JPH01162241A - 光記録再生装置 - Google Patents

光記録再生装置

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JPH01162241A
JPH01162241A JP62322031A JP32203187A JPH01162241A JP H01162241 A JPH01162241 A JP H01162241A JP 62322031 A JP62322031 A JP 62322031A JP 32203187 A JP32203187 A JP 32203187A JP H01162241 A JPH01162241 A JP H01162241A
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JP62322031A
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English (en)
Inventor
Masahisa Shinoda
昌久 篠田
Yasuyuki Sato
泰幸 佐藤
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、情報記録時の欠陥を検出する光記録再生装
置に関し、特に経済的且つ組立性の優れた光記録再生装
置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来より、光学的手段例えばレーザビームを用いて、回
転するディスク形状の情報記録媒体に、同心円状又は4
!1!旋状に情報を記録再生する光記録再生装置はよく
知られており、既に実用化されている。この種の装置は
、磁気ディスク装置と比べて高密度記録が可能であり、
記録容量が大きいという利点があるが、その一方では、
磁気ディスクと比べて情報記録媒体の欠陥が多いため、
記録された情報の信頼性を確保するための機能が必要と
されている。
このため、情報が記録された直後に情報記録媒体を1回
転させて再生信号を検出し、情報記録欠陥の有無を判定
する方法が考えられるが、欠陥検出のために1回転分の
時間を要する欠陥がある。
これを防ぐため、近年では実時間で再生信号を検出でき
る光記録再生装置が考えられている。
第3図は、例えば「光メモリシンポジウム゛85」論文
集の第107〜112頁に記載された上述の如き従来の
光記録再生装置の構成及びその光路を示す構成図である
図において、参照符号1は2つの発光源を有する2ビ一
ム半導体レーザ素子であり、第4図に示すように、互い
に平行な記録用ビーム2(実線にて示す)及び再生用ビ
ーム3(破線にて示す)を出射するようになっている。
なお、ここでは−素子に2つの活性領域を有するアレイ
形の2ビ一ム半導体レーザ素子lを示しているが、各ビ
ーム2及び3を独立に駆動できるものであれば、通常の
1つの活性領域を有する素子を2個並列に配置した構成
としてもよい。
4は2ビ一ム半導体レーザ素子1のビーム出射側に配置
されたコリメータレンズ、5はコリメータレンズ4を通
過したビームを受光するように配置された偏光ビームス
プリンタ、6は偏光ビームスプリ7タ5を透過したビー
ムを上方に向けるための反射ミラーである。
7は反射ミラー6により反射されたビームを偏光して対
物レンズ8へ導くA波長板、9は対物レンズ8に近接し
て配置された情報記録媒体であり、V4@長板7及び対
物レンズ8は反射ミラー6と情報記録媒体9との間に配
置されている。
10は情報記録媒体9の情報記録方向に沿って形成され
た案内溝(トラック)、11及び12は案内溝10に沿
って照射される各ビーム2及び3によって形成される記
録用スポット及び再生用スポットである。
13は偏光ビームスブリック5で反射されたビームを反
射光及び透過光に分割するハーフプリズム、14は2つ
の受光面14a及び14bを有し、ハーフプリズム13
を透過したビームを受光する2分割光検知器である。
15はハーフプリズム13で反射されたビームを集束す
る凸レンズ、16は凸レンズ15からのビームのうち再
生用ビーム3のみを通過させるピンホール17を有する
ピンホールミラー、18はピンホール17を通過した再
生用ビーム3を分割するハーフプリズム、19はハーフ
プリズム18を透過した再生用ビーム3の光路上に配置
されたナイフェツジ、20は2つの受光面20a及び2
0bを有し、ナイフェツジ19を介した再生用ビーム3
を受光する2分割光検知器である。
21はピンホールミラー16で反射された記録用ビーム
2を受光して記録用ビームのモニタ信号Eを発生する光
検知器、22はハーフプリズム18で反射された再生用
ビーム3を受光して再生出力Cを発生する光検知器、2
3は光検知器22からの再生出力Cから再生信号りを得
るための再生信号検出回路である。
24は記録信号Aをパルス列として出力する記録信号発
生回路、25は記録信号Aに基づいて2ビ一ム半導体レ
ーザ1を駆動するドライバ回路である。
26は2分割光検知器14の出力信号TEを検出する差
動増@器であり、2分割光検知器14の各受光面14a
及び14bからの出力信号が入力されている。
27は2分割光検知器20の出力信号FEを検出する差
動増幅器であり、各受光面20a及び20bからの出力
信号が入力されている。
なお、2分割光検知器14及び差動増幅器26は、後述
するプッシュプル法と呼ばれる周知のトラッキングエラ
ー検出光学系を構成し、ナイフェツジ19.2分割光検
知器20及び差動増幅器27は後述するナイフェツジ法
と呼ばれる周知のフォーカシングエラー検出光学系を構
成している。
第5図は情報記録媒体9上の記録用スポ−z)11及び
再生用スポット12を詳細に示す斜視図である。
なお、ここでは、各スポフト11及び12を案内溝10
の間に照射して記録再生する場合を示したが、案内溝1
0上に照射して記録再生してもよい。
第5図において、lは記録用スポット11とこれに後行
する再生用スポラ1−12との情報記録媒体9上での間
隔、矢印は情報記録媒体9の回転移動方向、28は記録
用スポット11によって情報記録媒体9上に書き込まれ
るピットをそれぞれ示している。
次に、上述の如く第3図〜第5図に示した従来の光記録
再生装置の動作について説明する。
まず、第6図(a)に示すような記録信号Aが発生する
と、この記録信号Aに基づいて2ビ一ム半導体レーザl
が駆動される。2ビ一ム半導体レーザlから出射した記
録用ビーム2及び再生用ビーム3は、コリメータレンズ
4により平行ビームとなり、偏光ビームスブリック5、
反射ミラー6、A波長f!?及び対物レンズ8を介して
情報記録媒体9に照射され、第5図に示すような記録用
スポット11及び再生用スポット12となる。
記録用スポット11は、第6図ia)に示す如く記録信
号Aの記録情報(例えばパルス幅)を含んでおり、第6
図山)に示す如くこれに応じた形状Bのピント28を情
報記録媒体9上に順次形成する。一方、記録用スポン目
1から距離lだけ後行する再生用スポラH2は、一定の
光強度で駆動されており、書込まれたピット2Bを、距
離lに対応した時間11(数μ秒)後に再生していく。
即ち、記録用スポット11は情報記録媒体9の表面で反
射されると共に、ピット28を形成し、再生用スポラH
2はピット28が形成された後の情報記録媒体9の表面
で反射される。情報記録媒体9で反射された記録用ビー
ム2及び再生用ビーム3は、再び対物レンズ8及び2波
長板7を透過するが、A波長板7を往復することによっ
て偏光方向が90゜回転するため、偏光ビームスプリッ
タ5で反射される。
続いて、各ビーム2及び3はハーフプリズム13で反射
されるが、その一部はハーフプリズム13を透過して後
述するトラッキングエラー検出光学系に入力され、情報
記録媒体9に照射されるビームのトラッキングエラー補
正用に用いられる。
ハーフプリズム13で反射された各ビーム2及び3は、
凸レンズ15で収束された後、記録用ビーム2はピンホ
ールミラー16で反射され、再生用ビーム3はヒンホー
ル17を透過してハーフプリズム18で反射される。な
おこの際、再生用ビーム3の一部はハーフプリズム18
を透過して後述するフォーカシングエラー検出光学系に
入力され、情報記録媒体9に照射されるビームのフォー
カシングエラー補正用に用いられる。
ピンホールミラー16で反射された記録用ビーム2は、
光検知器21で受光されて記録信号Aに対応したモニタ
信号Eとして検出され、情報記録媒体9及び光路などの
障害の有無の判定に用いられる。
一方、ハーフプリズム18で反射された再生用ビーム3
は、光検知器22で受光されてピント形状Bに対応した
第6図(C)に示す如き再生出力Cとして。
検出され、更に再生信号検出回路23で波形処理されて
第6図(d)に示す如きパルス列状の再生信号りとして
検出される。こうして得られた再生信号りは、記録信号
Aと比較され、情報記録の欠陥の有無の判定に用いられ
る。
ここでは、ピット28が形成されることにより情報記録
媒体9の反射率が低下する場合を示したが、ピント28
により反射率が増大する情報記録媒体9であっても、同
様に情報記録媒体を判定することができる。
なお再生信号りは、記録信号Aに対し時間titだけ遅
れているが、時間1j!が数μ秒のオーダであるからほ
ぼ実時間で記録欠陥の有無の判定ができると考えられる
情報記録媒体9に記録された情報を再生するときには、
2ビ一ム半導体レーザ素子1から再生用ビーム3のみを
出射し、再生信号検出回路23で検出すればよい。
次に第7図を参照して、ナイフェツジ19.2分割光検
知器20及び差動増幅器27にて構成されるナイフェツ
ジ法によるフォーカシングエラー検出光学系の動作につ
いて説明する。なお、第7図にはフォーカシングエラー
検出の原理説明に必要な部分のみを示しである。
第7図(alは情報記録媒体9が対物レンズ8に対し合
焦点にある状態を示しており、ナイフェツジ19によっ
て半円断面形状となった再生用ビーム3は、2分割光検
知器20の2つの受光面20a、 20bの分割線上に
築光される。この場合、差動増幅器27の出力信号FE
は零(FB・0)となる。
第7図(blは情報記録媒体9が対物レンズ8の焦点よ
りも遠い状態を示しており、ナイフェツジ19によって
一部が遮光された再生用ビーム3は受光面20aに入射
するため、差動増幅器27から得られる出力信号FEは
正(FB>O)となる。
逆に、第7図(C1は情報記録媒体9が対物レンズ8の
焦点よりも近い状態を示しており、再生用ビーム3は受
光面20bに入射するため、差動増幅器27から得られ
る出力信号FEは負(FE < O)となる。
従って、差動増幅器27の出力信号FEの正負及びその
絶対値から焦点ずれの方向と大きさが得られる。
次に第8図を参照して、2分割光検知器14及び差動増
幅器26にて構成されるプッシュプル法によるトラッキ
ングエラー検出光学系の動作について説明する。なお、
第8図にはトラッキングエラー検出の原理説明に必要な
部分のみを示しである。
また情報記録媒体9はその径方向(X方向)を図上で上
下方向に、厚み方向(X方向)を図上で左右方向として
示しである。更に、第8図(alはトラッキングのずれ
がない場合、同(blは案内溝10が+X方向にずれた
場合、同(C1は−X方向にずれた場合を示す。
第8図fat〜fclにおいて、案内溝10の両縁によ
ってそれぞれ回折された1次回折光の分布は、曲線29
、30で示される。また第8図+d)、 tel、 f
flは、それぞれ同図fat、 (bl、 (C1にお
ける2分割光検知器26の2つの受光面14a、 14
bにおける入射光の形状を示す。なお、2つの受光面1
4a、 14bの分割線の方向(情報記録媒体9の回転
移動方向Y)を左右方向として示しである。入射光の外
径形状は、再生用ビーム3と記録用ビーム2のそれぞれ
円形形状の中心が、2つの受光面14a、 14bの分
割線上に位置し、かつ分割線に沿った方向に互いにずれ
たものとなる。1次回折光の分布29.30を図中の斜
線部で示している。
第8図fat、 (dlに示すような、トラッキングの
ずれが無い場合、情報記録媒体9に設けられた案内溝1
0の両縁による1次回折光分布29と30の割合は互い
に等しく、従って同図(dlに示す2分割光検知器14
の2つの受光面14a、 14bからの出力が等しくな
り、差動増幅器26の出力信号TEは零(TE=0)と
なる。また、第8図(b)、 telに示すように、案
内溝lOが+X方向にずれた場合、案内溝10の両縁に
よる1次回折光分布29と30が互いに等しくなり、同
図(elに示すように受光面14aに強度分布が偏よる
ため、差動増幅器26の出力信号TEは正(TE>0)
となる。
一方、同図fcl、 (f)に示すように、案内溝10
が−X方向にずれた場合、1次回折光分布29.30の
偏りが+X方向にずれた場合とは逆方向となり、差動増
幅器26の出力信号TEは負(TE < 0)となる。
従って、差動増幅器26の出力信号TEの正負及びその
絶対値から案内溝のずれの方向と大きさが得られる。
(発明が解決しようとする問題点〕 従来の光記録再生装置は以上のように、情報記録媒体9
で反射されたモニタ信号Eの検出用の記録用ビーム2及
び再生信号り検出用の再生用ビーム3をピンホールミラ
ー16を用いて分離し、それぞれの信号を個別の光検知
器で検出してナイフェツジ法によるフォーカシングエラ
ーの検出及びブ・7シユプル法によるトラッキングエラ
ーの検出を行っていたので、ピンホールミラーには厳し
い配置精度が要求され、また光学系が複雑で光学部品が
多くなり、このためそれぞれの部品自体の精度。
全体としての組立て精度が厳しく要求されるという問題
点があった。
本発明は上述のような問題点を解決するためになされた
ものであり、比較的簡素な光学系にてトラッキングエラ
ーの検出が可能な経済的且つ組立工の優れた光記録再生
装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る光記録再生装置は情報記録媒体で反射され
た記録用ビーム及び再生用ビームに対して、集光させて
分離させる際、2つの屈折面を有するウェッジプリズム
を、情報記録媒体の案内溝とウェッジプリズムの稜線が
一方は平行に他方は゛垂直に各ビームを2分するように
配置し、前者において、再生用ビームだけを分割して受
光させる3分割光検知器で受光しモニタ信号、再生信号
及びトラッキングエラー信号を検出するようにしたもの
である。
〔作用〕
この発明においては、情報記録媒体で反射した記録用ビ
ームと再生用ビームの分離が複雑な光学系を必要とする
ことなく行なえ、トラッキングエラー検出を再生用ビー
ムのみを用いて行うことができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明をその一実施例を示す図面に基づいて詳述
する。
第1図は本発明に係る光記録再生装置の一実施例の要部
の構成及びその光路を示す模式図であり、前述の従来装
置と同一または相当部分には同一の参照符号(1〜5,
7〜12及び23〜27)を付与しである。
図において、1は2つの発光源を有する2ビ一ム半導体
レーザ素子であり、第1図に示すように、互いに平行な
記録用ビーム3(実線にて示す)及び再生用ビーム3(
破線にて示す)を出射するようになっている。なお、こ
こでは、−素子に2つの活性領域を有するアレイ形の2
ビ一ム半導体レーザ素子lを示しているが各ビーム2及
び3を独立に駆動できるものであれ゛ば、通常の1つの
活性領域を有する素子を2個並列に配置した構成として
もよい。
4は2ビ一ム半導体レーザ素子lのビーム出射側に配置
されたコリメークレンズ、5はコリメータレンズ4を通
過したビームを受光するように配置された偏光ビームス
プリフタ、7は偏光ビームスプリンタ5を透過したビー
ムを偏光して対物レンズ8へ導くz波長板である。
9は対物レンズ8にきんせつ配置された情報記録媒体で
あり、A波長板7及び対物レンズ8は反射ミラー6と情
報記録媒体9との間に配置されている。10は情報記録
媒体9の情報記録方向に沿って形成された案内溝、11
及び12は案内溝10に沿って照射される各ビーム2及
び3によって形成される記録用スポット及び再生用スポ
ットである。
31は偏光ビームスプリンタ5で反射された情報記録媒
体9からの反射ビームを収束させるための凸レンズ、3
2は凸レンズ31からの収束ビームを反射光及び透過光
に分割するハーフプリズムである。
33は2つの屈折面33a、 33b及び稜線33cを
有する屋根形状のウェッジプリズムであり、稜線33c
が光学的にみて凸レンズ31からの収束ビームと平行に
ハーフプリズム32の反射光の光路中に配置され”でい
る。なお、ここではウェッジプリズム33をハーフプリ
ズム32に貼り合せたものを示したが、分離して配置し
てもよい。
34a、 34bは記録用ビーム2がウェッジプリズム
33の屈折面33a、 33bでそれぞれ屈折されて出
射した記録用ビーム、35a、 35bは、同様に生成
用ビーム3がウェッジプリズム33から出射した再生用
ビーム、36は記録用ビーム34a、 34b及び再生
用ビーム35a、 35bの4つのビームを受光し、か
つビームの集光位置に配置されている3分割光検知器で
あり、記録用ビーム34a、 34bを受光面36cで
受光し、記録用ビームのモニタ信号Eを出力し、また再
生用ビーム35a、 35bをそれぞれ受光面36aと
受光面36bで受光する。
26は3分割光検知器36の受光面36aと受光面36
b。
からの出力信号が入力されており、出力信号TEを検出
する差動増幅器、37は同様に3分割光検知器36の受
光面36aと受光面36bからの出力信号が入力されて
おり、再生出力Cを出力する加算器、23は、加算器3
7からの再生出力Cから再生信号りを得るための再生信
号検出回路である。
38は、2つの屈折面38a、 38b及び稜線38c
を有する屋根形状のウェッジプリズムであり、稜線38
cが光学的にみて凸レンズ3】からの収束ビームと直交
するようにハーフプリズム32の透過光の光路中に配置
されている。なお、ここでは、ウェッジプリズム38を
ハーフプリズム32に貼り合せたものを示したが、分離
して配置してもよい。39a、 39bは記録用ビーム
2がウェッジプリズム38の屈折面38a。
38bでそれぞれ屈折されて出射した記録用ビーム、4
0a、 40bは同様に再生ビーム3がウェッジプリズ
ム38から出射した再生用ビーム、41は記録用ビーム
39a、 39b及び再生用ビーム40a、 40bの
4つのビームを受光し、かつビームの集光位置に配置さ
れている4分割光検知器であり、記録用ビーム39a。
39bをそれぞれ受光面41a、 41cで受光し、再
生用ビーム40a、 40bをそれぞれ受光面41a、
 41bの分割線上と受光面41c、 41dの分割線
上で受光する。
27は4分割光検知器41の受光面41a、 41dと
受光面41b、 41cからの出力信号が入力されてお
り、出力信号FBを検出する差動増幅器である。
なお、ウェッジプリズム33.3分割光検知器36の受
光面36a、 36b及び差動増幅器26はプツシニブ
ル法と称される周知のトラッキングエラー検出方法を実
行するための光学系を構成し、またウェッジプリズム3
B、4分割光検知器41及び差動増幅器27は、フーコ
ー法と称される間知のフォーカシングエラー検出方法を
実行するための光学系を構成している。
次に、本発明装置の上述の如き一実施例の動作について
説明する。2ビ一ム半導体レーザ素子1からの記録用ビ
ーム2及び再生用ビーム3にて情報記録媒体9上に情報
の記録及び再生を行う動作については前述の従来技術と
同じであるので、ここでは本発明の特徴たる記録用ビー
ム2と再生用ビーム3との分離、トラッキングエラー検
出光学系及びフォーシングエラー検出光学系の動作原理
について説明する。
第1図において、3分割光検知器36は記録用ビーム3
4a、 34b及び再生用ビーム35a、 35bの集
光点に配置されているため、4つのビームの集光点は空
間的に分離された4点となるので、記録用ビーム34a
と34bとを受光面36cで受光することによって、記
録用ビーム2のモニタ信号Eが得られる。
次にトラッキングエラー検出においては、ウェッジプリ
ズム33の2つの屈折面33aと33bとに挟まれた稜
線33cが光学的にみて情報記録媒体9の案内溝10に
対して平行、換言すれば情報記録媒体9表面からの反射
光の光軸となるよう配置されているので、案内溝90両
縁で回折された1次回折光成分の一方が再生用ビーム3
5aに含まれ、他方の1次回折光成分が再生用ビーム3
5bに含まれている。従って、これらのビーム35aと
35bとをそれぞれ受光面36aと36bとで受光し、
更に各出力を差動増幅器26にて演算することにより、
従来技術で述べたプッシュプル法の検出原理にてトラッ
キングエラー挟出用の出力信号TEを得ることができる
ことは同様である。
なお、信号再生に際しては、受光面36aと36bとの
各出力を加算器37にて加算することにより、前述の第
6図に示すようなピッ1−形状Bに対応した再生出力C
が検出可能であり、更にこれを再生信号検出回路23に
て波形処理すればパルス列状の再生信号りが得られる。
従って従来技術の項で述べたように、上述のようにして
得られた再生信号りと、記録信号発生回路24で発生し
た記録信号へとを比較することにより、情報記録の欠陥
の有無の判定が行われる。
次にフォーカシングエラー検出の原理説明を第21!I
を参照して行う。なお、第2図は第1図の構成を平面的
に上から見た状態を示しており、またフォーカシングエ
ラー検出の原理説明に必要な部分のみを抜き出して示し
である。
第2図fatは情報記録媒体9が対物レンズ8の合焦点
に位置している場合を示し、ウェッジプリズム38で2
つのビームに分割された再生用ビーム40a。
40bは夫々4分割光検知器4!の受光面41a、 4
1bと受光面41c、 41dの分割線上に集光し、更
にウェッジプリズム38で2つのビームに分割された記
録用ビーム39a、 39bはそれぞれ4分割光検知1
41の受光面41aと受光面41cとに集光する。この
場合、4分割光検知器41の受光面41a、 41dと
受光面41b。
41cとから出力される信号を差動増幅器27で差を求
めることで差動増幅器27の出力信号FBは零となる。
第2図(blは情報記録媒体9が対物レンズ8の焦点よ
りも遠い場合で、再生用ビーム40a、 40bはそれ
ぞれ4分割光検知器41の受光面41aと受光面41d
に入射し、更に記録用ビーム39a、 39bはそれぞ
れ4分割光検知器41の受光面41aと受光面41cに
入射するため、差動増幅器27の出力信号FFは正とな
る。
逆に第2図(C)は情報記録媒体9が対物レンズ8の焦
点よりも近い場合で、再生用ビーム40a、 40bは
それぞれ4分割光検知器41の受光面41bと受光面4
1cに入射し、更に記録用ビーム39a、 39bはそ
れぞれ4分割光検知器41の受光面41aと受光面41
cに入射するため、差動増幅器27の出方信号FBは負
となる。
従って、記録用ビーム39a、 39bは情報記録媒体
9が対物レンズ8の焦点に対してどのような位置にある
場合でもそれぞれ4分割光検知器41の受光面41aと
受光面41cとにそれぞれ入射するので、差動増幅器2
7により相殺される。このため、結果的には再生用ビー
ム40a、 40bのみのフーコー法の検出原理でフォ
ーカシングエラー検出用の焦点ずれの方向と大きさが差
動増幅器27の出力信号FEより得られる。
以上のように、記録用ビーム2と再生用ビーム3との分
離及び再生ビーム3によるトラッキングエラー検出に複
雑で組立てに高精度を要する光学系を必要とせず且つ、
少ない光学部品点数で構成することができる。
なお、上記実施例の如く構成した場合には、トラッキン
グエラーのみならず、フォーカシングエラーの検出もト
ラッキングエラーの検出同様に複雑で組立てに高精度を
要する光学系を必要とせずに容易に行える。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、情報記録媒体で反射され
た記録用ビームとこれにより情報記録が行われた直後の
情報記録媒体から反射された再生用ビームに対して、記
録用ビームのモニタ信号再生用ビームの再生信号の分離
及びその検出、更にプッシュプル法によるトランキング
エラーの検出には、記録用ビームと再生用ビームを集光
させ、再生用ビームを情報記録媒体の案内溝と平行方向
に2分割する手段と、記録用ビームと2分割された再生
用ビームを受光する3分割光検知器とをビームの集光位
置に配置するように構成したので、複雑な光学系を必要
とせず、簡素な光学系で経済的でかつ組立性の優れた光
記録再生装置を1gられる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光記録再生装置の一実施例の構成
及びその光路を示す模式図、第2図はそのフォーカシン
グエラー検出のための光学系の動作を説明するための模
式図、第3図は従来の光記録再生装置の構成及びその光
路を示す模式図、第4図はその2ビ一ム半導体レーザ素
子を示す斜視図、第5図は同じくその各スポットの照射
位置を示す模式図、第6図は同じくその記録再生動作を
説明するためのタイムチャート、第7図は同じくそのフ
ォーカシングエラー検出のための光学系の動作を説明す
るための模式図、第8図は同じくそのトラッキングエラ
ー検出のための光学系の動作を説明するための模式図で
ある。 1・・・2ビ一ム半導体レーザ素子 2・・・記録用ビ
ーム 3・・・再生用ビーム 9・・・情報記録媒体 
lO・・・案内溝 11・・・記録用スポット12・・
・再生用スポット23・・・再生信号検出回路 24・
・・記録信号発生回路 25・・・ドライバ回路 26
.27・・・差動増幅器31・・・凸レンズ 32・・
・ハーフプリズム 33・・・ウェッジプリズム 33
a、33b・・・屈折面 33c・・・稜線34a、 
34b・・・記録用ビーム 35a、35b・・・再生
用ビーム 36・・・3分割光検知器  36a、36
b、36c・・・受光面 37・・・加算器 38・・
・ウェッジプリズム 38a 、 38b・・・屈折面
 38cm・・稜線 39a、39b・・・記録用ビー
ム40a、40b・・・再生用ビーム なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、情報記録媒体のトラックに記録されるべき信号と等
    価に変調された第1の光ビームを照射して前記トラツク
    への情報書込みを行い、第2の光ビームと平行的に照射
    され、前記第1の光ビームによる前記トラックへの情報
    書込み直後にその反射光束を検出することにより情報再
    生を行なうべくなした光記録再生装置において、 前記第2の光ビームの前記情報記録媒体からの反射光束
    を前記情報記録媒体への情報書込み方向と実質的に平行
    な方向に2等分する光束分割手段と、 前記光束分割手段による光束の分割方向に2分割された
    受光面を有し、前記第2の光ビームが前記情報記録媒体
    のトラックに合焦している場合に前記光束分割手段によ
    り分割された一方の光束が一方の受光面に、他方の光束
    が他方の受光面に合焦する距離に位置せしめられた光電
    変換手段と、 該光電変換手段の両受光面の受光量を比較する比較手段
    と、 該比較手段の比較結果により前記第1及び第2の光ビー
    ムのトラッキングエラーを検出する手段と を具備するトラックキングエラー検出手段 を備えたことを特徴とする光記録再生装置。 2、前記第1及び第2の光ビームは単一のアレイ型半導
    体レーザ素子にて発生される特許請求の範囲第1項記載
    の光記録再生装置。 3、前記光束分割手段は、二つの屈折面を有するウェッ
    ジ型プリズムである特許請求の範囲第1項記載の光記録
    再生装置。 4、前記第2の光ビームの前記情報記録媒体からの反射
    光束を2方向に分割して前記トラックキングエラー検出
    手段に与えるべくなした特許請求の範囲第1項記載の光
    記録再生装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05128575A (ja) * 1990-09-25 1993-05-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 複数ビーム式光記録のためのシステム及び方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05128575A (ja) * 1990-09-25 1993-05-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 複数ビーム式光記録のためのシステム及び方法

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