JPH01136038A - Hidランプ光出力安定化装置 - Google Patents
Hidランプ光出力安定化装置Info
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- JPH01136038A JPH01136038A JP29408087A JP29408087A JPH01136038A JP H01136038 A JPH01136038 A JP H01136038A JP 29408087 A JP29408087 A JP 29408087A JP 29408087 A JP29408087 A JP 29408087A JP H01136038 A JPH01136038 A JP H01136038A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメタルハライドランプのようなHIDランプに
関し、特に光出力の安定化をはかるための装置に関する
。
関し、特に光出力の安定化をはかるための装置に関する
。
[従来の技術〕
分光分析の分野においては、紫外領域から可視領域にわ
たる広い波長領域の光が用いられている。
たる広い波長領域の光が用いられている。
分光分析装置の中でも、物質の吸収により定性。
定量分析を行う装置の光源には、特に光出力のゆらぎが
少ないことが重要になっている。上記目的のために、特
別に開発されたメタルハライドランプにおいても、光出
力のゆらぎを0.05%以下にすることは困難であり、
一般照明用に用いられているHIDランプ(高圧水銀ラ
ンプ、高圧ナトリウムランプ、メタルハライドランプ等
、動作時の蒸気圧が1気圧程度、あるいはそれ以上の高
圧蒸気放電灯をいう)にあっては、通常0.5%程度の
ゆらぎがあり、アークがスネークする場合には数%程度
のゆらぎになる。
少ないことが重要になっている。上記目的のために、特
別に開発されたメタルハライドランプにおいても、光出
力のゆらぎを0.05%以下にすることは困難であり、
一般照明用に用いられているHIDランプ(高圧水銀ラ
ンプ、高圧ナトリウムランプ、メタルハライドランプ等
、動作時の蒸気圧が1気圧程度、あるいはそれ以上の高
圧蒸気放電灯をいう)にあっては、通常0.5%程度の
ゆらぎがあり、アークがスネークする場合には数%程度
のゆらぎになる。
なお、実公昭48−5112号あるいは米国特許356
2583号に記されているように、アークに磁場を作用
させて上記アークのスネークを防止する方法も既に発明
されているが、上記の各方法では、一般照明用としての
光のちらつき、あるいはアークの曲りによるランプの劣
化を防止する上では、十分な効果が得られるものの、光
出力のゆらぎを0.05%以下にするという要請の高度
な安定化のためには不十分であった。
2583号に記されているように、アークに磁場を作用
させて上記アークのスネークを防止する方法も既に発明
されているが、上記の各方法では、一般照明用としての
光のちらつき、あるいはアークの曲りによるランプの劣
化を防止する上では、十分な効果が得られるものの、光
出力のゆらぎを0.05%以下にするという要請の高度
な安定化のためには不十分であった。
上記のように、従来技術ではHIDランプの安定性が十
分でなく、特に、吸光光度計等のように高度な安定性が
要求される分野で用いるには不都合であった。
分でなく、特に、吸光光度計等のように高度な安定性が
要求される分野で用いるには不都合であった。
本発明の目的は、HIDランプの光出力のゆらぎを0.
05%以下にした、高度に安定なHIDランプ光出力安
定化装置を得ることにあり、さらに、誤信号による誤動
作を防止するとともに、ランプ始動時のアークのゆらぎ
に過敏に反応してランプの立消えをもたらす要因を取り
除くことにより、ランプの信頼性をより一層高めること
にある。
05%以下にした、高度に安定なHIDランプ光出力安
定化装置を得ることにあり、さらに、誤信号による誤動
作を防止するとともに、ランプ始動時のアークのゆらぎ
に過敏に反応してランプの立消えをもたらす要因を取り
除くことにより、ランプの信頼性をより一層高めること
にある。
上記目的は、HIDランプにおけるアークの変位を検出
し、上記変化に対応してアークに磁場を作用させ、上記
アークの位置を矯正する上で、上記アーク位置を矯正す
る手段にリミッタ−を設け、アーク位置を矯正するため
の磁場が所定の強さを超えて、かつ所定の時間を超えて
アークに作用することを防止することにより達成され、
又、ランプ始動時には、上記磁場の強さを弱めるが、あ
るいは零とすることにより達成される。
し、上記変化に対応してアークに磁場を作用させ、上記
アークの位置を矯正する上で、上記アーク位置を矯正す
る手段にリミッタ−を設け、アーク位置を矯正するため
の磁場が所定の強さを超えて、かつ所定の時間を超えて
アークに作用することを防止することにより達成され、
又、ランプ始動時には、上記磁場の強さを弱めるが、あ
るいは零とすることにより達成される。
本発明によるHIDランプ光出力安定化装置は、HI
Dランプの近傍に設けたコイルに電流を流すことにより
発生する磁場が、ローレンス力によりアークを変化させ
るとともに、上記アークの位置を監視する手段からの制
御により、所望の位置に上記アークを固定するものであ
り、特に、アーク位置を矯正する手段にリミッタ−を設
けたものである。それによって8、アーク位置を監視す
る手段の監視範囲からアークが逸脱したり、あるいは検
出器の誤動作により、アークを変位させる磁場の強さが
過度となり、アークが発光管の壁に押し付けられた状態
となった場合においても、発光管が過熱する前に上記磁
場の強さを適正なものとし、ランプの信頼性を損うこと
を防止することができる。
Dランプの近傍に設けたコイルに電流を流すことにより
発生する磁場が、ローレンス力によりアークを変化させ
るとともに、上記アークの位置を監視する手段からの制
御により、所望の位置に上記アークを固定するものであ
り、特に、アーク位置を矯正する手段にリミッタ−を設
けたものである。それによって8、アーク位置を監視す
る手段の監視範囲からアークが逸脱したり、あるいは検
出器の誤動作により、アークを変位させる磁場の強さが
過度となり、アークが発光管の壁に押し付けられた状態
となった場合においても、発光管が過熱する前に上記磁
場の強さを適正なものとし、ランプの信頼性を損うこと
を防止することができる。
又、ランプ始動時には、上記磁場の強さを弱めるか、あ
るいは零とすることにより、ランプの立消えを防止する
ことができる。
るいは零とすることにより、ランプの立消えを防止する
ことができる。
以下、本発明の−・実施例を図面と共に説明する。
第1図は本発明によるHIDランプ光出力安定化装置の
一実施例を示すブロック図である。同図において、1は
HI Dランプ、2はアーク位置検出器、3は磁場制御
回路、4は磁場発生用コイル、5はレンズ、6は分光光
度計である。HIDランプ1の光出力は集光されて分光
光度計6の入口スリット(図示省略)上に結像される。
一実施例を示すブロック図である。同図において、1は
HI Dランプ、2はアーク位置検出器、3は磁場制御
回路、4は磁場発生用コイル、5はレンズ、6は分光光
度計である。HIDランプ1の光出力は集光されて分光
光度計6の入口スリット(図示省略)上に結像される。
このとき、分光光度計に入る入射光の強さは、HIDラ
ンプ1の光出力の時間的ゆらぎと、HIDランプ1のア
ーク位置0の変化に基づくゆらぎとに影響される。上記
各ゆらぎのうち、前者はHI Dランプ1を定電流回路
で点灯する方法、または、分光光度計内で入射光を2゛
経路の光束に分割し、分割光の一方を参照光にすること
で補正できる。しかし。
ンプ1の光出力の時間的ゆらぎと、HIDランプ1のア
ーク位置0の変化に基づくゆらぎとに影響される。上記
各ゆらぎのうち、前者はHI Dランプ1を定電流回路
で点灯する方法、または、分光光度計内で入射光を2゛
経路の光束に分割し、分割光の一方を参照光にすること
で補正できる。しかし。
後者のゆらぎは上記の方法では充分に補正できないため
に、HI Dランプ1自身でアークの位置の変位を補正
しなければならない。
に、HI Dランプ1自身でアークの位置の変位を補正
しなければならない。
上記補正のために設けたコイル4は、アーク位置を矯正
するために、磁場制御回路3により制御された磁場を発
生する。アークの長さ1cm、アーク電流0.7A の
とき、上記コイル4はコイル半径1.5cm、ターン数
12の空胴コイルとし、アークから1 、5cni l
* シ、アークの軸とコイル4の中心軸とが直交するよ
うに設け、」1記コイル4に0.1A程度の電流を流し
て発生する磁場のローレンス力により、アーク位置の変
化を十分に抑えることができる。
するために、磁場制御回路3により制御された磁場を発
生する。アークの長さ1cm、アーク電流0.7A の
とき、上記コイル4はコイル半径1.5cm、ターン数
12の空胴コイルとし、アークから1 、5cni l
* シ、アークの軸とコイル4の中心軸とが直交するよ
うに設け、」1記コイル4に0.1A程度の電流を流し
て発生する磁場のローレンス力により、アーク位置の変
化を十分に抑えることができる。
アーク位置検出器2は直径Q、5mmの針穴によりアー
クの像を結像させ、結像面にホ1−ダイオ−ドを2個設
け、両ホトダイオードに入射する光量の差の増減をアー
ク位置の変位量としたものであり、上記変位量に応じた
信号は磁場制御回路3により上記コイル4に流れる電流
に変換される。
クの像を結像させ、結像面にホ1−ダイオ−ドを2個設
け、両ホトダイオードに入射する光量の差の増減をアー
ク位置の変位量としたものであり、上記変位量に応じた
信号は磁場制御回路3により上記コイル4に流れる電流
に変換される。
また、アークの長さ5cI11、アーク電流3.3Aの
場合には、コイル4として、コイル半径5cm、ターン
数20の空胴コイルをアークから6cm隔てて設け、上
記コイルに0.1A程度の電流を流すことにより、上記
アークの変位を抑えることができた。
場合には、コイル4として、コイル半径5cm、ターン
数20の空胴コイルをアークから6cm隔てて設け、上
記コイルに0.1A程度の電流を流すことにより、上記
アークの変位を抑えることができた。
このとき、何らかの異常(例えば、ランプに強力に磁石
を近づける)により、アーク位置検出器2の監視範囲か
らアークが逸脱した場合には、その異常となる原因が取
り除かれた後もアーク位置が監視範囲内に戻らない場合
が生じる。この場合にはアーク位置検出器2の出力信号
は誤信号となり、この誤信号により、磁場制御回路3が
大きい制御電流を流すと、磁場発生用コイルにより強い
磁場がアークに作用し、アークは壁に押し付けられた状
態のまま、アーク位置検出器2の監視範囲外に留まるこ
ととなるにうした状態が数分ないし、10数分続くと、
ランプ1は回復不能な損傷を受けることとなる。
を近づける)により、アーク位置検出器2の監視範囲か
らアークが逸脱した場合には、その異常となる原因が取
り除かれた後もアーク位置が監視範囲内に戻らない場合
が生じる。この場合にはアーク位置検出器2の出力信号
は誤信号となり、この誤信号により、磁場制御回路3が
大きい制御電流を流すと、磁場発生用コイルにより強い
磁場がアークに作用し、アークは壁に押し付けられた状
態のまま、アーク位置検出器2の監視範囲外に留まるこ
ととなるにうした状態が数分ないし、10数分続くと、
ランプ1は回復不能な損傷を受けることとなる。
磁場制御回路内に組み込んだりミツターは、正常時のア
ークに作用させた場合にアーク位置が監視範囲外にまで
変位する程度の磁場を連続して数秒以上長くは持続させ
ない構造とすると良い。通常、アークのゆらぎは、数r
n sないし数10m5の間比較的強い磁場を作用させ
ることにより充分に抑えることができる。従って上dd
リミッタ−を設けることによりアーク位置の制御に不都
合が生じることはない。
ークに作用させた場合にアーク位置が監視範囲外にまで
変位する程度の磁場を連続して数秒以上長くは持続させ
ない構造とすると良い。通常、アークのゆらぎは、数r
n sないし数10m5の間比較的強い磁場を作用させ
ることにより充分に抑えることができる。従って上dd
リミッタ−を設けることによりアーク位置の制御に不都
合が生じることはない。
又、ランプ始動時に陰極輝点が必ずしも@棒先端部に形
成されず、電極のコイル部分等に形成される場合がある
。こうした場合には、陰極輝点は不安定となり、陰極輝
点の移動に伴ってアークがゆらぐこととなる。このどき
、アークに強い磁場が作用すると、ランプが立消える場
合が生じ、したがって、ランプが定常点灯状態に達する
までの過渡時にはアーク位[矯正作用を弱め、定常状態
に達した後に所定のアーク位置矯正作用を行わしめるべ
く、上記リミッタ−を設定した。
成されず、電極のコイル部分等に形成される場合がある
。こうした場合には、陰極輝点は不安定となり、陰極輝
点の移動に伴ってアークがゆらぐこととなる。このどき
、アークに強い磁場が作用すると、ランプが立消える場
合が生じ、したがって、ランプが定常点灯状態に達する
までの過渡時にはアーク位[矯正作用を弱め、定常状態
に達した後に所定のアーク位置矯正作用を行わしめるべ
く、上記リミッタ−を設定した。
上記リミッタ−は、タイマーの信号により動作し、磁場
発生用コイル4に流れる電流を所定の値に限定する。タ
イマーは、ランプ始動に連動してオンし、所定の時間後
にオフするまでの間、上記電流を限定する手段を動作さ
仕るものと、アーク位置検出器2の信号レベルが所定の
値を超えている間オンし、この時間が数秒持続したとき
上記電流を限定する手段を所定の時間動作させるものと
からなる。
発生用コイル4に流れる電流を所定の値に限定する。タ
イマーは、ランプ始動に連動してオンし、所定の時間後
にオフするまでの間、上記電流を限定する手段を動作さ
仕るものと、アーク位置検出器2の信号レベルが所定の
値を超えている間オンし、この時間が数秒持続したとき
上記電流を限定する手段を所定の時間動作させるものと
からなる。
なお、上記ホトダイオードの代りに、ホトダイオードア
レイを用いることも可能であり、この場合には位置検出
用として用いるホトダイオードの間隔を小さくすること
ができ、アーク位置検出器2の大きさを小さくすること
ができる。さらに、上記検出器2の針穴の代りにレンズ
等を用いてもよく、いずれの場合も、上記分光光度計6
の入射スリットに入る光束のゆらぎを、一般に発光が極
めて安定な重水素ランプの発光光束のゆらぎと同程度で
ある0、05%以下に容易にすることが可能である。
レイを用いることも可能であり、この場合には位置検出
用として用いるホトダイオードの間隔を小さくすること
ができ、アーク位置検出器2の大きさを小さくすること
ができる。さらに、上記検出器2の針穴の代りにレンズ
等を用いてもよく、いずれの場合も、上記分光光度計6
の入射スリットに入る光束のゆらぎを、一般に発光が極
めて安定な重水素ランプの発光光束のゆらぎと同程度で
ある0、05%以下に容易にすることが可能である。
上記のように本発明によるHIDランプ光出力安定化装
置は、HIDランプのアークに作用する磁場が所定の強
さあるいは所定の時間と超えてアークに作用することを
防止できる。また、HIDランプ始動後、所定の時間を
経た後、上記アーク矯正手段を所定の強さで作動させる
ことができる。
置は、HIDランプのアークに作用する磁場が所定の強
さあるいは所定の時間と超えてアークに作用することを
防止できる。また、HIDランプ始動後、所定の時間を
経た後、上記アーク矯正手段を所定の強さで作動させる
ことができる。
この結果、HIDランプの信頼性を損うことなく、アー
ク位置のゆらぎ、あるいはスネーク等を矯正することが
でき、これに伴って生じる光量の変化を効果的に抑制す
ることができる。
ク位置のゆらぎ、あるいはスネーク等を矯正することが
でき、これに伴って生じる光量の変化を効果的に抑制す
ることができる。
第1図は本発明によるH I Dランプ光出力安定化装
置の一実施例を示すブロック図である。
置の一実施例を示すブロック図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、HIDランプと、該HIDランプのアークに作用す
る磁場を発生する手段と、上記アークの位置変化を検出
する手段と、上記検出手段の出力信号により上記磁場発
生手段を作用させ、上記アーク位置を矯正する手段とを
備えたHIDランプ光出力安定化装置において、上記発
生磁場が、所定の強さを超えて、かつ所定の時間を超え
て上記アークに作用することを防止する手段を設けたこ
とを特徴とするHIDランプ光出力安定化装置。 2、上記HIDランプ光出力安定化装置において、HI
Dランプの始動後、所定の時間を経た後、上記アーク矯
正手段を所定の強さで作動させることを特徴とする第1
項記載のHIDランプ光出力安定化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29408087A JPH01136038A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Hidランプ光出力安定化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29408087A JPH01136038A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Hidランプ光出力安定化装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01136038A true JPH01136038A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17803029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29408087A Pending JPH01136038A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Hidランプ光出力安定化装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01136038A (ja) |
-
1987
- 1987-11-24 JP JP29408087A patent/JPH01136038A/ja active Pending
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