JPH01162519A - Lead shaping device - Google Patents

Lead shaping device

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Publication number
JPH01162519A
JPH01162519A JP32077687A JP32077687A JPH01162519A JP H01162519 A JPH01162519 A JP H01162519A JP 32077687 A JP32077687 A JP 32077687A JP 32077687 A JP32077687 A JP 32077687A JP H01162519 A JPH01162519 A JP H01162519A
Authority
JP
Japan
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lead
leads
package
semiconductor device
reference plane
Prior art date
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Pending
Application number
JP32077687A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Watanabe
健二 渡辺
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH01162519A publication Critical patent/JPH01162519A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To arrange all mounted sides on the points of a plurality of leads to prescribed positions by mounting a package of a semiconductor device having a plurality of irregular projected leads on a supporting base, forcing down a pressure member from an upper part until the point parts of a plurality of leads take a specified angle by the contact pieces of the pressure member, then, raising the pressure member. CONSTITUTION:A package 3 of a semiconductor device 2 provided with a plurality of leads such as normal leads 4a and irregularly deformed leads 4b, etc., is mounted on a supporting base 1. Then, the pressure member 5 is forced by the contact piece 5a of its point part down to a position where an angle theta2 formed by mounted sides 4c of the point parts of all the leads 4 and a reference surface P becomes larger than a prescribed angle and kept for a prescribed time, then the pressure member 5 is raised to release the compression of the point of the lead 4 by the contact piece 5a. The irregularly deformed leads 4b are deformed plastically at the root of the package 3 and the point parts are arranged with the regular leads 4a to the reference surface P to improve the flatness of the leads 4.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発胡は、リード整形技術に関し、特に、表面実装型の
半導体装置における複数のリードの平面度の修正に適用
して有効な技術に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] This invention relates to lead shaping technology, and in particular to a technology that is effective when applied to correcting the flatness of a plurality of leads in a surface-mounted semiconductor device. It is.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

たとえば、実装面に沿う方向に突設されたリードをガル
・ウィング形に成形し、リードの先端の下側面をハンダ
などを介して実装基板に接続するようにした表面実装型
の半導体装置においては、複数のリードの先端部を所定
の基準平面内に揃えることが実装作業におけるハンダ付
けのばらつきを低減して信頼性を向上させるなどの観点
から重要となる。
For example, in a surface mount type semiconductor device, the leads protruding along the mounting surface are formed into a gull-wing shape, and the lower surface of the lead tip is connected to the mounting board via solder or the like. It is important to align the tips of the plurality of leads within a predetermined reference plane from the viewpoint of reducing soldering variations during mounting work and improving reliability.

このため、たとえばリード・フレームからのリードの切
断および成形加工に際しては、リードの付け根部分を金
型などによって上下方向から挟持し、その状態でリード
の切断および曲げを行うことにより、パッケージにおけ
る応力の発生を防止しながら、成形されたリードの平坦
度を所定の精度に維持しようとすることが行われている
For this reason, when cutting and molding leads from a lead frame, for example, the bases of the leads are held from above and below by a mold, etc., and the leads are cut and bent in this state to reduce stress in the package. Efforts are being made to prevent this from occurring while maintaining the flatness of the molded lead to a predetermined precision.

なお、表面実装型の半導体装置の実装技術などについて
は、日経マグロウヒル社、1984年6月11日発行、
「マイクロデバイセズ、日経エレクトロニクス別冊、n
o、2J、P148〜Pi59に記載されている。
Regarding the mounting technology of surface-mounted semiconductor devices, please refer to Nikkei McGraw-Hill, published June 11, 1984,
“Micro Devices, Nikkei Electronics Special Edition, n.
o, 2J, P148-Pi59.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところが、一般に表面実装型のフラット・パッケージで
は、パッケージ自体に中央部が凸になるようなそりを生
じていることが多く、前記の従来技術のように、リード
の切断・成形時に金型などによって強制的にリードの平
坦度を揃えても、金型を開放した直後から回復するパッ
ケージの変形に追随して個々のリードに傾きが発生し、
平坦度が劣化するという問題があることを本発明者は見
出した。
However, in general, surface mount type flat packages often have warpage in the package itself, with the center becoming convex. Even if the flatness of the leads is forcibly aligned, the individual leads will tilt due to the deformation of the package that recovers immediately after the mold is opened.
The inventor has discovered that there is a problem that the flatness deteriorates.

本発明の目的は、パッケージに過大なストレスを与える
ことなく、リードの平面度を向上させることが可能なリ
ード整形技術を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a lead shaping technique that can improve the flatness of the leads without applying excessive stress to the package.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、基準面に沿う方向にパッケージからリードを
突出させた半導体装置のリード整形装置であって、パッ
ケージまたはパッケージから突出するリードの付け根部
分を第1の方向から支持する支持台と、支持台に対向す
る方向に相対的に移動自在に配設され、第1の方向とは
逆の第2の方向にリードの外端部を押圧して所定量の変
形を与える押圧部材とを備えたものである。
That is, this is a lead shaping device for a semiconductor device in which a lead protrudes from a package in a direction along a reference plane, and includes a support base that supports the package or the root portion of the lead protruding from the package from a first direction; A pressing member disposed to be relatively movable in opposing directions and pressing the outer end of the lead in a second direction opposite to the first direction to deform the lead by a predetermined amount. be.

〔作用〕[Effect]

上記した手段によれば、たとえば、基準面から逸脱した
リードは塑性変形し、先端部が基準面に一致したリード
は弾性変形するように押圧部材の第2の方向への移動量
を設定することで、パッケージに過大な応力を生じるこ
となく、複数のリードを基準平面内に揃えることができ
、リードの平面度を向上させることができる。
According to the above-mentioned means, for example, the amount of movement of the pressing member in the second direction is set so that a lead that deviates from the reference plane is plastically deformed, and a lead whose tip portion coincides with the reference plane is elastically deformed. Therefore, a plurality of leads can be aligned within the reference plane without causing excessive stress to the package, and the flatness of the leads can be improved.

〔実施例1〕 第1図は、本発明の一実施例であるリード整形装置の要
部を示す断面図である。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a sectional view showing the main parts of a lead shaping device that is an embodiment of the present invention.

水平上向きに設けられた支持台1の上には、半導体装置
2のパッケージ3が垂直上向き(第1の方向)に支持さ
れている。
A package 3 of a semiconductor device 2 is supported vertically upward (first direction) on a support stand 1 provided horizontally upward.

この半導体装置2は、多角形のパッケージ3の゛各辺か
ら水平方向に突設された複数のリード4を、いわゆるガ
ル・ウィング形に成形した表面実装型の封止形態を呈し
ており、リード4の先端部の実装側面4cを第1図に一
点鎖線で示される基準平面P1すなわち図示しない実装
基板面にハンダなどに固着されて実装されるものである
This semiconductor device 2 has a surface mount type sealing structure in which a plurality of leads 4 protruding horizontally from each side of a polygonal package 3 are formed into a so-called gull wing shape. The mounting side surface 4c of the distal end of 4 is fixed to a reference plane P1 indicated by a dashed line in FIG.

この場合、半導体装置2の複数のり−ド4のうち正常な
リード4a(第2のリード)は基準平面Pと所定の角度
θ1をなし、かつ先:4部が揃って当該基準平面Pに一
致しているとともに、一部のリード4b(第1のリード
)は、基準平面Pがら浮き上がった状態に変形しており
、本実施例ではこの不正に変形したり−ド4bの形伏が
正常なリード4aと同一になるように修正するものであ
る。
In this case, the normal leads 4a (second leads) among the plurality of leads 4 of the semiconductor device 2 form a predetermined angle θ1 with the reference plane P, and the four ends of the leads are all aligned with the reference plane P. At the same time, some of the leads 4b (first leads) are deformed to a state where they are lifted from the reference plane P. In this embodiment, the shape of the leads 4b is not normal. It is modified to be the same as the lead 4a.

支持台1の上方には、断面が逆回形を呈し、上下動自在
な押圧部材5が対向して配設されており、この押圧部材
5の下降動作により、先端の当接片5aによって、リー
ド4の正常なリード4aおよび不正に変形したリード4
bが、支持台1による半導体装置2の支持方向とは逆な
垂直下向き(第2の方向)に−括して押圧されるように
構成されている。
Above the support base 1, a pressing member 5 having an inverted circular cross section and movable up and down is disposed facing each other, and by the downward movement of the pressing member 5, the abutment piece 5a at the tip causes Normal lead 4a of lead 4 and incorrectly deformed lead 4
b is configured to be pressed vertically downward (second direction), which is opposite to the direction in which the semiconductor device 2 is supported by the support base 1 .

以下、本実施例の作用について説明する。The operation of this embodiment will be explained below.

まず、図示しない搬送機構などにより、半導体装置2の
パッケージ3が、リード4の先端部の実装基板の表面に
固着される実装側面4Cを下向きにした状態で、リード
4の変位を拘束されることなく載置される。。
First, by a transport mechanism (not shown) or the like, the package 3 of the semiconductor device 2 is restrained from displacing the leads 4 with the mounting side surface 4C, which is fixed to the surface of the mounting board at the tip of the lead 4, facing downward. It is placed without any problem. .

次に、押圧部材5を下降させることにより、当該押圧部
材5の先端の当接片5aが、まず基準平面Pから浮き上
がった状態に変形したリード4bに突き当たり、リード
4bを変形させながらさらに下降することにより、正常
なリード4aも変形し、第2図に示されるように、リー
ド4の全体の先端部の実装側面4Cと基準平面Pとのな
す角度θ2が前記の角度θ1より大きくなる位置で停止
され、この状態が所定の時間だけ維持され、その後、当
接片5aによるリード4の押圧動作が解除される。
Next, by lowering the pressing member 5, the abutting piece 5a at the tip of the pressing member 5 first hits the lead 4b which has been deformed to be lifted from the reference plane P, and further descends while deforming the lead 4b. As a result, the normal lead 4a is also deformed, and as shown in FIG. This state is maintained for a predetermined period of time, and then the pressing operation of the lead 4 by the contact piece 5a is released.

ここで、本実施例の場合には、前記の角度θ2の大きさ
、すなわち、押圧部材5の当接片5aの下降量は、不正
に変形したリード4bはパッケージ3に対する付け根部
分において所定量の塑性変形を生じ、正常な形状のリー
ド4aは弾性変形するような範囲に設定される。
Here, in the case of this embodiment, the magnitude of the angle θ2, that is, the amount of descent of the abutting piece 5a of the pressing member 5, is such that the improperly deformed lead 4b has a predetermined amount at its base relative to the package 3. The lead 4a having a normal shape is set in a range such that plastic deformation occurs and the normally shaped lead 4a is elastically deformed.

このため、パッケージ3に過大な応力が作用しないとと
もに、押圧部材5の当接片5aによるリード4の押圧動
作が解除されると、変形していたり一ド4bおよび正常
なリード4aがともに基準平面に先端部が揃った状態と
なり、リード4の平面度が向上する。
Therefore, an excessive stress is not applied to the package 3, and when the pressing operation of the leads 4 by the abutting piece 5a of the pressing member 5 is released, both the deformed and normal leads 4b and the normal leads 4a are brought to the reference plane. The tips of the leads 4 are aligned, and the flatness of the leads 4 is improved.

なお、前記の正常な状態におけるリード4の先端部と基
準平面とのなす角度θ1 を、リード4の切断・整形時
などに予め小さく設定しておき、不正に変形したリード
4bおよび正常なリード4aをともに所定の量だけ塑性
変形させることにより、当接片5aによる押圧動作を解
除した後に目的の角度θ1 をなすようにしても良いこ
とは言うまでもない。
Note that the angle θ1 between the tip of the lead 4 and the reference plane in the normal state is set small in advance when cutting or shaping the lead 4, so that improperly deformed leads 4b and normal leads 4a can be avoided. It goes without saying that the desired angle θ1 may be formed after the pressing operation by the contact piece 5a is released by plastically deforming both by a predetermined amount.

このように、本実施例においては以下の効果を得ること
ができる。
In this way, the following effects can be obtained in this embodiment.

〔l〕、半導体装置2のパッケージ3まだはリード4を
支持台1によって下方から支持し、この支持台1に対し
て下降する押圧部材5の当接片5aによって、正常なリ
ード4aおよび不正に変形したリード4bを同時に所定
の量だけ弾性変形または塑性変形させる構造であるため
、たとえばリード4の変形量、すなわち、押圧部材5の
当接片5aの下降量を、不正に変形したリード4bはパ
ッケージ3に対する付け根部分において所定量の塑性変
形を生じ、正常な形状のリード4aは弾性変形するよう
な範囲に設定することで、パッケージ3に過大な応力を
発生することなく、リード4の平面度を向上させること
ができる。
[l] The lead 4 of the package 3 of the semiconductor device 2 is supported from below by the support 1, and the contact piece 5a of the pressing member 5 that descends with respect to the support 1 protects the normal lead 4a and the illegal lead 4a. Since the structure is such that the deformed lead 4b is elastically or plastically deformed by a predetermined amount at the same time, the lead 4b that has been improperly deformed is By setting the range such that a predetermined amount of plastic deformation occurs at the base of the package 3 and the normally shaped lead 4a is elastically deformed, the flatness of the lead 4 can be improved without generating excessive stress on the package 3. can be improved.

(2)、前記(1)の結果、半導体装置2の実装作業な
どにおいて、リード4の平面度のばらつきなどに起因す
る接続不良の発生などが回避され、半導体装置2が組み
込まれたシステムの信頼性が向上する。
(2) As a result of (1) above, connection failures caused by variations in the flatness of the leads 4 can be avoided during the mounting work of the semiconductor device 2, and the system in which the semiconductor device 2 is incorporated can be improved. Improves sex.

〔実施例2〕 第3図は、本発明の他の実施例であるリード整形装置の
要部を示す断面図である。
[Embodiment 2] FIG. 3 is a sectional view showing the main parts of a lead shaping device according to another embodiment of the present invention.

本実施例の場合には、支持台6の上面に半導体装置2の
パッケージ3を収容する凹部6aが形成され、当該凹部
6aを構成す、る枠状の支持片6bによって、リード4
の付け根部分が支持されるようにしたものであり、前記
実施例1の場合と同様の動作により、リード4の平面度
を向上させることができる。
In the case of this embodiment, a recess 6a for accommodating the package 3 of the semiconductor device 2 is formed on the upper surface of the support base 6, and the frame-shaped support piece 6b constituting the recess 6a supports the leads 4.
The base portion of the lead 4 is supported, and the flatness of the lead 4 can be improved by the same operation as in the first embodiment.

また、半導体装置2のリード4の不正なり一ド4bが基
準平面Pよりも下側に突出した状態に変形している場合
には、第4図に示されるように、半導体装置2を反転さ
せ、リード4の先端部の実装側面4Cを上向きにした状
態で支持台6に載置することにより同様の整形作業を行
うことができる。
Furthermore, if the lead 4b of the semiconductor device 2 is deformed in such a way that it protrudes below the reference plane P, the semiconductor device 2 may be inverted as shown in FIG. A similar shaping operation can be performed by placing the lead 4 on the support stand 6 with the mounting side surface 4C of the leading end facing upward.

なお、このことは前記実施例1の場合でも同嘩である。Incidentally, this also applies to the case of the first embodiment.

〔実施例3〕 第5図は、本発明のさらに他の実施例であるリード整形
装置の要部を示す断面図である。
[Embodiment 3] FIG. 5 is a sectional view showing the main parts of a lead shaping device which is still another embodiment of the present invention.

本実施例3の場合には、リード整形装置が半導体装置2
の動作試験において、試験信号や電源などを供給する図
示しないテスタと半導体装置2との電気的な接続を行う
テスト・ボード7に設けられているものである。
In the case of this third embodiment, the lead shaping device is
In the operation test, the test board 7 is provided to electrically connect the semiconductor device 2 to a tester (not shown) that supplies test signals, power, and the like.

すなわち、テスト・ボード7には、試験すべき半導体装
置2の複数のリード4に対応して、ばね作用を有する複
数のコの字形のコンタクト・ピン8が配設されている。
That is, the test board 7 is provided with a plurality of U-shaped contact pins 8 having a spring action, corresponding to the plurality of leads 4 of the semiconductor device 2 to be tested.

この複数のコンタクト・ピン8の中央部には、中央部に
半導体装置2のパッケージ3を収容する凹部9aが形成
された支持台9が突設されており、載置される半導体装
置2の複数のり一ド4の先端部が複数のコンタクト・ピ
ン8の各々に一致するように位置決めされる構造とされ
ている。
At the center of the plurality of contact pins 8, a support base 9 is provided that projects from the center and has a recess 9a for accommodating the package 3 of the semiconductor device 2. The structure is such that the tip of the glue 4 is positioned to match each of the plurality of contact pins 8.

テスト・ボード7に対向する位置には、断面が逆回形で
先端部に当接片10aが突設された押圧部材lOが昇降
自在に設けられ、当接片10aとコンタクト・ピン8と
の間に半導体装置2のリード4が挟持されるように構成
されている。
At a position facing the test board 7, a pressing member 1O having a reverse circular cross section and a contact piece 10a protruding from its tip is provided so as to be movable up and down. The leads 4 of the semiconductor device 2 are sandwiched between them.

以下、本実施例の作用について説明する。The operation of this embodiment will be explained below.

まず、支持台9には、図示しない搬送機構によって半導
体装置2が載置され、パッケージ3が凹部9aに嵌合す
ることによって、複数のリード4の各々が複数のコンタ
クト・ピン8の各々の直上部に位置決めされる。
First, the semiconductor device 2 is placed on the support stand 9 by a transport mechanism (not shown), and the package 3 is fitted into the recess 9a, so that each of the plurality of leads 4 is directly connected to each of the plurality of contact pins 8. positioned at the top.

次に、押圧部材10を下降させると、先端部の当接片1
0aは、リード4の上面に当接し、当該リード4は下方
に弾性変形するコンタクト・ピン   −8との間に挟
持された状態となり、複数のリード4の各々はそれぞれ
所定のコンタクト・ピン8に電気的に接続され、図示し
ないテスタなどから印加される電力や動作試験信号など
によって半導体装置2の動作試験が行われる。
Next, when the pressing member 10 is lowered, the contact piece 1 at the tip end
0a is in contact with the upper surface of the lead 4, and the lead 4 is held between the contact pin -8 which is elastically deformed downward, and each of the plurality of leads 4 is attached to a predetermined contact pin 8. The semiconductor device 2 is electrically connected, and an operation test of the semiconductor device 2 is performed using power, operation test signals, etc. applied from a tester (not shown) or the like.

この時、パッケージ3の下面が支持台9に支持されてい
るため、リード4は先端部が所定の量だけ下方に押し下
げられた状態に変形し、たとえば基準平面から逸脱した
状態に変形したリード4bの整形が同時に行われる。
At this time, since the lower surface of the package 3 is supported by the support stand 9, the lead 4 is deformed so that the tip end is pushed down by a predetermined amount, and the lead 4b is deformed to deviate from the reference plane, for example. The formatting is done at the same time.

これにより、半導体装置2の動作試験が緯了し、押圧部
材10とコンタクト・ピン8とによる挟持状態が解除さ
れた時には、複数のり−ド4は所定の平面内に先端部が
揃えられた状態となり、半導体装置2の動作試験とり−
ド4の平面度の修正を同時に行わせることができる。
As a result, when the operation test of the semiconductor device 2 is completed and the clamping state between the pressing member 10 and the contact pin 8 is released, the tips of the plurality of leads 4 are aligned within a predetermined plane. Therefore, the operation test of the semiconductor device 2 is carried out.
The flatness of the board 4 can be corrected at the same time.

この結果、たとえば半導体装置2の出荷前工程などにお
ける生産性が向上する。
As a result, productivity in, for example, a pre-shipment process of the semiconductor device 2 is improved.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、基準面に沿う方向にパッケージからリードを
突出させた半導体装置のリード整形装置であって、前記
パッケージまたは該パンケージから突出する前記リード
の付け根部分を第1の方向から支持する支持台と、該支
持台に対向する方向に相対的に移動自在に配設され、前
記第1の方向とは逆の第2の方向に前記リードの外端部
を押圧して所定量の変形を与える押圧部材とからなる構
造であるため、たとえば、基準面から逸脱したリードは
塑性変形し、先端部が基準面に一致したリードは弾性変
形するように押圧部材の第2の方向への移動量を設定す
ることで、パッケージに過大な応力を生じることなく、
複数のリードを基準平面内に揃えることができ、リード
の平面度を向上させることができる。
That is, a lead shaping device for a semiconductor device in which leads are made to protrude from a package in a direction along a reference plane, comprising: a support base that supports the root portion of the lead protruding from the package or the pancage from a first direction; a pressing member disposed to be relatively movable in a direction facing the support base, and pressing the outer end of the lead in a second direction opposite to the first direction to deform the lead by a predetermined amount; For example, the amount of movement of the pressing member in the second direction is set so that a lead that deviates from the reference plane is plastically deformed, and a lead whose tip coincides with the reference plane is elastically deformed. By doing so, without creating excessive stress on the package,
A plurality of leads can be aligned within the reference plane, and the flatness of the leads can be improved.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

たとえば、半導体装置のリードの形状としては、ガル・
ウィング形のものに限らず、他のいかなる形状のもので
あってもよい。
For example, the shape of leads for semiconductor devices is gal.
It is not limited to the wing shape, but may be of any other shape.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である表面実装型の半導体
装置におけるリード整形技術に適用した場合について説
明したが、これに限定されるものではなく、一般の半導
体装置などに広く適用できる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to lead shaping technology in a surface-mounted semiconductor device, which is the background field of application, but the invention is not limited to this. It can be widely applied to general semiconductor devices.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の実施例1であるリード整形装置の要部
を示す断面図、 第2図は本発明の実施例工の動作を説明する説明図、 第3図は本発明の実施例2であるリード整形装置の要部
を示す断面図、 第4図は実施例2において半導体装置の姿勢を変化させ
た場合の説明図、 第5図は本発明の実施例3であるリード整形装置の要部
を示す断面図である。 1・・・支持台、2・・・半導体装置、3・・・パッケ
ージ、4・・・リード、4a・・・正常なリード(第2
のリード)、4b・・・不正に変形したリード (第1
のリード)、4C・ ・ ・リード先端の実装側面、5
・・・押圧部材、5a・・・当接片、6・・・支持台、
6a・・・凹部、6b・・・支持片、7・・・テスト・
ボード、8・・・コンタクト・ビン、9・・・支持台、
9a・・・凹部、10・・・押圧部材、10a・・・当
接片、P・・・基準平面、θ1 ・・・正常なリードの
先端部が基準平面となす角度、θ2 ・・・整形時にリ
ード先端部が基準平面となす角度。 代理人 弁理士 筒 井 大 和
[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] Fig. 1 is a cross-sectional view showing the main parts of a lead shaping device according to a first embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram illustrating the operation of an embodiment of the present invention, and Fig. 3 The figure is a cross-sectional view showing the main parts of a lead shaping device according to the second embodiment of the present invention, FIG. 4 is an explanatory diagram when the posture of the semiconductor device is changed in the second embodiment, and FIG. 5 is an implementation of the present invention. FIG. 7 is a sectional view showing the main parts of the lead shaping device of Example 3. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Support stand, 2... Semiconductor device, 3... Package, 4... Lead, 4a... Normal lead (second
lead), 4b...Unauthorized lead (first
), 4C... Mounting side of lead tip, 5
... Pressing member, 5a... Contact piece, 6... Support stand,
6a... Concavity, 6b... Support piece, 7... Test
board, 8... contact bin, 9... support stand,
9a... Concave portion, 10... Pressing member, 10a... Contact piece, P... Reference plane, θ1... Angle formed by the tip of a normal lead with the reference plane, θ2... Shaping The angle that the lead tip makes with the reference plane. Agent Patent Attorney Daiwa Tsutsui

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、基準面に沿う方向にパッケージからリードを突出さ
せた半導体装置のリード整形装置であって、前記パッケ
ージまたは該パッケージから突出する前記リードの付け
根部分を第1の方向から支持する支持台と、該支持台に
対向する方向に相対的に移動自在に配設され、前記第1
の方向とは逆の第2の方向に前記リードの外端部を押圧
して所定量の変形を与える押圧部材とからなることを特
徴とするリード整形装置。 2、前記リードのうち、先端部が前記基準面から逸脱し
た第1のリードは塑性変形し、先端部が前記基準面に一
致した第2のリードは弾性変形する範囲内に前記押圧部
材の第2の方向への移動量が設定されることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のリード整形装置。 3、前記半導体装置の前記リードが前記基準平面となす
角度が、前記押圧部材による前記変形を打ち消す方向に
予め小さく設定されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のリード整形装置。 4、前記支持台が、前記半導体装置の動作試験を行うテ
スト・ボードにおける複数のコクタクト・ピンの中央部
に配設され、前記押圧部材による、前記リードの前記コ
クタクト・ピンに対する電気的な接触の確保および整形
が同時に行われることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のリード整形装置。 5、前記半導体装置の前記リードが、ガル・ウィング形
に成形されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のリード整形装置。
[Scope of Claims] 1. A lead shaping device for a semiconductor device in which a lead protrudes from a package in a direction along a reference plane, wherein the package or the base portion of the lead protruding from the package is shaped from a first direction. a support stand to support the support stand; and the first
A lead shaping device comprising: a pressing member that presses the outer end of the lead in a second direction opposite to the direction shown in FIG. 2. Among the leads, the first lead whose tip part deviates from the reference plane is plastically deformed, and the second lead whose tip part coincides with the reference plane is elastically deformed within the range of the pressing member. 2. The lead shaping device according to claim 1, wherein the amount of movement in two directions is set. 3. The lead shaping device according to claim 1, wherein the angle that the lead of the semiconductor device makes with the reference plane is set in advance to be small in a direction that cancels out the deformation caused by the pressing member. . 4. The support stand is disposed at the center of a plurality of contact pins on a test board for testing the operation of the semiconductor device, and the support base prevents electrical contact between the leads and the contact pins by the pressing member. Claim 1 characterized in that securing and shaping are performed at the same time.
Lead shaping device as described in section. 5. Claim 1, wherein the lead of the semiconductor device is formed in a gull wing shape.
Lead shaping device as described in section.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992002806A1 (en) * 1990-08-09 1992-02-20 American Tech Manufacturing, Corp. Lead inspection straightening apparatus and method
US5826630A (en) * 1996-09-30 1998-10-27 Semiconductor Technologies & Instruments, Inc. J-lead conditioning method and apparatus

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