JPH01122195A - 電子機器の冷却構造 - Google Patents

電子機器の冷却構造

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Publication number
JPH01122195A
JPH01122195A JP62280398A JP28039887A JPH01122195A JP H01122195 A JPH01122195 A JP H01122195A JP 62280398 A JP62280398 A JP 62280398A JP 28039887 A JP28039887 A JP 28039887A JP H01122195 A JPH01122195 A JP H01122195A
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JP
Japan
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contact
cold plate
brought
ducts
daughter board
Prior art date
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Pending
Application number
JP62280398A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Umesato
梅里 昌司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01122195A publication Critical patent/JPH01122195A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は複数個のLSIがドーターボード上に搭載され
た電子機器における冷却構造、特に前記ドーターボード
上のLSIを間接液体冷却するLSI冷却構造に関する
(従来技術) 従来この種のLSI搭載搭載子電子機器却構造は、第3
図、第4図に示すように、マザーボード1の両側に設け
たガードレール5によって複数枚のドーターボード2が
マザーボード1上に、かつ該マザーボードに対して垂直
に、実装され、該ドーターボード2の両面には放熱フィ
ン3が取り付けられたLSI4(第4図)が複数個搭載
されており、前記放熱フィン3を自然空冷またはファン
等によるドーターボード2の側方からの強制空冷し、こ
れによって前記LSI4を冷却する構造となっていた。
6はドーターボード後端部のソケットコネクタ、7はソ
ケットコネクタ内のソケットコンタクト、8はマザーボ
ード側のビンコンタクトである。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来の冷却構造は、自然空冷または強制空冷の
冷却方式をとっているため、近年の高密度実装化による
単位面積当りの高発熱量を冷却できなくなっており、ま
た空冷能力を上げるためにファンの回転数を上げるか大
形化すると大きな騒音が発生し、動力の点からもコスト
高となるという欠点があった。
本発明の目的は、空冷構造に加えて間接的な液体冷却構
造とし、ファン等を排して騒音の発生をなくし、高密度
実装による高発熱量を冷却可能とした電子機器の冷却構
造を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明による冷却構造は、それぞれ複数個のLSIが搭
載された複数枚のドーターボードがマザーボードの面に
対して垂直に実装された電子機器において、前記LSI
に接触しかつ前記ドーターボードを包囲するように該ド
ーターボードに取り付けられたコールドプレートと、前
記マザーボードの面に対して垂直にかつレール状に延在
しかつ前記コールドプレートの両端部の片面に接触する
冷媒流通ダクトと、前記コールドプレートの両端部の他
方の片面に作用して該コールドプレートを前記ダクトへ
向けて押圧する開閉可能なばね手段とを有して成るもの
である。
(実施例) 次に、本発明を図面を参照して実施例につき説明する。
第1図は本発明の実施例に係る電子機器冷却構造の平面
図であり、第2図は本発明の実施例の部分的な正面断面
図、具体的には第1図の略■−■線に沿った断面図であ
る。この実施例においても第3図、第4図の従来例と同
様にマザーボード1にピンコンタクト8が設けられ、ド
ーターボード2の後端部にソケットコネクタ6が取り付
けられ、ドーターボード2をマザーボード1に対して垂
直に挿入し、ソケットコネクタ6のソケットコンタクト
7とピンコンタクト8を嵌合させることにより電気的接
続がなされる。第2図に最もよく示すように、ドーター
ボード2の両面に搭載された複数個のLSIの各上面と
接触するようにドーターボード2の両面がコールドプレ
ート9で包囲されている。コールドプレート9はその両
面側の部分がドーターボード2の両端付近で互いに接合
されかつドーターボード2の両端から外方へ突出してい
る。機器筐体の内側部の両側にはダクト10が複数のド
ーターボード2の配列ピッチで複数個設けられており、
このダクト内にはコールドプレート9の熱を冷却する液
体の冷媒11が流れるようになっている。ドーターボー
ド2およびLSI4を包囲したコールドプレート9はそ
の両端部の各片面がダクト10上に接し、かつ該ダクト
10上を滑るようにしてマザーボード1へ導かれ、前述
のピンコンタクト8とソケットコンタクト7との嵌合で
マザーボード1へのドーターボード2の実装がなされる
。コールドプレート9は、ダクト10と接触する面と反
対側の面が筐体内側部に設けたばね12によって押圧さ
れており、これによってコールドプレート9はダクト1
0の面に確実かつ緊密に接触し、この接触部を通じて熱
交換が効率良く行われる。なお、ばね12はドーターボ
ード2が挿入される入口側からの操作によって上下動す
るようになっている。ドーターボード2が実装されたと
きには、ばね12が下げられ、そのばね力でコールドプ
レート9をダクト10へ向けて押し付けており、ドータ
ーボード2を取り出すときには、ばね12を上げて(開
いて)から取り出すようにする(第2図のばね12′参
照)。このような構成によりLSIから発生した熱は、
コールドプレート9から直接外気へ放散されることのほ
かに、コールドプレート9、ダクト10.冷媒11の順
に伝導し、高発生熱を有効に冷却することができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明の冷却構造によれば、ドータ
ーボード上に搭載されたLSI面に接触させたコールド
プレートを、機器筐体の両側に設けた冷媒流通ダクト面
と接触させることにより、LSIから発生する熱をコー
ルドプレートを通して間接的に液体冷却することができ
る。ダクト自体はコールドプレートしたがってドーター
ボードの挿入ガイドを兼ねるので、全体の構造も大形と
ならず、高密度実装による高発熱量を有効に冷却でき、
さらに従来の強制空冷のようにファン等による騒音を無
くすることができる等、多くの効果がもたらされる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電子機器冷却構造の平面図、第2
図は本発明の実施例の部分的な正面断面図、・第3図は
従来の冷却構造の平面図、第4図は第3図に示す従来例
の部分的な正面断面図である。 1・・・マザーボード、2・・・ドーターボード、4・
・・LSI、7・・・ソケットコンタクト、8・・・ピ
ンコンタクト、9・・・コールドプレート、10・・・
ダクト、11・・・冷媒、12・・・ばね。 代理人  弁理士  染 川 利 吉 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  それぞれ複数個のLSIが搭載された複数枚のドータ
    ーボードがマザーボードの面に対して垂直に実装された
    電子機器の冷却構造において、前記LSIに接触しかつ
    前記ドーターボードを包囲するように該ドーターボード
    に取り付けられたコールドプレートと、前記マザーボー
    ドの面に対して垂直にかつレール状に延在しかつ前記コ
    ールドプレートの両端部の片面に接触する冷媒流通ダク
    トと、前記コールドプレートの両端部の他方の片面に作
    用して該コールドプレートを前記ダクトへ向けて押圧す
    る開閉可能なばね手段とを有することを特徴とする電子
    機器の冷却構造。
JP62280398A 1987-11-06 1987-11-06 電子機器の冷却構造 Pending JPH01122195A (ja)

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JP62280398A JPH01122195A (ja) 1987-11-06 1987-11-06 電子機器の冷却構造

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JPH01122195A true JPH01122195A (ja) 1989-05-15

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ID=17624472

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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