JPH01145510A - 光ファイバーの切断面の面精度検査方法 - Google Patents

光ファイバーの切断面の面精度検査方法

Info

Publication number
JPH01145510A
JPH01145510A JP30395687A JP30395687A JPH01145510A JP H01145510 A JPH01145510 A JP H01145510A JP 30395687 A JP30395687 A JP 30395687A JP 30395687 A JP30395687 A JP 30395687A JP H01145510 A JPH01145510 A JP H01145510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cut surface
cut
cut face
optical fiber
inclination angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30395687A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Kumai
浩昭 熊井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP30395687A priority Critical patent/JPH01145510A/ja
Publication of JPH01145510A publication Critical patent/JPH01145510A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/25Preparing the ends of light guides for coupling, e.g. cutting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、光ファイバーの切断面の面精度(切断面の
光軸に対する傾斜角と平面精度)を光学式に非接触で検
査する方法に関するものである。
[従来の技術] 光通信などに多用されている光ファイバーは、一定の規
格の長さ単位で製造されるので、使用される場所の距離
に応−じて接続または切断され、また必要により相互の
接続ないしは、端末機器に接続される。これらの接続に
おいては有害な光伝送損失を惹起しないことが必要であ
る。このためにはその切断面が中心軸に対して垂直であ
ることと、その平面性(ここでは庚宜上、これらを−括
して面精度という)がともに重要であるが、光ファイバ
ーはなにふんにも直径が極めて微細であるので、それら
を直接目視で検査することはできない。これに対して従
来は、光学装置で切断面を拡大して目視する方法、また
はfi械的な触針法が使用されているが、前者は必ずし
も面精度が明確に見られず、後者は切断面を損傷する恐
れがあるなどの不満な点がある。そこでこれらに代って
非接触で面精度を検査する方法が必要とされている。
[発明の目的] この発明は、以上に述べたところに濫みてなされたもの
で、アライメント手段により切断面の傾斜角と検出する
とともに、これ分光軸に垂直にアライメントし、レーザ
ビーム、参照ミラーなどにより構成された干渉計により
、アライメントされた切断面の反射ビームと参照ビーム
の合成により生ずる干渉縞により切断面の歪曲と、上記
により検出された傾斜角とをそれぞれ検査する方法を提
供することを目的とするものである。
[間厘点を解決するための手段] この発明は、光ファイバーの切断面の面積度の検査方法
である。まず光軸に対する切断面の傾斜角に対しては、
切断面に対して、斜め方向より互いに直角の2方向より
アライメント光を投射し、このアライメント光に対応し
て2箇所に位置検出センサーを設け、切断面による正反
射光を受光して切断面の傾斜角を検出して検査される。
次に、平面精度については平行なし−ザビームをハーフ
ミラ−により測定ビームと参照ビームに分割し、上記の
検出された傾斜角のデータに応じて駆動される傾斜角変
位手段により切断面を測定ビームの光軸に垂直にアライ
メントする。アライメントされた切断面に対して、測定
ビームを集光レンズで集束して投射し、測定ビームの切
断面による反射ビームと、上記の参照ビームに対して設
けられた参照ミラーよりの反射ビームとを上記のハーフ
ミラ−で合成して合成ビームとし、該合成ビームに生じ
た切断面の干渉縞の異常な形状より平面精度が検査され
る。
上記の干渉縞による平面精度の検査においては上記の合
成ビームをイメージセンナ声により受像して切断面の干
渉縞を観察し、または画像処理して、干渉縞の曲線を一
定の許容値に照らしてその良否を検査するものである。
[牛用] 以上の構成によるこの発明の光ファイバーの切断面の面
精度検査方法においては、被検査光ファイバーの切断面
の傾斜角は、位置検出センサーに検出されるアライメン
ト光の正反射光の位置より求められ、これが検査される
。また、またこの位置の情報を用いて、傾斜角変位手段
により切断面は光ファイバーの光軸に垂直な方向にアラ
イメントされる。この切断面に対して、レーザビームを
用いた干渉計の測定ビームを投射して、その反射光と、
参照ミラーにより反射された参照ビームとが合成され、
切断面により合成ビームに生ずる干渉縞を観察し、また
はこれが画像処理されて切断面の平面精度が検査される
ものである。
上記の干渉計は、レーザ光源、ハーフミラ−1補償ミラ
ーよりなる通常のトワイマン型のものに、被検査切断面
の直径が微細であるので、測定ビームを集光レンズによ
り集束して適当な直径として切断面に投射するにの集光
レンズにより、切断面の反射ビームは再びもとの大きさ
に拡大されて参照ビームと合成されるもので、干渉縞を
明瞭に観察できることが長所である。
次に、干渉縞による面精度の検査方法は、イ、メージセ
ンサー(例えばCCDを使用したカメラなど)により切
断面を受像して目視観察するか、またはそのデータを画
像処理して、干渉縞の形状の異常を検出して行うもので
ある。
[実施例] 第1図は、この発明による光ファイバーの切断面の面積
度検査方法の実施例における構成図で、レーザ光源2と
、これよりのレーザビームを適当な直径の平行ビームに
変換するビームエキスパンダ3と、平行ビームを測定ビ
ームと参照ビームに分割するハーフミラ−4および参照
ビームに対する参照ミラー5とにより干渉計1を構成す
る。測定ビームは集光レンズ6により集束されて被検査
光ファイバー7の切断面7aに投射される。
以上においては、切断面7aが測定ビームに正確に垂直
であることが必要で、このためにアライメントが行われ
る。
第2図(a)、(b)はアライメント手段を説明するも
ので、図示XZ平面内およびYZ平面内におtlて、ア
ライメント光源δl、82より、切断面に対してそれぞ
れアライメント光を入射角θで投射し、その正反射光を
、それぞれ集光レンズ9aにより集束して対応するポジ
ションセン−91,92で受光する。ここで集光レンズ
9aは位置検出精度を良好とするために設けたものであ
る。ポジションセンサーの出力信号により信号処理・制
御回路10において正反射光の反射角θ′かえられ、さ
らに光ファイバーまたは測定ビームの光軸Zに対する切
断面の傾斜角φが計算される。この傾斜角のデータは適
当に出力されて検査されるとともに、これより必要な制
御信号が傾斜角変位機構11に与えられて、反射角θ′
が入射角θと等しくなるよう光ファイバーの光軸を矢印
Cの方向に回転して切断面が光軸に垂直に修正され、す
なわちアライメントされる。基準位置に対するこの修正
量が求める傾斜角のデータである。
再び第1図において、上記のアライメントされて切断面
7aに投射された測定ビームはここで反射し、集光レン
ズ6によりちとと同一の直径のビームに拡大されてハー
フミラ−4で下方に反射される。一方、参照ミラー5に
より反射された参照ビームはハーフミラ−を透過して直
進し、これらの合成ビームはCODイメージセンサ−(
電荷結合素子画像センサー)のカメラ12に受像される
以上において、もし集光レンズ6を使用せず、測 、定
ビームを直接切断面に投射するときは、上記の拡大がな
されないので、カメラlOにおける切断面の映像が小さ
くて干渉縞が見分けられない。この点で、集光レンズ6
で干渉縞を拡大する方法は効果的である。ゝ 第3図(a )、 (b)、 (c )は、第1図にお
いてCODカメラ12に受像された干渉縞の映像の1例
を示すもので、被検査光ファイバーの切断面の平面性が
良好のときは、図(a)のように干渉縞は素直な平行線
イを示す、平行間隔aは、レーザビームの波長λなどに
より決まる一定のものである。これに対して、切断面に
歪曲があるときは、歪曲が強い箇所と中心として、図(
b)に示すような曲線口が現れる。この例では、曲線は
山形をなしており、図(−:)における曲線の高さd、
が大きいほど歪曲が強いもので、その良否は間隔aに対
する割合、d/aにより判定される。この判定は、第1
図のディスプレイ13により一定の許容値に照らして目
視により行うことができるが、または、第1図の画像処
理部14においてソフト的にも可能である。このような
処理技術は既に公知のものであるので説明を省略する。
[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明による光フ
ァイバーの切断面の面積度検査方法によれば、ポジショ
ンセンサーにえられるアライメント光の正反射光の位置
情報より、切断面の傾斜角がえられて検査される。また
、切断面の歪曲による干渉縞の形状をCCDカメラで捉
え、ディスプレイして目視観察するか、または画像処理
部により処理して(C)縞曲線の高さにより光ファイバ
ーの切断面の歪曲を非接触で検査するもので、従来の単
なる拡大像を目視する方法、または触針法に比鮫して精
密で迅速に光軸に対する切断面の垂直性と切断面の平面
性がともに検査ができる効果には大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明による光ファイバーの切断面の面精
度の検査方法の実施例の構成図、第2図(a)、(b)
は第1図における、アライメント手段の構成と動作なら
びに傾斜角の検査方法の説明図、第3図(aT、(b)
および(C)は、第1図においてCCDカメラに受像さ
れた干渉縞の映像と、干渉縞の形状の異常より切断面の
歪曲を検査する方法の説明図である。 1・・・干渉計、      2・・−レーザ光源、3
・・・ビームエキスパンダ、4・・・ハーフミラ−15
・・・参照ミラー 、    6・・・集光レンズ、7
・・−被検査光ファイバー、 7a・・・光ファイバーの切断面、 8.81.82・・・アライメント光源、9.91.9
2・−・ポジションセンサー、9a・・−集束レンズ、 lO・・−信号処理・制御回路、11・・・傾斜角変位
R横、12・・・CCDカメラ、   13・・・ディ
スプレイ、!4・・−画像処理部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査光ファイバーの切断面に対して、斜め方向
    より互いに直角の2方向にアライメント光を投射し、該
    アライメント光に対応して2箇所に設けた位置検出セン
    サーにより、該切断面による該アライメント光の反射光
    を受光して該切断面の傾斜角を検出し、平行なレーザビ
    ームをハーフミラーにより測定ビームと参照ビームに分
    割し、上記検出された傾斜角のデータに応じて駆動され
    る傾斜角変位手段により上記切断面を上記測定ビームの
    光軸に垂直にアライメントし、該アライメントされた切
    断面に上記測定ビームを集光レンズで集束して投射し、
    該切断面による該測定ビームの反射ビームと、上記参照
    ビームに対して設けられた補償ミラーよりの反射ビーム
    とを上記ハーフミラーにおいて合成して合成ビームとし
    、該合成ビームに生じた上記切断面の干渉縞の異常な形
    状と、上記切断面の傾斜角データにより、該切断面の面
    精度を検査することを特徴とする、光ファイバーの切断
    面の面精度検査方法。
  2. (2)上記合成ビームをイメージセンサーにより受光し
    てえられる信号をディスプレイして上記切断面の干渉縞
    を観察し、または画像処理して干渉縞の上記異常な形状
    を検査する、特許請求の範囲第1項記載の光ファイバー
    の切断面の面精度検査方法。
JP30395687A 1987-12-01 1987-12-01 光ファイバーの切断面の面精度検査方法 Pending JPH01145510A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30395687A JPH01145510A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 光ファイバーの切断面の面精度検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30395687A JPH01145510A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 光ファイバーの切断面の面精度検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01145510A true JPH01145510A (ja) 1989-06-07

Family

ID=17927301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30395687A Pending JPH01145510A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 光ファイバーの切断面の面精度検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01145510A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114112942A (zh) * 2021-12-17 2022-03-01 中国电子科技集团公司第十三研究所 光纤切角方向对准设备及对准方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114112942A (zh) * 2021-12-17 2022-03-01 中国电子科技集团公司第十三研究所 光纤切角方向对准设备及对准方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100513111B1 (ko) 용접이음선의광학검사를위한방법및장치
US6075591A (en) Optical method and apparatus for detecting low frequency defects
EP1840502B1 (en) Optical interferometer for measuring changes in thickness
KR920009800B1 (ko) 곡률반경 측정장치 및 방법
US7986402B2 (en) Three dimensional profile inspecting apparatus
KR20140085325A (ko) 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
JPH05306915A (ja) 形状測定方法およびその装置
JP2001004491A (ja) 光ビームの検査装置
JP2000241128A (ja) 面間隔測定方法および装置
JPH01145510A (ja) 光ファイバーの切断面の面精度検査方法
JP2007333525A (ja) 距離測定装置
JP2949179B2 (ja) 非接触式形状測定装置及び形状測定法
JP2911283B2 (ja) 非接触段差測定方法及びその装置
JPS62502421A (ja) 二次元の対象物を整向、検査及び/または測定するための装置
KR101458890B1 (ko) 3차원 형상 측정장치
USRE43925E1 (en) Three dimensional profile inspecting apparatus
JPS61140802A (ja) 裏面反射光を防止した光波干渉装置
JP2597711B2 (ja) 3次元位置測定装置
JPH10122833A (ja) 表面測定装置
JP2002005853A (ja) レンズ検査装置
JP2007017287A (ja) クロスダイクロイックプリズムの検査装置、製造装置、検査方法、製造方法
JP2005345288A (ja) マッハツェンダー干渉計及びマッハツェンダー干渉計による光学素子の検査方法
JPS62273403A (ja) Dipタイプの半導体デバイス等におけるピン検査方法
JP2683745B2 (ja) 光ファイバ端面状態の検出方法及び検出装置
JP2004340735A (ja) 波面収差測定装置