JPH01157579A - 超電導体の製造方法及び超電導回路の作製方法 - Google Patents

超電導体の製造方法及び超電導回路の作製方法

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JPH01157579A
JPH01157579A JP63120836A JP12083688A JPH01157579A JP H01157579 A JPH01157579 A JP H01157579A JP 63120836 A JP63120836 A JP 63120836A JP 12083688 A JP12083688 A JP 12083688A JP H01157579 A JPH01157579 A JP H01157579A
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oxygen
ion
oxide material
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藤田 順彦
Hideo Itozaki
糸崎 秀夫
Saburo Tanaka
三郎 田中
Naoharu Fujimori
直治 藤森
Takahiro Imai
貴浩 今井
Keizo Harada
敬三 原田
Noriyuki Yoshida
葭田 典之
Satoru Takano
悟 高野
Kenji Miyazaki
宮崎 建史
Noriki Hayashi
憲器 林
Shuji Yatsu
矢津 修示
Tetsuji Jodai
哲司 上代
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    • Y10S505/742Annealing

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は高い超電導臨界温度を有する超電導材料の製造
方法と、該方法を応用した超電導回路の形成方法に関す
る。本発明は、特にエレクトロニクス分野に有利に応用
されるがこれに限定されない。
従来の技術 電子の相転移であるといわれる超電導現象は、特定の条
件下で導体の電気抵抗が零の状態となり完全な反磁性を
示す現象である。即ち、超電導下では、超電導体に電流
を流しても電力損失が全(無く、密度の高い電流が永久
に流れ続ける。従って、エレクトロニクス分野における
エネルギーロスを大幅に減少でき、センサー等の分野へ
の利用が期待されている。
しかし、様々な努力にもかかわらず、超電導材料の超電
導臨界温度Tcは長期間に亘ってNb3Geの23Kを
越えることができなかった。ところが、ベドノーツおよ
びミューラー達によって1986年に高いT。をもつ複
合酸化物系超電導材料が発見されるにいたって、高温超
電導の可能性が大きく開けてきた(Bednorz、M
uller、”Z、Phys、B64 (1986)1
89′″)。
これまでにも、複合酸化物系セラミック材料が超電導特
性を示すということ自体は公知であり、例えば、米国特
許第3.932; 315号には、Ba −Pb −B
i系の複合酸化物が超電導特性を示すことが記載されて
いる。また、特開昭60−173.885号公報にはB
a−B1系の複合酸化物が超電導特性を示すことが記載
されている。しかし、これまでに知られていた複合酸化
物のT。は全てIOK以下であり、超電導現象を起こす
には液体ヘリウム(沸点4.2K)の使用が不可避であ
った。     。
これに対して、ベドノーツおよびミューラー達によって
発見された酸化物超電導体は、(La、 Ba)2Cu
04なる組成を有し、KJiFa型のペロブスカイト型
結晶構造を有するものと見られているが、そのT。は従
来の超電導材料に比べて飛躍的に高い約30にという値
である。更にまた、1987年2月にチュー等によって
90にクラスの臨界温度を示すBa−Y系の複合酸化物
が発見されたことが新聞報道され、非低温超電導体実現
の可能性が俄かに高まっている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、最近発見されたこれらのペロブスカイト
構造を有するものと推定されるLa−3r −Cu−0
系あるいはY−Ba−Cu−0系の酸化物セラミックス
系超電導材料は、現在のところ、主として粉末焼結法に
よって得られている。すなわち、金属パイプ中に充填し
て伸線加工を行なう方法や、有機バインダに混練して印
刷する方法等も開発されている。これらの方法はいずれ
も粉末を線状成形体としたり層状成形体としたりした後
に最終的には焼結する方法であり、そのため、焼結時の
収縮が避けられないので任意の形状や寸法のものが得ら
れないという問題があり、特にデバイス用として微細形
状のものを得ることを考えた場合には使用できなかった
。また、超電導特性に重要な酸素量の制限が困難なため
、臨界電流等の超電導特性は必ずしも十分なものが得ら
れていない。
これに対し、スパッタ法等の気相薄膜成長法によれば、
基材と同一形状、寸法のものが得られるとともに、薄膜
として形成され得るので、微細形状のものを得ることが
可能である。また、この方法によれば、基板上をマスキ
ングし、所定部分にのみ超電導薄膜を形成して超電導配
線を有する回路を作製したり、基板上に形成された超電
導薄膜にイオンをスパッタし、その薄膜を部分的に削り
取って超電導回路を作製することなどに応用することも
期待できる。
しかしながら、基板上に単に通常のスパッタ法によって
酸化物セラミックス系超電導材料からなる薄膜を形成す
る場合には、酸素ガスを含むスパッタガス中でスパッタ
を行なうとともに、スパッタ中に基板温度を上昇して薄
膜の結晶性を向上させるか、スパック後に酸素ガス雰囲
気中で熱処理して膜中の酸素含有量を高める必要があっ
た。
例えば、特開昭56−109824号公報に記載された
方法では、BaPt1+−11811+03 (ここで
、Xは0.05〜0.35を満たす数〕で示される複合
酸化物系超電導薄膜を酸素含有雰囲気中の高周波スパッ
タで成膜し、次いで、酸素含有雰囲気中で500〜55
0℃で熱処理する必要がある。なお、通常のスパッタ法
を用いた複合酸化物系超電導薄膜の製造方法に関しては
、本出願人による1988年5月2日出願の米国特許出
願第152.714号等を参照されたい。
上記のスパッタ法等の気相薄膜成長法はそれ自体有用な
方法であるが、雰囲気ガスの精密な制御が困難であり、
従って、複合酸化物薄膜の結晶構造をより精密に制御す
るのは困難である。更に、上述のような方法によって得
られた超電導薄膜に超電導回路を形成する場合には、微
細加工によって超電導配線を形成する必要があるが、加
工精度が悪く、また、工程も複雑であるため配線領域の
超電導特性が劣るという問題点があった。また、上記の
方法では、基板上の所定領域のみに超電導配線を形成す
ることは困難である。
そこで、本発明の第一の目的は、上記のような問題点を
解消して、結晶構造、特に酸素欠損をより精密に制御す
ることができる超電導体の製造方法を提供することにあ
る。
また、本発明の第二の目的は、簡易な工程で精度の良い
微細加工ができる超電導特性に優れた超電導配線を形成
するための方法を提供することにある。
課題を解決するための手段 即ち、本発明に従い、酸素イオンビーム、不活性ガスの
イオンビームおよび酸素ガスと不活性ガスとの混合ガス
のイオンビームの中から選択されたいずれかのイオンビ
ームを、複合酸化物材料に照射することにより上記複合
酸化物材料を超電導体とすることを特徴とする超電導体
の製造方法が提供される。
ここで、上記複合酸化物材料はバルク(塊)形状をとり
得る。
また、上記イオン注入のイオン源としては、RF型イオ
ン源、マイクロ波イオン源、およびPIG型イオン源等
を例示できる。
上記複合酸化物材料を、酸素イオン注入前、イオン注入
中および/またはイオン注入後に熱処理してもよい。
本発明の一態様によれば、上記複合酸化物材料が周期律
表[a族元素から選択された1種の元素αと、周期律表
I[Ia族元素から選択された1種の元素βと、周期律
表r b、nb、mb、IVa、■a族元素から選択さ
れた少なくとも1種の元素rの複合酸化物であり得る。
上記複合酸化物材料がその構成元素の酸化物または炭酸
塩の粉末の混合物を220から1260℃の温度で仮焼
結したものであり得、更に、上記複合酸化物材料がその
構成元素の酸化物の粉末の混合物を220から1260
℃の温度で仮焼結した後、700から1500℃の範囲
の温度で本焼結したものであり得る。
尚、上記超電導体は、 一般式:(α1−Xβx) CuyO。
〔但し、αおよびβは、上記定義の元素であり、Xはα
+βに対するβの原子比で、0.1≦X≦0.9であり
、 yおよびZは(αl−XβX)を1とした場合にそれぞ
れ 0.4≦y≦3.0. 1.0≦Z≦5.0となる原子比である〕で表される組
成の複合酸化物であり得、また、一般式:  D< (
E+−q、Ca、)、Cu、、○、。。
〔但し、DはBiまたはTIであり、 EはDが81のときはSrであり、DがTIのときはB
aであり、 mは6≦m≦10を満たし、 nは4≦n≦8を満たし、 p=5+m+nであり、 qはQ<q<1を満たし、 rは一2≦r≦2を満たす数を表す〕 で表される組成の複合酸化物であり得る。
更に、本発明の第2の課題を解決するために、本発明に
従い、酸素イオンビーム、不活性ガスのイオンビームお
よび酸素ガスと不活性ガスとの混合ガスのイオンビーム
の中から選択されたいずれかのイオンビームを集束して
、基板上に形成された複合酸化物材料からなる膜に照射
することにより、照射部分のみを超電導体として所定の
パターンに従う超電導配線路を形成することを特徴とす
る超電導回路パターンの形成方法が提供される。
ここで、上記複合酸化物材料は物理蒸着法により形成さ
れた複合酸化物の膜であり得、また、ドクターブレード
法で形成した焼結体の膜であり得る。
上記イオン注入のイオン源は、RF型イオン源、マイク
ロ波イオン源、およびPIG型イオン源であり得、上記
複合酸化物材料を、酸素イオン注入前、イオン注入中お
よび/またはイオン注入後に熱処理することができる。
ここで、本発明の一態様によれば、上記複合酸化物材料
は周期律表IJa族元素から選択された1種の元素αと
、周期律表]Ia族元素から選択された1種の元素βと
、周期律表I b、 IIb、 II[b、rVa、■
a族元素から選択された少なくとも1種の元素γの複合
酸化物であり得る。
また、上記複合酸化物材料は、その構成元素の酸化物ま
たは炭酸塩の混合物を220から1260℃の温度で仮
焼結したものであり得、更に、その構成元素の酸化物ま
たは炭酸塩の粉末の混合物を220から1260℃の温
度で仮焼結した後、700から1500℃の範囲の温度
で本焼結したものであり得る。
こうして得られる上記超電導体は、 一般式= (αl−Xβx) CuyO。
〔但し、αおよびβは、上記定義の元素であり、Xはα
十βに対するβの原子比で、0.1≦X≦0.9であり
、 yおよび2は(αl−XβX)を1とした場合にそれぞ
れ 0.4≦y≦3.0. 1.0≦2≦5.0となる原子比である〕で表される組
成の複合酸化物であり得、また、一般式:  B4 (
E+−q、Caq)mcL○、。。
〔但し、DはB1またはT1であり、 EはDが81のときはSrであり、DがTIのときはB
aであり、 mは6≦m≦10を満たし、 nは4≦n≦8を満たし、 p=6+m+nであり、 qはO<[+<1を満たし、 rは一2≦r≦2を満たす数を表す〕 で表される組成の複合酸化物であり得る。
作用 本発明では、イオンビームを上記複合酸化物材料の全面
に均一に照射する場合と、集中して照射する場合とがあ
る。前者の場合には、本発明の第一の観点によって提供
される全体が超電導特性を示す複合酸化物超電導体を製
造することができる。
また、後者の場合は、本発明の第二の観点によって提供
される超電導配線パターンを形成することができる。
本発明の第一の観点によって提供される超電導体の製造
方法は複合酸化物材料に酸素イオンビーム、不活性ガス
のイオンビームおよび酸素ガスと不活性ガスとの混合ガ
スのイオンビームの中から選択されたいずれか一つのイ
オンビームを照射することにより上記複合酸化物材料を
超電導体に変改させることを特徴としている。
本発明の第二の観点によって提供される超電導回路パタ
ーンの形成方法は、上記イオンビームを集束させて上記
複合酸化物材料に照射することにより照射部分のみを超
電導体よりなる超電導配線路とすることを特徴としてい
る。
ここで、上記の複合酸化物材料とは、それ自体では十分
な超電導特性を有しないが、上記のイオンビームの照射
によって超電導特性を示すようになる複合酸化物を意味
する。
この複合酸化物材料はブロック、6ツド等の塊(バルク
)形状、自己支持性のあるプレート、フィルム等のシー
ト形状あるいは、基板上に形成した薄膜形状にすること
ができる。
上記の塊(バルク)形状や自己支持性のあるプレート形
状の複合酸化物材料は、通常、焼結によって作ることが
できる。この焼結は一般にバインダーを入れずに行われ
るが、場合によってはバインダーを添加してもよい。
一方、薄膜形状の複合酸化物材料は、通常、基板上にス
パッタリング、イオンブレーティング、分子線エピタキ
シー等の物理蒸着法またはCVD等の化学的堆積方法に
よって形成することができる。
本発明で照射されるイオンビームは酸素イオンビームに
限らず、アルゴンガス等の不活性ガスのイオンビームま
たは酸素ガスと不活性ガスとの混合ガスのイオンビーム
等であってもよい。 酸素イオンビームの場合には、複
合酸化物材料中で不足する酸素を供給することによって
、上記複合酸化物材料を複合酸化物超電導体として好ま
しい酸素欠損結晶構造にすることができるものと思われ
る。すなわち、酸素イオンを照射すると、照射された複
合酸化物の、特に深さ方向に、酸素濃度勾配が生じ、最
適な酸素濃度を達成することができる。本発明者等の知
見によれば、優れた超電導特性を得ることができる酸化
物中酸素濃度の範囲は極めて狭いため、焼結のみによっ
て酸化物超電導体を作製した場合には、酸素濃度が上記
範囲を外れて、酸素が不足し、従って、高いTcは得ら
れず、超電導特性も不安定になる。
本発明の好ましい一実施例では、○または02イオンを
複合酸化物材料に向けて照射する。
一方、アルゴンガス等の不活性ガスのイオンビームを照
射することによって超電導特性が向上する理由は不明で
あるが、この場合には、その照射によって、上記複合酸
化物材料に活性エネルギーが与えられ、それによって複
合酸化物超電導体として好ましい結晶秩序への再配列が
起こるものと考えられる。
イオン源としては、RF型イオン源、マイクロ波イオン
源、およびPIG型イオン源等が使用でき、原料ガスは
02やC[]2が使用できる。
上記イオンビームを集束させて照射すると、膜の結晶性
が改善し、その照射部分のみを所定温度で超電導性を示
す超電導配線パターンとすることができる。実際には、
酸素イオンビームを細く絞り、イオンビームで回路を描
画する方法または一般にIC等の製造時に用いられるフ
ォトレジストでマスクをして回路を描く方法等で、複合
酸化物材料の必要な部分のみを変態させて超電導体とす
ることにより、例えば薄膜状の酸化物上に超電導回路を
形成することが可能となる。
本発明の一実施例では、上記酸化物材料を予め酸素が不
足した組成になるように調整しておき、この酸化物材料
に酸素イオンビーム、不活性ガスのイオンビームおよび
酸素ガスと不活性ガスとの混合ガスのイオンビーム、例
えば、適当な量の0または0□イオンを照射する。特に
、所定温度で常電導性または電気絶縁性を示す酸化物材
料の膜に部分的にイオンを照射することによって、酸素
照射を受けた部分を超電導体に変態させ、イオンを照射
を受けなかった部分を常電導体または電気絶縁性体のま
ま残すことによって、基板上に酸化物超電導材料からな
る膜を形成することによって超電導配線を有する回路を
形成することができる。
本発明の好ましい1態様に従うと、イオン照射すなわち
酸素注入を行った後または回路を形成した後に、酸素雰
囲気中で熱処理を行うのが好ましい。すなわち、酸素イ
オン照射後の酸化物を500℃以上に加熱し、この温度
を3時間以上保持した後、10℃/分以下の冷却速度、
好ましくは1℃/分以下の冷却速度で徐冷する。この熱
処理は、酸素分圧が0,1気圧以上、好ましくは1気圧
以上である酸素含有雰囲気下で行うことが好ましい。こ
の熱処理により、注入された酸素が拡散し、酸化物の均
一性が向上するとともに、酸素欠損が適正化され、特に
、ΔT(超電導開始温度と臨界温度との差)が小さくな
る。
なお、複合酸化物材料全体または薄膜への部分的な酸素
イオンビームの照射は、複合酸化物材料全体または薄膜
を全体的に加熱しながら行なってもよく、あるいはそれ
らを予め全体的に加熱した後行なってもよい。この加熱
処理によって、薄膜中への酸素含有量を増加できるとと
もに、薄膜の結晶性の改善を行うことができる。
この発明が適用可能な複合酸化物材料としては、たとえ
ば、Y−Ba−Co−0系、La−Ba−Cu−0系お
よびLa−3r−Cu −0系等の酸化物セラミックス
が挙げられる。より一般的には、周期律表1a族元素か
ら選択された1種の元素αと、周期律表■a族元素から
選択された1種の元素βと、銅(Cu)とを含有する複
合酸化物である。また、これらの構成元素の一部が八1
、Fe、 Co、 Ni、 Zn、八gSTiによって
構成される群から選択される少なくとも1種の他の元素
で置換されたものであってもよい。
上記のαとβの原子比は、上記αおよびβの種類に応じ
て適宜選択できる。すなわち、Ba−Y、Ba−シa、
、5r−La系の場合にはそれぞれ以下の比を満足する
のが好ましい。
Y/ (Y+Ba) : 0.06〜0.94、好まし
くは0.1〜0.4 Ba/ (La十Ba) : 0.04〜0.96、好
ましくは0.08〜0.45 Sr/ (La+Sr) : 0.03〜0.95、好
ましくは0.05〜0.1 酸化物の原子比が上記の範囲からはずれた場合にはいず
れも酸素イオン照射後も酸化物の結晶構造、酸素欠損等
が所望のものと異なるためTcが低(なる。
上記周期律表■a族元素αとしては、Ba、 Srが好
ましい。また上記周期律表IIIa族元素βとしては、
Y、 La、 Gd5DyStlo、Fir、 Tm、
 Yb、 Lu、 Nd。
Sm、 Eu等ランタノイド元素が好ましく、これらは
複数元素を組み合わせて用いることもできる。本発明方
法によって、上記複合酸化物材料から作られる超電導体
は、 一般式: (αl−Xβx)CuyO。
〔但し、αおよびβは、上記定義の元素であり、Xはα
+βに対するβの原子比で、 0.1 ≦X≦0.9であり、 yおよび2は(αl−XβX)を1とした場合にそれぞ
れ 0.4≦y≦3.0. 1.0≦2≦5.0 となる原子比である〕 で表される組成の複合酸化物である。具体的には、Yb
Ba2Cus0t−X%  )to、Ba2Cu307
−x−。
Lu1Ba2Cu307−x、 Sm1Ba2Cu30
7−X1Nd+Ba2Cu+07−X%  G(]+B
a2Cu3Ch−x、EtgBazCusO7−X% 
 Br+Ba2CuaOt−X%Dy1Ba2Cu30
t−x、  TJBa2Cu30t−X。
Yb1Ba2Cus 07−X   La+Ba2CU
+ 07−X%(La、Sr) 2CL104−X% 〔ただし、XはQ<x<1を満たす数〕で表わされる複
合酸化物超電導体がある。
上記酸化物はペロブスカイト型酸化物または擬似ペロブ
スカイト型酸化物であることが好ましい。
擬似ペロブスカイトとはペロブスカイトに類似した構造
をいい、例えば酸素欠損ペロブスカイト型、オルソロン
ピック型等を含むものである。
塊(バルク)形状の複合酸化物材料は、一般にその構成
元素の酸化物および/または炭酸塩の混合粉末を仮焼結
処理を介してまたは介さずに焼結することによって製造
することができる。さらには、これらの混合粉末をバイ
ンダーに混ぜたペーストを焼結して作ることもできる。
上記の仮焼結および本焼結温度は各県に応じて以下の範
囲の中から適宜選択することができる。
仮焼結温度  本焼結温度 Ba−Y系 250〜1200℃ 700〜1500℃
Ba−La系  220〜1230℃   650〜1
580℃5r−La系 234〜1260℃ 680〜
1530℃また、本発明の方法は、以下の上記以外の系
に適用することができる。すなわち、 式:  Da  (E 1−Q+ Caq)mCuyl
opar〔但し、DはBiまたはT1であり、 EはDがBiのときはSrであり、 DがT1のときはBaであり、 mは6≦m≦10を満たし、 nは4≦n≦8を満たし、 p=5+m+nであり、 qはO<q<1を満たし、 rは一2≦r≦2を満たす数を表す〕 で表される組成の例えば、 B14Sr4Ca4CU602o+r 〔ただしrは一2≦r≦+2〕 B125r2Ca2CLI30 + Oar〔ただしr
は一2≦r≦+2〕 T14Ba4Ca4CL1602o+r〔ただしrは一
2≦r≦+2〕 ’   T12Ba2Ca2Cu30 l0ar〔ただ
しrは一2≦r≦+2〕 等で示される複合酸化物を主とした混合相または上記い
ずれかの式で表される単相と考えられる超電導体の作製
に用いることができる。
次に、本発明の方法を実施するために用いられる装置お
よびその操作方法について説明する。
第1図に示す装置は、チャンバ1と、チャンバ1に取り
つけられた高周波コイル3、高周波電源4およびイオン
引き出し電極9および/または電界レンズ8からなるイ
オン源とを含み、チャンバ1内には上記イオン源に対向
して原料酸化物2が配置されている。チャンバ1は排気
孔7を介して真空ポンプ(図示せず)に接続され、内部
を真空にすることができる。また、チャンバ1には、イ
オン源に02ガス等のガスを取り込む導入孔6が取りつ
けられている。
上記装置を用いて本発明の方法を実現する手順を以下に
説明する。
まず、複合酸化物材料2を収容したチャンバ1およびイ
オン源内部を排気して真空にする。次いで、イオン源に
02ガスを導入する。その後、イオン源の高周波コイル
に高周波電力を印加し、イオン引き出し電極にイオン加
速電圧をかける。この操作により、酸素イオンがイオン
源から酸化物に照射される。
この場合、イオンビームを集光せずに複合酸化物材料全
体に照射すると、複合酸化物材料全体を均一に超電導体
にすることができる。
一方、イオンビームを集光し、所定パターンで偏向すれ
ば、超電導回路パターンを描画することができる。第3
図、第4図、第5図は薄膜が形成された基板に、本発明
の方法によって超電導回路パターンを描画する場合の各
工程を順を追って説明するための部分斜視図である。
この場合には、第3図に示すように、スパッタ法等で基
板10上に上記のような酸化物超電導材料からなる薄膜
20が形成されている。この薄膜20は成膜状態のまま
では酸素の含有量が少なく、所定温度下では絶縁性ある
いは常電導性を示し、高い電気抵抗を有するものである
。これは膜中の酸素含有量が超電導性を出現するのに必
要な酸素組成量に対して不足して、例えば、所望のペロ
ブスカイト構造となっていないためである。
そこで、本発明ではこの成膜状態のままでの特性を利用
し、第4図に示すように、薄膜20上で配線として使用
する所定の部分に10〜50KeV程度の加速電圧を有
する酸素のイオンビーム30を集束照射し、矢印の方向
にイオンビーム照射領域30aを移動させる。このとき
、酸素のイオンビーム30の注入によってイオンビーム
照射領域30aは熱非平衡的に局所的に熱処理され、薄
膜の結晶性を部分的に改善することが可能となり、超電
導性を出現させるのに必要な酸素組成量を膜中に持たせ
ることが可能となる。
このようにして、第5図に示すように基板10上にイオ
ンビーム径に相当する微細な加工で所望の配線パターン
を描くことができ、イオンビーム照射領域30aが所定
温度下で超電導性を示す超電導配線部20aとなり、イ
オンビーム照射領域30a以外の部分が所定温度下で常
電導性を示す高い電気抵抗を持つ高抵抗部20bとなる
超電導回路が形成される。
以下に本発明を実施例により説明するが、本発明の技術
的範囲はこれらの実施例に何等制限されるものではない
ことは勿論である。
実施例1 第1図に示したRF型イオン照射装置を用いて超電導薄
体を作製した。
先ず、原料の複合酸化物として、¥203、BaCO3
をY:Baの比が1:2となるように混合し、次いで、
CuOをY:Ba:Cuの比カ月:2:3となるように
混合する。得られた混合粉末を940℃で焼結してYB
a2Cu30を焼結体ブロックを得る。このブロックの
大きさは20X30X3 mmであった。
続いて、チャンバ1内に、上記ブロック2を装着した後
、チャンバ1内を10 ’Torrまで排気し、同時に
イオン源内も同様に真空に排気した後、1.OX 10
−’Torrの02を導入する。次に、高周波コイルに
50Wの高周波電力を流すと同時にイオン引き出し電極
に200k Vの加速電圧を印加した。
こうして得られた超電導体のTcおよびTciを第1表
に示す。
実施例2 原料の複合酸化物として、B1□03、CaO,5rC
D3およびCuOの各粉末をBi :Ca :Sr :
Cuの比が2:2:2:3となるように混合し、880
℃で焼結してBi、Sr、Ca4Cue 020なる組
成を有する複合酸化物焼結体ブロックを得た。以下、実
施例1と同じ操作により薄膜を作製し、超電導特性を評
価した。
測定結果は、第1表に併せて示す。
実施例3 実施例1によって得られた複合酸化物系超電導体をさら
に、1気圧の02雰囲気で850℃に加熱し、8時間保
持した後、7℃/分の冷却速度で室温まで冷却した。
以上の実施例1〜3における作製条件および得られた超
電導体の特性は第1表にまとめて示しである。
第1表 第1表に示すように、本発明の方法により酸化物の結晶
構造、酸素濃度を適正に制御することによって優れた特
性を持つ超電導酸化物が得られることがわかった。
実施例4〜6 実施例1〜3と同じ焼結体ブロックをそれぞれ用いてR
Fスパッタリング装置により超電導薄膜を作製した。
但し、本実施例4〜6では、電界レンズ8を操作して1
辺5胴の正方形の領域内に第2図に示すようなパターン
を描画するようにビームを走査した。作製条件を第2(
1)表に示す。
第2(1)表 実施例6の熱処理温度二850℃ 保持時間:8時間 冷却速度 7℃/分 得られた各々の超電導回路の抵抗を測定するために、上
記方法で作製した回路の両端部分A、 Bに、さらに真
空蒸着で一対の電極を形成し、このAI電極にリード線
を付けた。また、回路以外の部分の抵抗測定を行うため
、第2図のCSDの部分にも同様に電極を形成し、この
電極にもリード線を付けた。得られたTcおよびTci
 (電気抵抗が完全に0になる温度)、C−D間の抵抗
率の各計測値を第2(2)表に示す。
第2(2)表 この結果、本発明の方法により導電性のない原料酸化物
の表面の一部の結晶構造、酸素濃度を適正に制御し、超
電導体に変態させることで優れた特性を持つ超電導回路
が作製できることがわかった。
実施例7 第3図に示すように、SrTiO3単結晶の(100)
面を基板10とし、この上に酸化物超電導材料としてY
、Ba2Cu3011の酸化物からなる薄膜20を形成
した。
薄膜形成法はRFマグネトロンスパッタ法を用いた。こ
の実施例ではスパッタ用ガスとして酸素50%含有のア
ルゴンガスを使用し、基板温度を200℃とした。得ら
れた薄膜はY、Ba2Cu30x6.9の組成であり各
金属元素および酸素ともに組成としては臨界温度T。が
約90Kを示し得るものであった。
しかし、この実施例では成膜時の基板温度が低かったの
で高臨界温度を得ることができず、液体窒素の沸点温度
77Kにおいて比抵抗720Ωcmを示した。そこで、
この薄膜の結晶構造をX線回折によって解析したところ
、薄膜がアモルファス状の膜であることが判明した。
次に、第4図に示すように、この薄膜20にアルゴンガ
スのイオンビーム30を加速電圧7KV、ビ−ム電流と
して20mA/C%の電流密度で、1mm/SeCの速
度で薄膜20上を照射走査した。イオンビームの照射ス
ポット径は0.’3mmとした。
このように処理された薄膜の抵抗温度依存特性を第7図
に示すようにE−F間、E−0間において測定した。た
だし、E−F間の距離は10mmであり、F−0間の距
離は0.2mmであった。また、イオンビーム照射領域
30aの幅は0.3mmであった。
その測定結果は、温度77Kにおいて、E−F間では電
気抵抗値が0Ω、E−0間では3.8MΩを示した。こ
うして、アルゴンガスのイオンビーム照射領域30aの
みが77Kにおいて超電導性を示すことが確認された。
即ち、上述の操作によって、幅0.3mmの超電導配線
がE−F間に形成された。
実施例8 実施例7と同じ基板および同じ複合酸化物材料を用いる
ことによって、RFマグネトロンスパッタ法を用いてY
 +Ba2C113oXの酸化物からなる薄膜20を形
成した。
基板温度を900℃とし、スパッタ用ガスに酸素50%
含有のアルゴンガスを使用した場合には、薄膜形成した
ままの状態においても、上記薄膜は臨界温度T。が82
にという超電導性を示した。
しかし、本実施例では、酸素含有量10%のアルゴンガ
スをスパッタ用ガスとして使用し、薄膜形成を行なった
。得られた薄膜は成膜状態のままでは臨界温度T。が2
4にと低い値を示し、液体窒素の沸点温度77Kにおい
ては540Ωcmという比抵抗を示した。この結果から
、臨界温度が低い原因は酸素含有量の不足によるものと
判断することができた。
この薄膜に第4図に示すように加速電圧5kV。
ビーム電流密度30mA/cutの酸素のイオンビーム
30を照射し、照射スポットの移動速度が1m+n/s
ecとなるように薄膜20上を走査した。尚、イオンビ
ームの照射スポット径は0.3m+++とじた。
こうして処理した薄膜の抵抗温度依存特性を、第7図上
に示すようにE−F間およびE−0間においてそれぞれ
測定した。ただし、E−F間の距離は10mmであり、
E−0間の距離は0.2mmである。
また、イオンビーム照射領域30aの幅は0.3mmで
あった。この測定の結果、液体窒素の沸点温度77Kに
おいてE−0間の電気抵抗値はOΩであり、E−0間は
5.9MΩであった。
以上のことから、イオンビーム照射領域30aのみが所
定温度77Kにおいて超電導性を示すことが確認され、
幅0.3n+mの超電導配線がE−F間において形成さ
れたことが判明した。
実施例9 実施例8と同様の方法で基板温度を200℃とし、Y1
Ba2Cu30xの複合酸化物材料からなる薄膜を形成
した。得られた薄膜の結晶構造をX線回折によって解析
したところ明瞭なピークは見られず、結晶性が不良と判
断された。また、成膜状態のままではこの薄膜の臨界温
度T。は4.2に以下であり、液体窒素の沸点温度77
Kにおいては比抵抗920Ωcmを示した。
続いて、この薄膜を真空中で温度700℃まで全体向に
加熱しながら、実施例8と同様に酸素イオンビームを照
射した。
このように処理された薄膜の抵抗温度依存特性を、第7
図に示すように実施例8と同様の条件で測定した。この
結果、77Kにおいて、E−F間の電気抵抗値は0Ω、
E−0間では9.8MΩであることが判った。
以上のことから、イオンビーム照射領域30aのみが所
定温度77Kにおいて超電導性を示すことが確δ忍され
た。
実施例10 実施例9と同一条件で作製した薄膜を、真空中で温度7
00℃に全体的に加熱し、1時間保持した後急冷した。
その後、実施例1oと同様の条件で酸素イオンビームの
照射を行なった。
このように処理された薄膜について、第7図に示すよう
に実施例9と同様の条件で抵抗測定を行なったところ、
温度77KにおいてE−F間の電気抵抗値はOΩ、E−
0間は8.2MΩであった。
以上のことから、イオンビーム照射領域30aのみが所
定温度77Kにおいて超電導性を示すことが確言忍され
た。
発明の効果 以上詳述のように、本発明の方法によって得られた超電
導体は、冷却媒体として液体窒素の使用も可能な高いT
c並びにTciを示すと共に、安定な超電導特性を持っ
ている。
これは、本発明の特徴的な製造方法に従って、超電導を
担っていると考えられるペロブスカイト型または擬似ペ
ロブスカイト型の結晶構造を持つ複合酸化物超電導体が
生成する条件を構成することによって、得られたもので
ある。
また、本発明によれば、酸素イオンビーム、不活性イオ
ンビーム等のイオンビームを照射することによって局部
的に熱処理を行なって、上記条件を局所的に実現するこ
とによって、簡易な工程で冷却媒体として液体窒素の使
用も可能な高いTc並びにTciを示す超電導配線パタ
ーンを精度良く微細に描くことができるので、超電導を
利用したデバイス等のエレクトロニクス分野に幅広く利
用することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を実施するのに用いるRF型イオ
ン照射装置の一例の概略図である。 第2図は、本発明の他の実施例によって作製された回路
を表す概略図である。 第3図、第4図および第5図はこの発明を、基板上に形
成した複合酸化物材料に超電導配線パターンを形成する
のに応用した場合の、各工程を説明するだめの部分的斜
視図である。 第6図右よび第7図は本発明の一実施例によって形成さ
れた超電導配線パターンとその性能評価試験方法を説明
するための斜視図とその平面図である。 〔主な参照番号〕 1・・・チャンバ、 2・・・原料酸化物、 3・・・高周波コイノペ 4・・・高周波電源、 6・・・導入孔、 7・・・排気孔、 8・・・電界レンズ、 9・・・イオン引き出し電極、 10・・・基板、 20・・・薄膜、 20a・・超電導配線部、 20b・・高抵抗部、 30・・・酸素のイオンビーム、 30a・・イオンビーム照射領域 特許出願人  住友電気工業株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)酸素イオンビーム、不活性ガスのイオンビームお
    よび酸素ガスと不活性ガスとの混合ガスのイオンビーム
    の中から選択されたいずれかのイオンビームを、複合酸
    化物材料に照射することにより上記複合酸化物材料を超
    電導体とすることを特徴とする超電導体の製造方法。
  2. (2)酸素イオンビーム、不活性ガスのイオンビームお
    よび酸素ガスと不活性ガスとの混合ガスのイオンビーム
    の中から選択されたいずれかのイオンビームを集束して
    、基板上に形成された複合酸化物材料からなる膜に照射
    することにより、照射部分のみを超電導体として所定の
    パターンに従う超電導配線路を形成することを特徴とす
    る超電導回路の作成方法。
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