JPH01184446A - 透過型マイクロ波ct装置 - Google Patents

透過型マイクロ波ct装置

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JPH01184446A
JPH01184446A JP694588A JP694588A JPH01184446A JP H01184446 A JPH01184446 A JP H01184446A JP 694588 A JP694588 A JP 694588A JP 694588 A JP694588 A JP 694588A JP H01184446 A JPH01184446 A JP H01184446A
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JP
Japan
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projection data
microwave
image
antennas
antenna
Prior art date
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JP694588A
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English (en)
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JPH0579939B2 (ja
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Masahiro Saito
斎藤 正弘
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、マイクロ波CTスキャナに関する。
[従来の技術] マイクロ波CTスキャナは、第4図に示すように、人体
などの被写体1の側方に位置する送信アンテナ2から、
ビーム状のマイクロ波3を照射するし、被写体1を透過
したマイクロ波を、他方に位置する受信アンテナ4によ
り検知し、これにより得た投影データに基づいて、生体
内のCT像を作成するものである。
このようなマイクロ波CTスキャナは、マイクロ波のビ
ームが細いほど2作成されるCT像の解像度が高くなる
[発明が解決しようとする問題点] ところで、一般に、細いビームのマイクロ波を照射する
ためには、送信アンテナ2を大きくしてビームを絞り込
むようにしている。
第5図は、送信アンテナ2を大きくした場合の送受信ア
ンテナ2,4間の各位置でのマイクロ波のビームプロフ
ァイルの一例を示したものある。この場合、一般に、同
図(b)に示すように、中央位置においてビームを絞り
込むようにしている。すると、焦点となる中央位置から
離れた位置では、同図(a) 、 (c)に示すように
、送信アンテナ2の大きさに応じて、ビーム幅が広くな
る。このため、得られるCT像は、視野の周辺部におい
て1画像の解像度が低下するという問題があった。
本発明は、上記の問題を解決し、視野全体にわたってC
T像の解像度が向上するマイクロ波CTスキャナを提供
することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] このために本発明は、それぞれ焦点位置の異なるビーム
状のマイクロ波を照射する複数の送信アンテナと、それ
ら各送信アンテナに対応する複数の受信アンテナとを配
設し、送信アンテナと受信アンテナ1つづつを対として
、被写体から投影データを取り出し、各部で取り出した
投影データを加算した値に基づいてCT像を作成するよ
うにしたことを特徴とするものである。
[作用] 各送信アンテナのマイクロ波ビームの焦点位置は互いに
異なっているため、それぞれのマイクロ波ビームにより
得た投影データを加算すると、細いマイクロ波ビームに
より得た投影データと等価なものとなるので、これによ
り作成されるCT像の解像度は、視野全体にわたって向
上するようになる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
第1図は、本発明の一実施例に係るマイクロ波CTスキ
ャナの概略構成図である。図において。
信号発生装置5は、マイクロ波帯の高周波信号を発生す
るもので、その出力は、被写体lの一側方に配設された
送信アンテナ2a 、 2bに接続されている。送信ア
ンテナ2a 、 2bは、マイクロ波ビームを照射する
ものである1本実施例では、マイクロ波ビームが絞り込
まれる焦点位置は、送信アンテナ2aでは長く、送信ア
ンテナ2bでは短く、互に異なるように設定されている
被写体1の他方には、送信アンテナ2a、2bの対向す
る受信アンテナ4a、4bが配設されている。送信アン
テナ2a 、 2bおよび受信アンテナ4a、4bは、
各方向から被写体l各部に対してマイクロ波を照射して
、所定の゛方式で被写体1を走査するために、走査機構
6に取り付けられている。
送信アンテナ2a 、 2bのマイクロ波検知出力は。
データ収集装置7に入力されている。データ収集装置7
は、受信アンテナ4aと4bからの検知信号に基づいて
、投影データを収集するものである。
画像再構成装置8は、上記投影データを加算処理すると
共に、CT像に再構成するものである。
以上の構成で、CT像の撮像を行なう場合1本実施例の
マイクロ波CTス華ヤナを起動すると、送信アンテナ2
a 、 2bから被写体lに対してマイクロ波ビーム3
a、3bがそれぞれ照射される。また、走査機構6が作
動し、例えば、゛トランスレーション型走査方式の場“
合であれば、送信アンテナ2a 、 2bおよび受信ア
ンテナ4a、4bが、トランスレーションとローテーシ
目ン動作により、被写体1の各方向から順次撮像走査が
なされる。
いま、1回の上記トランスレーション期間を考えると、
データ収集装置7は、受信アンテナ4a、4bからの検
知信号に基づいて、被写体の各位置に対応する投影デー
タをそれぞれ作成する。
第2図は、横軸に作成された投影データ、縦軸に被写体
の位置を示したグラフであり、上記トランスレーション
期間において、送信アンテナ2a、2bから照射される
2つのマイクロ波ビーム3a 、 3bに対応して、投
影データa、bが作成される。
画像再構成装置8は、まず、このように作成された各回
のトランスレーション動作で得られる2つづつの各投影
データa、bを加算して、1つの投影データを作成する
従って、上記編集された1つの投影データは、送信アン
テナ2a 、 2bから照射される2つのマイクロ波ビ
ーム3a 、 3bを合成して得たマイクロ波ビームで
取り出した投影データに等価なものとなる。
また、この場合、マイクロ波ビーム3a、3bの焦点位
置は互いに異なっている。これにより、第3図に示すよ
うに、2つのマイクロ波ビーム3a、3bを重ね合せる
と、ビームの中心部のマイクロ波の強度が強くなり、細
いマイクロ波ビームと等価になる。
画像再構成装置8は、ここで、上記1つの投影データに
基づいて、CT像を作成する。
従って、ここで作成されるCT像は、被写体1が、細い
マイクロ波ビームにより走査されて作成されたものと等
価になり、その解像度は、視野全体にわたって向上する
ようになる。
なお、以上の実施例では、トランスレーション型走査方
式の場合にもいて説明′したが、本発明は、他の走査方
式の場合でも同様に適用できることは当然である。また
、送信アンテナは、3個以上でもよいことは言うまでも
ない。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、それぞれ焦点位置の異
なるビーム状のマイクロ波を照射する複数の送信アンテ
ナと、それらに対応する複数の受信アンテナとを配設し
、送信アンテナと受信アンテナとを対として、各部、ご
とに被写体から投影データを取り出し、各部の投影デー
タを加算して。
細いマイクロ波ビームにより得たものと等価な投影デー
タを作成し、その投影データに基づいてCT像を作成す
るようにしたので、CT像の解像度は、視野全体にわた
って向上するようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るマイクロ波CTスキャ
ナの概略構成図、第2図は投影データのグラフ図、第3
図はマイクロ波ビームの説明図。 第4図はマイクロ波CTスキャナの原理図、第5図はマ
イクロ波ビームの各位置におけるビーム幅の説明図であ
る。 1・・・被写体、 2,2a、2b・・・送信アンテナ
、3a 、 3b・・・マイクロ波ビーム、4,4a、
4b・・・受信アンテナ、6・・・走査機構、7・・・
データ収集装置、8・・・画像再構成装置。 t′シ’、”、 、lE:實9 工業技術院長 飯塚幸ミ 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 (a)   (b)   (c)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 送信アンテナと受信アンテナとが対になり、一定位置に
    焦点を有するビーム状のマイクロ波を被写体各部に照射
    すると共に、その被写体各部を透過した上記マイクロ波
    を検知して得た投影データに基づいて、CT像を作成す
    る透過型のマイクロ波CTスキャナにおいて、それぞれ
    焦点位置の異なるビーム状のマイクロ波を照射する複数
    の送信アンテナと、それらの各送信アンテナに対応する
    複数の受信アンテナと、上記送信アンテナの1つと受信
    アンテナの1つを対として、被写体から各対ごとの投影
    データを得る投影データ収集手段と、上記各対ごとの投
    影データを加算した値に基づいてCT像を作成する画像
    再構成手段とを備えたことを特徴とするマイクロ波CT
    スキャナ。
JP694588A 1988-01-18 1988-01-18 透過型マイクロ波ct装置 Granted JPH01184446A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP694588A JPH01184446A (ja) 1988-01-18 1988-01-18 透過型マイクロ波ct装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP694588A JPH01184446A (ja) 1988-01-18 1988-01-18 透過型マイクロ波ct装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01184446A true JPH01184446A (ja) 1989-07-24
JPH0579939B2 JPH0579939B2 (ja) 1993-11-05

Family

ID=11652374

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JP694588A Granted JPH01184446A (ja) 1988-01-18 1988-01-18 透過型マイクロ波ct装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10254397B2 (en) 2013-09-25 2019-04-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Inspection apparatus and inspection system

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61180129A (ja) * 1984-10-09 1986-08-12 クワンタム・ダイアグノステイツクス・リミテツド 物体の予め定まつている特性を分析する装置、物体を試験する方法および標本の選定された特性を分析するための装置
JPS62153748A (ja) * 1985-12-27 1987-07-08 Mitsubishi Electric Corp 超音波もしくは電磁波による物体映像化装置

Patent Citations (2)

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US10254397B2 (en) 2013-09-25 2019-04-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Inspection apparatus and inspection system

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JPH0579939B2 (ja) 1993-11-05

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