JPH01140010A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPH01140010A
JPH01140010A JP29879987A JP29879987A JPH01140010A JP H01140010 A JPH01140010 A JP H01140010A JP 29879987 A JP29879987 A JP 29879987A JP 29879987 A JP29879987 A JP 29879987A JP H01140010 A JPH01140010 A JP H01140010A
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JP
Japan
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light
distance
measured
psd
lens
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JP29879987A
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English (en)
Inventor
Yukio Ogura
小椋 行夫
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、被測定物までの距離、変位量、さらには、被
測定物の形状や大きさを光学的に検出する距離測定装置
に係り、オートフォーカス用距雛計、ロボット用視覚セ
ンサ、物体認識用センサ、FA用視覚センサ、変位計等
に利用するに最適な距離測定装置に関する。
(従来技術) オートフォーカスカメラや、産業用ロボット。
ファクトリ−オートメーション(FA)等においては、
物体までの距離や変位量、若しくは、物体形状等を非接
触且つ高速、高精度に測定する検出装置の開発が要望さ
れている。この要望に対応して、近年、被測定物たる物
体までの距離や変位量等を光学的に検出する距離測定装
置が提案されている。
この光学的に被測定物までの距はを測定する方法として
は、例えば、特開昭61−112916号公報に記載さ
れているような、同一の焦点距理を有する2つのレンズ
を光軸が平行になる様に適宜の距離隔てて配置し、各レ
ンズの後方に同−距踵隔てて光軸と垂直に照度分布測定
手段たるCCDアレイを配置し、各レンズによる各CC
Dアレイにおける物体の像の照度分布の相関をとること
により25(7)舞の各光軸からのズレ量の差を求め、
これに基づき物体までの距離を算出する庵竺澗定方法に
おいて、測定すべき距離範囲に応じて2つのレンズの光
軸を平行に保ったままで少なくとも1つのレンズを光軸
と垂直の方向に移動させた後に照度分布の相関をとるこ
とにより測定手段たるCCDアレイにおける2つの像の
位置の相対的ズレ量を求め、この量とレンズの移動量と
に基づき被測定物までの距離を算出することを特徴とす
る距離測定方法が知られている。
しカルながら、上記測定方法を用いた距離画定装置にお
いては、2つのレンズの光軸を平行に保ったままで少な
くとも1つのレンズを光軸と垂直の方向に移動させるた
めの7クチユエータや、そのアクチュエータを制御する
ための手段を設ける必要があり、装置が大型で且つ複雑
なものとなってしまうという問題が生じる。
また、上記測定方法では、測定すべき距離範囲に応じて
2つのレンズの光軸を平行に保ったままで少なくとも1
つのレンズを光軸と垂直の方向に移動させた後に照度分
布の相関をとることにより測定手段たるCCDアレイ上
における2つの像の位置の相対的ズレ量を求め、この量
とレンズの移動量とに基づき被測定物までの距−を算出
しているが、CCDアレイ上における2つの像の位置の
相対的ズレ量を各レンズによる各CCDアレイにCCD
アレイ上の対応点の検出が碓しく、相対的なズレ量の検
出誤差が大きく、?+11J定精度を向上しにくいとい
う問題が生じる。
そこで、上記2組のレンズとCCDを用いた距離画定装
置の問題点を解決し得る、新規な距離画定装置が提案さ
れている。
第6図はそのような距離測定装置の一例を示し、物体位
置の変位量を検出する距離画定装置の例を示す、この距
離画定装置では、光源たる半導体レーザ1からの光を投
光レンズ2で被測定物3に照射し、その被測定物からの
反射光を受光レンズ4で半導体装置検出素子(Posi
tion 5ensitive Dev’ice;以下
PSDと称す)5に結像し、PSD5からの出力信号を
コントローラ7等によって解析して、被測定物の変位に
伴う結像位置のずれ量を検出し、被測定物の変位量を検
出している。
第7図は従来の距離測定装置の別の例を示し、被測定物
体までの距離を測定する距離画定装置の例を示す、この
距離測定装置は、LED駆動回路36によって駆動され
発光するLEDIから射出された光を投光レンズ2によ
って細いビーム光に収束して被測定物たる物体3に照射
し、その物体3から反射された光を受光レンズ4によっ
てPSD5の受光面上にスポット光として集光する。こ
の時、PSD5の左右端に夫々設けられた出力端子には
、受光l上の光の集光位置に対応した電流工□。
工2がそれぞれ流れる。このPSD5からの電流Ill
工2はそれぞれアンプ31.32と信号処理回路33.
34を経て、距離演算回路35に入力され、その距離演
算回路35はPSDF)からの出力電流I、、r2に基
づいて物体3までの距離L0 を算出する。
ここで、PSDについて簡単に説明する。
PSDは、シリコンフォトダイオードを応用した光スポ
ットの位置検出用センサで、周知のビジコンやCCDセ
ンサ等と異なり、非分割型の素子であるため、光スポッ
トの入射位置に対応した連続した電気信号が得られ、位
置分解能、応答性に優れた素子である。
このPSDは、第10図に示すように、平板状シリコン
の表面に2層、裏面にN層、そして中間にある1層の3
Nから構成されており、PSDに入射した光rは、光電
変換され、光電流工□t IzとしてPMにつけられた
電極から分割出力される。
より詳しく説明すると、PSDに光スポラl” rが入
射すると、入射位置には入射された光のエネルギーに比
例した電荷が発生し、発生した電荷は光電流として抵抗
層(図の場合PH)  を通り、P屡の左右端に設けら
れた電極より電流1.、I、としてそれぞれ出力される
。ここで、上記抵抗層は、前面に均一な抵抗値を持つよ
うに作られており、したがって、上記光電流は光スポッ
トrの入射位置からそれぞれの電極までの距離xBp 
2L  XB(即ち、抵抗値)に逆比例して分割され、
電流ILtエ8として取り出される。
ここで、PSD5の長さを2L、光スポットの入射位置
、即ち、受光面上の光強度の最も強い位置からPSDの
受光面中心までの距離を都とし、PSD左右端のそれぞ
れの電極から取り出される電流をr、、I、とすると、
その出力電流比は、工i  L−ハ I、   L + XA となる。したがって、上記出力電流I、、I2を検出す
ることによって、光スポツト入射位置の受光中心からの
距離−を求めることができる。
ここで、再び第7図にしたがって説明すると、投光レン
ズ2と受光レンズ4の距離、すなわち、基線長をα、受
光し〉ズ4とPSD5との距離をf工とすると、物体3
の位置(距離)Loは上記PSDS上の光の入射位置−
の検出値から、簡単な三角訓量の原理を用いて。
  fs L0=□ XA と求めることができる。
ところで、前記PSD5は、前述したように、受光面上
の光強度の最も強い位置、即ち、光の集光位置靭に比例
してI、、I、の電流が流れるため、CODのように受
光レンズ4の焦点がずれているような場合にも光の集光
位置を検出できるという特徴があるがこの場合、位置の
測定精度は悪くなる。したがって1、測定精度を良くし
ようとする場合には受光面上の焦点のずれを少なくする
必要がある。このため、高精度な位置検出を行なうため
には、PSDを余り大きくすることができず、比較的小
さいPSDを使用せねばならず、測定範囲を広くするこ
とができないという問題が生じる。
しかも、PSDは受光面の片側(中心から半分)しか有
効に使えないという欠点があるため検出範囲はより狭く
なってしまう、事実、現在市販されている精度の良いP
SDは、通常、受光面の長さ3mm、有効長1.5+a
m程度と小さく検出範囲が非常に狭い。
このため、前記第6図に示した変位検出用の距離測定装
置の高精度化を図る場合、上記市版品のような小さいP
SDを使用せねばならず、したがって、PSDの集光位
置検出範囲が狭くなり、測定中心距filoon++*
に対して測定範囲が±30+am程度と測定物体3まで
の距離及び変位検出範囲が狭くなり、汎用性に乏しいと
いう問題が生じる。
また、第7図に示した距離測定装置の場合にも同様に、
距離の測定精度を良くするためには高精度のPSDを用
いるため、第8図に示すように、距離測定装置が1例え
ば、図中A−B間に限られてしまい、やはり汎用性に乏
しいという問題が生じろ。
また、距離測定装置を応用して、第9図に示すように、
投光レンズ2によって投光される光を回転多面鏡6等に
より偏向走査し、各走査光に対して物体までの距離を測
定し、物体の表面形状や大きさを検出するいわゆる物体
認識装置として用いた場合に、高精度化を図ろうとする
と、やはりPSD5の前記有効長が小さくなるため、測
定可能な領域が図示の斜線部St!囲内に限られてしま
い。
測定可能な物体の大きさ、形状、及び物体までの距離な
どがかなり制約されてしまい、やはり汎用性に乏しくな
るという問題が生じる。
(目  的) 本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、比
較的小型で且つ簡単な構成の、高精度でしかも検出範囲
が広く汎用性のある距離測定装置を提供することを目的
とする。
(構  成) 上記目的を達成するため1本発明は、被測定物に投光さ
れる光を射出する光源と、光源から射出された光を収束
し被測定物に照射する投光レンズと、上記被測定物から
の反射光を受光し集光する受光レンズと、該受光レンズ
によって集光される上記反射光の集光位置を検出する位
置検出素子と、該位置検出素子からの信号に基づいて上
記被測定物までの距離や被測定物の変位量、形状を検出
する手段とを有する距離測定装置において、上記受光レ
ンズからの光を複数に分割する手段と、その分割数に対
応した数の位置検出素子とを有する構成としたことを特
徴とする特 即ち1本発明では、受光レンズからの光を複数に分割す
る手段と、その分割数に対応した数の位置検出素子とを
設け、遠方から近距離までの広い範囲を個々の位置検出
素子に分割して検出させ。
検出範囲の拡大を図るものである。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図おいて、本発明による距離測定装置は、第6図乃
至男8図に示した従来の距離測定装置と同様に、被測定
物に投光される光を射出する半導体レーザやLED等か
らなる光源1と、その光源1から射出された光を収束し
被測定物に照射する投光レンズ2と、E記被謂定物から
の反射光を受光し集光する受光レンズ4と、該5′光レ
ンズ4によって集光される上記反射光の集光位置を検出
する位置検出素子(PSD)5と、該位置検出素子5か
らの信号に基づいて上記被測定物までの距離や変位量を
検出する手段(図示せず)とを有し、被測定物からの反
射光を受光レンズ4でPSD5の受光面に集光し、受光
面上の光の集光位置に対応して出力されるPSD5の出
力信号と、投光レンズ2と受光レンズ4の距離、受光レ
ンズ4とPSD5との距離とから三角洞量の原理により
、被測定物までの距離や変位量を検出する。
ところで、前述したように、従来の高精度な距離測定装
置では、使用するPSDにより測定距離範囲に制約を受
け、距離や変位の測定範囲が例えば第8図に示したA−
B間の如く、比較的狭い範囲での測定しか行なえなかっ
た。
そこで、本発明では、高精度なPSDを複数個用意し、
各PSDを第1図に示すように図中D−A、A−B、B
−Cの各距雛笥囲に対応する受光レンズ4の集光範回位
置PI、 P2. PSに配置し、ヲ定範囲を図中D−
Cの範囲まで5広げる。即ち1図中距離範囲D−Aに対
応するPSDをPS、A−Bに対応するPSDをP2.
B−Cに対応するPSDをPlの位置にそれぞれ配置す
ることにより、測定範囲を図中D−Cの範囲まで広げ、
測定範囲の拡大を図るものである。
ところが、このようにPSDを単に配置した場合、前述
したように、PSDの有効範囲はPSDの長さの半分し
かないため1図中D−C範囲を切目無く連続して測定で
きるようにPS−Dを配置することは物理的に不可能で
あり、したがって、第1図のPI、 P2. P3位置
にPSDti−隙間無く配置しても、?lFl定できな
い範囲が生じてしまうという開運が生じる。
そこで、本発明においては、受光レンズからの光を複数
に分割する手段と、その分割数に対応した数の位置検出
素子とを有する構成とし、遠方から近距離までの広い範
囲を個々の位置検出素子に分割して検出させ、検出範囲
の拡大を図る。
第2図は本発明の一実施例を表す距離測定装置の要部構
成例を示すものであって、図中符号3は被測定物、符号
4は受光レンズ、符号10.11はハーフミラ−1符号
5L 52p 53はPSDを表す。即ち1本実施例に
おいては、被測定物3によって反射され受光レンズ4に
よって集光される光の光路をハーフミラ−10,11に
よって三方向に分割し、各方向にそれぞれP S D5
1.52.53を配設した例を示す。尚、各方向に配置
されるP S D51.52゜53の配置位置は、前記
D−A、A−B、B−Cの各測定距離範囲に対応してそ
れぞれ調整される。
また、上記ハーフミラ−10,11のうち、符号10側
を1/3反射2/3透過のミラーとし、符号11側を半
反射、半透過のミラーとすることにより、各PSDSL
、 52.53の受光光量を均一にすることができる。
第3図は本発明の別の実施例を表す距離測定装置の要部
構成例を示すものであって、この実施例では、前記第2
図に示したハーフミラ−に換えてプリズム12によって
光路を三方向に分割した例を示す。
ところで、P S D51,52.53は受光面上の光
強度の最も強い位置を検出するため、第2図、第6図に
おいて、各位置に配置されたP S 051,52.5
3がそれぞれ東独に位置を検出してしまうおそれがある
。そこで本発明においては、上記第2回着しくは第3図
に示したP S D51,52,53からの信号に基づ
いて被測定物までの距離や被測定物の変位量等を検出す
る手段として、第5図に一例を示すような判定回路を有
する構成の距離検出手段を設ける。
同図において、図中符号AI、A2.A3.A4.A5
.A6は各PSDからの出力電流を増幅するアンプ、符
号St、S2.S3.S4.S5.S6は各アンプAI
、A2.A3.A4.A5.A6からの出力信号を処理
する信号処理回路、符号20は各信号処理回路Sl、S
2.S3.S4.S5.S6を介して入力される各P 
S DSL、52,53の出力の和(工□+I2)を比
較し、出力の和の最も大きい信号を判定する判定回路、
符号21はその判定回路20からの信号に基づいて距離
や変位量等を算出する距離演算回路を夫々示す。
即ち、第5図に示す距離検出手段では、判定回路20に
よって各P S D31,52.53からの43号が比
較され、最も受光した光強度の強いものが判定されろた
め、被測定物の存在領戎を容易に判判定することができ
、正確な距離の算出を容易に行なうことができる。
第4図は本発明による距離測定装置の応用例を示す図で
あって、前記第9図に示したものと同様に、投光レンズ
2を介して投光される光源1からの光を、回転多面鏡6
等の光走査器によって偏向走査し、各走査光に対して物
体までの距離を測定し、物体の表面形状や大きさを検出
するいわゆる物体認識装置に本発明を適用した場合の等
価原理図を示す。
尚、図では測定範囲を判り易くするために、PSDの配
置位置をPL、P2.P3としているが、実際は、前記
第2回着しくは第3@に示したように、被測定物からの
光は受光レンズ4を透過後、ハーフミラ−やプリズム等
により複数方向に分割され、各分割方向に配置された各
P S DSL、52.53上に集光される。
さて、第4図に等制約に示すように、本発明が適用され
た物体認識装置としての距離測定装置では、PSDを複
数用いたことにより洞室領域を図中斜線部の如く広げる
ことができ、第9図に示した従来装置に比べて、より広
い領域、大きさの物体の検出が可能となる。
尚、第4図において、光を走査する方式には上記回転多
面鏡の他に、ホログラムスキャナー、ガルバノミラ−等
を用いてもよい。また、同図においては、一方向走査の
例を示したが、物体の立体形状を認識するために面走査
をする場合には、装置全体を光走査方向と直角方向に移
動走査する機構を設ければよい。また、上記光源1とし
てはLEDや半導体レーザ等が用いられる。
以上、第2図乃至第5図に示したように1本発明では、
被測定物3に投光される光を射出する光源1と、光源1
から射出された光を収束し被測定物3に窯射する投光レ
ンズ2と、上記被測定物3からの反射光を受光し集光す
る受光レンズ4と、該受光レンズ4によって集光される
上記反射光の集光位置を検出オるPSDと、該PSDか
I)の信号に基づいて上記被測定物3までの距離や被測
定物3の変位量、形状を検出する手段とを有する距1m
’J定装置において、上記受光レンズ4からの光の光路
を複数方向に分割する手段としてのハーフミラ−10,
11やプリズム12等と、その分割された光に対応して
それぞれ配置されるP S DSL、52.53とを有
する構成としたことにより、比較的小型で且つ簡単な構
成の、高精度でしかも検出範囲が広い距離画定装置を提
供することができる。
(効  果) 以上説明した通り1本発明による距′R′IjA定装置
は゛、比較的小型で且つ簡単な構成にもかかわらず、高
精度でしかも検出範囲が広いため、ロボット用視覚セン
サ、オートフォーカス用距離計、物体認識用センサ、F
A泪視覚センサ、変位計等に広く応用することができ、
汎用性に偏れている。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による距離測定装置の原理を説明するた
めの概略要部構成図、第2図は本発明の一実施例を表す
距離測定装置の概略要部構成図、第3図は本発明の別の
実施例を表す雇難瀾定装置の概略要部構成図、第4図は
本発明の応用実施例を表す物体認識装置としての距離測
定装置の概略要部構成図、第5図は本発明による距離測
定装置の回路構成例を示すブロック図、第6図及び第7
図は従来の距離測定装置の夫々別の例を表す距離測定装
置の概略構成図、第8図は第6図及び第7図に示す従来
装置の測定範囲を説明するための図、第9図は物体認識
装置として応用したときの距離認定装置の検出範囲を説
明するための距離認定装置の概略要部構成図、第10図
は位置検出素子の一例を表すPSDの断面図である。 1・・・・光源、2・・・・投光レンズ、3・・・・被
測定物、4・・・・受光レンズ、 S、51,52,5
3・・・・位置検出素子、10.11・・・・ハーフミ
ラ−112・・・・プリズム。 第1図 M 2 図 第 3 図 第 4 図 第 5 図 第 6 図 第 7 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被測定物に投光される光を射出する光源と、光源から射
    出された光を収束し被測定物に照射する投光レンズと、
    上記被測定物からの反射光を受光し集光する受光レンズ
    と、該受光レンズによって集光される上記反射光の集光
    位置を検出する位置検出素子と、該位置検出素子からの
    信号に基づいて上記被測定物までの距離や被測定物の変
    位量。 形状を検出する手段とを有する距離測定装置において、
    上記受光レンズからの光を複数に分割する手段と、その
    分割数に対応した数の位置検出素子とを有することを特
    徴とした距離測定装置。
JP29879987A 1987-11-26 1987-11-26 距離測定装置 Pending JPH01140010A (ja)

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