JPH0120373B2

JPH0120373B2 -

Info

Publication number: JPH0120373B2
Application number: JP3751183A
Authority: JP
Inventors: Yukimasa Tachibana
Original assignee: Fuji Electric Co Ltd
Current assignee: Fuji Electric Co Ltd
Priority date: 1983-03-09
Filing date: 1983-03-09
Publication date: 1989-04-17
Also published as: JPS59163545A

Description

[Detailed description of the invention]

〔発明の属する技術分野〕本発明は、例えば医薬用カプセルの如き、カプ
セル表面の外観検査装置に関するものである。〔従来技術とその問題点〕医薬用カプセルの表面には、その製造時に微細
な傷を生じることがあるが、かかる傷のあるカプ
セルは不良品として排除されなければならない。
傷の種類としては、0.1φ〜2φ程度のピンホール
や穴になる寸前の薄肉状態の部分（以下、スイン
スポツトという）など、数多くの種類がある。従
来この種の傷は、人間による目視検査で発見され
ているが、近年は自動外観検査装置による傷検査
も提案されている。かかる外観検査装置に用いられる光学的検査器
（センサ）の一つとして、特開昭56−57939号公報
に記載の如きものがすでに提案されている。この
提案例による検査器を仮に拡散反射形検査器と呼
ぶことにする。第１図はかかる拡散反射形検査器の構成説明図
である。同図において、光学的検査器は照明用の
ランプ３とこのランプ３からの光をカプセル１の
表面の一部分に強いスポツト光として照射する集
光レンズ４からなる照明系および拡大レンズ５を
介してカプセル表面の特定された面積、例えば直
径0.5mmの特定部分からの反射光のみが光センサ
６に入射するように構成した光センサ系とからな
る。光センサ６としてはホトダイオードなどが用
いられる。なお、２は搬送ドラムであり、７は回転ローラ
であつてカプセル１を自転させるためのものであ
る。かかる検査器を用いて自転する不透明カプセル
を光スポツトによりらせん状に走査したときに得
られる検査器出力波形を第２図ａに示す。不透明
カプセルでなく、透明カプセルを同じくらせん状
に走査したときに得られる検査器出力波形を第２
図ｂに示す。これらの図において、１０１は不透明カプセル
の本体、１０３は同キヤツプ部からの反射光に対
応し、１０５は同カプセル表面の小孔（傷）から
の反射光に対応している。また１０７は透明カプ
セルの本体、１０９は同キヤツプ部、１１１は同
カプセル表面の小孔からの透過光にそれぞれ対応
している。第２図ａとｂを比較してみた場合、次のことが
云える。すなわち、透明カプセルを走査して得ら
れる出力波形ｂは、不透明カプセルのそれａに比
し、直流成分が低く、傷部（小孔）に対応した出
力波形も、１０５と１１１に見られる如く、一方
を立下る負極性とすれば、他方は立上る正極性と
なつており、極性が反対である。これは透明カプセルと不透明カプセルでは、反
射のメカニズムが異なるからである。すなわち、
不透明カプセルには酸化チタンという不透明な物
質が多方向に混入しているので照射された光量の
一部はカプセル表面から検査器の光軸方向に向け
て多量に反射される。一方、透明カプセルには酸
化チタンが含まれていないので、カプセル表面か
ら検査器の光軸方向に向けて反射される光量は少
ない。不透明カプセルにスクレープホールなどの
小穴があいている場合は、その部分に関し反射面
がなくなるので反射光量はなくなる。透明カプセ
ルに穴がある場合は、その穴としての反射面の
有・無に関係なく反射光量は低いが、穴の周縁部
の一部に、検査器の光軸と照明光軸の中間に法線
の位置する反射面があると、照明光の一部が該反
射面から反射され検査器の光軸方向に反射され
る。以上述べたように、従来公知の拡散反射形検査
器では、検査対象とするカプセルが不透明カプセ
ルであるか、透明カプセルであるかにより、検査
出力波形が相違し、従つてその後の傷の有無判定
のための信号処理回路も異なつたものになる。他方、検査対象としてのカプセルが不透明カプ
セルであつても透明カプセルであつても、検査出
力波形が同様な出力波形となり、その後の信号処
理の容易な光学的検査器もすでに提案（特願昭57
−158178号参照）されている。かかる検査器を仮
に同軸反射形検査器と呼ぶことにする。第３図はかかる同軸反射形検査器の構成説明図
である。同図において、光源１３から放射された
光はコンデンサレンズ８で集光された後、ハーフ
ミラー９で光路を45゜曲げられ、レンズ１０を介
してカプセル１に照射される。カプセル表面で反
射された光はレンズ１０、ハーフミラー９、アパ
ーチヤ１１を介してホトダイオード１２に入射す
る。ホトダイオード１２で入射光量は光電変換さ
れ、その出力は傷の有無判定のための信号処理回
路に導かれることになる。このように、同軸反射形検査器では、照明光の
光軸と検査器の光軸が同軸になつておりこのた
め、照射された光量はカプセル表面から正反射さ
れる。従つて、その反射光量は反射面が透明であ
ると不透明であるとにかかわらずほぼ一定であ
り、従つて検査出力波形もほゞ同じになるわけで
ある。ここで、前述した従来の拡散反射形検査器と同
軸反射形検査器の機能を整理して示すと、次の表
に示す如くなる。 [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to an apparatus for inspecting the appearance of the surface of a capsule, such as a pharmaceutical capsule. [Prior art and its problems] Fine scratches may occur on the surface of pharmaceutical capsules during manufacture, and capsules with such scratches must be rejected as defective products.
There are many types of scratches, such as pinholes of about 0.1φ to 2φ and thin parts on the verge of becoming holes (hereinafter referred to as "swim spots"). Conventionally, this type of flaw has been discovered through visual inspection by humans, but in recent years, flaw inspection using automatic visual inspection equipment has also been proposed. As one of the optical inspection devices (sensors) used in such a visual inspection device, the one described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-57939 has already been proposed. The tester according to this proposed example will be temporarily referred to as a diffuse reflection tester. FIG. 1 is an explanatory diagram of the configuration of such a diffuse reflection type inspection device. In the figure, the optical inspection device uses an illumination system consisting of a lamp 3 for illumination, a condensing lens 4 that irradiates light from the lamp 3 as a strong spot light onto a part of the surface of the capsule 1, and a magnifying lens 5. It consists of an optical sensor system configured so that only reflected light from a specified area of the capsule surface, for example, a specified part with a diameter of 0.5 mm, enters the optical sensor 6. As the optical sensor 6, a photodiode or the like is used. Note that 2 is a transport drum, and 7 is a rotating roller for rotating the capsule 1. FIG. 2a shows the output waveform of the tester obtained when a rotating opaque capsule is scanned in a spiral manner by a light spot using such a tester. The second tester output waveform obtained when scanning a transparent capsule instead of an opaque capsule in the same spiral pattern
Shown in Figure b. In these figures, 101 corresponds to the main body of the opaque capsule, 103 corresponds to the light reflected from the cap, and 105 corresponds to the light reflected from the small holes (scratches) on the surface of the capsule. Further, 107 corresponds to the main body of the transparent capsule, 109 corresponds to the cap portion, and 111 corresponds to the transmitted light from the small hole on the surface of the capsule. Comparing Figure 2 a and b, the following can be said. That is, the output waveform b obtained by scanning the transparent capsule has a lower DC component than that of the opaque capsule, and the output waveform corresponding to the wound (small hole) is also as seen in 105 and 111. If one has a negative polarity that falls, the other has a positive polarity that rises, and the polarity is opposite. This is because the reflection mechanisms are different between transparent capsules and opaque capsules. That is,
Since the opaque capsule contains an opaque substance called titanium oxide in multiple directions, a large amount of the irradiated light is reflected from the capsule surface toward the optical axis of the inspection device. On the other hand, since the transparent capsule does not contain titanium oxide, the amount of light reflected from the capsule surface toward the optical axis direction of the inspection device is small. If the opaque capsule has a small hole such as a scrape hole, there will be no reflective surface in that area, so the amount of reflected light will disappear. If there is a hole in the transparent capsule, the amount of reflected light will be low regardless of whether or not the hole has a reflective surface. If there is a reflective surface on which the line is located, part of the illumination light is reflected from the reflective surface and reflected in the optical axis direction of the inspection device. As mentioned above, in the conventionally known diffuse reflection type inspection device, the inspection output waveform differs depending on whether the capsule to be inspected is an opaque capsule or a transparent capsule. The signal processing circuits used will also be different. On the other hand, an optical inspection device has already been proposed that provides the same inspection output waveform regardless of whether the capsule to be inspected is an opaque capsule or a transparent capsule, and the subsequent signal processing is easy.
-Refer to No. 158178). Such an inspection device will be temporarily called a coaxial reflection type inspection device. FIG. 3 is an explanatory diagram of the configuration of such a coaxial reflection type inspection device. In the figure, light emitted from a light source 13 is condensed by a condenser lens 8, then its optical path is bent by 45 degrees by a half mirror 9, and is irradiated onto a capsule 1 via a lens 10. The light reflected on the capsule surface enters a photodiode 12 via a lens 10, a half mirror 9, and an aperture 11. The amount of incident light is photoelectrically converted by the photodiode 12, and its output is led to a signal processing circuit for determining the presence or absence of scratches. In this manner, in the coaxial reflection type inspection device, the optical axis of the illumination light and the optical axis of the inspection device are coaxial, and therefore, the amount of irradiated light is specularly reflected from the capsule surface. Therefore, the amount of reflected light is approximately constant regardless of whether the reflective surface is transparent or opaque, and therefore the inspection output waveform is also approximately the same. Here, the functions of the conventional diffuse reflection type tester and coaxial reflection type tester described above are summarized and shown in the following table.

[Purpose of the invention]

本発明は、上述のような従来の技術的事情にか
んがみなされたものであり、従つて本発明の目的
は、拡散反射形検査器と同軸反射形検査器を一体
化し、カプセルを自転駆動するためのローラの長
さを長くすることを要せず、構成の簡素化を可能
にした萬能形のカプセル外観検査装置を提供する
ことにある。〔発明の要点〕上記目的を達成するため、本発明によるカプセ
ル外観検査装置は、軸を中心として回転しながら
軸方向に搬送されるカプセルの表面に対し、カプ
セル軸を含む平面上でかつカプセル軸と垂直な方
向から照明する第１の照明手段と、前記カプセル
軸に対し所定角度をなす少なくも２方向から照明
する第２の照明手段と、前記第１および第２の各
照明手段へそれぞれ光を導く第１および第２の各
導光路と、共通のまたはそれぞれの光源から前記
第１および第２の各導光路へ交互に光を導く第１
の切換手段と、前記カプセル表面からの反射光を
入力とする共通の光電変換手段と、前記第１およ
び第２の各照明手段にそれぞれ対応した第１およ
び第２の信号処理回路と、前記光電変換手段から
の変換出力を前記第１および第２の各信号処理回
路へ交互に導く第２の切換手段と、前記第１およ
び第２の各切換手段による切換動作を同期させる
同期手段とを有して成ることを特徴としている。〔発明の実施例〕次に図を参照して本発明の一実施例を説明す
る。第５図は本発明の一実施例を示す説明図であ
る。同図において、１はカプセル、２５はレン
ズ、２６はハーフミラー、２７はアパーチヤ、２
８は光電変換器、２９，３０はそれぞれライトガ
イド、３１は光源、３２は光路切換板、３５はモ
ータ、３６はホトセンサ、３７はサンプラ、３８
は拡散系前処理回路、３９は同軸反射系前処理回
路、４０は判定回路、４１は仕分装置、である。第６図は第５図における光路切換板３２の正面
図であり、ａとｂは、それぞれ半回転前と後の正
面図である。同図において、３３，３４はそれぞ
れスリツト、２９，３０はそれぞれライトガイ
ド、３６はホトセンサ、である。第５図、第６図を参照する。被検査物としての
カプセル１の上部にはその外観表面に、適当な倍
率でピントの合う位置にレンズ２５、アパーチヤ
２７、光電変換器２８を設ける。被検査物として
のカプセル１には、２種類の照明を交互に切り換
えて与えている。光源３１より発射された光は、
光路切換板３２を介して２種のライトガイド２９
または３０へ照射される。ライトガイド２９は、
光学系光軸より、カプセル１の長手方向にほゞ
45゜傾いた照射口２９ａ，２９ｂをもち、これら
照射口の各照明軸の交点がカプセル１の表面の観
測点Ｐに一致している。またライトガイド３０より発射された光はハー
フミラー２６、レンズ２５を介してカプセル１の
観測点Ｐを照射する。光路切換板３２には、半円
弧状のスリツト３３，３４がその半径を異にして
切られており、そのスリツト上で円板の中心を通
る直線上に、ライトガイド２９，３０の各先端を
セツトしている。円板上でその中心に関し、ライ
トガイド２９，３０とは反対の側に、円板の回転
位置の状態を検出するためのホトセンサ３６を設
けている。光電変換器２８の出力は、ホトセンサ３６の出
力で切り換えられるサンプラ３７によつて、拡散
反射系前処理回路３８または同軸反射系前処理回
路３９へ接続される。この２つの前処理回路の出
力は判定回路４０へ導かれ、総合判定される。次に本実施例による検査動作について説明す
る。被検査物であるカプセル１として第７図に示
したとおり、そのボデー５１は透明でその一部に
穴５２があいており、キヤツプ５３は不透明でス
インスポツト（薄肉状態の部分）５４のある医薬
用カプセル（薬剤の入つていない状態）を想定す
る。説明を簡単にするために、第５図に示した構成
から光路切換板３２、ライトガイド３０を除去
し、ライトガイド２９だけを用いて上記カプセル
１を検査したときの光電変換器２８の出力波形を
第８図ａに示す。又第５図に示した構成からライトガイド２９を
除去し、ライトガイド３０を用いたときの出力波
形を第９図ａに示す。次に光路切換板３２、ライトガイド２９，３０
を用いたときの動作条件について説明する。被検
査物であるカプセル１の長手方向搬送速度をＶ、
自転する回転数をN_c、１回転する間に搬送され
る距離をＰ、１回転するに要する時間をＴとする
とこれらの間には次の関係式が成立する。Ｔ＝１／N_c＝Ｐ／Ｖ又、光路切換板３２の回転数をN_s、同一半径
上にあるスリツトのペア数をｍとすると、N_c、
N_sの間には次の関係をもたせることができる。 N_s＝N_c／（２・ｍ）第６図に示した光路切換板３２は、ｍ＝１の場
合を示しており、従つて N_s＝N_c／２なる関係が成立する。この条件で第７図に示した如きカプセルを検査
したときの動作を説明する。光路切換板３２の状
態が、第６図ａに示した状態にあるときは、ホト
センサ３６がオン状態となり、サンプラ３７は前
処理回路３８へ接続される。このときライトガイ
ド２９にはスリツト３３を介して、光源３１より
光が照射される。同様にして光路切換板３２が第６図ｂの状態に
あるときは、ライトガイド３０へ光が照射され、
サンプラ３７は前処理回路３９を選択する。従つ
て前処理回路３８，３９には第８図ｂ、第９図ｂ
に示した如き断続波形を得る。すなわち被検査物
であるカプセル１の外観の検査出力を切換板３２
の１回転おきに取り込むことができる。第８図、
第９図にそれぞれ示した傷部５５，５６の詳細を
第１０図に示す。本方式ではカプセル表面で１回転おきに検査し
ない領域を生ずるように見えるが、実際には視野
の大きさＤとカプセルが１回転する間にすすむ距
離Ｐとの間の関係をＤ2P とすることにより、無検査領域は無くなる。次に本発明の変形例を述べる。 (1) 光路切換板３２の形状を、第１１図に示した
とおり、スリツトの数を増やしたものとすれば
それに反比例して光路切換板の回転数を減らす
ことができる。 (2) 上記の説明では光路切換板を利用したが、光
源としてLED（発光ダイオード）を用い、各
LEDそのものを各ライトガイドの代りにセツ
トし、被検査物であるカプセルの回転に合わせ
て電気的に各LEDの発光タイミングを制御す
るようにしても、上述の方式と全く同じ効果が
得られる。〔発明の効果〕本発明によれば、拡散反射形検査器と同軸反射
形検査器の有している特徴のすべてを備えるとい
う利点の他に、次の効果を期待できる。 (1) 被検査物を回転駆動するローラの長さを短く
でき、被検査物を安定に回転駆動することがで
きる。 (2) 光学系を１系統にできることにより、光学系
調整が容易になる。 (3) 検査部が全体としてコンパクトな構成にな
る。 The present invention was conceived in view of the above-mentioned conventional technical circumstances, and an object of the present invention is to integrate a diffuse reflection type inspection device and a coaxial reflection type inspection device, and to drive a capsule to rotate. It is an object of the present invention to provide a multifunctional capsule external appearance inspection device that does not require an increase in the length of the roller and can be simplified in configuration. [Summary of the Invention] In order to achieve the above object, the capsule appearance inspection device according to the present invention inspects the surface of a capsule that is conveyed in the axial direction while rotating around the axis, on a plane that includes the capsule axis, and on a plane that includes the capsule axis. a first illumination means for illuminating from a direction perpendicular to the capsule axis; a second illumination means for illuminating from at least two directions forming a predetermined angle with respect to the capsule axis; first and second light guide paths that guide light, and a first light guide that alternately guides light from a common or respective light source to each of the first and second light guide paths.
switching means, a common photoelectric conversion means that inputs reflected light from the capsule surface, first and second signal processing circuits respectively corresponding to the first and second illumination means, and the photoelectric conversion means. A second switching means that alternately guides the conversion output from the conversion means to each of the first and second signal processing circuits, and a synchronization means that synchronizes switching operations by each of the first and second switching means. It is characterized by the following. [Embodiment of the Invention] Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is an explanatory diagram showing one embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a capsule, 25 is a lens, 26 is a half mirror, 27 is an aperture, 2
8 is a photoelectric converter, 29 and 30 are light guides, 31 is a light source, 32 is an optical path switching plate, 35 is a motor, 36 is a photo sensor, 37 is a sampler, 38
Reference numeral 39 denotes a diffusion system preprocessing circuit, 39 a coaxial reflection system preprocessing circuit, 40 a determination circuit, and 41 a sorting device. FIG. 6 is a front view of the optical path switching plate 32 in FIG. 5, and a and b are front views before and after a half turn, respectively. In the figure, 33 and 34 are slits, 29 and 30 are light guides, and 36 is a photo sensor. Please refer to FIGS. 5 and 6. A lens 25, an aperture 27, and a photoelectric converter 28 are provided on the outer surface of the upper part of the capsule 1 as an object to be inspected at appropriate magnifications and at focusing positions. Two types of illumination are alternately applied to the capsule 1 as the object to be inspected. The light emitted from the light source 31 is
Two types of light guides 29 are connected via the optical path switching plate 32.
Or irradiated to 30. The light guide 29 is
Approximately in the longitudinal direction of capsule 1 from the optical axis of the optical system.
It has irradiation ports 29a and 29b inclined at 45 degrees, and the intersection of the illumination axes of these irradiation ports coincides with the observation point P on the surface of the capsule 1. Further, the light emitted from the light guide 30 illuminates the observation point P of the capsule 1 via the half mirror 26 and the lens 25. The optical path switching plate 32 has semicircular arc-shaped slits 33 and 34 cut with different radii, and the tips of the light guides 29 and 30 are aligned on the straight line passing through the center of the disc on the slits. It is set. A photosensor 36 for detecting the rotational position of the disk is provided on the side opposite to the light guides 29 and 30 with respect to the center of the disk. The output of the photoelectric converter 28 is connected to a diffuse reflection system preprocessing circuit 38 or a coaxial reflection system preprocessing circuit 39 by a sampler 37 that is switched by the output of the photosensor 36. The outputs of these two preprocessing circuits are led to the judgment circuit 40, where they are comprehensively judged. Next, the inspection operation according to this embodiment will be explained. As shown in FIG. 7 as a capsule 1 which is an object to be inspected, its body 51 is transparent and has a hole 52 in a part thereof, and the cap 53 is opaque and has a swim spot (thin walled part) 54 for medical use. Assume a capsule (with no drug in it). To simplify the explanation, the output waveform of the photoelectric converter 28 is shown when the optical path switching plate 32 and the light guide 30 are removed from the configuration shown in FIG. 5, and the capsule 1 is inspected using only the light guide 29. is shown in Figure 8a. Further, the output waveform when the light guide 29 is removed from the configuration shown in FIG. 5 and the light guide 30 is used is shown in FIG. 9a. Next, the optical path switching plate 32, the light guides 29, 30
The operating conditions when using this will be explained. The longitudinal transport speed of the capsule 1, which is the object to be inspected, is V,
Let N _c be the number of rotations, P be the distance conveyed during one rotation, and T be the time required for one rotation. The following relational expression holds between these. T=1/N _c =P/V Further, if the number of rotations of the optical path switching plate 32 is N _s and the number of pairs of slits on the same radius is m, then N _c ,
The following relationship can be established between N _s . N _s =N _c /(2·m) The optical path switching plate 32 shown in FIG. 6 shows the case where m=1, so the relationship N _s =N _c /2 holds true. The operation when inspecting a capsule as shown in FIG. 7 under these conditions will be explained. When the optical path switching plate 32 is in the state shown in FIG. 6a, the photosensor 36 is turned on and the sampler 37 is connected to the preprocessing circuit 38. At this time, the light guide 29 is irradiated with light from the light source 31 through the slit 33. Similarly, when the optical path switching plate 32 is in the state shown in FIG. 6b, the light guide 30 is irradiated with light,
Sampler 37 selects preprocessing circuit 39 . Therefore, the preprocessing circuits 38 and 39 have the functions shown in FIGS. 8b and 9b.
Obtain an intermittent waveform as shown in . In other words, the switching plate 32 outputs the inspection output of the external appearance of the capsule 1, which is the object to be inspected.
can be captured every other revolution. Figure 8,
FIG. 10 shows details of the scratches 55 and 56 shown in FIG. 9, respectively. Although this method appears to generate areas on the capsule surface that are not inspected every other revolution, in reality, the relationship between the field of view size D and the distance P that the capsule travels during one revolution is defined as D2P. , the non-inspection area disappears. Next, a modification of the present invention will be described. (1) If the shape of the optical path switching plate 32 is increased in the number of slits as shown in FIG. 11, the number of rotations of the optical path switching plate can be reduced in inverse proportion to the number of slits. (2) Although the optical path switching board was used in the above explanation, an LED (light emitting diode) was used as the light source, and each
Even if the LEDs themselves are set in place of each light guide and the light emission timing of each LED is electrically controlled in accordance with the rotation of the capsule that is the object to be inspected, exactly the same effect as the above method can be obtained. [Effects of the Invention] According to the present invention, in addition to the advantage of having all the features of a diffuse reflection type inspection device and a coaxial reflection type inspection device, the following effects can be expected. (1) The length of the roller that rotates the object to be inspected can be shortened, and the object to be inspected can be rotated stably. (2) Since the optical system can be integrated into one system, optical system adjustment becomes easier. (3) The inspection section has a compact structure as a whole.

[Brief explanation of drawings]

第１図は従来公知の拡散反射形検査器の構成説
明図、第２図ａは拡散反射形検査器により不透明
カプセルを走査して得られる検査器出力の波形
図、第２図ｂは同じく透明カプセルを走査して得
られる検査器出力の波形図、第３図は従来の同軸
反射形検査器の構成説明図、第４図は従来の検査
器を寄せ集めて構成した併用形検査器の構成説明
図、第４Ａ図は第４図における要部の断面図、第
５図は本発明の一実施例を示す説明図、第６図は
第５図における光路切換板の正面図、第７図は被
検査物としてのカプセルの外観説明図、第８図、
第９図はそれぞれ本発明の実施例による検査出力
波形を示した波形図、第１０図は第８図、第９図
における傷部５５，５６の拡大波形図、第１１図
は光路切換板３２の他の形状例を示した説明図、
である。符号説明１……カプセル、２……搬送ドラ
ム、３……照明用ランプ、４……集光レンズ、５
……拡大レンズ、６……光センサ、７……回転ロ
ーラ、８……コンデンサレンズ、９……ハーフミ
ラー、１０……レンズ、１１……アパーチヤ、１
２……ホトダイオード、１３……光源、１６……
拡散反射形検査器、１７……同軸反射形検査器、
１８……スピンローラ、２５……レンズ、２６…
…ハーフミラー、２７……アパーチヤ、２８……
光電変換器、２９，３０……ライトガイド、３１
……光源、３２……光路切換板、３３，３４……
スリツト、３５……モータ、３６……ホトセン
サ、３７……サンプラ、３８……拡散反射系前処
理回路、３９……同軸反射系前処理回路、４０…
判定回路、４１……仕分装置。 Figure 1 is an explanatory diagram of the configuration of a conventionally known diffuse reflection type tester, Figure 2a is a waveform diagram of the output of the tester obtained by scanning an opaque capsule with the diffuse reflection type tester, and Figure 2b is also transparent. A waveform diagram of the output of the tester obtained by scanning the capsule, Figure 3 is an explanatory diagram of the configuration of a conventional coaxial reflection type tester, and Figure 4 is the configuration of a combination type tester configured by assembling conventional testers. 4A is a sectional view of the main part in FIG. 4, FIG. 5 is an explanatory diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 6 is a front view of the optical path switching plate in FIG. 5, and FIG. Fig. 8 is an explanatory diagram of the appearance of a capsule as an object to be inspected;
9 is a waveform diagram showing test output waveforms according to the embodiments of the present invention, FIG. 10 is an enlarged waveform diagram of the scratches 55 and 56 in FIGS. 8 and 9, and FIG. 11 is a waveform diagram of the optical path switching plate 32. An explanatory diagram showing other shape examples,
It is. Explanation of symbols 1... Capsule, 2... Transport drum, 3... Illumination lamp, 4... Condensing lens, 5
... Magnifying lens, 6 ... Optical sensor, 7 ... Rotating roller, 8 ... Condenser lens, 9 ... Half mirror, 10 ... Lens, 11 ... Aperture, 1
2...Photodiode, 13...Light source, 16...
Diffuse reflection type tester, 17...Coaxial reflection type tester,
18... Spin roller, 25... Lens, 26...
...Half mirror, 27...Aperture, 28...
Photoelectric converter, 29, 30...Light guide, 31
...Light source, 32...Optical path switching plate, 33, 34...
Slit, 35... Motor, 36... Photo sensor, 37... Sampler, 38... Diffuse reflection system pre-processing circuit, 39... Coaxial reflection system pre-processing circuit, 40...
Judgment circuit, 41... sorting device.

Claims

[Claims]

1. A first illumination means that illuminates the surface of a capsule that is being transported in the axial direction while rotating around an axis on a plane that includes the capsule axis and from a direction perpendicular to the capsule axis; a second illumination means for illuminating from at least two angular directions; first and second light guide paths guiding light to the first and second illumination means, respectively; a first switching means that alternately guides light to each of the first and second light guide paths; a common photoelectric conversion means that inputs reflected light from the capsule surface; and each of the first and second illumination means. first and second signal processing circuits respectively corresponding to the first and second signal processing circuits; second switching means for alternately guiding the conversion output from the photoelectric conversion means to the first and second signal processing circuits; A capsule external appearance inspection apparatus comprising: a synchronizing means for synchronizing the switching operations of each of the second switching means.