JPH01205513A - 乾式コンデンサ - Google Patents
乾式コンデンサInfo
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- JPH01205513A JPH01205513A JP3164988A JP3164988A JPH01205513A JP H01205513 A JPH01205513 A JP H01205513A JP 3164988 A JP3164988 A JP 3164988A JP 3164988 A JP3164988 A JP 3164988A JP H01205513 A JPH01205513 A JP H01205513A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は乾式コンデンサに関し、詳しくは界面活性剤
を配合したエボキン樹脂含浸液を含浸させてなる乾式コ
ンデンサに関する。
を配合したエボキン樹脂含浸液を含浸させてなる乾式コ
ンデンサに関する。
(ロ)従来の技術
従来の乾式コンデンサは、一般に合成樹脂フィルムの一
方の表面にアルミニウムなとの金属を蒸着さけた金属蒸
着フィルムを多数回巻回して形成されろコンデンサ素体
に、エボキノ樹脂を主体とし、エボキン樹脂の硬化剤お
よび含浸液の粘度低下を目的とする希釈剤なとから戸る
含浸液を真空含浸させ、これを硬化させて製造されてい
る。
方の表面にアルミニウムなとの金属を蒸着さけた金属蒸
着フィルムを多数回巻回して形成されろコンデンサ素体
に、エボキノ樹脂を主体とし、エボキン樹脂の硬化剤お
よび含浸液の粘度低下を目的とする希釈剤なとから戸る
含浸液を真空含浸させ、これを硬化させて製造されてい
る。
(ハ)発明が解決しようとする課題
しかしながら上記の含浸液はコンデンサ素体内への含浸
が必らずしも十分てはない。したがって得られた乾式コ
ンデンサの耐電圧特性は満足すべきものでなく、例えば
部分放電開始電圧は一般に80KV/z;u程度てあり
、−層の向上か望まれている。
が必らずしも十分てはない。したがって得られた乾式コ
ンデンサの耐電圧特性は満足すべきものでなく、例えば
部分放電開始電圧は一般に80KV/z;u程度てあり
、−層の向上か望まれている。
(ニ)課題を解決するための手段
この発明は−」−記課題を改善するためになされたもの
であり、金属蒸着フィルムを多数回巻回して作製したコ
ンデンサ素体に、約0,1〜2.0重量%の界面活性剤
を配合したエボキノ樹脂含浸液を含浸し硬化させてなる
ことを特徴とする乾式コンデンサを提供するものである
。
であり、金属蒸着フィルムを多数回巻回して作製したコ
ンデンサ素体に、約0,1〜2.0重量%の界面活性剤
を配合したエボキノ樹脂含浸液を含浸し硬化させてなる
ことを特徴とする乾式コンデンサを提供するものである
。
この発明に用いろ金属蒸着フィルムとしては、ポリエチ
レン、ポリプロピレン、ポリエステルなどのフィルムを
用いることかできる。
レン、ポリプロピレン、ポリエステルなどのフィルムを
用いることかできる。
電極としての蒸着金属としては、アルミニウムや亜鉛な
とを用いることかてごろ。また上記のような電極部材に
アルミニウムや亜鉛の金属箔を用いてちよい。
とを用いることかてごろ。また上記のような電極部材に
アルミニウムや亜鉛の金属箔を用いてちよい。
上記の全8蒸着フィルムを多数回巻回して端部からリー
ド線を引き出してコンデンサ素体が作製される。
ド線を引き出してコンデンサ素体が作製される。
この発明に用いる含浸液としては、エボキン樹脂を主体
とし、エボギシ樹脂の硬化剤と含浸液の粘度を低下させ
る希釈剤なとからなるエポキシ樹脂含浸液に界面活性剤
を添加したちのか用いられる。この含浸液は一般に、エ
ボギノ樹脂と希釈剤と界面活性剤とを予め撹拌混合して
おいて、次に硬化剤を添加し撹拌して作製される。
とし、エボギシ樹脂の硬化剤と含浸液の粘度を低下させ
る希釈剤なとからなるエポキシ樹脂含浸液に界面活性剤
を添加したちのか用いられる。この含浸液は一般に、エ
ボギノ樹脂と希釈剤と界面活性剤とを予め撹拌混合して
おいて、次に硬化剤を添加し撹拌して作製される。
次いて前記のコンデンサ素体を上記含浸液に浸漬して、
含浸液をコンデンサ素体に真空含浸させた後、例えば5
0°Cて48時間次いて80℃で10時間(呆持して含
浸樹脂を硬化させ−て乾式コンデンサか製造さイする。
含浸液をコンデンサ素体に真空含浸させた後、例えば5
0°Cて48時間次いて80℃で10時間(呆持して含
浸樹脂を硬化させ−て乾式コンデンサか製造さイする。
この発明に用いられるエボギノ樹脂、硬化剤および希釈
剤としては従来使用されている次のようなものか半げら
七、ろ。
剤としては従来使用されている次のようなものか半げら
七、ろ。
エボギノ樹脂
ビスフェノール系、クリシンルエーテル系、ノボラック
系、指環族系、脂肪族系の5のか挙げられる。例えばC
IBA社製CY−221,、CY−179、CY−20
5,CY−206,CY−189,GY−250などが
ある。
系、指環族系、脂肪族系の5のか挙げられる。例えばC
IBA社製CY−221,、CY−179、CY−20
5,CY−206,CY−189,GY−250などが
ある。
硬化剤
脂肪族・芳香族ンアミンやその誘導1も、脂肪族や芳香
族ジカルボン酸無水物やその誘導体である。例えばCI
BA社製HT−、−907,HY−、−974なとかあ
る。
族ジカルボン酸無水物やその誘導体である。例えばCI
BA社製HT−、−907,HY−、−974なとかあ
る。
希釈剤
脂肪族ンクリノンルエーテル、芳香族モノクリノシルエ
ーテルなとがある。例えばCI B A +l+製DY
−022,DY−023,DY−026などかある。
ーテルなとがある。例えばCI B A +l+製DY
−022,DY−023,DY−026などかある。
この発明に用いられる界面活性剤として:ま、次のよう
な弗素系のもの、非イオン系のものなどが挙げられろ。
な弗素系のもの、非イオン系のものなどが挙げられろ。
弗素系の界面活性剤の具体例にはC9F 、 70(C
H2CH20)7CH3、C9F、□0C611,CH
O1C9F、7(CH20)8C,Hl、C9F、、○
CeH45OJa、、C++F++0CeHaSO3N
a、 C9F+70CJL−3〜 C00H1CJ+70CeH4SO2N(CHa)CH
2COONa、 C9F170(CLO)2oCL、
C9F、。0(、l’14S02〜I’1(C)13)
N(CI(、)3+、CsF 1JCe1i4CH2N
(CH3)2cH2cOoなとか含まれる。
H2CH20)7CH3、C9F、□0C611,CH
O1C9F、7(CH20)8C,Hl、C9F、、○
CeH45OJa、、C++F++0CeHaSO3N
a、 C9F+70CJL−3〜 C00H1CJ+70CeH4SO2N(CHa)CH
2COONa、 C9F170(CLO)2oCL、
C9F、。0(、l’14S02〜I’1(C)13)
N(CI(、)3+、CsF 1JCe1i4CH2N
(CH3)2cH2cOoなとか含まれる。
また非イオン系界面活性剤としては次のようなものか挙
げられる。
げられる。
(以下余白)
エーテル型 R−0(CH2CH20)nHソルビタン
エステル型 O / \ CH2CH2I(200CR (りH ポリオキシエヂレンソルビクンエステル型CH200C
R なお界面活性剤は、エボギシ樹脂含浸液に約01〜20
重量%添加される。この範囲より低いとエポギシ樹脂含
浸液の誘電体部材に対する濡れ性が低いので(接触角が
低い)含浸液のコンデンサ素体内への含浸が不十分であ
る。一方この範囲を超えると硬化しj=耐樹脂誘電損失
(tanδ)か増大するのてな子ましくない。
エステル型 O / \ CH2CH2I(200CR (りH ポリオキシエヂレンソルビクンエステル型CH200C
R なお界面活性剤は、エボギシ樹脂含浸液に約01〜20
重量%添加される。この範囲より低いとエポギシ樹脂含
浸液の誘電体部材に対する濡れ性が低いので(接触角が
低い)含浸液のコンデンサ素体内への含浸が不十分であ
る。一方この範囲を超えると硬化しj=耐樹脂誘電損失
(tanδ)か増大するのてな子ましくない。
(ホ)作用
エボギノ樹脂含浸液に界面活性剤を適量加えることによ
り、硬化樹脂の誘電損失は」−げないようにしながら、
該含浸液の誘電体部側に対する接触角を低下させること
かてき、エボキノ樹脂のコンデンサ素体への含浸性か向
上する。
り、硬化樹脂の誘電損失は」−げないようにしながら、
該含浸液の誘電体部側に対する接触角を低下させること
かてき、エボキノ樹脂のコンデンサ素体への含浸性か向
上する。
(へ)実施例
この発明を実施例によって説明するか、この発明を限定
するものではない 実施例1 エボキノ樹脂(ビスフェノール型)100重量部、硬化
剤(酸無水物)30重量部、および反応性希釈剤(グリ
ノノルエーテル型)50重量部からなるエボキノ樹脂含
浸液に下記の各界面活性剤を05重量%つつ添加して得
られfこ含浸液中(予めエポキシ樹脂とる釈剤と界面活
性剤とを混合撹拌してJ6いて、ここに硬化剤を加えて
混合撹拌して作製されろ)に、アルミニウムを蒸着した
ポリプロピレンフィルムを巻回し端部に金属を溶射して
り−ト線を引き出して作製したコンデンサ素体を浸漬し
、真空含浸法によって含浸液をコンデンサ素体に含浸さ
せ、次いて50℃で48時間次いて80℃で10時間硬
化させてコンデンサ素子を作製した。
するものではない 実施例1 エボキノ樹脂(ビスフェノール型)100重量部、硬化
剤(酸無水物)30重量部、および反応性希釈剤(グリ
ノノルエーテル型)50重量部からなるエボキノ樹脂含
浸液に下記の各界面活性剤を05重量%つつ添加して得
られfこ含浸液中(予めエポキシ樹脂とる釈剤と界面活
性剤とを混合撹拌してJ6いて、ここに硬化剤を加えて
混合撹拌して作製されろ)に、アルミニウムを蒸着した
ポリプロピレンフィルムを巻回し端部に金属を溶射して
り−ト線を引き出して作製したコンデンサ素体を浸漬し
、真空含浸法によって含浸液をコンデンサ素体に含浸さ
せ、次いて50℃で48時間次いて80℃で10時間硬
化させてコンデンサ素子を作製した。
得られたコンデンサ素子の部分放電開始電圧を測定して
次のような結果を得た。
次のような結果を得た。
」−記のように界面活性剤を添加した場合のコンデンサ
は、添加しなかったものに比べて極めて優れた部分放電
開始電圧を示している。
は、添加しなかったものに比べて極めて優れた部分放電
開始電圧を示している。
試験例1
(1)ポリプロピレンフィルムに対する含浸液の接触角
実施例1て用いたのと同じエボギノ樹脂含浸液に前記の
フッ素系界面活性剤[ネオス(株)、フターンエント2
51]を各種a度で添加して実施例1と同様にして作製
した含浸液の、ポリプロピレンフィルム(コンデンサ用
、10μmff1面化フィルム)に対する接触角を接触
角計で測定し、その結果を第1図のグラフに示した。
フッ素系界面活性剤[ネオス(株)、フターンエント2
51]を各種a度で添加して実施例1と同様にして作製
した含浸液の、ポリプロピレンフィルム(コンデンサ用
、10μmff1面化フィルム)に対する接触角を接触
角計で測定し、その結果を第1図のグラフに示した。
第1図から明らかなように、エポキノ樹脂含浸液に界面
活性剤を添加すると、接触角が低下してポリプロピレン
フィルムに対するノンれ性が向上し、コンデンサ素体内
への含浸液の含浸か改善されろことを示している。上記
の結果から添加量は約01重量%以上か好ましいことか
分かる。
活性剤を添加すると、接触角が低下してポリプロピレン
フィルムに対するノンれ性が向上し、コンデンサ素体内
への含浸液の含浸か改善されろことを示している。上記
の結果から添加量は約01重量%以上か好ましいことか
分かる。
(11)含浸液硬化物のtanδ
」−記(1)の各含浸液を、50°Cて48時間次いて
80°Cて10時間硬化させて得た2Rm厚のノートの
tanδを測定し結果を第2図に示しfこ。
80°Cて10時間硬化させて得た2Rm厚のノートの
tanδを測定し結果を第2図に示しfこ。
第2図から明らかなように硬化ノートのtanδは界面
活性剤の添加によって上昇するので、添加量としては2
0重量%以下か好ましい。
活性剤の添加によって上昇するので、添加量としては2
0重量%以下か好ましい。
=8−
上記の含浸液の接触角と硬化樹脂のtanδの測定結果
から、界面活性剤の含浸液への添加量は約0.1〜20
重量%か好ましい。
から、界面活性剤の含浸液への添加量は約0.1〜20
重量%か好ましい。
(ト)発明の効果
この発明によれば、コンデンサ素体内への含浸液の含浸
が促進され優れた部分放電開始電圧を示す乾式コンデン
サが得られる。
が促進され優れた部分放電開始電圧を示す乾式コンデン
サが得られる。
第1図は、各種mKの界面活性剤を添加した場合の含浸
液のポリプロピレンフィルムに対する接触角を示すグラ
フ図、第2図は各種濃度の界面活性剤を添加した場合の
含浸液の硬化物のtanδを示すグラフ図である。
液のポリプロピレンフィルムに対する接触角を示すグラ
フ図、第2図は各種濃度の界面活性剤を添加した場合の
含浸液の硬化物のtanδを示すグラフ図である。
Claims (1)
- 1.金属蒸着フィルムを巻回して作製したコンデンサ素
体に、約0.1〜2.0重量%の界面活性剤を配合した
エポキシ樹脂含浸液を含浸し硬化させてなることを特徴
とする乾式コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3164988A JPH01205513A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 乾式コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3164988A JPH01205513A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 乾式コンデンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01205513A true JPH01205513A (ja) | 1989-08-17 |
Family
ID=12337027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3164988A Pending JPH01205513A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 乾式コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01205513A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009176850A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Nec Tokin Corp | 表面実装薄型コンデンサ |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4994786A (ja) * | 1972-11-24 | 1974-09-09 | ||
JPS55102219A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-05 | Hitachi Condenser | Method of manufacturing sheathed thin film capacitor and capacitor thereof |
JPS5640225A (en) * | 1979-09-11 | 1981-04-16 | Nissin Electric Co Ltd | Capacitor |
JPS6184014A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-04-28 | 松下電器産業株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
-
1988
- 1988-02-12 JP JP3164988A patent/JPH01205513A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4994786A (ja) * | 1972-11-24 | 1974-09-09 | ||
JPS55102219A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-05 | Hitachi Condenser | Method of manufacturing sheathed thin film capacitor and capacitor thereof |
JPS5640225A (en) * | 1979-09-11 | 1981-04-16 | Nissin Electric Co Ltd | Capacitor |
JPS6184014A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-04-28 | 松下電器産業株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009176850A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Nec Tokin Corp | 表面実装薄型コンデンサ |
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