JPH01121948U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01121948U JPH01121948U JP1681488U JP1681488U JPH01121948U JP H01121948 U JPH01121948 U JP H01121948U JP 1681488 U JP1681488 U JP 1681488U JP 1681488 U JP1681488 U JP 1681488U JP H01121948 U JPH01121948 U JP H01121948U
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- JP
- Japan
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- temperature
- integrated circuit
- semiconductor
- semiconductor element
- semiconductor integrated
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Element Separation (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案にかかる半導体集積回路の一実
施例の構成図、第２図は半導体集積回路の出力特
性図、第３図は従来における半導体集積回路の構
成例を示した図である。 １……基板、２……フオトダイオード、３……
温度測定用ダイオード、４……光検出回路、５…
…温度測定回路、６……補償回路。
施例の構成図、第２図は半導体集積回路の出力特
性図、第３図は従来における半導体集積回路の構
成例を示した図である。 １……基板、２……フオトダイオード、３……
温度測定用ダイオード、４……光検出回路、５…
…温度測定回路、６……補償回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体素子と、この半導体素子の温度による特
性変化を補償するために温度を測定する温度測定
用素子を同一基板上に形成した半導体集積回路に
おいて、 前記半導体素子と温度測定用素子の間の基板面
に、温度測定用素子の出力電流の半導体素子への
流れ込みを阻止する溝を形成したことを特徴とす
る半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1681488U JPH01121948U (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1681488U JPH01121948U (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01121948U true JPH01121948U (ja) | 1989-08-18 |
Family
ID=31230065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1681488U Pending JPH01121948U (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01121948U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010041011A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
-
1988
- 1988-02-10 JP JP1681488U patent/JPH01121948U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010041011A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |