JPH01105187A - ボード及びそのボードを用いた電子部品の試験方法 - Google Patents

ボード及びそのボードを用いた電子部品の試験方法

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JPH01105187A
JPH01105187A JP26155487A JP26155487A JPH01105187A JP H01105187 A JPH01105187 A JP H01105187A JP 26155487 A JP26155487 A JP 26155487A JP 26155487 A JP26155487 A JP 26155487A JP H01105187 A JPH01105187 A JP H01105187A
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JP
Japan
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board
semiconductor device
socket
aging
leads
Prior art date
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JP26155487A
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English (en)
Inventor
Kazuhiko Sasaki
和彦 佐々木
Kaoru Yokozawa
薫 横澤
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Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Yonezawa Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子部品の試験に用いられるボードに関し、
特にエージング試験用のボードに利用して有効な技術に
関する。
〔従来の技術〕
従来の技術として、エージング試験に用いられるボード
のソケットとしては、特開昭52−34191号公報に
記載されている。
その概要は、ICを平面状態でそっくり収容できる固定
台と、この固定台に納められたICを固定台側に押えつ
けるための抑え蓋からなり、前記固定台には、ICの外
形に見合った大きさの収容溝が設けられる。そして、前
記ICのリードが収められる収容溝の部分には、そのリ
ード数に見合った数の接触子が露出され、それはそれぞ
れ一端が前記固定台の外に引き出されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明者は、上述したソケットを複数行、複数列に渡っ
て配置した、エージング試験用ボード(以下エージング
ボードとする)を用い、半導体装置のエージング試験を
行なうことを考えた。
しかしながら、本発明者は、他種の半導体装置(面実装
タイプの半導体装置とは異なる挿入実装タイプのもの)
のエージングボードに比べ値段が高くなってしまうとい
う問題があることを見い出した。
また、上述したエージングボードのソケットに半導体装
置を搭載した際、コンタクトビンと半導体装置のリード
との接触を確実にする為に、上ぶたをするわけであるが
、コンタクトビンとしてはリードに対して不所望な力が
加わり、リードへの傷付き’P リード曲がりなどが生
ずることがないよう折曲げて配置され、コンタクトビン
のばね力で不所望な力を吸収する構造となっている。そ
れゆえ、コンタクトビンな折曲げる分だけソケット自体
が大きくなり、他種のエージングボードに比ペエージン
グボード上へのソケット搭載数を多くできないという問
題があることも本発明者によって見い出された。
本発明の目的は、安価なエージングボードを提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、エージングボード上へのソケット
搭載数を増加させることができるエージングボードを提
供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかKなるであろう
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、半導体装置と電気的に接するコンタクトビン
の代りにボード上に、半導体装置のり一部に対応した電
極パターンを設け、その周囲にソケットとしての枠体と
、この枠体に取り付けられる開閉可能な上ぶたを設け、
上ぶたの半導体装置のリードを押す部分にゴム材を配置
するものである。
〔作用〕
上記した手段によれば、半導体装置のリードはボードに
設けられた電極パターンと電気的に接することになり、
コンタクトビンな不要にでき、材料費を低減して安価な
エージングボードを得ることができるものである。さら
に、コンタクトビンな不要にできる為、コンタクトビン
取付の手間が省け、加工費も低減して安価なエージング
ボードを得ることができるものである。
また、コンタクトビンな不要にできる為、コンタクトピ
ン取付スペースを低減して、小さなソケットとすること
ができ、エージングボードへのソケット搭載数を増加さ
せることができるものである。
〔実施例〕
第1図は、本発明の一実施例であるエージングボードの
一部を示す側面図である。
第2図は、コンタクトビンがソケットに取り付ケラれた
エージングボードの一部を示す側面図である。
第3図は、本発明の一実施例であるエージングボードの
一部を示す斜視図である。
第1図において、1は本発明の一実施例であるボードと
してのエージングボードを示し、エージング試験用ボー
ドである。2はボードであり、プリント基板基材によっ
て構成される方形状の板状物で、後述する電極パターン
と、エージング炉との導通な取る為の配線パターン(図
示せず)が形成されている。3はソケットを示し、後述
する半導体装置を電極パターンに案内すると共に、半導
体装置のリードと、電極パターンの接触を確実にする為
のものである。4は下枠であり、ソケット3がボード2
に固定される枠となるもので、四方形状の枠である(図
示は一部破砕)。5はガイド体であり、角錐状物で前記
下型4の後述する半導体装置のパッケージが挿入される
部分の四隅に設けられ、パッケージの隅を案内すべく案
内溝(図示せず)が形成されている。6は第1の蝶番部
であり、上部を丸めた柱状物で前記下枠4の一辺の両隅
にそれぞれ1個ずつ設けられ、後述するシャフトを介し
、後述する上ぶたを開閉自在に支持する為のものである
。7は第1のシャフトであり、前記2個の第1の蝶番部
6の間に架けられ、後述する上ぶたを開閉自在に支持す
る為のものである。
8は上ぶたであり、前記下枠4を覆うように設けられ、
後述する弾性体を介し、後述する半導体装置のリードの
電気的接触を確実にする為のものである。9は弾性体で
あり、例えば耐熱性に優れたゴム材で、板状形のもので
ある。この弾性体9は後述する半導体装置の四つのリー
ドを押圧すべく、前記上ぶた8に四枚(図示は2枚のみ
)設けられている。lOは第2の蝶番部であり、前記第
1の蝶番部6と同形状の柱状物で、前記上ぶた8の一辺
の中心よりに2個設けられ、前記第1のシャフト6が挿
入されるととKより、この第1のシャット6を中心にし
て、上ぶた8が開閉できるようになっている。11は第
1の凸部であり、前記上ぶた8の第2の蝶番部lOと対
向する一辺に対象的に設けられる凸部で、後述する爪支
持部を上ぶた8に確実に支持する為、補強されている部
分である。12は爪支持部であり、三角柱状物で、前記
第1の凸部に離間して2個設けられている(1図示は1
個のみ)。13は第2のシャフトであり、前記2個の爪
支持部12に架けられ、後述する爪を開閉可能に支持す
る為のものである。14は爪であり、略り字状物で、前
記第2のシャツ)13を介し、爪支持部12に支持され
後述する下型4の第2の凸部に引掛ることにより、下型
4に上ぶた8を被せ後述する半導体装置のリードを後述
するボード2に設けられた電極パターンに押圧するもの
である。15は第2の凸部であり、略り字状の板状物で
下型4の、第1の蝶番部6が設けられている一辺と対向
する一辺に設けられ、下型4に上ぶた8を合致させる為
爪14を引掛ける部分である。16は電子部品と電気的
に接する部材とじての電極パターンであり、前記ボード
2と後述する半導体装置のリードとの導通を行なう為の
もので、リードのピッチに対応して前記ボード2に設け
られている。
ところで、ソケット3は前記電極パターン】6に対して
後述する半導体装置を案内すべく配置されているもので
ある。
また、第1の蝶番部6と第2の蝶番部7には、図示しな
いはね部材が取り付けられ、上ぶた8を開く方向にばね
力が加わるようになっているものである。爪支持部12
と爪14にもばね部材が取り付けられ、爪14が第2の
凸部15に食い込む方向にばね力が加わるようになって
いるものである。17は半導体装置を示し、本実施例で
は後述するパッケージの側面から四方向に向けてリード
が突出しているQF(クワッド・フラット)タイプの半
導体装置を示している。18はパッケージであり、半導
体装置17の主要部を樹脂材によって覆ったもので四方
形状を有する。19はリードであり、半導体装置の内部
とその外部との導通をとる為のもので、パッケージ18
の側面から四方向に突出している。
ところで、ソケット3は第1及び第2のシャフト7.1
3さらに弾性体9を除いてはすべて樹脂によって形成さ
れるものである。
第2図においては、ソケット自体にコンタクトピンな取
付けた従来のものと同様なソケットを示しており、本実
施例のエージングボードに取り付けられるソケットと共
通部分については、同一番号を付け、名称も同じとし、
説明を省略する。同図において20はコンタクトピンで
あり、金属の細い棒状物を折り曲げ成形したもので、ソ
ケット3の下型4に取り付けられ、その後ソケット3ご
とボード2に取り付けられている。21は押え部材であ
り、上ぶた8と一体成形される板状物で、半導体装置1
7のリード19を前記コンタクトピン20に押圧する為
のものである。このソケット3の場合は、コンタクトピ
ン20のばね作用で、リード19の傷や曲りを低減する
ものである。
第3図においては、ソケット3を複数示している。
以下、上述した構成の本発明の一実施例についてその作
用を説明する。
先ず、本発明の一実施例であるエージングボードlの場
合、第4図と第2図を比較すると明らかなように、折り
曲げられたコンタクトビンがなく、リード19に対応し
た電極パターンをボード側に設ければ良く、ソケット3
の幅、高さとも本実施例(第1図〕のエージングボード
lのソケット3が小さくできる。
それゆえ、部品点数を少なくして材料費の低減。
加工費を低減して、コンタクトビンを有スるエージング
ボード(ソケット)に比べ安価なエージングボードを得
ることができるものである。
さらに、コンタクトピンを有するものに比ベソケットを
小さくできる為、ボード2へのソケット搭載数を増すこ
とができ、エージングボードの有効利用延いてはエージ
ング試験の効率向上を図ることができるものである。
ところで、エージング試験にあっては、先ず第3図に示
されるように、ソケット3の爪14が解除され、上ぶた
8が開いた状態にされる。その後図示しない半導体装置
がそのパッケージの四隅なガイド体にガイドされ、ソケ
ット3内に挿入される。その後、上ぶた8が閉められ、
爪14が第2の凸部15に引掛けられる。すると第1図
に示されるように上ぶた8に取り付けられた弾性体9が
、半導体装置17のリード19を押圧し、リード19は
ボード2に設けられた電極パターン16に確実に接触す
る。この際、リード19に対して不所望な力が加わって
も、弾性体9の弾性力によってその力が緩和され、リー
ド19が傷つくことや変形してしまうことを低減できる
ものである。
このようにして、ソケット3に半導体装置が挿入された
後、エージングボードlごと図示しないエージング炉に
挿入され、エージング試験が行なわれるものである。
ところで、エージング炉にエージングボードをセットす
る際、本実施例のエージングボードにあってはソケット
を構成する部品点数が少なく(具体的にはコンタクトピ
ンを小さくできる)、ソケットを小さくできる為、軽量
化することができ、コンタクトビンな有するソケットが
設けられたエージングボードに比ベエージングボードの
取扱いが楽にできるものである。ところで本実施例では
、半導体装置17をガイドするガイド体5を、角錐状と
したが、この形状に限定されるわけではなく、他の部分
についても種々の形状が考えられる。
(1)ボード上に、半導体装置のり−ドに対応した電極
パターンを設け、その周囲にソケットとしての枠体と、
この枠体に開閉可能な上ぶたを設けることによりソケッ
トに屈曲したコンタクトビンな設けたものに比べ、材料
費を低減して安価なボードを得ることができるという効
果が得られる。
(2)ボード上に半導体装置のリードに対応した電極パ
ターンを設け、その周囲にソケットとしての枠体と、こ
の枠体に開閉可能な上ぶたを設け、この上ぶたに半導体
装置のリードを押圧する弾性体を設けることにより、屈
曲したコンタクトピンを不要にできる。それゆえ、ソケ
ットのコンタクトピンを取付けるスペースを低減して小
さなソケットにすることができるという効果が得られる
(3)ボード上に半導体装置のリードに対応した電極パ
ターンを設けることにより、コンタクトビンな不要にし
て小さなソケットにすることができる。
それユニ、ボード上へのソケット搭載数を増すことがで
き、ボードの有効利用ができるという効果が得られる。
(4)ボード上に半導体装置のリードに対応した電極パ
ターンを設けることにより、コンタクトピンな不要にし
て小さなソケットにすることができる。
それゆえ、ボード上へのソケット搭載数を増すことがで
き、ボードの有効利用を図り、延いてはエージング試験
の効率向上を図ることができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもな(ゝO 以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
を、その背景となった利用分野である半導体装置のエー
ジング技術に適用した場合について説明したがそれに限
定されるものではない。
〔発明の効果〕 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
すなわち、ボード上に半導体装置のリードに対応した電
極パターンを設け、その周囲にソケットとしての枠体と
この枠体に開閉可能な上ぶたを設けることにより、屈曲
したコンタクトビンな不要にして材料費を低減し、安価
なボードを得ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例であるエージングボードの
一部を示す側面図、 第2図は、コンタクトビンがソケットに取り付けられた
エージングボードの一部を示す側面図、第3図は、本発
明の一実施例であるエージングボードの一部を示す斜視
図である。 1・・・エージングボード、2川ボード、3・・・ソケ
ット、4・・・下枠、5・・・ガイド体、6・・・第1
の蝶番部、7・・・第1のシャフト、8・・・上ぶた、
9・・・弾性体、10・・・第2の蝶番部、11・・・
第1の凸部、12・・・爪支持部、13・・・第2のシ
ャフト、14・・・爪、15・・・第2の凸部、16・
・・電極パターン、17・・・半導体装置、18・・・
パッケージ、19・・・リード、20・・・コンタクト
ビン、21・・・押工部材。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子部品と接するソケットが取り付けられているボ
    ードであって、電子部品と電気的に接する部材が、ボー
    ドに取り付けられ、ソケットには電子部品を押す上ぶた
    が取り付けられていることを特徴とするボード。 2、電子部品としては、半導体装置であることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のボード。 3、ボードとしては、エージング試験用ボードであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のボード。 4、電子部品の試験を行なう試験方法であって、電子部
    品と電気的に接する部材が、ボードに取り付けられ、そ
    の周囲には、電子部品を押す上ぶたが設けられたソケッ
    トを配置したボードに、電子部品を搭載して試験を行な
    うことを特徴とする電子部品の試験方法。 5、電子部品としては、半導体装置であることを特徴と
    する特許請求の範囲第4項記載の電子部品の試験方法。 6、試験としては、エージング試験であることを特徴と
    する特許請求の範囲第4項記載の電子部品の試験方法。
JP26155487A 1987-10-19 1987-10-19 ボード及びそのボードを用いた電子部品の試験方法 Pending JPH01105187A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0666030U (ja) * 1991-08-05 1994-09-16 日本アビオニクス株式会社 Icのバーンイン用治具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0666030U (ja) * 1991-08-05 1994-09-16 日本アビオニクス株式会社 Icのバーンイン用治具

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