JP7843485B2 - 検査システム、検査方法、及び検査プログラム - Google Patents
検査システム、検査方法、及び検査プログラムInfo
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Description
図1は、本発明の実施形態に係る検査システムの概略構成を示す模式図である。図2は、同検査システムの概略構成を示すブロック図である。図1に示すように、本実施形態に係る検査システム1は、検査対象である機器2を撮像可能に設置されたカメラ3と、該カメラ3から出力された画像信号を処理する情報処理装置4とを備える。情報処理装置4には、表示装置41及び入力装置42が設けられている。
外部インタフェース410は、情報処理装置4を外部機器と接続し、情報処理装置4と外部機器との間で信号を送受信するインタフェースである。情報処理装置4に接続される外部機器としては、カメラ3や駆動機構7が挙げられる。
設定値記憶部423は、カメラ3の露光時間、ゲイン、フレームレート等の設定値や、発光素子21が写った画像から領域を抽出する際に使用される閾値等の抽出条件や、発光素子21の判定に使用される閾値等の判定基準を記憶する。
図3は、本実施形態に係る検査方法を示すフローチャートである。
まず、ユーザは、テスト用の発光素子が実装された機器をスタンド5に設置し、各種の設定を行う(ステップS10)。
再び図5を参照すると、設定画面M1には、判定基準を設定するための複数のタブm50~m53が設けられている。輝度設定タブm50においては、発光素子の輝度判定又は色味判定の基準が設定される。個数設定タブm51においては、発光素子の個数判定の基準が設定される。位置設定タブm52においては、発光素子の位置判定の基準が設定される。面積設定タブm53においては、発光領域の面積判定の基準が設定される。
輝度設定タブm50には、発光素子の輝度又は色味を判定する際に使用される値の種類を選択するためのチェックボックス群m54が設けられている。値の種類としては、RGB色空間におけるR値(赤色)、G値(緑色)、及びB値(青色)、並びに、HLS色空間におけるH値(色相)、L値(明るさ)、及びS値(彩度)を選択することができる。
続いて、情報処理装置4は、設定された判定基準に従って、発光素子の判定を行う(ステップS17)。具体的には、各実効検査対象領域の画素について、各種値(R値、G値、B値、H値、L値、S値)の平均値を算出し、算出された平均値が、輝度又は色味の判定基準として設定された数値の範囲に収まるか否かを判定する。
また、情報処理装置4は、各検査対象領域の面積(ピクセル数)を算出し、算出された面積が、面積の判定基準として設定された閾値の範囲に収まるか否かを判定する。
図18は、本発明の実施形態の変形例を説明するための模式図である。図18に示すように、検査対象の機器2Aの全体がカメラ3の視野に収まらない場合には、機器2Aを移動させつつ複数回に分けて撮像することにより、検査を行うことができる。
Claims (12)
- 点灯中の発光素子を撮像可能に設置され、該発光素子を撮像して画像信号を出力するカメラと、
前記カメラから出力された画像信号に基づいて、前記発光素子が写った画像を表す画像データを生成する画像生成部と、
前記画像における前記発光素子の二次元的な像を検査対象領域として抽出し、さらに、検査対象領域の内側から、サチレーションが生じている二次元的な領域を対象外領域として抽出する領域抽出部と、
前記検査対象領域から前記対象外領域を除いた二次元的な領域である実効検査対象領域の画素の値に基づいて、前記発光素子の輝度又は色味を算出する測定部と、
を備える検査システム。 - 前記画像生成部により生成された前記画像は、RGB色空間における値により表され、
前記領域抽出部は、前記画像を構成する画素の値を、HLS色空間における値に変換し、HLS色空間における少なくともL値に基づいて前記対象外領域を抽出する、請求項1に記載の検査システム。 - 前記測定部は、前記実効検査対象領域の画素のRGB色空間におけるR値、G値、若しくはB値、又は、HLS色空間におけるH値、L値、若しくはSの平均値を算出する、請求項1又は2に記載の検査システム。
- 前記平均値を予め設定された閾値と比較することにより、前記発光素子の良否又は発光特性を判定する判定部をさらに備える請求項3に記載の検査システム。
- 前記カメラは、複数の発光素子を撮像し、
前記領域抽出部は、さらに、前記複数の発光素子の各々について抽出された検査対象領域の輪郭を抽出し、
前記画像に対して予め設定された検査領域内における前記輪郭の数をカウントし、カウントされた数が予め設定された値と一致するか否かを判定する判定部をさらに備える請求項1~4のいずれか1項に記載の検査システム。 - 前記領域抽出部は、さらに、前記検査対象領域の輪郭を抽出し、
前記輪郭が前記画像に対して予め設定された領域の内側に位置しているか否かを判定する判定部をさらに備える請求項1~4のいずれか1項に記載の検査システム。 - 前記検査対象領域の面積を測定し、測定された面積が予め設定された数値の範囲内であるか否かを判定する判定部をさらに備える請求項1~4のいずれか1項に記載の検査システム。
- 前記画像生成部は、テスト用の発光素子を前記カメラで撮像することにより生成された画像信号に基づいてテスト用の画像を生成し、
前記テスト用の画像を含む設定画面を表示する表示部と、
当該検査システムに対する操作を受け付ける入力部と、
前記設定画面における表示を制御する表示制御部と、
をさらに備え、
前記表示制御部は、
画素の値の範囲を調整するための少なくとも1つのスライダであって、前記入力部により操作可能なスライダを前記設定画面に表示し、
前記テスト用の画像のうち、前記少なくとも1つのスライダにより調整された範囲内の値を有する画素の領域に対し、所定の色を重ね合わせて表示し、
前記少なくとも1つのスライダにより調整された範囲を、前記領域抽出部による前記検査対象領域又は前記対象外領域の抽出に用いられる抽出条件として設定する条件設定部をさらに備える請求項1~7のいずれか1項に記載の検査システム。 - 前記画像生成部は、テスト用の発光素子を前記カメラで撮像することにより生成された画像信号に基づいてテスト用の画像を生成し、
前記テスト用の画像を含む設定画面を表示する表示部と、
当該検査システムに対する操作を受け付ける入力部と、
前記設定画面における表示を制御する表示制御部と、
をさらに備え、
前記表示制御部は、
画素の値の範囲を調整するための少なくとも1つのスライダであって、前記入力部により操作可能なスライダを前記設定画面に表示し、
前記テスト用の画像のうち、前記少なくとも1つのスライダにより調整された範囲内の値を有する画素の領域に対し、所定の色を重ね合わせて表示し、
前記少なくとも1つのスライダにより調整された範囲を、前記測定部により算出された前記発光素子の輝度又は色味に基づく前記発光素子の良否又は発光特性の判定に使用される判定基準として設定する条件設定部をさらに備える請求項1~7のいずれか1項に記載の検査システム。 - 当該検査システムは、1つ以上の前記発光素子が実装された機器を検査対象とするシステムであり、
前記カメラの光軸と直交する面内において、前記機器を所定の方向に所定の速度で移動させる駆動機構と、
前記駆動機構による前記機器の移動と同期して、前記カメラに前記機器を所定の周期で撮像させる制御部と、
をさらに備える、請求項1~9のいずれか1項に記載の検査システム。 - 点灯中の発光素子を撮像可能に設置されたカメラにより、該発光素子を撮像し、
前記カメラから出力された画像信号に基づいて、前記発光素子が写った画像を表す画像データを生成し、
前記画像における前記発光素子の二次元的な像を検査対象領域として抽出し、さらに、検査対象領域の内側から、サチレーションが生じている二次元的な領域を対象外領域として抽出し、
前記検査対象領域から前記対象外領域を除いた二次元的な領域である実効検査対象領域の画素の値に基づいて、前記発光素子の輝度又は色味を算出する、ことを含む検査方法。 - 点灯中の発光素子を撮像可能に設置されたカメラにより、該発光素子を撮像し、
前記カメラから出力された画像信号に基づいて、前記発光素子が写った画像を表す画像データを生成し、
前記画像における前記発光素子の二次元的な像を検査対象領域として抽出し、さらに、検査対象領域の内側から、サチレーションが生じている二次元的な領域を対象外領域として抽出し、
前記検査対象領域から前記対象外領域を除いた二次元的な領域である実効検査対象領域の画素の値に基づいて、前記発光素子の輝度又は色味を算出する、ことをコンピュータに実行させる検査プログラム。
Priority Applications (1)
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003169321A (ja) | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Secom Co Ltd | 画像センサ及び監視カメラ装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2003169321A (ja) | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Secom Co Ltd | 画像センサ及び監視カメラ装置 |
| JP2007003255A (ja) | 2005-06-22 | 2007-01-11 | Koito Ind Ltd | 発光状態測定装置 |
| JP2012208121A (ja) | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Samsung Led Co Ltd | 発光素子の検査装置及び方法 |
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