JPH01130626A - 並列加算型ad変換器 - Google Patents

並列加算型ad変換器

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JPH01130626A
JPH01130626A JP29031587A JP29031587A JPH01130626A JP H01130626 A JPH01130626 A JP H01130626A JP 29031587 A JP29031587 A JP 29031587A JP 29031587 A JP29031587 A JP 29031587A JP H01130626 A JPH01130626 A JP H01130626A
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JP
Japan
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parallel
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resistor string
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JP29031587A
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English (en)
Inventor
Yoshito Nene
義人 禰寝
Masao Hotta
正生 堀田
Kenji Maio
健二 麻殖生
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、高速、かつ高精度のAD変換器に関し,特に
、モノリシックIC上に構成できる並列加算型AD変換
器に関する。
、〔従来技術〕 一般に、高いサンプ1〕ング周波数を有するAD変換器
では、第6図のような並列型AD変換器の構成をとるこ
とが多い。
この並列型AD変換器は、出力ビツト数をnとすると、
抵抗ストリング64により(2”−1)レベルに分圧さ
れた参照電圧VJと、 アナログ入力電圧VINを比較
する(2’−’1)個の比較器61と、それらの比較器
61が発生する温度計符号出力を2進化符号等に変換す
る符号変換回路62から猜成さる。なお、比較器61に
ついては、オーバーフロー分を含む場合には2n個を要
する。
このような構成の並列型AD変換器では、各比較器61
の出力は、参照電圧V、が入力電圧v1Nより低いとこ
ろでは全て高電位(以下1−Iと記す)となり、その逆
のところでは全て低電位(以下りと記す)となる。
そして、符号変換回路62では、隣接するレベルの参照
電圧を受ける1対の比較器61の出力を排他的OR回路
621に通すことににより、比較器61の温度計符号が
LからHに変化する位置を検出し、その位装置に対応す
る2進化符号等をワイヤードOR回路622により出力
する。
このような構成では、高速に変化する入力信号が入力さ
れた場合、入力信号やクロック信号が各比較器に到達す
る時間にずれが生じたり、各比較器の動作速度が異なっ
たりすると、本来、温度計符号のLからHへの変化点は
1箇所であるべきところ、2箇所以上の変化点が生じる
ことがある。
この場合、符号変換回路内では2個以上の変化点に対応
する2進化符号を生じようとするため、結果的に入力電
圧信号v、Nの大きさと殆ど関連性のないものが誤出力
される。なお、この誤動作は一般にビット欠けと呼ばれ
る。
このため、入力電圧信号vlNが高い周波数を有する場
合も、ビット欠けを生じることなく、安定した高速AD
変換を実現する方法が提案されている。
その1方法として、i個の比較器出力をj個(j≧2)
のグループに分け、その際、第m(1≦m!;j)番目
のグループはm番目の比較器出力、および、そこからj
番自毎の比較器出力を含むようにして、各グループ毎に
比較器出力が示す温度計符号を符号変換回路で2進化符
号に変換し、そのj個の2進化符号を全て加算すること
により、最終的な2進化符号出力を得る方法がある。な
お、このような構成を並列加算型と呼ぶ。
例えば第5図の並列加算型の構成では、4個の符号変換
回路52.および加算器53を備え、1=256、j=
4とする。また、T工、T2.・・・。
Tk、・・・、’r、、、はに番目の比較器出力を示す
この場合、各グループ毎の温度計符号の1スパンは、単
に256個の比較器出力を比較器が受け取る参照電圧順
に並べて得られる温度計符号の1スパンに比べて4倍の
幅を持つ。
従って、参照電圧順にすべての比較器出力を並べて得ら
れる温度計符号では、LからHへの変化点が2箇所以上
生じる場合でも、この並列加算型では各グループ毎の温
度計符号内には変化点は1箇所のみとなる可能性が高く
なり、ビット欠けを生じにくくなる。
なお、この種゛の装置として関連するものには、例えば
特開昭62−86919号が挙げられる。
この並列加算型の構成をもつAD変換器を実現する場合
、並列型AD変換器を複数個用意し、それらに内蔵され
た参照電圧発生回路、つまり抵抗ストリングの両端の電
圧を、最終的なディジタル出力のI L S Bに相当
する電圧ずつ、ずらして、全ての並列型AD変換器の出
力を、別に用意した加算器により加算し、最終的なディ
ジタル出力を得るという方法がある。
例えば第4図のように、4個の並列型AD変換器46内
の抵抗ストリングの両端の端子+R,−Rに、別に用意
した抵抗列45によって得られる電圧を与え、その出力
を加算器43により加算する方法である。
なお、この種の装置として関連するものには、例えば特
開昭60−146528号が挙げられる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術では、複数個用意する並列型AD、変換器
内の抵抗ストリングの両端に与える電圧を、別に用意し
た抵抗列により発生させている。
しかし、並列加算型AD変換器を第4図のように実現す
る場合、抵抗列45から各並列型AD変換器46の抵抗
スl−リングに流れ込む電流工、〜I4を考慮し、抵抗
列45中の抵抗rの値を少しずつ変える必要がある。
一般に、並列型AD変換器中の抵抗ストリングの全抵抗
は高々数100Ω程度であり、rの値は数Ω程度の精度
で変化させる必要があるため、モノリシックIC上のみ
ならず、ディスクリート素子による構成についても実現
は難しい。
また、抵抗列45から各並列型AD変換器46の抵抗ス
トリングに流れ込む電流工、〜I4が、抵抗列45中を
流れる電流rr+に対して無視できるほど小さくなれば
、この問題は生じない。しかし、この場合、電流工、の
値は非常に大きくなるため、やはりモノリシックエCJ
:、での実現は困雛である。
さらに、抵抗列45側から見た並列型AD変換器46中
の抵抗ストリングのインピーダンスを太きすることによ
り、これらの問題を解決することが考えられる。
例えば、抵抗列45から各抵抗ストリングの両端の端子
+R,−Rまでの間に、オペアンプ等による電圧バッフ
ァ回路を挿入する方法がある。
しかし、この方法についても、オペアンプ等を必要とす
るため、モノリシックIC化する場合、回路が複雑にな
り不利である。
すなわち、」:記従来技術では複数の並列型AD変換器
中の抵抗ストリングに与える電圧に異なる値のオフセッ
ト電圧を正確に与えるための実現手段については配慮が
なされていない。
このため、並列加算型AD変価器をモノリシックIC上
に構成することが難しいという問題があった。
本発明の目的は、このような問題点を改古し、モノリシ
ックIC上に実現することが可能な並列加算型AD変換
器を提供することにある。
〔問題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明の並列加算型AD変換
器では、最終的な出力ビツト数がnである場合、21個
の比較器′出力をj(j≧2)個のグループに分け、そ
の際、第m(1≦m≦j)番目のグループは、m番目の
比較器出力、および、そこからj番目毎の比較器出力を
含むようにして、各グループ毎に比較器出力が示す温度
計符号を符号変換回路により(n−1og2j )ピッ
1−の2進化符号に変換し、そのj個の2進化符号を全
て加算することによって、最終的なnビットの2進化符
号出力を得るために、同じ値を持つ2n個の抵抗を直列
に接続した1列の抵抗ストリング、および、それらの分
圧点を参照電圧として受け取る 2n個の比較器を備え
たことに特徴がある。
〔作用〕
本発明においては、同じ値の 2n個の抵抗から構成さ
れた抵抗ストリングは 2nレベルの参照電圧を発生し
、そのルベルの幅は最終的なnビット出力のILSBに
相当する。
また、各抵抗の分圧点は、参照電圧を供給する点として
比較器に接続されるが、 2°個の比較器はj個のグル
ープにj個おきに纏められるため、実効的には、j°ゝ
個の並列型AD変換器の参照電圧をr1ビットのILS
Bずつ、ずらした構成と同じものとなる。
この場合、抵抗ストリングはただ1列であり、その抵抗
ストリングを構成する同じ値の 2n個の抵抗は、比精
度さえ良好であれば、・その絶対値は問題・どならない
従って、並列加算型AD変換器をモノリシックIC上に
実現することが可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
第1図は本発明の第1の実施例における並列加算型AD
変換器の構成図、第2図は本発明の第1の実施例におい
て最終的なディジタル出力が8ビツトである場合の動作
説明図である。
本実施例の並列加算型AD変換器は、第1図のように、
比較器1、符号変換回路2、加算器3、および抵抗スト
リング4を備え、最終的にnビットのディジタル出力を
行う。
また、直列に接続された20個の抵抗から構成された抵
抗ストリング4は、外部から与えられるリファレンス電
圧VR(+)、VR(−)を分圧し、2n個の参照電圧
Vjを作り出す。
一方1回路中には 2n個の比較器1があり、それらは
2n個の参照電圧V、の各々と、共通のアナログ入力電
圧VINとを比較して、 参照電圧v4より入力電圧V
INが高い場合にはHを、また、低い場合にはLを出力
する。
この 2n個の比較器出力は4個のグループに分けられ
、比較器1の受け取る参照電圧v4が低い順に、4個毎
に同じグループに纏められる。
その結果、各グループ内には 2n−2個の比較器出力
が存在することになり、それらの比較器出力を、比較器
1が受け取る参照電圧が低い順に並べることによって、
各グループ毎に温度計符号が得られる。
また、各グループには、この温度計符号を2進化符号に
変換する符号変換回路2が用意され。
(n−2)ビットのディジタル出力が各グループ毎に得
られる。
さらに、こめ34個の(n−2)ピッ1〜のディジタル
出力は、加算器3により加算され、nピッl−のディジ
タル出力を得る。
また、第2図は本実施例のディジタル出力が8ピツ1〜
の場合であるが、各比較器1に附記された6ビツトのデ
ィジタルコードは、アナログ入力電圧が当該比較器が受
け取っている参照電圧を超え。
かつ、同じグループ内の1つ上位の比較器が受け取って
いる参照電圧を超えない場合、そのグループの符号変換
回路2が加算器3に対して出力する6ビツトデイジタル
コードを示す。
例えば、アナログ入力電圧が矢印←で示される参照電圧
レベルと同じレベルであれば、各グループの符号変換回
路2の出力は、010101,010100.0101
00.O,1O101となり、最終的な8ビツト出力は
01010010となる。
本実施例では、抵抗ストリングはただ1個のみであるた
め、抵抗ストリング中の 2n個の抵抗の比精度さえ良
好であれば、その絶対値は問題とな、らない。
また、第1図のようは、抵抗ストリング4を中心として
、比較器1の列、および符号変換回路2を対称に配置す
ることにより、抵抗ストリング4の分圧点から各グルー
プの比較器までの距雑の差が少くなるため、その部分の
配線抵抗による参照電圧v4のバラツキを低減すること
ができる。
さらに、抵抗ストリング4内の抵抗の配置については、
相隣合う抵抗が180°以下の角度を以って接続するこ
とにより、抵抗ストリング4の全長を短縮することがで
き、また、モノリシックIC化する際にチップの形状を
正方形に近づけることができる。
なお、本実施例では、グループの数を4としたが、原理
的には4グループに限定されることはない。また、この
数を2の幕乗とすると、各グループに含まれる比較器数
が同じになるため、ICレイアウト等に都合が良い。
第3図は、本発明の第2の実施例における並列加算型A
D変換器の構成図である。
本実施例の並列加算型AD変換器は、比較器1゜符号変
換回路2゛、加算器3、および抵抗ストリング4を備え
、第1の実施例と同様の動作により、最終的にnビット
のディジタル出力を得る。
特に1本実施例では、同じ値の抵抗を直列に接続した抵
抗ストリング4と、その分圧点が供給する参照電圧を受
け取る 2n個の比較器を1列に並  。
べた比較器列とを、コの字形に折り曲げて配置する。
さらに、そのコの字形配置の内側に符号変換回路2を4
個設け、4個おきに比較器出力を受け取り、グループ分
けをする。この4個の符号変換回路出力は加算器3によ
り加算され、最終的な【1ビツトデイジタル出力が得ら
れる。
また、第1の実施例と同様に、抵抗ストリング4中の 
2n個の抵抗の比精度さえ良好であれば、    −そ
の絶対値は問題とならない。
また、抵抗ストリングと比較器列とを折り曲げて配置し
ているため、縦方向の全長が短くなり、モノリシックI
C化をする際、正方形に近いレイアウトが可能である。
なお、本実施例では、゛折り曲げる回数を1回としてい
るが、複数回折り曲げ、その度に生じるコの字形配置の
内側に符号変換部:?32を配置することにより、さら
に縦方向の全長を縮めることもできる。
また、第1の実施例と同様に、グループ数は限定されず
、2の幕乗を選択するとICレイアウト等に都合が良い
〔発明の効果〕
本発明によれば、並列加算型に構成するため、従来の並
列型AD変換器ではビット欠けを起こしてしまうような
高周波数の入力信号を、ビット欠けを起こすことなく、
AD変捨することが可能である。
また、従来の並列型AD変換器では、11ビツトのディ
ジタル出力を得ようとすると、比較器が正しく大小判別
を行わなければならない入力信号の最低幅は、参照電圧
を中心としてnビット±1/2LSBであるが、本発明
の並列加算型AD変換器では、グループ数がj(j≧2
)であれば、比較器の判別すべき゛最低入力振幅は(n
−1og2j )ビット±1/2LSr3となる。
つまり、同じ論理振幅を出力するための比較器回路の利
得を下げることができる。一般に、増幅作用を持つ回路
では、その増幅利得が小さくなる程1回路の応答特性は
向上するため、比較器回路の利得を下げることにより、
応答特性を向−ヒさせて回路全体の高速化、すなわち、
サンプリング周波数の向上を図ることができる。
さらに、抵抗ストリングを1列だけ用いて並列加算型の
構成を行っているため、 PJI数の並列型AD変換器
を用いた並列加算型の構成に比べ、抵抗の絶対値精度等
を問題とする必要がなく、モノリシックIC上に並列加
算型のAD変換器を構成することが可能である。
また、その抵抗ストリングを構成する直列接続の抵抗を
、相隣合う抵抗同志が互いに180°以下の角度を持つ
ように並べるか、あるいは、抵抗ストリングと比較器と
を平行、かつ直線的に並べ。
それらをコの字形に折り曲げることにより、ICレイア
ウトの縦方向の良さを短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例における並列加算型AD
変換器の構成図、第2図は本発明の第1の実施例におい
て最終的なディジタル出力が8ビツトである場合の動作
説明図、第3図は本発明の第2の実施例における並列加
算型AD変換器の構成図、第4図は従来の並列加算型A
D変換器の構成図、第5図は並列加算型AD変換器の符
号変換部の構成図、第6図は従来の並列型AD変換器の
構成図である。 1.61:比較器、2,52.62:符号変換回路、3
,43.53:加算器、4.64:抵抗ストリング、5
,45:抵抗列、46:並列型AD変換器、621:排
他的OR回路、622:ワイヤードOR回路。 特許出願人 株式会社 日立製作所 第   3   図 ディジタル出力 第  4   図 第  δ  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、温度計符号発生手段により発生した温度計符号を2
    進化符号に変換する場合、該温度計符号をj(j≧2)
    個のグループに分け、また、該グループ分けの際、第m
    (1≦m≦j)番目のグループは該温度計符号のm番目
    の値、および該値からj番目毎の値を含むように分けて
    、各グループの温度計符号を、各グループ毎に設けた符
    号変換回路により2進化符号に変換し、該j個の2進化
    符号を全て加算することにより、最終的な2進化符号出
    力を得るAD変換器において、上記温度計符号発生手段
    は、抵抗を直列に接続した1列の抵抗ストリングと、該
    抵抗ストリングの分圧点に生じる電圧を参照電圧として
    受け取る比較器群とから構成されることを特徴とする並
    列加算型AD変換器。 2、上記比較器は、上記抵抗ストリングを中心として、
    該両側に同数、配置されたことを特徴とする上記特許請
    求範囲第1項記載の並列加算型AD変換器。 3、上記抵抗ストリングは、互いに180°以下の角度
    をもち、相隣り合って直列接続された抵抗から構成され
    ることを特徴とする上記特許請求範囲第2項記載の並列
    加算型AD変換器。 4、上記比較器は、上記抵抗ストリングと平行に1列に
    並べられて、該抵抗ストリング、および比較器群の全体
    がコの字形に配置され、また、該コの字形の内側に複数
    の上記符号変換回路が配置されたことを特徴とする上記
    特許請求範囲第1項記載の並列加算型AD変換器。
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