JPH01136016A - アナログ量計測装置 - Google Patents
アナログ量計測装置Info
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- JPH01136016A JPH01136016A JP62293645A JP29364587A JPH01136016A JP H01136016 A JPH01136016 A JP H01136016A JP 62293645 A JP62293645 A JP 62293645A JP 29364587 A JP29364587 A JP 29364587A JP H01136016 A JPH01136016 A JP H01136016A
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Landscapes
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電源機器のモニタリングシステムなどにお
ける電圧・電流等のアナログ量の計測に用いて有利なア
ナログ量計測装置に関するものである。
ける電圧・電流等のアナログ量の計測に用いて有利なア
ナログ量計測装置に関するものである。
電源機器のモニタリングシステムは、例えば、ＯＨＭ
、第７１巻第１２号（１９８４年）Ｐ、２２〜Ｐ、３２
．ｒｃＶｃＦ装置の技術変遷と今後の動向」に記載され
ている如く、第８図に示すような各種機能を備えている
。このようなモニタリングシステムでは、運用管理・保
守管理に必要な情報を、一定時間ごとの日報データとし
て記録するほか、異常発生時の時刻９発生内容２発生順
序、各種スイッチ類の状態と変化順序、電圧・電流等の
アナログ量の記録１表示などを行っている。
、第７１巻第１２号（１９８４年）Ｐ、２２〜Ｐ、３２
．ｒｃＶｃＦ装置の技術変遷と今後の動向」に記載され
ている如く、第８図に示すような各種機能を備えている
。このようなモニタリングシステムでは、運用管理・保
守管理に必要な情報を、一定時間ごとの日報データとし
て記録するほか、異常発生時の時刻９発生内容２発生順
序、各種スイッチ類の状態と変化順序、電圧・電流等の
アナログ量の記録１表示などを行っている。
第９図はこのようなモニタリングシステムにおける従来
のアナログ量計測装置を示すブロック図であり、図にお
いて、１は電圧・電流等のアナログ量による計測信号、
２はこの計測信号１が入力されるアナログ回路で形成さ
れ九ローパスフィルタ（以下、ＬＰＦという）、３はと
のＬＰＦ２からのアナログ量による出力をデジタル化す
るアナログ・デジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器とい
う）、４は例えば７セグメント発光ダイオード等による
表示器、５は前記Ａ／Ｄ変換器３の出力に基づいて前記
表示器４に表示する表示用データを生成する制御装置で
あシ、６は前記制御装置５内にあって、前記Ａ／Ｄ変換
器３のデジタル出力をサンプリングして平均値を得る平
均回路、７は同じく前記制御装置５内にあって、前記Ａ
／Ｄ変換器３のデジタル出力を入力とするデジタルロー
パスフィルタ（以下、ＤＬＰＦ’という）である。
のアナログ量計測装置を示すブロック図であり、図にお
いて、１は電圧・電流等のアナログ量による計測信号、
２はこの計測信号１が入力されるアナログ回路で形成さ
れ九ローパスフィルタ（以下、ＬＰＦという）、３はと
のＬＰＦ２からのアナログ量による出力をデジタル化す
るアナログ・デジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器とい
う）、４は例えば７セグメント発光ダイオード等による
表示器、５は前記Ａ／Ｄ変換器３の出力に基づいて前記
表示器４に表示する表示用データを生成する制御装置で
あシ、６は前記制御装置５内にあって、前記Ａ／Ｄ変換
器３のデジタル出力をサンプリングして平均値を得る平
均回路、７は同じく前記制御装置５内にあって、前記Ａ
／Ｄ変換器３のデジタル出力を入力とするデジタルロー
パスフィルタ（以下、ＤＬＰＦ’という）である。
次に動作について説明する。ここで、計測信号１はリッ
プルを持った直流とする。
プルを持った直流とする。
第９図（ａ）の場合では、ＬＰＦ２によって、計測信号
１からリップル成分が除去された信号はＡ／Ｄ変換器３
によりデジタル信号に変換される。このデジタル信号は
、制御装置５に取り込まれ、表示用データとして表示器
４に送られて表示される。
１からリップル成分が除去された信号はＡ／Ｄ変換器３
によりデジタル信号に変換される。このデジタル信号は
、制御装置５に取り込まれ、表示用データとして表示器
４に送られて表示される。
第９図（ｂ） 、 （Ｃ）の場合では、ＬＰＦ２によっ
て、計測信号１からリップル成分が除去された信号はＡ
／Ｄ変換器３によシデジタル信号に変換される。
て、計測信号１からリップル成分が除去された信号はＡ
／Ｄ変換器３によシデジタル信号に変換される。
このデジタル信号は、制御装置５に取シ込まれ、平均値
を得る平均回路６もしくはＤＰＬＦ７によシ、前記Ａ／
Ｄ変換器３の分解精度による最下位ビット（以下、ＬＳ
Ｂという）のふらつきやノイズなどによる制御装置５の
表示用データのリップルへの影響を小さくし、表示器４
に表示される。
を得る平均回路６もしくはＤＰＬＦ７によシ、前記Ａ／
Ｄ変換器３の分解精度による最下位ビット（以下、ＬＳ
Ｂという）のふらつきやノイズなどによる制御装置５の
表示用データのリップルへの影響を小さくし、表示器４
に表示される。
第９図（ｄ）の場合では、計測信号１が直接Ａ／Ｄ変換
器３によシデジタル信号に変換される。このデジタル信
号は、制御装置５に取シ込まれ、ＤＬＰＦ７によシ、前
記計測信号１のリップル成分が除去され、前記Ａ／Ｄ変
換器３の分解精度によるＬＳＢのふらつきやノイズなど
による制御装置５の表示用データのリップルへの影響を
小さくし、表示器４に表示される。
器３によシデジタル信号に変換される。このデジタル信
号は、制御装置５に取シ込まれ、ＤＬＰＦ７によシ、前
記計測信号１のリップル成分が除去され、前記Ａ／Ｄ変
換器３の分解精度によるＬＳＢのふらつきやノイズなど
による制御装置５の表示用データのリップルへの影響を
小さくし、表示器４に表示される。
第９図（Ｃ）の場合について、第１Ｏ図を参照しながら
さらに詳細に説明する。ＬＰＦ２によって計測信号１は
そのリップル成分が除去され、Ａ／Ｄ変換器３に入力さ
れる。前記Ａ／Ｄ変換器３の出力であるデジタル信号を
アナログ的に示すと、第１Ｏ図（ａ）に示す信号となる
。この第１Ｏ図（ａ）のＶＤ変換信号のリップル成分は
、前記Ａ／Ｄ変換変換器３屏 どによるものである。このふらつきが表示器４に出ない
ようにするには、ＤＬＰＦ７０周波数応答特性を遅くす
ればよい。しかしながら、ＬＳＢのふらつき，ノイズな
どの周波数成分は非常に遅い場合も考えられるので、例
えば、表示器４が７セグメント発光ダイオードであれば
，Ａ／Ｄ変換器３の出力信号が低周波で変動し、ＤＬＰ
Ｆ７によってその低周波成分が減衰しなかった場合でも
、その低周波成分のふらつきが、扱者が見て苦痛を感じ
ない程度のものにしなければならない。従って、ＤＬＰ
Ｆ７の応答は、０．１ 〜０．０ １ ｒａｄ ／ｓｅ
ｃが適当と考えられる。
さらに詳細に説明する。ＬＰＦ２によって計測信号１は
そのリップル成分が除去され、Ａ／Ｄ変換器３に入力さ
れる。前記Ａ／Ｄ変換器３の出力であるデジタル信号を
アナログ的に示すと、第１Ｏ図（ａ）に示す信号となる
。この第１Ｏ図（ａ）のＶＤ変換信号のリップル成分は
、前記Ａ／Ｄ変換変換器３屏 どによるものである。このふらつきが表示器４に出ない
ようにするには、ＤＬＰＦ７０周波数応答特性を遅くす
ればよい。しかしながら、ＬＳＢのふらつき，ノイズな
どの周波数成分は非常に遅い場合も考えられるので、例
えば、表示器４が７セグメント発光ダイオードであれば
，Ａ／Ｄ変換器３の出力信号が低周波で変動し、ＤＬＰ
Ｆ７によってその低周波成分が減衰しなかった場合でも
、その低周波成分のふらつきが、扱者が見て苦痛を感じ
ない程度のものにしなければならない。従って、ＤＬＰ
Ｆ７の応答は、０．１ 〜０．０ １ ｒａｄ ／ｓｅ
ｃが適当と考えられる。
第１０図（ｂ）に示す信号は、ＤＬＰＦ７の応答を遅く
した場合の、その出力信号である。第１Ｏ図（ａ）に示
すＡ／Ｄ変換信号のリップルの影響は減衰しているが、
時刻Ｔ１での当該Ａ／Ｄ変換信号の変化には、追従性が
悪くなる。
した場合の、その出力信号である。第１Ｏ図（ａ）に示
すＡ／Ｄ変換信号のリップルの影響は減衰しているが、
時刻Ｔ１での当該Ａ／Ｄ変換信号の変化には、追従性が
悪くなる。
第１０図（Ｃ）の信号は、ＤＬＰＦ７の応答を速くした
場合のその出力信号である。時刻Ｔ１での前記Ａ／Ｄ変
換信号の変化に対する追従性は良くなるが、そのリップ
ルの影響を受けやすくなる。
場合のその出力信号である。時刻Ｔ１での前記Ａ／Ｄ変
換信号の変化に対する追従性は良くなるが、そのリップ
ルの影響を受けやすくなる。
従来のアナログ量計測装置は以上のように構成されてい
るので、Ａ／Ｄ変換器３の分解精度によるＬＳＢのふら
つきやノイズなどによる表示データのリップルを小さく
しようとすると、計測信号の変化に対する表示データの
追従性が悪くなり、計測信号の変化に対する表示データ
の追従性を良くすると、表示データのリップルが大きく
なるという問題点があった。
るので、Ａ／Ｄ変換器３の分解精度によるＬＳＢのふら
つきやノイズなどによる表示データのリップルを小さく
しようとすると、計測信号の変化に対する表示データの
追従性が悪くなり、計測信号の変化に対する表示データ
の追従性を良くすると、表示データのリップルが大きく
なるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、表示データのリップルを小さくするとともに
、計測信号に対する表示データの追従性も良好なアナロ
グ量計測装置を得ることを目的とする。
たもので、表示データのリップルを小さくするとともに
、計測信号に対する表示データの追従性も良好なアナロ
グ量計測装置を得ることを目的とする。
この発明に係るアナログ量計測装置は、それ自身の入力
信号の一階差分に基づいて周波数応答特性を制御するこ
とが可能なローパスフィルタ（以下、可変ＬＰＦという
）を設け、その周波数応答特性を前記入力信号の一階差
分大きければ速く、小さければ遅くなるように制御する
ものである。
信号の一階差分に基づいて周波数応答特性を制御するこ
とが可能なローパスフィルタ（以下、可変ＬＰＦという
）を設け、その周波数応答特性を前記入力信号の一階差
分大きければ速く、小さければ遅くなるように制御する
ものである。
この発明におけるアナログ量計測装置は、可変ＬＰＦの
入力信号の一階差分を検出し、その差分が小さな場合に
は前記可変ＬＰＦの周波数応答特性を遅くすることで表
示データのリップルを小さく押さえ、その差分が大きな
場合には前記可変ＬＰＦの周波数応答特性を速くするこ
とで、計測信号に対する表示データの追従性を良くする
。
入力信号の一階差分を検出し、その差分が小さな場合に
は前記可変ＬＰＦの周波数応答特性を遅くすることで表
示データのリップルを小さく押さえ、その差分が大きな
場合には前記可変ＬＰＦの周波数応答特性を速くするこ
とで、計測信号に対する表示データの追従性を良くする
。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、１は計測信号、２はＬＰＦ。
図において、１は計測信号、２はＬＰＦ。
３はＡ／Ｄ変換器、４は表示器、５は制御装置であり、
第９図に同一符号を付した従来のそれらと同一、あるい
は相当部分であるため詳細な説明は省略する。また、８
は前記制御装置５内にめって前記Ａ／Ｄ変換器３の出力
するデジタル信号を入力とし、それ自身の入力信号の一
階差分によってその周波数応答特性が制御可能な、ＤＬ
ＰＦによる可変ＬＰＦである。
第９図に同一符号を付した従来のそれらと同一、あるい
は相当部分であるため詳細な説明は省略する。また、８
は前記制御装置５内にめって前記Ａ／Ｄ変換器３の出力
するデジタル信号を入力とし、それ自身の入力信号の一
階差分によってその周波数応答特性が制御可能な、ＤＬ
ＰＦによる可変ＬＰＦである。
また、第２図は前記制御装置５の構成の一例を示すブロ
ック図であシ、１０はこの制御装置５の制御を掌る中央
処理装置（以下、ＣＰＵという）、１１はＣＰＵ１Ｑの
動作に必要なプログラムが格納されたメモリ、１２は前
記Ａ／Ｄ変換器３からのデジタル信号を受信してＣＰＵ
ＩＱに入力する入力回路、１３はＣＰＵ１Ｑの出力を前
記表示器４へ表示用データとして出力する出力回路、１
４はリセット用のスイッチであシ、第１図に示す可変Ｌ
ＰＦ ９はこれらによって形成される処理システムで、
前記メモリ１１内に格納されたプログラムによって実現
される。
ック図であシ、１０はこの制御装置５の制御を掌る中央
処理装置（以下、ＣＰＵという）、１１はＣＰＵ１Ｑの
動作に必要なプログラムが格納されたメモリ、１２は前
記Ａ／Ｄ変換器３からのデジタル信号を受信してＣＰＵ
ＩＱに入力する入力回路、１３はＣＰＵ１Ｑの出力を前
記表示器４へ表示用データとして出力する出力回路、１
４はリセット用のスイッチであシ、第１図に示す可変Ｌ
ＰＦ ９はこれらによって形成される処理システムで、
前記メモリ１１内に格納されたプログラムによって実現
される。
次に動作について説明する。
計測信号１は、ＬＰＦ２によってリッグル成分の除去さ
れた直流となり、この直流がＡ／Ｄ変換器３にょシデジ
タル信号に変換され、制御装置５に取シ込まれる。制御
装置５はメモリ１１に記憶されている可変ＬＰ１３のプ
ログラムによって動作し、入力回路１２から取り込まれ
たデジタル信号をＣＰＵｌ０で演算処理などを行なって
、出力回路１３ に表示用データとして出力する。表示
器４はこの表示用データに制御され、計測信号１を表示
する。
れた直流となり、この直流がＡ／Ｄ変換器３にょシデジ
タル信号に変換され、制御装置５に取シ込まれる。制御
装置５はメモリ１１に記憶されている可変ＬＰ１３のプ
ログラムによって動作し、入力回路１２から取り込まれ
たデジタル信号をＣＰＵｌ０で演算処理などを行なって
、出力回路１３ に表示用データとして出力する。表示
器４はこの表示用データに制御され、計測信号１を表示
する。
可変ＬＰＦ３の動作説明を行なう前に、ＤＬＰＦの構成
を第３図、第４図を参照しながら説明する。第３図は、
１次ＬＰＦを、抵抗器２０とコンデンサ２１とによるア
ナログ回路で構成したものである。今、入力信号をＶｉ
（ｔ）、出力信号をＶｏ（ｔ）とすると、この回路は次
式で表される。
を第３図、第４図を参照しながら説明する。第３図は、
１次ＬＰＦを、抵抗器２０とコンデンサ２１とによるア
ナログ回路で構成したものである。今、入力信号をＶｉ
（ｔ）、出力信号をＶｏ（ｔ）とすると、この回路は次
式で表される。
（１１式を離散時間Ｔｓで離散化すると、Ｖｏ（ｋ＋１
） ＝ Ｖｏ（ｋ）＋（１−ｅ４ ”）（Ｖｉ （ｋ）
−Ｖ。（。）＝ Ｖｏ （ｋ） ＋Ｇ （Ｖｉ （ｋ）
−Ｖｏ （ｋ） ）（−、−０５１−・−ＲＬ″７“
）・・・・・・・・・（２）ここで、Ｔｓは、 を満足するように選ばなければならない。
） ＝ Ｖｏ（ｋ）＋（１−ｅ４ ”）（Ｖｉ （ｋ）
−Ｖ。（。）＝ Ｖｏ （ｋ） ＋Ｇ （Ｖｉ （ｋ）
−Ｖｏ （ｋ） ）（−、−０５１−・−ＲＬ″７“
）・・・・・・・・・（２）ここで、Ｔｓは、 を満足するように選ばなければならない。
また、Ｇは訂Ｔｓ ＞ ０であるので、Ｇ≦ｌ
・・・・・開明・・・・曲・・曲（４）となる。
・・・・・開明・・・・曲・・曲（４）となる。
第４図は、（２）式をブロック図で示したもので、図に
おいて、２２はゲインＧの乗算子、２３はｌサンプル時
間分の遅延演算子、２４は入力信号Ｖｉ（ｋ）と遅延演
算子２３の出力とを加算する加算素子、２５は乗算子２
２の出力と遅延演算子２３の出力とを加算する加算素子
である。
おいて、２２はゲインＧの乗算子、２３はｌサンプル時
間分の遅延演算子、２４は入力信号Ｖｉ（ｋ）と遅延演
算子２３の出力とを加算する加算素子、２５は乗算子２
２の出力と遅延演算子２３の出力とを加算する加算素子
である。
可変ＬＰＦ９の動作を、第５図を参照しながら説明する
。第５図は前記可変ＬＰＦ動作の手順を示スフローチャ
ートでアシ、例えばプログラムとしてメモリ１１内に格
納されている。
。第５図は前記可変ＬＰＦ動作の手順を示スフローチャ
ートでアシ、例えばプログラムとしてメモリ１１内に格
納されている。
先ず、スイッチ１４が押されると、制御装置５はリセッ
トされ、ステップＳＴ１にてメモリ１１゜入力回路１２
．出力回路１３及びＣＰＵ１０のなかのレジスタ等がイ
ニシャライズされ、次いでサンプリング時間Ｔｓ毎に割
込がかかるようにセットしてから、割込待ちの状態にす
る（ステップ５Ｔ２）。ここで、Ａ／Ｄ変換器３よシ入
力回路１２にデジタル信号が入力されて割込が発生する
と、ＣＰＵ１ＱはステップＳＴ３〜ステップＳＴ９の処
理を実行し、終了するとステップＳＴ２の割込待ちの状
態へ戻る。ステップＳＴ３〜ステップＳＴ９の処理内容
は、可変ＬＰＦ９の実際の動作であり、（２）式の計算
をゲインＧを適応ゲインに制御しながら行うもので、詳
細は次に説明する。
トされ、ステップＳＴ１にてメモリ１１゜入力回路１２
．出力回路１３及びＣＰＵ１０のなかのレジスタ等がイ
ニシャライズされ、次いでサンプリング時間Ｔｓ毎に割
込がかかるようにセットしてから、割込待ちの状態にす
る（ステップ５Ｔ２）。ここで、Ａ／Ｄ変換器３よシ入
力回路１２にデジタル信号が入力されて割込が発生する
と、ＣＰＵ１ＱはステップＳＴ３〜ステップＳＴ９の処
理を実行し、終了するとステップＳＴ２の割込待ちの状
態へ戻る。ステップＳＴ３〜ステップＳＴ９の処理内容
は、可変ＬＰＦ９の実際の動作であり、（２）式の計算
をゲインＧを適応ゲインに制御しながら行うもので、詳
細は次に説明する。
まず、ステップ８Ｔ３ではＡ／Ｄ変換器３からデジタル
信号Ｖｉ（ｋ）を入力する。次に、ステップ８Ｔ４にて
この入力信号Ｖ ｉ （ｋ）とｌサンプリング前の入力
信号Ｖｉ（ｋ−１）とを比較して、その差である一階差
分が所定値８より小さいか否かの判定を行う。
信号Ｖｉ（ｋ）を入力する。次に、ステップ８Ｔ４にて
この入力信号Ｖ ｉ （ｋ）とｌサンプリング前の入力
信号Ｖｉ（ｋ−１）とを比較して、その差である一階差
分が所定値８より小さいか否かの判定を行う。
ここで、所定値εは、
ｘ ＝ ｒ ｘ （Ａ／Ｄ変換器出力のふらつき）とす
る。
る。
ステップ８Ｔ４０判定の結果、入力信号の一階差分Ｉ
Ｖｉ（ｋ） −Ｖｉ（ｋ−１） Ｉが所定値ε未満であ
る場合、ステップＳＴ５にてゲインＧを低速ゲインＧＬ
にして、可変ＬＰＦｇの応答を遅＜Ｌ、Ａ／Ｄ変換器３
の出力のふらつきが出力信号ｖＯ（ｋ）に及ぼす影響を
小さくする。
Ｖｉ（ｋ） −Ｖｉ（ｋ−１） Ｉが所定値ε未満であ
る場合、ステップＳＴ５にてゲインＧを低速ゲインＧＬ
にして、可変ＬＰＦｇの応答を遅＜Ｌ、Ａ／Ｄ変換器３
の出力のふらつきが出力信号ｖＯ（ｋ）に及ぼす影響を
小さくする。
また、ステップＳＴ４の判定の結果、入力信号の一階差
分１ ｖｉ＜ｋ＞−ｖｉ（ｋ−ｘ）ｌが所定値ε以上で
ある場合、ステップ８Ｔ５にてゲインＧを高速ゲインＧ
Ｍにして、可変ＬＰＦｇの応答を速くし、出力信号Ｖｏ
（ｋ）がＡ／Ｄ変換器３の出力と等しくなるまでの時間
を速くする。
分１ ｖｉ＜ｋ＞−ｖｉ（ｋ−ｘ）ｌが所定値ε以上で
ある場合、ステップ８Ｔ５にてゲインＧを高速ゲインＧ
Ｍにして、可変ＬＰＦｇの応答を速くし、出力信号Ｖｏ
（ｋ）がＡ／Ｄ変換器３の出力と等しくなるまでの時間
を速くする。
次いで、ステップＳＴγにてＤＬＰＦの演算を行なう。
ステップ８Ｔｇでは得られた出力信号Ｖｏ（ｋ＋Ｂをｖ
Ｏ（ｋ）とし、さらに次回のＤＬＰＦの演算に備えるた
め、今回の入力信号Ｖｉ（ｋ）を１サンプリング前の入
力信号Ｖｉ（ｋ−１）とする。
Ｏ（ｋ）とし、さらに次回のＤＬＰＦの演算に備えるた
め、今回の入力信号Ｖｉ（ｋ）を１サンプリング前の入
力信号Ｖｉ（ｋ−１）とする。
最後にステップ８Ｔ９にてその新たなＶｏ （ｋ）を表
示用データに変換して出力回路１３へ出力し、表示器４
に表示する。
示用データに変換して出力回路１３へ出力し、表示器４
に表示する。
第６図は以上のアルゴリズムによる可変ＬＰＦ８の動作
をアナログ的に示した波形図である。第６図（ａ）はＡ
／Ｄ変換器３の出力信号、第６図（ｂ）は可変ＬＰＦｇ
の出力信号である。
をアナログ的に示した波形図である。第６図（ａ）はＡ
／Ｄ変換器３の出力信号、第６図（ｂ）は可変ＬＰＦｇ
の出力信号である。
ＴＯかＣ，Ｔｉｔで（７）時１１Ｊ［，１Ｖｉ（ｋ）
−Ｖｉ（ｋ−１）１くｅであるのでＧ＝ＧＬとなってお
り、可変ＬＰＦ８の周波数応答特性は遅くなシ、表示用
データが第６図（ａ）に示すＡ／Ｄ変換信号のリップル
の影響を受けにくくなっている。
−Ｖｉ（ｋ−１）１くｅであるのでＧ＝ＧＬとなってお
り、可変ＬＰＦ８の周波数応答特性は遅くなシ、表示用
データが第６図（ａ）に示すＡ／Ｄ変換信号のリップル
の影響を受けにくくなっている。
Ｔ１からＴ２までの時間は、計測信号に大きな変化２＞
１６ ツタタメニ、１Ｖｉ（ｋ）−Ｖｉ（ｋ−ｔ）ｌ≧
６となるのでＧ ＝ ＧＨとなシ、可変Ｉ、ＰＦの周波
数応答特性が速くなって、表示用データが第６図（ａ）
のＡ／Ｄ変換信号に良好に追従する。
１６ ツタタメニ、１Ｖｉ（ｋ）−Ｖｉ（ｋ−ｔ）ｌ≧
６となるのでＧ ＝ ＧＨとなシ、可変Ｉ、ＰＦの周波
数応答特性が速くなって、表示用データが第６図（ａ）
のＡ／Ｄ変換信号に良好に追従する。
Ｔ２からＴｓｉでの時間は、前記ＴｏからＴ１までの時
間と同じようで、表示データがＡ／Ｄ変換信号のリップ
ルの影響を受けに〈〈なりている。
間と同じようで、表示データがＡ／Ｄ変換信号のリップ
ルの影響を受けに〈〈なりている。
なお、上記実施例では、可変ＬＰＦ８が１次フィルタの
場合について説明したが、２次以上のフィルタであって
もよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
場合について説明したが、２次以上のフィルタであって
もよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例では、Ａ／Ｄ変換器３の前にアナログ
回路で構成されたＬＰＦ２を設けたものを示したが、第
７図に示すように、このＬＰＦ２を割愛して制御装置５
の中に平均値を得る平均回路６、又はＤＬＰＦ７を設け
、これらによって計測信号１のリップル成分を減衰させ
るようにしてもよく、リップル成分が減衰されれば、可
変ＬＰＦ８によって、上記実施例と同様の効果が得られ
る。
回路で構成されたＬＰＦ２を設けたものを示したが、第
７図に示すように、このＬＰＦ２を割愛して制御装置５
の中に平均値を得る平均回路６、又はＤＬＰＦ７を設け
、これらによって計測信号１のリップル成分を減衰させ
るようにしてもよく、リップル成分が減衰されれば、可
変ＬＰＦ８によって、上記実施例と同様の効果が得られ
る。
以上のように、この発明によれば、それ自身の入力信号
の一階差分に基づいて周波数応答特性の制御が可能な可
変ＬＰＦＩ設け、その周波数応答特性を前記入力信号の
一階差分が大きければ速く、小さければ遅くな°るよう
に制御するように構成したので、表示データのリップル
を増大させることなく、計測信号に対する表示データの
追従性を改善できる効果がある。
の一階差分に基づいて周波数応答特性の制御が可能な可
変ＬＰＦＩ設け、その周波数応答特性を前記入力信号の
一階差分が大きければ速く、小さければ遅くな°るよう
に制御するように構成したので、表示データのリップル
を増大させることなく、計測信号に対する表示データの
追従性を改善できる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるアナログ量の計測装
置を示すブロック図、第２図はその制御装置の詳細を示
すブロック図、第３図及び第４図はＤＬＰＦの構成を説
明するためのＬＰＦの回路図及びＤＬＰＦのブロック図
、第５図は可変ＬＰＦの動作手順を示すフローチャート
、第６図は可変ＬＰＦの動作説明のための波形図、第７
図はこの発明の他の実施例を示すブロック図、第８図は
従来のモニタリングシステムの機能説明図、第９図は従
来のアナログ計測装置を示すブロック図、第１Ｏ図はそ
の動作説明のための波形図である。 １は計測信号、３はＡ／Ｄ変換器、４は表示器、５は制
御装置、８はローパスフィルタ（可変ＬＰＦ）。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 特許出願人 三菱電機株式会社 代理人 弁理士 １）澤 博 昭１−（外２名） 第１図 １：計屓（」信号 第２図 １：計漫・ｊ信号 第９図
置を示すブロック図、第２図はその制御装置の詳細を示
すブロック図、第３図及び第４図はＤＬＰＦの構成を説
明するためのＬＰＦの回路図及びＤＬＰＦのブロック図
、第５図は可変ＬＰＦの動作手順を示すフローチャート
、第６図は可変ＬＰＦの動作説明のための波形図、第７
図はこの発明の他の実施例を示すブロック図、第８図は
従来のモニタリングシステムの機能説明図、第９図は従
来のアナログ計測装置を示すブロック図、第１Ｏ図はそ
の動作説明のための波形図である。 １は計測信号、３はＡ／Ｄ変換器、４は表示器、５は制
御装置、８はローパスフィルタ（可変ＬＰＦ）。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 特許出願人 三菱電機株式会社 代理人 弁理士 １）澤 博 昭１−（外２名） 第１図 １：計屓（」信号 第２図 １：計漫・ｊ信号 第９図
Claims (1)
- アナログ量による計測信号をアナログ・デジタル変換器
にてデジタル化し、制御装置によつて表示器に表示する
アナログ量計測装置において、前記制御装置に周波数応
答特性を制御することが可能なローパスフィルタを設け
、前記ローパスフィルタの周波数応答特性を、当該ロー
パスフィルタの入力信号の変化率が大きければ速く、小
さければ遅くなるように制御することを特徴とするアナ
ログ量計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62293645A JPH01136016A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | アナログ量計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62293645A JPH01136016A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | アナログ量計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136016A true JPH01136016A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17797393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62293645A Pending JPH01136016A (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | アナログ量計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01136016A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011095121A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Okuma Corp | 位置検出装置 |
| JP2012078227A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Nsk Ltd | 回転部材用物理量測定装置 |
| JP2012150025A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2014517307A (ja) * | 2011-06-09 | 2014-07-17 | 玉山 ▲ハオ▼ | 連続物理量のデータ集録方法及び装置 |
| JP6222721B1 (ja) * | 2017-05-18 | 2017-11-01 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置、タービンシステム、信号処理方法及びプログラム |
-
1987
- 1987-11-20 JP JP62293645A patent/JPH01136016A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011095121A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Okuma Corp | 位置検出装置 |
| JP2012078227A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Nsk Ltd | 回転部材用物理量測定装置 |
| JP2012150025A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2014517307A (ja) * | 2011-06-09 | 2014-07-17 | 玉山 ▲ハオ▼ | 連続物理量のデータ集録方法及び装置 |
| JP6222721B1 (ja) * | 2017-05-18 | 2017-11-01 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置、タービンシステム、信号処理方法及びプログラム |
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