JPH01196610A - Lsiの冷却装置 - Google Patents

Lsiの冷却装置

Info

Publication number
JPH01196610A
JPH01196610A JP63021804A JP2180488A JPH01196610A JP H01196610 A JPH01196610 A JP H01196610A JP 63021804 A JP63021804 A JP 63021804A JP 2180488 A JP2180488 A JP 2180488A JP H01196610 A JPH01196610 A JP H01196610A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling water
lsi
temperature
cooling
inverter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63021804A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2682629B2 (ja
Inventor
Kenji Takahashi
研二 高橋
Takuji Torii
鳥居 卓爾
Takao Chiaki
千秋 隆雄
Tetsuharu Yamashita
山下 徹治
Shizuo Zushi
頭士 鎮夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63021804A priority Critical patent/JP2682629B2/ja
Publication of JPH01196610A publication Critical patent/JPH01196610A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2682629B2 publication Critical patent/JP2682629B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、LSI  (大規模集積回路)を冷却するた
めの冷却水を供給する装置に関する。
[従来の技術] 大型コンピュータなどでは多数のLSIが用いられてい
るためLSIからの発熱量が多いので、LSI基板裏面
などに冷却水を通して直接的に水冷で冷却することが行
われる。この場合、圧縮機、凝縮器、蒸発器、膨張弁か
ら構成される装置り、フロンなどの冷媒を介して上記冷
却水の冷却を行うことが多い。第14図はその従来例を
示し、LSI 2を冷却する水はポンプ4により流路3
を循環し、冷却装置の熱交換器(蒸発器)7で冷却され
る。冷却装置は、フロン等の冷媒の流れる流路6、圧縮
機8、熱交換器(凝縮器)12、膨張弁14、熱交換器
(蒸発器)7で構成される。
凝縮器12にて冷媒からの放熱は流路13を流れる外部
冷却水で冷却される。
上記のようなシステムにおいて、  (1) LSIの
発熱量と冷却装置を駆動する圧縮機のモータから決定さ
れる冷却装置の冷却量との不合致や、 (2)冷媒の熱
を放熱するための冷却装置の中の凝縮器を冷却するため
の冷却水の温度変動、等の要因によりLSIの冷却水温
度があらかじめ決められている設定温度からずれる。以
上述べた要因を詳述すれば、前記(1)のLSIの発熱
量と冷却装置の冷却量が異なるという要因について述べ
ると、現在、冷却装置用の圧縮機のモータは、規格品と
して定格容量が決められているので、このモータを使用
する限り、日本の商用周波数である50Hzあるいは6
0Hzの電源を用いれば冷却装置としての冷却量はほぼ
固定される。このように規定された冷却量とLSIの発
熱量を一致させるように設計することは困難である。前
記 (2)の冷却装置中の凝縮器の冷却水の温度変動に
ついて述べると、この凝縮器の冷却水の熱は屋外の冷却
塔にて外気へ放熱され凝縮器の冷却水の温度を下げてい
るが、外気温度により放熱量が異なることにより、凝縮
器の温度が変動し、冷却量の変化の要因となる。
ところでLSIを冷却する冷却水の設定温度は、高すぎ
ればLSI自体が高温となって電子回路の故障の要因と
なり、また逆に設定温度が低すぎると、大気中の湿り気
のために水配管系、あるいはLSI基板部に水分が凝縮
して結露し、この場合も故障の要因となる。このためコ
ンピュータなどへLSIを実装する場合には、この設定
温度からの変動幅が少ない方がLSIが安定して作動す
るという信頼性の点から望ましい。
LSIの冷却水温度が、前記の要因であらかじめ決めら
れた設定温度からずれた場合、これを設定温度へ戻す方
法としては、LSIの冷却水を冷却する冷却装置の中の
圧縮機をON、 OFFすることにより行う方法が従来
−数的である。すなわち、LSIの冷却水温度が前記し
たような理由により設定温度より低くなったときには、
ONの状態から圧縮機をOFF L、、LSIの冷却水
の温度を高くして設定温度に近づくように制御する。ま
た圧縮機がOFFの状態で、t、sIの冷却水の温度が
設定温度より高くなったときには、圧縮機をONの状態
に戻し、冷却を再開する。この場合、圧縮機のONとO
FFにより急激にLSIの冷却水温度が変動すると、設
定温度からのずれの温度範囲が広くなるので、LSIへ
の影響も大きくなり望ましくない。このために、LSI
の冷却水の水配管系の中の保有水量を多くして、冷却装
置の圧縮機のONとOFFの影1を少なくする必要があ
る。すなわち圧縮機がONあるいはOFFされても、水
配管系が保有する水量が多ければ、水の熱容量により冷
却熱量の変動による影響を受けに<<シて温度変動を抑
えることができる。このために、従来は、LSIの冷却
水配管系に、第14図に示すように水タンク20を設置
し、この水タンク中に常時水が貯よっている状態で循環
を行い、LSIの冷却水配管系の保有水量を増加させ、
冷却熱量の変動によるLSIの冷却水の温度の急激変化
を防ぐようにしていた。
なお、この種の技術に関連する文献として、「マルチチ
ップパッケージを水冷する、スーパーコンピュータSx
シリーズの実装技術」日経エレクトロニクス、1985
年6月17日号、第243頁〜第266頁が挙げられる
[発明が解決しようとする課題] 前記従来技術のように冷却装置内の圧縮機をON・OF
F制御する場合には、LSIA却水の温度を正確に設定
温度と合致させるためには、前述のように水タンクを設
置して水配管系内の保有水量を増加させる必要があるが
、この水タンクを設置するためには冷却装置内にスペー
スを要し、また水タンクに付随する配管系のために冷却
装置が大形化する欠点を有していた。例えば大形コンピ
ュータ用冷却装置であれば、それはコンピユータ室内に
設置されることが一般的であって設置面積の低減の要求
は大きいにもかかわらず、水タンクを保有する場合、そ
れらを収納する筐体は寸法的に大きくなる。
本発明の目的は、LSIの冷却水の温度を正確に一定に
保ちながら、水タンクを必要とせず、冷却装置を小形化
し得るLSIの冷却水供給装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明によるLSIの冷却水供給装置は、冷媒による冷
凍サイクルを構成する圧縮機、凝縮器、膨張弁および蒸
発器ならびに該圧縮機を駆動する電動機よりなる冷却装
置と、該冷却装置の上記蒸発器と熱交換関係にあるLS
I冷却水の流れる冷却水流路とからなるLSIの冷却水
供給装置において、上記電動機の回転数を制御する周波
数可変のインバータと、上記冷却水流路中のLSI冷却
水の温度を検知する温度センサと、該温度センサの検知
信号に基づいてLSI 冷却水の温度を一定に保つよう
に上記インバータの周波数を制御する演算制御器とを備
えたことを特徴とする。
[作   用] 冷凍サイクルにおいては、冷媒は蒸発器において沸騰・
蒸発し、これと熱交換関係にあるLSI冷却水から熱を
奪う。この沸騰により蒸発してガスになフた冷媒は圧縮
機へ吸入され、圧縮機で加圧圧縮され、さらに圧縮機の
吐出配管を経由し、別の熱交換器(凝縮器)により、高
温になった冷媒の熱を外部流体(例えば凝縮器の冷却水
)へ伝達させる。次いで、冷媒は膨張弁を経て、はぼ液
冷媒の状態となり、LSI冷却水との間で熱交換を行う
蒸発器へと再び戻る。よって、圧縮機の駆動電動機の回
転数をインバータ制御で細かく連続的に調節すれば、圧
縮機の吐出量、従って、冷媒の、循環量、蒸発器での冷
媒の沸騰量、ひいてはLSI冷却水に対する冷却量を細
かく連続的に調節し得る。
このインバータの周波数を決定するのは、LSI冷却水
の流れる流路中に設置された温度センサーである。この
温度センサーにより検知された温度と、あらかじめ設定
された設定温度との差に応じて演算制御器によりインバ
ータ周波数が細かく制御される。これにより、圧縮機の
回転数、あるいは圧縮機中のピストンの往復回数、従っ
て、冷媒ガスの循環量ひいてはLSI冷却水に対する冷
却量が細かく調整され、これによりLSI ’h却水の
温度を上記一定の設定温度に精密に保つことができる。
このように、LSIの冷却水に対する冷却量をLSIの
冷却水の温度変化に応じてきめ細かくインバータ制御に
より調節することが可能であるので、従来のON、 O
FF制御の如く水配管系の保有水量を増加させることな
く、すなわち水タンクを要することなく、正確に設定温
度を保ちながらLSIを冷却することができ、ON、 
OFF制御の場合のようなLSI冷却水温度のハンチン
グを抑制することが可能である。
[実 施 例] 本発明の一実施例を第1図に示す。LSI用筺体1内に
実装されているLSI 2を冷却するための冷却水流路
3、ポンプ4、LSI 2の冷却水の温度を検知する温
度センサー5、LSI 2の冷却水と冷媒流路6を流れ
る冷媒との間の熱交換を行う熱交換器(蒸発器)7、冷
媒を圧縮する圧縮機8、圧縮機8を駆動するモータ(電
動機)9、モータ9を制御するインバータ10、温度セ
ンサー5にて検出した温度に基づき演算を行ってインバ
ータ10へ信号を伝達する演算制御器11、冷媒と冷媒
の冷却水(冷媒を冷却するための冷却水)との間の熱交
換を行う熱交換器(凝縮器)12、冷媒の冷却水流路1
3、冷媒が冷凍サイクルを形成するための膨張弁14、
及び冷却装置の筐体15からシステムが構成される。な
お、図中の矢印は冷媒あるいは冷却水の流れ方向を示す
第2図は、LSIの冷却部の詳細を示したもので、基板
19の上のLSI 2が熱伝導体18を介してLSIの
冷却水流路17と接続されている。LSI2から発生し
た熱は、熱伝導体18を通ってLSIの冷却水へ伝わる
。第2図の中の記号TwはLSIの冷却水の水温を表し
、TOはLSIのパッケージの表面温度を表す。LSI
の冷却水は、第1図のように、冷却水流路3を通り、熱
交換器(蒸発器)7において冷媒へ熱を伝え、LSIの
冷却水は冷却される。
第1図、第2図に示されるようなLSIの冷却水供給シ
ステムが、LSIから構成される例えば大形コンピュー
タと同じ室内に設置されている場合の温度等を第3図を
用いて説明する。第3図は、比較のため、圧縮機のON
、 OFF制御を行った場合(すなわち従来の場合)と
インバータ制御を行った場合(本発明実施例の場合)と
についてLSIの冷却水の温度TwとLSIのパッケー
ジの表面温度TOを示している。
LSIの冷却水の温度Twと、LSIのパッケージの表
面温度Toの差は熱伝導体18の熱抵抗で決まるが、こ
れをΔT=35℃とする。第3図の大矢印はこの温度差
ΔT=35℃を示している。
LSIの発熱量は、電子回路の構成にもよるが、はぼ一
定と考えられるので、ここではLSIの発熱量の変動は
ないと仮定する。LSIの冷却水の水温Twは第1図の
温度センサー5により検出されるが、ここではTwを2
5℃に保つような制御を演算制御器11で行うこととす
る。
この制御は、本発明実施例においては、例えば、圧縮機
8、熱交換器7,12、膨張弁14カ)ら構成される冷
凍サイクルの凝縮器12を冷却する流路13内の冷却水
の温度が変動し、冷凍サイクルの冷却量が変化した場合
に、LSIの冷却水の温度Twを設定温度に安定に保つ
ように例えばPID制御などで重みを加減して、インバ
ータ10の周波数調整を行い、これにより冷凍サイクル
の冷却量をLSIの発熱量とつり合わせるよう制御を行
う。一つの例として、第3図の実線で示すように、イン
バータ10により周波数を調整してTwを設定温度25
℃になるようにした場合、インバータ周波数30)1z
でLSIの発熱量と冷凍サイクルの冷却量がつり合った
とする。この場合、LSIのパッケージ温度ToはTo
 =Tw+ΔTであり、ΔT=35℃であるのでTo=
60℃となる。
これに対し、従来の如く圧縮機をON・OFF制御した
場合は、圧縮機はON時には規定の商用周波数である5
0Hzもしくは60Hzで運転される。この50Hzあ
るいは60Hzで運転された場合の冷凍サイクルの冷却
量とLSIの発熱量がつり合うことは希であり、インバ
ータが30Hzのときのつり合う熱量を冷却するために
は、インバータ制御でない従来の場合は圧縮機をON、
 OFFする必要がある。
この場合、水温Twは第3図の一点鎖線で示すようにO
N時には下降し、OFF時には上昇する。このON・O
FF制御によるTwの温度変動の幅を±2℃とすると、
設定温度を25℃に保つようにするには水温Twは最高
27℃まで達することがあり得る。これに伴いLSIの
パッケージの表面温度T。
も熱伝導体に対する温度差を考慮すると62℃と上昇す
る場合がある。
すなわち、設定温度を同じとして比較すると、インバー
タで制御した場合よりもON・OFF制御の場合は2℃
はどパッケージ表面温度Toが上昇する。LSIの作動
特性は、ごくわずかの温度上昇にも敏感で、なるべく温
度が低い方が信頼性は高くなる。このことから、本実施
例のようにインバータ制御を用いると、従来のON・O
FF制御に比べてLSIの動作の安定性に効果がある。
また大形コンピュータ用としてLSIが室内に設置され
ている場合、低温部分に水分が凝縮する結露という現象
が問題となる。このため、LSIの冷却水の設定温度が
25℃と高めに設定されているわけであるが、第3図に
示しているように、結露する限界の温度を17℃とする
と、インバータ制御の場合には25℃が保てるが、ON
・OFF制御の場合は23℃になり、より多く結露の危
険性が生じる。このように結露という点からも、ON・
OFF制御よりもインバータ制御の方がLSIを冷却す
る場合に効果がある。
以上の説明は、LSIの発熱量が一定であるとしていた
が、LSIの発熱量が変動した場合について次に述べる
。−例として、LSI A加水の設定温度25℃を保つ
ようにインバータの周波数が60)1zで運転している
ときに、何らかの原因でLSIの発熱量が減少し・たと
する。このままの状態で運転を続けるとLSIの冷却水
温度が低下し、室内中の空気温度よりも低くなると空気
中の水分が水配管表面に結露を開始し、さらにはLSI
の基板19まで結露するようになり、LSIの誤作動の
原因となる。これを防ぐために、LSIの冷却水流路3
の中の温度センサ5が例えば24.5℃を検知すると、
演算制御器11によりインバータの周波数を60Hzよ
り下げ55Hzで運転を行うようにしておく。これによ
り圧縮機の循環冷媒量は少なくなり、その結果冷却量が
減少し、LSIの冷却水温度の低下を防げる。逆に、L
SIの発熱量が増加した場合も同様で、この場合はイン
バータの周波数を60Hzより上げれば、LSI冷却水
の設定温度(例えば25℃)を保つことができる。
冷凍サイクルの凝縮器12のための冷却水流路13を流
れ、不図示の冷却塔にて外気へ熱を放散する冷却水の温
度が、外気の気温により変化すると冷凍サイクルの状態
が変わり、冷却量が変化することがある。この場合も、
LSIの冷却水の温度が変化するので、前記したのと同
様の方法でインバータの周波数を増減してLSIの冷却
水の温度制御を行うことができる。
以上のようにLSIの発熱量が変化した場合、あるいは
凝縮器のための冷却水温度が変化した場合のいずれにお
いても、LSI h加水の水温が設定値(例えば25℃
)からずれる量は、LSIの冷却水の保有水量が同じと
すると、ON・OFF制御の場合の方が、インバータ制
御の場合よりも犬きく、LSIの信頼度はインバータを
用いた場合の方が高くなる。
第4図は本発明の他の実施例を示したもので、これは、
圧縮機に接続されているインバータ10の周波数を制御
する演算制御器11に、圧縮機吐出温度Tdと凝縮器1
2での冷媒の凝縮温度Tcを人力することにより、開度
を電子的に設定できる電子式膨張弁21をも制御する電
子回路を付加したものである。この電子式膨張弁21は
、演算制御器11からの指示により膨張弁駆動手段24
が作動し、内蔵するモータを回転させることにより該膨
張弁21の弁開度を調節し、冷凍サイクルの状態を変化
させるものである。すなわち、本実施例においてもLS
I i動水の温度を水温センサ5で検知し、それに基づ
いてLSI冷却水の温度を設定値に保つように演算制御
器11でインバータ10の周波数を調整することは、先
述の実施例と同様であるが、その場合、本実施例におい
ては、冷凍サイクルの効率を最適にするように、圧縮機
吐出温度Tdと凝縮器12での冷媒の凝縮温度Tcとの
差を検知して電子式膨張弁21の弁開度を制御するので
ある。なお、圧縮機には作動圧力に許容範囲があり、イ
ンバータ制御によってこの許容範囲から外れるようなと
きには、許容範囲内に納めるように電子式膨張弁21が
制御される。
第5図は、各インバータ周波数において横軸に圧縮機吐
出温度Tdと冷媒の凝縮温度Tcの差をとり、縦軸に冷
凍サイクルの蒸発器の交換熱量、すなわち冷却量を示し
たた実験データグラフである。第5図に示されるように
、電子式膨張弁制御により冷凍サイクルの効率(cap
)を最適にするような冷凍サイクルの状態がインバータ
の周波数及び圧縮機吐出温度と凝縮温度の差で示される
第4図に示した実施例では電子式膨張弁の開度を変える
ことにより第5図の横軸である圧縮機吐出温度と凝縮温
度の差の値を変え、あらかじめ各インバータ周波数によ
って決められている設定値になるように演算制御器11
により指示する。このとき、圧縮機吐出温度Tdと凝縮
温度Tcは温度センサーにより検知されている。この結
果、LSIの発熱量などの変化に応じてインバータ周波
数が変化せしめれた場合、その各々の時点で冷凍サイク
ルの最適な状態で運転することができる。
第5図で示される実測値は、冷凍サイクルの凝縮器の外
部冷却水温度によらずに各インバータ周波数でほぼ同じ
値をとるので、上記外部冷却水温度は検知する必要はな
く、演算制御器11による制御方法は複雑化せずに実現
される。
第6図に、前記したインバータを用いた冷水システムの
制御方法の流れ図を、また第7図にこの制御を実施する
ブロック図を示す。第6図に示されるように、ステップ
30でLSIの冷却水の水温TWを温度センサー5で検
出し、次式(1)によりステップ31でインバータ周波
数修正量ΔHzを決め、修正を行う。
ΔHz= Cr  (Tw  Ts)  −−−(1)
ここでTwはLSI冷却水温度、Tsはあらかじめ定め
られたTWの設定値(例えば25℃)、clは制御定数
である。これらの過程の実施においては、第7図に示さ
れるように前記の設定値及び制御定数はあらかじめ記憶
素子にメモリされ、(1)式の演算及び周波数の修正は
演算制御器で行われる。ステップ32ではインバータに
より圧縮機のモータ回転数が変更され、これに伴って冷
却水の冷却量が変化し、ステップ30の冷却水の温度T
Wの検出の過程にもどる。
第8図に、インバータ周波数Hzを変更した際に冷凍サ
イクルを最適化するための電子膨張弁21を用いた冷凍
サイクルの制御法の流れ図を、第9図にそれを実現する
ためのブロック図を示す。第8図では、ステップ33で
既にインバータの周波数Hzが設定された状態にて電子
式膨張弁21の制御を行うフローを示している。ステッ
プ34とステップ35では、圧縮機吐出温度Td及び凝
縮温度Tcをそれぞれ温度センサーにより検知し、ステ
ップ36では次式 (2)の右辺と左辺の演算を行う。
Td −Tc =C2・Hz  −−(2)ここで02
はあらかじめ決められた設定定数であり、この定数は、
例えば第5図のCOPで示される効率の最適なところに
対応するように実験的に決定される。そして式 (2)
の右辺C2・Hzと左辺Td−Tcが等しい時はステッ
プ30の温度センサー5による水温Twの検出の過程に
進む。もし前記C2・Hzの値とTd−Tcの値が等し
くない場合は、ステップ37に示されるように電子式膨
張弁21の開度変化を行い、再度ステップ34、ステッ
プ35にて圧縮機吐出温度Tdと凝縮温度Tcの検出を
行い、これを繰り返す。
第8図で示されるステップ36の演算及びステップ37
の電子式膨張弁の開度変化の過程は、第9図では演算制
御器で与えられる。この場合、前記設定値C2は記憶素
子にメモリされている。
第9図の演算制御器は膨張弁駆動手段へ指示を行い、電
子式膨張弁の開度変更を行う。
第10図は、本発明の更に他の実施例を示す図で、LS
I 2の下流部の冷却水と冷却装置の熱交換器(蒸発器
)7を通過する冷却水とを合流部16で合流させ、その
下流にポンプ4を設置したものである。この水配管系で
は、水は熱交換器(蒸発器)7cとLSI 2への流路
に分流して流れるので、ポンプ4を通過する水量は、前
記の第1図のようにLSI 2と熱交換器(蒸発器)7
の流路が直列状に連なっている場合よりも多いが、圧力
損失を低減できる利点がある。また、この流路系ではL
SI 2の人口冷却水温度と熱交換器(蒸発器)7の人
口冷却水温度とを等しくできるので、前記の第1図の場
合に比べて熱交換器(蒸発器)7人ロ温度を低くするこ
とができる。すなわちLSI 2の冷却水の設定温度に
よっては、第10図で示される流路系の方が冷凍サイク
ルを実現するのに有利である。例えば、LSIの冷却水
の設定温度を25℃とすると、前記の第1図で示される
場合の熱交換器(蒸発器)7人ロ温度はLSI 2の発
熱量とLSIの冷却水の水量から決められる温度分だけ
高くなる(例えば35℃)ので、圧縮機吸込圧力が高く
なりすぎることがある。これに対し第10図の場合では
、熱交換器入口温度はLSIの冷却水の設定温度(例え
ば25℃)と同じ温度になるので、圧縮機の選定が容易
になる。この第10図で示される場合において、冷却水
合流部16では、熱交換器(蒸発器)7出口の冷却水(
例えば20℃)とLSI 2の出口の冷却水(例えば3
5℃)という異なる温度の水が合流するので、従来のO
N。
OFFにより温度制御を行う方法では混合効果を高める
ために水タンクが必要であったが、本発明のようにイン
バータを用いた冷却装置では精密温度制御が可能なため
、冷却水合流部16での水タンクは不要となる。この場
合、ポンプ4により、LSI 2の出口の冷却水と熱交
換器(蒸発器)7の出口の水とを混合する効果をも実現
することができる。
第11図は、本発明の更に他の実施例であり、LSI 
Z用の冷却水路3を流れる冷却水とファン23で駆動さ
れる空気流との熱交換を熱交換部22で行い、冷たい空
気でLSI 2を冷却するようにした例を示している。
第12図は本発明の更に他の実施例であって、圧縮機の
インバータ10とは別に、LSI 2の冷却水を循環さ
せるポンプ4にもインバータ25を取り付けたもので、
圧縮機吸込圧が高くなりすぎた場合にとくにその効果が
示される。すなわち冷凍サイクルの効率を高めるために
、圧縮機吸込圧を高い状態で運転する場合があるが、こ
の吸込圧には上限値があり、これを越えるようなときに
は圧縮機吸込圧を低くする必要がある。圧縮機吸込圧を
低くするためには熱交換器(蒸発器)7の伝熱性能を下
げればよく、第12図の実施例では演算制御器の指示に
基づきポンプ用インバータ25の周波数を下げればポン
プ4の回転数が下がり、冷却水流路3内の水速が緩やか
になって上記の伝熱性能が低くなる作用を奏する。
第13図は本発明の更に他の実施例であって、これは第
10図においてLSI 2の冷却水流路3にに流量調節
用のバルブ26を設けたものである。
なお、第13図では演算制御器11によりバルブ26の
開度を電気的に調節するように示しているが、演算制御
器11を通さずに手動式でバルブ26の開度を調節する
こともできる。このバルブ26も前記のように圧縮機吸
込圧が高くなったときに、熱交換器(蒸発器)7におけ
る冷却水の水速を下げることを主目的としている。この
水速を変える場合、LSI 2の側を通過する冷却水の
水速は一定にするように制御するため2ケ所にバルブ2
6を設けている。
以上述べたLSIの冷却水供給装置は、精密な温度制御
が可能であり、また寸法の小形化も可能であるので、L
SIを多数用い、LSIの熱負荷の大きい大形コンピュ
ータ用として特に適している。
[発明の効果コ 本発明によれば、LSIの冷却水を冷却する冷却装置の
圧縮機を駆動するモータをインバータ制御することによ
り、水配管系の水タンクを無くしても精密に一定温度状
態でLSIを冷却することが可能であり、冷却装置を小
形化することができると共にLSIを温度的により信顆
性の高い状態で作動させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による冷却系統図、第2図は
LSIの冷却部を示す斜視図、第3図は第1図の実施例
の作用説明図、第4図は本発明の他の実施例を示す冷却
系統図、第5図は熱交換量の実験データグラフ、第6図
は本発明の実施例の制御方法を示す流れ図、第7図は同
上の制御ブロック図、第8図は本発明の他の実施例の制
御方法を示す流れ図、第9図は同上の制御ブロック図、
第10図、第11図、第12図、第13図は夫々本発明
の他の実施例の冷却系統図、第14図は従来のLSI冷
却系統図である。 1・・・LSI用の筺体   2・・・LSI3・・・
LSIの冷却水流路 4・・・ポンプ5・・・温度セン
サー   6・・・冷媒流路7・・・熱交換器(蒸発器
) 8・・・圧縮機      9・・・モータ10・・・
インバータ(圧縮機用) 11・・・演算制御器 12・・・熱交換器(@縮器) 13・・・凝縮器の冷却水流路 14 ・・・ 膨弓長弁 15・・・冷却装置の筐体 16・・・LSIの冷却水の合流部 20・・・水タンク 21・・・電子式膨張弁 22・・・熱交換部23・・
・ファン    24・・・膨張弁駆動手段25・・・
ポンプ用インバータ 26・・・流量調節用バルブ 第1図 9−i己−夕         1斗・−一月膨張字キ
2−・−15丁 17・−LSIの冷却水〉光路 18・−[云導体 19・−・基板 第3図 第5図 圧務機吐出温度−J疑縮温度 (°C)第6図 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 冷媒による冷凍サイクルを構成する圧縮機、凝縮器
    、膨張弁および蒸発器ならびに該圧縮機を駆動する電動
    機よりなる冷却装置と、該冷却装置の上記蒸発器と熱交
    換関係にあるLSI冷却水の流れる冷却水流路とからな
    るLSIの冷却水供給装置において、上記電動機の回転
    数を制御する周波数可変のインバータと、上記冷却水流
    路中のLSI冷却水の温度を検知する温度センサと、該
    温度センサの検知信号に基づいてLSI冷却水の温度を
    一定に保つように上記インバータの周波数を制御する演
    算制御器とを備えたことを特徴とするLSIの冷却水供
    給装置。 2 前記演算制御器が前記膨張弁の開度をも制御するよ
    うにした請求項1記載のLSIの冷却水供給装置。 3 前記冷却水流路にLSI冷却水を流すためのポンプ
    の電動機の回転数を制御する周波数可変のインバータを
    設け、該インバータの周波数をも前記演算制御器で制御
    するようにした請求項1記載のLSIの冷却水供給装置
    。 4 前記冷却水流路に流量調節用バルブを設けた請求項
    1記載のLSIの冷却水供給装置。
JP63021804A 1988-02-01 1988-02-01 Lsiの冷却装置 Expired - Fee Related JP2682629B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63021804A JP2682629B2 (ja) 1988-02-01 1988-02-01 Lsiの冷却装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63021804A JP2682629B2 (ja) 1988-02-01 1988-02-01 Lsiの冷却装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01196610A true JPH01196610A (ja) 1989-08-08
JP2682629B2 JP2682629B2 (ja) 1997-11-26

Family

ID=12065243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63021804A Expired - Fee Related JP2682629B2 (ja) 1988-02-01 1988-02-01 Lsiの冷却装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2682629B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011097109A (ja) * 2011-02-14 2011-05-12 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器の冷却装置
CN102968143A (zh) * 2011-08-30 2013-03-13 无锡爱奇克发动机有限公司 一种发电机温度控制系统
CN109041525A (zh) * 2018-08-14 2018-12-18 郝诗敏 一种电路板底座

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6254035B2 (ja) 2014-03-31 2017-12-27 Hoya Candeo Optronics株式会社 光照射装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5290418A (en) * 1976-01-26 1977-07-29 Kawasaki Steel Co Method of controlling temperature of mold cooling water in continuous casting
JPS5619115A (en) * 1979-07-25 1981-02-23 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Temperature control method for cooling liquid in cooling system different in characteristic
JPS5714213U (ja) * 1980-06-23 1982-01-25
JPS58104465A (ja) * 1981-12-17 1983-06-21 松下電器産業株式会社 冷凍サイクル制御装置
JPS60131149A (ja) * 1983-12-19 1985-07-12 Daikin Ind Ltd 油冷却装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5290418A (en) * 1976-01-26 1977-07-29 Kawasaki Steel Co Method of controlling temperature of mold cooling water in continuous casting
JPS5619115A (en) * 1979-07-25 1981-02-23 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Temperature control method for cooling liquid in cooling system different in characteristic
JPS5714213U (ja) * 1980-06-23 1982-01-25
JPS58104465A (ja) * 1981-12-17 1983-06-21 松下電器産業株式会社 冷凍サイクル制御装置
JPS60131149A (ja) * 1983-12-19 1985-07-12 Daikin Ind Ltd 油冷却装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011097109A (ja) * 2011-02-14 2011-05-12 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器の冷却装置
CN102968143A (zh) * 2011-08-30 2013-03-13 无锡爱奇克发动机有限公司 一种发电机温度控制系统
CN109041525A (zh) * 2018-08-14 2018-12-18 郝诗敏 一种电路板底座

Also Published As

Publication number Publication date
JP2682629B2 (ja) 1997-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9574805B2 (en) Motor housing temperature control system
US5749237A (en) Refrigerant system flash gas suppressor with variable speed drive
KR930004380B1 (ko) 변속 압축기 및 이에 일체로 관련된 팽창 밸브를 사용하는 에너지 효율 공기 조화 시스템
JP4566052B2 (ja) 恒温維持装置。
US20080310112A1 (en) System and Method for Providing Dewpoint Control in an Electrical Enclosure
US20110083450A1 (en) Refrigerant System With Stator Heater
US8590327B2 (en) Refrigerating apparatus
JP5707621B2 (ja) 恒温液循環装置及びその運転方法
US6349552B2 (en) Temperature control device for thermal medium fluid
JP2009522533A (ja) フラッシュタンクの冷媒制御
WO2019017297A1 (ja) 相変化冷却装置および相変化冷却方法
US20160238284A1 (en) Adaptive temperature control system for cooling working fluid
JPH06347107A (ja) 恒温恒湿装置の冷凍機制御方法及び冷凍機制御装置
JPH01196610A (ja) Lsiの冷却装置
JP2001168567A (ja) 電子機器の冷却装置
US20050262861A1 (en) Method and apparatus for controlling cooling with coolant at a subambient pressure
US20030131984A1 (en) Brine temperature control using a three-way proportional valve
US4248292A (en) Heat transfer control circuit for a heat pump
JP2003314910A (ja) 半導体素子冷却装置およびその制御方法
JPH01264248A (ja) Lsiの冷却水供給装置
JP2001203308A (ja) 半導体装置の冷却システム及びその運転制御方法
JP2017020687A (ja) 冷凍サイクル装置
JPH05187725A (ja) 空気調和機の電気品箱冷却装置
KR102135670B1 (ko) 온도 및 압력 탐지 기반의 냉동 차량의 작동 제어 장치 및 그 방법
EP3839375B1 (en) Free cooling outdoor unit

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees