく、或いは、構成要素２１８は、流体の温度を測定するためにＲＴＤセンサ１０６が浸される流体などの材料であってよい。ＲＴＤセンサ１０６は、センサ温度Ｔの変化に応答して、直線的に変化するセンサ抵抗Ｒ_Ｓを有する。

リードペア１３０は、リードペア間にそれぞれ延在し、ＲＴＤセンサ１０６を制御ユニット１４０に電気的に連結する第１のリード１３２と第２のリード１３４を含む。リード１３０は、絶縁又は非絶縁の金属（例えば、銅、アルミニウムなど）ワイヤなど、導電性ワイヤとして提供されうる。リードペア１３０は全体として、温度と共に変化するリード抵抗Ｒ_Ｌを有する。リード抵抗Ｒ_Ｌは、第１のリード１３２の第１のリード抵抗Ｒ_Ｌ１と第２のリード１３４の第２のリード抵抗Ｒ_Ｌ２との和である。第１のリード１３２及び第２のリード１３４は、第１のリード抵抗Ｒ_Ｌ１と第２のリード抵抗Ｒ_Ｌ２とが実質的に同等となるように、同一の長さ、ゲージ及び材料であることが好ましい。

制御ユニット１４０は、一又は複数の２線式ＲＴＤ１０２専用の独立型ユニットであってもよく、或いは、制御ユニット１４０は、電子モジュール（図示せず）又は別のシステム（図示せず）の装置に一体化されてもよい。制御ユニット１４０は、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を生成するように構成された、少なくとも１つの電流パルス発生装置１４２を有する。例えば、制御ユニット１４０は、以下でより詳細に説明されるように、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を、図７及び図８に示したように、一又は複数のリード１３０に印加するように構成された単一の電流パルス発生装置１４２を含みうる。代替的に、制御ユニット１４０は、第１のパルス発生装置１４４及び第２パルス発生装置１５２を含みうる。第１のパルス発生装置１４４は第１の電流パルス１４６を印加するように構成されてよく、第２の電流パルス発生装置１５２は第２の電流パルス１５１を印加するように構成されてよい。

制御ユニット１４０が単一の電流パルス発生装置１４２、すなわち、第１の電流パルス発生装置１４４及び第２の電流パルス発生装置１５２を含むか否かにかかわらず、第１の電流パルス１４６は第１のリード１３２又は第２のリード１３４に印加されてよく、第２の電流パルス１５１は第１のリード１３２又は第２のリード１３４に印加されてよい。幾つかの実施例では、第１の電流パルス１４６は第２の電流パルス１５１と同じ大きさを有しうる。他の実施例では、第２の電流パルス１５１は第１の電流パルス１４６を上回る大きさを有しうる。第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１はそれぞれ、ミリアンペア（ｍＡ）オーダーの比較的小さな値を有しうる。例えば、第１の電流パルス１４６は約１ｍＡであってよく、第２の電流パルス１５１は約１ｍＡ又は２ｍＡであってよい。以下でより詳細に説明するように、ＲＴＤセンサ１０６の高い公称抵抗Ｒ_０に対して、リード１３０の低い抵抗（例えば、２０°Ｃで１２ゲージの長さ１００フィートの銅線に対して１Ω未満）を補償するためには、第２の電流パルス１５１はより大きいことが望ましい。例えば、ＲＴＤセンサ１０６は、０°Ｃで数百Ωのオーダー（例えば、１００Ω、２００Ω、５００Ω、１０００Ω、５０００Ωなど）の公称抵抗Ｒ_０を有しうる。

図７及び図８を参照すると、有利には、スイッチ１６０は、第１の電流パルス１４６にさらされるときには、開放状態１６２（図７）で動作可能であり、スイッチ１６０は、第２の電流パルス１５１にさらされるときには、閉鎖状態１６４（図８）で動作可能である。幾つかの実施例では、開放状態１６２にあるスイッチ１６０により、第１の電流パルス１４６はスイッチ１６０を迂回し、リードペア１３０とＲＴＤセンサ１０６を通って並列に流れる。例えば、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときには、第１の電流パルス１４６は、第１のリード１３２、ＲＴＤセンサ１０６、及び第２のリード１３４を通って並列に流れうる。スイッチ１６０が閉鎖状態１６４にあるときには、第２の電流パルス１５１はスイッチ１６０を通ってシャントされ、ＲＴＤセンサ１０６を迂回し、これによって、第２の電流パルス１５１はスイッチ１６０を経由してリードペア１３０を通って流れる。例えば、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときには、第２の電流パルス１５１は第１のリード１３２、スイッチ１６０、及び第２のリード１３４を通って並列に流れ、また、第２の電流パルスはＲＴＤセンサ１０６を通って流れない。

第１の抵抗と第２の抵抗との間の差分に基づいて、スイッチ１６０により、制御ユニット１４０はセンサ抵抗Ｒ_Ｓと対応するセンサ温度Ｔを決定することができる。第１の抵抗は、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときには、リード抵抗Ｒ_Ｌに結合されたセンサ抵抗Ｒ_Ｓを表わす。第２の抵抗は、スイッチ１６０が閉鎖状態１６４にあるときには、リード抵抗Ｒ_Ｌを表わす。制御ユニット１４０は電圧計を含んでもよく、そうでない場合には、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときに、第１の電流パルス１４６の印加中にリードペア１３０の両端の電圧Ｖ_Ｍを測定することによって、第１の抵抗を決定するように構成されてもよい。制御ユニット１４０は、スイッチ１６０が閉鎖状態１６４にあるときに、第２の電流パルス１５１の印加中にリードペア１３０の両端の電圧Ｖ_Ｍを測定することによって、第２の抵抗を決定しうる。第１の電流パルス１４６の大きさの既知の値、及び、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときに測定された電圧Ｖ_Ｍを使用すると、第１の抵抗は、Ｖ＝Ｉ×Ｒという関係式を用いて計算されうる。同様に、第２の電流パルス１５１の大きさの既知の値、及び、スイッチ１６０が閉鎖状態１６４にあるときに測定された電圧Ｖ_Ｍを使用すると、第２の抵抗が計算されうる。第１の抵抗と第２の抵抗との間の差分として計算されたセンサ抵抗Ｒ_Ｓは、２線式ＲＴＤ１０２のセンサ温度を計算するため、以下の関係式で使用できる。
Ｒ_Ｓ＝Ｒ_０［１＋ａＴ＋ｂＴ^２＋ｃＴ^３（Ｔ−１００）］ （方程式１００）
上記式において、
Ｒ_Ｓ＝温度ＴでのＲＴＤセンサ抵抗
Ｒ_０＝ＲＴＤセンサの０°Ｃでの公称抵抗
ａ、ｂ、及びｃ＝０°Ｃ（係数ａに対して）、１００°Ｃ（係数ｂに対して）、及び２６０°Ｃ（係数ｃに対して）でのＲＴＤセンサ１０６の実験的に決定された抵抗測定値に由来しうるカレンダー・ヴァン・ドゥーセン係数

図２及び図３は、本開示の２線式ＲＴＤ１０２の一又は複数の実施例を組み込みうる打ち上げビークルの実施例を示す。打ち上げビークル２００は、ロケットエンジン２１２を含むエンジンセクション２１４を有する。加えて、打ち上げビークル２００は、液体水素（ＬＨ_２）などの極低温燃料を収容する燃料タンク２１０、及び、液体酸素（ＬＯＸ）などを極低温酸化剤を収容する酸化剤タンクを含む、極低温推進剤タンク２０６のペアを有する。推進剤タンク２０６はそれぞれ、流体導管２１６によってエンジンセクション２１４に流体連結されている。本開示の複数の２線式ＲＴＤ１０２は、温度モニタリングのため、打ち上げビークル２００の様々な構成要素２１８に装着されうる。例えば、一又は複数の２線式ＲＴＤ１０２は、図２に示したように、極低温推進剤タンク２０６の各々に装着されてもよく、及び／又は、一又は複数の２線式ＲＴＤ１０２は、図３に示したように、流体導管２１６に装着されてもよい。

図２では、制御ユニット１４０は、打ち上げビークル２００の前端でペイロード２０２を支えるペイロード取付金具２０４に装着された状態で示されており、そのため、制御ユニット１４０とＲＴＤセンサ１０６の配置の一部との間で、比較的長いリード１３０を生む結果となっている。これに加えて、リード１３０は、リード１３０の長さ方向の異なる場所で異なる温度にさらされることがありうる。更には、リード１３０は、極低温推進剤タンク２０６などの極低温源に近接してルート設定されている場合には、極低温にさらされうる。図４の温度対測定誤差のプロットで示したように、本書で定義されている−３００Ｆ（−１８４°Ｃ）を下回る温度の極低温では、従来の２線式ＲＴＤの温度測定誤差は比較的大きい。有利には、本開示の２線式ＲＴＤ１０２では、スイッチ１６０の追加は、リード１３０の抵抗と温度測定に関連する誤差を取り除く手段をもたらす。

図２及び図３は、打ち上げビークル２００の極低温推進剤システム構成要素２１８に取り付けられたＲＴＤセンサ１０６を示しているが、ＲＴＤセンサ１０６はまた、ロケットエンジン２１２の構成要素、スラスタ、冷却システム構成要素、太陽電池、ラジエータ、及び電子コンポーネントなど、その他の構成要素に取り付けられてもよい。その際、本開示のＲＴＤセンサ１０６は、任意の種類のビークル、非ビークル、システム、サブシステム、アセンブリ、サブアセンブリの任意の種類の構成要素に取り付けられてよく、制限はない。例えば、一又は複数のＲＴＤセンサ１０６は、燃料システムの構成要素、航空機エンジン、環境制御システム、電気システム、油圧システム、電気機械システム、航空電子工学システム、ブレーキングシステム、及び飛行制御システムなど、航空機の構成要素に取り付けられてもよい。加えて、ＲＴＤセンサ１０６は、流体の温度を測定又はモニタするための流体など、非固体材料に接するように装着又は配置されてもよい。

図５を参照すると、薄膜ＲＴＤセンサ１０８として構成されたＲＴＤセンサ１０６の実施例が示されている。薄膜ＲＴＤセンサ１０８は、プラチナ、ニッケル、銅、鉄、又は他の材料、或いはこれらの組み合わせなどの抵抗材料で形成される薄膜抵抗層１１２を含む。薄膜抵抗層１１２は、ガラス、セラミック、或いは他の任意の非導電性材料から形成されうる非導電性基板１１０上の曲がりくねったパターンに堆積されてもよい。ガラス又はセラミックなどの非導電性コーティング１１４は、保護のため、薄膜抵抗層１１２の上に適用されてもよい。接続素子１１６は、薄膜センサ１０８を２線式ＲＴＤ１０２のリードペア１３０に電気的に接続するための手段を提供するため、薄膜抵抗層１１２の各端部に連結されてもよい。

図６を参照すると、ワイヤが巻かれたＲＴＤセンサ１１８として構成される、ＲＴＤセンサ１０６の実施例が示されている。ワイヤが巻かれたＲＴＤセンサ１１８は、プラチナ、ニッケル、銅、鉄、又は他の材料、或いは材料の組み合わせで形成される抵抗コイル１２２を含む。一実施形態では、抵抗コイル１２２は、ガラス及び／又はセラミックで形成される非導電性コア１２０のボア（図示せず）内に取り付けられうる。代替的に又は追加的に、抵抗コイル１２２は、ガラス又はセラミックのシリンダとなりうる非導電性コア１２０の周囲に巻きつけられてもよい。ガラス及び／又はセラミックの非導電性コーティング１１４は、保護のため、抵抗コイル１２２の上に適用されてもよい。抵抗コイル１２２の対向端部はそれぞれ、抵抗コイル１２２を２線式ＲＴＤ１０２のリードペア１３０に電気的に連結するための接続素子１１６を含みうる。

図７及び図８を参照すると、スイッチ１６０の一例の動作を示す２線式ＲＴＤ１０２の実施例が示されている。極低温（例えば、−３００Ｆ）にさらされた環境などのある種の応用では、２線式ＲＴＤ１０２のスイッチ１６０は、好ましくは、可動部を有さない受動スイッチ１７４（例えば、図１０〜図１３）である。他の実施形態では、スイッチ１６０は、図７に示したように開放状態１６２又は開放位置１７０で、或いは、図８に示したように閉鎖状態１６４又は閉鎖位置１７２で、動くことができる、及び／又は枢動可能に位置決めできる可動素子１６８を有するマイクロメカニカルスイッチなどの能動スイッチ１６６（例えば、図７〜図８）として構成されうる。

図７では、制御ユニット１４０の電流パルス発生装置１４２は、第１のリード１３２に第１の電流パルス１４６を印加するように示されている。第１の電流パルス１４６は、第１のリード１３２に沿って、制御ユニット１４０からスイッチ１６０へ向かう第１の方向１４９に流れるように示されている。第１の電流パルス１４６にさらされると、スイッチ１６０は開放位置１７０へ動かされるか開放位置１７０に保持され、これにより、第１の電流パルス１４６はリードペア１３０とＲＴＤセンサ１０６を通って流れる。リードペア１３０とＲＴＤセンサ１０６を通る第１の電流パルス１４６の流れは、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるとき、センサ抵抗Ｒ_Ｓとリード抵抗Ｒ_Ｌを組み合わせた和である第１の抵抗をもたらす。上述のように、制御ユニット１４０は、リード１３０が電流パルス発生装置１４２に電気的に結合される位置で、リード１３０の両端の電圧Ｖ_Ｍを測定することによって、回路全体の第１の抵抗を決定する。制御ユニット１４０は、スイッチ１６０が開放位置１７０にあって、第１の電流パルス１４６がリード１３０とＲＴＤセンサ１０６を通って流れ、図７の実施例でスイッチ１６０を迂回するときの電圧Ｖ_Ｍを測定する。

図８は、電流パルス発生装置１４２が第１のリード１３２に第２の電流パルス１５１を印加し、これにより、スイッチ１６０は、第１の電流パルス１４６を上回る大きさの第２の電流パルス１５１にさらされる結果として、閉鎖状態１６４にされるか、閉鎖位置１７２に置かれる。第２の電流パルス１５１は第１のリード１３２に印加されてもよく、第１の方向１４９に沿って制御ユニット１４０からスイッチ１６０へ向かって流れてもよい。第２の電流パルス１５１にさらされると、スイッチ１６０は閉鎖位置１７２へ動かされるか閉鎖位置１７２に保持され、これにより、第２の電流パルス１５１はスイッチ１６０を経由してリード１３０を通って流れる。その際、第２の電流パルス１５１は、最小抵抗の経路、すなわち、閉鎖されたスイッチ１６０を通って流れる。ある実施例では、スイッチが閉鎖位置１７２にあるときには、第２の電流パルス１５１はＲＴＤセンサ１０６を迂回する。スイッチ１６０を経由してリードペア１３０を通る第２の電流パルス１５１の流れは、リード抵抗Ｒ_Ｌとして定義される第２の抵抗をもたらす。上記に示したように、リード抵抗は第１のリード抵抗Ｒ_Ｌ１と第２のリード抵抗Ｒ_Ｌ２の和である。制御ユニット１４０は、スイッチ１６０が閉鎖位置１７２にあって、第２の電流パルス１５１がスイッチ１６０を経由してリード１３０を通って流れるときに、測定電圧Ｖ_Ｍを測定することによって第２の抵抗を決定する。

２線式ＲＴＤ１０２の幾つかの実施形態では、スイッチ１６０は通常、開放状態１６２又は開放位置１７０へ付勢されうる。例えば、可動素子１６８を有するマイクロメカニカルスイッチなど、能動スイッチ１６６（例えば、図７〜図８）に関しては、スイッチ１６０は開放位置１７０へ付勢されうる。受動スイッチ１７４（図１０〜図１３）、スイッチ１６０は開放状態１６２へ付勢される。スイッチ１６０を開放位置１７０又は開放状態１６２へ付勢することによって、閉鎖状態１６４でのスイッチ１６０の動作が失敗した場合、或いは、第２の電流パルス１５１にさらされたときに閉鎖位置１７２への移動が失敗した場合でも、制御ユニット１４０は、センサ温度測定値の生成を継続しうる。その際、測定値がリード抵抗Ｒ_Ｌの誤差に対して補正されていなくても、制御ユニット１４０がセンサ温度測定値の提供を継続しうるように、スイッチ１６０を開放状態１６２又は開放位置１７０へ付勢することによって、第１の電流パルス１４６はＲＴＤセンサ１０６とリード１３０を通って流れることができる。

本開示の２線式ＲＴＤ１０２の任意の実施形態では、スイッチ１６０は好ましくは、センサ温度Ｔの誤差を最小化するため、第２の電流パルス１５１が流れるリード１３０の長さを最大化するための手段として、ＲＴＤセンサ１０６に比較的近接した範囲内に配置される。一実施例では、スイッチ１６０は、ＲＴＤセンサ１０６から、リードペア１３０の第１のリード１３２又は第２のリード１３４の長さの約１０パーセント未満の距離に配置されうる。より好ましくは、スイッチ１６０は、ＲＴＤセンサ１０６から、リード１３０の長さの約１パーセント未満の距離に配置される。上記に示したように、リード１３０の各々は、任意選択ではあるが同じ長さであることが望ましい。例えば、リード１３０が同じ長さではない２線式ＲＴＤ１０２の実施例では、スイッチ１６０は、最も長いリードの長さの１０パーセント未満の距離の範囲内に、より好ましくは約１パーセント未満の長さの範囲内に配置されうる。幾つかの実施例では、スイッチ１６０は、センサアセンブリ１０４を形成するため、ＲＴＤセンサ１０６に組み込まれてもよい。その際、スイッチ１６０とＲＴＤセンサ１０６は、２線式ＲＴＤ１０２を形成するため、リードペア１３０に接続されうる単一のユニットを形成するように製造又は組み立てられうる。２線式ＲＴＤ１０２は、温度検出システム１００を形成するため、制御ユニット１４０に電気的に結合されうる。

図９を参照すると、パルス周期に対して、本開示の２線式ＲＴＤ１０２を介して、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を交互に印加する概念実証的な方法を示す実施例での抵抗をプロットしたグラフが示されている。ここに示した実施例では、第１のリード抵抗ＲＬ１、第２のリード抵抗ＲＬ２、及びセンサ抵抗Ｒ_Ｓはそれぞれ、定数値２に設定されている。第１の電流パルス１４６は１ｍＡの大きさを有し、周期１秒の第１のパルス周期１５０で印加される。第２の電流パルス１５１は周期１秒の第２のパルス周期１５６で印加される。第２の電流パルス１５１は、第１の電流パルス１４６と同じ大きさで印加されてもよく、或いは、第２の電流パルス１５１は、第１の電流パルス１４６を上回る大きさ（例えば、２ｍＡ）など、異なる大きさで印加されてもよい。本開示では、パルス周期は、同じタイプの連続する電流パルス間の時間の量（例えば、連続する第１の電流パルス間の時間周期）として、記述されうる。図９では、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１は、スイッチ１６０が開放状態１６２と閉鎖状態１６４を交互に入れ換える方法で、リード１３０に印加される。上述のように、リード１３０の両端で測定された電圧Ｖ_Ｍに基づいて、制御ユニット１４０は、第１の電流パルス１４６が毎回印加されるときに、第１の測定抵抗が６Ωであると決定し、また、第２の電流パルス１５１が毎回印加されるときに、第２の測定抵抗が４Ωであると決定する。

図９のグラフは、第１のパルス周期１５０の約５０パーセントとなる第１のパルス幅１４８を有する第１の電流パルス１４６を示しているが、第１のパルス幅１４８は第１のパルス周期１５０の５０パーセント未満であってもよく、或いは、第１のパルス幅１４８は第１のパルス周期１５０の５０パーセントを超えてもよい。同様に、第２のパルスは、第１のパルス周期１５０の約５０パーセントとなる第２のパルス幅１５４を有するように示されているが、第２のパルス幅１５４は、第１のパルス周期１５０の５０パーセント未満であってもよく、或いは、５０パーセントを超えてもよい。幾つかの実施例では、第２のパルス幅１５４は、第１のパルス幅１４８に重ならないこともある。しかしながら、他の実施例では、第２のパルス幅１５４は、第１のパルス幅１４８の少なくとも一部と重なりうる。加えて、図９のグラフは、第１の電流パルス１４６に毎回印加される第２の電流パルス１５１を示しているが、電流パルス発生装置１４２（例えば、第１の電流パルス発生装置１４４と第２の電流パルス発生装置１５２）は、第１の電流パルス１４６を複数回印加した後に第２の電流パルス１５１が印加されるような方法で操作されてもよい。その際、電流パルス発生装置１４２又は第２の電流パルス発生装置１５２は、第１の電流パルス１４６がリード１３０に印加される割合を下回る割合で、第２の電流パルス１５１を印加してもよい。例えば、第２の電流パルス１５１は、第１の電流パルス１４６が９回ずつ印加された後に印加されてもよい。このようなアレンジメントでは、制御ユニット１４０は、センサ温度Ｔの決定に関して、第２の抵抗（例えば、リード抵抗Ｒ_Ｌのみ）の直前に決定された値を使用するように構成されうる。

図１０〜図１１を参照すると、スイッチ１６０がダイオード１７６を有する受動スイッチ１７４として構成されている、２線式ＲＴＤ１０２の実施例が示されている。図１０に示したように、ダイオード１７６は、第１の電流パルス１４６にさらされるときに、開放状態１６２で動作可能である。図１１に示したように、ダイオード１７６は、第１の電流パルス１４６と同じ又は異なる大きさで、第１の電流パルス１４６に対して反対方向に流れる第２の電流パルス１５１にさらされるとき、閉鎖状態１６４で動作可能となる。ダイオード１７６はカソード１８０とアノード１７８を有する。図１０〜図１１では、カソード１８０は第１のリード１３２に連結され、アノード１７８は第２のリード１３４に連結される。このような配向では、ダイオード１７６は、電流パルス発生装置１４２によって第１のリード１３２に第１の方向１４９で印加される第１の電流パルス１４６にさらされるときには、開放状態１６２で動作可能となり、電流パルス発生装置１４２によって第２のリード１３４に、第１の方向１４９とは反対の第２の方向１５５で印加される第２の電流パルス１５１にさらされるときには、閉鎖状態１６４で動作可能となる。代替的に、ダイオード１７６は、カソード１８０が第２のリード１３４に連結され、アノード１７８が第１のリード１３２に連結されるように配向されてよく、この場合、第１の電流パルス１４６は第２のリード１３４に第２の方向１５５で印加され、その結果、ダイオード１７６は開放状態１６２で動作可能になり、また、第２の電流パルス１５１は第１のリード１３２に第１の方向１４９で印加され、その結果、ダイオード１７６は閉鎖状態１６４で動作可能になる。

第１の電流パルス１４６を第２の電流パルス１５１とは反対の方向に印加することを要求する２線式ＲＴＤ１０２の実施形態では、電流パルス発生装置１４２は、第１の電流パルス１４６をリード１３０のうちの１つに第１の方向１４９で印加し、第２の電流パルス１５１を残りのリード１３０に第２の方向１５５で印加するように構成された双方向パルス発生装置１５８として提供されうる。ダイオード１７６として構成されたスイッチ１６０に関しては、第１の電流パルス１４６の大きさは、任意選択により、第２の電流パルス１５１と同じ大きさであってもよい。しかしながら、第２の電流パルス１５１の大きさは、第１の電流パルス１４６を上回ることも、下回ることもありうる。好ましくは、上述のように、ＲＴＤセンサ１０６の高抵抗に対してリードペア１３０単体の低抵抗を補償するため、第２の電流パルス１５１の大きさは第１の電流パルス１４６の大きさを上回っている。

本書に開示の任意の実施形態では、スイッチ１６０は、開放状態１６２にあるスイッチ１６０を通る第１の電流パルス１４６の漏洩を防止するように構成されうる。しかしながら、あるスイッチ構成に関しては、スイッチ１６０を通る第１の電流パルス１４６の比較的小さな漏洩が起こりうる。例えば、第１の電流パルス１４６の比較的小さな漏洩は、図１０のダイオード１７６を通って、或いは図１２のツェナーダイオード１９０、ＦＥＴ１８２、及び／又はスイッチ抵抗１９２を通って起こりうる。このような第１の電流パルス１４６の比較的小さな漏洩は、上述のように、センサ抵抗Ｒ_Ｓとリード抵抗Ｒ_Ｌとの組み合わせを示す第１の抵抗に対して、スイッチ抵抗の寄与分は比較的小さい結果となることがある。幾つかの実施例では、制御ユニット１４０は、第１の抵抗を決定するときには、スイッチ抵抗の寄与分を無視するように構成されうる。その際、スイッチ抵抗の大きさは、リード抵抗Ｒ_Ｌとセンサ抵抗Ｒ_Ｓを組み合わせた合計値に対して、比較的小さくなりうる。例えば、スイッチ抵抗は、リード抵抗Ｒ_Ｌとセンサ抵抗Ｒ_Ｓを組み合わせた合計値の１０パーセント未満になりうる。

他の実施例では、制御ユニット１４０は、第１の抵抗を決定するとき、及び／又は第２の抵抗を決定するとき、スイッチ抵抗を補償するように構成されうる。例えば、制御ユニット１４０は、スイッチ抵抗を補償するため、第１の抵抗又は第２の抵抗を一定量（例えば、１Ω）だけ減じるようにプログラムされうる。スイッチ抵抗の値は、ＲＴＤセンサが装着される構成要素の予想される動作温度範囲の平均温度に基づいて、事前に決定されてもよい。別の実施例では、制御ユニット１４０は、スイッチ抵抗の値を決定するため、スイッチ抵抗に対して直前に決定されたセンサ温度の一覧表を参照するようにプログラムされうる。更には、制御ユニット１４０は、標準温度でのスイッチ抵抗の公称値（例えば、０°Ｃで１Ω）及び同じ標準温度でのＲＴＤセンサの公称値（例えば、０°Ｃで５００Ω）に基づいて、センサ抵抗Ｒ_Ｓの百分率としてスイッチ抵抗を決定し、直前に決定されたセンサ温度の各増減（例えば、センサ温度が１°Ｃ変化するごとの公称スイッチ抵抗の数パーセントの変化）に比例して、スイッチ抵抗を動的に増減するようにプログラムされうる。

ある実施例では、閉鎖状態（例えば、図８、図１１、及び図１３）にあるスイッチ１６０は、第２の電流パルス１５１がＲＴＤセンサを通って流れるのを防止するように構成されうる。しかしながら、スイッチ１６０が閉鎖状態にあるときに、ある量の第２の電流パルス１５１が流れるスイッチ構成に関しては、上述のように、第１のリード１３２と第２のリード１３４のリード抵抗Ｒ_Ｌを示す第２の抵抗を決定するときには、制御ユニット１４０は、センサ抵抗Ｒ_Ｓへの寄与値を無視するように構成されうる。代替的に、制御ユニット１４０は、第２の抵抗を決定するときに、センサ抵抗Ｒ_Ｓを補償するように構成されてもよい。スイッチ抵抗（例えば、１０Ω未満）に比べて、センサ抵抗ＲＳ（例えば、１００Ω、５００Ωなど）は大きな値であるため、第２の電流パルス１５１の比較的小さな部分がＲＴＤセンサを通って流れ、制御ユニット１４０によって決定されるように、第２の抵抗に対してはセンサ抵抗Ｒ_Ｓによる寄与分は比較的小さい結果となる。

図１２〜図１３を参照すると、スイッチ１６０が電界効果トランジスタ１８２（ＦＥＴ）を含む２線式ＲＴＤ１０２の実施例が示されている。ＦＥＴ１８２はゲート１８４、ドレイン１８６、及びソース１８８を有する。示した実施例では、ソース１８８は第１のリード１３２に連結されており、ドレイン１８６は第２のリード１３４に連結されている。ＦＥＴ１８２のゲート１８４は、ツェナーダイオード１９０のアノード１７８に接続されている。ツェナーダイオード１９０のカソード１８０は第１のリード１３２に連結されている。ＦＥＴ１８２のゲート１８４はまた、スイッチ抵抗１９２の一端に接続されている。スイッチ抵抗１９２の対向端は第２のリード１３４に連結されている。このようなアレンジメントでは、ＦＥＴ１８２は、第１の電流パルス１４６にさらされると、開放状態１６２で動作可能で（例えば、図１２）、第１の電流パルス１４６を上回る大きさで、第１の電流パルス１４６と同じ方向に流れる第２の電流パルス１５１にさらされると、閉鎖状態１６４で動作可能である（例えば、図１３）。ＦＥＴ１８２が開放状態１６２にあるとき、第１の電流パルス１４６はリードペア１３０とＲＴＤセンサ１０６を通って流れる。ＦＥＴ１８２が閉鎖状態１６４にあるときには、第２の電流パルス１５１はリードペア１３０のみを通って流れる。

図１４を参照すると、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を図９に示したように切れ目なく印加する際の電力消費の増加とは対照的に、電力消費を低減する方法で第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を連続して印加している間に、パルス周期に対して抵抗をプロットしたグラフが示されている。その際、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルスは、各パルス周期のある期間内に、２線式ＲＴＤ１０２にエネルギーが付与されないような方法で印加されうる。上述のように、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１はそれぞれ、第１の電流パルス発生装置１４４と第２の電流パルス発生装置１５２によって、リード１３０に印加されうる。

図１４では、第１の電流パルス発生装置１４４は、所定の第１のパルス周期で（例えば、毎秒）リード１３０の１つに第１の電流パルス１４６を印加しうる。第１のパルス周期１５０の値は、モニタされる構成要素の所望の温度サンプリングレートで決定されうる。図１４では、第１の電流パルス１４６は、第１のパルス周期１５０を下回る第１のパルス幅１４８を有する。第２の電流パルス発生装置１５２は、第１のパルス周期１５０と同程度の第２のパルス周期１５６で、第２の電流パルス１５１を印加してもよい。第２の電流パルス１５１は、第１のパルス周期１５０よりも短く、第１のパルス幅１４８よりも長い第２のパルス幅１５４を有し、第１のパルス周期１５０中にある期間だけＲＴＤセンサ１０６に電圧が加えられることがないように、前記第１のパルス幅１４８の少なくとも一部と重なっている。例えば、図１４では、第１のパルス幅１４８は第１のパルス周期１５０の約２５パーセントで、第２のパルス幅１５４は第１のパルス周期１５０の約５０パーセントである。第２のパルス幅１５４は、第１のパルス幅１４８に重なる。第２のパルス幅１５４が第１のパルス幅１４８に重なるときには、第２の電流パルス１５１は第１の電流パルス１４６に付加される。図１４は、パルス周期１５０、１５６の５０パーセントでは、２線式ＲＴＤ１０２に電圧が加えられることがなく、その結果、パルス周期中に第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１との組み合わせによって、２線式ＲＴＤ１０２に常に電圧が加えられていることを示す図９の２線式ＲＴＤ１０２の電力消費と比較して、２線式ＲＴＤ１０２の電力消費が低減されることを示している。

図１５を参照すると、パルス周期に対して、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１を２線式ＲＴＤ１０２に印加している間の電力消費を低減するアレンジメントの別の実施例での抵抗をプロットしたグラフが示されている。図１５の実施例に関しては、第１の電流パルス発生装置１４４は、第１のパルス周期１５０でリード１３０の１つに（例えば、第１のリードに）第１の電流パルス１４６を印加してもよい。第１の電流パルス１４６は、第１のパルス周期１５０を下回る第１のパルス幅１４８を有しうる。第２の電流パルス発生装置１５２は、第１のパルス周期１５０の一部（例えば、２分の１）となる第２のパルス周期１５６で、第１のパルス周期１５０中に、第２のパルス幅１５４が第１のパルス幅１４８の少なくとも一部と重なり、また、ＲＴＤセンサ１０６に電圧が加えられることがないような方法で、第２の電流を印加してもよい。図１５では、第１のパルス幅１４８は、周期１秒の第１のパルス周期１５０の約２５パーセントである。第２のパルス幅１５４は、第１のパルス周期１５０の約２５パーセントである。加えて、第２のパルス周期１５６は、第１のパルス周期１５０の半分である。第１のパルス周期１５０中に、第２のパルス幅１５４は第１のパルス幅１４８の少なくとも一部に重なり、付加される。

図１６は、本開示の温度検出システム１００を使用した温度測定の方法に含まれる一又は複数の操作を有するフロー図である。本方法のステップ３０２は、制御ユニット１４０の電流パルス発生装置１４２を使用して、第１の電流パルス１４６をリードペア１３０の１つのリード１３０に印加することを含む。上に示されているように、リードペア１３０は、センサ抵抗Ｒ_Ｓを有するＲＴＤセンサ１０６に制御ユニット１４０を電気的に連結する。リードペア１３０は全体としてリード抵抗ＲＬを有し、上述のように、スイッチ１６０によって互いに電気的に連結されている。

本方法のステップ３０４は、第１の電流パルス１４６にさらされるスイッチ１６０に応答して、開放状態１６２にあるスイッチ１６０を操作することを含む。図７は、開放状態１６２又は開放位置１７０にあるスイッチ１６０の実施例を示す。上に示したように、開放状態１６２にあるスイッチ１６０によって、第１の電流パルス１４６はリードペア１３０とＲＴＤセンサ１０６を通って流れる。

ステップ３０６は、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときに、制御ユニット１４０で第１の抵抗を測定することを含む。上述のように、第１の抵抗は、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるときに、センサ抵抗ＲＳとリード抵抗ＲＬの組み合わせを含み、第１の電流パルス１４６はＲＴＤセンサ１０６とリード１３０を通って流れる。制御ユニット１４０は、第１の電流パルス１４６の印加中に、リード１３０の両端の測定電圧Ｖ_Ｍを測定する能力を含む。上に示したように、スイッチ１６０が開放状態１６２にあるとき、制御ユニット１４０は、測定電圧ＶＭと第１の電流パルス１４６の大きさに基づいて、第１の抵抗（例えば、センサ抵抗Ｒ_Ｓとリード抵抗Ｒ_Ｌの和）を計算する。

本方法のステップ３０８は、電流パルス発生装置１４２を使用して、リードペア１３０の１つのリード１３０に第２の電流パルス１５１を印加することを含む。リード１３０の１つに第２の電流パルス１５１を印加するステップは、第１の電流パルス１４６を上回る大きさで第２の電流パルス１５１を印加することを含みうる。上に示したように、第１の電流パルス１４６を上回る大きさで第２の電流パルス１５１を印加することは、ＲＴＤセンサ１０６の抵抗よりも小さな抵抗のリード１３０に対して補償しうる。

幾つかの実施例では、リード１３０の１つに第１の電流パルス１４６を印加するステップは、第１の電流パルス発生装置１４４を使用して実行されてよく、リード１３０の１つに第２の電流パルス１５１を印加するステップは、第２の電流パルス発生装置１５２を使用して実行されてよい。第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１が、単一の電流パルス発生装置１４２によって印加されるか、第１の電流パルス発生装置１４４と第２の電流パルス発生装置１５２によってそれぞれ印加されるかにかかわらず、本方法３００の幾つかの実施例は、第１の電流パルス１４６の第１のパルス幅１４８に重ならない第２のパルス幅１５４で、第２の電流パルス１５１を印加することを含みうる。

図１４を手短に参照すると、第１の電流パルス１４６をリード１３０の１つに印加するステップ３０２は、第１の電流パルス発生装置１４４を使用して、第１の電流パルス１４６をリード１３０の１つに（例えば、第１のリードに）第１のパルス周期で印加することを含みうる。第１の電流パルス１４６は、第１のパルス周期１５０を下回る第１のパルス幅１４８で印加されうる。例えば、第１のパルス幅１４８は、第１のパルス周期１５０の５０パーセントになりうる。第２の電流パルス１５１をリード１３０の１つに印加するステップ３０８は、第２の電流パルス発生装置１５２を使用して、第１のパルス周期１５０と同程度の第２のパルス周期１５６で、第２の電流パルス１５１を印加することを含みうる。図１４に示したように、第２の電流パルス１５１は、第２の電流パルス１５１は、第１のパルス周期１５０よりも短く、第１のパルス幅１４８よりも長い第２のパルス幅１５４を有してもよく、また、第１のパルス周期１５０中にある期間だけＲＴＤセンサ１０６に電圧が加えられることがないように、第１のパルス幅１４８の少なくとも一部と重なっていてもよい。上述のように、このようなアレンジメントは、ＲＴＤセンサ１０６が第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１との組み合わせによって、常に電圧が加えられている図９に示されたアレンジメントと比較して、電力消費を低減する結果となりうる。電力消費を低減する更なる実施例では、本方法は、一連の第１の電流パルス１４６が印加される割合を下回る割合で、第２の電流パルス１５１（例えば、較正パルス）を印加することを含みうる。第１の電流パルス１４６は好ましくは、構成要素２１８の温度をサンプリングするのに望ましい割合と同程度の割合で印加される。

図１５を手短に参照すると、更なる実施形態では、第１の電流パルス１４６を印加するステップ３０２は、第１の電流パルス１４６を第１のパルス周期１５０で、第１の電流パルス１４６が第１のパルス周期１５０を下回る第１のパルス幅１４８を有する方法で印加することを含みうる。第２の電流パルス１５１を印加するステップ３０８は、第１のパルス周期１５０の一部（例えば、２分の１）である第２のパルス周期１５６で、第１のパルス周期１５０中に、第２のパルス幅１５４が第１のパルス幅１４８の少なくとも一部と重なり、また、第１のパルス周期１５０中の少なくとも一部の期間にＲＴＤセンサ１０６に電圧が加えられることがないような方法で、第２の電流パルス１５１を印加することを含みうる。

図１６を参照すると、本方法のステップ３１０は、第２の電流パルス１５１に応答して、閉鎖状態にあるスイッチ１６０を操作することを含み、これによって、第２の電流パルス１５１はリードペア１３０を通って流れ、ＲＴＤセンサ１０６を通って流れるのが回避されるように、第２の電流パルスはスイッチ１６０を通ってシャントされる。例えば、スイッチ１６０が能動スイッチ１６６である図７〜図８を手短に参照すると、開放状態１６２にあるスイッチ１６０を操作するステップ３０４は、能動スイッチ１６６が第１の電流パルス１４６にさらされるとき、開放状態１６２に対応する開放位置１７０に、能動スイッチ１６６の可動素子１６８を動かすこと（例えば、旋回運動及び／又は並進運動）を含み、また、ステップ３１０は、能動スイッチ１６６が第２の電流パルス１５１にさらされるとき、閉鎖状態１６４に対応する閉鎖位置１７２に、能動スイッチ１６６の可動素子１６８を動かすこと（例えば、旋回運動及び／又は並進運動）を含む。幾つかの実施例では、本方法は、第２の電流パルス１５１に応答して能動スイッチ１６６が閉鎖位置１７２に移動するのに失敗した場合でも、温度測定がまだ行えるように、能動スイッチ１６６の可動素子１６３を開放位置１７０へ付勢すること３０４を含みうる。

例えば、スイッチ１６０がダイオード１７６のような受動スイッチ１７４である図１０〜図１１を手短に参照すると、開放状態１６２にある受動スイッチ１７４を操作するステップ３０４は、第１の電流パルス１４６にさらされるとき、開放状態１６２にあるダイオード１７６を操作することを含み、また、ステップ３１０は、第１の電流パルス１４６と反対の方向へ流れる第２の電流パルス１５１にさらされるとき、閉鎖状態１６４にあるダイオード１７６を操作することを含む。図１０〜図１１の実施例では、第２の電流パルス１５１は、第１の電流パルス１４６と同じ大きさであっても、異なる大きさであってもよい。開放状態１６２にあるスイッチ１６０を操作するステップ３０４はオプションにより、第１の電流パルス１４６をリード１３０の１つ（例えば、第１のリード）に第１の方向１４９で印加し、また、第２の電流パルス１５１をリード１３０の残りの１つ（例えば、第２のリード）に、第１の方向１４９とは反対の第２の方向１５５で印加するため、双方向パルス発生装置１５８を使用することを含みうる。

例えば、スイッチ１６０が電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）１８２を含む図１２〜図１３を手短に参照すると、開放状態１６２にあるスイッチ１６０を操作するステップ３０４は、第１の電流パルス１４６にさらされるとき、開放状態１６２にあるＦＥＴ１８２を操作することを含んでもよく、また、閉鎖状態１６４にあるスイッチ１６０を操作するステップ３１０は、第１の電流パルス１４６を上回る大きさで、第１の電流パルス１４６と同じ方向に流れる第２の電流パルス１５１にさらされるとき、閉鎖状態１６４にあるＦＥＴ１８２を操作することを含みうる。例えば、図１２〜図１３に示したように、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１はそれぞれ、第１の方向１４９へ流れる。代替的に、第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１はそれぞれ、第２の方向１５５へ流れてもよい。第１の電流パルス１４６と第２の電流パルス１５１の流れる方向は、ＦＥＴ１８２の配向に依存しうる。

図１６を参照すると、本方法のステップ３１２は、スイッチ１６０が閉鎖状態１６４にあるとき、制御ユニット１４０で第２の抵抗を測定することを含む。その際、制御ユニット１４０は、第２の電流パルス１５１の印加中に、リードペア１３０の両端の測定電圧Ｖ_Ｍを決定する。測定電圧Ｖ_Ｍと第２の電流パルス１５１の大きさに基づいて、制御ユニット１４０は、リードペア１３０を通って第２の電流パルス１５１が流れる間の第２の抵抗（例えば、リード抵抗Ｒ_Ｌ）を計算する。

本方法のステップ３１４は、制御ユニット１４０を使用して、第１の抵抗と第２の抵抗との間の差分に基づいて、センサ抵抗ＲＳと対応するセンサ温度Ｔを決定することを含む。上に示したように、センサ温度Ｔは、温度ＴでのＲＴＤセンサ抵抗Ｒ_Ｓ、０°ＣでのＲＴＤセンサ公称抵抗Ｒ_０、及び上述のカレンダー・ヴァン・ドゥーセン係数（ａ、ｂ、及びｃ）に基づいて、上述の方程式１００で表わされる関係を使用して決定されてもよい。センサ抵抗ＲＳと対応するセンサ温度Ｔを決定するステップ３１４は、限定するものではないが、航空機、宇宙ビークル、又は他の様々なビークルのうちの任意の１つ、非ビークル、システム、サブシステム、アセンブリ及び／又はサブアセンブリなどの構成要素又は材料の温度を正確に決定することを含みうる。

更に、本開示は、以下の条項による実施形態を含む。

条項１． ２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）であって、
ＲＴＤセンサのセンサ温度の変化に応答して変化するセンサ抵抗を有する前記ＲＴＤセンサ、
第１の電流パルスと第２の電流パルスを生成するように構成された少なくとも１つのパルス発生装置を有する制御ユニットにＲＴＤセンサを電気的に連結するリードペアであって、全体としてリード抵抗を有するリードペア、及び
前記リードペア間に電気的に連結され、前記第１の電流パルスにさらされると開放状態で動作可能となり、前記第２の電流パルスにさらされると閉鎖状態で動作可能となるスイッチであって、前記開放状態によって、前記第１の電流パルスは前記リードペアと前記ＲＴＤセンサを通って流れ、前記閉鎖状態によって、前記第２の電流パルスは前記スイッチを経由して前記リードペアを通って流れ、前記スイッチは前記制御ユニットが前記センサ抵抗と対応するセンサ温度を決定することを可能にする、スイッチ
を備える、２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）。

条項２． 前記第２の電流パルスは前記第１の電流パルスを上回る大きさを有する、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項３． 前記スイッチは、前記開放状態に対応する開放位置と、前記閉鎖状態に対応する閉鎖位置との間で動作可能な能動スイッチである、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項４． 前記スイッチは前記開放位置へ付勢される、条項３に記載の２線式ＲＴＤ。

条項５． 前記スイッチは、
前記第１の電流パルスにさらされるときには、前記開放状態で、
前記第１の電流パルスに対して反対の方向に流れる前記第２の電流パルスにさらされるときには、前記閉鎖状態で
動作可能なダイオードを備える、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項６． 前記スイッチは、
前記第１の電流パルスにさらされるときには、前記開放状態で、
前記第１の電流パルスを上回る大きさで、前記第１の電流パルスと同じ方向に流れる前記第２の電流パルスにさらされるときには、前記閉鎖状態で
動作可能な電界効果トランジスタを備える、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項７． 前記スイッチは、前記ＲＴＤセンサから、ペアのいずれか一方のリードの約１０パーセント未満の距離の範囲内に配置される、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項８． ＲＴＤセンサは薄膜ＲＴＤセンサ及びワイヤが巻かれたＲＴＤセンサのうちの１つとして構成される、条項１に記載の２線式ＲＴＤ。

条項９． 第１の電流パルスと第２の電流パルスを生成するように構成された少なくとも１つのパルス発生装置を有する制御ユニット、
センサ温度の変化に応答して変化するセンサ抵抗を有するＲＴＤセンサと、
前記制御ユニットに前記ＲＴＤセンサを電気的に結合するリードペアであって、全体としてリード抵抗を有するリードペアと、
前記リードペア間に電気的に連結され、前記第１の電流パルスにさらされるときには開放状態で動作可能となり、前記第２の電流パルスにさらされるときには閉鎖状態で動作可能となるスイッチであって、前記開放状態によって、前記第１の電流パルスは前記リードペアと前記ＲＴＤセンサを通って流れ、前記閉鎖状態によって、前記第２の電流パルスは前記スイッチを経由して前記リードペアを通って流れるスイッチと
を含む２線式抵抗温度検出器、
を備える温度検出システムであって、
前記制御ユニットは、
前記スイッチが前記開放状態にあるときに、前記リード抵抗と結合される前記センサ抵抗と
前記スイッチが前記閉鎖状態にあるときの前記リード抵抗
との間の差分に基づいて、前記センサ抵抗と対応するセンサ温度を決定するように構成される、温度検出システム。

条項１０． 前記少なくとも１つのパルス発生装置は、前記第１の電流パルスを上回る大きさの前記第２の電流パルスを生成するように構成される、条項９に記載の温度検出システム。

条項１１． 前記少なくとも１つのパルス発生装置は、前記リードのうちの１つに前記第１の電流パルスを第１の方向で印加し、前記リードのうちの残りの１つに前記第２の電流パルスを第２の方向で印加するように構成された双方向パルス発生装置である、条項９に記載の温度検出システム。

条項１２． 前記少なくとも１つのパルス発生装置は、
前記第１の電流パルスを生成するように構成される第１のパルス発生装置と、
前記第２の電流パルスを生成するように構成される第２のパルス発生装置と
を含む、条項９に記載の温度検出システム。

条項１３． 前記第１のパルス発生装置は、前記リードのうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルスを印加するように構成されており、
前記第２のパルス発生装置は、前記リードのうちの１つに、前記第１のパルス周期と同程度の第２のパルス周期で、前記第２の電流パルスを印加するように構成されており、また、
前記第２の電流パルスは、前記第１のパルス周期よりも短く、前記第１のパルス幅よりも長い第２のパルス幅を有し、第１のパルス周期中にある期間だけ前記ＲＴＤセンサに電圧が加えられることがないように、前記第１のパルス幅の少なくとも一部と重なっている、条項１２に記載の温度検出システム。

条項１４． 前記第１の電流パルス発生装置は、前記リードのうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルスを印加するように構成されており、
前記第２のパルス発生装置は、前記リードのうちの１つに、前記第１のパルス周期の一部となる第２のパルス周期で、前記第１のパルス周期の各々の間に、第２のパルス幅が第１のパルス幅の少なくとも一部と重なり、また、前記ＲＴＤセンサに電圧が加えられることがないような方法で、前記第２の電流パルスを印加するように構成されている、条項１２に記載の温度検出システム。

条項１５． 制御ユニットのパルス発生装置を使用して、センサ抵抗を有するＲＴＤセンサに前記制御ユニットを電気的に連結するリードペアであって、全体としてリード抵抗を有し、スイッチによって電気的に連結されているリードペアの１つのリードに、第１の電流パルスを印加すること、
前記第１の電流パルスに応答して、前記第１の電流パルスが前記リードペアと前記ＲＴＤセンサを通って流れるようにする開放状態で前記スイッチを操作すること、
前記スイッチが前記開放状態にあるときの前記センサ抵抗と前記リード抵抗の組み合わせを含む第１の抵抗を、前記スイッチが前記開放状態にあるときに測定すること、
前記パルス発生装置を使用して、前記リードペアの１つのリードに第２の電流パルスを印加すること、
前記第２の電流パルスに応答して、前記第２の電流パルスが前記スイッチを経由して前記リードペアを通って流れるようにする閉鎖状態で前記スイッチを操作すること、
前記スイッチが前記閉鎖状態にあるとき、前記リード抵抗を含む第２の抵抗を測定すること、及び
前記第１の抵抗と前記第２の抵抗との間の差分に基づいて、前記センサ抵抗と対応するセンサ温度を決定すること
を含む、温度測定の方法。

条項１６． 前記第２の電流パルスを印加するステップは、
前記第１の電流パルスを上回る大きさの前記第２の電流パルスを印加することを含む、条項１５に記載の方法。

条項１７． 前記開放状態にある前記スイッチを操作するステップと、前記閉鎖状態にある前記スイッチを操作するステップはそれぞれ、
双方向パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの１つに前記第１の電流パルスを第１の方向で印加すること、及び
前記双方向パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの残りの１つに前記第２の電流パルスを第２の方向で印加すること
を含む、条項１５に記載の方法。

条項１８． リードに前記第１の電流パルスを印加するステップと、リードに前記第２の電流パルスを印加するステップはそれぞれ、
第１のパルス発生装置を使用して、リードに前記第１の電流パルスを印加すること、及び
第２のパルス発生装置を使用して、リードに前記第２の電流パルスを印加すること
を含む、条項１５に記載の方法。

条項１９． 前記ペアの１つのリードに前記第１の電流パルスを印加するステップと、前記ペアの１つのリードに前記第２の電流パルスを印加するステップは、
前記第１の電流パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルスを印加すること、
前記第２の電流パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの１つに、前記第１のパルス周期と同程度の第２のパルス周期で前記第２の電流パルスを印加することを含み、
前記第２の電流パルスは、前記第１のパルス周期よりも短く、前記第１のパルス幅よりも長い第２のパルス幅を有し、第１のパルス周期中にある期間だけＲＴＤセンサに電圧が加えられることがないように、前記第１のパルス幅の少なくとも一部と重なっている、条項１８に記載の方法。

条項２０． 前記ペアの１つのリードに前記第１の電流パルスを印加するステップと、前記ペアの１つのリードに前記第２の電流パルスを印加するステップは、
前記第１の電流パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルスを印加すること、及び
前記第２の電流パルス発生装置を使用して、前記リードのうちの１つに、第１のパルス周期の一部となる第２のパルス周期で、前記第１のパルス周期の各々の間に、第２のパルス幅が第１のパルス幅の少なくとも一部と重なり、また、前記ＲＴＤセンサに電圧が加えられることがないような方法で、前記第２の電流パルスを印加すること
を含む、条項１８に記載の方法。

前述の説明及び関連図面に提示した教示内容の利点を有する、この開示に関連する技術分野の当業者には、本開示の多数の変形例及びその他の例が想起されよう。本書に記載の構成は、例示のためのものであり、限定的であることも、網羅的であることも意図されていない。本書では特定の用語が用いられているが、それらは、一般的かつ説明的な意味にのみ使用されており、限定を目的とするものではない。

Claims (10)

1. ２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）（１０２）であって、
   ＲＴＤセンサ（１０６）のセンサ温度（Ｔ）の変化に応答して変化するセンサ抵抗（Ｒ_Ｓ）を有する前記ＲＴＤセンサ（１０６）、
   第１の電流パルス（１４６）と第２の電流パルス（１５１）を生成するように構成された少なくとも１つのパルス発生装置（１４２）を有する制御ユニット（１４０）にＲＴＤセンサ（１０６）を電気的に連結するリードペア（１３０）であって、全体としてリード抵抗（Ｒ_Ｌ）を有するリードペア（１３０）、及び
   前記リードペア（１３０）間に電気的に連結され、前記第１の電流パルス（１４６）にさらされると開放状態（１６２）で動作可能となり、前記第２の電流パルス（１５１）にさらされると閉鎖状態（１６４）で動作可能となるスイッチ（１６０）であって、前記開放状態（１６２）によって、前記第１の電流パルス（１４６）は前記リードペア（１３０）と前記ＲＴＤセンサ（１０６）を通って流れ、前記閉鎖状態（１６４）によって、前記第２の電流パルス（１５１）は前記スイッチ（１６０）を経由して前記リードペア（１３０）を通って流れ、前記スイッチ（１６０）は前記制御ユニット（１４０）が前記センサ抵抗（Ｒ_Ｓ）及び対応するセンサ温度（Ｔ）を決定することを可能にする、スイッチ（１６０）
   を備える、２線式抵抗温度検出器（ＲＴＤ）（１０２）。
2. 前記第２の電流パルス（１５１）は前記第１の電流パルス（１４６）を上回る大きさを有する、請求項１に記載の２線式ＲＴＤ（１０２）。
3. 前記スイッチ（１６０）は、前記開放状態（１６２）に対応する開放位置（１７０）と、前記閉鎖状態（１６４）に対応する閉鎖位置（１７２）との間で動作可能な能動スイッチ（１６６）で、前記スイッチ（１６０）は前記開放位置（１７０）へ付勢される、請求項１又は２に記載の２線式ＲＴＤ（１０２）。
4. 前記スイッチ（１６０）は、
   前記第１の電流パルス（１４６）にさらされるときには、前記開放状態（１６２）で、
   前記第１の電流パルス（１４６）に対して反対の方向に流れる前記第２の電流パルス（１５１）にさらされるときには、前記閉鎖状態（１６４）で
   動作可能なダイオード（１７６）を備える、請求項１から３のいずれか一項に記載の２線式ＲＴＤ（１０２）。
5. 前記スイッチ（１６０）は、
   前記第１の電流パルス（１４６）にさらされるときには、前記開放状態（１６２）で、
   前記第１の電流パルス（１４６）を上回る大きさで、前記第１の電流パルス（１４６）と同じ方向に流れる前記第２の電流パルス（１５１）にさらされるときには、前記閉鎖状態（１６４）で
   動作可能な電界効果トランジスタ（１８２）を備える、請求項１から４のいずれか一項に記載の２線式ＲＴＤ（１０２）。
6. 前記スイッチ（１６０）は、前記ＲＴＤセンサ（１０６）から、前記リードペア（１３０）のいずれか一方のリード１３２／１３４の約１０パーセント未満の距離の範囲内に配置される、請求項１から５のいずれか一項に記載の２線式ＲＴＤ（１０２）。
7. 制御ユニット（１４０）のパルス発生装置（１４２）を使用して、センサ抵抗（Ｒ_Ｓ）を有するＲＴＤセンサ（１０６）に前記制御ユニット（１４０）を電気的に連結するリードペア（１３０）であって、全体としてリード抵抗（Ｒ_Ｌ）を有し、スイッチ（１６０）によって電気的に連結されているリードペア（１３０）の１つのリードに、第１の電流パルス（１４６）を印加すること、
   前記第１の電流パルス（１４６）に応答して、前記第１の電流パルス（１４６）が前記リードペア（１３０）と前記ＲＴＤセンサ（１０６）を通って流れるようにする開放状態（１６２）で前記スイッチ（１６０）を操作すること、
   前記スイッチ（１６０）が前記開放状態（１６２）にあるときの前記センサ抵抗（Ｒ_Ｓ）と前記リード抵抗（Ｒ_Ｌ）の組み合わせを含む第１の抵抗を、前記スイッチ（１６０）が前記開放状態（１６２）にあるときに測定すること、
   前記パルス発生装置（１４２）を使用して、前記リードペア（１３０）の１つのリードに、前記第１の電流パルス（１４６）を上回る大きさの第２の電流パルス（１５１）を印加すること、
   前記第２の電流パルス（１５１）に応答して、前記第２の電流パルス（１５１）が前記スイッチ（１６０）を経由して前記リードペア（１３０）を通って流れるようにする閉鎖状態（１６４）で前記スイッチ（１６０）を操作すること、
   前記スイッチ（１６０）が前記閉鎖状態（１６４）にあるとき、前記リード抵抗（Ｒ_Ｌ）を含む第２の抵抗を測定すること、及び
   前記第１の抵抗と前記第２の抵抗との間の差分に基づいて、前記センサ抵抗（Ｒ_Ｓ）と対応するセンサ温度（Ｔ）を決定すること
   を含む、温度測定の方法。
8. 前記開放状態（１６２）にある前記スイッチ（１６０）を操作するステップと、前記閉鎖状態（１６４）にある前記スイッチ（１６０）を操作するステップはそれぞれ、
   双方向パルス発生装置（１５８）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの１つに前記第１の電流パルス（１４６）を第１の方向で印加すること、及び
   前記双方向パルス発生装置（１５８）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの残りの１つに前記第２の電流パルス（１５１）を第２の方向で印加すること
   を含む、請求項７に記載の方法。
9. 前記ペアの１つのリードに前記第１の電流パルス（１４６）を印加するステップと、前記ペアの１つのリードに前記第２の電流パルス（１５１）を印加するステップは、
   前記第１の電流パルス発生装置（１２２）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルス（１４６）を印加すること、
   前記第２の電流パルス発生装置（１５２）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの１つに、前記第１のパルス周期と同程度の第２のパルス周期で前記第２の電流パルス（１５１）を印加することを含み、
   前記第２の電流パルス（１５１）は、前記第１のパルス周期よりも短く、前記第１のパルス幅よりも長い第２のパルス幅を有し、第１のパルス周期中のある期間だけ前記ＲＴＤセンサ（１０６）に電圧が加えられることがないように、前記第１のパルス幅の少なくとも一部と重なっている、請求項７又は８に記載の方法。
10. 前記ペアの１つのリードに前記第１の電流パルス（１４６）を印加するステップと、前記ペアの１つのリードに前記第２の電流パルス（１５１）を印加するステップは、
    前記第１の電流パルス発生装置（１４４）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの１つに、第１のパルス周期で、前記第１のパルス周期を下回る第１のパルス幅を有する前記第１の電流パルス（１４６）を印加すること、及び
    前記第２の電流パルス発生装置（１５２）を使用して、前記リード１３２／１３４のうちの１つに、第１のパルス周期の一部となる第２のパルス周期で、前記第１のパルス周期の各々の間に、第２のパルス幅が第１のパルス幅の少なくとも一部と重なり、また、前記ＲＴＤセンサ（１０６）に電圧が加えられることがないような方法で、前記第２の電流パルス（１５１）を印加すること
    を含む、請求項７から９のいずれか一項に記載の方法。

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