JPH01201466A - イオン源 - Google Patents
イオン源Info
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- JPH01201466A JPH01201466A JP63025601A JP2560188A JPH01201466A JP H01201466 A JPH01201466 A JP H01201466A JP 63025601 A JP63025601 A JP 63025601A JP 2560188 A JP2560188 A JP 2560188A JP H01201466 A JPH01201466 A JP H01201466A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、試料基板上に各種材料の薄膜を形成し、また
は薄膜表面のエツチングまたは表面改質をするためのイ
オンを引き出す装置に関するものであり、特に高密度プ
ラズマによるスパッタリングを利用して各種イオンを高
電流密度、高効率で連続して長時間安定に引き出すため
の新規なイオン源に関するものである。
は薄膜表面のエツチングまたは表面改質をするためのイ
オンを引き出す装置に関するものであり、特に高密度プ
ラズマによるスパッタリングを利用して各種イオンを高
電流密度、高効率で連続して長時間安定に引き出すため
の新規なイオン源に関するものである。
[従来の技術]
従来から、プラズマ中で生じたイオンをグリッド等の引
出し機構を用いて引き出すいわゆるイオン源は、各種材
料および薄膜のエツチングまたは加工に各方面で広く用
いられている。中でも第15図に示すような熱電子放出
用フィラメントを備えたカウフマン型イオン源がもっと
も一般的に用いられている。カウフマン型イオン源はプ
ラズマ生成室1の内部に熱電子放出用のフィラメント2
を有し、このフィラメント2を陰極として電磁石3によ
って発生した磁界中で放電を起こさせることによりプラ
ズマ4を発生させ、このプラズマ4中のイオンを数枚の
引出しグリッド5を用いてイオンビーム6として引出す
ものである。
出し機構を用いて引き出すいわゆるイオン源は、各種材
料および薄膜のエツチングまたは加工に各方面で広く用
いられている。中でも第15図に示すような熱電子放出
用フィラメントを備えたカウフマン型イオン源がもっと
も一般的に用いられている。カウフマン型イオン源はプ
ラズマ生成室1の内部に熱電子放出用のフィラメント2
を有し、このフィラメント2を陰極として電磁石3によ
って発生した磁界中で放電を起こさせることによりプラ
ズマ4を発生させ、このプラズマ4中のイオンを数枚の
引出しグリッド5を用いてイオンビーム6として引出す
ものである。
従来のカウフマン型イオン源に代表されるイオン源はプ
ラズマ生成用の熱電子をフィラメントを用いて取り出し
ているため、そのフィラメント材料がスパッタされ不純
物として引出されたイオンに含まれてしまう。さらにプ
ラズマ生成用ガスとして酸素等の反応性ガスを用いた場
合には、反応性ガスがフィラメントと反応し、長時間連
続したイオン引出しができないという大きな欠点があっ
た。しかも引出されるイオンはΔr等のガスを原料とし
たものに限られていた。金属イオン源として、アンテナ
型マイクロ波金属イオン源があるが、スパッタによるア
ンテナの消耗により長時間連続してイオン引出しができ
ず、しかも大面積にわたるイオン引出しができ”ない。
ラズマ生成用の熱電子をフィラメントを用いて取り出し
ているため、そのフィラメント材料がスパッタされ不純
物として引出されたイオンに含まれてしまう。さらにプ
ラズマ生成用ガスとして酸素等の反応性ガスを用いた場
合には、反応性ガスがフィラメントと反応し、長時間連
続したイオン引出しができないという大きな欠点があっ
た。しかも引出されるイオンはΔr等のガスを原料とし
たものに限られていた。金属イオン源として、アンテナ
型マイクロ波金属イオン源があるが、スパッタによるア
ンテナの消耗により長時間連続してイオン引出しができ
ず、しかも大面積にわたるイオン引出しができ”ない。
また従来のイオン源においては、プラズマ中のガスや粒
子のイオン化が十分でなく、しかもプラズマに投入され
た電力の殆どが熱エネルギーとして消費されてしまい、
投入電力にしめるプラズマ形成(TLmlt)に用いら
れる電力の割合が低いという欠点があった。
子のイオン化が十分でなく、しかもプラズマに投入され
た電力の殆どが熱エネルギーとして消費されてしまい、
投入電力にしめるプラズマ形成(TLmlt)に用いら
れる電力の割合が低いという欠点があった。
スパッタを利用したイオン源としては電子サイクロトロ
ン共鳴(ECR)を利用したマイクロ波放電によるスパ
ッタ型イオン源(特開昭62−224686号)が提案
されており、高効率のイオン源として種々の特徴を持っ
ている。
ン共鳴(ECR)を利用したマイクロ波放電によるスパ
ッタ型イオン源(特開昭62−224686号)が提案
されており、高効率のイオン源として種々の特徴を持っ
ている。
スパッタを利用して、大電流イオン源を実現するにはプ
ラズマ密度を高密度に高効率に保つ必要がある。そのた
めには、ターゲットから放出される二次電子(γ電子)
を効率的に閉じ込めることが重要であるが、上記の技術
では、この二次電子の閉じ込めが不十分で、高エネルギ
ー電子のエネルギーを有効にプラズマに伝えることがで
きず、大電流スパッタ型イオン源技術として十分とは言
い難い。
ラズマ密度を高密度に高効率に保つ必要がある。そのた
めには、ターゲットから放出される二次電子(γ電子)
を効率的に閉じ込めることが重要であるが、上記の技術
では、この二次電子の閉じ込めが不十分で、高エネルギ
ー電子のエネルギーを有効にプラズマに伝えることがで
きず、大電流スパッタ型イオン源技術として十分とは言
い難い。
[発明が解決しようとする課題]
イオン源として望まれる条件をまとめると、(1)大収
量(大イオン電流)であること、(2)不純物が少ない
こと、 (3)イオンのエネルギーか広い範囲にわたって制御で
きること、 (4)不活性ガスのみでなく金属イオン等の各種イオン
も取り出せること、 が上げられる。
量(大イオン電流)であること、(2)不純物が少ない
こと、 (3)イオンのエネルギーか広い範囲にわたって制御で
きること、 (4)不活性ガスのみでなく金属イオン等の各種イオン
も取り出せること、 が上げられる。
しかしこのような条件を満足するイオン源はこれまで実
現されていない。
現されていない。
本発明は従来の欠点を改善し、上記各条件を満たし得る
イオン源を提供することを目的とする。
イオン源を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
かかる目的を達成するために本発明イオン源はガスを導
入してプラズマを発生させるプラズマ発生室と、一端部
にマイクロ波導入窓を有し、他端部においてプラズマ生
成室に結合された真空導波管と、プラズマ生成室の端部
に設けられたイオン引出し機構と、プラズマ生成室内部
の両端部に設けられたそれぞれスパッタリング材料から
なる第1および第2のターゲットと、第1および第2の
ターゲットにそれぞれプラズマ生成室に対して負の電圧
を印加する少なくとも1個の電源と、プラズマ生成室の
内部に磁場を形成し、かつ第1および第2のターゲット
の一方からでて他方に入る磁束を生成する手段とを具え
たことを特徴とする。
入してプラズマを発生させるプラズマ発生室と、一端部
にマイクロ波導入窓を有し、他端部においてプラズマ生
成室に結合された真空導波管と、プラズマ生成室の端部
に設けられたイオン引出し機構と、プラズマ生成室内部
の両端部に設けられたそれぞれスパッタリング材料から
なる第1および第2のターゲットと、第1および第2の
ターゲットにそれぞれプラズマ生成室に対して負の電圧
を印加する少なくとも1個の電源と、プラズマ生成室の
内部に磁場を形成し、かつ第1および第2のターゲット
の一方からでて他方に入る磁束を生成する手段とを具え
たことを特徴とする。
さらに本発明イオン源はガスを導入してプラズマを発生
させるプラズマ発生室と、一端部にマイクロ波導入窓を
有し、他端部においてプラズマ生成室に結合された真空
導波管と、プラズマ生成室の端部に設けられたイオン引
出し機構と、プラズマ生成室の内側面に沿って設けられ
たスパッタリング材料よりなる円筒状のターゲットと、
ターゲットにプラズマ生成室に対して負の電位を印加す
る電源と、プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ
ターゲットの一端部から出て他端部に入る磁束を生成す
る手段とを具えたことを特徴とする。
させるプラズマ発生室と、一端部にマイクロ波導入窓を
有し、他端部においてプラズマ生成室に結合された真空
導波管と、プラズマ生成室の端部に設けられたイオン引
出し機構と、プラズマ生成室の内側面に沿って設けられ
たスパッタリング材料よりなる円筒状のターゲットと、
ターゲットにプラズマ生成室に対して負の電位を印加す
る電源と、プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ
ターゲットの一端部から出て他端部に入る磁束を生成す
る手段とを具えたことを特徴とする。
[作 用]
本発明は、高い活性度の高密度プラズマを発生させ、そ
のプラズマを用いたスパッタを行い、生成イオンの反応
性や得られる膜の導電性がイオン引出しの障害とならず
、低エネルギーイオンを高速度、高効率に連続して引き
出せるものである。
のプラズマを用いたスパッタを行い、生成イオンの反応
性や得られる膜の導電性がイオン引出しの障害とならず
、低エネルギーイオンを高速度、高効率に連続して引き
出せるものである。
すなわち本発明は、電子サイクロトロン共口1(EC−
n)によりプラズマを生成および加熱し、その高密度プ
ラズマを利用してスパッタを行い、数eVから数keV
の低エネルギーイオンの引出しと、高活性なプラズマの
生成を両立させる。しかも、真空導波管を磁束方向と直
交して接続するため、真空導波管方向へのプラズマの加
速を抑制される。
n)によりプラズマを生成および加熱し、その高密度プ
ラズマを利用してスパッタを行い、数eVから数keV
の低エネルギーイオンの引出しと、高活性なプラズマの
生成を両立させる。しかも、真空導波管を磁束方向と直
交して接続するため、真空導波管方向へのプラズマの加
速を抑制される。
その結果、マイクロ波導入窓への導電性材料膜の付着に
よるマイクロ波の反射が無視でき、金属イオンを連続し
て長時間安定に形成することを可能とする。しかも電子
をプラズマ中に反射するターゲット配置をとるため、高
速スパッタが可能であり、そのために高電流密度イオン
の引出しが可能である。
よるマイクロ波の反射が無視でき、金属イオンを連続し
て長時間安定に形成することを可能とする。しかも電子
をプラズマ中に反射するターゲット配置をとるため、高
速スパッタが可能であり、そのために高電流密度イオン
の引出しが可能である。
[実施例]
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるイオン源の実施例の断面図である
。プラズマ生成室7はプラズマ生成部7Pおよびターゲ
ット保持部7Tからなっている。プラズマ生成室7には
プラズマを生成するためのガスが導入口8から導入され
るようになフている。またプラズマ生成室7には一端部
にマイクロ波導入窓10を有する真空導波管9が結合さ
れている。マイクロ波導入窓lOは、さらにマイクロ波
導波管11に接続され、さらに図示しない整合器、マイ
クロ波電力計、アイソレータ等のマイクロ波導入機構に
接続されたマイクロ波源からプラズマ生成室7にマイク
ロ波が供給される。・本実施例ではプラズマ生成室7内
に設置されたターゲットから直接見えない部分に配置さ
れたマイクロ波導入窓lOには石英ガラス版を用いてい
る。マイクロ波源としては、例えば、2.4561+□
のマグネトロンを用いている。
。プラズマ生成室7はプラズマ生成部7Pおよびターゲ
ット保持部7Tからなっている。プラズマ生成室7には
プラズマを生成するためのガスが導入口8から導入され
るようになフている。またプラズマ生成室7には一端部
にマイクロ波導入窓10を有する真空導波管9が結合さ
れている。マイクロ波導入窓lOは、さらにマイクロ波
導波管11に接続され、さらに図示しない整合器、マイ
クロ波電力計、アイソレータ等のマイクロ波導入機構に
接続されたマイクロ波源からプラズマ生成室7にマイク
ロ波が供給される。・本実施例ではプラズマ生成室7内
に設置されたターゲットから直接見えない部分に配置さ
れたマイクロ波導入窓lOには石英ガラス版を用いてい
る。マイクロ波源としては、例えば、2.4561+□
のマグネトロンを用いている。
プラズマ生成室7の一端部にはイオン引出し用グリッド
12が設けられている。本実施例ではグリッド12は2
枚の多孔グリッド12Aおよび12Bからなり、各グリ
ッドは絶縁体13を介してターゲット保持部7Tの底部
に取付けられ、グリッド12A、12Bにはそれぞれ電
源14A、14Bからプラズマ生成室7に対して負の電
圧が印加される。プラズマ生成室7の内部の他端部には
平板状のターゲット15が、グリッド12の近傍には円
筒状のターゲット16が設けられている。
12が設けられている。本実施例ではグリッド12は2
枚の多孔グリッド12Aおよび12Bからなり、各グリ
ッドは絶縁体13を介してターゲット保持部7Tの底部
に取付けられ、グリッド12A、12Bにはそれぞれ電
源14A、14Bからプラズマ生成室7に対して負の電
圧が印加される。プラズマ生成室7の内部の他端部には
平板状のターゲット15が、グリッド12の近傍には円
筒状のターゲット16が設けられている。
ターゲット15および16のプラズマ生成室への取付は
方法を第2A図および第2B図に示す。図示するように
、ターゲット15は水冷可能な金属製支持体15Aに取
外し可能に固定され、支持体15AはねじM15Bによ
ってプラズマ生成室7の上部の壁7Aに固定される。支
持体15Aと壁7Aとは絶縁体15Gによって絶縁され
ている。同様にターゲット16は水冷可能な金属製支持
体16^に取外し可能に固定され、支持体16Aは絶縁
体16Cを介してねじi 11iBによって壁7Bに固
定される。支持体15Aおよび16へのそれぞれの突出
端部15Dおよび16Dは電極を兼ね、それぞれ直流電
源17および18からターゲット15および16にプラ
ズマ生成室に対して負の電圧を印加することができる。
方法を第2A図および第2B図に示す。図示するように
、ターゲット15は水冷可能な金属製支持体15Aに取
外し可能に固定され、支持体15AはねじM15Bによ
ってプラズマ生成室7の上部の壁7Aに固定される。支
持体15Aと壁7Aとは絶縁体15Gによって絶縁され
ている。同様にターゲット16は水冷可能な金属製支持
体16^に取外し可能に固定され、支持体16Aは絶縁
体16Cを介してねじi 11iBによって壁7Bに固
定される。支持体15Aおよび16へのそれぞれの突出
端部15Dおよび16Dは電極を兼ね、それぞれ直流電
源17および18からターゲット15および16にプラ
ズマ生成室に対して負の電圧を印加することができる。
プラズマ生成室7には正の電位を印加するのか好ましい
。プラズマ生成室側のグリッド12Aにはプラズマ生成
室7に対して一数十から一200V(7)?i圧を印加
しておくと、グリッドに加速されたイオンがグリッド上
に堆積した膜を取除く効果がある。
。プラズマ生成室側のグリッド12Aにはプラズマ生成
室7に対して一数十から一200V(7)?i圧を印加
しておくと、グリッドに加速されたイオンがグリッド上
に堆積した膜を取除く効果がある。
プラズマ生成室7の外周両端には、少なくとも一対以上
の電磁石19A、19Bを設け、これによってプラズマ
生成室内で磁界を発生する。その際、マイクロ波による
電子サイクロトロン共0.%(ECR)の条件がプラズ
マ生成部7Pの内部で成立するように各構成条件を決定
する。例えば周波数2.45GH2のマイクロ波に対し
ては、ECRの条件は磁束密度875Gであるため、両
端の電磁石19A、19Bは例えば最大2000Gまで
の磁束密度が得られるように構成し、磁束密度875G
がプラズマ生成部7Pの内部のどこかで実現されている
。プラズマ生成部7Pの内部でECRによって効率よく
電子にエネルギーが与えられるだけでなく、この磁場は
生成したイオンや電子を磁界に垂直方向に散逸するのを
防ぎ、その結果、低ガス圧中で高密度プラズマが生成さ
れる。
の電磁石19A、19Bを設け、これによってプラズマ
生成室内で磁界を発生する。その際、マイクロ波による
電子サイクロトロン共0.%(ECR)の条件がプラズ
マ生成部7Pの内部で成立するように各構成条件を決定
する。例えば周波数2.45GH2のマイクロ波に対し
ては、ECRの条件は磁束密度875Gであるため、両
端の電磁石19A、19Bは例えば最大2000Gまで
の磁束密度が得られるように構成し、磁束密度875G
がプラズマ生成部7Pの内部のどこかで実現されている
。プラズマ生成部7Pの内部でECRによって効率よく
電子にエネルギーが与えられるだけでなく、この磁場は
生成したイオンや電子を磁界に垂直方向に散逸するのを
防ぎ、その結果、低ガス圧中で高密度プラズマが生成さ
れる。
プラズマ生成部7Pは、マイクロ波空洞共振器の条件と
して、−例として、円形空洞共゛振モードTEzsを採
用し、内のりで直径20cm、高さ20cmの円筒形状
を用いてマイクロ波の電界強度を高め、マイクロ波放電
の効率を高めるようにするのが望ましい。
して、−例として、円形空洞共゛振モードTEzsを採
用し、内のりで直径20cm、高さ20cmの円筒形状
を用いてマイクロ波の電界強度を高め、マイクロ波放電
の効率を高めるようにするのが望ましい。
平板状ターゲット15と円筒状ターゲット16は、平板
状ターゲット15と円筒状ターゲット16の面に電磁石
19A、19Bによる磁束20が流入するように、しか
もその磁束がターゲットのうち一方のターゲットから出
て他方のターゲットに入るように設置しである。
状ターゲット15と円筒状ターゲット16の面に電磁石
19A、19Bによる磁束20が流入するように、しか
もその磁束がターゲットのうち一方のターゲットから出
て他方のターゲットに入るように設置しである。
プラズマ生成室は水冷可能とするのが望ましい。ターゲ
ット15および16の側面をプラズマから保護するため
に、プラズマ生成室の内面にはシールド7Cおよび7D
を設けることが好ましい。
ット15および16の側面をプラズマから保護するため
に、プラズマ生成室の内面にはシールド7Cおよび7D
を設けることが好ましい。
プラズマ生成室7内を高真空に排気した後、ガス導入口
8からガスを導入してマイクロ波を導入し、ECn条件
で放電を生ぜしめ、高密度プラズマを発生させる。プラ
ズマ中のイオンをイオンビーム21として引き出すこと
かできる。ターゲット間の磁束はターゲット表面から生
成された二次電子(γ電子)が磁界に垂直方向に散逸す
るのを防ぎ、さらにプラズマを閉じ込める効果をもち、
その結果、低ガス圧中で高密度プラズマが生成される。
8からガスを導入してマイクロ波を導入し、ECn条件
で放電を生ぜしめ、高密度プラズマを発生させる。プラ
ズマ中のイオンをイオンビーム21として引き出すこと
かできる。ターゲット間の磁束はターゲット表面から生
成された二次電子(γ電子)が磁界に垂直方向に散逸す
るのを防ぎ、さらにプラズマを閉じ込める効果をもち、
その結果、低ガス圧中で高密度プラズマが生成される。
第3図は第1図に示したイオン源を利用した薄膜形成装
置の一例の断面図である。イオン引出し用グリッド12
を挟んで試料室22がプラズマ生成室7と結合されてい
る。試料室22とプラズマ生成室7とは絶縁するのがよ
い。試料室22にはガス導入口23からガスを導入する
ことができ、排気系24によって高真空に排気すること
ができる。試料室22内には基板25を保持するための
基板ホルダ26が設けられ、基板ホルダ26とイオン引
出しグリッド12との間に開閉可能なシャッタ27か設
りられている。基板ホルタ26にはヒータを内蔵して基
板を加熱てぎるようにするのが好ましく、また基板25
に直流あるいは交流の電圧を印加して膜形成中の基板へ
のバイアス電圧の印加、基板のスパッタクリーニングが
可能なように構成するのが望ましい。
置の一例の断面図である。イオン引出し用グリッド12
を挟んで試料室22がプラズマ生成室7と結合されてい
る。試料室22とプラズマ生成室7とは絶縁するのがよ
い。試料室22にはガス導入口23からガスを導入する
ことができ、排気系24によって高真空に排気すること
ができる。試料室22内には基板25を保持するための
基板ホルダ26が設けられ、基板ホルダ26とイオン引
出しグリッド12との間に開閉可能なシャッタ27か設
りられている。基板ホルタ26にはヒータを内蔵して基
板を加熱てぎるようにするのが好ましく、また基板25
に直流あるいは交流の電圧を印加して膜形成中の基板へ
のバイアス電圧の印加、基板のスパッタクリーニングが
可能なように構成するのが望ましい。
引出したイオンのエネルギーは主にプラズマ生成室7と
イオン引出しグリッド12に印加する電圧の相対差であ
る加速電圧により制御することができる。
イオン引出しグリッド12に印加する電圧の相対差であ
る加速電圧により制御することができる。
第4図に、第3図に示した薄膜形成装置における磁束方
向の磁場強度分布の例を示した。磁場は発散磁場である
。
向の磁場強度分布の例を示した。磁場は発散磁場である
。
ここで本発明のイオン源における高密度プラズマ生成の
原理を第5図により詳細に説明する。
原理を第5図により詳細に説明する。
生成された高密度プラズマに面したターゲットに負の電
位を印加することにより、高密度プラズマ中のイオンを
その円筒状ターゲット16と平板状ターゲット15に効
率よく引き込みスパッタをおこさせる。円筒状ターゲッ
ト16と平板状ターゲット15に引き込まれたイオンか
ターゲット表面に衝突すると、そのターゲット表面から
二次電子(γ電子)28が放出される。γ電子28はそ
れぞれのターゲットが作る電界で加速され、それらター
ゲット表面に走る磁束20に拘束されスパイラル運動し
ながら相手のターゲットに高速で移動する。相手のター
ゲットに達し゛たγ電子28はまたそのターゲットが作
る電界で反射され、その結果、γ電子28は両ターゲッ
ト間にスパイラル運動しつつ関し込められることになる
。このγ電子の往復運動はそのエネルギーが磁束の束縛
エネルギーより小さくなるまで閉じ込められ、その間中
性粒子との衝突やプラズマとの相互作用により電離を加
速する。
位を印加することにより、高密度プラズマ中のイオンを
その円筒状ターゲット16と平板状ターゲット15に効
率よく引き込みスパッタをおこさせる。円筒状ターゲッ
ト16と平板状ターゲット15に引き込まれたイオンか
ターゲット表面に衝突すると、そのターゲット表面から
二次電子(γ電子)28が放出される。γ電子28はそ
れぞれのターゲットが作る電界で加速され、それらター
ゲット表面に走る磁束20に拘束されスパイラル運動し
ながら相手のターゲットに高速で移動する。相手のター
ゲットに達し゛たγ電子28はまたそのターゲットが作
る電界で反射され、その結果、γ電子28は両ターゲッ
ト間にスパイラル運動しつつ関し込められることになる
。このγ電子の往復運動はそのエネルギーが磁束の束縛
エネルギーより小さくなるまで閉じ込められ、その間中
性粒子との衝突やプラズマとの相互作用により電離を加
速する。
さらに、円筒状ターゲット16および平板状ターゲット
15からスパッタされた殆どが中性の粒子の一部分は、
電子温度の高い高密度プラズマ中でイオン化される。そ
の結果、ターゲット材料のイオンが形成される。
15からスパッタされた殆どが中性の粒子の一部分は、
電子温度の高い高密度プラズマ中でイオン化される。そ
の結果、ターゲット材料のイオンが形成される。
また、プラズマが活性であるため、10−’Torr台
のより低いガス圧でも放電が安定に形成できる。
のより低いガス圧でも放電が安定に形成できる。
プラズマ生成室内のイオンはイオン引出しグリッド12
によって選択的にプラズマ生成室外に引き出され数十か
ら数keVの低エネルギーイオンが得られる。
によって選択的にプラズマ生成室外に引き出され数十か
ら数keVの低エネルギーイオンが得られる。
本発明のスパッタ型イオン源ては、前述のようにプラズ
マのイオン化率が高いため、ターゲットから放出された
中性のスパッタ粒子かプラズマ中でイオン化される割合
が高い。このイオン化されたターゲット構成粒子がまた
ターゲットの電位で加速されて、またターゲットをスパ
ッタするいわゆるセルフスパッタの割合も極めて大きく
なる。
マのイオン化率が高いため、ターゲットから放出された
中性のスパッタ粒子かプラズマ中でイオン化される割合
が高い。このイオン化されたターゲット構成粒子がまた
ターゲットの電位で加速されて、またターゲットをスパ
ッタするいわゆるセルフスパッタの割合も極めて大きく
なる。
すなわち、プラズマ生成用ガス(例えばAr)がごく希
薄な場合、あるいはガスを用いない場合でも上述のセル
フスパッタを持続し、そのために高純度のイオン引出し
も実現できる。
薄な場合、あるいはガスを用いない場合でも上述のセル
フスパッタを持続し、そのために高純度のイオン引出し
も実現できる。
金属イオンを引き出す場合、マイクロ波導入窓が曇ると
、長時間にわたってプラズマ生成ができない。そこで、
マイクロ波導入窓lOが導電性材料膜の付着により曇ら
ないように、真空導波管9が磁束方向と直交して接続さ
れている。これはプラズマが磁束と直交する方向には加
速されないことを利用している。プラズマ生成室7中に
設置された円筒状ターゲット16や平板状ターゲット1
5からスパッタされた粒子のうち、イオン化されない中
性の粒子は磁界や電界の叱りを受けず、そのターゲット
からほぼ直進して飛来する。このため、マイクロ波導入
窓10をターゲットから直接見えない位首に設置するこ
とによりマイクロ波導入窓10のスパッタ粒子による曇
りも防止することができる。このようにして、引出しイ
オンの種類や生成膜の導電性によらず、またその膜厚に
もよらず、マイクロ波導入窓が曇ることがなく、かつほ
とんどのイオンを連続して長時間安定に引き出すことが
可能である。
、長時間にわたってプラズマ生成ができない。そこで、
マイクロ波導入窓lOが導電性材料膜の付着により曇ら
ないように、真空導波管9が磁束方向と直交して接続さ
れている。これはプラズマが磁束と直交する方向には加
速されないことを利用している。プラズマ生成室7中に
設置された円筒状ターゲット16や平板状ターゲット1
5からスパッタされた粒子のうち、イオン化されない中
性の粒子は磁界や電界の叱りを受けず、そのターゲット
からほぼ直進して飛来する。このため、マイクロ波導入
窓10をターゲットから直接見えない位首に設置するこ
とによりマイクロ波導入窓10のスパッタ粒子による曇
りも防止することができる。このようにして、引出しイ
オンの種類や生成膜の導電性によらず、またその膜厚に
もよらず、マイクロ波導入窓が曇ることがなく、かつほ
とんどのイオンを連続して長時間安定に引き出すことが
可能である。
マイクロ波導入効率の点からは、プラズマ生成室のマイ
クロ波入射部の磁場強度をECnをおこす磁場強度、こ
の場合875Gより強く設定したほうが良い。
クロ波入射部の磁場強度をECnをおこす磁場強度、こ
の場合875Gより強く設定したほうが良い。
次に、第3図に示した装置を用いてAj2イオンを引出
し、A℃膜を形成した結果について説明する。
し、A℃膜を形成した結果について説明する。
第6図にターゲットでの放電特性の一例を示す。ここで
平板状ターゲット15に印加する電圧VaPは一500
vに固定し、マイクロ波電力Pμは300Wおよび80
Wに、ガス圧は0.3mTorrおよび3mTorrに
固定している。平板状ターゲット15と円筒状ターゲッ
ト16に印加する電圧は第6図に示すようにそれぞれ異
なっている場合でも十分高密度のプラズマ生成が実現で
きる。またその電圧が同じ場合、すなわち両ターゲット
を電気的に接続した場合でも同様の高効率プラズマ生成
ができる。
平板状ターゲット15に印加する電圧VaPは一500
vに固定し、マイクロ波電力Pμは300Wおよび80
Wに、ガス圧は0.3mTorrおよび3mTorrに
固定している。平板状ターゲット15と円筒状ターゲッ
ト16に印加する電圧は第6図に示すようにそれぞれ異
なっている場合でも十分高密度のプラズマ生成が実現で
きる。またその電圧が同じ場合、すなわち両ターゲット
を電気的に接続した場合でも同様の高効率プラズマ生成
ができる。
試料室22の真空度を5 X 10−’Torrまで排
気した後、A「ガスを毎分1ccのフロー速度で導入し
、プラズマ生成室内のガス圧を2 X 10−’Tor
rとしてマイクロ波電力100〜soow、円筒状のA
JZターゲット16に投入する電力を300〜600W
として膜を形成した。
気した後、A「ガスを毎分1ccのフロー速度で導入し
、プラズマ生成室内のガス圧を2 X 10−’Tor
rとしてマイクロ波電力100〜soow、円筒状のA
JZターゲット16に投入する電力を300〜600W
として膜を形成した。
第7図にこの時のイオン引出し特性の一例を示す。横軸
のイオン引出し電圧はプラズマ生成室7とグリッド12
Aとの相対的な電圧差である。このとき基板ホルダは加
熱しないで常温で膜形成を行った。この結果、1〜10
nm/minの堆積速度で長時間連続して安定に効率よ
< AJ2膜を堆積できた。
のイオン引出し電圧はプラズマ生成室7とグリッド12
Aとの相対的な電圧差である。このとき基板ホルダは加
熱しないで常温で膜形成を行った。この結果、1〜10
nm/minの堆積速度で長時間連続して安定に効率よ
< AJ2膜を堆積できた。
本実施例のイオン源は、 lイオンの引出しによる膜形
成のみならず、はとんどすへてのイオンの引出しと膜形
成に用いることができ、また導入するガスとしてほとん
どの反応性ガスを用いることができ、それにより反応ス
パッタを用いた化合物膜の形成も実現できる。
成のみならず、はとんどすへてのイオンの引出しと膜形
成に用いることができ、また導入するガスとしてほとん
どの反応性ガスを用いることができ、それにより反応ス
パッタを用いた化合物膜の形成も実現できる。
第8図に本発明の他の実施例を通用した薄膜形成装置を
示す。本装置と第3図に示した装置との相異は、プラズ
マ生成室の形状と円筒状ターゲット16の配置である。
示す。本装置と第3図に示した装置との相異は、プラズ
マ生成室の形状と円筒状ターゲット16の配置である。
すなわち、本実施例におけるプラズマ生成室7はプラズ
マ生成部のみからなり、特別のターゲット保持部が設け
られていない。円筒状ターゲット16はプラズマ生成室
の下部内側面に設けられている。本実施例のイオン源も
第1図に示したイオン源と同様に動作する。
マ生成部のみからなり、特別のターゲット保持部が設け
られていない。円筒状ターゲット16はプラズマ生成室
の下部内側面に設けられている。本実施例のイオン源も
第1図に示したイオン源と同様に動作する。
第9図は本発明のイオン源の他の実施例の断面図である
。本実施例においては、平板状ターゲットと円筒状ター
ゲットの組合せでなく、2個の円筒状ターゲット16お
よび29を用いている。磁界発生用電磁石19による磁
束は一方のターゲットからでて他方のターゲットに入る
。磁界の強さは第1図に示した実施例と同じである。タ
ーゲット29は水冷可能な金属製支持体29Aに取外し
可能(固定され、電源17によってプラズマ生成室7に
対して負の電源が印加される。29Cは絶縁体である。
。本実施例においては、平板状ターゲットと円筒状ター
ゲットの組合せでなく、2個の円筒状ターゲット16お
よび29を用いている。磁界発生用電磁石19による磁
束は一方のターゲットからでて他方のターゲットに入る
。磁界の強さは第1図に示した実施例と同じである。タ
ーゲット29は水冷可能な金属製支持体29Aに取外し
可能(固定され、電源17によってプラズマ生成室7に
対して負の電源が印加される。29Cは絶縁体である。
第10図に示すように、本実施例においても負電圧Va
、 Va’ が印加されているターゲットに高速イオン
が衝突するとそのターゲット表面から高速の二次電子(
γ電子)28が放出される。このターゲットから放出さ
れたγ電子28は両ターゲットの電界で反射され、両タ
ーゲット間に走る磁束20の回りをサイクロトロン運動
しながらターゲット間を往復運動する。そして先に説明
したのと全く同様に本実施例においても低いガス圧中で
高密度のプラズマを生成することができる。
、 Va’ が印加されているターゲットに高速イオン
が衝突するとそのターゲット表面から高速の二次電子(
γ電子)28が放出される。このターゲットから放出さ
れたγ電子28は両ターゲットの電界で反射され、両タ
ーゲット間に走る磁束20の回りをサイクロトロン運動
しながらターゲット間を往復運動する。そして先に説明
したのと全く同様に本実施例においても低いガス圧中で
高密度のプラズマを生成することができる。
第11図に第9図に示したイオン源を適用した薄膜形成
装置の例を示す。本装置によっても、第3図に示した装
置によると同様に高速度の薄膜形成が可能である。プラ
ズマ生成室を第1図に示すようにプラズマ生成部とター
ゲット保持部とから構成し、一方のターゲット16をタ
ーゲット保持部内に設けてもよい。
装置の例を示す。本装置によっても、第3図に示した装
置によると同様に高速度の薄膜形成が可能である。プラ
ズマ生成室を第1図に示すようにプラズマ生成部とター
ゲット保持部とから構成し、一方のターゲット16をタ
ーゲット保持部内に設けてもよい。
第12図に本発明のイオン源のさらに他の実施例を通用
した薄膜形成装置を示す。本実施例のイオン源は1個の
円筒状ターゲット30を具えている。
した薄膜形成装置を示す。本実施例のイオン源は1個の
円筒状ターゲット30を具えている。
ターゲット30は水冷可能な金属製ターゲット支持体3
0Aに支持され、電源18によってプラズマ生成室7に
対して負の電圧が印加される。30Cは絶縁体である。
0Aに支持され、電源18によってプラズマ生成室7に
対して負の電圧が印加される。30Cは絶縁体である。
電磁石19による磁束はターゲット30の一方の端部か
らでて他方の端部へ入る。このイオン源は第9図に示し
たイオン源と同様に大出力のイオンビームの引出しが可
能であり、第12図に示した薄膜形成装置を用いて高速
の膜形成が可能である。
らでて他方の端部へ入る。このイオン源は第9図に示し
たイオン源と同様に大出力のイオンビームの引出しが可
能であり、第12図に示した薄膜形成装置を用いて高速
の膜形成が可能である。
第13図に本発明のさらに他の実施例の断面図を示す。
本実施例は第9図に示した実施例に第2のイオン引出し
機構を加えたものである。プラズマ生成室7のイオン引
出しグリッド12と反対側端部に、2枚のグリッド31
Aおよび32Aからなるイオン引出しグリッド31を設
け、電源32Aおよび32Bからグリッド31Aおよび
31Bにプラズマ生成室7に対して負の電圧を印加する
。このようにしてプラズマ生成室の両側からイオンを引
出すことができる。
機構を加えたものである。プラズマ生成室7のイオン引
出しグリッド12と反対側端部に、2枚のグリッド31
Aおよび32Aからなるイオン引出しグリッド31を設
け、電源32Aおよび32Bからグリッド31Aおよび
31Bにプラズマ生成室7に対して負の電圧を印加する
。このようにしてプラズマ生成室の両側からイオンを引
出すことができる。
第14図に本発明のさらに他の実施例を通用した薄膜形
成装置を示す。本実施例のイオン源は第1図に示した電
磁石19A49Bをそれぞれ永久磁石33および34に
置きかえたものである。ECR条件を満たす強度の磁界
をプラズマ生成室内に形成し、かつ一方のターゲットか
らでて他方のターゲットに入る磁束を発生させることに
よって、本実施例のイオン源は第1図の実施例と同じく
大電流のイオンビームを生成し、第14図の装置を用い
て高速の膜形成が可能である。
成装置を示す。本実施例のイオン源は第1図に示した電
磁石19A49Bをそれぞれ永久磁石33および34に
置きかえたものである。ECR条件を満たす強度の磁界
をプラズマ生成室内に形成し、かつ一方のターゲットか
らでて他方のターゲットに入る磁束を発生させることに
よって、本実施例のイオン源は第1図の実施例と同じく
大電流のイオンビームを生成し、第14図の装置を用い
て高速の膜形成が可能である。
第8図、第9図、第12図および第13図に示した実h
&例においても、電磁石にかえて永久磁石を用いること
が可能である。
&例においても、電磁石にかえて永久磁石を用いること
が可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明は、電子サイクロトロン共
鳴により生成されたマイクロ波プラズマを利用したスパ
ッタを用いて、低いガス圧中で高効率のイオン引出しを
実現するものであり、イオンの種類や、それによって得
られた膜の導電性や1摸厚によらず連続して長時間安定
なイオン引出しを実現することができる。
鳴により生成されたマイクロ波プラズマを利用したスパ
ッタを用いて、低いガス圧中で高効率のイオン引出しを
実現するものであり、イオンの種類や、それによって得
られた膜の導電性や1摸厚によらず連続して長時間安定
なイオン引出しを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるイオン源の実施例の断面図、
第2A図および第2B図はターゲットの取付けの詳細を
示す図、 第3図は第1図に示した実施例を適用した薄膜形成装置
の断面図、 第4図は第3図の装置における磁束方向の磁場強度分布
を示す図、 第5図は第1図に示した実施例による高密度プラズマの
生成機構を説明する図、 第6図は本発明実施例における放電特性の一例を示す図
、 第7図はイオン引出し特性の一例を示す図、第8図は本
発明の他の実施例を適用した薄膜形成装置の断面図、 第9図は本発明のさらに他の実施例の断面図、第1θ図
は第9図の実施例における高密度プラズマの生成機構を
説明する図、 第11図、第12図および第13図はそれぞれ本発明の
イオン源のさらに他の実施例を適用した薄膜形成装置の
断面図、 第14図は本発明のイオン源の他の実施例の断面図、 第15図は従来のカウフマン型イオン源の断面図である
。 1・・・プラズマ生成室、 2・・・フィラメント、 3・・・電磁石、 4・・・プラズマ、 5・・・イオン引出し用グリッド、 6・・・イオンビーム、 7・・・プラズマ生成室、 7P・・・プラズマ生成部、 7丁・・・ターゲット保持部、 8・・・ガス導入口、 9・・・真空導波管、 lO・・・マイクロ波導入窓、 11・・・マイクロ波導波管、 12・・・イオン引出し用グリッド、 14.17.18,29.30・・・電源、15・・・
平板状ターゲット、 16.29.30・・・円筒状ターゲット、19.19
A、19B・・・電磁石、 20・・・磁束、 21・・・イオンビーム、 22・・・試U室、 25・・・基板、 26・・・基板ホルダ、 28・・・二次電子、 33.34・・・永久磁石。 第2A図 第28図 第5図 第7図 28 84 二ン欠1− \ 第10図
示す図、 第3図は第1図に示した実施例を適用した薄膜形成装置
の断面図、 第4図は第3図の装置における磁束方向の磁場強度分布
を示す図、 第5図は第1図に示した実施例による高密度プラズマの
生成機構を説明する図、 第6図は本発明実施例における放電特性の一例を示す図
、 第7図はイオン引出し特性の一例を示す図、第8図は本
発明の他の実施例を適用した薄膜形成装置の断面図、 第9図は本発明のさらに他の実施例の断面図、第1θ図
は第9図の実施例における高密度プラズマの生成機構を
説明する図、 第11図、第12図および第13図はそれぞれ本発明の
イオン源のさらに他の実施例を適用した薄膜形成装置の
断面図、 第14図は本発明のイオン源の他の実施例の断面図、 第15図は従来のカウフマン型イオン源の断面図である
。 1・・・プラズマ生成室、 2・・・フィラメント、 3・・・電磁石、 4・・・プラズマ、 5・・・イオン引出し用グリッド、 6・・・イオンビーム、 7・・・プラズマ生成室、 7P・・・プラズマ生成部、 7丁・・・ターゲット保持部、 8・・・ガス導入口、 9・・・真空導波管、 lO・・・マイクロ波導入窓、 11・・・マイクロ波導波管、 12・・・イオン引出し用グリッド、 14.17.18,29.30・・・電源、15・・・
平板状ターゲット、 16.29.30・・・円筒状ターゲット、19.19
A、19B・・・電磁石、 20・・・磁束、 21・・・イオンビーム、 22・・・試U室、 25・・・基板、 26・・・基板ホルダ、 28・・・二次電子、 33.34・・・永久磁石。 第2A図 第28図 第5図 第7図 28 84 二ン欠1− \ 第10図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)ガスを導入してプラズマを発生させるプラズマ生成
室と、 一端部にマイクロ波導入窓を有し、他端部において前記
プラズマ生成室に結合された真空導波管と、 前記プラズマ生成室の端部に設けられたイオン引出し機
構と、 前記プラズマ生成室内部の両端部に設けられたそれぞれ
スパッタリング材料からなる第1および第2のターゲッ
トと、 該第1および第2のターゲットにそれぞれ前記プラズマ
生成室に対して負の電圧を印加する少なくとも1個の電
源と、 前記プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ前記第
1および第2のターゲットの一方からでて他方に入る磁
束を生成する手段とを具えたことを特徴とするイオン源
。 2)ガスを導入してプラズマを発生させるプラズマ生成
室と、 一端部にマイクロ波導入窓を有し、他端部において前記
プラズマ生成室に結合された真空導波管と、 前記プラズマ生成室の端部に設けられたイオン引出し機
構と、 前記プラズマ生成室の内側面に沿って設けられたスパッ
タリング材料よりなる円筒状のターゲットと、 該ターゲットに前記プラズマ生成室に対して負の電位を
印加する電源と、 前記プラズマ生成室の内部に磁場を形成し、かつ前記タ
ーゲットの一端部からでて他端部に入る磁束を生成する
手段とを具えたことを特徴とするイオン源。 3)前記プラズマ生成室が、プラズマ生成部とターゲッ
ト保持部とからなることを特徴とする請求項1または2
記載のイオン源。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63025601A JP2552697B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | イオン源 |
US07/307,312 US4911814A (en) | 1988-02-08 | 1989-02-07 | Thin film forming apparatus and ion source utilizing sputtering with microwave plasma |
KR8901399A KR920003790B1 (en) | 1988-02-08 | 1989-02-08 | Thin film forming apparatus and ion source utilizing sputtering with microwave plasma |
DE68915014T DE68915014T2 (de) | 1988-02-08 | 1989-02-08 | Gerät zur Bildung dünner Schichten und durch Mikrowellen-Zerstäubung arbeitende Ionenquelle. |
EP89102164A EP0328076B1 (en) | 1988-02-08 | 1989-02-08 | Thin film forming apparatus and ion source utilizing sputtering with microwave plasma |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63025601A JP2552697B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | イオン源 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01201466A true JPH01201466A (ja) | 1989-08-14 |
JP2552697B2 JP2552697B2 (ja) | 1996-11-13 |
Family
ID=12170429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63025601A Expired - Fee Related JP2552697B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | イオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2552697B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0816266B2 (ja) * | 1990-10-31 | 1996-02-21 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 高アスペクト比の穴に材料を付着させる装置 |
JPH1060638A (ja) * | 1996-05-09 | 1998-03-03 | Applied Materials Inc | プラズマの発生及びスパッタのためのコイル |
-
1988
- 1988-02-08 JP JP63025601A patent/JP2552697B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0816266B2 (ja) * | 1990-10-31 | 1996-02-21 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 高アスペクト比の穴に材料を付着させる装置 |
JPH1060638A (ja) * | 1996-05-09 | 1998-03-03 | Applied Materials Inc | プラズマの発生及びスパッタのためのコイル |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2552697B2 (ja) | 1996-11-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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