JPH01188272A - 炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法 - Google Patents
炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法Info
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- JPH01188272A JPH01188272A JP63013078A JP1307888A JPH01188272A JP H01188272 A JPH01188272 A JP H01188272A JP 63013078 A JP63013078 A JP 63013078A JP 1307888 A JP1307888 A JP 1307888A JP H01188272 A JPH01188272 A JP H01188272A
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- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
「発明の利用分野」
本発明は光学的バンド巾・が1.OeV以上特に1.5
〜5.5eVを有する炭素または炭素を主成分とする被
膜を研磨用具の被膜形成・面上にコーティングすること
により、これら研磨用具の補強材、また機械ストレスに
対する耐摩耗材を得んとしている複合体に関する。
〜5.5eVを有する炭素または炭素を主成分とする被
膜を研磨用具の被膜形成・面上にコーティングすること
により、これら研磨用具の補強材、また機械ストレスに
対する耐摩耗材を得んとしている複合体に関する。
「従来技術」
炭素膜のコーティングに関しては、本発明人の出願にな
る特許願r炭素被膜を有する複合体およびその作製方法
」 (特願昭56−146936 昭和56年9月1
7日出願)が知られている。しかしこれらは金属または
無機材料のみの上に形成したものであり、その形成温度
を150℃以下、好ましくは+100〜−100’Cと
実質的に冷却とし、かつ、被形成面をこれらの温度でも
耐熱性を有する有機樹脂を主成分とするテープ状の基体
上とする場合、またはこの上に無機材料を予め塗布固定
した複合体上とする例はまったく述べられていない。
る特許願r炭素被膜を有する複合体およびその作製方法
」 (特願昭56−146936 昭和56年9月1
7日出願)が知られている。しかしこれらは金属または
無機材料のみの上に形成したものであり、その形成温度
を150℃以下、好ましくは+100〜−100’Cと
実質的に冷却とし、かつ、被形成面をこれらの温度でも
耐熱性を有する有機樹脂を主成分とするテープ状の基体
上とする場合、またはこの上に無機材料を予め塗布固定
した複合体上とする例はまったく述べられていない。
「従来の問題点」
従来例において、炭素膜は200〜1000℃と高温で
しか得られないとされており、炭素膜が条件によっては
、室温(プラズマにより150℃程度まで表面が昇温す
る)またはそれ以下の温度での作製一方法でも十分な硬
度を有せしめ得ることの記載はまったくない。
しか得られないとされており、炭素膜が条件によっては
、室温(プラズマにより150℃程度まで表面が昇温す
る)またはそれ以下の温度での作製一方法でも十分な硬
度を有せしめ得ることの記載はまったくない。
「問題を解決すべき手段」
本発明は、研磨用具の基体上に炭素または炭素を主成分
とする被膜をコーティングし、その表面での耐摩耗性等
の機械的強度を補強しようというものであり、特にエチ
レン、メタンのような炭化水素気体を直流または高周波
、特に基体側に正の直流バイヤスを加えた高周波電界に
よりプラズマを発生させた雰囲気中に導入し、分解せし
めることによりC−C結合を作り、結果としてグラファ
イトのような非透光性の導電性または不良導電性の炭素
を作るのではなく、作製条件により求められた光学的エ
ネルギバンド巾(Egという)が1.OeV以上、好ま
しくは1.5〜5.5eVを有するダイヤモンドに類似
の絶縁性の炭素を形成することを特徴としている。さら
にこの本発明の炭素は、その硬度もビッカース硬度が2
000Kg/mm”以上、好ましくは4500Kg/m
m”以上、理想的には6500Kg/mm”というダイ
ヤモンドM4mの硬さを有するアモルファス(非晶質)
または5〜200人の大きさの微結晶性を有するセミア
モルファス(半非晶質)構造を有する炭素またはこの炭
素中に水素、ハロゲン元素が25原子%以下または■価
または7価の不純物が5原子%以下、また窒素がN/C
≦0.05の濃度に添加されたいわゆる炭素を主成分と
する炭素(以下本発明においては単に炭素という)を基
板上に設けた複合体を設けんとしたものである。
とする被膜をコーティングし、その表面での耐摩耗性等
の機械的強度を補強しようというものであり、特にエチ
レン、メタンのような炭化水素気体を直流または高周波
、特に基体側に正の直流バイヤスを加えた高周波電界に
よりプラズマを発生させた雰囲気中に導入し、分解せし
めることによりC−C結合を作り、結果としてグラファ
イトのような非透光性の導電性または不良導電性の炭素
を作るのではなく、作製条件により求められた光学的エ
ネルギバンド巾(Egという)が1.OeV以上、好ま
しくは1.5〜5.5eVを有するダイヤモンドに類似
の絶縁性の炭素を形成することを特徴としている。さら
にこの本発明の炭素は、その硬度もビッカース硬度が2
000Kg/mm”以上、好ましくは4500Kg/m
m”以上、理想的には6500Kg/mm”というダイ
ヤモンドM4mの硬さを有するアモルファス(非晶質)
または5〜200人の大きさの微結晶性を有するセミア
モルファス(半非晶質)構造を有する炭素またはこの炭
素中に水素、ハロゲン元素が25原子%以下または■価
または7価の不純物が5原子%以下、また窒素がN/C
≦0.05の濃度に添加されたいわゆる炭素を主成分と
する炭素(以下本発明においては単に炭素という)を基
板上に設けた複合体を設けんとしたものである。
本発明は、さらにこの炭素が形成される研磨用具をテー
プ状とし、それを150℃以下好ましくは一100〜1
00″Cの従来より知られたCVD法に比べて500〜
1500℃も低い温度で形成せしめ、耐熱性のない有機
樹脂膜上にもコーティングが可能であることを実験的に
見出したことを他の特徴とする。
プ状とし、それを150℃以下好ましくは一100〜1
00″Cの従来より知られたCVD法に比べて500〜
1500℃も低い温度で形成せしめ、耐熱性のない有機
樹脂膜上にもコーティングが可能であることを実験的に
見出したことを他の特徴とする。
また本発明は、この炭素に■価の不純物であるホウ素を
0.1〜5原子%の濃度に添加し、P型の炭素を設け、
また7価の不純物であるリン、窒素を同様に0.1〜5
原子%の濃度に添加し、N型の炭素を設けることにより
この基板上面の炭素を導電性にしたことを他の特徴とし
ている。
0.1〜5原子%の濃度に添加し、P型の炭素を設け、
また7価の不純物であるリン、窒素を同様に0.1〜5
原子%の濃度に添加し、N型の炭素を設けることにより
この基板上面の炭素を導電性にしたことを他の特徴とし
ている。
また本発明は基体特にPET (ポリエチレンテレフタ
ート’) 、 PEs、テフロン、エポキシ、ポリイミ
ド等の有機樹脂基体特にテープ状にロール・ツー・ロー
ル(roll to rall以下RTRという)方式
で配設し、このテープ状の有機樹脂上に形成せんとする
ものである。
ート’) 、 PEs、テフロン、エポキシ、ポリイミ
ド等の有機樹脂基体特にテープ状にロール・ツー・ロー
ル(roll to rall以下RTRという)方式
で配設し、このテープ状の有機樹脂上に形成せんとする
ものである。
本発明はテープ上にアルミナ、カーボランダム等の塗粒
を有機樹脂媒体と混合して塗布固定せしめ、その表面を
凹凸にせしめ、この凹凸表面上に、これらすべてを覆う
べく炭素または炭素を主成分とする膜をコーティングし
、研磨用具を形成せんとしたものである。そしてこれを
ラッピングペーパー即ちダイヤモンド粒が散在した研磨
用材と同等の研磨機能を有する製品を作らんとするもの
である。
を有機樹脂媒体と混合して塗布固定せしめ、その表面を
凹凸にせしめ、この凹凸表面上に、これらすべてを覆う
べく炭素または炭素を主成分とする膜をコーティングし
、研磨用具を形成せんとしたものである。そしてこれを
ラッピングペーパー即ちダイヤモンド粒が散在した研磨
用材と同等の研磨機能を有する製品を作らんとするもの
である。
以下に図面に従って本発明に用いられた複合体の作製方
法を記す。
法を記す。
実施例1
第1図は本発明の炭素または炭素を主成分とする被膜を
形成するためのRTR方式のプラズマCVD装置の概要
を示す。
形成するためのRTR方式のプラズマCVD装置の概要
を示す。
図面において、ドーピング系(10)において、キャリ
アガスである水素を(11)より、反応性気体である炭
化水素気体例えばメタン、エチレンを(12)より、■
価不純物のジボラン(水素希釈)(13)、V価不純物
のアンモニアまたはフォスヒンを(14)よりバルブ(
28)、流量計(29)をへて反応系(30)中にノズ
ル(25)より導入される。このノズルに至る前に、反
応性気体の励起用にマイクロ波エネルギを(26)で加
えて予め活性化させることは有効である。
アガスである水素を(11)より、反応性気体である炭
化水素気体例えばメタン、エチレンを(12)より、■
価不純物のジボラン(水素希釈)(13)、V価不純物
のアンモニアまたはフォスヒンを(14)よりバルブ(
28)、流量計(29)をへて反応系(30)中にノズ
ル(25)より導入される。このノズルに至る前に、反
応性気体の励起用にマイクロ波エネルギを(26)で加
えて予め活性化させることは有効である。
反応系(30)では、第1のロール(4)より第2のロ
ール(5)に補助ロール(6) 、 (7)を経て移動
する。
ール(5)に補助ロール(6) 、 (7)を経て移動
する。
この補助ロール(7)は研磨用具を構成するテープにた
るみがこないように一定の張力(テンション)を与える
べく、バネ(27)を具備する。補助口−ル間には、第
1の電極(2)、被形成面を具備するテープ(1)、第
2の電極(3)を有し、一対の電極(2)。
るみがこないように一定の張力(テンション)を与える
べく、バネ(27)を具備する。補助口−ル間には、第
1の電極(2)、被形成面を具備するテープ(1)、第
2の電極(3)を有し、一対の電極(2)。
(3)間には高周波電極(15)、マツチングトランス
(16) 、直流バイヤス電源(17)より電気エネル
ギが加えられ、プラズマ(40)が発生する。排気系(
20)は圧力調整バルブ(25) 、ターボ分子ポンプ
(22) 。
(16) 、直流バイヤス電源(17)より電気エネル
ギが加えられ、プラズマ(40)が発生する。排気系(
20)は圧力調整バルブ(25) 、ターボ分子ポンプ
(22) 。
ロータリーポンプ(23)をへて不要気体を排気する。
これらの反応性気体は、反応空間(40)で0.01〜
0.3torr例えば0.1torrとし、高周波によ
る電磁エネルギにより0.1〜5KHのエネルギを加え
られる。直流バイヤスは、−200〜600V (実質
的には一400〜+400V)を加える。なぜなら、直
流バイヤスが零のときは自己バイヤスが一200V(第
2の電極を接地レベルとして)を有しているためである
。反応性気体は、例えばメタン:水素=1:lとした。
0.3torr例えば0.1torrとし、高周波によ
る電磁エネルギにより0.1〜5KHのエネルギを加え
られる。直流バイヤスは、−200〜600V (実質
的には一400〜+400V)を加える。なぜなら、直
流バイヤスが零のときは自己バイヤスが一200V(第
2の電極を接地レベルとして)を有しているためである
。反応性気体は、例えばメタン:水素=1:lとした。
第1の電極は冷却手段(9)を有し、冷却液体を(8)
より入れ、(8゛)に排出させ、被形成面上の温度を1
50〜−100℃に保持させる。かくしてプラズマによ
り被形成面上にビッカーズ硬度2000Kg/mm”以
上を有するとともに、熱伝導度2.5W/cm deg
以上のC−C結合を多数形成したアモルファス構造また
は微結晶構造を有するアモルファス構造の炭素を生成さ
せた。さらにこの電磁エネルギは50W〜IKWを供給
し、単位面積あたり0.03〜3W/cm”のプラズマ
エネルギを加えた。このプラズマ密度が大きい場合、ま
た予めマイクロ波で反応性気体が励起されている場合は
、5〜200人の大きさの微結晶性を有するセミアモル
ファス構造の炭素を生成させることができた。成膜速度
は100〜100OA/分を有し、特に表面温度を一5
0〜150℃とし、直流バイアスを+100〜300v
加えた場合、その成膜速度は100〜20OA/分(メ
タンを用いマイクロ波を用いない場合) 、500〜1
00OA/分(メタンを用いマイクロ波を用いた場合、
またはエチレンを用いマイクロ波を用いた場合)を得た
。これらはすべてビッカーズ硬度が2000Kg/mm
”以上を有する条件のみを良品とする。もちろんグラフ
ァイトが主成分ならばきわめて柔らか(、かつ黒色で本
発明とはまったく異質なものである。
より入れ、(8゛)に排出させ、被形成面上の温度を1
50〜−100℃に保持させる。かくしてプラズマによ
り被形成面上にビッカーズ硬度2000Kg/mm”以
上を有するとともに、熱伝導度2.5W/cm deg
以上のC−C結合を多数形成したアモルファス構造また
は微結晶構造を有するアモルファス構造の炭素を生成さ
せた。さらにこの電磁エネルギは50W〜IKWを供給
し、単位面積あたり0.03〜3W/cm”のプラズマ
エネルギを加えた。このプラズマ密度が大きい場合、ま
た予めマイクロ波で反応性気体が励起されている場合は
、5〜200人の大きさの微結晶性を有するセミアモル
ファス構造の炭素を生成させることができた。成膜速度
は100〜100OA/分を有し、特に表面温度を一5
0〜150℃とし、直流バイアスを+100〜300v
加えた場合、その成膜速度は100〜20OA/分(メ
タンを用いマイクロ波を用いない場合) 、500〜1
00OA/分(メタンを用いマイクロ波を用いた場合、
またはエチレンを用いマイクロ波を用いた場合)を得た
。これらはすべてビッカーズ硬度が2000Kg/mm
”以上を有する条件のみを良品とする。もちろんグラフ
ァイトが主成分ならばきわめて柔らか(、かつ黒色で本
発明とはまったく異質なものである。
この反応生成物は基体(1)が冷却媒体(9)により冷
却され、この上面に被膜として形成される。
却され、この上面に被膜として形成される。
反応後の不純物は排気系(20)よりターボ分子ポンプ
、ロータリーポンプを経て排気される。反応系は0.0
01〜10torr代表的には0.01〜0.5tor
rに保持されており、マイクロ波(26)、高周波のエ
ネルギ(15)により反応系内はプラズマ状態(40)
が生成される。特に励起源がIGHz以上、例えば2.
45GHzの周波数にあっては、C−H結合より水素を
分離し、さらに周波源が0.1〜50MHz例えば13
.56朋2の周波数にあってはC−C結合、C=C結合
を分解し、C−C結合または−C−C−結合を作り、炭
素の不対結合手同志を互いに衝突させて共有結合させ、
安定なダイヤモンド構造を局部的に有した構造とさせ得
る。
、ロータリーポンプを経て排気される。反応系は0.0
01〜10torr代表的には0.01〜0.5tor
rに保持されており、マイクロ波(26)、高周波のエ
ネルギ(15)により反応系内はプラズマ状態(40)
が生成される。特に励起源がIGHz以上、例えば2.
45GHzの周波数にあっては、C−H結合より水素を
分離し、さらに周波源が0.1〜50MHz例えば13
.56朋2の周波数にあってはC−C結合、C=C結合
を分解し、C−C結合または−C−C−結合を作り、炭
素の不対結合手同志を互いに衝突させて共有結合させ、
安定なダイヤモンド構造を局部的に有した構造とさせ得
る。
かくして有機樹脂基体上またはその上にセラミックスが
設けられたテーテ上に炭素特に炭素中に水素を25モル
%以下含有する炭素またP、■またはN型の導電型を有
する炭素を主成分とする被膜を形成させることができた
。
設けられたテーテ上に炭素特に炭素中に水素を25モル
%以下含有する炭素またP、■またはN型の導電型を有
する炭素を主成分とする被膜を形成させることができた
。
実施例2
第2図(A)は第1図の製造装置を用いて作られた本発
明の研磨用具を構成する複合体の一例である。第2図(
A)は有機樹脂基体の上に有機溶剤で希釈したポリイミ
ド、PET等の有機樹脂媒体と、アルミナ、カーボラン
タム等の塗粒(42)(粒径200番〜8000番)と
を混合し、これらを基体(41)上に3〜100μmの
平均厚さに一回または数回繰り返して塗布し、乾燥、固
化した。すると有機溶剤が気化し、有機樹脂媒体は体積
収縮をするため、塗粒(42)が凸部を有して媒体(4
3)により基体(41)上に固着される。さらにこの時
有機媒体が凸部の上表面にも若干残るため、ここの部分
を軽く溶去し、凸部に塗粒表面が露呈するようにしても
よい。これらを第1図のRTR方式の装置に配設し、こ
の上面に炭素(50)を形成した。 この厚さは0.
1〜5μmとした。
明の研磨用具を構成する複合体の一例である。第2図(
A)は有機樹脂基体の上に有機溶剤で希釈したポリイミ
ド、PET等の有機樹脂媒体と、アルミナ、カーボラン
タム等の塗粒(42)(粒径200番〜8000番)と
を混合し、これらを基体(41)上に3〜100μmの
平均厚さに一回または数回繰り返して塗布し、乾燥、固
化した。すると有機溶剤が気化し、有機樹脂媒体は体積
収縮をするため、塗粒(42)が凸部を有して媒体(4
3)により基体(41)上に固着される。さらにこの時
有機媒体が凸部の上表面にも若干残るため、ここの部分
を軽く溶去し、凸部に塗粒表面が露呈するようにしても
よい。これらを第1図のRTR方式の装置に配設し、こ
の上面に炭素(50)を形成した。 この厚さは0.
1〜5μmとした。
塗粒(42)として4000〜8000番を用いた場合
ではそれぞれ0.3〜0.1 μmの厚さの炭素膜を形
成し、800〜2000番ではそれぞれ2.0〜0.5
μmの厚さの炭素膜(50)を形成した。さらにこれ
以下の粒番の大粒径の塗粒では3μm以上の厚さに炭素
膜をコートした。それらは凸部が炭素のコートにより実
質的に平坦にならない範囲で厚く形成すればよい。
ではそれぞれ0.3〜0.1 μmの厚さの炭素膜を形
成し、800〜2000番ではそれぞれ2.0〜0.5
μmの厚さの炭素膜(50)を形成した。さらにこれ
以下の粒番の大粒径の塗粒では3μm以上の厚さに炭素
膜をコートした。それらは凸部が炭素のコートにより実
質的に平坦にならない範囲で厚く形成すればよい。
かくしてこの炭素ラッピングペーパーを構成すま研磨用
具を完成せしめた。
具を完成せしめた。
「効果」
本発明のペーパーは研磨面のすべてに炭素膜がコートさ
れているため、研磨される対象物中に従来公知のラッピ
ングペーパーで見られたアルミナ、カーボランダムが混
入することを防ぎ得た。またケミカルポリッシュ即ちア
ルカリ溶液等の薬品を使用したポリッシュ作製にも炭素
膜が耐薬品性を有するため有効であった。
れているため、研磨される対象物中に従来公知のラッピ
ングペーパーで見られたアルミナ、カーボランダムが混
入することを防ぎ得た。またケミカルポリッシュ即ちア
ルカリ溶液等の薬品を使用したポリッシュ作製にも炭素
膜が耐薬品性を有するため有効であった。
これは磁性ヘッド等の表面またその他の精密な電気用部
材等の表面の研磨用のみならず、多くの分野においてそ
の応用が可能である。
材等の表面の研磨用のみならず、多くの分野においてそ
の応用が可能である。
以上の説明より明らかな如く、本発明は有機樹脂または
それにガラス、磁性体、金属またはセラミックを形成し
、それらの表面に炭素または炭素を主成分とした被膜を
コーティングして設けたものである。この複合体は他の
多くの実施例にみられる如くその応用は計り知れないも
のであり、特にこの炭素が150℃以下の低温で形成で
きるに対し、その硬度また基板に対する密着性がきわめ
て優れているのが特徴である。
それにガラス、磁性体、金属またはセラミックを形成し
、それらの表面に炭素または炭素を主成分とした被膜を
コーティングして設けたものである。この複合体は他の
多くの実施例にみられる如くその応用は計り知れないも
のであり、特にこの炭素が150℃以下の低温で形成で
きるに対し、その硬度また基板に対する密着性がきわめ
て優れているのが特徴である。
本発明におけるセラミックはアルミナ、ジルコニア、カ
ーボランダム、YBCO等で知られる酸化物超伝導材料
が有効である。また磁性体はサマリューム、コバルト等
の希土類磁石、アモルファス磁性体、酸化鉄またはこれ
にニッケル、クロム等がコートされた形状異方形の磁性
体であってもよい。
ーボランダム、YBCO等で知られる酸化物超伝導材料
が有効である。また磁性体はサマリューム、コバルト等
の希土類磁石、アモルファス磁性体、酸化鉄またはこれ
にニッケル、クロム等がコートされた形状異方形の磁性
体であってもよい。
第1図は本発明の炭素または炭素を主成分とする被膜を
被形成面上に作製するロール・ツー・ロール方式の製造
装置の概要を示す。 第2図は本発明の研磨用具の実施例を示す。 °特許出願人 賀lの
被形成面上に作製するロール・ツー・ロール方式の製造
装置の概要を示す。 第2図は本発明の研磨用具の実施例を示す。 °特許出願人 賀lの
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基体上に粉体が有機樹脂媒体により固定された凹凸
表面を有する表面にアモルファスまたは微結晶を有する
アモルファス構造の炭素または炭素を主成分とする膜を
形成することを特徴とする炭素膜がコートされた研磨用
具。 2、特許請求の範囲第1項において、基体はテープ状を
有していることを特徴とする炭素膜がコートされた研磨
用具。 3、基体上に粉体と有機樹脂媒体とを混合して塗布し、
凹凸表面を有する表面を形成する工程と、これらの上表
面にアモルファスまたは微結晶を有するアモルファス構
造の炭素膜を前記塗布させた表面を150℃以下の温度
に保持しつつ形成することを特徴とする研磨用具の作製
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63013078A JPH0757472B2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63013078A JPH0757472B2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01188272A true JPH01188272A (ja) | 1989-07-27 |
JPH0757472B2 JPH0757472B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=11823126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63013078A Expired - Lifetime JPH0757472B2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0757472B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1126003A1 (en) * | 2000-02-16 | 2001-08-22 | Mitsubishi Materials Corporation | Resin bonded abrasive tool |
US6383238B1 (en) * | 1999-08-17 | 2002-05-07 | Mitsubishi Materials Corporation | Resin bonded abrasive tool |
JP2002127018A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-08 | Mitsubishi Materials Corp | レジンボンド砥石 |
JP2003159653A (ja) * | 2001-11-20 | 2003-06-03 | Dipsol Chem Co Ltd | アモルファス表面層を有する研削材及びその製造方法 |
JP2006043884A (ja) * | 1999-08-17 | 2006-02-16 | Mitsubishi Materials Corp | レジンボンド砥石 |
JP2009504550A (ja) * | 2005-08-11 | 2009-02-05 | エレメント シックス (プロダクション)(プロプライエタリィ) リミテッド | 多結晶ダイヤモンド研磨要素及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP63013078A patent/JPH0757472B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6383238B1 (en) * | 1999-08-17 | 2002-05-07 | Mitsubishi Materials Corporation | Resin bonded abrasive tool |
JP2006043884A (ja) * | 1999-08-17 | 2006-02-16 | Mitsubishi Materials Corp | レジンボンド砥石 |
KR100615896B1 (ko) * | 1999-08-17 | 2006-08-28 | 미츠비시 마테리알 가부시키가이샤 | 레진본드 숫돌 |
JP4586704B2 (ja) * | 1999-08-17 | 2010-11-24 | 三菱マテリアル株式会社 | レジンボンド砥石 |
EP1126003A1 (en) * | 2000-02-16 | 2001-08-22 | Mitsubishi Materials Corporation | Resin bonded abrasive tool |
JP2002127018A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-08 | Mitsubishi Materials Corp | レジンボンド砥石 |
JP2003159653A (ja) * | 2001-11-20 | 2003-06-03 | Dipsol Chem Co Ltd | アモルファス表面層を有する研削材及びその製造方法 |
JP2009504550A (ja) * | 2005-08-11 | 2009-02-05 | エレメント シックス (プロダクション)(プロプライエタリィ) リミテッド | 多結晶ダイヤモンド研磨要素及びその製造方法 |
US10213901B2 (en) | 2005-08-11 | 2019-02-26 | Element Six Abrasives Sa | Polycrystalline diamond abrasive element and method of its production |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0757472B2 (ja) | 1995-06-21 |
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