JPH01144000A - 放射性ガスの貯蔵法 - Google Patents

放射性ガスの貯蔵法

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JPH01144000A
JPH01144000A JP30251887A JP30251887A JPH01144000A JP H01144000 A JPH01144000 A JP H01144000A JP 30251887 A JP30251887 A JP 30251887A JP 30251887 A JP30251887 A JP 30251887A JP H01144000 A JPH01144000 A JP H01144000A
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Yosoko Takano
高野 よそ子
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、放射性ガスをイオン化してそのイオンを金属
組織中に注入し、封じ込めて貯蔵する放射性ガスの貯蔵
法に関する。
(従来の技術) 一般に、たとえば核燃料再処理工場等の原子力施設にお
いては、有害な最の放射能が環境に放出された場合、そ
の影響が広範囲かつ長期間にわたる可能性があるために
、安全性の確保を他の一般産業に比べて格段に厳しくす
ることが義務づけられている。よって、放射性廃棄物の
処理は現在重要な技術分野となっている。
放射性廃棄物のうち、問題となる可能性のある気体廃棄
物はクリプトン(K r−85と略称する)であるが、
K r−85は半減期が10.7年と長寿命であるため
長期間貯蔵する必要がある。
このためK r−85のような放射性ガスを確実に貯蔵
する方法として、現在高圧ボンベ貯蔵法、ゼオライト吸
着法J3よびイオン注入法による固定化法がある。
このうち、高圧ボンベの貯蔵法は放射性廃棄ガスをボン
ベ等の耐圧性圧力8各に封入して永久保存する方法であ
るが、定期的に圧力容器の耐圧試験を行うことが法令で
義務づけられている。そのため、その都度、貯蔵ガスを
移し換えなければならない等の煩雑な作業が要求され、
長期間の安全貯蔵の確保のうえから問題点がある。
また、ゼオライトにK r−85ガスを吸着処理させる
吸着法も、高温、高圧下での操作が必要であり、実用化
するには数多くの改善すべき問題点がある。
一方、イオン注入法は、常温、低圧で処分操作ができる
だけでなく、経済性や安定性ぐも他の方法に比べて優れ
た方法とされ、注目されている。
第4図から第6図を参照しながらイオン注入法を用いて
放射性廃棄ガスを固定処理するための従来のガスの貯蔵
処理装置とその方法を説明する。
この放射性ガスの貯蔵処理装置では、円筒状の外側陰極
1、陽極蓋2および陽極底3により密閉構造となって8
各が構成されている。なお、外側陰極1は、絶縁リング
4a、4bにより陽極M2および陽極底3と絶縁されて
いる。
一方、外側陰極1内にはイオン化室5となり、外側陰極
1の中心部には円筒状内側陰極6が配置され、バーチメ
ックシール等の絶縁体7によって、陽極f:12と絶縁
されている。
陽極M2には、放射性廃棄ガスを導入するための吸気管
8並びに外側陰極1内を排気するための排気管9が接続
されており、真空ポンプ等(図示せず)により、イオン
化室5内G;1一定の低圧力に保たれている。
なお、第4図中、符号10は高圧電源装置で、第5図お
よび第6図中の符号11は外側陰極1の内周面に形成さ
れる放射性廃棄ガスのイオン層と内側陰極6がスパッタ
リングしたコーティング層からなるガス注入累81層で
ある。また符号12はガスのイオンを、符号13はスパ
ッタ金属をそれぞれ示している。
次に放射性廃棄ガスを固定化処理する作用について説明
する。
前述のような放射性廃棄ガスの貯蔵処理装置では、密閉
された外側陰極1内のガス圧力と外側陰極1と内側陰極
6とに印加される電圧が適当な条件を満たす時には、イ
オン化室5において放電が発生することが知られており
、この放電により、ガスは電離し、イオン状態となって
放電プラズマが形成される。
たとえばガス圧力を10−1〜10’TOrrに設定、
維持した状態で、陽極蓋2と陽極底3を接地し、電源装
置10により、外側陰極1に 1kV以下の負電圧、内
側陰極6に 1kV以上の負の高電圧を各々連続的に印
加する。なお、電源装置10は外側陰極1、内側陰極2
用の電源が組込まれている。これにより、イオン化室5
において、ガスのグロー放電が発生し、放射性廃棄ガス
の電離が行われガスイオン12が生成される。
この生成されたガスイオン12は、第5図に示ずように
相対的に強い内側fA極6の電界に沿って加速され、こ
の内側陰極6の表面に衝突して、スパッタリングを起し
、その結果、叩き出されたスパッタリング金J+113
が対向する外側陰極1の内周面へ積層してガス注入累積
It!111を形成する。
また、これと同時に、一部のガスイオン12は第6図に
示すように外側陰極1の電界の方に直接、加速されて、
前述のガス注入累積層11に打ち込まれ、注入されてい
く。以後ガス注入累積層11の累積を行いながら、その
中に放射性廃棄ガスを連続的に注入し固定化処理する。
なお、上述したようなイオン注入法は放射性ガスを貯蔵
する方法として使用されるものであり、放射性ガスの外
界への流出を防止するため外側陰極1、陽極M2、陽極
底3を完全に密閉し、またイオン化室5内を外圧より低
い圧力に保つものである。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記方法において放射性ガスが注入され
る累W4層の電極との付着性が良好でなく、運転中に剥
れ落ちガスの再放出が生じたり、剥れ落ちた層膜が電極
に接触したりするなどのため放電が停止する問題点があ
った。
本発明は上記問題点を解消するためになされたもので、
注入累積層と電極表面との密着性を強固なものとし、運
転効率を高めるとともに貯蔵時における安全性を高めた
信頼性の高い放射性ガスの貯蔵法を提供するものである
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、外側陰極の内面において、内側陰極のスパッ
タリング効果によって、ガスを注入した累積層を形成す
る運転の前処理操作として外側陰極の内面を放電して洗
浄化することを特徴とする。放電洗浄はたとえばイオン
注入の定常運転時に印加する外側陰極の電圧を内側陰極
に、内側陰極の電圧を外側陰極に印加し、外側陰極をス
パッタすることにより行なう。これにより外側陰極内面
の酸化膜等の不純物を取り除くとともに原子サイズでの
適当な荒さ加工を施すことにより外側陰極の内面と累v
4層との付着強度を高め、イオン注入の定常運転時の累
積層の剥れ落ちによる放電の停止を防止し、ガスの注入
を安定に行なうことを特徴とする。
(作 用) ガス注入の運転を行なう場合、外側陰極の内面を洗浄化
処理を施すことによって外側陰極の内面と新しくこの運
転により形成されるガス注入層との付着性が良好になり
、運転中剥れることなくスムーズに膜が累積される。
また、注入膜が外側陰極の内面から剥れ落らることによ
り、二次的に発生しでいた放電の停止もなくなり、効率
的に、そして安定にガスの注入運転を行なうことができ
るようになる。
(実施例) 以下、第1図から第3図を参照しながら本発明に係る放
射性ガスの貯蔵法の−・実施例について説明する。
第1図は、本発明によるガスの貯蔵法を実/1gi″I
Jるための要部のみ原理国内に示し他の部分は第4図と
同様なので省略しである。また、第2図は従来例を実施
するための要部を原理国内に示している。第3図は本発
明を実施する際の概略を示すフロー図である。
第3図に示すように本発明の処理操作手順はイオン注入
運転スタート時に先立って、あらかじめ前処理としてイ
オン注入累積層が形成される外側陰極1の内面を放電に
より洗浄する。 この時、1(rガスを抽入および排気
するガスフロー運転を行なう。その後このガスフ[]−
を停止し、゛電源を切り換え、従来例と同様にイオン注
入累積層を形成するためのイオン注入定常運転を行なう
次に上記の操作手順に沿って本発明の実施例の詳細を説
明する。
イオン注入運転スタートと同時にガスを抽入および排気
するl(rガスのフローを行なうとともに第1図におけ
る内側陰極6と外側陰141にそれぞれ負電圧を印加す
る。負電圧はたとえば内側陰極6が0〜−100v、外
側陰極1が約−1000Vであり、内側陰極6が外側1
B橿1よりかなりの低電圧になっている。
そして、第1図に示すように放電によりイオン化したガ
スイオン12は外側陰極1に強力に引きつけられる。引
きつけられたガスイオン12は外側陰極1に向って加速
され、遂には外側陰極1の内面、Eて゛スパッタリング
を起こす。
この時、スパッタリングにより外側陰極1の内面上の酸
化膜等の不純物が取り除かれ、かつ外側陰極1の内面に
原子サイズの適当な荒さが生じることになる。
これらの取り除かれた不純物及びスパッタ金属等はl(
rガスフローととbに1〕1気される。
上記の放電によるスパッタリング洗浄を1時間程度行な
った後、ガスフローを停止し、電圧を切り換え従来のイ
オン注入定常運転を行なう。
つまり、第2図に示すようにたとえば内側陰極6に約−
1500V 、外側陰極1に約−250vを印加する。
放電によりイオン化したガスイオ゛ン12は、内側陰極
1に引きつけられ、加速して衝突し、内側陰極6の表面
の金属をスパッタする。このスパッタされた内側陰極6
の表面の金属粒子は外側陰極1に累積層11を形成して
いく。この時外側陰極1内つまり、イオン化室す内の)
(rガスが−緒に累積層11中に注入される。また一方
では外側陰極1の内面部近傍に存在していたガスイオン
12はそのまま外側陰極1に吸い寄せられ、累積層11
に注入される。
このようにして定常運転において、イオン注入累積層1
1の中にガスを貯蔵するものである。
イオン注入の定常運転前にあらかじめ放電によるスパッ
タリング洗浄を行なうことにより、定常運転時に形成さ
れる累vi層11と外側11iI4i1の内面どの付着
性が良好になり、形成された累積層11の剥れ落ちによ
り誘発される放電の停止が防止できる。
かくして、本発明に係るガス貯蔵法では、イオン注入の
定常運転前の前処理としてあらかじめ外側陰極をスパッ
タリングすることにより、注入膜が形成される外側陰極
の内面を洗浄することr tt人累積層との付着性を良
好にし、剥れに難く、イオン注入の定常運転を安定で効
率的に行なうことができ初期の目的を達成することがで
きる。
[発明の効果] 本発明によればガス注入累積層とは外側陰極の内面との
付着性が良好になり、ガス注入の定常運転中に異常放電
または他の外的数回によるガス注入累積層と外側陰極の
内面との剥れ落ちによるガス再放出及び層膜の電極への
接触などがなくなり、放電が安定に持続するようになる
よって、ガス注入をスムーズに行なうことができ、かつ
持続運転が安定にしかも効率的に行なうことができる。
また、ガス注入運転後の貯蔵における安全性および信頼
性が高くなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる放射性ガスの貯蔵法を実施する
ための装置の要部のみを示す原理図、第2図は従来例を
実施するだめの装置の要部のみを示す原理図、第3図は
本発明を実/I!するための処理操作手順を示した概略
フロー図、第4図は従来のガス貯蔵処理操作を説明する
ための装置を示ず縦断面図、第5図および第6図は第4
図の原理および作用を説明するための横断面図である。 1・・・・・・外側陰極 2・・・・・・陽極蓋 3・・・・・・陽極底 4a、4b・・・絶縁リング 5・・・・・・イオン化室 6・・・・・・内側陰極 7・・・・・・絶縁体 8・・・・・・吸気管 9・・・・・・排気管 10・・・・・・高圧電源 11・・・・・・ガス注入累vI層 12・・・・・・ガスのイオン 13・・・・・・スパッタ金属 出願人     株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 放射性ガスが導入される密閉型の外側陰極と、この外側
    陰極内に配置されたスパッタリングターゲットとなる内
    側陰極と、前記外側陰極の上部に設けられた陽極蓋と、
    前記外側陰極の下部に設けられた陽極底と、前記外側陰
    極および内側陰極それぞれに、高電圧を印加する直流電
    源とを備え、前記外側陰極内でガス放電を生じさせて放
    射性ガスをイオン化し加速して前記内側陰極から生じる
    スパッタリング原子によって前記外側陰極内壁面に形成
    される金属累積層中にガスイオンを注入貯蔵するように
    した放射性ガスの貯蔵法において、前記放射性ガスを注
    入貯蔵する前処理としてあらかじめ前記外側陰極にスパ
    ッタリングを生じさせて前記外側陰極の内面を洗浄化す
    ることを特徴とする放射性ガスの貯蔵法。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5249991A (en) * 1975-10-17 1977-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sputtering method
JPS59153880A (ja) * 1983-02-22 1984-09-01 Hitachi Cable Ltd 帯状金属体の連続蒸着法

Patent Citations (2)

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JPS5249991A (en) * 1975-10-17 1977-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sputtering method
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