JPH01130395A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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Publication number
JPH01130395A
JPH01130395A JP62290401A JP29040187A JPH01130395A JP H01130395 A JPH01130395 A JP H01130395A JP 62290401 A JP62290401 A JP 62290401A JP 29040187 A JP29040187 A JP 29040187A JP H01130395 A JPH01130395 A JP H01130395A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory cell
power supply
terminal
memory
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62290401A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Matsumura
哲哉 松村
Masahiko Yoshimoto
雅彦 吉本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62290401A priority Critical patent/JPH01130395A/en
Publication of JPH01130395A publication Critical patent/JPH01130395A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To use a device as a SRAM as well as a ROM by using one of two power terminals as the power terminal through which a voltage is given to the whole of a circuit and using the other as a switching terminal which is used to select the memory cell state. CONSTITUTION:A second power terminal 8 is added to a conventional device. One of two power terminals 7 and 8 is used as the power terminal through which a voltage is given to the whole of the circuit, and the other is used as the switching terminal, and two power lines connected to these power terminals are connected to one-side ends of two high resistance load elements 15 and 16 in a memory cell. Thus, the device is used as a normal SRAM when the high level is given to the switching terminal, and it is used as a preliminarily determined ROM when the low level is given there.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関し、特にそのメモリセ
ルおよび電源端子に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor memory device, and particularly to its memory cell and power supply terminal.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は、スタティック型ランダムアクセスメモリ(以
下SRAMと称す)も含めた半導体記憶装置の一般的な
構成を示したものである。この図において、31は入出
力回路、32は行デコーダ、33はメモリセルアレイ、
34は列デ、コーダ、35はアドレス入力線、36はデ
ータ入出力線、37は電源端子、38はグランド端子で
ある。
FIG. 3 shows a general configuration of a semiconductor memory device including a static random access memory (hereinafter referred to as SRAM). In this figure, 31 is an input/output circuit, 32 is a row decoder, 33 is a memory cell array,
34 is a column decoder, 35 is an address input line, 36 is a data input/output line, 37 is a power supply terminal, and 38 is a ground terminal.

SRAMの場合、メモリアレイ33を構成するメモリセ
ルは一般的には第4図に示す構成になっている。この図
において、41ないし44はNMOSトランジスタ、4
5.46は高抵抗負荷素子である。
In the case of SRAM, the memory cells making up the memory array 33 generally have the configuration shown in FIG. In this figure, 41 to 44 are NMOS transistors;
5.46 is a high resistance load element.

この様な構成のSRAMでは、メモリセルは書き込み/
読み出し可能な通常のスタティック型メモリセルとして
のみ動作し、電源端子37からの電源vceが供給され
ない状態ではメモリのデー、夕を保持することはできな
い。
In an SRAM with this kind of configuration, memory cells can be written/written.
It operates only as a normal readable static type memory cell, and cannot hold data in the memory unless power supply VCE is supplied from the power supply terminal 37.

なお、SRAMの基本的な動作およびスタティツク型メ
モリセルの動作は、同業者にはよく知られていることで
あるため、その詳細な説明は省略する。
Note that the basic operation of SRAM and the operation of static memory cells are well known to those skilled in the art, and therefore detailed explanation thereof will be omitted.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のSRAMは以上の様に構成されているため、電源
を切るとデータの保持を行うことができない、つまり、
一般的に知られているROM(Re−ad 0nly 
Memory)の性質を持ち合わせていないなどの問題
点があった。
Conventional SRAM is configured as described above, so it cannot retain data when the power is turned off.
Generally known ROM (Re-ad only)
There were problems such as not having the characteristics of memory.

この発明は上記の様な問題点を解消するためなされたも
ので、SRAMとしても使用できかつROMとしても使
用できる半導体記憶装置を提供することを目的とする。
The present invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device that can be used both as an SRAM and as a ROM.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る半導体記憶装置は、外部i子として2つ
の電源端子を設け、メモリセル内にこの電源端子と接続
された2本の電源ラインを配線し、メモリセル内の2つ
の高抵抗負荷素子の一端をそれぞれ第1の電源ラインも
しくは第2の電源ラインに接続し、上記2つの電源端子
を、一方は回路全体に電圧を与える電源端子とし、他方
はメモリセルの状態を選択するための切り換え端子とし
たものである。
A semiconductor memory device according to the present invention includes two power supply terminals as external terminals, two power supply lines connected to the power supply terminals inside the memory cell, and two high-resistance load elements within the memory cell. One end is connected to a first power supply line or a second power supply line, respectively, and one of the above two power supply terminals is used as a power supply terminal that applies voltage to the entire circuit, and the other is a switch for selecting the state of the memory cell. It is used as a terminal.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、2つの電源端子のどちらか一方を
回路全体に電圧を与える電源端子とし、他方を切り換え
端子とし、この電源端子と接続された2本の電源ライン
をメモリセル内の2つの高抵抗負荷素子の一端とそれぞ
れ接続することにより、メモリを、この切り換え端子に
“H”を与えた場合は通常のSRAMとして使用でき、
L″を与えた場合は予め定めておいたROMとして使用
できる。
In this invention, one of the two power supply terminals is used as a power supply terminal that applies voltage to the entire circuit, the other is used as a switching terminal, and two power supply lines connected to this power supply terminal are connected to two high voltage terminals in the memory cell. By connecting one end of each resistive load element, the memory can be used as a normal SRAM when "H" is applied to this switching terminal.
If L'' is given, it can be used as a predetermined ROM.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below.

第1図において、1は入出力回路、2は行デコーダ、3
は後述するメモリセルで構成されたメモリセルアレイ、
4は列デコーダ、5はアドレス入力線、6はデータ入出
力線、7は第1の電源端子、8は第2の電源端子、9は
グランド端子である。
In FIG. 1, 1 is an input/output circuit, 2 is a row decoder, and 3 is a row decoder.
is a memory cell array composed of memory cells described below,
4 is a column decoder, 5 is an address input line, 6 is a data input/output line, 7 is a first power supply terminal, 8 is a second power supply terminal, and 9 is a ground terminal.

この構成は、従来の装置の構成と比較して、第2の電源
端子が追加されている点が異なる。
This configuration differs from the configuration of conventional devices in that a second power supply terminal is added.

次に第2図により、−本実施例のメモリアレイ3を構成
するメモリセルについて説明する。第2図において、1
1ないし14は8MO3)ランジスタ、15.16は高
抵抗負荷素子である。さらに、メモリセル内には第1図
に示されている第1.第2の電源端子7.8と接続され
ている2本の電源ラインVccl、Vcc2が通過して
おり、高抵抗負荷素子15の片側のノードaはVccl
に接続され、高抵抗負荷素子16の片側のノードbはV
cc2に接続されている。
Next, referring to FIG. 2, the memory cells constituting the memory array 3 of this embodiment will be explained. In Figure 2, 1
1 to 14 are 8MO3) transistors, and 15 and 16 are high resistance load elements. Furthermore, within the memory cell, there is a first . Two power supply lines Vccl and Vcc2 connected to the second power supply terminal 7.8 pass through, and the node a on one side of the high resistance load element 15 is connected to Vccl.
The node b on one side of the high resistance load element 16 is connected to V
Connected to cc2.

第2図に示すメモリセルの動作を、下記4つの状態に分
けて説明する。
The operation of the memory cell shown in FIG. 2 will be explained by dividing it into the following four states.

(1)  Vccl =Vec2 ’ @H’″の場合
従来例で示したと同様に、書き込み/読み出し可能な通
常のスタティック型メモリセルとして動作する。
(1) When Vccl = Vec2 '@H''' As in the case of the conventional example, it operates as a normal static type memory cell that can be written/read.

(2)  Vccl = ” H″+ vcc2−“L
”の場合Vcc2がs L I″であるため、ノードb
、ノードfはL″となり、8MO3)ランジスタ14は
非導通状態となる。このため、ノードCはVccl、つ
まり“H″レベ5にプルアップされて、NMOSトラン
ジスタ13は導通状態となり、ノードCは“H”レベル
、ノードdは″L3レベルでラッチされた状態になる。
(2) Vccl=”H”+vcc2-”L
”, Vcc2 is s L I”, so node b
, the node f becomes L'', and the transistor 14 becomes non-conductive. Therefore, the node C is pulled up to Vccl, that is, the "H" level 5, the NMOS transistor 13 becomes conductive, and the node C becomes conductive. At "H" level, node d becomes latched at "L3 level".

この状態では、メモリセルに対して読み出し動作を行っ
た場合、つまりワードラインWLを立ち上げた状態にお
いては、ビットラインBLには1H”、ビットラインB
Lには“L”の情報が現れる。つまり、このメモリセル
はrlJを記憶していることになる。
In this state, when a read operation is performed on the memory cell, that is, when the word line WL is turned on, the bit line BL is 1H", and the bit line B
Information of "L" appears in L. In other words, this memory cell stores rlJ.

(3)  Vcd−”L″、Vcc2−“H”の場合(
2)で説明した動作と逆の動作を行う、つまり、このメ
モリセルは「0」を記憶していることになる。
(3) In the case of Vcd-“L”, Vcc2-“H” (
The operation described in 2) is reversed, that is, this memory cell stores "0".

(4)  Vccl−“L″、Vcc2−“L′″の場
合メモリセルからの読み出し動作を行うことはできない
(4) In the case of Vccl-“L” and Vcc2-“L'”, the read operation from the memory cell cannot be performed.

上記(1)〜(4)までの状態は、第5図に示されたメ
モリセル状態表のケース1の場合である。ケース2は、
ケース1と相補的にVce1,2と2つの高抵抗負荷素
子の一端を接続したもので、ケース3およびケース4は
2つの高抵抗負荷素子の一端を両方ともそれぞれVea
l、Vce2に接続したものである。
The states (1) to (4) above correspond to case 1 of the memory cell state table shown in FIG. Case 2 is
Complementary to case 1, one end of two high resistance load elements are connected to Vce1, 2, and in case 3 and case 4, one end of two high resistance load elements are connected to Vea.
1, connected to Vce2.

第5図において、−線の状態は、正常な書き込みおよび
読み出しができない状態で、メモリセルをこの状態にな
らしめることは、原則として禁止する。ここで、例えば
Vcclを本実施例によるメモリを用いた半導体集積回
路全体に電圧を与える電源とし、Vce2をSRAM/
ROM切り換え端子と設定すると、第5図内で破線で示
した範囲でメモリセルの状態を変えることができる。
In FIG. 5, the state of the - line is a state in which normal writing and reading cannot be performed, and it is prohibited in principle to put the memory cell into this state. Here, for example, Vccl is the power supply that applies voltage to the entire semiconductor integrated circuit using the memory according to this embodiment, and Vce2 is the power supply that applies voltage to the entire semiconductor integrated circuit using the memory according to this embodiment, and Vce2 is the power supply that applies voltage to the entire semiconductor integrated circuit using the memory according to this embodiment.
When set as a ROM switching terminal, the state of the memory cell can be changed within the range shown by the broken line in FIG.

第6図において、(a)に示すメモリセルアレイ3はA
f+I域のメモリセルを任意のデータに応じて第5図の
ケース1もしくは2で示した様に接続し、B領域のメモ
リセルをケース3で示した様に接続したものとする。
In FIG. 6, the memory cell array 3 shown in (a) is A
It is assumed that the memory cells in the f+I area are connected as shown in Case 1 or 2 in FIG. 5 depending on arbitrary data, and the memory cells in the B area are connected as shown in Case 3.

上記半導体集積回路を使用する時、Vec2=“H”と
しておけば、(b)に示す様にメモリアレイ3はA領域
、B領域ともSRAMのセルとして動作し、通常のSR
AMと同様に使用できる。
When using the above semiconductor integrated circuit, if Vec2 is set to "H", the memory array 3 operates as an SRAM cell in both the A area and the B area as shown in (b), and the memory array 3 operates as a normal SR
It can be used in the same way as AM.

また、■0,2−“L”とすれば、(C)に示す様にA
 81域のメモリセルは予めプログラムされたROMセ
ルとして、B領域のメモリセルは通常のSRAMのセル
として使用できる。
Also, if ■0,2-“L”, then A as shown in (C).
The memory cells in area 81 can be used as preprogrammed ROM cells, and the memory cells in area B can be used as ordinary SRAM cells.

ここで、メモリセルアレイ全体をケース1もしくはケー
ス2のメモリセルで構成すれば、Vce2の切り換えに
より、全体がRAMもしくはROM’として使用できる
ことは言うまでもない。また、周辺回路の電源ラインは
当然Vccl(常にH”を与えられている)に接続され
ている。
It goes without saying that if the entire memory cell array is configured with memory cells of case 1 or case 2, the entire memory cell array can be used as RAM or ROM' by switching Vce2. Further, the power supply line of the peripheral circuit is naturally connected to Vccl (always given H'').

なお、°本発明は、単体のSRAMやROMだけでなく
、例えばマイクロプロセッサ内にコアセルとして用いら
れるRAMJ?3ROMにも適用でき、上記実施例と同
様の効果を奏する。
Note that the present invention applies not only to standalone SRAMs and ROMs, but also to RAMJs used as core cells in microprocessors, for example. This embodiment can also be applied to 3ROM, and produces the same effects as the above embodiment.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の様に、この発明に係る半導体記憶装置によれば、
2つの電源端子を設け、そのうち1つの電源端子を“H
”もしくは“L”に切り換えるようにし、これらの電源
端子と接続された2本の電源しインをメモリセル内の2
つの高抵抗負荷素子の一端とそれぞれ接続したので、メ
モリアレイを・ SRAMもしくはROMのいずれとし
ても動作する様に構成でき、応用範囲の広いメモリが得
られる効果がある。
As described above, according to the semiconductor memory device according to the present invention,
Two power supply terminals are provided, one of which is set to “H”.
” or “L”, and connect the two power supplies connected to these power supply terminals to the two in the memory cell.
Since the memory array is connected to one end of two high resistance load elements, the memory array can be configured to operate as either an SRAM or a ROM, which has the effect of providing a memory with a wide range of applications.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例による半導体記憶装置の構成
を示す図、第2図は本発明の一実施例によるメモリセル
の構成を示す図、第3図は従来の半導体記憶装置の構成
を示す図、第4図は従来のメモリセルの構成を示す図、
第5図は本発明によるメモリセルの状態を説明するため
の図、第6図は本発明による半導体記憶装置の使用例を
説明するための図である。 2は行デコーダ、3はメモリセルアレイ、4は列デコー
ダ、5はアドレス入力線、6はデータ入出力線、7は第
1の電源端子、8は第2の電源端子、15.16は高抵
抗負荷素子。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a memory cell according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing the configuration of a conventional semiconductor memory device. FIG. 4 is a diagram showing the configuration of a conventional memory cell.
FIG. 5 is a diagram for explaining the state of a memory cell according to the present invention, and FIG. 6 is a diagram for explaining an example of use of the semiconductor memory device according to the present invention. 2 is a row decoder, 3 is a memory cell array, 4 is a column decoder, 5 is an address input line, 6 is a data input/output line, 7 is a first power supply terminal, 8 is a second power supply terminal, 15.16 is a high resistance load element. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)2つの電源端子、メモリセルアレイ、行および列
デコーダ、データ入出力線、およびアドレス入力線を備
えた半導体記憶装置であって、上記メモリセルアレイを
構成する各メモリセルは、該メモリセル中を、上記2つ
の電源端子から配線され該メモリセルを構成する2つの
高抵抗負荷素子の一端にそれぞれ接続される2本の電源
ラインが通過しているものであり、 上記2つの電源端子の一方は回路全体に電圧を与える電
源端子であり、他方はその“H”、“L”の切り換えに
よって上記メモリセルの状態を選択するための切り換え
端子であることを特徴とする半導体記憶装置。
(1) A semiconductor memory device comprising two power supply terminals, a memory cell array, row and column decoders, data input/output lines, and address input lines, wherein each memory cell constituting the memory cell array is , through which two power lines are routed from the above two power supply terminals and respectively connected to one ends of the two high resistance load elements constituting the memory cell, and one of the above two power supply terminals is passed through. 1 is a power supply terminal for applying a voltage to the entire circuit, and the other is a switching terminal for selecting the state of the memory cell by switching between "H" and "L".
JP62290401A 1987-11-16 1987-11-16 Semiconductor storage device Pending JPH01130395A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4128919A1 (en) * 1990-08-31 1992-03-12 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory of alternate read-only or random-access type - usesprogramming devices to determine configuration of potential lineconnections
JP4727796B2 (en) * 2000-09-04 2011-07-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor integrated circuit

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