JPH01107140A - 製品漏洩検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 １１上亘机且分！ 本発明は一般的に容器検査装置に関し、特に容器の口の
封鎖性を検査する装置に関する。

容器の封鎖面の欠陥としてデイツプ（ｄｉｐｓ）とサド
ル（ｓａｄｄｌｅｓ）　　とがある。デイツプとは瓶の
口の狭い沈下部であり、サドルとは広い沈下部を称する
。

従漣ｎ支有 各種の製品漏洩検出装置が既知であり３例えば米国特許
第３４９６７６１号、第４４９０８００号に記載がある
。これらの検出装置は瓶の封鎖面を検査し、瓶はコンベ
ヤ又は送りねじによって検出装置の下の検査部位に供給
される。米国特許第３４９６７６１号の検出装置は試験
用取付具を下げて検査部位での瓶の口に係合させる。瓶
の口が正当に形成され円滑で平でほぼ水平ならば気密の
封鎖を形成し、欠陥があれば漏洩を生ずる。試験用取付
具による瓶の口の封鎖性は市販のキャップ等による瓶の
口の封鎖性の模倣である。

各種の既知の漏洩検出装置では、空気を瓶内に供給して
各種検査装置によって圧力を感知する。

例えば米国特許第３４９６７６１号では、ポンプを形成
するピストンとシリンダ組立体によって計量された容積
の空気を容器内に噴射する。ピストンとシリンダ組立体
の排出ストロークの終りに、試験用取付具を瓶の口に残
して、容器内に残留する空気圧力を測定し、容器の口の
不良によって過大漏洩が生ずるかどうかを定める。この
方法は瓶の口の面の不良を検出するには有効であるが、
瓶の検査速度が限定される。更に、この形式の検査は瓶
への接触と空気の噴射を必要とし、各要件の実施が瓶を
汚損することがある。

米国特許第３５５５９８０号は他の形式の製品漏洩検出
装置を記載する。この装置は放射エネルギのビームで瓶
のリムを照射し、ビームは極性を有し電気ベクトルを容
器の頂面に直角とする。容器はビームに対して検査部に
回転させる。ある形式の欠陥はビームの一部を上方のセ
ンサに反射し、センサの規準線はプリニースターの角度
をビームに対して形成する。極性と角度関係のため、欠
陥は容器に伝達された放射エネルギの量を著しく減少さ
せる。

米国特許第３８８０７５０号はガラス容器の封鎖面検査
用の別の光学装置を開示し、光源はリムを横切って薄い
光の線に合焦させる。光センサはリムからの光の偏向を
受は基準レベルを設定する。リムの欠陥は受けた光を増
加又は減少させる。

米国特許第４０２６４１４号は容器の封鎖面を検査する
別の光学装置を開示し、３０−４０個の光センサのモザ
イクを円形リングに形成した光センサヘッドを検査すべ
き瓶上方に支持する。光源は中央開口から瓶の口にビー
ムを照射し、光は瓶のリムから上方に反射して各種セン
サに達する。

」　＜”′　しよ゛と　る− 本発明の一般的目的は容器の口の封鎖性を感知する検出
装置を提供し、検出装置を信頼性高く。

正確で、高検査能力を有する装置とするにある。

−“　るための 本発明は容器の封鎖面のデイツプ、サドル、　（ＩＪ！
斜等の欠陥を検査する装置である。容器を回転する間、
光ビームを容器の仕上部の上方及び瓶内から放射する。

本発明の特徴による光学検出装置が光ビームの最小の位
置を検出して封鎖面の高さを検出する。

高さの減少はデイツプ又はサドルの欠陥を示す。

本発明の他の特徴によって、不透明軸受部材を光ビーム
の経路内の封鎖面上に下げ、封鎖面の現在高さを示す基
準となる。軸受部材の下側の下と封鎖面の上を通る光に
よってデイツプ又はサドルを示す。

失止桝 本発明を例示とした実施例並びに図面について説明する
。

第１図に示す検査装置１０は本発明による製品の漏洩検
出装置１１を含む。検査すべき容器１５を通常の直線コ
ンベヤＩ２によって検出装置１１に搬送する。

容器は送りねじ１４によって所定の間隔として順次に検
査部位に搬送する。容器１５は検査部位に入ったとき、
水平可動のキャリッジ２０上に取付けた水平プランジャ
１８上の一対の離間したローラー１６によって係合され
る。キャリッジ２０は軸２２の軸線に沿って可動に取付
られている。ローラー１６は一対のみを示したが容器の
形式に応じて上下２対のローラーを効果的に使用できる
。

ローラー１６は容器１５に接触し、容器１５を水平運動
無端ベルト４に押圧してキャリッジ２０と共に動く、ベ
ルト４は検査部位を容器１５が通過する間に十分に速く
かつ少な（とも完全１回転させ得るような速度で動く、
ベルト４はハウジング２１内の案内ローラー５を廻って
延長しており、第３図に示す可変速度モータ１７によっ
て駆動される。モータ１７の速度を調節して所要の回転
とする。カム面を有しゴム等の材料からなるブレーキブ
ロック２３はハウジング２１に支持されている。ブロッ
ク２３の斜面のカム面は容器をベルト４に緩く接触させ
１口゛　　−ラー１６に作用する圧力によって容器の回
転を停止させる。ブロック２３は検査部位の下流端の位
置とする。

ベルト４はコンベヤ１２の運動方向に対し反対方向、又
は同方向に動くことができる。好適な方向はコンベヤ１
２の同方向であり、これによれば検査中に破ｔｎ　した
不良瓶をコンベヤ１２から排出するのが容易である。

キャリッジ２６は下向きに延長するプランジャー２８を
有し、該キャリッジ２６は軸３０に沿って水平往復運動
可能に取付ける。プランジャー２８はキャリッジ２６に
対して垂直運動可能に取付ける。キャリッジ２０．２６
は検査部位内を一定速度でコンベヤ１２の進行方向に間
期して動き、容器１５の検査完了後にほぼシヌソイドの
速度（サイン曲線速度）で戻る。キャリッジ２０　、２
６をねじ１４に対して所定タイミングで往復させる機構
、及びプランジャー２８を検査部位の初期には下方にか
つ終期には上方に動かす機構は米国特許第３３８７７０
４号第３５５７９５０号に記載される。詳細な説明は省
略する。各プランジャー１Ｂ、２８はカム又はばねによ
って、キャリッジのストロークの最初に容器１５に押圧
され、キャリッジのストロークの最後に容器から離れる
。

第１．２図に示す本発明による製品漏洩検出装置１１の
照明組立体６８はプランジャー２８によって垂直往復運
動可能に支持され、瓶１５の口に出入する。

瓶１５が検査部位に到着すれば、プランジャー１８は伸
長してローラー１６は瓶１５を回転ベルト４に押圧して
瓶１５の回転を開始させる。同時に、プランジャー２８
は下降して照明組立体６８を第１．２図に示す通り瓶１
５の口内に下降させる。照明組立体６８は。

例えば単純白熱電球とした光源７０．光源７０の光を集
光して下方にｖＡ１４又はプリズムに当てるレンズ７２
を含む。更に照明組立体６８はレンズ７２とｙ１７４と
の間に支持したディフューザ７６を有し、このディフュ
ーザ７６は光源７０から放射する光を散乱させてほぼ平
行の均等強度の光ビーム７７とし、鏡７４の部分８０を
照射する。光ビーム７７の断面は充分に広くし、鏡７４
の角度は光が水平に矢印８４に示すようにＭ２Ｓの封鎖
面８６の上下に反射させるようにする。

製品漏洩検出装置１１は更にカメラ１００を有し。

このカメラ１００は支持部材９２によってキャリッジ２
０に固着されキャリッジ２０と共にコンベヤ１２と同方
向及び反対方向に往復運動する。このため、カメラ１０
０は検査部位での瓶１５を追跡して勤（、カメラ１００
のレンズ９４は鏡７４の反射した光を受け。

電荷結合装置の垂直方向の直線アレイ９６に集光する。

アレイ９６はカメラ１００内とする０例えば、アレイは
２５６ピクセルを有し欠陥に対して１／１６ｉｎ（１，
６ｍｍ）の深さ、その公差１／１６ｉｎとし、ピクセル
当りの分解能は０．０００７ｉｎ（０，０１８ｍｍ）と
する。好適な例で直線アレイ９６はフェアチャイルド社
の商標名１−５ｃａｎ、　ＣＣＤＩＩＩ型線走査センサ
を使用する。カメラ１００は電子回路９７を有し電荷結
合装置の出力を処理する。後述する通り、瓶の回転中に
カメラ１００は多数の点で封鎖面８６の高さを検出し、
深さその高さの沈下等の偏差が封鎖面の欠陥を示す。

カメラ１００は、第１．３図に示すビデオプロセサ及び
制御装置１０１の一部とし、このプロセサはマスターク
ロック１０２から作動開始する。ビデオプロセサ１０１
　は露出タイミング素子１０４を含み、直線アレイ９６
に対する露出時間をセットする。直線アレイ９６のビデ
オ情報の２本の線を混合しないために、露出時間は前の
線から凡ての情報を読取るに要する時間より長くする必
要がある。カメラ１００は３種の出力即ち、ビデオクロ
ック、走査開始、二成分ビデオ、を一連の出力回路１０
６に供給し１回路１０６の出力は各ピクセルの照明の強
度を示す一連のアナログデータである。回路１０６のア
ナログ出力は信号調節回路１０８に供給され、この出力
は第４図中に瓶の口のある種のプロフィルとして示され
ている。第４図の例では第１図の配向に起因して直線ア
レイ９６のＯ番目のピクセルが最高でありかつ２５５番
目のピクセルが最小である。

更に第４図に示す通り、　０−２５５番目のピクセルは
照明組立体６８から伝達された光ビーム８４によっであ
る程度照明されている。ピクセル０−２４番目（以下「
番目」を略す）は完全に封鎖面８６よりも上にありビー
ム８４の一部によって照明され、このためピクセル０−
２４はほぼ最大強度レベルの光を受け、ピクセル０−２
４に対してグラフの高さは比較的高い。

ピクセル２５の受ける光強度は直線アレイ内で最小であ
るが、これはこのピクセルが封鎖面８６と水平に一致す
るためである。このレベルでピクセル２５に伝達される
光はピクセル２５１から離れた面８６により、該封鎖面
８６の僅かな不規則又は封鎖面８６とビーム８４の非平
行に起因して反射される。即ち。

光ビームはスネルの法則によって封鎖面８６から反射さ
れる。ピクセル２６−２５５は封鎖面８６よりも下にあ
り、ピクセル２５の受けるレベルよりも大きな強度レベ
ルを受ける。この理由は封鎖面８６よりも下の光ビーム
８４が略透明な仕上り部分を介して伝達されるためであ
る。ピクセル２６−２５５での強度レベルの不規則性は
仕上り部分の断面のねじれ部等による不規則性を示す。

ピクセル０−２５５の高さの不規則性は上下方向振動に
よることもある。瓶１５が回転すればビデオカメラ１０
０は連続的に直線アレイ９６のピクセルに生じた強度を
出力し、光ビーム８４と交叉する封鎖面８６の高さは最
低強度レベルを受けるピクセルの位置で示される。例え
ば、第４図のグラフが封鎖面８６の定常部分を代表する
とすれば、デイツプされた部分のプロフィルのグラフは
大きな番数のピクセルによって示され、最低強度レベル
傘６秦巷物となっている。例えば、ピクセルの分解能を
０．０００７ｉｎ　（０，０１８ｍｍ）としかっ瓶１５
が最小深さ０．０７ｉｎ（１，８ｖｗ）のデイツプを介
してビーム８４が通るよう配置されているとすれば、ピ
クセル３５が最低強度レベルを示す。

信号調節変換器１０８の出力は比較器１５０の一方の入
力に供給される。比較器の他方の入力はポテンシオメー
タ１５２から供給され、これにより封鎖面８６に相当す
る強度レベル（即ち第４図の２５番ピクセルの強度バー
の高さ）以上でありかつ他のピクセルの強度レベルより
低い（即ち２６番ピクセル強度より低い）ような限界値
（しきい値）を設定する。それ故、信号調整回路１０８
の入力が封鎖面８６の高さ即ち２５番ピクセルに相当す
る強度レベルにある時は比較器１５０の出力は低い。比
較器１５０からの低レベルの信号出力はビデオプロセサ
及び制御装置１０１内のマイクロプロセサ１５６の入力
に供給される。低レベル信号を受けた時はマイクロプロ
セサはビデオプロセサ１０１内のカウンター１６０の出
力を読み、カウンターは各ピクセルとした強度レベルに
相当する一連の出力に対してカウントゼロからマスター
クロツタによって計数する。

それ故、上述の例では比較器１５０の出力が低となれば
、カウンターはマイクロプロセサ１５６にカウント２５
を供給し、マイクロプロセサは封鎖面８６の高さと知る
。好適な例で、一連の出力回路＋０６．カウンター１６
０はフェアチャイルド社のビクセルロケータ−ＣＣＤ１
１２０−０２型とする。一連出力回路１０６は凡ての走
査ピクセルが回路から出力された後に回路１５９によっ
てカウンターをリセットする。

マイクロプロセサ１５６の作動を第５図のフローチャー
トに示し、ビデオプロセサと制御装置１０１内のリード
オンリーメモリー（ＲＯＭ）　１６４内の計算機プログ
ラム即ちファームウェア（ｆ　ｉｒｍｗａｒｅ）を代表
する。送りねじ１４に結合された図示しない存在センサ
ーが作動して検査部位への瓶１５の到着を示した時にス
テップ１６５でマイクロプロセサが始動する。マイクロ
プロセサはステップ１６６で比較器１５０の出力によっ
て供給された入力を周期的に読み、出力が低になった時
にステップ１６６でカウンター１６０の出力を読み、カ
ウントをランダムアクセスメモリー（ＲＡＭ）　１７０
に記憶させる。このカウントは瓶の封鎖面の高さに相当
する。マイクロプロ七すはカウンターの監視を継続しス
テップ１６７で瓶が１回転した時の別のカウントを読む
、又は他の長い所定の検査時間とする０回転の完了は回
転モータ１７の軸エンコーダーによって示す０次にステ
ップ１６９でマイクロプロセサは瓶の多数のサンプルに
ついて瓶当りの平均カウントを計算し、この計算によっ
て封鎖面８６の３６０°についての平均高さを得て平均
カウントをＲＡＭ１７０に記憶させる。

次にステップ１７２において、マイクロプロセサはＲＡ
Ｍ１７０に記憶させた各カウントをステップ１６９で計
算した平均カウントと比較する。ステップ１８２で、何
れかのカウントが平均カウントからキーボード１８０又
はスイッチでマイクロプロセサに入れた公差を引いた値
よりも少ない時はステップ１８３でマイクロプロセサは
りゼクタ−１８４を作動させる。このカウントは封鎖面
８６の一部が平均高さよりも低く、デイツプ、サドル、
リーナー（ｌｅａｎｅｒ）等の何れかの欠陥の特性を示
す、何れのカウントも平均値マイナス公差よりも低くな
い場合にはステップ１８２はリゼクタ−１８４を作動さ
せないで終る。これは封鎖面の合格を示す。

上述の回路とプロセスは傾斜した瓶を検出し。

傾斜した瓶の封鎖面は通常は瓶に沿って傾き、この瓶の
封鎖面の一部はほぼ平均値以下で゛ある。所要に応じて
、マイクロプロセサのプログラムは傾斜層を他の欠陥と
区別するために、封鎖面高さが平均より小さい順次のサ
ンプルの数を計算する。

全周の約半分に相当する極めて多数の場合は傾斜した瓶
を示す。

第６．７．８図は本発明の他の実施例による製品漏洩検
出装置２００を示す、この製品漏洩検出装置２００は第
１図に示す検査装置１０とほぼ同様の検査装ｆ＃２０２
に使用し同じ符号は同様の部分を示す。

製品漏洩検出装置２００も製品漏洩検出装置１１とほぼ
同様であり、同じ符号は同様の部分を示す０両型品漏洩
検出装置の基本的差異は次の通り、製品漏洩検出装！２
００は軸受取付ヘッド２０４を有し。

照明組立体６８を囲み、瓶１５の全封鎖面８６に接触す
る。軸受取付へラド２０４は球継手を含み、この球継手
は球軸受２０６．内レース２０８．外レース２０９を有
する。内レース２０８はプランジャー２８に固着し。

このため封鎖面８６が僅かな傾斜があってもソケットが
封鎖面に着座する。軸受取付ヘッド２０４は更に軸受部
材２１０を有し、この軸受部材２１０は封鎖面８６に係
合し、かつ瓶の回転中封鎖面に対して静止である。この
ため軸受部材２１０は瓶の回転中外レース２０９に対し
て回転する。軸受取付ヘッドは２種の機能を有する。瓶
１５を垂直振動に対して安定させ、各サンプル中封鎖面
の高さに相当するピクセルには振動の影響が少ない、更
に、軸受取付ヘッド２０４は封鎖面８６の現在高さを示
す基準レベルを形成する。第９図のグラフは通常の瓶の
口のプロフィルを代表し、第４図のプロフィルと同様で
あり、封鎖面８６より上の０−２４ピクセルの示す強度
レベルは外光以外はゼロであり、封鎖面８６より上の光
ビーム８４の部分は軸受取付ヘッドによってブロックさ
れる。封鎖面８６での２５番ピクセルは第４図の２５番
ピクセルの受ける光量に比較して著しく少ない光量を受
ける。封鎖面８６より下の２６−２５５番ピクセルは瓶
の仕上部から伝達された光を受は第９図の例では各ピク
セル２６−２５５の受ける光量は第４図のピクセル２６
−２５５の受ける光量にほぼ等しい！第９図に示す通り
、０番のピクセルは著しく強いレベルを示し、軸受取付
ヘッドの下面の高さを示し、この高さが封鎖面８６の現
在高さを代表する。

軸受素子２１０は欠陥のデイツプ又はサドルの形状を追
随するほどではない。

第１０図は瓶仕上のプロフィル部の光強度グラフであり
、デイツプ８フ等の欠陥に相当する部分を示す、上述の
理由によって２５番ピクセルは軸受素子２１０の下面、
即ち封鎖面の現在高さを代表する。

グラフは更に軸受素子７１０の下面の下の４本のピクセ
ル、即ち２５−２８番ピクセルが極めて高い光強度を受
け、これが軸受素子の下方の間隙を示す。

次の下方の２９番ピクセルはサンプルのプロフィルの封
鎖面からの高さに対して低い強度レベルを示し、軸受素
子２１０の下面とこのプロフィルの封鎖面８６０間の間
隙は約４ピクセル巾であることを示す。２９番ピクセル
の下のピクセルの受ける光強度は瓶仕上面から伝達され
上述と同様である。

この製品漏洩検出装置２００は同じビデオカメラ１００
と同じビデオプロセサと制御装置１０１を製品漏洩検出
装置１１と同様に使用し、差異は、製品漏洩検出装置２
００に使用するＲＯ旧６４が僅かに異なる作動プログラ
ム即ちファームウェアを含み、第１１図に示す。ステッ
プ１６５で存在センサが瓶Ｉ５が検査部位に到着したこ
とを示した時に、マイクロプロセサは周期的に比較器１
５０の出力を走査する。

ステップ２２０で出力の極性に変化が生じた時は。

マイクロプロセサはステップ２２２でカウンタ１６０の
出力を読み、このカウントと変化の形式を記憶させる。

マイクロプロセサはカウントと変化を集積しステップ２
２５でサンプルが完成し、即ちカウントが２５５に達す
る（ステップ２２３）。プロフィルに欠陥のない場合は
ほぼゼロ強度レベルのビクセルから第８図に示す通りゼ
ロより大きい強度レベルのビクセルへの１回の変化のみ
が生ずる。しかし、サンプルのプロフィルがデイツプ等
の欠陥を含む場合には、第１の変化としてゼロ強度ビク
セルからゼロより大きいビクセルに変化し、第２の変化
として高強度ビクセルから封鎖面の高さに相当する橿め
て低い強度のビクセルに変化し、第３の変化として封鎖
面の極めて低い強度レベルのビクセルから下方の比較的
高い強度レベルのビクセルに変化する。マイクロプロセ
サはステップ２２０−２２３を繰返して瓶仕上のプロフ
ィルの別のサンプルを集積し、ステップ２２５で瓶の１
回転が完了する。

次にマイクロプロセサは第１の正に行く変化と第１の負
に行く変化との間のカウントの差をステップ２２４で計
算し、軸受素子２１０の下面即ち封鎖面の現在高さとプ
ロフィルの下方の封鎖面８６の深さの間の寸法を示す。

これはデイツプ等の欠陥の深さであり、ステップ２２６
で許容値よりも大きい時はマイクロプロセサはステップ
２２８でリゼクタ１８４を作動させる。許容値は予めキ
ーボード１８０によってマイクロプロセサに入力する。

許容値以下の場合は瓶は封鎖面に関して合格とする。

かくして軸受取付ヘッドはデイツプ等の欠陥の深さを測
定する基準値を設定し、製品漏洩検出装置２００の性能
はほぼ振動に影響されない。

上述によって１本発明による製品漏洩検出装置を説明し
た。しかし２発明の主旨を逸脱することなく各種の変型
が可能である０例えば、所要に応じて米国特許第３６９
０４５６号に記載された仕上ローラーを製品漏洩検出器
Ｗ、１１に組合せて使用し１ＪＥ１５の振動を防ぐ安定
とすることができる。この仕上ローラーは光ビーム８４
の経路の位置とせず、製品漏洩検出装置１１に組合せた
電子制御装置１５８の行うプロセスに影響させないよう
にする。更に、製品漏洩検出器１１，２００を使用して
封鎖面の突出部を検出できる。即ち、実施例並びに図面
は例示であって発明を限定するものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による製品漏洩検出装置を含む検査装置
の斜視図、第２図は第１図の製品漏洩検出装置の部分拡
大図、第３図は第１図の製品漏洩検出装置内の電子回路
のブロック線図、第４図は第１図の製品漏洩検出装置内
のカメラの応答を示すグラフ、第５図は第１図の製品漏
洩検出装置の検査作動間のマイクロプロセサの作動を示
すフローチャート、第６図は本発明の他の実施例による
製品漏洩検出装置を含む他の検査装置の斜視図。 第７図は第６図の製品漏洩検出装置の部分拡大斜視図、
第８図は第７図の部分拡大図、第９図第１０図は第６図
の製品漏洩検出装置内のカメラの応答を示すグラフ、第
１１図は第６図の製品漏洩検出装置内のマイクロプロセ
サの作動を示すフローチャートである。 ４１１．ベルト　ＩＯｏ、検査装置 １１．２００．、製品漏洩検出装置　１２８．コンベヤ
１５０．容器（）は）　１６．、ローラー１８．２８．
、、プランジャー　２０，２６．、キャリッジ２１０．
ハウジング　６８８．照明組立体　７ｏ１．光源７２１
．レンズ　７４１．鏡　７６８．ディフューザ？７，８
４．．．光ビーム　８６８．封鎖面　９６４．アレイ９
７０．電子回路　１００．、、カメラ１０１、、、ビデ
オプロセサと制御装置１０２、　、　、マスタークロツ
タ　＋０６．、、出力回路１５０、、、比較器　１５２
．　、　、ボテンシオメータ１５６、、、マイクロプロ
セサ　１６０．、、カウンター１６４．、ＲＯＭ　　１
７０．、ＲＡＭ　　２０４．、、軸受取付ヘッド２０６
、、、球軸受 （外４名） 図面の浄書（内容に変更なし） ＦＩＧ、３ 手続補正書（ハ） 昭和６３年特許願第１８２７８６号 ２、発明の名称 撃漏洩検査装置 ３、補正をする者 事件との関係　　　出　願　人 インコーホレーテッド 新大手町ビル　２０６区 ６、補正の対象 適正な図面

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、頂部に口部を有する直立した瓶の封鎖面を検査する
   装置であって、 選択した垂直高さを有しかつ平行でかつ均等な強度の光
   ビームを、水平に放射する装置を備え、該放射装置が 垂直下向きのほぼ平行のかつ均等強度の光ビーム（７７
   ）を発生する光源装置（７０、７２、７６）と、選択し
   た寸法を有し所定の角度で支持されており、該光ビーム
   （７７）を選択した高さを有する水平かつほぼ平行のか
   つ均等強度の光ビーム（８４）として反射する鏡装置（
   ７４）とを含み、 該検査装置は更に、 該鏡装置（７４）を、検査すべき瓶の垂直上方の位置か
   ら鏡装置（７４）の一部が瓶内にある位置まで垂直下方
   に変位させることにより、水平光ビームの一部が瓶の一
   方の壁を通りかつ該ビームの他部が瓶より上方を通るよ
   うにさせる前記変位装置（２８）と、 瓶の外側で水平平行光ビームを受ける装置（９６）と、 瓶を回転させて、該ビームを受ける装置が瓶の頂部の水
   平連続部を通る水平ビームを受けるようにする装置（４
   ）と、 瓶が回転する際に受取った光ビームを標準と比較して瓶
   仕上部の頂面の不良を識別する装置（９７）とを備える
   ことを特徴とする製品漏洩検査装置。 ２、前記光源装置が光源（７０）を含む請求項１記載の
   装置。 ３、前記光源装置が更に光源（７０）からの光を集光し
   て該集光を鏡装置（７４）に合焦させるレンズ装置（７
   ２）を含む請求項２記載の装置。 ４、前記光源装置が更に合焦した光を平行かつ均等強度
   の光ビームに分散させるディフューザ装置（７６）を含
   む請求項３記載の装置。