JP7846886B2 - Ｘ線検査装置及び物品処理システム - Google Patents

Ｘ線検査装置及び物品処理システム

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Description

本発明の一側面は、Ｘ線検査装置及び物品処理システムに関する。
例えば、特許文献１には、複数の物品処理装置からなる商品の製造ラインが記載されている。このような商品を製造する製造ラインにおいては、袋詰めされる前の段階、又は加工される前の段階である原材料等を搬送する搬送路が設けられる場合がある。
特開２０２０－３８１７０号公報
このような製造ラインでは、想定量よりも多くの量の原材料を搬送すると、原材料の重なりが多くなって下流工程における検査装置での検査精度が低下したり、原材料が処理能力を超えて適正な加工ができなかったりするといった問題が発生する。一方、想定量よりも少ない量の原材料を搬送すると、製造能力が低下するという問題が発生する。このため、製造ラインを管理する作業者は、搬送路に流れる原材料の量を適切に調整したいという要望がある。
そこで、本発明の一側面の目的は、搬送路において搬送される原材料の量が適切であるか否かの情報を作業者に提供することができる、Ｘ線検査装置及び物品処理システムを提供することにある。
本発明の一側面に係るＸ線検査装置は、物品を搬送する搬送部と、記搬送部によって搬送される物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品を透過したＸ線を検出するＸ線検出部と、Ｘ線検出部による検出結果に基づいてＸ線透過画像を生成する画像生成部と、Ｘ線透過画像に基づいて、搬送部によって所定時間あたりに搬送される物品の総量を算出する算出部と、を備える。
この構成では、搬送部によって所定時間あたりに搬送される物品の総量がＸ線透過画像に基づいて算出される。すなわち、Ｘ線検査装置は、Ｘ線検査装置から下流工程に搬送される原材料の量（言い換えれば、上流工程からＸ線検査装置に供給される原材料の量）が適切であるか否かの情報を作業者に提供することができる。この結果、算出された総量を取得した作業者は、例えば、搬送量が適切となるように上流工程の物品処理装置を調整することが可能となる。
本発明の一側面にＸ線検査装置は、総量を表示する表示部を更に備え、算出部は、予め記憶された第一上限値及び第一下限値を範囲とする第一所定範囲から上記総量が外れたときに、表示部に警告表示をさせてもよい。この構成では、搬送される原材料の量が適切でないことを作業者に対して明示的に示すことができる。
本発明の一側面に係るＸ線検査装置では、算出部は、予め記憶された第一上限値よりも値が大きな第二上限値及び第一下限値よりも値が小さな第二下限値を範囲とする第二所定範囲から総量が外れたときに、Ｘ線検査装置の上流及び／又は下流に設けられ、物品に処理を施す物品処理装置にエラー処理を実行させてもよい。この構成では、作業者が算出部によって算出される総量を取得して、物品処理装置に対して何らかの対処を実行しなくても、自動的に必要な処理が実行される。これにより、作業者の負担を軽減することができる。
本発明の一側面に係る物品処理システムでは、上記のＸ線検査装置と、Ｘ線検査装置に物品を供給する物品処理装置の一つとしての物品供給装置と、を備え、算出部は、第一所定範囲から総量が外れたときに、物品供給装置に予め設定されている物品供給量を変更するように制御してもよい。この構成では、作業者が算出部によって算出される総量を取得して、物品処理装置に対して何らかの対処を実行しなくても、物品処理システムを構成する物品処理装置において自動的に必要な処理が実行される。これにより、作業者の負担を軽減することができる。
本発明の一側面によれば、搬送路において搬送される原材料の量が適切であるか否かの情報を作業者に提供することができる。
図１は、一実施形態に係るＸ線検査装置の構成図である。 図２は、図１に示されるシールドボックスの内部の構成図である。 図３は、Ｘ線検査装置の機能構成を示すブロック図である。 図４は、表示操作部に表示される検査結果画面の一例である。 図５は、単位時間あたりに搬送される物品の総量を算出する方法を説明する図である。 図６は、変形例１に係る物品処理システムの構成図である。
以下、図面を参照して本発明の一実施形態について説明する。図面の説明において、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
図１に示されるように、Ｘ線検査装置１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部６と、Ｘ線検出部７と、表示操作部８と、制御部１０と、を備える。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査（例えば、収納数検査、異物検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。
検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入される。搬入コンベア５１の搬送速度は、上流側に接続される物品処理装置の搬送速度と略一致する。検査後の物品Ｇは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。搬出コンベア５２の搬送速度は、下流側に接続される物品処理装置の搬送速度と略一致する。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置２０によって生産ライン外に振り分けられる。Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、当該振分装置２０をそのまま通過する。
振分装置２０は、Ｘ線検査装置１による検査で不良品と判定された物品Ｇを搬送路上から排除する装置である。振分装置の例には、アームを用いたアーム式振分装置、ドロップアップベルト式振分装置、プッシャ装置を用いたプッシャ式振分装置、ドロップフラップ式振分装置、エアジェット式振分装置、及びフィン式振分装置等が含まれる。
物品Ｇは、一定の大きさ、形状、厚みを有しておらず（言い換えれば一定の重量を有していない）、いわゆるばら製品である。ばら製品の例には、ナッツ、ドライフルーツ、乾燥具材、米菓等のドライ品、及び、ミンチ肉、肉、水産物、冷凍食品、農産物等のウェット品が含まれる。このようなばら製品が搬送部５によって搬送される場合には、物品Ｇ同士が互いに重複する部分があったり、隣り合う物品Ｇ同士に隙間が形成される部分があったりする。
装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられている。シールドボックス４は、外部へのＸ線（電磁波）の漏洩を防止する。シールドボックス４の内部には、Ｘ線による物品Ｇの検査が実施される検査領域Ｒが設けられている。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介して検査領域Ｒに搬入される。検査後の物品Ｇは、検査領域Ｒから搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
搬送部５は、物品Ｇを搬送する部材であり、シールドボックス４の中央を貫通するように配置されている。搬送部５は、搬入口４ａから検査領域Ｒを介して搬出口４ｂまで、搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。なお、ベルトコンベアである搬送部５は、搬入口４ａ及び搬出口４ｂよりも外側に突出していてもよい。搬送部５の搬送速度は、搬入コンベア５１及び搬出コンベア５２と略一致する。
図１及び図２に示されるように、Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されている電磁波照射部（Ｘ線源）である。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げる絞り部と、を有している。Ｘ線照射部６から照射されるＸ線には、低エネルギー（長波長）から高エネルギー（短波長）までの様々なエネルギー帯のＸ線が含まれていてもよい。
Ｘ線検出部７は、電磁波を検出するセンサ部材である。Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内であって、上下方向においてＸ線照射部６に対向する位置に配置される。Ｘ線検出部７は、特定のエネルギー帯のＸ線を検出可能でもよいし、フォトンカウンティング方式でＸ線を検出可能でもよい。Ｘ線検出部７は、直接変換型検出部でもよいし、間接変換型検出部でもよい。当該センサは、例えば、少なくとも搬送部５の搬送方向及び上下方向に直交する方向（幅方向）に並べられる。当該素子は、上記幅方向だけでなく、上記搬送方向にも並べられてもよい。すなわち、Ｘ線検出部７は、ラインセンサであってもよいし、二次元的に配置されるセンサ群であってもよい。上記センサは、例えば、ＣｄＴｅ半導体検出器などの光子検出型センサである。
図１に示されるように、表示操作部８は、装置本体２に設けられている。表示操作部８は、各種情報を表示すると共に、外部から各種条件の入力操作を受け付ける。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
制御部１０は、装置本体２内に配置されている。制御部１０は、Ｘ線検査装置１の各部（本実施形態では、搬送部５、Ｘ線照射部６、Ｘ線検出部７及び表示操作部８、並びに、Ｘ線検査装置１の下流に配置される振分装置２０）の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサ、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等のメモリ及びＳＳＤ（Solid State Drive）等のストレージを備える。ＲＯＭには、Ｘ線検査装置１を制御するためのプログラムが記録されている。図３に示されるように、制御部１０は、画像生成部１０Ａと、検査部１０Ｂと、算出部１０Ｃと、を有している。制御部１０において、画像生成部１０Ａ、検査部１０Ｂ及び算出部１０Ｃは、ソフトウェアとして構成される。ただし、これらの各部がハードウェアとして構成されてもよい。
画像生成部１０Ａは、Ｘ線検出部７から出力されてＡ／Ｄ変換された信号が入力される。検査部１０Ｂは、当該信号に基づいて物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査を行う。検査部１０Ｂは、検査領域Ｒに搬入されてくる物品Ｇに異物が含まれているか否かを検査する。本実施形態のように、ばら製品の物品Ｇを検査する場合、検査部１０Ｂは、所定の搬送領域ごと、例えば１秒間に搬送される物品群について、繰り返し検査を実行する。言い換えれば、検査部１０Ｂは、搬送方向に所定長さのＸ線透過画像単位で検査を実行する。検査部１０Ｂは、例えば、図４に示されるような検査結果画面８０を表示操作部８に表示させる。検査結果画面８０は、例えば、検出された異物の位置を表示する異物表示部８１と、ＯＫ又はＮＧといった検査結果が表示される結果表示部８３と、を有する。
算出部１０Ｃは、Ｘ線透過画像に基づいて、搬送部５によって単位時間あたりに搬送される物品Ｇの総量を算出する。言い換えれば、算出部１０Ｃは、Ｘ線検査装置１を通過する単位時間当たりの物品Ｇの総量を算出する。総量の例は、例えば重量（質量）であり、下記に詳述する方法によって算出することができる。また、総量は、物品Ｇの重量と密度とに基づいて算出できる体積（容量）であってもよい。
算出部１０Ｃは、上述のとおり生成された物品ＧのＸ線透過画像から、物品Ｇが存在する物品領域を判別する。算出部１０Ｃは、上記物品領域に対して画像処理を施すことにより、各物品領域における物品Ｇの重量を推定する。当該重量推定処理は、Ｘ線透過画像上においてはＸ線の照射方向に厚みのある物質ほど暗く写るという性質を利用し、以下の原理に基づいて行われる。
Ｘ線透過画像上の厚さｔの物質を写す画素の明るさＩは、物質の存在しない領域に含まれる画素の明るさをＩ０とした場合、以下の式（１）によって表される。
Ｉ／Ｉ０＝ｅ－μｔ ・・・（１）
ここで、μは、Ｘ線のエネルギーと物質の種類とに応じて定まる線吸収係数である。式（１）を物質の厚さｔについて解くと、以下の式（２）のようになる。
ｔ＝－１／μ×ｌｎ（Ｉ／Ｉ０） ・・・（２）
また、物品Ｇの微小部位の重量は、当該微小部位の厚さに比例する。したがって、明るさＩの画素の写す物品Ｇの微小部位の重量ｍは、適当な定数αを用いて、以下の式（３）によって近似的に算出される。
ｍ＝－αｌｎ（Ｉ／Ｉ０） ・・・（３）
算出部１０Ｃは、物品Ｇを構成する全ての画素（物品領域）に対応する重量ｍを算出して足し合わせることにより、物品Ｇ全体の重量を推定する。
次に、上述したような重量推定の方法を用いて、搬送部５によって単位時間あたりに搬送される物品Ｇの総量（例えば、重量又は体積）の算出方法について説明する。上述したように、Ｘ線検査装置１は、上述したとおり、所定の搬送領域ごと、例えば１秒間に搬送される物品群ごとに繰り返し検査を実行しているが、これに加えて、例えば１秒間に搬送される物品群ごとに繰り返し重量を推定している。
図５は、検査領域Ｒに搬送されてくる物品Ｇを１秒ごとに連続して取得したＸ線透過画像である。図５に示される一つの画像Ｕ（Ｕ１、Ｕ２、・・・、ＵＮ）は、１秒間に搬送される物品群の画像（以下、単位画像Ｕとも称する。）である。算出部１０Ｃは、６個の単位画像Ｕのそれぞれから得られる重量推定値を加算し、６秒間に搬送される物品Ｇの重量推定値（すなわち、６秒間に搬送される物品Ｇの総量）を算出する。そして、算出部１０Ｃは、６秒間に搬送される物品Ｇの重量推定値を１０倍して、搬送部５によって搬送される１分間あたりの物品Ｇの重量（すなわち、単位時間あたりに搬送される物品Ｇの総量）を算出する。
より詳細には、算出部１０Ｃは、所定の単位画像Ｕを取得したときを基準として５秒前までに取得された５枚のＸ線透過画像に基づいて、１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量を算出する。例えば、単位画像Ｕ６を取得したときには、単位画像Ｕ６と単位画像Ｕ１～Ｕ５との６つの単位画像Ｕに基づいて、１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量を算出する。同様に、単位画像Ｕ７を取得したときには、単位画像Ｕ７と単位画像Ｕ２～Ｕ６との６つの単位画像Ｕに基づいて、１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量を算出する。
算出部１０Ｃは、このように算出された１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量を、図４に示される検査結果画面８０の表示領域８５に表示する。表示領域８５に表示される１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量は、１秒ごとに切り替わる。また、算出部１０Ｃは、表示領域８５に表示される１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量の表示に加えて又は代えて、上記のように算出した総量に対応付けて記憶されている過量又は少量の文字を表示してもよい。算出部１０Ｃは、算出された１分間あたりに搬送される物品Ｇの総量が、予め記憶された第一上限値及び第一下限値を範囲とする第一所定範囲から外れたときに、表示操作部８における検査結果画面８０に警告表示をさせる。なお、算出部１０Ｃは、警告表示に加えて又は代えて、警告音を出力してもよい。
算出部１０Ｃは、算出された１分間あたりの物品Ｇの総量が、予め記憶された第一上限値よりも値が大きな第二上限値及び第一下限値よりも値が小さな第二下限値を範囲とする第二所定範囲から外れたときに、Ｘ線検査装置１の上流及び／又は下流に設けられ、物品Ｇに処理を施す物品処理装置にエラー処理を実行させる。エラー処理の例は、例えば、上流側及び／又は下流側に設けられる物品処理装置に、物品Ｇの供給量が過量又は少量であることを表示させたり、上流側に設けられる物品処理装置に、物品Ｇの供給を停止させたり、供給量を変更する処理が含まれる。
上記実施形態のＸ線検査装置１における作用効果について説明する。上記実施形態のＸ線検査装置１では、搬送部５によって所定時間あたりに搬送される物品Ｇの総量がＸ線透過画像に基づいて算出される。Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検査装置１から下流工程に搬送される原材料の量（言い換えれば、上流工程からＸ線検査装置１に供給される原材料の量）が適切であるか否かの情報を作業者に表示操作部８を介して提供することができる。この結果、算出された総量を取得した作業者は、例えば、供給量が適切となるように上流工程の物品処理装置を調整することが可能となる。また、作業者が上記供給量を適切に調整することによって、例えば、振分装置２０では、供給量が多いと振分けが間に合わなくなったり、より多くの物品がまとめて排除されたりすることを抑制できる。これにより、振分装置２０の振分精度（不良品を不良品として正しく振り分ける確率）を高めることが可能となる。
上記実施形態のＸ線検査装置１では、算出部１０Ｃは、予め記憶された第一上限値及び第一下限値を範囲とする第一所定範囲から上記総量が外れたときに、表示操作部８に警告表示をさせている。これにより、搬送される原材料の量が適切でないことを作業者に対して明示的に示すことができる。
上記実施形態のＸ線検査装置１では、算出部１０Ｃは、予め記憶された第一上限値よりも値が大きな第二上限値及び第一下限値よりも値が小さな第二下限値を範囲とする第二所定範囲から上記総量が外れたときに、Ｘ線検査装置１の上流及び／又は下流に設けられる物品処理装置にエラー処理を実行させている。この構成では、作業者が算出部１０Ｃによって算出される総量を取得して、物品処理装置に対して何らかの対処を実行しなくても、自動的に必要な処理が実行される。これにより、作業者の負担を軽減することができる。
以上、一実施形態について説明したが、本発明の一側面は、上記実施形態に限られない。発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
（変形例１）
以下、本発明の変形例１について説明する。図６に示されるように、本発明の変形例１は、例えば、冷凍食品の製造ラインにおいて用いられる、上記のＸ線検査装置１と、Ｘ線検査装置１の上流側に設けられる第一物品処理装置（物品供給装置）６０と、Ｘ線検査装置１の下流側に設けられる第二物品処理装置７０と、第一物品処理装置６０とＸ線検査装置１との間に設けられる搬送装置５５Ａと、Ｘ線検査装置１と第二物品処理装置７０との間に設けられる搬送装置５５Ｂと、を備える物品処理システム１００として構成することができる。
第一物品処理装置６０の例は、食品加工装置である。例えば、冷凍食品の冷凍前の食品となる物品Ｇを製造し、下流工程に供給する。第二物品処理装置７０の例は、冷凍処理装置である。第二物品処理装置７０は、上流工程から搬送されてくる物品Ｇを冷凍処理する。第二物品処理装置７０の下流側には、図示はしないが各種検査装置、包装装置、箱詰め装置等が配置されている。このような物品処理システム１００においてＸ線検査装置１は、上流工程の第一物品処理装置６０から搬送（供給）されてくる物品Ｇの異物の有無を検査すると共に、第一物品処理装置６０から供給される物品Ｇの総量を算出する。なお、Ｘ線検査装置１における異物検査と、総量の算出方法とについては、上記実施形態と同じであるのでここでの説明は省略する。
Ｘ線検査装置１と、第一物品処理装置６０と、第二物品処理装置７０とは、有線又は無線等のネットワークＮを介して互いに通信可能に設けられている。Ｘ線検査装置１の算出部１０Ｃは、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が、予め記憶された第一上限値及び第一下限値を範囲とする第一所定範囲から外れたときと、予め記憶された第一上限値よりも値が大きな第二上限値及び第一下限値よりも値が小さな第二下限値を範囲とする第二所定範囲から外れたときとにおいて、第一物品処理装置６０及び第二物品処理装置７０にエラー処理を実行させる。
具体的には、算出部１０Ｃは、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第一所定範囲から外れたときに、ネットワークＮで接続された第一物品処理装置６０の制御部６２を介して、第一物品処理装置６０に設けられた異常灯６１を点灯させ、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第二所定範囲から外れたときに、ネットワークＮで接続された第一物品処理装置６０の制御部６２を介して、第一物品処理装置６０に予め設定されている冷凍前の食品となる物品Ｇの供給量を変更するように制御する。なお、算出部１０Ｃは、上述したような第二所定範囲から外れたときの制御は実行しなくてもよい。算出部１０Ｃは、当該変形例１においても、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第一所定範囲から外れたときは、表示操作部８における検査結果画面８０に警告表示をさせる。
また、算出部１０Ｃは、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第一所定範囲から外れたときに、ネットワークＮで接続された第二物品処理装置７０の制御部７２を介して、第二物品処理装置７０に設けられた異常灯７１を点灯させ、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第二所定範囲から外れたときに、ネットワークＮで接続された第二物品処理装置７０の制御部７２を介して、第二物品処理装置７０の稼働を停止させる。なお、算出部１０Ｃは、上述したような第二所定範囲から外れたときの制御は実行しなくてもよい。
このような変形例１に係る構成では、作業者が算出部１０Ｃによって算出される総量を取得して、第一物品処理装置６０及び第二物品処理装置７０に対して何らかの対処を実行しなくても、物品処理システム１００を構成する第一物品処理装置６０及び第二物品処理装置７０において自動的に必要な処理が実行される。これにより、作業者の負担を軽減することができる。
また、上記のとおり、算出部１０Ｃによって第一物品処理装置６０が制御されることによって、Ｘ線検査装置１に検査に適した総量の物品Ｇが供給されるようになるのでＸ線検査装置１における検査精度が向上する。また、第二物品処理装置７０には、冷凍処理に適した総量の物品Ｇが供給されるようになるので、冷凍不良となる物品Ｇが少なくなり歩留まり率が向上する。
なお、上記変形例１の更なる変形として、算出部１０Ｃは、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が第一所定範囲から外れたときに、ネットワークＮで接続された第一物品処理装置６０の制御部６２を介して、第一物品処理装置６０に予め設定されている冷凍前の食品となる物品Ｇの供給量を変更するように制御し、ネットワークＮで接続された第二物品処理装置７０の制御部７２を介して、第二物品処理装置７０の稼働を停止させてもよい。
（その他の変形例）
上記変形例１では、Ｘ線検査装置１の下流側に配置され、Ｘ線検査装置１の算出部１０Ｃと接続される第二物品処理装置７０として冷凍処理装置を例に挙げて説明したが、例えば、組合せ計量装置、各種検査装置等であってもよい。この場合であっても、算出部１０Ｃは、算出した１分間あたりの物品Ｇの総量が上記の第一所定範囲又は第二所定範囲から外れたときは、組合せ計量装置又は各種検査装置等を適宜制御してもよい。
上記変形例の第一物品処理装置６０に代えて、第一物品処理装置６０が配置される領域に人が作業する第一領域を設け、第二物品処理装置７０が配置される領域に人が作業する第二領域を設けてもよい。この場合には、作業者は、Ｘ線検査装置１によって検査される物品Ｇの検査結果を監視しつつ、Ｘ線検査装置１の表示操作部８に表示される物品Ｇの総量を監視することによって、第二領域への供給量が適切な総量となるように、第一領域の人員を配置することができる。
上記実施形態及び変形例では、Ｘ線検査装置１の算出部１０Ｃが第一物品処理装置６０及び／又は第二物品処理装置７０を制御する例を挙げて説明したが、Ｘ線検査装置１とは別体として構成される制御装置が第一物品処理装置６０及び／又は第二物品処理装置７０を制御してもよい。
１…Ｘ線検査装置、２…装置本体、５…搬送部、６…Ｘ線照射部、７…Ｘ線検出部、８…表示操作部、１０…制御部、１０Ａ…画像生成部、１０Ｂ…検査部、１０Ｃ…算出部、６０…第一物品処理装置、７０…第二物品処理装置、８０…検査結果画面、８５…表示領域、１００…物品処理システム、Ｇ…物品、Ｕ…単位画像。

Claims (4)

  1. 物品を搬送する搬送部と、
    前記搬送部によって搬送される前記物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、
    前記物品を透過した前記Ｘ線を検出するＸ線検出部と、
    前記Ｘ線検出部による検出結果に基づいてＸ線透過画像を生成する画像生成部と、
    前記Ｘ線透過画像に対して画像処理を施して物品の領域を特定し、特定された前記物品の領域内の画素の画素値に基づいて、前記搬送部によって所定時間あたりに搬送される物品の総量を算出する算出部と、を備える、Ｘ線検査装置。
  2. 前記総量を表示する表示部を更に備え、
    前記算出部は、予め記憶された第一上限値及び第一下限値を範囲とする第一所定範囲から前記総量が外れたときに、前記表示部に警告表示をさせる、請求項１記載のＸ線検査装置。
  3. 前記算出部は、予め記憶された前記第一上限値よりも値が大きな第二上限値及び前記第一下限値よりも値が小さな第二下限値を範囲とする第二所定範囲から前記総量が外れたときに、前記Ｘ線検査装置の上流及び／又は下流に設けられ、前記物品に処理を施す物品処理装置にエラー処理を実行させる、請求項２記載のＸ線検査装置。
  4. 請求項２又は３記載のＸ線検査装置と、
    前記Ｘ線検査装置に前記物品を供給する物品処理装置の一つとしての物品供給装置と、を備え、
    前記算出部は、前記第一所定範囲から前記総量が外れたときに、前記物品供給装置に予め設定されている物品供給量を変更するように制御する、物品処理システム。

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