JPH01209390A - テストデータ自動生成システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は診断データを生成するデータ処理システムに係
り、特に指定され九人カデータから、指定された診断デ
ータを生成するテストデータ自動生成システムに関する
。

〔従来の技術〕

一般に、生成されたデータを適用する対象回路の構造が
変わると、プログラムそのものを変更するか、人手で、
対象ごとに入力データを指示してやる必要がある。例え
ば、与えられた論理回路の診断データを、回路埋め込み
のスキャン回路からラッチに入力してテストする方式の
診断システムでは、スキャン回路の構造に応じたプログ
ラムを用意するか、１つのプログラムに対し具体的なス
キャン手順を人手で指定する必要があり九〇この種の技
術は、例えば特開昭６０−２４７７５２号公報に示され
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は具体的なスキャン手順を人手で指定する
必要があシ、作業量が膨大となっていた。

本発明の目的は、指定された入力データから指定された
診断データを生成するテストデータ自動生成システムを
提供することにある。

〔課題を解決するｔめの手段〕

上記目的は、対象の種類により、異なる処理手順を記憶
する手段と、対象の種類を入力する手段と、入力され九
対象の種類に応じた記憶手段から、該当する処理手ｊ＠
を選択する手段を設けることにより達成される。

〔作用〕

対象の種類を入力する手段により、対象の種類を認識す
ると、処理手順を記憶する手段から、指定された処理手
順をアクセスし、処理手順に従って、データを生成する
ことから、常に最適な診断データを生成することができ
る。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する
。

第１図は、本発明の概要をあられす図である。

まず、処理手順定義ファイルには、スキャン方式をビッ
トシリアルスキャン方式、パラレルスキャン方式、シフ
トスキャン方式の大きく５つに分類し、それぞれのスキ
ャン方式に適した定形データを登録しておく。次に、補
助データとして、システムの利用者が指示するスキャン
方式指定カード、ならびにスキャンのために必要な、ア
ドレス情報、スキャン回路制御用ピンの情報を、スキャ
ングループ単位に作成する。スキャングループとは、数
個から士数個のラッチを１単位とし次ラッチ群で構成さ
れるもので、スキャン回路の作成、操作を効率良く行う
九めの分割単位である。前記で作成し次処理手順定義フ
ァイル、ならびに補助データをテストデータ自動生成シ
ステムに入力して、対象論理回路に適した診断データを
生成するものである。この際、対象論理回路内に複数の
スキャン方式が混在している様な場合には、スキャン方
式指定カード、基本データカードをそれぞれのスキャン
方式に対応させて作成することによシ取シ扱い可能とな
る。以上により、システムの利用者は、いちいちテスト
データを記述するというわずられしさから解放され、ス
キャン方式、基本データを指示するだけの作業で診断デ
ータの生成を行うことができる。

第２図は、本発明を実際に適用し皮ものの一部を示す図
である。補助データのＦ　ＯＲＭ　＝　Ｂ　Ｉ　Ｔ　ｎ
ｎｎは、ビットシリアルスキャン方式であることを示す
。ＳＡＲは、スキャンアドレスデータでピン番号゛１ピ
ン極性１アドレスビットの重みを定義する。

５ＩＬ）、５ＱＬ）、ＢＩＴは、それぞれスキャンイン
データピン、スキャンアウトデータピン、スキャントリ
ガピンのピン番号、ピン極性を定義する。

一方、処理手順定義データとしては１８８Ｎによりスキ
ャンイン、スキャンアウトそれぞれの単位時間（スロッ
ト）の個数を定義する。この場合のＩＯは、スキャンイ
ン、スキャンアウトに共通の意味である。ＳＡＲでは同
様にして、スキャンアドレスの変化回数を定義する。Ｓ
ＩＴΔＩは、スキャンイン時、ＳＳＮと同数のＰパルス
（正パルス）を生成させるｔめの定義を行（・、８ＩＴ
、Ｏで、スキャンアウト時、ＳＳＮと同数のＬ　（Ｌｏ
ｗ固定値）を生成させる定義を行う。ＦＩＸＦ、Ｉ、Ｆ
ＩＸＦ。

０は、それぞれスキャンイン、スキャンアウト動作可能
スロ・・ト数（時間）を定義し、Ｆ工ＸＤは、スキャン
動作終了スロット数（時間）を定義する。

この様にして作成した処理手順定義データは、対象回路
が変った場合であっても、定形データの形が変らなけれ
ば、そのまま利用することができるため、−度作ってし
まえば倒産もくり返して利用することができる。

以上の２つのデータ群をテストデータ自動生成システム
により展開し念結果が診断データである。

診断データは、ＩＮ、ＯＵＴ、ＦＦの５つに分類して展
開され、ＩＮは、スキャンイン動作用データ、ＯＵＴは
、スキャンアウト動作用データ、ＦＦは、各ラッチに対
するスキャンイン、スキャンアウトそれぞれの確定スロ
ット数（”時間）を表している。

テストパターン部の■・、Ｈ，Ｐは、それぞれＪＪｏｌ
ｌｌ。

Ｈｉｇｈ、Ｐパルスを意味し、数字は、スロットの個数
を意味する。

〔発明の効果〕

本発明によれば、対象回路内の各ラッチに対するテスト
パターンデータを意識する必要がなく、簡単なデータ（
補助データ〕を入力するだけで、診断データを生成する
ことが可能であり、さらをて定形的手続きデータ（処理
手順定義データ〕は、他の対象回路にも適用することが
できるので、診断データの生成に必要な作業量を大幅に
削減できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はテストデータ自動生成システム全体の概要を示
した図、第２図は本発明を実際に利用した結果の一部を
示す図である。 晃　／　喝 「

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、対象回路に固有の診断データを生成するデータ処理
   システムにおいて、手続きの定形的処理手順を記憶する
   データファイルを有し、該複数の手続きのうちのどれに
   対してデータを生成するかを、前記データ処理システム
   に指示する手段と、具体的処理手順を作成するに必要な
   補助データをデータ処理システムへ入力する手段を有し
   、上記２つのデータから対象回路に固有のテスト手続き
   データを生成することを特徴とするテストデータ自動生
   成システム。