JPH01109732A - Inspection device for lead - Google Patents
Inspection device for leadInfo
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- JPH01109732A JPH01109732A JP26643487A JP26643487A JPH01109732A JP H01109732 A JPH01109732 A JP H01109732A JP 26643487 A JP26643487 A JP 26643487A JP 26643487 A JP26643487 A JP 26643487A JP H01109732 A JPH01109732 A JP H01109732A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、リード検査技術、特に、パッケージの側面に
複数本が整列されて突設されているリードの外観を検査
する技術に関し、例えば、クワッド・フラット・パッケ
ージを備えている半導体集積回路装置(以下、QFP・
ICという。)のリード外観を検査するのに利用して有
効なものに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a lead inspection technique, and in particular to a technique for inspecting the appearance of a plurality of leads arranged and protruding from the side surface of a package. Semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as QFP) equipped with a quad flat package
It is called IC. ) is useful for inspecting lead appearance.
半導体集積回路装置(以下、ICという、)におけるリ
ードの外観を検査する方法として、例えば、特開昭57
−91458号公報に示されているように、複数のリー
ドを有するICをシュート内で移送するに当たって、こ
のtCのリードを移送方向と直交させ、リードの基部と
リードの先端部とをそれぞれ検出し、リードの基部に対
する先端部の通過時間を計測することにより、リード曲
がりを検出する方法がある。As a method for inspecting the appearance of leads in a semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as IC), for example, Japanese Patent Laid-Open No. 57
As shown in Publication No. 91458, when an IC having multiple leads is transferred within a chute, the leads at tC are orthogonal to the transfer direction, and the base of the lead and the tip of the lead are respectively detected. There is a method of detecting lead bending by measuring the time taken for the tip of the lead to pass through the base of the lead.
このようなリード検査技術においては、被検査物である
ICを一方向に移送する必要があるため、リード列が四
方に突出されている表面実装型のQFP・ICについて
は検査することができず、また、リード高さのばらつき
についても検査することができないという問題点がある
ことが、本発明者によって明らかにされた。In this type of lead inspection technology, it is necessary to transport the IC to be inspected in one direction, so surface-mounted QFP/ICs with lead rows protruding in all directions cannot be inspected. The inventor of the present invention has also revealed that there is a problem in that it is not possible to inspect variations in lead height.
本発明の目的は、あらゆるリードについての外観検査を
実行することができるリード検査装置を提供することに
ある。 −本発明の前記ならびにその他の
目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面か
ら明らかになるであろう。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a lead inspection device that can perform visual inspection on all leads. - The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
c問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。Measures for Solving Problems c] Representative inventions disclosed in this application will be summarized as follows.
すなわち、複数本のリードが整列されてパンケージの側
面から突設されている被検査物を保持し、パッケージを
リード列が接線方向となるように回転させる回転テーブ
ルと、回転テーブルに保持された被検査物における少な
くともリード列の一部を撮像する撮像装置と、撮像装置
の撮像信号に基づいて各リード列についての良否を判定
する′P1定部とを設けたものである。In other words, there is a rotary table that holds an object to be inspected in which a plurality of leads are aligned and protrudes from the side of a pan cage, and rotates the package so that the lead rows are tangential, and a rotary table that holds an object to be inspected that has a plurality of aligned leads protruding from the side of the pan cage. The apparatus is provided with an imaging device that images at least a part of the lead array in the inspection object, and a 'P1 constant section that determines the quality of each lead array based on the imaging signal of the imaging device.
前記した手段によれば、回転テーブルの回転に伴って、
被検査物の各リード列毎に検査資料である撮像が取り込
まれるため、被検査物を撮像装置に対して一方向に送る
必要はない、そして、各リードについての外観検査はリ
ード列毎に実行されるため、リード列が四方に突設され
ている場合であっても、検査が実行される。また、各リ
ード列毎に外観検査が実行再開であるため、各リードの
高さについての良否判定も容易に実現されることになる
。According to the above-described means, as the rotary table rotates,
Since an image, which is the inspection material, is captured for each lead row of the object to be inspected, there is no need to send the object to be inspected in one direction to the imaging device, and the visual inspection of each lead is performed for each lead row. Therefore, even if the lead row is protruding in all directions, the inspection can be performed. Furthermore, since the visual inspection is restarted for each lead row, it is easy to determine whether the height of each lead is good or bad.
〔実施例1〕
第1図は本発明の一実施例であるリード検査装置を示す
模式図、第2図Ta)、山)は作用を説明するための各
平面図である。[Embodiment 1] Fig. 1 is a schematic diagram showing a lead inspection device according to an embodiment of the present invention, and Fig. 2 (Ta) and crest) are plan views for explaining the operation.
本実施例において、このリード検査装置はQFPIGに
おけるリード群の配列および高さについての検査を実施
し得るように構成されている。In this embodiment, this lead inspection device is configured to be able to inspect the arrangement and height of a group of leads in QFPIG.
被検査物としてのQFP・ICIは略正方形平盤形状に
形成されたパッケージ2を備えており、このパッケージ
2の4側面にはバット・ウィング形状に形成されたり一
部3が複数本、先端を揃えられて横一列に配され、一端
面(以下、裏面とする。The QFP/ICI as an object to be inspected is equipped with a package 2 formed in a substantially square flat shape, and the four sides of this package 2 are formed into a bat wing shape, and some have multiple pieces 3 with tips. They are arranged in a horizontal row, and one end surface (hereinafter referred to as the back surface).
)側に向けて突設されている。) protrudes toward the side.
本実施例において、このリード検査、装置は略水平に配
されて回転自在に支持されている回転テーブル4を備え
ており、回転テーブル4はサーボモータ等のような適当
な回転駆動装置5により回転されるように構成されてい
る。また、回転テーブル4の上面には負圧供給路7を接
続された吸引口6が開設されており、回転テーブル4は
吸引口6の真空吸引力によりQFP・ICIのパッケー
ジ2表面を吸着することにより、QFP−ICIを位置
決め保持し得るようになっている。In this embodiment, this lead inspection apparatus is equipped with a rotary table 4 which is disposed substantially horizontally and is rotatably supported, and the rotary table 4 is rotated by a suitable rotary drive device 5 such as a servo motor. is configured to be In addition, a suction port 6 connected to a negative pressure supply path 7 is provided on the top surface of the rotary table 4, and the rotary table 4 can adsorb the surface of the QFP/ICI package 2 using the vacuum suction force of the suction port 6. This makes it possible to position and hold the QFP-ICI.
回転テーブル4の上方には、リード列の端末画像を取り
込む撮像装置としてのリード配列検査用テレビ・カメラ
(以下、第1TVカメラという。Above the rotary table 4 is a television camera for lead array inspection (hereinafter referred to as a first TV camera) serving as an imaging device that captures terminal images of the lead array.
)11が略垂直下向きに配されて設備されており、この
第1TVカメラ11は後記するモニタの画像で図示され
ている如く、回転テーブル4に保持されたQFP・IC
Iのリード3列の端面像の一部を撮映し得るように設定
されている。第1TVカメラ11には第1画像処理装置
12が接続されており、この画像処理装置12はその出
力端子の一つに接続された第1モニタ13に画像信号を
送信して所望の画像をモニタリングさせるように構成さ
れているとともに、他の出力端子に接続された第1判定
部14に所定の測定信号を送信するように構成されてい
る。この判定部14には後述するようにリード配列に関
する標準値を設定されている第1標準値設定部15が接
続されており、判定部14は画像処理装置12から送信
されて来る現在の測定値と、設定部15から送信されて
来る標準値(許容し得る範囲を有する値とする。)とを
照合することにより、現在の測定値が標準値から外れて
いる場合には、リード配列に関して不良と判定し、判定
結果を外部機B(図示せず)に送信するように構成され
ている。) 11 is arranged in a substantially vertical downward direction, and this first TV camera 11 is connected to a QFP IC held on a rotary table 4, as shown in the monitor image to be described later.
It is set so that a part of the end face image of three rows of I leads can be photographed. A first image processing device 12 is connected to the first TV camera 11, and this image processing device 12 monitors a desired image by transmitting an image signal to a first monitor 13 connected to one of its output terminals. It is configured to transmit a predetermined measurement signal to the first determination unit 14 connected to another output terminal. A first standard value setting section 15 in which standard values related to lead arrangement are set is connected to the determination section 14 as described later. If the current measured value deviates from the standard value, it is determined that there is a defect in the lead arrangement. It is configured to determine this and transmit the determination result to external device B (not shown).
回転テーブル4の一側方には、リード列の側面画像を取
り込む撮像装置としてのリード長さ検査用テレビ・カメ
ラ(以下、第2TVカメラという。On one side of the rotary table 4, there is a lead length inspection television camera (hereinafter referred to as a second TV camera) serving as an imaging device that captures side images of the lead rows.
)21が略水平内向きに配されて設備されており、この
第2TVカメラ21は後記するモニタの画像に図示され
ている如く、回転テーブル4に保持されたQFPiCl
のリード3列の側面像の一部を撮映し得るように設定さ
れている。第2TVカメラ21には第2i!iuR処理
装5!22が接続されており、第1画像処理装置11と
同様、このli像処理装E22にも第2モニタ23およ
び第2判定部24がそれぞれ接続されている。第2判定
部24には後述するようにリード高さに関する標準値を
設定されている第2標準値設定部25が接続されており
、第2判定部24は前記第1判定部14に準じて、リー
ド高さに関する良否を判定し、当該判定結果を外部機器
に送信させるように構成されている。) 21 is installed so as to face approximately horizontally inward, and this second TV camera 21 is equipped with a QFPiCl held on a rotary table 4, as shown in the monitor image to be described later.
It is set so that a part of the side view of three rows of leads can be photographed. The second TV camera 21 has the second i! An iuR processing device 5!22 is connected, and like the first image processing device 11, a second monitor 23 and a second determination section 24 are also connected to this LI image processing device E22. A second standard value setting unit 25 in which a standard value regarding the lead height is set is connected to the second determination unit 24, as described later. , is configured to determine whether the lead height is acceptable or not, and to transmit the determination result to an external device.
次に作用を説明する。Next, the effect will be explained.
真空吸着ヘッド等のような適当な移送装置(図示せず)
により、被検査物としてのQFP−IC1が表面を下向
きにされて回転テーブル4上に載置され位置決めされる
と、吸引口6に負圧供給路7から負圧が供給され、QF
P・’ICIが回転テーブル4上に位置決め保持される
。A suitable transfer device (not shown) such as a vacuum suction head, etc.
When the QFP-IC 1 as an object to be inspected is placed and positioned on the rotary table 4 with its surface facing downward, negative pressure is supplied to the suction port 6 from the negative pressure supply path 7, and the QFP-IC1 is placed with its surface facing downward.
P.'ICI is positioned and held on the rotary table 4.
QFP・ICIが回転テーブル4に位置決め保持される
と、第1TVカメラ11および第2TVカメラ21によ
りパッケージ2の側面から突出されているリード3の一
列の一部がそれぞれ撮映される0両TVカメラ11.2
1の出力信号は第1画像処理装置12および第2画像処
理装置22にそれぞれ送信される6両画像処理装置12
.22において所定の信号処理が実行され、所ヱに応じ
て、当M画像が第1モニタ】3および第2モニタ23に
それぞれモニタリングされる。When the QFP/ICI is positioned and held on the rotary table 4, the first TV camera 11 and the second TV camera 21 photograph a part of the row of leads 3 protruding from the side of the package 2, respectively. 11.2
The output signal of No. 1 is transmitted to the first image processing device 12 and the second image processing device 22, respectively.
.. At 22, predetermined signal processing is executed, and the M image is monitored on the first monitor 3 and the second monitor 23, depending on the situation.
また、第1iiiuR処理装置I2において、例えば、
第1モニタ13に図示されているような画lI!信号に
基づいて、隣り合うリード3.3間のピッチPに関する
寸法Pl、およびリード3列の内外のずれSに関する寸
法S1がそれぞれ順次測定される。Further, in the first iiiuR processing device I2, for example,
An image as shown on the first monitor 13! Based on the signals, a dimension Pl regarding the pitch P between adjacent leads 3.3 and a dimension S1 regarding the internal and external deviation S of the three rows of leads are each sequentially measured.
これら測定寸法P1およびSlは第1画像処理装置12
から判定部14に逐次送信される0判定部14において
、これら測定寸法P1およびslと、設定部15からこ
の入力と同期して送信されて来る標準値PaおよびSo
とがそれぞれ照合され、Ps =Posおよび、5l−
3oである時には「良jと、P1≠Po、または、S1
≠Soである時には「不良」と、判定されるとともに、
その良否の判定結果が外部機器に出力される。These measured dimensions P1 and Sl are measured by the first image processing device 12.
The 0 determination unit 14 sequentially transmits these measured dimensions P1 and sl to the determination unit 14, and the standard values Pa and So transmitted from the setting unit 15 in synchronization with this input.
are compared, Ps = Pos and 5l-
When it is 3o, “Ryoj and P1≠Po or S1
When ≠So, it is judged as “defective”, and
The pass/fail determination result is output to an external device.
他方、第2画像処理装置22において、例えば、第2モ
ニタ23に図示されているような画像信号に基づいて、
リード3の高さHに関する寸法HAが順次測定される。On the other hand, in the second image processing device 22, for example, based on the image signal as shown on the second monitor 23,
A dimension HA regarding the height H of the lead 3 is sequentially measured.
この測定寸法H1は第2画像処理装置12から判定部2
4に逐次送信される。This measured dimension H1 is sent from the second image processing device 12 to the determination unit 2.
4 will be sent sequentially.
判定部24において、この測定値H1と、設定部25か
らこの入力と同期して送信されて来る標準値Hoとが照
合され、Hl−HOである時には[良」と、H1#Ho
である時には「不良」と判定されるとともに、その良否
の判定結果が外部機器に出力される。In the determination unit 24, this measured value H1 is compared with the standard value Ho sent from the setting unit 25 in synchronization with this input, and when it is Hl-HO, it is judged as [good] and H1#Ho
If so, it is determined to be "defective" and the result of the determination of pass/fail is output to an external device.
ちなみに、r不良」と判定された場合、外部機器におい
て、不良と判定されたQFP・IC1に当該「不良」に
対応したマーク情報等が表示されるとともに、不良と判
定されたQFP−ICI自体は真空吸着ヘッド等のよう
な適当な手段により、回転テーブル4から下ろされ、不
良品収納部へ移送される。By the way, when it is determined that the QFP-IC1 is defective, mark information corresponding to the "defective" is displayed on the external device, and the QFP-IC1 itself that is determined to be defective is displayed. By suitable means such as a vacuum suction head or the like, it is unloaded from the rotary table 4 and transferred to the defective product storage section.
ところで、バフケージ2の一側面における1列のリード
3J11!についての処理が単一の視野で完遂可能な場
合には、回転テーブル4がサーボモータ5によって90
度宛回動されることにより、1列分宛の前記判定作動が
実行される。By the way, one row of leads 3J11 on one side of the buff cage 2! If the processing for can be completed in a single field of view, the rotary table 4 is rotated by
The determination operation for one column is executed by rotating the column.
しかし、単一の視野に1列分のリード3群が収まらない
場合には、第2ffl(al、山)に示されているよう
に、回転テーブル4が所定の角度だけ回動される毎に1
列のリード3群について部分的に画像を順次取り込むこ
とにより、部分毎に前記判定作動が繰り返されて行き、
各列全体についての検査が完遂される。さらに、回転テ
ーブル4が90度以上回動されることにより、次列以降
についての検査が実施されて行くことになる。However, if three groups of leads for one row cannot fit in a single field of view, as shown in the second ffl (al, mountain), each time the rotary table 4 is rotated by a predetermined angle, 1
By sequentially capturing partial images of the three groups of leads in the column, the determination operation is repeated for each portion,
A test is completed for each column as a whole. Further, by rotating the rotary table 4 by 90 degrees or more, the inspection of the next row and subsequent rows will be carried out.
ここで、例えば、第2図(alに示されている初期状態
の視野F、から、第2図(blに示されている回動後の
状態の視野F2になっても、第1TVカメラ11の画像
は見かけ上、同一列内で連続したリード列を映し出すこ
とになる。このとき、第2図中)の視野F!に示されて
いる画像は第2図(alの視野Flに示されている画像
に対して傾斜することになるが、前記判定作動に際して
、直線近値法等のような手法によって適当な信号処理を
実行することにより、正確な判定を確保することができ
る。Here, for example, even if the field of view F in the initial state shown in FIG. 2 (al) changes to the field of view F2 in the rotated state shown in FIG. 2 (bl), the first TV camera 11 The image appears to show continuous lead rows within the same row.In this case, the image shown in the field of view F! in Fig. 2 (in Fig. 2) is shown in the field of view Fl in Fig. 2 (al). However, accurate determination can be ensured by performing appropriate signal processing using a method such as a linear near-value method during the determination operation.
また、このような分割判定作動は第2TVカメラ21に
おいても実施されることになるが、QFP−ICIの回
転前後においては第2TVカメラ21の焦点が相異する
ため、回転前と回転後とについて専用の第2TVカメラ
2121を設備することが望ましい、この場合、各カメ
ラはQFP・ICIに対して同一の側方位置に並設する
必要はなく、異なる側方に各別に配備してもよい。そし
て、このような手法により、リード数の増加や、パッケ
ージの大型化に対処することができる。Further, such a division determination operation will also be performed in the second TV camera 21, but since the focus of the second TV camera 21 is different before and after the rotation of the QFP-ICI, It is desirable to install a dedicated second TV camera 2121. In this case, each camera does not need to be installed in parallel at the same lateral position with respect to the QFP/ICI, but may be installed separately on different sides. By using such a method, it is possible to cope with an increase in the number of leads and an increase in the size of the package.
前記実施例によれば次の効果が得られる。According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.
+11 回転テーブルに保持された被検査物における
リード群を各リード列に対応してそれぞれ撮像し、この
撮像信号に基づいて各リード列の良否を判定することに
より、各リード列毎に外観検査を実行することができる
ため、QFP−ICのように一方向に送ることができな
い被処理物についても検査を実現することができるとと
もに、リード列における各リード高さのばらつきについ
ても検査することができる。+11 Visual inspection can be performed for each lead row by taking images of the lead group in the test object held on the rotary table in correspondence with each lead row, and determining the quality of each lead row based on the imaged signal. This makes it possible to inspect workpieces that cannot be fed in one direction, such as QFP-ICs, as well as to inspect variations in the height of each lead in a lead row. .
(2) リードが四方に突出している被処理物、およ
びそのリード列の各リード高さについての検査を実現す
ることにより、QFP−IC等のような表面実装型のパ
ンケージを有するICのリードについても正確な外観検
査を確保することができるため、それら製品の品質およ
び信頼性を高めることができるとともに、表面実装作業
における実装不良の発生を未然に防止することができる
。(2) By realizing inspection of the workpiece with leads protruding in all directions and the height of each lead in the lead row, it is possible to inspect the leads of ICs with surface mount type pancages such as QFP-ICs. Since accurate visual inspection can be ensured, the quality and reliability of these products can be improved, and the occurrence of mounting defects during surface mounting work can be prevented.
(3)被検査物の各リード列毎に検査資料である画像を
取り込むことにより、リード数の増加や、パッケージの
大型化に対応して画像の分解能を維持することができる
ため、リード数の増加や、パッケージの大型化に容易に
対処しつつ、所期の検査精度を確保することができる。(3) By capturing images as inspection materials for each lead row of the object to be inspected, image resolution can be maintained as the number of leads increases and packages become larger. The desired inspection accuracy can be ensured while easily dealing with the increase in the number of packages and the increase in the size of the package.
〔実施例2〕 第3図は本発明の他の実施例を示す模式図である。[Example 2] FIG. 3 is a schematic diagram showing another embodiment of the present invention.
本実施例2が前記実施例1と異なる点は、回転テーブル
4の4側面に矩形形状の平面鏡8が、略45度の傾斜角
をもって斜め上向きにそれぞれ配置されて固定的に付設
されており、回転テーブル4の真上に配されている兼用
形TVカメラ31がこの平面118を通してリード列を
盪像するように構成されているとともに、側方のTVカ
メラが省略されている点にある。The second embodiment is different from the first embodiment in that rectangular plane mirrors 8 are fixedly attached to the four sides of the rotary table 4, and are arranged diagonally upward at an inclination angle of approximately 45 degrees. A dual-purpose TV camera 31 placed directly above the rotary table 4 is configured to image the lead row through this plane 118, and the side TV cameras are omitted.
本実施例2において、このリード検査装置はガル・ウィ
ング形状に形成されたリード3Aがパッケージ2Aの4
側面から突設されているQFP・ICIAについての検
査を実施することができるように構成されている。In this embodiment 2, this lead inspection device has a lead 3A formed in a gull wing shape.
It is configured to be able to inspect QFP/ICIA that protrudes from the side.
ところで、このガル・ウィング形のリード3Aを有する
表面実装型のQFP・ICIAは、表面実装作業におい
て、リード3Aの下面がランドパッド(図示せず)にリ
フローはんだされるため、第3図におけるモニタ33に
図示されているように、リード間ピッチPおよびリード
3A下面の上下方向のずれAが問題とされる。By the way, in the surface mount type QFP/ICIA having the gull-wing shaped leads 3A, the lower surface of the leads 3A is reflow soldered to a land pad (not shown) during surface mounting work, so the monitor shown in FIG. 33, the pitch P between the leads and the vertical deviation A of the lower surface of the leads 3A are problematic.
そこで、本実施例2においては、画像処理装置32にお
いて、モニタ33に図示されているピッチPに関する寸
法PI、およびリード3A下面の上下方向のずれAに関
する寸法A1がそれぞれ測定される。これら測定寸法P
IおよびAIは判定部34に送信され、判定部34にお
いて、これら測定寸法P1およびAnと、設定部35か
らこの入力と同期して送信されて来る標準値Poおよび
Aoとが照合される。そして、P1=Po、およびA1
=AOである時には「良」と、P1#P、o、または、
A1≠Aoである時には「不良」と判定されるとともに
、その良否の判定結果が外部機器に出力される。Therefore, in the second embodiment, the image processing device 32 measures the dimension PI regarding the pitch P shown on the monitor 33 and the dimension A1 regarding the vertical deviation A of the lower surface of the lead 3A. These measured dimensions P
I and AI are transmitted to the determination unit 34, and the determination unit 34 compares these measured dimensions P1 and An with standard values Po and Ao transmitted from the setting unit 35 in synchronization with this input. And P1=Po, and A1
= AO, “Good”, P1#P, o, or
When A1≠Ao, it is determined to be "defective" and the result of the determination is output to an external device.
このようにして、本実施例2によれば、単一系統によっ
て、ガル・ウィング形状のリード3Aを有するQFP・
ICIAについてのリード外観検査を完遂することがで
きる。In this way, according to the second embodiment, a QFP having a gull-wing shaped lead 3A can be connected by a single system.
A lead visual inspection for ICIA can be completed.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.
例えば、回転テーブルの具体的構成は前記実施例に限ら
ず、適宜選定することができる。For example, the specific configuration of the rotary table is not limited to the embodiment described above, and can be appropriately selected.
撮像装置としては、TVカメラを使用するに限らず、他
の撮像装置を使用してもよい。The imaging device is not limited to a TV camera, and other imaging devices may be used.
撮像装置の撮像に基づく良否の判定部は、測定値と、予
め設定されている標準値とが照合されることにより判定
が実行されるように構成するに限らず、遅延回路等を用
いて測定値同士が照合されることにより判定が実行され
るように構成してもよい。The pass/fail judgment unit based on the image captured by the imaging device is not limited to being configured so that the judgment is executed by comparing the measured value with a preset standard value, but it is also configured to perform the judgment by using a delay circuit, etc. The configuration may be such that the determination is executed by comparing the values.
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるバ。The above description mainly focuses on the field of application to which the invention was made by the present inventor.
ト・ウィングおよびガル・ウィング形のリードを有する
QFP−ICについてのリード検査に適用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、Jベ
ント形のリードを有するQFP−IC,また、必要があ
ればデエアル・イン・ライン・パッケージ形のIC,さ
らには、その他の電子部品または電子機るのリードを検
査する検査技術全般に適用することができる。Although the case where the application is applied to lead inspection for QFP-ICs having J-bent and gull-wing type leads has been described, the present invention is not limited thereto, and is applicable to QFP-ICs having J-bent type leads, as well as If there is, it can be applied to general inspection techniques for inspecting leads of dair-in-line packaged ICs, as well as other electronic components or electronic equipment.
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.
回転テーブルに保持された被検査物におけるリード群を
各リード列に対応してそれぞれ撮像し、この撮像信号に
基づいて各リード列の良否を判定することにより、各リ
ード列毎に外観検査を実行することができるため、QF
P・ICのように一方向に送ることができない被処理物
についても検査を実現することができるとともに、リー
ド列における各リードの高さのばらつきについても検査
することができる。A visual inspection is performed for each lead row by taking images of the lead group on the test object held on a rotary table in correspondence with each lead row, and determining the quality of each lead row based on the imaged signal. QF
It is possible to inspect objects to be processed, such as P-ICs, which cannot be fed in one direction, and it is also possible to inspect variations in the height of each lead in a lead row.
第1図は本発明の一実施例であるリード検査装置を示す
模式図、
第2図tal、山)は作用を説明するための各平面図で
ある。
第3図は本発明の他の実施例を示す模式図である。
1、IA・・・QFP・IC(被検査物)、2.2A・
・・パッケージ、3・・・バット・ウィング形リード、
3A・・・ガル・ウィング形リード、4・・・回転テー
ブル、5・・・回転駆動装置、6・・・吸引口、7・・
・負圧供給路、8・・・平面鏡、1121,31・・・
TVカメラ(撮像装置)、12.22.32・・・画像
処理装置、13.23.33・・・モニタ、14.24
.34・・・判定部、15.25.35・・・標準値設
定部。
第1図
3・°・バ、yl−・ジイン2郁リード。
3A・・・ガコレ・ウィ77’eリードヰ・・・て1獣
デー11し
6°°°ツLg10
+2.22.32・−AイL々シgLづ[13,23,
33・・・モ1シフ
1+、24..34−−・4づ定押
+5.25.35・・・オ睨11菫虞え定3?WE2図
(a)(b)
第3図FIG. 1 is a schematic diagram showing a lead inspection device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view for explaining the operation. FIG. 3 is a schematic diagram showing another embodiment of the present invention. 1, IA...QFP・IC (tested object), 2.2A・
...Package, 3...Bat wing type lead,
3A...Gull wing type lead, 4...Rotary table, 5...Rotary drive device, 6...Suction port, 7...
- Negative pressure supply path, 8... plane mirror, 1121, 31...
TV camera (imaging device), 12.22.32... Image processing device, 13.23.33... Monitor, 14.24
.. 34... Judgment section, 15.25.35... Standard value setting section. Fig. 1 3・°・ba, yl-・jiin 2 lead. 3A... Gakore Wi 77'e Lead Wi... Te 1 Beast Day 11 6°°°tsu Lg10 +2.22.32・-A I L し gLzu [13,23,
33...Mo1 shift 1+, 24. .. 34--・4 zu fixed press +5.25.35...Oglare 11 Sumire set 3? WE2 Figure (a) (b) Figure 3
Claims (1)
突設されている被検査物を保持し、パッケージをリード
列が接線方向となるように回転させる回転テーブルと、
回転テーブルに保持された被検査物における少なくとも
リード列の一部を撮像する撮像装置と、撮像装置の撮像
信号に基づいて各リード列についての良否を判定する判
定部とを備えていることを特徴とするリード検査装置。 2、撮像装置が、リード列の端面および側面をそれぞれ
撮像するように構成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のリード検査装置。 3、撮像装置が、回転テーブルに付設された鏡を介して
リード列を撮像するように構成されていることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のリード検査装置。[Scope of Claims] 1. A rotary table that holds an object to be inspected in which a plurality of leads are arranged and protrudes from the side of the package, and rotates the package so that the lead rows are tangential.
The present invention is characterized by comprising: an imaging device that images at least a part of the lead rows in an object to be inspected held on a rotary table; and a determination unit that determines the quality of each lead row based on the imaging signal of the imaging device. Lead inspection equipment. 2. The lead inspection device according to claim 1, wherein the imaging device is configured to take images of an end surface and a side surface of the lead row, respectively. 3. The lead inspection device according to claim 1, wherein the imaging device is configured to take an image of the lead row through a mirror attached to a rotary table.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26643487A JPH01109732A (en) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | Inspection device for lead |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26643487A JPH01109732A (en) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | Inspection device for lead |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01109732A true JPH01109732A (en) | 1989-04-26 |
Family
ID=17430881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26643487A Pending JPH01109732A (en) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | Inspection device for lead |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01109732A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01302147A (en) * | 1988-05-31 | 1989-12-06 | Matsushita Electron Corp | Appearance inspecting device |
WO2000016076A1 (en) * | 1998-09-17 | 2000-03-23 | Viewwell Co., Ltd. | Electronic component lead inspection device |
KR100535969B1 (en) * | 1999-08-19 | 2005-12-09 | 니찌아스 카부시키카이샤 | Humidification element for vaporizing humidifier |
JP2006184022A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Visual inspection system |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP26643487A patent/JPH01109732A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01302147A (en) * | 1988-05-31 | 1989-12-06 | Matsushita Electron Corp | Appearance inspecting device |
WO2000016076A1 (en) * | 1998-09-17 | 2000-03-23 | Viewwell Co., Ltd. | Electronic component lead inspection device |
KR100535969B1 (en) * | 1999-08-19 | 2005-12-09 | 니찌아스 카부시키카이샤 | Humidification element for vaporizing humidifier |
JP2006184022A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Visual inspection system |
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