JPH01134548A - Memory device - Google Patents

Memory device

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Publication number
JPH01134548A
JPH01134548A JP62292893A JP29289387A JPH01134548A JP H01134548 A JPH01134548 A JP H01134548A JP 62292893 A JP62292893 A JP 62292893A JP 29289387 A JP29289387 A JP 29289387A JP H01134548 A JPH01134548 A JP H01134548A
Authority
JP
Japan
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data
partial
check bit
register
write data
Prior art date
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Pending
Application number
JP62292893A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuji Kawazu
河津 裕治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH01134548A publication Critical patent/JPH01134548A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To simplify the constitution of a memory device by inhibiting a multi- step shift register holding various data on partial writing jobs from holding the partial write data. CONSTITUTION:For the partial write data DP, a check bit is first produced to a part related to the corresponding write data DP via a partial check bit production part 3. The data DP is set at a write data register 7 and only the partial write position information BM and a partial check bit CHP are shifted by shift registers 4 and 5 respectively. With output of the read data, a check bit is produced by the data which is not to be rewritten out of those read data. This check bit is combined with said partial check bit for production of a check bit for the new write data. This produced check bit is set at the register 7 together with the data not to be rewritten.

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] 多数のメモリバンクを備えパイプライン制御により高速
にアクセスする記憶装置において、データの部分書込み
アクセスのための構成を備えた記憶装置に関し、 部分書き込みの各種データを保持する多段のシフトレジ
スタに部分書き込みデータを保持させないようにして回
路構成を簡単化する記憶装置を提供することを目的とし
、  ・ nバイトのデータを1アクセスの単位として読書きする
メモリバンクを複数個備えパイプライン制御により多重
にアクセスし、エラーの検出および訂正のためのチェッ
クビットを付加して記憶する記憶装置において、記憶デ
ータの一部書き換え指令により与えられた部分書き込み
データと部分書き込み位置情報をうけとるレジスタと、
部分書き込みデータと部分書き込み位置情報とにより部
分チェックビットを作成する部分チェックビット作成部
と、該部分チエツクピットと部分書き込み位置情報とを
原データが読出されるまで保持するシフトレジスタと、
記憶装置から読出した原データのうち部分書込み位置情
報により書き換えられない位置のデータについて発生し
たチェックビットと前記部分チエツクピットとにより書
き換え後のデータのチェックビットを合成するチェック
ビット合成部とを備えるよう構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] The present invention relates to a storage device having a configuration for partial write access of data in a storage device having a large number of memory banks and accessed at high speed by pipeline control. The purpose is to provide a storage device that simplifies the circuit configuration by preventing partially written data from being held in a multi-stage shift register. Partial write data and partial write position information given by a partial rewrite command of stored data in a storage device that is accessed multiple times through individual pipeline control and stores data with check bits added for error detection and correction. a register that receives
a partial check bit creation unit that creates partial check bits based on partial write data and partial write position information; a shift register that holds the partial check pits and partial write position information until the original data is read;
The present invention includes a check bit synthesis unit that synthesizes a check bit of data after rewriting using a check bit generated for data at a position that cannot be rewritten according to partial write position information among the original data read from a storage device and the partial check pit. Configure.

[産業上の利用分野] 本発明は、多数のメモリバンクを備えパイプライン制御
により高速にアクセスする記憶装置において、データの
部分書込みアクセスのための構成を備えた記憶装置に関
する。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to a storage device that includes a large number of memory banks and is accessed at high speed through pipeline control, and has a configuration for partial data write access.

近年、記憶装置の発展はめざましいものがあり、半導体
メモリの大容量化と高速化が図られている。
In recent years, storage devices have made remarkable progress, and efforts are being made to increase the capacity and speed of semiconductor memories.

しかし、メモリの記憶素子の速度はプロセッサ(中央処
理装置)の速度に比して遅いため、実効的にメモリアク
セス時間を高速化するための技術が採用されている。そ
の技術の中にメモリバンクを複数個設け、インターリー
ブ方式(メモリアドレスを順次異なるメモリバンクに割
り当てる方式)によるメモリアクセスをパイプライン制
御方式で実行する方式がある。
However, since the speed of a memory storage element is slower than the speed of a processor (central processing unit), techniques have been adopted to effectively speed up memory access time. Among these techniques, there is a method in which a plurality of memory banks are provided and memory access is performed using an interleave method (a method in which memory addresses are sequentially assigned to different memory banks) using a pipeline control method.

そのような方式の記憶装置に対し、記憶されたデータの
一部分を書き換える動作を実行する場合、初めに記憶装
置から該当するデータを読出しくリードREAD)で、
その読み出したデータの一部を指令により与えられた一
部書き込みデータにより置き換えて、その置き換えられ
たデータからエラー訂正および検出のためのチェックビ
ットを作成し、前記ライトデータとともに記憶装置に書
き込む(ライト:WRITE)動作が行われており、前
記データの一部分を書き換える動作を実行する際にチェ
ックビットの発生のための構成を改善することが要望さ
れていた。
When performing an operation to rewrite part of the stored data on such a storage device, first read the corresponding data from the storage device (READ).
Part of the read data is replaced with partial write data given by the command, check bits for error correction and detection are created from the replaced data, and are written to the storage device along with the write data (write data). :WRITE) operation is being performed, and it has been desired to improve the configuration for generating a check bit when performing an operation of rewriting a portion of the data.

[従来の技術] 従来例のブロック構成を第3図に示す。[Conventional technology] FIG. 3 shows a block configuration of a conventional example.

第3図において、30は多数のノ輸トからなる部分書き
込み指示データが設定されるライトデータレジスタ、3
1−1〜31−mは各々がレジスタ30と同一の記憶容
量のレジスタであり全体でシフトレジスタを構成する、
32は部分書き込みデータ結合回路、33−1.33−
2はチェックビット作成回路、34−1〜34〜nはラ
イトデータ選択回路、35−1〜35nhメモリライト
データレジスタ、36−1〜36nはメモリバンク1〜
n、37−1〜37−nはメモリリードレジスタ、38
はリードデータ選択回路、39はエラー検出訂正回路を
表す。
In FIG. 3, reference numeral 30 denotes a write data register in which partial write instruction data consisting of a large number of data is set;
1-1 to 31-m each have the same storage capacity as the register 30, and together constitute a shift register.
32 is a partial write data combination circuit, 33-1.33-
2 is a check bit creation circuit, 34-1 to 34-n are write data selection circuits, 35-1 to 35nh are memory write data registers, and 36-1 to 36n are memory banks 1 to 34-n.
n, 37-1 to 37-n are memory read registers, 38
3 represents a read data selection circuit, and 39 represents an error detection and correction circuit.

第3図の構成による部分書き込み動作を以下に説明する
A partial write operation using the configuration shown in FIG. 3 will be explained below.

まず、中央処理装置からメモリ制御装置(図示せず)を
介して部分書き込みアクセスが発生すると、ライトデー
タレジスタ30には部分書き込みデータDp(パリティ
ビットを含む)、書き込み位置情報BM(1アクセスで
nバイトデータを読み書きする場合、一部書き換えの対
象となるバイト位置に育効の表示をし、他のバイト位置
に無効の表示をするnビットのバイトマークと称する情
報)、およびnビットのパリティビットPが設定される
First, when a partial write access occurs from the central processing unit via the memory control device (not shown), the write data register 30 stores partial write data Dp (including parity bit) and write position information BM (n in one access). When reading and writing byte data, an n-bit byte mark (information called an n-bit byte mark that indicates the effectiveness of some byte positions that are subject to rewriting and an invalid indication of other byte locations), and an n-bit parity bit P is set.

この時記憶装置は図示しないアドレス制[1と読み出し
制御線とが駆動されて原データ(書き換えの対象となる
データ)の読み出し動作が対応するアドレスのメモリバ
ンクに対し開始される。
At this time, the address system [1 (not shown) and the read control line of the storage device are driven, and the read operation of the original data (data to be rewritten) is started for the memory bank at the corresponding address.

一方、記憶装置のメモリサイクルは中央処理装置のサイ
クルタイムに比較して遅いので、記憶装置に読み出しア
クセスを開始して読み出しデータが出力するまでに中央
処理装置からは次々とメモリに対してアクセスが行われ
る。そのために記憶装置はメモリバンクをn(l!備え
て、インターリ一ピング方式が採用され、異なるメモリ
バンク間では同時並列にアクセス動作が行われる。
On the other hand, since the memory cycle of the storage device is slower than the cycle time of the central processing unit, the central processing unit must access the memory one after another until the read access to the storage device is started and the read data is output. It will be done. For this purpose, the storage device includes n(l!) memory banks, and an interleaving method is adopted, so that access operations are performed simultaneously and in parallel between different memory banks.

部分書き換えアクセスによりレジスタ30に設定された
各データは、原データがメモリバンクから直ぐに読み出
されないので、シフトレジスタ31−1〜31−mを中
央処理装置のサイクルで並行(多数ビット力すして順次
シフトし遅延回路として機能する。そして、メモリバン
ク36の1つ、例えばメモリバンク1  (36−1)
からメモリリードレジスタl  (37−1>に読み出
しデータが出力してセットされると、そのタイミングで
シフトレジスタ31−mに部分書き換えデータがセット
される。
Each data set in the register 30 by partial rewriting access is stored in shift registers 31-1 to 31-m in parallel (by inputting multiple bits sequentially) in the central processing unit cycle, since the original data is not read out immediately from the memory bank. One of the memory banks 36, for example memory bank 1 (36-1), functions as a shift and delay circuit.
When read data is output and set from memory read register l (37-1>), partial rewrite data is set to shift register 31-m at that timing.

メモリリードレジスタ1  (37−1)の内容はリー
ドデータ選択回路38を通ってエラー検出訂正回路39
においてチェックビットを用いてエラーの検出動作と訂
正動作を行い、正しいデータDaを部分書き込みデータ
結合回路32に供給し、シフトレジスタ31−mからの
部分書き込み位置情報BMに基づいて読み出しデータD
aと部分書き込みデータDpとを結合する。
The contents of the memory read register 1 (37-1) are passed through the read data selection circuit 38 to the error detection and correction circuit 39.
, performs error detection and correction operations using check bits, supplies correct data Da to the partial write data coupling circuit 32, and reads out the read data D based on the partial write position information BM from the shift register 31-m.
a and partial write data Dp are combined.

この場合、部分書き込み位置情報BMにより無効表示が
されたバイト位置にデータDaのバイトはそのまま新デ
ータに使われ、有効表示がなされたバイト位置に部分書
き込みデータDpが新データに組み込まれる。
In this case, the byte of the data Da at the byte position indicated as invalid by the partial write position information BM is used as new data as is, and the partial write data Dp is incorporated into the new data at the byte position indicated as valid.

この結合された書き換え済データはチェックビット作成
回路33−1に供給されて、チェックビットを作成し、
データと共にライトデータ選択回路34−1  (メモ
リバンクl用)を通ってメモリライトデータレジスタ3
5にセントされて、書き込み動作が行われる。なお、チ
ェックビット作成回路33−2はアクセスするデータの
全体を書き換える場合に使用する(読み出す必要がない
場合)。
This combined rewritten data is supplied to the check bit creation circuit 33-1 to create a check bit,
The data is passed through the write data selection circuit 34-1 (for memory bank l) to the memory write data register 3.
5 cents and a write operation is performed. Note that the check bit creation circuit 33-2 is used when rewriting the entire data to be accessed (when there is no need to read it).

[発明が解決しようとする問題点] 従来例の構成によれば、部分書き込みアクセスの処理は
メモリリードアクセスおよびリードデータの訂正が終了
するまでの間部分書き込みデータを保持しておかなけれ
ばならない。
[Problems to be Solved by the Invention] According to the configuration of the conventional example, partial write access processing requires holding partial write data until the memory read access and correction of the read data are completed.

ところが、上記したように部分書き込みの各種データ(
部分書き込みデータDp、部分書き込み位置情報BM、
パリティビットPよりなる)は、例えば8バイト構成の
記憶装置の場合、部分書き込みデータDpは最大8バイ
ト、部分書き込み位置情報BMが8ビツト、パリティビ
ットが8ビツトの計10バイト(80ビツト)となり、
それをシフトするレジスタの回路量は真人となる。
However, as mentioned above, various types of partially written data (
Partial write data Dp, partial write position information BM,
For example, in the case of an 8-byte storage device, the partial write data Dp is 8 bytes maximum, the partial write position information BM is 8 bits, and the parity bit is 8 bits, for a total of 10 bytes (80 bits). ,
The amount of circuitry in the register that shifts it is true.

そして近年の半導体技術の向上およびシステム性能の向
上によるマシンクロックの高速化によってさらにシフト
レジスタ段を増大させる必要性が増す傾向にあり、回路
構成が大型化、複雑化するという問題があった。
In addition, as machine clock speeds have increased due to improvements in semiconductor technology and system performance in recent years, there has been a tendency for the need to further increase the number of shift register stages, resulting in the problem of larger and more complex circuit configurations.

本発明は部分書き込みの各種データを保持する多段のシ
フトレジスタに部分書き込みデータを保持させないよう
にして回路構成を簡単化する記憶装置を提供することを
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a storage device that simplifies the circuit configuration by preventing a multi-stage shift register that holds various types of partial write data from holding partial write data.

[問題点を解決するための手段] 本発明の基本的構成を第1図に示す。[Means for solving problems] The basic configuration of the present invention is shown in FIG.

第1図において、lは部分書き込み位置情報がセットさ
れるレジスタ、2は部分書き込みデータがセットされる
レジスタ、3は部分チェックビット作成部、4−1〜4
−6はレジスタlの内容をシフト保持する多段(図の場
合6段)のシフトレジスタ、5−1〜5−6は部分チェ
ックビット(CHp)をシフト保持する多段のシフトレ
ジスタ、6は書き込みデータ選択回路、7は書き込みデ
ータレジスタ、8はメモリバンク、9は読み出しデータ
レジスタ、10は読み出しデータ選択回路、11はエラ
ー検出訂正回路、12はチェックビット合成部を表す。
In FIG. 1, l is a register where partial write position information is set, 2 is a register where partial write data is set, 3 is a partial check bit creation unit, and 4-1 to 4
-6 is a multistage (6 stages in the figure) shift register that shifts and holds the contents of register l, 5-1 to 5-6 are multistage shift registers that shift and hold the partial check bit (CHp), and 6 is write data. A selection circuit, 7 a write data register, 8 a memory bank, 9 a read data register, 10 a read data selection circuit, 11 an error detection and correction circuit, and 12 a check bit synthesis section.

なお、この第1図には図示省略されているが他に多数の
メモリバンクと関連する構成を備える。
Although not shown in FIG. 1, there are many other structures related to memory banks.

本発明は部分書き込みデータについては、最初に部分チ
ェックビット作成部3により当該書き込みデータが関係
する部分に対してチェックビットを作成し、部分書き込
みデータDpは書き込みデ−タレジスタフにセットして
おき、部分書き込み位置情報BMと部分チェックビット
CHpだけを各々のシフトレジスタ4.5によりシフト
して、読出しデータが出力されたら、その中の書き換え
の対象に入ってないデータによりチェックビットを作成
しそのチエツクピットと前記部分チェックビットとを組
み合わせて新たな書き込みデータのチェックビットを合
成し、書き換え対象外のデータとともに書き込みデータ
レジスタにセットするものである。
Regarding partial write data, the present invention first creates a check bit for the part related to the write data by the partial check bit creation section 3, sets the partial write data Dp in the write data register, and then Only the write position information BM and the partial check bit CHp are shifted by each shift register 4.5, and when the read data is output, a check bit is created from the data that is not subject to rewriting and the check pit is A check bit of new write data is synthesized by combining the check bit and the partial check bit, and is set in the write data register together with the data not to be rewritten.

[作用] 部分書き込み位置情報が端子Xに入力してレジスタ1に
セットされ、部分書き込みデータが端子yに入力してレ
ジスタ2にセットされる。この場合、人力するデータは
バスから並列にセントされる。
[Operation] Partial write position information is input to terminal X and set in register 1, and partial write data is input to terminal y and set in register 2. In this case, the human input data is sent in parallel from the bus.

また書き換えの対象となるデータ(原データ)の読み出
しアクセスが図示しない回路(従来と同様対応するアド
レスの読み出し制御線を駆動する)においてされる。
Further, read access to the data to be rewritten (original data) is performed in a circuit (not shown) (which drives the read control line of the corresponding address as in the conventional case).

部分チェックビット作成部3はレジスタ1.2にデータ
がセントされると直ちに部分書きこみデータについての
チェックビットを作成(複数バイトの各ビット位置の情
報を特定のパターンにより組み合わせて複数のチエツク
ピットを作成)する。
Partial check bit creation unit 3 creates check bits for partial write data immediately after data is sent to register 1.2 (combines information at each bit position of multiple bytes according to a specific pattern to create multiple check pits). create.

ただし、この時は部分書き込み位置情報BMにより指示
された部分書き込みデータだけを有効なデータとし、他
のバイト位置のデータは無効データ(オール“0′)と
して処理される。
However, at this time, only the partial write data designated by the partial write position information BM is treated as valid data, and the data at other byte positions are treated as invalid data (all "0's").

作成された部分チェックビットCHpはシフトレジスタ
5−1に並列にセットされ、同時にシフトレジスタ4−
1にセットされた部分書き込み位置情報BMとともに処
理装置のマシンサイクルにより順次シフトされる。
The created partial check bit CHp is set in parallel in the shift register 5-1, and at the same time, the partial check bit CHp is set in the shift register 5-1.
Together with the partial write position information BM set to 1, it is sequentially shifted by the machine cycle of the processing device.

部分チェックビット作成動作と並行して部分書き込みデ
ータDpは部分書き込み位置情報BMの指示により書き
込みデータ選択回路6において選択され、書き込みデー
タレジスタフの一部にセットされる。
In parallel with the partial check bit creation operation, the partial write data Dp is selected by the write data selection circuit 6 according to the instruction of the partial write position information BM, and is set in a part of the write data register.

原データの続出出力が読み出しデータレジスタ9にセフ
)され読み出しデータ選択回路10を介してエラー検出
訂正回路11に入力し、読み出しデータ中のチエツクピ
ットを用いてエラー検出・訂正動作が行われて誤りのな
いデータ(これをDaという)をチェックビット合成部
12に供給するとともに書き込みデータ選択回路6に与
える。
The continuous output of the original data is sent to the read data register 9 and input to the error detection and correction circuit 11 via the read data selection circuit 10, where error detection and correction operations are performed using check pits in the read data to detect errors. Data (referred to as Da) without a check bit is supplied to the check bit synthesis unit 12 and also to the write data selection circuit 6.

原データがメモリバンクから読み出されるタイミングで
シフトレジスタ4.5の最終段4−6.5−6に部分書
き込み位置情報BMと部分チエツクピッt−CHpがシ
フトされ、部分書き込み位置情報BMはチェックビット
合成部12の有効データ選択回路121の制御信号とし
て入力され、原データDaのうち書き換えられない位置
(位置情報BMにより無効表示のバイト位置は原データ
がそのまま残る位置)のデータを選択してチェックビッ
ト作成回路122へ出力する。
Partial write position information BM and partial check pit t-CHp are shifted to the final stage 4-6.5-6 of shift register 4.5 at the timing when the original data is read from the memory bank, and partial write position information BM is subjected to check bit synthesis. It is input as a control signal to the valid data selection circuit 121 of the section 12, and selects the data in the position that cannot be rewritten in the original data Da (the byte position indicated as invalid by the position information BM is the position where the original data remains as is) and checks the data as a check bit. It is output to the creation circuit 122.

チェックビット作成回路122では原データの書き換え
られない部分だけでチェックビットを作成し、その結果
をチェックビット合成回路123へ供給する。この時、
チェックビット合成回路123にはシフトレジスタ5の
最終段のレジスタ5−6から部分チェックビットCHp
が入力されているので2つのチエツクピットを排他的論
理和をとることにより書き換え後のデータ全体のチエツ
クピット(これをCHという)を合成して出力する。
The check bit creation circuit 122 creates check bits only from the portion of the original data that cannot be rewritten, and supplies the result to the check bit synthesis circuit 123. At this time,
The check bit synthesis circuit 123 receives partial check bits CHp from the final stage register 5-6 of the shift register 5.
is input, the two check pits are exclusive-ORed to synthesize and output the check pits (referred to as CH) of the entire data after rewriting.

このチェックビットCHは書き込みデータ選択回路6を
介して書き込みデータレジスタ7のチェックビットの所
定位置に格納される。また上記の書き込みデータ選択回
路6に供給された原データDaはシフトレジスタ4−6
から出力されている部分書き込み位置情報BMの反転情
報により選択されて、書き換えが行われる部分以外の位
置のデータを有効として書き込みデータレジスタフにセ
ットされる。
This check bit CH is stored in a predetermined check bit position of the write data register 7 via the write data selection circuit 6. Further, the original data Da supplied to the write data selection circuit 6 is transferred to the shift register 4-6.
The partial write position information BM outputted from the partial write position information BM is selected based on the inverted information, and data at positions other than the part to be rewritten is set as valid in the write data register.

これにより、原データを部分的に書き換えた新たなデー
タがチェックビットとともに書き込みデータレジスタ7
に格納され、その内容が元のアドレスに書き込まれる。
As a result, new data that has partially rewritten the original data is added to the write data register 7 along with the check bit.
and its contents are written to the original address.

この構成の場合、シフトレジスタ4.5の各々の各段は
、部分書き込み位置情報を保持するためビット数(8バ
イトを読み書きする場合、8ビツトで位置指定できる)
と、部分チェックビットのビット数(8バイトデータに
対し、例えば8ビツトのチェックビット)の容量で足り
、従来のように多バイト(例えば8バイト)のデータを
シフトするためのシフトレジスタは必要なくなった。
In this configuration, each stage of the shift register 4.5 has the number of bits to hold partial write position information (when reading or writing 8 bytes, the position can be specified with 8 bits).
The capacity of the partial check bits (for example, 8 check bits for 8 bytes of data) is sufficient, and the conventional shift register for shifting multi-byte (for example, 8 bytes) data is no longer necessary. Ta.

[実施例] 本発明の実施例の構成を第2図(alに示し、そのなか
の部分チェックビット合成部の構成を第2図(blに示
し、エラーチエツクおよびチェックビット合成部の構成
を第2図(C1に示す。
[Embodiment] The configuration of an embodiment of the present invention is shown in FIG. 2 (al), the configuration of a partial check bit synthesis section thereof is shown in FIG. 2 (bl), and the configuration of the error check and check bit synthesis section is shown in FIG. Figure 2 (shown in C1).

第2図(alにおいて、21〜29は上記第1図の符号
1〜9に対応するものであり、21は部分書き込み位置
情報がセットされるレジスタ、22は部分書き込みデー
タを含むライトデータがセットされるレジスタ、23は
部分チェックビット作成部、24−1〜24−mはレジ
スタ1の内容をシフト保持する多段(図の場合6段)の
シフトレジスタ、25−1〜25−mは部分チェックビ
ット(CHp)をシフト保持する多段のシフトレジスタ
、26−1〜26−nはライトデータセレクタ、27−
1〜27−nはライトデータレジスタ、281〜28−
nはメモリバンク、29−1〜29−nはリードデータ
レジスタ、40はリードデータセレクタ、41はエラー
チエツク・チェックビット作成部を表す。
In Figure 2 (al), 21 to 29 correspond to the numbers 1 to 9 in Figure 1 above, 21 is a register in which partial write position information is set, and 22 is a register in which write data including partial write data is set. 23 is a partial check bit creation unit, 24-1 to 24-m are multistage (6 stages in the figure) shift registers that shift and hold the contents of register 1, and 25-1 to 25-m are partial check registers. A multi-stage shift register for shifting and holding bits (CHp), 26-1 to 26-n are write data selectors, 27-
1 to 27-n are write data registers, 281 to 28-
n represents a memory bank, 29-1 to 29-n read data registers, 40 a read data selector, and 41 an error check/check bit generator.

第2図+8)の基本的動作は第1図の基本的構成の作用
の説明と同様である。
The basic operation of FIG. 2+8) is the same as the explanation of the operation of the basic configuration shown in FIG.

動作の概略を説明すると、部分書き込みが指示されると
、原データのリード(読み出し)アクセスが行われると
ともに部分書き込み位置情報(8ビツト)BMと部分書
き込みデータ(パリティビットを含む)が各々レジスタ
21.22に入力する。
To explain the outline of the operation, when a partial write is instructed, read access to the original data is performed, and partial write position information (8 bits) BM and partial write data (including parity bit) are respectively stored in the register 21. Enter .22.

そして、部分チェックビット作成部23において部分チ
エツクピッ)CHpが作成され、部分チエツクビン)C
Hpはシフトレジスタ25の初段にセントされ、部分書
き込み位置情報はシフトレジスタ24の初段にセントさ
れる。
Then, in the partial check bit creation section 23, a partial check bit (CHp) is created, and a partial check bit (CHp) is created.
Hp is sent to the first stage of the shift register 25, and partial write position information is sent to the first stage of the shift register 24.

また、部分書き込みデータはチェックビット作成部23
を通うてライトデータセレクタ26において部分書き込
み位置情報BMにより指定されてライトデータレジスタ
27の位置にセットされる。
Also, the partial write data is stored in the check bit creation unit 23.
The partial write position information BM is specified by the write data selector 26 and set at the position of the write data register 27.

部分チェックビット作成部23の構成は第2図中)に示
され、同図において部分書き込みデータはライトデータ
の各バイト0〜nの位置に入力され、部分書き込み位置
情報BMは各バイト位置の有効位置指示ビット0〜nに
より構成され、ライトデータの各バイト毎のデータと有
効位置指示ビットは同じバイト対応に設けられたデータ
固定回路61−1〜61〜nに入力する。データ固定回
路6i−t〜61−nはいずれも有効位置指示ビットが
“01の場合(部分書き込みデータが与えられないバイ
ト位置の場合)は、その出力としてオール“0゛のバイ
ト出力を発生し、有効位置指示ビットが“l“のときは
入力されたライトデータバイトをそのまま出力する。
The configuration of the partial check bit creation unit 23 is shown in FIG. The data for each byte of write data and the valid position indication bit are input to data fixing circuits 61-1 to 61-n provided corresponding to the same byte. The data fixing circuits 6i-t to 61-n all generate a byte output of all "0" when the valid position instruction bit is "01" (in the case of a byte position where partial write data is not given). , when the valid position indication bit is "1", the input write data byte is output as is.

第2図(blのチェックビット発生回路62はn個のデ
ータ固定回路61−1〜61−nからの各バイトデータ
に対し、予め定められたビットパターンの組み合わせ(
誤り検出・訂正符号のアルゴリズムによる)によりチェ
ックビットを発生する。
The check bit generation circuit 62 in FIG. 2 (bl) generates a predetermined combination of bit patterns (
A check bit is generated using an error detection/correction code algorithm).

但し、この場合は特定の部分書き込みデータについての
チェックビットが発生する。
However, in this case, a check bit is generated for specific partial write data.

次に第2図talの動作説明に戻ると、リードアクセス
が行われたメモリバンクから原データが読み出されてリ
ードデータレジスタ29に格納されると、リードデータ
セレクタ40において対応するメモリバンクのリードデ
ータレジスタ29が選択され(別の図示しないバンク選
択信号による)て当該リードデータがエラーチエツク・
チェックビット作成部41に供給される。
Next, returning to the explanation of the operation shown in FIG. The data register 29 is selected (by another bank selection signal not shown) and the read data is checked for error.
It is supplied to the check bit creation section 41.

該エラーチエツク・チェックビット作成部41の構成は
第2図(C)に示されている。
The configuration of the error check/check bit creation section 41 is shown in FIG. 2(C).

この構成において、50はチェックビット合成部路、5
1はシンドローム発生回路、52はエラ−検出・訂正回
路、53はデータ固定回路、54は部分チェックビット
作成回路、55は全チェックビット作成回路を表す。
In this configuration, 50 is a check bit synthesis unit;
1 represents a syndrome generation circuit, 52 an error detection/correction circuit, 53 a data fixing circuit, 54 a partial check bit generation circuit, and 55 a total check bit generation circuit.

第2図(C)の動作を説明すると、チェックビット作成
回路50は第2図(alのリードデータセレクタ40か
ら出力されたり−ドデータを線路400がら受は取って
チェックビットを作成し、得られたチェックビットはシ
ンドローム発生回路51に供給する。このシンドローム
発生回路51においてリードデータ中のチェックビット
(メモリ中にデータとともに記憶されていたチェックビ
ット)を線路410から入力されて両チェックビットに
基づいてシンドローム(公知の誤りビットの訂正に用い
るビットパターン)を作成し、その出力をエラー検出・
訂正回路52に供給することによりリードデータの誤り
がこの回路52において訂正される。
To explain the operation of FIG. 2(C), the check bit creation circuit 50 receives the output data from the read data selector 40 of FIG. The generated check bits are supplied to the syndrome generation circuit 51. In the syndrome generation circuit 51, the check bits in the read data (the check bits stored together with the data in the memory) are inputted from the line 410, and based on both check bits, Create a syndrome (a bit pattern used to correct known error bits) and use the output for error detection and
By supplying the read data to a correction circuit 52, errors in read data are corrected in this circuit 52.

一方、線路400からチェックビット作成回路50を通
ったリードデータの各バイトデータは各々データ固定回
路53−1〜53−8の対応する入力に供給される。こ
のデータ固定回路53は第2図(blに示したデータ固
定回路と同じ機能を有し、ただし有効位置指示ビットが
“1”の時出力に60″のバイト出力を発生する点が異
なる。
On the other hand, each byte of read data passing through the check bit creation circuit 50 from the line 400 is supplied to the corresponding input of the data fixing circuits 53-1 to 53-8. This data fixing circuit 53 has the same function as the data fixing circuit shown in FIG.

データ固定回路53の各回路の他の入力は第2図fat
のシフトレジスタ24の最終段24−mから出力される
部分書き込み位置情報BMの出力である有効位置指示ビ
ットO〜7である。従ってこのデータ固定回路53−1
〜53−8からはリードデータ(原データ)の中で部分
書き込みの対象にならないバイト位置のデータが出力さ
れ、次に部分チェックビット作成回路54に供給される
The other inputs of each circuit of the data fixing circuit 53 are fat as shown in FIG.
These are valid position indication bits O to 7 which are the output of the partial write position information BM output from the final stage 24-m of the shift register 24. Therefore, this data fixing circuit 53-1
From 53-8, data at byte positions that are not subject to partial writing in the read data (original data) is output, and then supplied to the partial check bit generation circuit 54.

部分チェックビット作成回路54では入力された部分デ
ータ(部分書き込みに影響されないデータ)についてチ
ェックビットを作成する(実際は全バイトデータが入力
されるがその一部のバイトデータはオール“O”である
)。
The partial check bit creation circuit 54 creates check bits for input partial data (data not affected by partial writing) (actually all byte data is input, but some of the byte data are all "O"). .

なお、シンドローム発生回路51からの出力が部分チェ
ックビット作成回路54に供給されるが、これは固定デ
ータ回路53から入力される部分書き込みの対象になら
ないバイト位置のデータを訂正するために使用される。
Note that the output from the syndrome generation circuit 51 is supplied to a partial check bit creation circuit 54, which is used to correct data at byte positions that are input from the fixed data circuit 53 and are not subject to partial writing. .

部分チェックビット作成回路54の出力は第2図+a+
のシフトレジスタ25の最終段25−mの出力である書
き込みデータの部分チェックビットとともに全チェック
ビット作成回路55に入力されて、両者の排他的論理和
(EXOR)演算が論理回路により行われて、部分書き
込み後のデータ(書き込み用データ)のチェックビット
が作成され、第2図talのライトデータセレクタ26
を介してライトデータレジスタ27に格納される。この
時エラー検出・訂正回路52の出力である訂正済のリー
ドデータ(全バイト)も第2図(alのライトデータセ
レクタ26に入力し、この時供給される部分書き込み位
置情報BMの反転情報により書き込みの対象以外のバイ
ト位置のデータだけをライトデータレジスタ27に格納
する。
The output of the partial check bit creation circuit 54 is shown in FIG.
It is input to the full check bit generation circuit 55 together with the partial check bit of the write data which is the output of the final stage 25-m of the shift register 25, and an exclusive OR (EXOR) operation of both is performed by a logic circuit. A check bit for the data after partial writing (write data) is created, and the write data selector 26 in FIG.
The data is stored in the write data register 27 via the write data register 27. At this time, the corrected read data (all bytes) which is the output of the error detection/correction circuit 52 is also input to the write data selector 26 in FIG. Only data at byte positions other than those to be written is stored in the write data register 27.

ライトデータレジスタに書き換えられたデータとそのチ
ェックビットが格納されるとその全データはメモリバン
クの元のアドレスに書き込まれる。
When the rewritten data and its check bit are stored in the write data register, all the data is written to the original address of the memory bank.

[発明の効果] 本発明によれば部分書き込みアクセスの際に部分書き込
み用データを遅延させてお(ための大量のシフトレジス
タを省くことができ、記憶装置の構成において大幅な回
路を削減することができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, a large number of shift registers for delaying partial write data during partial write access can be omitted, and the number of circuits in the configuration of a storage device can be significantly reduced. Can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の基本的構成を示す図、第2図(alは
本発明の実施例の構成を示す図、第2図(b)は部分チ
ェックビット作成部の構成を示す図、第2図(C1はエ
ラーチエツク・チェックビット作成部の構成を示す図、
第3図は従来例の構成を示す図である。 第1図中、 1:レジスタ(部分書き込み位置情報用)2:レジスタ
(部分書き込みデータ用)3:部分チェックビット作成
部 4−1〜4−68シフトレジスタ 5−1〜5−6:シフトレジスタ 6:書き込みデータ選択回路 7:書き込みデータレジスタ 8:メモリバンク 9:読み出しデータレジスタ 10:読み出しデータ選択回路 11:エラー検出訂正回路 12:チエツクピット合成部
FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of the present invention, FIG. 2 (al is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. Figure 2 (C1 is a diagram showing the configuration of the error check/check bit creation section,
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of a conventional example. In Figure 1, 1: Register (for partial write position information) 2: Register (for partial write data) 3: Partial check bit creation section 4-1 to 4-68 Shift register 5-1 to 5-6: Shift register 6: Write data selection circuit 7: Write data register 8: Memory bank 9: Read data register 10: Read data selection circuit 11: Error detection and correction circuit 12: Check pit synthesis section

Claims (1)

【特許請求の範囲】 nバイトのデータを1アクセスの単位として読書きする
メモリバンクを複数個備えパイプライン制御により多重
にアクセスし、エラーの検出および訂正のためのチェッ
クビットを付加して記憶する記憶装置において、 記憶データの一部書き換え指令により与えられた部分書
き込みデータと部分書き込み位置情報をうけとるレジス
タ(2、1)と、 部分書き込みデータと部分書き込み位置情報とにより部
分チェックビットを作成する部分チェックビット作成部
(3)と、 該部分チェックビットと部分書き込み位置情報とを原デ
ータが読出されるまで保持するシフトレジスタ(4、5
)と、 記憶装置から読出した原データのうち部分書込み位置情
報により書き換えられない位置のデータについて発生し
たチェックビットと前記部分チェックビットとにより書
き換え後のデータのチェックビットを合成するチェック
ビット合成部(12)とを備えることを特徴とする記憶
装置。
[Claims] A plurality of memory banks are provided for reading and writing n-byte data as a unit of access, and multiple accesses are performed by pipeline control, and check bits for detecting and correcting errors are added and stored. In a storage device, a register (2, 1) receives partial write data and partial write position information given by a partial rewrite command of stored data, and a part creates a partial check bit from the partial write data and partial write position information. A check bit creation unit (3), and a shift register (4, 5) that holds the partial check bit and partial write position information until the original data is read.
), and a check bit synthesis unit ( 12) A storage device comprising:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007305105A (en) * 2006-04-10 2007-11-22 Toshiba Corp Memory controller
US8245110B2 (en) 2006-01-31 2012-08-14 Fujitsu Limited Error correcting code generation method and memory control apparatus

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8245110B2 (en) 2006-01-31 2012-08-14 Fujitsu Limited Error correcting code generation method and memory control apparatus
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