JPH01128604A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JPH01128604A
JPH01128604A JP62285325A JP28532587A JPH01128604A JP H01128604 A JPH01128604 A JP H01128604A JP 62285325 A JP62285325 A JP 62285325A JP 28532587 A JP28532587 A JP 28532587A JP H01128604 A JPH01128604 A JP H01128604A
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JP
Japan
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gate
mosfet
circuit
operational amplifier
power supply
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Pending
Application number
JP62285325A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takefumi Endo
武文 遠藤
Kazuo Daimon
一夫 大門
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH01128604A publication Critical patent/JPH01128604A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve a PSRR (Power Supply Rejection Ratio) characteristic as an operational amplifier circuit by providing a capacitor for coupling, which has prescribed electrostatic capacity, in an interval with the power source voltage or grounding potential of a circuit. CONSTITUTION:A capacitor C1 for coupling is provided between the gate of an MOSFET Q2 and the power source voltage of the circuit. Noise to be overlapped to a power source voltage Vcc of the circuit by some causes is alternately transmitted through the capacitor C1 to the gate of the driving MOSFET Q2. Namely, for the noise to be overlapped to the power source voltage Vcc of the circuit, the gate potential of the driving MOSFET Q2 is almost in-phase- changed in a high frequency area. Accordingly, although the noise is overlapped to the power source voltage Vcc of the circuit, the voltage between source and gate of the driving MOSFET Q2 goes to be a constant value. Thus, the value of an operating current, which is supplied to differential MOSFETs Q3 and Q4, is stabilized and the PSRR characteristic of an operational amplifier circuit OA1 is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路装置に関するもので、例え
ば、コーデック(CODEC:ニーダ/デコーダ)等に
含まれる演算増幅回路に利用して有効な技術に関するも
のである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and is a technology that is effective when applied to an operational amplifier circuit included in a codec (CODEC: kneader/decoder), etc. It is related to.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ディジタル電話交換システムの加入者回線に対応して設
けられるコーデックがある。これらのコーデックは、い
くつかの演算増幅回路を合むA/D変換回路を内蔵する
There are codecs provided for subscriber lines of digital telephone switching systems. These codecs incorporate an A/D conversion circuit combined with several operational amplifier circuits.

A/D変換回路を内蔵するコーデックについては、例え
ば、1981年6月30日、■朝倉書店発行の「集積回
路応用ハンドブック」593頁〜600頁に記載されて
いる。
Codecs incorporating A/D conversion circuits are described, for example, in "Integrated Circuit Application Handbook" published by Asakura Shoten, June 30, 1981, pages 593 to 600.

〔発明が解決しようとする問題点) 上記のようなコーデックに内蔵されるA/D変換回路は
、例えば、第2図に示されるような演算増幅回路OA2
を含む。
[Problems to be Solved by the Invention] The A/D conversion circuit built in the codec as described above is, for example, an operational amplifier circuit OA2 as shown in FIG.
including.

第2図において、演算増幅回路OA2は、差動形態とさ
れる一対のPチャンネルMO3FETQ3及びQ4を基
本構成とする。差動MOSFETQ3・Q4の共通結合
されたソースと回路の電源電圧Vccとの間には、駆動
MO3FETQ2が設けられる。駆動MOSFETQ2
は、そのゲートがPチャンネルMO3FETQIのドレ
イン及びゲートに共通結合されることで、MO3FET
Q1と電流ミラー形態とされる。MO3FETQIの共
通結合されたドレイン及びゲートと回路の接地電位との
間には、そのゲートにバイアス電圧Vb1を受けるNチ
ャンネルMO3FETQ6が設けられる。駆動MOSF
ETQ2を介して差動MO3FETQ3・Q4に供給さ
れる動作電流は、MO3FETQ2のゲートすなわちノ
ードn2の電圧により決定される。ノードn2の電圧は
、MO3FETQI及びQ6に流れるドレイン電流言い
換えるとMOSFETQ6のゲートに供給される上記バ
イアス電圧Vblにより決定される。これにより、差動
MO3FETQ3・Q4には、バイアス電圧vbtに従
った所定の動作電流が供給されるものとなる。
In FIG. 2, the operational amplifier circuit OA2 has a basic configuration of a pair of P-channel MO3FETs Q3 and Q4 which are in a differential configuration. A driving MO3FET Q2 is provided between the commonly coupled sources of the differential MOSFETs Q3 and Q4 and the circuit power supply voltage Vcc. Drive MOSFET Q2
is a MO3FET with its gate commonly coupled to the drain and gate of the P-channel MO3FET QI.
Q1 and current mirror form. An N-channel MO3FET Q6 whose gate receives a bias voltage Vb1 is provided between the commonly coupled drain and gate of the MO3FET QI and the ground potential of the circuit. Drive MOSF
The operating current supplied to the differential MO3FETQ3 and Q4 via the ETQ2 is determined by the voltage at the gate of the MO3FETQ2, that is, at the node n2. The voltage at node n2 is determined by the drain current flowing through MO3FETQI and Q6, in other words, by the bias voltage Vbl supplied to the gate of MOSFETQ6. As a result, a predetermined operating current according to the bias voltage vbt is supplied to the differential MO3FETs Q3 and Q4.

ところが、上記演算増幅回路は次のような問題点を持つ
ことが、本願発明者等によって明らかになった。すなわ
ち、第2図の演算増幅回路OA2では、なんらかの原因
により回路の電源電圧Vccに雑音が重畳された場合、
駆動MO3FETQ2のゲート・ソース間電圧が直接的
に変化される。
However, the inventors of the present application have discovered that the above-mentioned operational amplifier circuit has the following problems. That is, in the operational amplifier circuit OA2 of FIG. 2, if noise is superimposed on the power supply voltage Vcc of the circuit for some reason,
The gate-source voltage of the drive MO3FET Q2 is directly changed.

このため、差動MO3FETQ3・Q4に供給される動
作電流が不本意に変動し、演算増幅回路としてのPSR
R(Poe<er  5upply Rejectio
nRatto)特性が悪化するものである。
For this reason, the operating current supplied to the differential MO3FETs Q3 and Q4 fluctuates unexpectedly, causing the PSR as an operational amplifier circuit to
R(Poe<er 5uply Rejection
nRatto) characteristics deteriorate.

この発明の目的は、PSRR特性の改善を図つた演算増
幅回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an operational amplifier circuit with improved PSRR characteristics.

この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。
The above and other objects and novel features of this invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわら、演算増幅回路を構成する差動MO3FETの
共通結合されたソースと回路の電源電圧又は接地電位と
の間に設けられる駆動MO3FETのゲートとそのソー
スすなわち回路の電源電圧又は接地電位との間に、所定
の静電容量を持つキャパシタを設けるものである。
In other words, the gate of the drive MO3FET provided between the commonly coupled sources of the differential MO3FETs constituting the operational amplifier circuit and the power supply voltage or ground potential of the circuit and its source, that is, the power supply voltage or ground potential of the circuit. A capacitor having a predetermined capacitance is provided between them.

〔作  用〕[For production]

上記手段によれば、電源電圧に重畳される雑音が、上記
キャパシタを介して、駆動MO8FETのゲートに交流
的に伝達されるため、駆動MO3FETのゲート・ソー
ス間電圧の変動を抑制し、差動MO3FETに供給され
る動作電流の値を安定化して、演算増幅回路のPSRR
特性を改善することができる。
According to the above means, the noise superimposed on the power supply voltage is transmitted to the gate of the driving MO8FET via the capacitor in an alternating current manner, so that fluctuations in the gate-source voltage of the driving MO3FET are suppressed and the differential The PSRR of the operational amplifier circuit is improved by stabilizing the value of the operating current supplied to the MO3FET.
Characteristics can be improved.

〔実施例〕〔Example〕

第1図には、この発明が通用された演算増幅回路OAI
の一実施例の回路図が示されている。
FIG. 1 shows an operational amplifier circuit OAI to which this invention is applied.
A circuit diagram of one embodiment is shown.

この実施例の演算増幅回路OAIは、特に制限されない
が、ディジタル電話交換システムの加入者回路に対応し
て設けられるコーデックのA/D変換回路に含まれる。
The operational amplifier circuit OAI of this embodiment is included in an A/D conversion circuit of a codec provided corresponding to a subscriber circuit of a digital telephone exchange system, although it is not particularly limited thereto.

同図の各回路素子は、コーデックの他のブロックを構成
する回路素子とともに、公知の半導体集積回路の製造技
術によって、特に制限されないが、単結晶シリコンのよ
うな1個の半導体基板上において形成される。なお、同
図において、チャンネル(バックゲート)部に矢印が付
加されるMOSFETはPチャンネルMO3FETであ
り、矢印の付加されないNチャンネルMO8FE’rと
区別される。
Each circuit element in the figure, along with circuit elements constituting other blocks of the codec, is formed on a single semiconductor substrate such as, but not limited to, single-crystal silicon using known semiconductor integrated circuit manufacturing techniques. Ru. In the figure, the MOSFET whose channel (back gate) part is marked with an arrow is a P-channel MO3FET, which is distinguished from the N-channel MO8FE'r, which is not marked with an arrow.

第1図において、演算増幅回路OAIは、Pチャンネル
型の差動MO3FETQ3 (第1のMOSFET) 
 ・Q4(f52のMOSFET)を基本構成とする。
In FIG. 1, the operational amplifier circuit OAI is a P-channel type differential MO3FETQ3 (first MOSFET).
- The basic configuration is Q4 (f52 MOSFET).

差動MO3FETQ3・Q4のゲートは、この演算増幅
回路OAIの反転入力端子in−及び非反転入力端子i
n十にそれぞれ結合される。
The gates of the differential MO3FETs Q3 and Q4 are connected to the inverting input terminal in- and the non-inverting input terminal i of this operational amplifier circuit OAI.
n0, respectively.

差動MO3FETQ3・Q4のドレインと回路の接地電
位(第2の′Is源電圧電圧の間には、NチャンネルM
O3FETQ7 (第1の負荷手段)及びQ8 (第2
の負荷手段)がそれぞれ設けられる。
Between the drains of the differential MO3FETs Q3 and Q4 and the circuit ground potential (second
O3FETQ7 (first load means) and Q8 (second
load means) are provided respectively.

MO3FETQ7のドレイン及びゲートは共通結合され
、さらにM OS F E T Q Bのゲートに結合
される。これにより、MO3FETQ?及びQ8は、差
動MO3FETQ3・Q4に対する能動性の負荷素子と
して作用する。
The drain and gate of MO3FETQ7 are commonly coupled and further coupled to the gate of MOSFETQB. This allows MO3FETQ? and Q8 act as an active load element for the differential MO3FETs Q3 and Q4.

差!!JMO8FETQ3・Q4の共通結合されたソー
スと回路の電源電圧Vcc(第1の電源電圧)との間に
は、駆動MO3FETQ2 (第3のMOSFET)が
設けられる。駆動?J OS F E T Q 2のゲ
ートは、Pチャンネルrン丁03FETQI  (第4
のMOSFET)のトレーイン及びゲートに共通結合さ
れる。MO3FETQIのソースは、回路の電源電圧V
ccに結合される。これにより、MOS F ETQ 
1及び駆動MO3FETQ2は、電流ミラー形態とされ
る。
difference! ! A drive MO3FET Q2 (third MOSFET) is provided between the commonly coupled sources of the JMO8FETs Q3 and Q4 and the circuit power supply voltage Vcc (first power supply voltage). Drive? The gate of JOSFETQ2 is the P channel 03FETQI (4th
are commonly coupled to the train and gate of the MOSFET. The source of MO3FETQI is connected to the circuit power supply voltage V
Connected to cc. This allows MOS FETQ
1 and drive MO3FETQ2 are in a current mirror configuration.

駆動MO8FETQ2のゲートとそのソースすなわち回
路の電源電圧VCCとの間には、所定の静電容量を持つ
カンプリング用キャパシタC1が設けられる。
A compensating capacitor C1 having a predetermined capacitance is provided between the gate of the driving MO8FET Q2 and its source, that is, the power supply voltage VCC of the circuit.

MO3FETQIの共通結合されたドレイン及びゲート
と回路の接地電位との間には、NチャンネルMO3FE
TQ6 (第517)MOSFET)が設けられる。M
O3FETQ6のゲートには、コーデックの図示されな
い定電圧発生回路から、所定のバイアス電圧Vbl(第
2のバイアス電圧)が供給される。
Between the commonly coupled drain and gate of MO3FETQI and the circuit ground potential, an N-channel MO3FE
TQ6 (517th) MOSFET) is provided. M
A predetermined bias voltage Vbl (second bias voltage) is supplied to the gate of the O3FET Q6 from a constant voltage generation circuit (not shown) of the codec.

MO3FETQ6のドレイン電流は、上記バイアス電圧
Vblに従ってその値が決定される0M03FETQ6
のドレイン電流は、そのままMO3FETQIに流され
、MO3FETQIのソース・ゲート間電圧すなわち駆
動MO3FETQ2のソース・ゲート間電圧言い換える
とノードn1におけるバイアス電圧(第1のバイアス電
圧)を決定する。MO3FETQ2のドレイン電流は、
MO3FETQ2のソース・ゲート電圧に従ってその値
が決定される。これにより、差動MO3FETQ3・Q
4には、上記バイアス電圧vbtに従った所定の動作電
流が供給される。
The value of the drain current of MO3FETQ6 is determined according to the bias voltage Vbl.
The drain current is passed through MO3FETQI as it is, and determines the source-to-gate voltage of MO3FETQI, that is, the source-to-gate voltage of drive MO3FETQ2, in other words, the bias voltage (first bias voltage) at node n1. The drain current of MO3FETQ2 is
Its value is determined according to the source-gate voltage of MO3FETQ2. As a result, the differential MO3FETQ3・Q
4 is supplied with a predetermined operating current according to the bias voltage vbt.

MO3FETQ4のドレイン電圧は、NチャンネルMO
3FETQIO(第7のMOSFET)のゲートに供給
される。MO3FETQI Oのソースは回路の接地電
位に結合され、そのドレインはこの演算増幅回路OAI
の出力端子outに結合される。MO3FETQI G
のドレインすなわち出力端子outと回路の電源電圧V
ccとの間には、PチャンネルMO3FETQ5 (第
6のMOSFET)が設けられる。MO3FETQ5の
ゲートは、上記MO3FETQI及びQ2のゲートに共
通結合される。これにより、MO3FETQ5は負荷素
子として機能し、MO3FETQIOは、上記MO3F
ETQ5を負荷とする出力増幅回路を構成する。
The drain voltage of MO3FETQ4 is N-channel MO
It is supplied to the gate of 3FETQIO (seventh MOSFET). The source of MO3FETQI O is coupled to the ground potential of the circuit, and its drain is connected to this operational amplifier circuit OAI.
is coupled to the output terminal out of. MO3FET QI G
, that is, the output terminal out and the circuit power supply voltage V
A P-channel MO3FETQ5 (sixth MOSFET) is provided between the MOSFET and cc. The gate of MO3FETQ5 is commonly coupled to the gates of MO3FETQI and Q2. As a result, MO3FETQ5 functions as a load element, and MO3FETQIO
An output amplifier circuit with ETQ5 as a load is constructed.

MO3FETQI Oのドレインすなわち出力端子ou
tとそのゲートとの間には、キャパシタC2とNチャン
ネルMO3FETQ9が直列形態に設けられる。MO3
FETQ9は、そのゲートに所定のバイアス電圧Vb2
が供給されることで、所定のコンダクタンスを持つ負荷
素子として機能する。このため、出力端子outの出力
レベルすなわちMO3FETQIOのドレイン電圧は、
上記キャパシタC2及びMO3FETQ9を介してMO
3FET0.10のゲートに負帰還される。これにより
、演算増幅回路OAIの不本意な発振動作を防止するこ
とができる。
MO3FETQI O drain or output terminal ou
A capacitor C2 and an N-channel MO3FET Q9 are provided in series between t and its gate. MO3
FETQ9 has a predetermined bias voltage Vb2 on its gate.
is supplied, it functions as a load element with a predetermined conductance. Therefore, the output level of the output terminal out, that is, the drain voltage of MO3FETQIO is
MO through the capacitor C2 and MO3FETQ9
Negative feedback is provided to the gate of 3FET0.10. This makes it possible to prevent the operational amplifier circuit OAI from unintentionally oscillating.

差動MO3FETQ3・Q4を基本構成とする演算増幅
回路OAIは、非反転入力端子in十及び反転入力端子
in−に供給される一対の入力信号に対する差動増幅動
作を行う、すなわち、反転入力端子in−の入力重圧が
非反転入力端子in+の入力電圧よりも高い場合、MO
3FETQ3のコンダクタンスが小さくされ、逆にMO
3FETQ4のコンダクタンスが大きくされる。これに
より、MOS F ETQ 4のドレイン電圧は、差動
MO3FETQ3・Q4の増幅率に従って高くされる。
The operational amplifier circuit OAI, which has differential MO3FETs Q3 and Q4 as its basic configuration, performs a differential amplification operation on a pair of input signals supplied to the non-inverting input terminal in+ and the inverting input terminal in-, that is, the inverting input terminal in - If the input pressure of - is higher than the input voltage of non-inverting input terminal in+, MO
The conductance of 3FETQ3 is reduced, and conversely the MO
The conductance of 3FETQ4 is increased. Thereby, the drain voltage of MOS FETQ4 is increased according to the amplification factor of differential MO3FETQ3 and Q4.

MO3FETQ4のドレイン電圧が高くされると、MO
3FETQIOのコンダクタンスが大きくなり、そのド
レイン電圧すなわち出力端子outの出力レベルは低く
される。一方、反転入力端子in−の入力電圧が非反転
入力端子in+の入力電圧よりも低くなると、MO5F
ETQ3のコンダクタンスが大きくされ、代わってMO
3FETQ4のコンダクタンスが小さ(される、これに
より、M OS F E ’I’ Q 4のドレイン電
圧は、差動MOSFETQ3・Q4の増幅率に従って低
くされる0M05FETQ4のドレイン電圧が低くされ
ると、MO5FE’l’Q10のコンダクタンスが小さ
くなり、そのドレイン電圧すなわぢ出力端子outの出
力レベルは高くされる。
When the drain voltage of MO3FETQ4 is increased, the MO3FETQ4
The conductance of the 3FET QIO increases, and its drain voltage, that is, the output level of the output terminal out, is lowered. On the other hand, when the input voltage of the inverting input terminal in- becomes lower than the input voltage of the non-inverting input terminal in+, MO5F
The conductance of ETQ3 is increased and the MO
The conductance of 3FETQ4 is made small (as a result, the drain voltage of MOSFE 'I' is lowered according to the amplification factor of differential MOSFETQ3 and Q4). The conductance of Q10 becomes smaller, and its drain voltage, ie, the output level of the output terminal out, becomes higher.

ところで1、tA#増幅回路OAIの出力端子OUtか
ら出力される出力(8号のレベルは、51#JMO3F
ETQ3・Q4の動作電流ずなわち駆動MO3FETQ
2のドレイン電流によって左右される。
By the way, 1. The output output from the output terminal OUT of the tA# amplifier circuit OAI (the level of No. 8 is 51#JMO3F
Operating current of ETQ3 and Q4, that is, drive MO3FETQ
It depends on the drain current of 2.

このため、この実施例の演算増幅回路OAIでは、前述
のように、MO3FETQ2のゲートと回路のtJ1a
m圧との間にカップリング用キャパシタC1が設けられ
、PSRR特性の改善が図られる。
Therefore, in the operational amplifier circuit OAI of this embodiment, as described above, the gate of MO3FETQ2 and the tJ1a of the circuit are
A coupling capacitor C1 is provided between the m pressure and the PSRR characteristic.

すなわち、なんらかの原因により回路の電源電圧Vcc
に重畳される雑音は、キャパシタc1を介して、駆動M
O3FETQ2のゲートに交流的に伝達される。つまり
、回路の電源電圧Vccに重畳される雑音は、そのまま
駆動M OS F E T Q 2のゲート電位を高周
波領域でほぼ同相変化させる。したがって、回路の電源
電圧Vccに雑音が重畳されるにもかかわらず、駆動M
O5FETQ2のソース・ゲート間電圧は一定した値と
なる。これにより、差動MOSFETQ3・Q4に供給
される動作電流の値が安定化され、演算増幅回路OAI
のPSRR特性が改善されるものである。
In other words, for some reason the circuit power supply voltage Vcc
The noise superimposed on the drive M
It is transmitted in alternating current to the gate of O3FETQ2. In other words, the noise superimposed on the power supply voltage Vcc of the circuit causes the gate potential of the driving MOS FET Q 2 to change in almost the same phase in the high frequency region. Therefore, even though noise is superimposed on the power supply voltage Vcc of the circuit, the drive M
The voltage between the source and gate of O5FETQ2 becomes a constant value. As a result, the value of the operating current supplied to the differential MOSFETs Q3 and Q4 is stabilized, and the operational amplifier circuit OAI
This improves the PSRR characteristics of .

以上のように、この実施例の演算増幅回路OA1は、一
対の差動MO3FETQ3・Q4を基本構成とする。こ
れらの差動ん10SFETCA3・Q4の共通結合され
たソースとIiM路の電源電圧Vccとの間には、Fl
!動MOS F ETQ 2が設けられる。
As described above, the operational amplifier circuit OA1 of this embodiment has a basic configuration of a pair of differential MO3FETs Q3 and Q4. Between the commonly coupled sources of these differential 10SFETs CA3 and Q4 and the power supply voltage Vcc of the IiM path,
! A dynamic MOS FETQ 2 is provided.

rJA動M OS F E TQ 2は、MO3FET
QIと電流ミラー形態とされる。MO3FETQIと回
路の接地電位との間には、そのゲートに所定のバイアス
電圧Vblを受けるMO3FETQ6が設けられる。こ
れにより、駆動MO3FETQ2のゲートには、バイア
ス電圧Vblに従った所定の定電圧が供給され、また差
@MO8FETQ3・Q4には、この定電圧に従った所
定の動作電流が供給される。この実施例の演算増幅回路
OAIでは、さらに駆動MO3FETQ2のゲートと回
路の電源電圧VCCとの間に、所定の静電容量を持つカ
ップリング用キャパシタC1が設けられる。このキャパ
シタC1は、回路の′#1源電圧Vccに重畳される雑
音を、駆動MO3FETQ2のゲートに交流的に伝達す
る。このため、回路の電源電圧Vccに雑音が1畳され
るにもかかわらず、駆動MO3FETQ2のソース・ゲ
ート間電圧は安定化され、差動MO3FETQ3・Q4
に供給される動作電流の値は一定したものとなる。これ
により、演算増幅回路OAIのPSRR特性が改善され
るものである。
rJA dynamic MOSFETQ 2 is MO3FET
QI and current mirror configuration. A MO3FETQ6 whose gate receives a predetermined bias voltage Vbl is provided between the MO3FETQI and the ground potential of the circuit. As a result, a predetermined constant voltage according to the bias voltage Vbl is supplied to the gate of the drive MO3FET Q2, and a predetermined operating current according to this constant voltage is supplied to the differential @MO8FETQ3 and Q4. In the operational amplifier circuit OAI of this embodiment, a coupling capacitor C1 having a predetermined capacitance is further provided between the gate of the drive MO3FET Q2 and the circuit power supply voltage VCC. This capacitor C1 transmits the noise superimposed on the '#1 source voltage Vcc of the circuit to the gate of the driving MO3FET Q2 in an alternating current manner. Therefore, even though noise is added to the power supply voltage Vcc of the circuit, the source-gate voltage of the driving MO3FETQ2 is stabilized, and the differential MO3FETQ3 and Q4
The value of the operating current supplied to is constant. This improves the PSRR characteristics of the operational amplifier circuit OAI.

以上の本実施例に示されるように、この発明をディジタ
ル電話交換装置のコーデック等に含まれる演算増幅回路
に通用することで、次のような効果が得られる。すなわ
ち、 <1)演算増幅回路を構成する差動MO3FETの共通
結合されたソースと回路の電源電圧又は接地電位との間
に設けられる駆動M OS F E Tのゲートとその
ソースすなわち回路の電源電圧又は接地電位との間に、
所定の静電容量を持つカンプリング用キャパシタを設け
ることで、回路の電源電圧又は接地電位に重畳される雑
音を、駆動MO5FETのゲートに交流的に同相で伝達
することができるため、雑音にともなう駆動MOS F
 ETのゲート・ソース間電圧の変動を抑制することが
できるという効果が得られる。
As shown in the above embodiment, the following effects can be obtained by applying the present invention to an operational amplifier circuit included in a codec or the like of a digital telephone exchange device. That is, <1) The gate and source of the drive MOSFET provided between the commonly coupled sources of the differential MO3FETs constituting the operational amplifier circuit and the circuit power supply voltage or ground potential, that is, the circuit power supply voltage. or between ground potential,
By providing a compensating capacitor with a predetermined capacitance, the noise superimposed on the circuit's power supply voltage or ground potential can be transmitted to the gate of the driving MO5FET in alternating current and in phase, thereby eliminating the noise accompanying the noise. Drive MOS F
This provides the effect of suppressing fluctuations in the gate-source voltage of the ET.

(2)上記(1)項により、演算増幅回路の差動MO8
FETに供給される動作電流の値が、電源電圧に重畳さ
れる雑音によって変動されることを防止できるという効
果が得られる。
(2) According to the above (1), the differential MO8 of the operational amplifier circuit
An effect can be obtained in that the value of the operating current supplied to the FET can be prevented from being fluctuated by noise superimposed on the power supply voltage.

(3)上記(11項及び(2)項により、その増幅特性
を変化させることなく、ディジタル回路が混載されるコ
ーデック等の演算増幅回路のPSRR特性を改善できる
という効果が得られる。
(3) According to the above (11) and (2), it is possible to improve the PSRR characteristics of an operational amplifier circuit such as a codec in which a digital circuit is embedded without changing its amplification characteristics.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に制限される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることは言うまでもない0例えば、第1図の回路
図において、差動MO5FETQ3・Q4及びその他の
MOSFETは、回路の′i!i源電圧Vcc及び接地
電位を入れ換えることで、PチャンネルMO5FET及
びNチャンネルMO3FETt−置き換えて構成するこ
とができる。また、この実施例では、MOS F ET
Qlと駆動MO3FETQ2を電流ミラー形態とするこ
とで駆動MO3FETQ2のゲートに所定の定電圧を与
えているが、電流ミラー回路を設けず、!!lJIMO
3FETQ2のゲートに直接所定のバイアス電圧を与え
ることもできる。キャパシタC1は、複数のキャパシタ
を並列形態に接続することで実現されるものであっても
よい。さらに、出力増幅回路は、任意の構成を採ること
ができるし、演算増幅回路OAIの具体的な回路構成は
、種々の実施形態を採りうる。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that this invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. 0 For example, in the circuit diagram of FIG. 1, the differential MOSFETs Q3 and Q4 and other MOSFETs are connected to the 'i!' of the circuit. By replacing the i source voltage Vcc and the ground potential, it is possible to replace the P-channel MO5FET and the N-channel MO3FETt. Moreover, in this embodiment, MOS FET
A predetermined constant voltage is applied to the gate of the drive MO3FET Q2 by using Ql and the drive MO3FET Q2 in a current mirror configuration, but without providing a current mirror circuit! ! lJIMO
A predetermined bias voltage can also be applied directly to the gate of 3FETQ2. The capacitor C1 may be realized by connecting a plurality of capacitors in parallel. Furthermore, the output amplification circuit can take any configuration, and the specific circuit configuration of the operational amplifier circuit OAI can take various embodiments.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となったディジタル電話交換装置のコーデッ
クに含まれる演算増幅回路に通用した場合について説明
したが、それに限定されるものではなく、例えば、その
他のディジタル通信装置や各種のA/D −D/A変換
回路等に用いられる演算増幅回路にも通用できる0本発
明は、差動MO5FETとその共通結合されたソースと
回路の電源電圧又は接地電位との間に設けられる駆動M
OS F ETとを含む演算増幅回路及びそのような演
算増幅回路を内蔵する半導体装置に広く通用できる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly explained in the case where it was applied to an operational amplifier circuit included in a codec of a digital telephone exchange device, which is the background of the invention, but it is not limited to this, and for example, The present invention can also be applied to operational amplifier circuits used in digital communication devices and various A/D-D/A conversion circuits. A drive M provided between
The present invention can be widely used in operational amplifier circuits including OS FETs and semiconductor devices incorporating such operational amplifier circuits.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、演算増幅回路を構成する差動MOS F
 ETの共通結合されたソースと回路の電源電圧又は接
地電位との間に設けられる駆動MOS F ETのゲー
トとそのソースすなわち回路の電源電圧又は接地電位と
の間に、所定の静電容量を持つカンプリング用キャパシ
タを設けることで、回路の電源電圧又は接地電位に重畳
される雑音を、同時に駆動MO3FETのゲートに交流
的に伝達することができるため、雑音にともなう駆動M
O3FETのゲート・ソース間電圧の変動を抑制し、演
算増幅回路のPSSR特性を改善できるものである。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. In other words, the differential MOS F constituting the operational amplifier circuit
A driving MOS F provided between the commonly coupled sources of the ET and the circuit power supply voltage or ground potential. By providing a capacitor for compensating, the noise superimposed on the power supply voltage or ground potential of the circuit can be simultaneously transmitted to the gate of the drive MO3FET in an alternating current manner.
It is possible to suppress fluctuations in the gate-source voltage of the O3FET and improve the PSSR characteristics of the operational amplifier circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明が通用された演算増幅回路の一実施
例を示す回路図、 第2図は、この発明に先立って本願発明者等が開発した
演算増幅回路の回路図である。 OAI、OA2・・・演算増幅回路、Q1〜Q5・・・
PチャンネルMO9FET、Q6〜Q10−−−Nチャ
ンネルMO3FET、C1,C2・・・キャパシタ。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of an operational amplifier circuit to which this invention is applied, and FIG. 2 is a circuit diagram of an operational amplifier circuit developed by the inventors of the present invention prior to this invention. OAI, OA2... operational amplifier circuit, Q1 to Q5...
P-channel MO9FET, Q6 to Q10---N-channel MO3FET, C1, C2... Capacitor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、差動形態とされる第1導電型の第1及び第2のMO
SFETと、上記第1及び第2のMOSFETの共通結
合されたソースと第1の電源電圧との間に設けられその
ゲートに第1のバイアス電圧を受ける第1導電型の第3
のMOSFETと、上記第3のMOSFETのゲートと
第1の電源電圧との間に設けられるキャパシタとを含む
演算増幅回路を具備することを特徴とする半導体集積回
路装置。 2、上記第1のバイアス電圧は、そのソースが第1の電
源電圧に結合されそのドレイン及びゲートが上記第3の
MOSFETのゲートに共通結合されることで上記第3
のMOSFETと電流ミラー形態とされる第1導電型の
第4のMOSFETと、上記第4のMOSFETの共通
結合されたドレイン及びゲートと第2の電源電圧との間
に設けられそのゲートに第2のバイアス電圧を受ける第
2導電型の第5のMOSFETとにより形成されること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体集積回
路装置。 3、上記演算増幅回路は、さらに上記第1及び第2のM
OSFETのドレインと第2の電源電圧との間にそれぞ
れ設けられる第1及び第2の負荷手段と、出力端子と第
1の電源電圧との間に設けられそのゲートが上記第3の
MOSFETのゲートに共通結合される第1導電型の第
6のMOSFETと、上記出力端子と第2の電源電圧と
の間に設けられそのゲートが上記第1又は第2のMOS
FETのドレインに結合される第2導電型の第7のMO
SFETを含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項
又は第2項記載の半導体集積回路装置。 4、上記演算増幅回路は、ディジタル電話交換装置の加
入者回路のコーデックに含まれることを特徴とする特許
請求の範囲第1項、第2項又は第3項記載の半導体集積
回路装置。
[Claims] 1. First and second MOs of a first conductivity type that are in a differential configuration
SFET, and a third MOSFET of a first conductivity type, which is provided between the commonly coupled sources of the first and second MOSFETs and the first power supply voltage, and whose gate receives the first bias voltage.
A semiconductor integrated circuit device comprising an operational amplifier circuit including a MOSFET and a capacitor provided between the gate of the third MOSFET and a first power supply voltage. 2. The first bias voltage is connected to the third MOSFET by having its source coupled to the first power supply voltage and its drain and gate commonly coupled to the gate of the third MOSFET.
a fourth MOSFET of the first conductivity type which is in a current mirror configuration with the MOSFET of the fourth MOSFET; 2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor integrated circuit device is formed by a fifth MOSFET of the second conductivity type that receives a bias voltage of . 3. The operational amplifier circuit further includes the first and second M
first and second load means respectively provided between the drain of the OSFET and the second power supply voltage; and a gate of the third MOSFET provided between the output terminal and the first power supply voltage. a sixth MOSFET of the first conductivity type that is commonly coupled to the first conductivity type, and a sixth MOSFET that is provided between the output terminal and the second power supply voltage and has a gate that is
a seventh MO of the second conductivity type coupled to the drain of the FET;
A semiconductor integrated circuit device according to claim 1 or 2, characterized in that the semiconductor integrated circuit device includes an SFET. 4. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, 2, or 3, wherein the operational amplifier circuit is included in a codec of a subscriber circuit of a digital telephone exchange.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012032867A (en) * 2010-07-28 2012-02-16 Lapis Semiconductor Co Ltd Differential amplifier circuit

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