JPH01102350A - 水分計のデータ処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、穀物乾燥機で乾燥中の穀物の水分を一粒ずつ
測定する水分計の測定データを処理する水分計のデータ
処理装置の改良に関する。

（従来の技術） この種の装置では、乾燥中に、例えば水分計で測定され
るデータのうち有効範囲にある所定個数のデータから平
均値Ｍｎを求めるとともに、それよりも以前に同様に求
めた平均値Ｍｎ−１，Ｍｎ−２、Ｍ　ｎ　−３に基づき
、次の（１）式によって現在の平均水分値Ｍ　ｓ　ｎを
求めるようにしたものが知られている。

Ｍ　ｎ　ｓ　＝　（Ｍｙ＋−３＋　Ｍη−１＋　Ｍｎ−
ｔ＋　Ｍｎ　）÷４そして、水分計の測定データの有効
範囲は、前回に求めた平均水分値を中心に上下に所定幅
を設定することによって行っている。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、このように有効範囲を設定する従来装置では、
正常米にかかる測定データを確実に取り込むとともに、
未熟米等の異常米にかかる測定データを確実に排除する
ことができないという問題があることがわかった。

そこで、本発明は、上記の問題を解消し、もって平均水
分値の算出精度の向上を図ることを目的とする。

（問題点を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本発明は、以下のような
構成とした。

すなわち、本発明は、乾燥機で乾燥中の穀物の水分を一
粒ずつ測定する水分計Ａと、 その水分計Ａの測定データを、前回求めた平均水分値を
中心に上下に設定されている有効範囲内にあるか否かを
判定し、その有効範囲内にあるときにその測定データを
出方する測定データ判定出力手段Ｂと、 その出力された測定データから平均水分イＩＩ′ｉを求
める平均水分算出手段Ｃと。

水分計Ａの測定データから度数分布を調べる度数分布検
出手段りと、 その調べた度数分布を、あらかじめ記憶手段Ｅに記憶し
である複数個の標準度数分布と照合し。

その中のひとつの標準度数分布を選択する度数分布選択
手段Ｆと。

その選択した標準度数分布に応じて、前記測定データ判
定出力手段Ｂが判定する有効範囲を設定する有効範囲設
定手段Ｇとからなる。

（作用） 穀物乾燥機で穀物を乾燥中、水分計Ａの測定データから
度数分布検出手段りが度数分布を調べる。

度数分布選択手段Ｆは、その調べた度数分布を記憶手段
Ｅに記憶しである複数個の標準度数分布と照合し、その
中のひとつの標準度数分布を選択する。

そして、その選択された標準度数分布に応じて、有効範
囲設定手段Ｇは、測定データ判定出力手段Ｂが水分計Ａ
の測定データを有効データとして判定出力する際の有効
範囲を設定する。

このように測定データの度数分布に応じて有効範囲を設
定するようにしたので、異常米にかかる測定データが確
実に排除されるとともに、正常米にかかる測定データが
確実に取り込まれる。

（実施例） 第２図は１本発明実施例のブロックである。

図において、ｌは穀物乾燥機で乾燥中の穀物の水分測定
を行う水分計の一対の測定電極ロールであり、その測定
中は所定間隔毎に一粒ずつ穀物が供給される。

２は抵抗−電圧変換回路であり、測定電極ロール１．１
ｆｆＪｌに供給された穀物が圧砕され、そのときの測定
電極ロール間の抵抗を電圧に変換する。

この抵抗−電圧変換回路２の出力は、Ａ／Ｄ変換回路３
でＡ／Ｄ変換されてマイクロプロセッサ形態のＣＰＵ（
中央処理装置）４に供給される。

ＣＰＵ４は、各種の演算や判断等を行い、後述のように
各構成要素をＭ御する。メモリ５は、ＣＰＵ４の制御手
順等を記憶するリード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）と、
各種のデータを記憶するランダム自アクセス・メモリ（
ＲＡＭ）とからなる。

７は表示器駆動回路６により駆動される表示器であり後
述のようにして求めた平均水分値を表示する。また、９
はモータ駆動回路８によって駆動される水分計モータで
ある。

次に、以上にのように構成される本発明実施例の動作例
について説明する。

穀物乾燥機で穀物を乾燥中には、所定のタイミングで水
分計モータ９が駆動を開始して測定電極ローラ１．１が
回転を開始するとともに、測定電極ローラ１，１に一粒
ずつ穀物が供給される。これにより、穀物の一粒あたり
の水分電圧が抵抗−電圧変換回路２から出力される。こ
の水分電圧は、Ａ／Ｄ変換回路３でＡ／Ｄ変換されてＣ
ＰＵ４に読み込まれる。

その水分電圧データは、第５図に示すように前回求めた
平均水分ｔＩＭ　ｓを中心に上下に設定されている有効
範囲内ａにあるか否かを判定し、その有効範囲内にある
ときにその測定データを有効測定データとする。

そして、その有効測定データの個数が例えば３２個とい
うように所定個数に達すると、これら有効測定データか
ら所定の手順により平均水分値ＭＳを算出する。

一報、上述の水分電圧データはＣＰＵ４に順次読み込ま
れ、メモリ５にいったん記憶される。そして、これらの
水分電圧データから第三図に示すような度数分布を調べ
、これを度数分布図（ヒストグラム）としてメモリ５に
記憶する。さらに、メモリ５に記憶されている水分電圧
データからこれらの平均値ｍを求めるとともに標準偏差
σを算出する。

次に、その求めた平均値ｍを所定値と比較し。

その平均値ｍが所定値よりも大きいときには、度数分布
は例えば第４図の実線工と推定される。

従って、このときには平均水分値Ｍｓを中心に上下に設
定する有効範囲ａを通常よりも大きくし第５図参照）、
低水分または高水分の正常米にかかる測定データが排除
されないようにする。

また、その求めた標牛偏差σを所定値と比較し、その標
準偏差σが所定値よりも大きいときには、度数分布は例
えば第４図の実線■と推定される。従って、このときに
は平均水分値Ｍｓを中心に上下に設定する有効範囲ａを
大きくし、低水分または高水分の正常米にかかる測定デ
ータが排除されないようにする。

さらに、メモリ５に記憶している度数分布が第４図の破
線ｍのように山が２つあるか否かを検出する。第４図の
破線■のように山が２つあるときには、粒数が最大であ
る水分値と粒数が２番目である水分値との両者の差が大
きいので、この両者の差を求めて所定値と比較すること
によって、山が２つあるか否かを検出する。

その検出の結果、山が２つあると検出されたときには、
平均水分値Ｍｓを中心に上下に設定する有効範囲ａを大
きくし、低水分または高水分の正常米にかかる測定デー
タが排除されないようにする。

（発明の効果） 以上のように本発明では、測定データから度数分布を求
め、この度数分布に基いて平均水分値を求めるために必
要な有効データを取り込むための有効範囲を変更するよ
うにしたので、例えば収穫場所や収穫時間が異なって異
水分の穀物を同時に乾燥するような場合であっても、誤
って正常米にかかる測定データが排除されるようなこと
がなく未熟米にかかる測定データのみが排除され、もっ
て平均水分値の算出精度の向上が図れる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の機能図、第２図は本発明実施例のブロ
ック図、第３図および第４図はそれぞれ測定データの度
数分布の一例を示すグラフ、第５図は有効範囲の設定例
を示す図である。 Ａは水分計、Ｂは測定データ判定出力手段、Ｃは平均水
分値算出手段、Ｄは度数分布検出手段、Ｅは記憶手段、
Ｆは度数分布選択手段、Ｇは有効範囲設定手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 乾燥機で乾燥中の穀物の水分を一粒ずつ測定する水分計
   Ａと、 その水分計Ａの測定データを、前回求めた平均水分値を
   中心に上下に設定されている有効範囲内にあるか否かを
   判定し、その有効範囲内にあるときにその測定データを
   出力する測定データ判定出力手段Ｂと、 その出力された測定データから平均水分値を求める平均
   水分値算出手段Ｃと、 水分計Ａの測定データから度数分布を調べる度数分布検
   出手段Ｄと、 その調べた度数分布を、あらかじめ記憶手段Ｅに記憶し
   てある複数個の標準度数分布と照合し、その中のひとつ
   の標準度数分布を選択する度数分布選択手段Ｆと、 その選択した標準度数分布に応じて、前記測定データ判
   定出力手段Ｂが判定する有効範囲を設定する有効範囲設
   定手段Ｇとからなる水分計のデータ処理装置。